KR100700668B1 - Apparatus For Examining A OLED Panel And Its Method - Google Patents

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Abstract

본 발명은 일정갯수의 검사 대상 채널을 하나의 블록으로 묶고, 상기 블록 각각에 하나씩의 분산 검사부를 연결하여, 상기 각각의 분산 검사부가 상기 각각의 각 채널에 흐르는 전류값을 동시에 취득할 수 있도록 하는 한편, 사용자의 요구가 있는 경우에 중앙 제어부가 상기 각각의 분산 검사부에서 측정된 각 채널의 전류값을 취합하여, OLED 패널의 이상 유무를 판단하도록 하기 위한, OLED 패널 검사 장치를 제공하기 위한 것이다. 이를 위해 본 발명은 OLED 패널 검사 장치에 있어서, 소정 갯수의 채널을 하나의 블럭으로 지정하여 각각의 채널을 검사하기 위한 다수개의 분산 검사부(200); 및 상기 다수개의 분산 검사부로부터 수집된 각 채널의 전류 측정값을 이용하여 OLED 패널의 이상 유무를 판단하기 위한 중앙 제어부(100)를 포함한다.The present invention binds a predetermined number of inspection target channels into one block, and connects one distributed inspection unit to each of the blocks so that each distributed inspection unit can simultaneously acquire current values flowing through the respective channels. On the other hand, when there is a user request, the central control unit collects the current value of each channel measured by each of the dispersion inspection unit, to provide an OLED panel inspection device for determining the abnormality of the OLED panel. To this end, the present invention provides an OLED panel inspection apparatus, comprising: a plurality of distributed inspection units (200) for inspecting each channel by designating a predetermined number of channels as one block; And a central controller 100 for determining an abnormality of the OLED panel by using current measurement values of respective channels collected from the plurality of dispersion inspection units.

OLED, 채널, 분산 OLED, channel, dispersion

Description

ＯＬＥＤ 패널 검사 장치 및 그 방법{Apparatus For Examining A OLED Panel And Its Method}Applicator For Examining A OLED Panel And Its Method

도 1 은 종래의 OLED 패널 검사 장치의 일실시예 사용 상태도.1 is a view illustrating an embodiment of a conventional OLED panel inspection apparatus.

도 2 는 본 발명에 따른 OLED 패널 검사 장치의 일실시예 사용 상태도.Figure 2 is an embodiment of the use state of the OLED panel inspection apparatus according to the present invention.

도 3 은 본 발명에 적용되는 분산 검사부의 일실시예 내부 구성도.Figure 3 is an embodiment of the internal configuration of the distribution inspection unit applied to the present invention.

도 4 는 본 발명에 따른 OLED 패널 검사 장치의 일실시예 흐름도.4 is a flowchart of one embodiment of an OLED panel inspection apparatus according to the present invention;

본 발명은 유기 발광 다이오드(OLED : Organic Light Emitting Diodes)(이하, 간단히 'OLED'라 함) 패널 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an organic light emitting diodes (OLED) panel inspection apparatus and method thereof.

디스플레이용으로 OLED가 사용될 수 있음은 잘 알려져 있다. 이때, 상기 OLED는 전극 사이에 끼워진 상태에서 전류가 흐르면 다양한 색상의 강한 빛을 발산하는 유기 발광 물질을 말하는 것으로서, 일반적으로 세개의 OLED(적색, 녹색 및 청색 OLED) 소자가 결합되어 디스플레이를 구성하는 화소, 즉 픽셀을 형성하게 되며, 이러한 픽셀들로 구성되어 다양한 화면을 출력하게 되는 디스플레이 장치를 OLED 패널이라 한다. It is well known that OLEDs can be used for displays. In this case, the OLED refers to an organic light emitting material that emits a strong light of various colors when the current flows in the state sandwiched between the electrodes, generally three OLED (red, green and blue OLED) elements are combined to form a display A display device that forms a pixel, that is, a pixel and is configured of these pixels to output various screens is called an OLED panel.

한편, OLED 패널 검사 장치란, OLED 패널에 전압을 인가하여 패널이 발광되는지와 패널에 흐르는 전류값이 얼마인지를 판단하여 패널의 양부를 판정하는 장치를 말한다.On the other hand, the OLED panel inspection apparatus refers to a device that determines whether the panel is good or not by applying a voltage to the OLED panel to determine whether the panel emits light and how much current flows through the panel.

