KR100718995B1 - 격벽을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 및 플라즈마디스플레이 패널의 제조방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 격벽을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 및 제조방법에 관한 것이다.
플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법에 있어서, 후면 글라스 기판 상부에 어드레스 전극을 형성하는 단계, 어드레스 전극 상부에 유전체를 형성하는 단계, 유전체 상부에 격벽을 형성하는 단계, 격벽 상부에 저유전율 층을 형성하는 단계를 포함한다.
또한 격벽을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널에 있어서, 격벽 상부에 저유전율 층이 형성되는 것을 포함한다.
본 발명은 저유전율 재료를 격벽 상부에 얇게 도포한다. 이후 어드레스 방전시, 격벽 상부에 대전되는 전하가 적고 방전공간에 존재하는 전하가 많아진다. 그러므로 오방전을 방지하여 지터특성이 향상되며, 안정적인 구동특성을 제공하는 효과가 있다.
Description
도 1은 종래 AC타입의 PDP 장치 구조를 개략적으로 나타낸 것이다.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 격벽구조를 나타낸 것이다.
도 3는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 격벽구조를 나타낸 것이다.
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 플라즈마 디스플레이 패널의 격벽구조에 관한 것이다.
일반적으로 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: 이하, PDP라 함.)은 전극에 교류(AC) 또는 직류(DC)전압을 인가하면 전극사이에서 가스방전이 일어나고, 이때, 자외선 방사에 의한 형광체가 발광하여 화상을 표시하는 평판표시 소자이다.
도 1은 종래 AC타입의 PDP 장치 구조를 개략적으로 나타낸 사시도이다. 도시된 바와 같이 PDP는 화상이 디스플레이 되는 표시면인 전면 글라스 기판(10)과 후면을 이루는 후면 글라스 기판(20)이 일정 거리를 사이에 두고 평행하게 결합된다.
전면 글라스 기판(10)은 하방에 하나의 화소에서 상호 방전에 의해 셀의 발광을 유지하기 위한 유지전극(11,12), 즉 투명한 ITO(Indium Thin Oxide) 물질로 형성된 투명전극(11a,12a)과 금속재질로 제작된 버스전극(11b,12b)이 구비된 유지전극(11,12)이 쌍을 이뤄 형성된다. 유지전극(11,12)은 벽전하를 형성하고, 방전유지전압에 의해 방전을 유지시키며 플라즈마 방전 시에 이온충격으로부터 전극을 보호하고 확산 방지 막의 역할을 하는 상부 유전체층(13a)에 의해 덮혀 지고, 상부 유전체층(13a) 상면에는 2차전자의 방출을 용이하게 하기 위한 산화마그네슘(MgO)이 증착된 보호층(14)이 형성된다.
후면 글라스 기판(20)은 하나 이상의 방전 공간 즉, 셀을 형성시키기 위한 격벽(21)이 서로 평행하게 배열되고, 유지전극(11,12)과 교차되는 부위에서 어드레스 방전을 수행하여 진공자외선을 발생시키는 다수의 어드레스 전극(22)이 격벽(21)과 평행한 방향으로 후면 글라스 기판(20)의 상면에 배치된다. 또한, 상기 어드레스 전극(22) 상면에는 하부 유전체층(13b)이 형성되고, 하부 유전체층(13b)의 상면은 어드레스 방전시 화상표시를 위한 가시광선을 방출하는 R, G, B 형광층(23)이 도포되어 형성된다.
이러한 구조를 갖는 종래 전면 글라스 기판과 후면 글라스 기판은 봉착 공정 에 의해 실링재인 프릿 글라스(Frit Glass)가 가소성되어 합착된 후, 패널 내부에 있는 불순물을 제거하기 위한 배기 공정이 수행된다. 배기 공정을 마친 패널은 플라즈마 방전시 방전효율을 높이기 위하여 헬륨(He), 네온(Ne), 크세논(Xe) 등과 같은 불활성 가스가 PDP 내부로 주입된다.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 격벽구조를 나타낸 것이다.
일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 하부구조를 살펴보면 도 2 에 도시된 바와같이, 후면 글라스 기판(30)에는 어드레스 전극(32) 및 유전체(34) 층이 형성되고 그 위에 격벽(36)이 형성되며, 격벽(36) 사이에는 R,G,B 각각의 형광체(38)가 도포된다.
플라즈마 디스플레이 패널의 격벽 형성방법으로는 프린팅법, 샌드브라스트법, 직접 에칭법 등이 사용되고 있으며, 프린팅법은 기판유리의 공정 중 변형으로 인하여 마스크 얼라인 등의 불일치로 여러층을 프린팅하여 쌓는데 많은 어려움이 있다. 따라서 직접 에칭법을 사용하고 있는데, 후면 글라스 기판(30)의 상부로 전극(32)층을 형성하고 P/R도포, 노광, 현상 에칭의 순으로 하여 전극을 형성한다.
이후 전극의 상부에 격벽(36)형성물질을 도포하여 건조시킨 후, 마스크를 대고 자외선에 노광시킨다. 이후 현상공정에서 현상시켜 패턴을 형성하고 에칭공정을 통해 격벽(36)을 형성한다.
에칭을 행하고 세정을 행한 후, 노(furnace)에 넣어 소성시켜 격벽(36)을 형성한 후 격벽(36) 사이에 형광체(38)를 인쇄하게 된다.
