KR100749099B1 - 광정보 기록장치 및 기록방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광정보 기록장치 및 기록방법에 관한 것으로, 신호광 및 기준광을 밀집시켜 저장매체의 전면에 조사하여 저장매체의 전면에 광정보를 저장하는 축소광학계 저장매체에 광정보를 저장하는 축소광학계를 구비하여, 마스크에 형성된 데이터 패턴을 고밀도로 집적하여 저장매체에 저장시킬 수 있으며, 비교적 저가의 원추형 프리즘을 사용함으로써 장치의 제조비용을 절감할 수 있으며, 이에 따른 저장매체의 대량 복제비용을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.

Description

광정보 기록장치 및 기록방법{method and apparatus for recording optical information}
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 광정보 기록장치를 나타낸 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 광정보 기록장치의 축소광학계를 나타낸 간략도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 광정보 기록방법을 나타낸 순서도이다.
**도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명**
100 : 광원
114 : 편광 광분할기
124 : 제 1반사미러
126 : 신호광 확장기
134 : 제 2반사미러
136 : 기준광 확장기
142 : 신호광 축소광학부재
144 : 기준광 축소광학부재
본 발명은 광정보 처리장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 축소광학계를 이용하여 소형의 디스크에 고밀도의 광정보를 기록할 수 있는 광정보 기록장치 및 기록방법에 관한 것이다.
광학적인 데이터 처리장치는 DVD(Digital Versatile Disc), HD-DVD(High Density Digital Versatile Disc), 블루레이디스크(blue-ray disc), 근접장(near field) 광 처리장치, 홀로그래픽 광 처리장치 등이 있다.
홀로그래픽 광 처리장치는 광변조(optical modulation) 된 신호광(signal beam)과 이 신호광과 교차(intersection)하여 저장매체에 간섭무늬를 만드는 기준광(reference beam)을 저장매체에 조사하여 데이터를 저장한다. 그리고 데이터의 재생은 기준광만을 저장매체의 간섭무늬에 주사하여 이때 간섭무늬에서 발생한 회절에 의하여 저장매체에 입력된 데이터가 출력되도록 한다.
이러한, 홀로그래픽 광 처리장치는 기준광을 하나의 광점(beam spot)에 다른 각도로 조사하여 다중으로 데이터를 저장할 수 있다. 그리고 다중 입력된 데이터는 재생시 기준광만을 다른 각도로 조사하여 출력할 수 있다. 즉 홀로그래픽 광 처리장치는 하나의 광점에 다층, 중첩상태의 데이터 입력과 출력이 가능한 초대용량 데이터 저장장치이다.
그러나 이러한 홀로그래픽 광 처리장치는 저장매체에 국소적인 부분에 순차 적으로 신호광과 기준광을 조사하여 데이터를 기록하는 방식이기 때문에 주로 WORM(means Write Once, Read Many)방식이나 RW(ReWritable)방식의 홀로그래픽 광 처리장치에 적용되는 방식이다.
따라서 이러한 저장방식은 ROM(read-only memory) 방식과 같이 빠른 데이터 복제기술을 통한 동일 저장매체의 대량 배포가 불가능하다. 이에 대량의 저장매체의 복제가 가능한 홀로그래픽 광 처리장치의 개발이 대두되었다.
이에 고속의 데이터 복제 기술을 이용한 홀로그래픽 디스크 저장 시스템이 일본공개특허공보 특개2003-233908호(2002.02.07, 홀로그래픽 디스크 저장 시스템, 소니)에 개시되었다.
동특허는 기존의 홀로그래픽 광 처리장치에서 복제시간이 많이 걸리는 단점을 해결하기 위해서, 신호광의 데이터 패턴을 형성하는 마스크(소스 디스크)와, 기준광의 조사각을 형성하는 원추형 광 형성기(conical beam shaper)를 사용하는 것이다.
이러한, 동특허는 데이터 패턴이 형성된 마스크의 전면을 통과함에 따라 데이터가 로딩된 신호광을 형성하고, 원추형 반사경, 원추형 프리즘, 반전(inverted) 원추형 프리즘 등의 원추형 광 형성기에 의해 기준광을 형성하여 저장매체에 데이터를 저장하는 것이다.
즉, 데이터가 로딩된 신호광을 저장매체의 전면에 입사시킴과 동시에 원추형 광형성기의 반사표면에서 반사되는 동일한 각도의 기준광을 저장매체의 전면에 입사시킴으로써 데이터를 저장함으로써 짧은 시간동안에 고용량의 데이터 저장이 가 능한 것이다.