즉, 상기 OLED 패널 검사 장치는, OLED 패널의 생산 공정에 있어서, 후 공정에 사용되는 장비로서, 앞 공정에서 생산된 패널이 이상이 없는 제품인지를 판단하여야 하기 때문에 대량 생산을 위해서는 여러 개의 채널에 상기 OLED 패널을 장착하여 동시에 검사할 수 있어야 한다.That is, the OLED panel inspection apparatus is a device used in a post process in an OLED panel production process, and it is necessary to determine whether the panel produced in the previous process is a product without abnormalities. The OLED panel should be mounted and inspected at the same time.

그러나, 종래의 방법은 도 1 에 도시된 바와 같이 하나의 제어장치가 모든 채널의 전류값을 취득한 후 양부 판정을 하는 방식이기 때문에 전체 검사 시간이 길어지게 되며, 이로인해 검사 대상 채널수를 증가시키는데에 한계가 있다는 문제점이 있다.However, in the conventional method, as shown in FIG. 1, since one control device acquires the current value of all channels and makes a positive determination, the total inspection time becomes long, thereby increasing the number of channels to be inspected. There is a problem that there is a limit.

즉, OLED 패널의 검사에 필요한 전류값 취득은 일정한 시간이 필요하게 되는데 도 1 에 도시된 바와 같은 다중 채널로 구성된 검사 장치에서는 전류값 취득을 위한 시간이 채널 수에 비례하여 늘어나기 때문에 모든 채널의 전류값을 취득하는데 소요되는 시간이 길어지며, 이로인해 전체 검사 시간이 길어진다는 문제점이 발생된다.That is, the acquisition of the current value required for the inspection of the OLED panel requires a certain time. In the inspection apparatus composed of multiple channels as shown in FIG. 1, the time for acquiring the current value increases in proportion to the number of channels. The time taken to acquire the current value becomes long, which causes a problem that the total inspection time becomes long.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명은, 일정갯수의 검사 대상 채널을 하나의 블록으로 묶고, 상기 블록 각각에 하나씩의 분산 검사부를 연결하여, 상기 각각의 분산 검사부가 상기 각각의 각 채널에 흐르는 전류값을 동시에 취득할 수 있도록 하는 한편, 사용자의 요구가 있는 경우에 중앙 제어부가 상기 각각의 분산 검사부에서 측정된 각 채널의 전류값을 취합하여, OLED 패널의 이상 유무를 판단하도록 하기 위한, OLED 패널 검사 장치를 제공하는 것이다. According to the present invention for solving the above problems, a certain number of inspection target channels are bundled into one block, and one distributed inspection unit is connected to each of the blocks, so that each distributed inspection unit flows through each of the respective channels. OLED for acquiring the current value at the same time, while the central control unit collects the current value of each channel measured by the respective dispersion inspection units when the user requests it, and determines whether there is an abnormality of the OLED panel. It is to provide a panel inspection device.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명은, OLED 패널 검사 장치에 있어서, 소정 갯수의 채널을 하나의 블럭으로 지정하여 각각의 채널을 검사하기 위한 다수개의 분산 검사부(200); 및 상기 다수개의 분산 검사부로부터 수집된 각 채널의 전류 측정값을 이용하여 OLED 패널의 이상 유무를 판단하기 위한 중앙 제어부(100)를 포함하되, 상기 각각의 분산 검사부(200)는, 소정 갯수의 채널을 하나의 블럭으로 지정한 후, 상기 블럭 내의 각 채널의 전류를 측정하여 저장하여 두었다가, 상기 중앙 제어부(100)로부터 상기 측정값들에 대한 전송 요청이 수신된 경우에 상기 중앙 제어부(100)로 상기 측정값들을 전송하는 기능을 수행하며, 상기 중앙 제어부(100)는, 상기 각각의 분산 검사부(200)로부터 수집된 모든 채널의 전류값을 이용하여 OLED 패널에 대한 이상 유무를 분석하고, 상기 분산 검사부(200)는, 사용자에 의해 스위칭되어 다수의 채널 각각과 분산 검사부(200)를 연결시켜 주기 위한 스위칭기(240); 상기 스위칭기를 통해 연결된 채널에 흐르는 전류를 상기 스위칭기로부터 인가받아 저항을 통해 상기 전류를 분기시킨 후 증폭시켜 전압으로 변환시키기 위한 증폭기(210); 상기 증폭기에 의하여 변환된 아날로그 타입의 전압을 디지털 값으로 변환시키기 위한 AD컨버터(analog digital converter)(220); 및 상기 AD컨버터를 통해 디지털 값으로 변환된 전압값을 저장하기 위한 저장기(230)를 포함한다.The present invention for solving the above problems, OLED panel inspection apparatus, a plurality of distributed inspection unit 200 for inspecting each channel by designating a predetermined number of channels as one block; And a central controller 100 for determining an abnormality of the OLED panel by using current measurement values of respective channels collected from the plurality of distributed inspection units, wherein each distributed inspection unit 200 includes a predetermined number of channels. After designating as a block, the current of each channel in the block is measured and stored, and when the transmission request for the measured values is received from the central control unit 100, the central control unit 100 The central control unit 100 transmits the measured values, and analyzes the presence or absence of an abnormality for the OLED panel by using current values of all channels collected from the respective dispersion test units 200, and the dispersion test unit The switch 200 includes a switch 240 that is switched by a user and connects each of the plurality of channels with the distributed inspection unit 200; An amplifier (210) for receiving a current flowing in the channel connected through the switch from the switch and branching the current through a resistor and then amplifying and converting the current into a voltage; An analog converter (220) for converting an analog type voltage converted by the amplifier into a digital value; And a storage unit 230 for storing the voltage value converted into the digital value through the AD converter.

