KR100641999B1 - 발광 소자 결함 검출 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 발광 소자의 결함 검출 과정에서 외부 환경을 영향을 배제시킴으로서 정확한 검출 결과를 얻을 수 있는 구조를 갖는 발광 소자 결함 검출 장치를 개시한다. 본 발명에 따른 발광 소자 결함 검출 장치는 프레임, 프레임 상부 표면에 위치하는 검출 기판 및 검출 기판에 형성된 핀과 전기적으로 연결된 전압 인가부 및 전류 검출부로 이루어지며, 검출 기판의 표면에는 검출 대상물인 패널에 형성된 각 소자의 단자와 전기적으로 연결되는 다수의 핀이 형성되어 있다. 프레임의 상부에는 일정 깊이의 요부가 형성되어 있으며, 요부를 완전히 덮을 수 있는 커버가 요부 외측의 프레임 표면 상에 고정되어 요부 내에 수용된 검출 기판 및 패널을 외부와 완전히 차폐시킬 수 있다. 또한 본 발명에 따른 발광 소자 검출 장치는 프레임의 그 전체 외면에 차폐판이 장착되어 있으며, 따라서 외부 환경의 영향을 전혀 받지 않고 결함 검출 공정이 진행됨으로서 신뢰할 수 있는 검출 결과를 얻을 수 있다.
유기 전계 발광 소자, 전류 검출, 불량

Description

발광 소자 결함 검출 장치{Apparatus for detecting a defect in a luminescence device}
도 1은 일반적인 발광 소자 결함 검출 장치의 구성을 도시한 개략적인 단면도.
도 2는 본 발명에 따른 발광 소자 결함 검출 장치의 구성을 도시한 개략적인 단면도.
본 발명은 발광 소자의 결함 검출 장치에 관한 것으로, 특히 외부 환경과 차단된 상태에서 소자에 대한 결함 검출 공정을 실시할 수 있도록 구성하여 소자의 측정 결과에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 발광 소자 결함 검출 장치에 관한 것이다.
패널 상에 다수의 발광 소자들을 형성한 후, 각 소자의 상태, 즉 결함 존재 여부를 판단하기 위하여 발광 소자 결함 검출 장치를 사용한다. 예를 들어, 발광 소자 내, 특히 ITO 전극과 금속 전극 사이에 파티클(particles)이 존재하는 경우, 발광 소자는 단락(short)될 수 있으며, 따라서 소자들을 조립하여 최종 제품으로 완성하기 전에 각 소자에 대한 결함 존재 여부에 대한 측정을 실시하게 된다.
도 1은 일반적인 발광 소자 결함 검출 장치의 구성을 도시한 개략적인 단면도로서, 발광 소자 결함 검출 장치의 구성 및 결함 검출 과정을 간단하게 설명한다.
발광 소자 결함 검출 장치(10)는 크게 프레임(11), 프레임(11) 내에 설비된 전압 인가부(12) 및 전류 검출부(13), 그리고 프레임(11) 상부 표면에 위치하는 검출 기판(14)으로 구성된다. 검출 기판(14)의 표면에는 검출 대상물인 패널에 형성된 각 소자의 단자, 즉 ITO 전극과 연결된 데이터 라인(data line) 및 금속 전극과 연결된 스캔 라인(scan line)과 대응하는 다수의 핀들(도시되지 않음)이 구성되어 있으며, 각 핀들은 전압 인가부(12)와 전류 검출부(13)와 전기적으로 연결된 상태이다. 또한, 전압 인가부(12)와 전류 검출부(13)는 스위칭 장치와 같은 외부의 제어 장치(도시되지 않음)와 케이블로 연결되어 있다.
검출 기판(14) 상에 패널(P)이 위치하면, 패널(P) 상에 형성된 각 소자의 각 단자가 검출 기판(14)에 구성된 대응하는 핀과 접촉하며, 이후 전압 인가부(12)를 통하여 소자의 각 단자에 전압이 인가된다. 이 때, 각 발광 소자들에는 역전압, 예를 들어 애노드 전극(ITO 전극)에는 음의 전압이 인가되고 캐소드 전극(금속 전극)에는 양의 전압이 인가된다.