이와 같은 원추형 광 형성기를 평행광의 입사각 제어에 이용하면 기록시 기준광의 각도 제어를 정밀하게 할 수 있다. 그러나 원추형 광 형성기의 경우 그 크기나 반사위치에 제한이 많으며, 높은 정밀도를 요구하여 그 제작이 어려우며, 이에 따라 홀로그래픽 광 처리장치의 가격이 상승하는 문제점이 있다.
또한, 대량의 저장매체를 복제하기 위해서 사용되는 마스크는 주로 반도체 공정을 이용되는 포토마스크이거나 글라스 마스터링 공정을 적용하여 제작된다.
그러나 이와 같이 반도체 공정상의 포토마스크를 이용하는 경우 약 0.7 ㎛의 선폭으로 종래의 0.4 ㎛의 선폭을 가지는 DVD에 미치지 못하여 홀로그램의 기록 밀도의 한계가 있다는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 신호광에 로딩되어 저장매체에 저장되는 데이터의 밀도를 향상시킬 수 있는 광정보 기록장치 및 기록방법을 제공함에 있다.
또한, 본 발명의 다른 목적은, 기준광의 광경로를 설정하는 광학계를 개선하여 저가의 광정보 기록장치 및 기록방법을 제공함에 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광정보 기록장치는, 광원; 상 기 광원으로부터 방출되는 광을 분할하는 광 분할광학계; 상기 광 분할광학계에서 분할되는 하나의 광을 투과형 데이터 마스크를 통과시켜 데이터가 포함된 신호광을 형성하는 신호광 광학계; 상기 광 분할광학계에서 분할되는 다른 하나의 광을 저장매체에 광정보 기록을 위한 기준광으로 입사시키는 기준광 광학계; 및 상기 신호광 광학계를 통과한 상기 신호광 및 상기 기준광 광학계를 통과한 상기 기준광을 밀집시켜 상기 저장매체의 전면에 조사하여 광정보를 저장하는 축소광학계;를 포함한다.
상기 광정보는, 상기 신호광과 상기 기준광의 간섭에 의해 형성되는 홀로그래픽 간섭무늬인 것이 바람직하다.
상기 광 분할광학계는, 상기 광원에서 방출되는 광의 특성을 조절하기 위한 광원 조절부재; 및 상기 광원 조절부재에서 광 특성이 조절된 광을 상기 신호광과 상기 기준광으로 분할하는 편광 광분할기를 구비하는 것이 바람직하다.
상기 신호광 광학계는, 상기 신호광의 광학적 특성을 조절하기 위한 신호광 조절부재; 상기 신호광을 상기 마스크의 전면에 대응되는 크기로 확장하는 신호광 확장기; 상기 신호광의 경로를 전환하기 위한 제 1반사미러; 및 상기 신호광에 데이터를 로딩하기 위한 마스크;를 구비하는 것이 바람직하다.
상기 신호광 조절부재는, 상기 신호광의 편광상태를 조절하기 위한 편광판인 것이 바람직하다.
상기 제 1반사미러는, 상기 신호광의 광경로를 조절하여 상기 신호광이 상기 마스크의 전면에 조사되도록 하는 회전미러인 것이 바람직하다.
상기 기준광 광학계는, 상기 기준광의 광학적 특성을 조절하기 위한 기준광 조절부재; 상기 기준광을 상기 저장매체의 전면보다 큰 크기로 확장하는 기준광 확장기; 상기 기준광의 경로를 전환하기 위한 제 2반사미러;를 구비하는 것이 바람직하다.
상기 기준광 조절부재는, 상기 신호광의 편광상태를 조절하기 위한 편광판인 것이 바람직하다.
상기 제 2반사미러는, 상기 기준광의 광경로를 조절하여 상기 기준광이 상기 저장매체의 전면에 조사되도록 하는 회전미러인 것이 바람직하다.
상기 축소광학계는, 상기 마스크의 전면에 조사되어 데이터가 로딩된 상기 신호광의 광폭을 축소하여 상기 저장매체의 일면 전면에 조사하는 신호광 축소광학부재; 및 상기 광 분할광학계에서 분할된 상기 기준광을 상기 저장매체의 타면 전면에 소정의 각도를 갖는 상태로 조사하는 기준광 축소광학부재;를 구비하는 것이 바람직하다.