또한, 본 발명은 다수의 분산 검사부(200) 및 중앙 제어부(100)로 구성된 OLED 패널 검사 장치에 적용되는 OLED 패널 검사 방법에 있어서, (a) 다수의 분산 검사부(200) 중 제1 분산 검사부(200)의 스위칭기(240)가 어느 하나의 채널을 선택하게 되면, 상기 제1 분산 검사부(200)가 상기 스위칭기(240)를 통해 상기 채널을 흐르는 전류값을 인가받는 단계; (b) 상기 제1 분산 검사부(200)가 인가된 상기 전류값을 저항을 통해 분기시킨 후 증폭기(220)를 통해 상기 전류값에 해당하는 전압 값으로 변환시켜 저장기(230)에 저장시키는 단계; (c) 상기 제1 분산 검사부(200)가 자신이 관리하는 블럭내의 모든 채널에 대하여 상기 (a) 단계 및 (b) 단계의 과정을 반복하는 단계; (d) 상기 중앙 제어부(100)가 상기 제1 분산 검사부(200)로 상기 저장값 전송 요청 신호를 전송한 후 상기 제1 분산 검사부(200)로부터 상기 각 채널의 디지털 전압값을 전송받는 단계; (e) 상기 중앙 제어부(100)가 상기 분산 검사부(200)로부터 전송받은 디지털 전압값을 읽어서 전류값으로 환산한 후, 또 다른 분산 검사부(200)를 선택하여 상기 (d) 단계를 반복하는 단계; 및 (f) 상기 중앙 제어부(100)가 상기 (e) 단계를 통해 모든 검사 대상 채널에 대한 전류값을 수집한 후 상기 전류값을 이용하여 OLED 패널의 이상유무를 판단하여 그 결과를 출력부를 통해 출력하는 단계를 포함한다.In addition, the present invention is an OLED panel inspection method applied to the OLED panel inspection apparatus composed of a plurality of distributed inspection unit 200 and the central control unit 100, (a) a first distributed inspection unit ( When the switch 240 of the 200 selects any one channel, the first distributed inspection unit 200 receiving a current value flowing through the channel through the switch 240; (b) branching the applied current value through a resistor by the first dispersion inspection unit 200 and converting the current value into a voltage value corresponding to the current value through an amplifier 220 and storing the stored current in the storage unit 230; ; (c) repeating the steps (a) and (b) for all channels in the block managed by the first distributed inspection unit 200; (d) receiving, by the central controller 100, the digital voltage value of each channel from the first distributed inspection unit 200 after transmitting the stored value transmission request signal to the first distributed inspection unit 200; (e) the central control unit 100 reading the digital voltage value received from the dispersion inspection unit 200 and converting it into a current value, and then selecting another dispersion inspection unit 200 and repeating step (d) ; And (f) the central controller 100 collects the current values for all the channels to be inspected through the step (e), and then determines whether there is an abnormality of the OLED panel using the current values and outputs the result through the output unit. Outputting.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일실시예가 상세히 설명된다. 특히, 이하에서는 본 발명에 따른 상기 OLED 패널 검사 장치가 192개의 채널을 검사하는 경우를 일예로 하여 본 발명이 상세히 설명된다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In particular, the present invention will be described below in detail with an example in which the OLED panel inspection apparatus according to the present invention inspects 192 channels.

도 2 는 본 발명에 따른 OLED 패널 검사 장치의 일실시예 사용 상태도를 나타낸 것이다.Figure 2 shows a state diagram of use of an embodiment of the OLED panel inspection apparatus according to the present invention.