이러한 종래의 격벽(36)구조는 높은 유전율을 갖는다. 그래서 어드레스 방전 이 일어났을 때, 격벽(36) 상부에서 대전되는 전하가 많아져 방전공간에 존재하는 전하가 그 만큼 적어진다. 그러므로 오방전을 일으켜 지터특성이 저하되는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위한 것으로, 격벽구조 상부에 저유전율 재료를 도포하여 오방전을 방지하며, 지터특성을 향상시켜 안정적인 구동특성을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 격벽을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 및 제조방법은 후면 글라스 기판 상부에 어드레스 전극을 형성하는 단계와; 어드레스 전극 상부에 유전체를 형성하는 단계와; 유전체 상부에 격벽을 형성하는 단계와; 격벽 상부에 저유전율 층을 형성하는 단계를 포함한다.
저유전율 층은 1 ㎛ 이상 3 ㎛ 이하의 두께로 인쇄법 또는 에칭법 중 하나의 방법으로 형성되는 것을 특징으로 한다.
저유전율 층의 재료는 격벽의 유전율보다 낮은 값을 갖는 재료이며, 저유전율 층의 유전율은 10 ε미만인 것을 특징으로 한다. (ε=유전상수)
본 발명의 또 다른 격벽을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널은 격벽 상에 저유전율 층이 형성되는 것과 저유전율 층은 격벽보다 낮은 유전율을 갖는 것을 특 징으로 한다.
이하에서는 첨부된 도면을 참고로 하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명에 따른 격벽을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널을 설명하기 위한 개략도이다. 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널은 격벽 및 저유전율 층을 포함한다.
플라즈마 디스플레이 패널의 하부구조를 살펴보면 도 3 에 도시된 바와같이, 후면 글라스 기판(30)에는 어드레스 전극(32) 및 유전체(34) 층이 형성되고 그 위에 격벽(36)이 형성되며, 격벽(36) 사이에는 R,G,B 각각의 형광체(38)가 도포된다.
플라즈마 디스플레이 패널의 격벽 형성방법은 직접 에칭법을 사용하고 있으며, 후면 글라스 기판(30)의 상부로 전극(32)층을 형성하고 P/R도포, 노광, 현상 에칭의 순으로 하여 전극을 형성한다.
이후 전극의 상부에 유전체(34) 층을 형성하며 상부에 격벽(36)형성물질을 도포하여 건조시킨 후, 마스크를 대고 자외선에 노광시킨다. 이후 현상공정에서 현상시켜 패턴을 형성하고 에칭공정을 통해 격벽(36)을 형성한다.
이 후 격벽(36) 상부에 저유전율 층은 인쇄법 또는 에칭법 중 하나의 방법을 통하여 1 ㎛ 이상 3 ㎛ 이하의 두께로 형성한다. 저유전율 층의 재료로는 격벽의 유전율보다 낮은 값을 갖는 재료로써 유전율이 10 ε미만인 것을 사용한다.
노(furnace)에 넣어 소성시켜 저유전율 층(40)을 형성한 후 격벽(36) 사이에 형광체(38)를 인쇄하게 된다.
종래의 기술은 격벽의 유전율이 커서 어드레스 방전이 일어났을 시, 격벽 상부에서 대전되는 전하가 많아진다. 그러므로 지터특성이 낮아 안정적인 구동특성을 보이지 않았다.
그러나 본 발명은 격벽 상부에 격벽보다 유전율이 낮은 저유전율 재료를 격벽 상부에 얇게 도포한다. 이후 어드레스 방전시 격벽 상부에 대전되는 전하가 적고 방전공간에 존재하는 전하가 많아진다. 그러므로 오방전을 방지하여 지터특성이 향상되며, 안정적인 구동특성을 제공하는 효과가 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
종래의 기술은 격벽의 유전율이 커지므로 어드레스 방전이 일어났을 때, 격벽 상부에서 대전되는 전하가 많아지게 된다. 그러므로 지터특성이 낮아져서 안정적인 구동특성을 보이지 않았다.
그러나 본 발명은 저유전율 재료를 격벽 상부에 얇게 도포한다. 이후 어드레스 방전시, 격벽 상부에 대전되는 전하가 적고 방전공간에 존재하는 전하가 많아진다. 그러므로 오방전을 방지하여 지터특성이 향상되며, 안정적인 구동특성을 제공하는 효과가 있다.
Claims (7)
- 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법에 있어서,후면 글라스 기판 상부에 어드레스 전극을 형성하는 단계와;상기 어드레스 전극 상부에 유전체를 형성하는 단계와;상기 유전체 상부에 격벽을 형성하는 단계와;상기 격벽 상부에 1 ㎛ 이상 3 ㎛ 이하의 두께를 지닌 저유전율 층을 형성하는 단계를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 제조 방법.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,상기 저유전율 층의 형성방법은 인쇄법 또는 에칭법 중 하나의 방법으로 형성되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 저유전율 층의 재료는 상기 격벽의 유전율보다 낮은 값을 갖는 재료를 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 저유전율 층은 유전율이 10 ε미만인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법. (ε= 유전상수)
- 격벽을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널에 있어서,상기 격벽 상부에 1 ㎛ 이상 3 ㎛ 이하의 두께를 지닌 저유전율 층이 형성되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널.
- 제 6 항에 있어서,상기 저유전율 층은 상기 격벽보다 낮은 유전율을 갖는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널.
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