상기 신호광 축소광학부재는, 상기 마스크를 통과하여 데이터라 로딩된 상기 신호광과 동일한 평행광을 갖으며, 그 폭을 축소시키는 신호광 축소광학부재를 구비하는 것이 바람직하다.
상기 신호광 축소광학부재는, 복수의 수렴렌즈 및 발산렌즈의 조합으로 형성되는 것이 바람직하다.
상기 기준광 축소광학부재는, 상기 기준광을 상기 저장매체의 중심에 대하여 동일한 경사각을 갖는 상태로 상기 저장매체의 전면에 조사하는 기준광 광학부재가 마련되는 것이 바람직하다.
상기 기준광 축소광학부재는, 상기 저장매체의 중심축과 동일한 중심축을 갖으며, 그 중심축을 기준으로 동일한 경사면을 갖는 원추형 프리즘인 것이 바람직하다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광정보 기록방법은, 광원을 방출하는 광방출단계; 방출된 상기 광원을 신호광과, 기준광으로 분할하는 광분할단계; 분할된 상기 신호광을 마스크를 통과시켜 데이터를 로딩하는 데이터로딩 단계; 데이터가 로딩된 상기 신호광을 축소하여 저장매체의 일면 전면에 조사하는 신호광 조사단계; 분할된 상기 기준광을 상기 저장매체의 타면 조사하는 기준광 조사단계; 상기 저장매체의 타면에 조사되는 상기 기준광을 평행한 소정의 각도로 전환하여 상기 저장매체의 타면 전면에 조사하는 기준광 전환단계;를 포함한다.
상기 광방출단계는, 상기 광원을 상기 마스크의 유효 데이터 영역의 전역을 조사할 수 있는 크기로 확대하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
상기 데이터로딩 단계는, 상기 신호광의 광학적 특성을 조절하기 위한 신호광 조절단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
상기 기준광 조사단계는, 상기 기준광의 광학적 특성을 조절하기 위한 기준광 조절단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 광정보 기록장치를 상세히 설명한다.
여기서, 본 발명을 설명함에 있어서, 정의되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의 내려진 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 구성요소를 한정하는 의미로 이해되어서는 아니되며, 이들의 기능적 유사성 및 동일성이 있다면 변형된 실시예를 채용하더라도 균등한 구성으로 불 수 있다.
또한, 각각의 구성요소에 부가된 부호는 설명의 편의를 위하여 기재된다. 그러나 이들 부호가 기재된 도면상의 도시 내용이 각각의 구성요소를 도면내의 범위로 한정하지는 않는다. 마찬가지로 도면상의 구성을 일부 변형한 실시예가 채용되더라도 기능적 유사성 및 동일성이 있다면 균등한 구성으로 볼 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 광정보 기록장치를 나타낸 구성도이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 광정보 기록장치의 축소광학계를 나타낸 간략도이다.
도시한 바와 같이 본 발명에 따른 광정보 기록장치는, 광을 발생시키는 광원(100)과, 광원(100)에서 방출되는 광(L)을 조절하고, 신호광(P) 및 기준광(S)으로 분할하는 광 분할광학계와, 광 분할광학계에서 분할된 신호광(P)에 마스크(M)에 형성된 데이터를 로딩시키는 신호광 광학계와, 광 분할광학계에서 분할된 기준광(S)의 경로를 형성하는 기준광 광학계와, 신호광 광학계를 통과한 신호광(P) 및 기준광 광학계를 통과한 기준광(S)을 저장매체(D)에 입사시키는 축소광학계를 구비한다.
상기 저장매체(D)는 포토폴리머(photopolymers)의 일종이 채택될 수 있다. 이러한 저장매체(D)는 예를 들어 듀폰(Dupont)사의 제품명 "HRR-660" 또는 아프릴 리스(Aprils)사의 제품명 "ULSH-500", 또는 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA,polymethylmethacrylate) 등이 사용될 수 있다. 그리고 그 외의 다른 종류의 포토폴리머가 채택될 수 있으며, 디스크 형태로 형성될 수 있다.
상기 광원(100)은, 소정파장의 광(L)을 발생시키는 것으로, 광원(100)에서 발생되는 광(L)은 평행광속화된 것으로 우수한 코히어런트(coherent)를 가진 평면파 형태의 레이저 광인 것이 바람직하며, 예를 들어 홀로그래픽 데이터 저장에 요구되는 파장을 갖는 것이 바람직하다.