즉, 도면에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 OLED 패널 검사 장치는, 다수개(예를 들어 16개)의 채널을 하나의 블럭으로 지정하여 각각의 채널을 검사하기 위한 다수개의 분산 검사부(200) 및 상기 다수개의 분산 검사부로부터 수집된 각 채널의 전류(또는 전압) 측정값을 이용하여 OLED 패널의 이상 유무를 판단하기 위한 중앙 제어부(100)를 포함하여 구성되어 있다.That is, as shown in the drawing, the OLED panel inspection apparatus according to the present invention designates a plurality of channels (for example, 16) as one block, and a plurality of distributed inspection units 200 for inspecting each channel. And a central controller 100 for determining an abnormality of the OLED panel by using current (or voltage) measurement values of respective channels collected from the plurality of dispersion inspection units.

이때, 각각의 상기 분산 검사부(200)는 도면에 도시된 바와 같이 일정 갯수의 채널을 하나의 블럭(도 2 에서는 16개의 채널을 하나의 블럭으로 지정하였음)으로 지정한 후, 상기 블럭 내의 각 채널의 전류(또는 전압)를 측정하여 저장하여 두었다가, 상기 중앙 제어부(100)로부터 상기 측정값들에 대한 전송 요청이 수신된 경우에 상기 중앙 제어부(100)로 상기 측정값들을 전송하는 기능을 수행한다. 한편, 상기 분산 검사부(200)에 대한 상세한 설명은 이하에서 도 3 을 참조하여 상세히 설명된다.In this case, each of the distributed inspection unit 200 designates a certain number of channels as one block (16 channels are designated as one block in FIG. 2), and then, After measuring and storing a current (or voltage), the central controller 100 transmits the measured values to the central controller 100 when a request for transmission of the measured values is received from the central controller 100. On the other hand, a detailed description of the dispersion inspection unit 200 will be described in detail with reference to FIG.

즉, 본 발명에 따른 OLED 패널 검사 장치는, 도면에 도시된 바와 같이 192개의 다중 채널을 사용하였으며 16개의 채널을 하나의 블럭으로 묶어서 총 12개의 블록을 각각의 분산 검사부(200)가 제어하도록 하는 한편, 상기 각각의 분산 검사부(200)에 저장되어 있는 측정값들을 상기 중앙 제어부(100)가 수집하여 일괄적으로 192개의 채널의 이상유무를 분석하도록 하고 있다.That is, the OLED panel inspection apparatus according to the present invention uses 192 multi-channels as shown in the figure, and bundles 16 channels into one block so that each distributed inspection unit 200 controls a total of 12 blocks. Meanwhile, the central control unit 100 collects the measured values stored in each of the dispersion inspection units 200 and analyzes the abnormality of 192 channels in a batch.

한편, 상기 중앙 제어부(100)가 각 채널의 전류(또는 전압)값을 수집한 후, 각 채널의 이상유무를 판단하는 기능은 일반적인 컴퓨터 프로그램에 의하여 가능한 것임으로 그 구성 및 기능에 대한 상세한 설명은 생략된다.On the other hand, after the central control unit 100 collects the current (or voltage) value of each channel, the function of determining the abnormality of each channel is possible by a general computer program, the detailed description of the configuration and function It is omitted.

도 3 은 본 발명에 적용되는 분산 검사부의 일실시예 내부 구성도로서, 도 2 에 도시된 분산 검사부(200)의 내부 구성을 나타낸 것이다. 3 is a diagram illustrating an internal configuration of a distributed inspection unit according to an exemplary embodiment of the present invention, and illustrates the internal configuration of the distributed inspection unit 200 illustrated in FIG. 2.

도면에 도시된 바와 같이, 상기 분산 검사부(200)는 사용자에 의해 스위칭되어 다수의 채널 각각과 분산 검사부(200)를 연결시켜 주기 위한 스위칭기(240), 상기 스위칭기를 통해 연결된 채널에 흐르는 전류를 상기 스위칭기로부터 인가받아 저항을 통해 상기 전류를 분기시킨 후 증폭시켜 전압으로 변환시키기 위한 증폭기(210), 상기 증폭기에 의하여 변환된 아날로그 타입의 전압을 디지털 값으로 변환시키기 위한 AD컨버터(analog digital converter)(220) 및 상기 AD컨버터를 통해 디지털 값으로 변환된 전압값을 저장하기 위한 저장기(230)를 포함하여 구성되어 있다.As shown in the figure, the distributed inspection unit 200 is switched by a user switch 240 for connecting each of the plurality of channels and the distributed inspection unit 200, the current flowing through the channel connected through the switch An amplifier 210 applied from the switch to branch the current through a resistor and then amplify and convert the current into a voltage; and an analog converter to convert the analog type voltage converted by the amplifier into a digital value. 220) and a storage unit 230 for storing the voltage value converted into a digital value through the AD converter.