이 결과, 각 소자에서는 소정의 전류가 발생되며, 발생된 전류는 전류 검출부(13)를 통하여 검출된다. 위에서 설명된 이유로 인하여 소자에 결함이 발생될 경우에는 그 발생된 전류 값이 커지게 되며, 따라서 설정된 값보다 큰 전류 값이 측 정되면 그 소자는 결함을 갖고 있는 것으로 판단할 수 있다.
이와 같은 기능을 수행하는 발광 소자 결함 검출 장치(10)는 검출 대상물인 소자가 형성되어 있는 패널(P) 및 검출 기판(14) 모두 외부로 노출되어 있으며, 따라서 외부의 환경 조건이 검출 결과에 큰 영향을 미칠 수 있다. 즉, 대기 중에 존재하는 전자파 및 광선은 각 소자와 검출 기판(14)에 직접적으로 도달하게 되며, 따라서 검출 작용에 영향을 미쳐 정확한 결함 검출 결과를 왜곡하는 문제점을 갖고 있다.
본 발명의 목적은 발광 소자의 결함을 검출하는 장치에 발생되는 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 결함 검출 과정에서 외부 환경의 영향을 배제시킴으로서 정확한 결함 검출 결과를 얻을 수 있는 발광 소자 결함 검출 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상술한 목적을 실현하기 위한 본 발명에 따른 발광 소자 결함 검출 장치는 프레임, 전압 인가부 및 전류 검출부, 프레임 상부 표면에 위치하고 전압 인가부 및 전압 검출부에 연결된 검출 기판을 포함하며, 검출 기판 및 검출 기판 상에 놓여진 패널을 외부로부터 완전히 차폐시킬 수 있는 구조로 이루어진다.
본 발명에 따른 발광 소자 결함 검출 장치에 이용된 프레임은 그 상부에 소정 깊이의 요부가 형성되어 있으며, 요부를 완전히 덮을 수 있는 커버가 요부 외측의 프레임 표면 상에 고정되어 요부 내에 수용된 검출 기판 및 패널을 외부와 완전히 차폐시킬 수 있다. 프레임의 그 전체 외면에 차폐판이 장착되어 있으며, 따라서 외부 환경의 영향을 전혀 받지 않고 결함 검출 공정이 진행됨으로서 신뢰할 수 있는 검출 결과를 얻을 수 있다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 발광 소자 불량 검출 장치의 구성 및 기능을 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 발광 소자 결함 검출 장치의 구성을 도시한 개략적인 단면도로서, 도면의 이해를 위하여 검출 기판(24)과 패널(P)은 단면 처리를 하지 않은 상태로 나타내었다.
본 발명에 따른 발광 소자 결함 검출 장치(20)는 프레임(21), 프레임(21) 외부에 설치된 전압 인가부(22) 및 전류 검출부(23), 그리고 프레임(21) 상부에 위치하는 검출 기판(24)으로 구성된다.
본 발명에 따른 발광 소자 결함 검출 장치(20)의 가장 큰 구성적 특징은 검출 기판(24) 및 패널(P; 다수의 발광 소자들이 형성됨)이 위치하는 프레임(21)의 상부에 커버(25)를 장착시킨 것이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 프레임(21)의 상부에는 소정 깊이의 요부(21A)가 형성되어 있으며, 이 요부(21A) 바닥면에 검출 기판(24)이 안착된다. 위에서 설명한 바와 같이, 검출 기판(24)의 표면에는 검출 대상물인 패널(P)에 형성된 각 소자의 ITO 전극과 연결된 데이터 라인 및 금속 전극과 연결된 스캔 라인과 대응하는 다수의 핀들이 구성되어 있으며, 각 핀들은 프레임(21) 내에 장착된 전압 인가부(22) 및 전류 검출부(23)와 전기적으로 연결된 상태이다.