상기 광 분할광학계는, 광원 조절부재(112), 편광 광분할기(Polarizer Beam Splitter)(114)를 구비한다.
여기서, 광원 조절부재(112)는, 편광판, 감광필터 등으로 마련될 수 있으며, 이러한 광원 조절부재(112)는 광(L)의 강도, 균일도 등에 정밀한 조절이 필요할 경우 설치되는 것으로, 신호광(P)의 특성이 보장된다면 설치되지 않을 수 있다.
그리고 편광 광분할기(114)는, 광원(100)에서 방출된 광(L)을 신호광(P)과 기준광(S)으로 분할하기 위한 것으로, 굴절률이 서로 상이한 두 종류 이상의 물질을 반복적으로 증착한 구조를 가진다. 이 편광 광분할기(14)는 입사되는 광(L)을 편광 분할시키는 편광 빔분할면(114a)을 갖으며, 이러한 편광 분할면(114a)은 신호광(P)은 투과시키고 기준광(S)은 반사시키는 역할을 수행한다.
상기 신호광 광학계는, 광 분할광학계에서 분할된 신호광(P)에 마스크(M)에 형성된 데이터 패턴을 로딩하기 위한 것으로, 신호광(P)의 특성(예를 들어 신호광(P)의 강도, 균일도 등)을 조절하기 위한 신호광 조절부재(122)와, 신호광(P)의 경 로를 전환하기 위한 제 1반사미러(124)와, 신호광(P)이 통과하는 광경로 상에 마련되어 신호광(P)을 확장시키는 신호광 확장기(126)를 구비한다.
여기서, 신호광(P)의 특성을 조절하는 신호광 조절부재(122)는, 편광판, 감광필터 등으로 마련될 수 있으며, 이러한 신호광 조절부재(122)는 신호광(P)의 정밀한 조절이 필요할 경우 설치되는 것으로, 신호광(P)의 특성이 보장된다면 설치되지 않을 수 있다.
그리고 제 1반사미러(124)는 신호광(P)의 광경로를 전환시켜 마스크(M)를 통과하도록 하는 것으로, 광경로의 조절을 위하여 회전 미러(rotating mirror)가 채용된다. 이러한 회전 미러는 갈바노 미러(Galvano mirror)인 것이 바람직하다.
또한, 신호광 확장기(126)는 복수의 렌즈로 구성되어 입사되는 신호광(P)을 노광을 위하여 적당한 크기로 확장하는 것으로, 예를 들어 마스크(M)의 유효 데이터 영역의 전역을 조사할 수 있는 크기로 확대되는 것이 바람직하다.
제 1반사미러(124)에 의해 광경로가 조절된 신호광(P)은 데이터 패턴이 형성된 투과형 마스크(M)의 전면에 조사된다. 이에 마스크(M)를 통과하는 신호광(P)은 그 진폭 및/또는 위상이 변조되어 저장매체(D)에 저장될 데이터가 로딩된다. 이렇게 데이터가 로딩된 신호광(P)은 후술할 축소광학계의 신호광 축소광학부재(142)로 입사된다.
상기 기준광 광학계는, 광 분할광학계에서 분할된 기준광(S)을 저장매체(D)에 소정의 각도로 조사하기 위한 것으로, 기준광(S)의 특성(예를 들어 기준광의 강도, 균일도 등)을 조절하기 위한 기준광 조절부재(132)와, 기준광의 광경로를 전환 하기 위한 제 2반사미러(134)와, 기준광(S)이 통과하는 광경로 상에 마련되어 기준광(S)을 확장시키는 기준광 확장기(136)를 구비한다.
여기서, 기준광 조절부재(132)는 신호광 조절부재와 동일한 역할을 하는 것으로 신호광 조절부재(122)와 동일한 광학부재가 사용되며, 기준광(S)의 특성이 보장된다면 설치되지 않을 수 있다.
그리고 제 2반사미러(134)는 신호광(P)의 광경로를 전환시켜 마스크(M)를 통과하도록 하는 것으로, 광경로의 조절을 위하여 회전 미러(rotating mirror)가 채용된다. 이러한 회전 미러는 갈바노 미러(Galvano mirror)인 것이 바람직하다. 한편 상술한 제 1, 2반사미러(124, 134)는 신호광(P) 및 기준광(S)의 광경로를 형성하기 위하여 각기 복수개로 설치할 수 있다.