즉, 상기 분산 검사부(200)는 다수의 채널을 하나로 블럭으로 지정한 후에, 사용자의 스위칭 동작에 의해 각각의 채널과 연결된 경우, 상기 각각의 채널에 흐르는 전류값을 인가받아 상기 전류값을 디지털 전압값으로 변환하여 저장하여 두는 기능을 수행하는 것으로서, 이후 상기 중앙 제어부(100)로부터 상기 각각의 채널에 대한 디지털 전압값의 요청이 있는 경우에 상기 전압값들을 상기 중앙 제어부(100)로 전송하게 된다.That is, the distributed inspection unit 200 designates a plurality of channels as one block, and when connected to each channel by a switching operation of a user, receives the current value flowing through each channel and converts the current value into a digital voltage value. As a function of converting and storing the digital voltage value, the voltage value is transmitted to the central controller 100 when the central controller 100 requests a digital voltage value for each channel.

도 4 는 본 발명에 따른 OLED 패널 검사 장치의 일실시예 흐름도로서, 상술된 본 발명에 따른 OLED 패널 검사 장치를 이용하여 다수의 채널의 이상유무를 판단하는 과정이 도시되어 있다.4 is a flowchart illustrating an exemplary embodiment of an OLED panel inspection apparatus according to the present invention, in which a process of determining an abnormality of a plurality of channels using the OLED panel inspection apparatus according to the present invention described above is illustrated.

즉, 도 2 에 도시된 바와 같은 연결 상태에서, 사용자 또는 기 설정되어 있는 프로세스에 의해 상기 스위칭기(240)가 어느 하나의 채널을 선택하게 되면, 상기 분산 검사부(200)는 상기 스위칭기(240)를 통해 상기 채널을 흐르는 전류값을 인가받게 된다(402). That is, in the connected state as shown in FIG. 2, when the switcher 240 selects any one channel by a user or a predetermined process, the dispersion checker 200 determines the switcher 240. In step 402, a current value flowing through the channel is applied.

이때, 인가된 상기 전류값은 저항을 통해 분기되어 상기 증폭기(220)로 인가된 후 증폭되어 상기 전류값에 해당하는 전압값으로 출력된다(404).In this case, the applied current value is branched through a resistor, applied to the amplifier 220, amplified, and output as a voltage value corresponding to the current value (404).

한편, 상기 과정(404)에 의해 변환된 전압값은 아날로그 값으로서 상기 중앙 제어부(100)가 읽을 수 없는 아나로그 값이므로, 상기 전압값은 상기 AD컨버터(230)를 통해 디지털 전압값으로 변환된다(406).On the other hand, since the voltage value converted by the process 404 is an analog value that the central control unit 100 cannot read, the voltage value is converted into a digital voltage value through the AD converter 230. (406).

이후, 상기 디지털 전압값은 상기 채널 번호와 함께 상기 저장기(230)에 저장된다(408).The digital voltage value is then stored 408 in the reservoir 230 along with the channel number.

한편, 상기 과정(408)을 통해 하나의 채널에 대한 디지털 전압값이 저장되면, 상기 스위칭기(240)의 스위칭 동작에 의하여, 상기 분산 검사부(200)의 검사 대상 블럭에 포함된 모든 채널에 대하여 상기 전 과정(402 내지 408)의 수행이 반복된다(410).On the other hand, if the digital voltage value for one channel is stored through the process 408, by the switching operation of the switch 240, for all channels included in the inspection target block of the distributed inspection unit 200. The performance of the entire process (402 to 408) is repeated (410).

이때, 상기 전 과정(402 내지 410)은 도 2 에 도시된 모든 분산 검사부(200)에서 병렬적으로 실행될 수 있다.At this time, the entire process (402 to 410) may be executed in parallel in all the distributed inspection unit 200 shown in FIG.

즉, 상기 분산 검사부(200) 각각은 상기 중앙 제어부(100)와 상관없이 독립적으로 구동되어, 각각의 분산 검사부(200)의 블럭에 포함되어 있는 모든 채널들에 대하여 전류(전압)값을 측정한 후 디지털 값으로 상기 측정값을 저장하게 된다.That is, each of the distributed inspection units 200 is driven independently of the central control unit 100 to measure current (voltage) values for all channels included in the blocks of each distributed inspection unit 200. The measured value is then stored as a digital value.