발광 소자의 결함을 검출하기 위하여, 프레임(21)의 요부(21A) 내에 안착된 검출 기판(24) 상에 패널(P)을 위치시킨 후, 커버(25)를 이용하여 패널(P)과 검출 기판(24)을 외부와 차폐시킨다. 커버(25)는 요부(21A)의 규격보다 크게 이루어지며, 따라서 커버(25)의 외곽부는 요부(21A) 외측의 프레임(21) 표면에 대응한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 요부(21A) 내에 장착된 검출 기판(24) 상에 패널(P)을 위치시킨 후, 체결 수단(B)을 이용하여 커버(25)를 프레임(21) 상에 고정시킴으로서 요부(21A) 내에 위치한 검출 기판(24)과 패널(P)은 외부와 완전히 차단되며, 따라서, 소자에 전압을 인가하고 그리고 그 소자로부터의 전류를 측정하는 등의 일련의 결함 검출 과정이 외부와 완전히 격리된 공간에서 진행된다. 결과적으로, 광선이나 전자파 등과 같은 외부의 환경 요인들이 검출 과정에 어떠한 영향도 미치지 않게 되어 신뢰할 수 있는 소자 결함 검출 결과를 얻을 수 있다.
본 발명의 다른 구성적 특징으로서는, 전압 인가부(22)와 전류 검출부(23)를 프레임(21)의 외부에 설치한 것과 프레임(21)의 외면에 차폐판(26)을 장착한 것이다. 따라서, 프레임(21) 상에 놓여지는 검출 기판(24)과 패널(P)은 프레임(21) 외부에 설치된 전압 인가부(22)와 전류 검출부(23)에서 발생된 전자파의 영향의 받지 않게 된다.
특히, 프레임(21) 외면에 장착된 차폐판(26)에 의하여 본 발명에 따른 소자 결함 검출 장치(20)는 외부의 전자파의 영향을 받지 않고 노이즈(noise) 발생 없이 각각의 고유의 기능을 수행할 수 있다. 한편, 프레임(21)에 설치된 전압 인가부(22)와 전류 검출부(23)에서 연장된 케이블은 차폐판(26)에 고정된 BNC 터미널 (22A, 23A)을 통하여 검출 기판(24)의 핀들에 전기적으로 연결된다.
본 발명의 또다른 특징은 검출 기판(24)을 저항성이 높은 재료로 제조한 것이다. 소자의 결함 검출 과정은 소자로의 전압 인가 및 소자로부터 발생된 전류 측정 등으로 진행되며, 따라서 소자의 각 단자와 접촉하는 검출 기판(24)에도 전압과 전류가 인가될 수 밖에 없다. 소자로 인가되어야할 전압 및 전류 검출부로 전달되어야할 전류가 검출 기판(24)을 통하여 흐를 경우, 정확한 검출 결과를 얻기 어렵게 되며, 따라서 본 발명에서는 검출 기판(24)을 저항성이 큰 재료로 제조함으로서 검출 기판으로 전압 및 전류를 최소화할 수 있으며, 그 결과 신뢰할 수 있을 검출 결과를 얻을 수 있다.
위에서 설명한 본 발명은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이다. 따라서, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명에 따른 발광 소자 결함 검출 장치는 전자파나 광선과 같은 외부의 환경을 완전히 차단한 상태에서 소자에 대한 결함 검출 공정을 진행함으로서 신뢰할 수 있는 검출 결과를 얻을 수 있으며, 또한 소자가 장착된 완제품의 불량률을 크게 감소시킬 수 있다.

Claims (4)

  1. 전압 인가부 및 전류 검출부와 연결되어, 패널의 결함을 검출하는 발광 소자 검출 장치에 있어서,
    상부에 소정 깊이의 요부가 형성된 프레임;
    상기 프레임의 전체 외면에 장착된 차폐판;
    상기 차폐판의 외부에 형성되고, 상기 전압 인가부 및 상기 전류 검출부가 전기적으로 연결되는 BNC 터미널;
    상기 BNC 터미널과 전기적으로 연결되며, 상기 프레임의 요부 내에 수용되어 패널과 전기적인 연결이 이루어지는, 저항성이 높은 재료로 제조된 검출 기판; 및
    상기 요부를 완전히 덮도록 상기 프레임에 고정되는 커버를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자 결함 검출 장치.
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