또한, 기준광 확장기(136)는 복수의 렌즈로 구성되어 입사되는 광을 노광에 적당한 크기로 확장하는 것으로, 예를 들어 저장매체(D)의 데이터 저장영역보다 큰 영역을 조사할 수 있는 크기로 확대되는 것이 바람직하다. 이는 후술할 기준광 축소광학부재(144)에 의해 기준광(S)의 조사면적이 축소되기 때문이다.
이에 제 2반사미러(134)에 의해 광경로가 조절된 기준광(S)은 후술할 축소광학계의 기준광 축소광학부재(144)로 입사되어 저장매체(D)에 소정의 각도로 조사된다.
상기 축소광학계는 상술한 신호광(P)이 입사되는 신호광 축소광학부재(142)와, 기준광(S)이 입사되는 기준광 축소광학부재(144)로 이루어진다.
여기서, 신호광 축소광학부재(142)는, 마스크(M)의 전면에 조사되어 데이터 가 로딩된 신호광(P)의 광폭을 축소하여 저장매체(D)의 전면에 조사하는 것으로, 데이터가 로딩된 신호광(P)과 동일한 평행광을 갖으나, 그 면적을 축소시킨다. 이러한 신호광 축소광학부재(142)는 복수의 수렴렌즈(일명 볼록렌즈) 및 발산렌즈(일명 오목렌즈)의 조합으로 형성되거나, 복수의 프리즘을 조합하여 형성할 수 있다.
이러한, 신호광 축소광학부재(142)에 의하여 기존의 마스크(M)를 이용하여 소형의 저장매체에 신호광(P)의 밀도를 높여 소형의 저장매체에 조사하거나, 대량의 데이터 패턴이 형성된 마스크의 통과한 신호광의 밀도를 높여 기존의 저장매체에 조사할 수 있다.
그리고 기준광 축소광학부재(144)는, 광 분할광학계에서 분할된 기준광(S)을 신호광(P)이 조사되는 저장매체(D)의 일면에 대하여 다른 면에서 저장매체(D)의 전면에 소정의 각도를 갖는 상태로 조사하기 위한 것으로, 저장매체(D)의 다른면 측에 마련되어 기준광(S)을 저장매체(D)의 중심에 대하여 원통대칭으로 소정의 각도를 갖는 형성하기 위한 것이다.
이러한 기준광 축소광학부재(144)는 중심축을 기준으로 동일한 경사면을 갖는 원추형 프리즘으로 형성되는 것이 바람직하다. 하지만 기준광(S)의 조사각을 형성하기 위하여 복수의 원추형 프리즘 또는 역 원추형 프리즘을 조합하여 형성할 수도 있다.
따라서 기준광 축소광학부재(144), 저장매체(D) 및 기준광(S)의 중심을 일치시킨 상태에서 기준광 축소광학부재(144)에 기준광(S)을 입사시키면, 기준광(S)이 기준광 축소광학부재(144)에 의해 저장매체(D)의 중심에 대하여 동일한 경사각을 갖는 상태로 저장매체(D)에 조사된다.
이에 따라, 본 발명에 따른 광정보 기록장치를 이용한 광정보 기록방법을 실시예를 통하여 상세히 설명한다. 이하에서 언급되는 각각의 요소들은 상술한 설명과 도 1 내지 도 2를 참조하여 이해하여야 한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 광정보 기록방법을 나타낸 순서도이다.
먼저, 광정보의 저장을 위하여 광원(100)에서 광(L)이 방출된다. 이에 방출되는 광(L)은 광원 조절부재(112)에 의해 그 특성(예를 들어 강도, 균일도, 편광 등)이 조절되며, 조절된 광(L)은 편광 광분할기(114)로 입사된다. 편광 광분할기(114)로 입사된 광(L)은 신호광(P)과 기준광(S)으로 분할된다. 즉, 신호광(P)은 편광 광분할기(114)를 투과하고, 기준광(S)은 편광 광분할기(114)의 편광 분할면(114a)에 반사되어 신호광(P)에 대하여 수직 방향으로 반사된다(단계 S110).