한편, 상기 중앙 제어부(100)는 OLED 패널의 검사에 필요한 다른 일을 수행하다가 사용자의 분석 요청이 입력된 경우, 어느 하나의 상기 분산 검사부(200)로, 저장값 전송 요청 신호를 전송하게 되며, 이때, 상기 전송 요청 신호를 전송받은 분산 검사부(200)는 각 채널로부터의 전류값 취득 과정을 멈추고 상기 저장기(230)에 저장되어 있는 모든 채널에 대한 디지털 전압값을 상기 중앙 제어부(100)로 전송하게 된다(412). 이후, 상기 분산 검사부(200)는 다시 각 채널로부터의 전류값 취득 과정을 시행하게 된다.Meanwhile, when the user's analysis request is input while the central control unit 100 performs another task required for the OLED panel inspection, the central control unit 100 transmits a stored value transmission request signal to any one of the dispersion inspection units 200. At this time, the dispersion test unit 200 receiving the transmission request signal stops the process of acquiring the current value from each channel and sends the digital voltage values for all channels stored in the storage unit 230 to the central control unit 100. And transmit (412). Thereafter, the dispersion inspection unit 200 performs a current value acquisition process from each channel again.

한편, 상기 중앙 제어부(100)는 상기 분산 검사부(200)로부터 전송받은 디지털 전압값을 읽어서 전류값으로 환산한 후, 또 다른 분산 검사부(200)를 선택하여 상기 과정(412)을 반복하게 되며, 상기 과정들을 통해 전 채널(채널1 내지 채널192)에 대한 전류값이 취득되면, 상기 전류값을 이용하여 OLED 패널(또는 각 채널)의 이상유무를 판단하여 그 결과를 출력부(모니터, 프린터 등)를 통해 출력하게 된다(414). On the other hand, the central control unit 100 reads the digital voltage value received from the dispersion inspection unit 200 and converts it into a current value, and then selects another dispersion inspection unit 200 to repeat the process (412), When the current values for all the channels (channels 1 to 192) are obtained through the above processes, it is determined whether there is an abnormality of the OLED panel (or each channel) by using the current values and the result is outputted to the output unit (monitor, printer, etc.). Will be output via 414.

이때, 본 발명은 다수의 채널에 대한 전류값을 하나의 과정을 통해 전체적으로 수집하는 것이 아니라, 다수개의 채널을 블럭으로 분리한 후 각 블럭을 담당하는 하나의 분산 검사부(200)를 통해 상기 다수개의 채널에 대한 전류값들을 수집하는 것에 그 특징이 있는 것으로서, 수집된 상기 전류값들을 이용한 분석 방법은 다양하게 이루어질 수 있다.In this case, the present invention does not collect the current values for a plurality of channels as a whole, but separates the plurality of channels into blocks and then distributes the plurality of channels through one distributed inspection unit 200 for each block. As a characteristic of collecting current values for a channel, an analysis method using the collected current values may be variously performed.

한편, 상기 내용을 다시한번 요약하면 다음과 같다.On the other hand, the above contents are summarized as follows.

즉, OLED 패널의 검사에 필요한 전류값 취득은 일정한 시간이 필요하게 되는데 다중 채널로 구성된 검사 장치에서는 전류값 취득을 위한 시간이 채널 수에 비례하여 늘어나기 때문에 모든 채널의 전류값을 취득하는데 소요되는 시간이 길어지며, 이로인해 전체 검사 시간이 길어진다는 문제점이 발생된다. 따라서 본 발명에서는 이런 문제점을 보완하기 위하여 전체 시스템을 몇 개의 채널로 구성된 블록으로 나누고 각 블록별로 하나의 분산 검사부(200)를 통해 전류 취득을 독립적으로 수행하도록 한다는 특징이 있다.In other words, the acquisition of the current value required for the inspection of the OLED panel requires a certain time. In the inspection apparatus composed of multiple channels, the time for acquiring the current value increases in proportion to the number of channels. The longer the time, this causes the problem that the total inspection time is longer. Therefore, in the present invention, to solve this problem, the entire system is divided into blocks composed of several channels, and the current acquisition is independently performed through one distributed inspection unit 200 for each block.

이상의 본 발명은 상기에서 기술된 실시예들에 의해 한정되지 않고, 당업자들에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 청구항에서 정의되는 본 발명의 취지와 범위에 포함된다.The present invention is not limited to the embodiments described above, and various modifications and changes can be made by those skilled in the art, which are included in the spirit and scope of the present invention as defined in the appended claims.