이에 신호광(P)은 신호광 조절부재(122)에 의해 그 광학적 특성이 조절되며, 신호광 확장기(126)에 의해 마스크(M)의 데이터 영역 전역을 조사할 수 있는 크기로 확장되어 제 1반사미러(124)에 의해 마스크(M)의 전면에 입사된다. 마스크(M) 전면에 입사된 신호광(P)은 마스크(M)에 형성된 데이터 패턴에 의해 그 진폭 및/또는 위상이 변조되면서 마스크(M)에 형성된 데이터가 로딩되고, 데이터가 로딩된 신호광(P)은 신호광 축소광학부재(142)에 입사된다.
그리고 기준광(S)은 기준광 조절부재(132)에 의해 그 광학적 특성이 조절되며, 기준광 확장기(136)에 의해 그 조사면적이 면적이 확대되어 제 2반사미러(134) 에 의해 기준광 축소광학부재(144)에 입사된다(단계 S120).
한편, 신호광 축소광학부재(142)에 입사된 신호광(P)은 신호광 축소광학부재(142)에 의해 동일한 평행광을 갖으나, 그 면적이 축소된 상태로 저장매체(D)의 일면에 입사된다. 또한, 기준광 축소광학부재(144)에 입사된 기준광(S)은 기준광 축소광학부재(144)의중심을 축으로 하여 동일한 경사각을 갖는 상태로 저장매체(D)에 타면에 조사된다(단계 S130).
이에 저장매체(D)에 입사되는 신호광(P)과 기준광(S)의 간섭에 의하여 저장매체(D)에 홀로그래픽 간섭무늬를 형성된다. 이러한 간섭무늬가 원하는 광학적인 정보가 된다(단계 S140).
한편, 상술한 마스크(M)와 다른 데이터 패턴이 형성된 다른 마스크 및 상술한 기준광 축소광학부재(144)와 다른 조사각을 갖는 기준광 축소광학부재(144)를 이용하여 저장매체(D)에 중첩 기록할 수 있다.
상술한 바와 같은 본 발명에 따른 광정보 기록장치 및 기록방법은 통상의 규격에 만족하는 규격저장매체에 적용할 수 있다. 예를 들면, 통상의 규격저장매체에 적용되는 규격마스크를 이용하여 통상 규격보다 작은 저장매체에 그 밀도를 높여 데이터를 저장할 수 있으며, 다르게는 규격마스크보다 많은 데이터의 패턴이 형성된 마스크를 통상의 규격저장매체에 그 밀도를 높여 데이터를 저장할 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 상세히 기술되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야에 있어서 통상의 지식을 가진 사람이라면, 첨부된 청구 범위에 정의된 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 본 발명 을 여러 가지로 변형하여 실시할 수 있을 것이다.
예를 들어 본 발명에 따른 광정보 기록장치에서 다른 부가적인 기능을 가진 구성요소가 추가되거나. 또는 다른 구성요소로 교체하여 실시할 수 있을 것이다. 그러나 변형된 다른 실시예가 본 발명의 필수구성요소를 포함하고, 축소광학계를 이용하여 광정보를 저장하는 것이라면 모두 본 발명의 기술적 범주에 포함된다고 보아야 한다.
또한, 본 발명의 실시예를 위하여 언급된 구성들 중 광 확장기의 광원에서 방출되는 광을 노광에 적당한 크기로 확장한다는 것을 목적으로 하는 것으로, 신호광 및/또는 기준광의 광경로 상에 각각 설치될 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 광정보 기록장치에 따르면, 광정보의 저장시 축소광학계를 이용함으로써, 마스크에 형성된 데이터 패턴을 고밀도로 집적하여 저장매체에 저장시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 비교적 저가의 원추형 프리즘을 사용함으로써, 장치의 제조비용을 절감할 수 있으며, 이에 따른 저장매체의 대량 복제비용을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (18)

  1. 광원;
    상기 광원으로부터 방출되는 광을 분할하는 광 분할광학계;
    상기 광 분할광학계에서 분할되는 하나의 광을 투과형 데이터 마스크를 통과시켜 데이터가 포함된 신호광을 형성하는 신호광 광학계;
    상기 광 분할광학계에서 분할되는 다른 하나의 광을 저장매체에 광정보 기록을 위한 기준광으로 입사시키는 기준광 광학계; 및
    상기 신호광 광학계를 통과한 상기 신호광 및 상기 기준광 광학계를 통과한 상기 기준광을 밀집시켜 상기 저장매체의 전면에 조사하여 광정보를 저장하는 축소광학계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 광정보는,
    상기 신호광과 상기 기준광의 간섭에 의해 형성되는 홀로그래픽 간섭무늬인 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 광 분할광학계는,
    상기 광원에서 방출되는 광의 특성을 조절하기 위한 광원 조절부재; 및
    상기 광원 조절부재에서 광 특성이 조절된 광을 상기 신호광과 상기 기준광으로 분할하는 편광 광분할기를 구비하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 신호광 광학계는,
    상기 신호광의 광학적 특성을 조절하기 위한 신호광 조절부재;
    상기 신호광을 상기 마스크의 전면에 대응되는 크기로 확장하는 신호광 확장기;
    상기 신호광의 경로를 전환하기 위한 제 1반사미러; 및
    상기 신호광에 데이터를 로딩하기 위한 마스크;를 구비하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 신호광 조절부재는,
    상기 신호광의 편광상태를 조절하기 위한 편광판인 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  6. 제 4항에 있어서, 상기 제 1반사미러는,
    상기 신호광의 광경로를 조절하여 상기 신호광이 상기 마스크의 전면에 조사 되도록 하는 회전미러인 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  7. 제 1항에 있어서, 상기 기준광 광학계는,
    상기 기준광의 광학적 특성을 조절하기 위한 기준광 조절부재;
    상기 기준광을 상기 저장매체의 전면보다 큰 크기로 확장하는 기준광 확장기;
    상기 기준광의 경로를 전환하기 위한 제 2반사미러;를 구비하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  8. 제 7항에 있어서, 상기 기준광 조절부재는,
    상기 신호광의 편광상태를 조절하기 위한 편광판인 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  9. 제 7항에 있어서, 상기 제 2반사미러는,
    상기 기준광의 광경로를 조절하여 상기 기준광이 상기 저장매체의 전면에 조사되도록 하는 회전미러인 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  10. 제 1항에 있어서, 상기 축소광학계는,
    상기 마스크의 전면에 조사되어 데이터가 로딩된 상기 신호광의 광폭을 축소하여 상기 저장매체의 일면 전면에 조사하는 신호광 축소광학부재; 및
    상기 광 분할광학계에서 분할된 상기 기준광을 상기 저장매체의 타면 전면에 소정의 각도를 갖는 상태로 조사하는 기준광 축소광학부재;를 구비하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  11. 제 10항에 있어서, 상기 신호광 축소광학부재는,
    상기 신호광의 광폭을 축소시킬 때 상기 신호광의 광축을 유지한 상태로 상기 신호광의 광폭을 축소시키는 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  12. 제 11항에 있어서, 상기 신호광 축소광학부재는,
    복수의 수렴렌즈 및 발산렌즈의 조합으로 형성되는 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  13. 제 10항에 있어서, 상기 기준광 축소광학부재는,
    상기 기준광을 상기 저장매체의 중심에 대하여 동일한 경사각을 갖는 상태로 상기 저장매체의 전면에 조사하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  14. 제 13항에 있어서, 상기 기준광 축소광학부재는,
    상기 저장매체의 중심축과 동일한 중심축을 갖으며, 그 중심축을 기준으로 동일한 경사면을 갖는 원추형 프리즘인 것을 특징으로 하는 광정보 기록장치.
  15. 광원을 방출하는 광방출단계;
    방출된 상기 광원을 신호광과, 기준광으로 분할하는 광분할단계;
    분할된 상기 신호광을 마스크를 통과시켜 데이터를 로딩하는 데이터로딩 단계;
    데이터가 로딩된 상기 신호광을 축소하여 저장매체의 일면 전면에 조사하는 신호광 조사단계;
    분할된 상기 기준광을 상기 저장매체의 타면 조사하는 기준광 조사단계;
    상기 저장매체의 타면에 조사되는 상기 기준광을 평행한 소정의 각도로 전환하여 상기 저장매체의 타면 전면에 조사하는 기준광 전환단계;를 포함하는 것을 특 징으로 하는 광정보 기록방법.
  16. 제 15항에 있어서, 상기 광방출단계는,
    상기 광원을 상기 마스크의 유효 데이터 영역의 전역을 조사할 수 있는 크기로 확대하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록방법.
  17. 제 15항에 있어서, 상기 데이터로딩 단계는
    상기 신호광의 광학적 특성을 조절하기 위한 신호광 조절단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록방법.
  18. 제 15항에 있어서, 상기 기준광 조사단계는
    상기 기준광의 광학적 특성을 조절하기 위한 기준광 조절단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광정보 기록방법.
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