상기와 같은 본 발명은 각 블록을 담당하는 분산 검사부가 자기의 블럭에 속해있는 채널의 전류값만 취득하여 저장하면 되기 때문에 전체 전류값 취득이 효과적으로 수행되며, 중앙 제어부가 각각의 분산 검사부가 저장한 전류값을 정해진 통신 방식에 의해 전송 받아 분석하는 발명을 이용하고 있음으로 그 검사속도가 향상될 수 있다는 우수한 효과가 있다. In the present invention as described above, since the distributed inspection unit in charge of each block only needs to acquire and store the current value of the channel belonging to its block, the entire current value acquisition is effectively performed, and the central control unit stores each distributed inspection unit. By using the invention of receiving and analyzing the current value by a predetermined communication method has an excellent effect that the inspection speed can be improved.

즉, 본 발명은 상기 분산 검사부가 평상시에는 할당된 채널의 전류값을 취득하고 저장하는 동작을 하다가, 상기 중앙 제어부의 통신 요청 시에만 저장된 전압값을 전송하는 방식이기 때문에 채널수가 많아져도 블록수를 늘림으로써 검사 시간을 단축할 수 있다는 우수한 효과가 있다. That is, in the present invention, the dispersion checker normally acquires and stores the current value of the allocated channel, and transmits the stored voltage value only at the communication request of the central controller. There is an excellent effect of shortening the inspection time by increasing.

또한, 본 발명은 상기 분산 검사부와의 통신을 통해 수집된 전압값을 상기 중앙 제어부가 전류값으로 환산하는데 소요되는 시간이 극히 짧기 때문에 실제로 전 채널의 전류값 취득에 걸리는 시간을 효과적으로 단축시킬 수 있다는 우수한 효과가 있다. In addition, since the time required for the central control unit to convert the voltage value collected through communication with the dispersion inspection unit into a current value is extremely short, it is possible to effectively shorten the time required to acquire current values of all channels. Excellent effect.

또한, 본 발명은 채널수를 더 늘려도 블록수를 늘림으로써 전체 검사에 소요되는 시간에 영향을 덜 주는 구성이기 때문에 확장에 용이하다는 우수한 효과가 있다. In addition, the present invention has an excellent effect that it is easy to expand because it increases the number of blocks even if the number of channels is further increased, thereby reducing the time required for the entire inspection.

즉, 본 발명은 여러개의 채널을 블록으로 묶고 각각의 블록에 분산 검사부를 사용하는 분산 제어 방식을 사용함으로써 다중 채널의 전류값 취득에 걸리는 시간을 획기적으로 단축시킬 수 있다는 우수한 효과가 있으며, 전류값 획득 시간의 단축은 전체 검사 시간을 단축시켜 OLED 패널의 양산 라인에서 양산성을 향상 시킬수 있다는 추가적인 효과가 발생하고, 블록의 가감으로 인하여 채널수를 임으로 조절하기가 용이하다는 장점이 있다.That is, the present invention has an excellent effect that can significantly shorten the time required to acquire the current value of the multi-channel by using a distributed control method that binds several channels into blocks and uses a distributed inspection unit in each block. The shortening of the acquisition time has the additional effect of shortening the overall inspection time and improving the mass productivity in the production line of the OLED panel, and it is easy to arbitrarily adjust the number of channels due to the addition or subtraction of blocks.

Claims (4)

OLED 패널 검사 장치에 있어서, In the OLED panel inspection device, 소정 갯수의 채널을 하나의 블럭으로 지정하여 각각의 채널을 검사하기 위한 다수개의 분산 검사부(200); 및A plurality of distributed inspection units 200 for inspecting each channel by designating a predetermined number of channels as one block; And 상기 다수개의 분산 검사부로부터 수집된 각 채널의 전류 측정값을 이용하여 OLED 패널의 이상 유무를 판단하기 위한 중앙 제어부(100)를 포함하되,Including a central control unit 100 for determining the abnormality of the OLED panel by using the current measurement value of each channel collected from the plurality of distributed inspection unit, 상기 각각의 분산 검사부(200)는,Each dispersion inspection unit 200, 소정 갯수의 채널을 하나의 블럭으로 지정한 후, 상기 블럭 내의 각 채널의 전류를 측정하여 저장하여 두었다가, 상기 중앙 제어부(100)로부터 상기 측정값들에 대한 전송 요청이 수신된 경우에 상기 중앙 제어부(100)로 상기 측정값들을 전송하는 기능을 수행하며,After a predetermined number of channels are designated as one block, the current of each channel in the block is measured and stored, and when the request for transmission of the measured values is received from the central controller 100, the central controller ( 100) to transmit the measured values, 상기 중앙 제어부(100)는,The central control unit 100, 상기 각각의 분산 검사부(200)로부터 수집된 모든 채널의 전류값을 이용하여 OLED 패널에 대한 이상 유무를 분석하고,Analyzing the presence or absence of abnormalities for the OLED panel using the current value of all channels collected from the respective dispersion inspection unit 200, 상기 분산 검사부(200)는,The dispersion inspection unit 200, 사용자에 의해 스위칭되어 다수의 채널 각각과 분산 검사부(200)를 연결시켜 주기 위한 스위칭기(240);A switch 240 that is switched by a user and connects each of the plurality of channels with the distributed inspection unit 200; 상기 스위칭기를 통해 연결된 채널에 흐르는 전류를 상기 스위칭기로부터 인가받아 저항을 통해 상기 전류를 분기시킨 후 증폭시켜 전압으로 변환시키기 위한 증폭기(210);An amplifier (210) for receiving a current flowing in the channel connected through the switch from the switch and branching the current through a resistor and then amplifying and converting the current into a voltage; 상기 증폭기에 의하여 변환된 아날로그 타입의 전압을 디지털 값으로 변환시키기 위한 AD컨버터(analog digital converter)(220); 및An analog converter (220) for converting an analog type voltage converted by the amplifier into a digital value; And 상기 AD컨버터를 통해 디지털 값으로 변환된 전압값을 저장하기 위한 저장기(230)를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 패널 검사 장치.And a storage unit (230) for storing the voltage value converted into the digital value through the AD converter. 삭제delete 다수의 분산 검사부(200) 및 중앙 제어부(100)로 구성된 OLED 패널 검사 장치에 적용되는 OLED 패널 검사 방법에 있어서,In the OLED panel inspection method applied to the OLED panel inspection device composed of a plurality of distributed inspection unit 200 and the central control unit 100, (a) 다수의 분산 검사부(200) 중 제1 분산 검사부(200)의 스위칭기(240)가 어느 하나의 채널을 선택하게 되면, 상기 제1 분산 검사부(200)가 상기 스위칭기(240)를 통해 상기 채널을 흐르는 전류값을 인가받는 단계;(a) When the switch 240 of the first distributed inspection unit 200 selects one channel among the plurality of distributed inspection units 200, the first distributed inspection unit 200 operates the switch 240. Receiving a current value flowing through the channel through the channel; (b) 상기 제1 분산 검사부(200)가 인가된 상기 전류값을 저항을 통해 분기시킨 후 증폭기(220)를 통해 상기 전류값에 해당하는 전압값으로 변환시켜 저장기(230)에 저장시키는 단계;(b) branching the current value applied by the first dispersion inspection unit 200 through a resistor and converting the current value to a voltage value corresponding to the current value through an amplifier 220 and storing the current value in the storage unit 230; ; (c) 상기 제1 분산 검사부(200)가 자신이 관리하는 블럭내의 모든 채널에 대하여 상기 (a) 단계 및 (b) 단계의 과정을 반복하는 단계;(c) repeating the steps (a) and (b) for all channels in the block managed by the first distributed inspection unit 200; (d) 상기 중앙 제어부(100)가 상기 제1 분산 검사부(200)로 상기 저장값 전송 요청 신호를 전송한 후 상기 제1 분산 검사부(200)로부터 상기 각 채널의 디지털 전압값을 전송받는 단계; (d) receiving, by the central controller 100, the digital voltage value of each channel from the first distributed inspection unit 200 after transmitting the stored value transmission request signal to the first distributed inspection unit 200; (e) 상기 중앙 제어부(100)가 상기 분산 검사부(200)로부터 전송받은 디지털 전압값을 읽어서 전류값으로 환산한 후, 또 다른 분산 검사부(200)를 선택하여 상기 (d) 단계를 반복하는 단계; 및(e) the central control unit 100 reading the digital voltage value received from the dispersion inspection unit 200 and converting it into a current value, and then selecting another dispersion inspection unit 200 and repeating step (d) ; And (f) 상기 중앙 제어부(100)가 상기 (e) 단계를 통해 모든 검사 대상 채널에 대한 전류값을 수집한 후 상기 전류값을 이용하여 OLED 패널의 이상유무를 판단하여 그 결과를 출력부를 통해 출력하는 단계(f) The central control unit 100 collects the current values for all the channels to be inspected through the step (e), determines whether there is an abnormality of the OLED panel using the current values, and outputs the result through the output unit. Steps to 를 포함하는 OLED 패널 검사 방법.OLED panel inspection method comprising a. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 (a) 단계 내지 (c) 단계의 과정은 상기 각각의 분산 검사부(200)에서 독립적으로 수행되는 것을 특징으로 하는 OLED 패널 검사 방법.OLED panel inspection method, characterized in that the steps of (a) to (c) is performed independently in each dispersion inspection unit (200).
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