KR100625581B1

KR100625581B1 - 엘씨디 중력불량 자동 검사장치 및 방법

Info

Publication number: KR100625581B1
Application number: KR1020050039757A
Authority: KR
Inventors: 박인기
Original assignee: 주식회사 인터크리에이티브
Priority date: 2005-05-12
Filing date: 2005-05-12
Publication date: 2006-09-20

Abstract

본 발명은 LCD 중력불량 자동 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세히는 백라이트(28)와, 상기 백라이트(28)의 전방에 설치된 확산판(29)과, 상기 확산판(29)의 전방에 설치된 편광판(30)과, 상기 편광판의 전방에서 일정한 거리를 두고 상기 편광판(30)방향을 촬영하도록 설치되어 있는 카메라(33)와, 상기 카메라(33)의 렌즈 전방에 상기 백라이트(28)방향을 향하여 설치된 회전 가능한 편광판(32)과, 상기 카메라(33)에서 촬영된 영상을 처리하여 불량부위를 판별하는 검사컴퓨터(34)와 검사할 LCD 패널(31)을 에이징 시키는 오븐(22)을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 LCD 중력불량 자동 검사장치에 관한 것이다.

본 발명에 의하는 경우, 종래 기술에 의할 경우 열악한 환경에서 근무하는 작업자들에게 보다 쾌적한 근무 조건을 제공할 수 있고, 자동으로 LCD의 불량을 검사함으로써 검사 속도 증가와 정확한 불량 검출 및 신뢰성 있는 데이터 관리 효과를 거둘 수 있으며, 검사기 당 근무자 수를 절감함 으로써 비용절감 효과를 가져 올 수 있다.

LCD, 중력 불량, 에이징, 영상처리, 카메라

Description

엘씨디 중력불량 자동 검사장치 및 방법 {LCD Gravitational Defect Automatic Inspection System ＆ Methode}

도 1: LCD 패널 제조공정 흐름도

도 2: LCD 패널 중력 불량 검사 흐름도

도 3: 기존의 LCD 패널 중력불량 검사 개념도

도 4: 본 발명의 일 실시예에 의한 LCD 중력불량 검사장치 개념도

도 5: 본 발명의 일 실시예에 의한 LCD 중력불량 검사장치 구성도

도 6: 본 발명의 일 실시예에 의한 LCD 중력불량 검사장치 시스템 구성도

도 7: 본 발명의 일 실시예에 의한 LCD 중력불량 유형별 이미지

도 8: 본 발명의 일 실시예에 의한 LCD 중력불량 촬영 이미지

도 9: 본 발명의 일 실시예에 의한 LCD 중력불량의 영상처리 후 이미지

<도면의 주요부에 사용된 기호의 설명>

22: 오븐 23: LCD 중력불량 검사장치

28: 백라이트 29: 확산판

30: 편광판 31: LCD 패널

32: 회전 편광판 33: 카메라

34: 검사컴퓨터 40: 제어 컴퓨터

50: 이송기 60: 분류이송기

본 발명은 LCD 중력불량 자동 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세히는 백라이트(28)와, 상기 백라이트(28)의 전방에 설치된 확산판(29)과, 상기 확산판(29)의 전방에 설치된 편광판(30)과, 상기 편광판의 전방에서 일정한 거리를 두고 상기 편광판(30)방향을 촬영하도록 설치되어 있는 카메라(33)와, 상기 카메라(33)의 렌즈 전방에 상기 백라이트(28)방향을 향하여 설치된 회전 가능한 편광판(32)과, 상기 카메라(33)에서 촬영된 영상을 처리하여 불량부위를 판별하는 검사컴퓨터(34)와, 검사할 LCD 패널(31)을 에지 시키는 오븐(22)을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 LCD 중력불량 자동 검사장치에 관한 것이다.

먼저, LCD는 크게 어레이(Array)공정, 컬러 필터(Color Filter)공정, 액정 셀(Cell)공정 및 모듈(Moudle)공정을 거쳐 제조된다.

상기 어레이 공정은 증착(Deposition) 및 사진 석판인쇄술(Photolithography), 식각(Etching)공정을 반복하여 제 1기판(TFT기판)상에 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor :TFT의 약자) 배열을 제작하는 공정이고, 컬러필 터 공정은 블랙 매트릭스(Black Matrix)가 형성된 제 2기판(컬러필터 기판)상에 염료나 안료를 사용하여 적(Red), 녹(Green), 청(Blue)의 컬러 필터를 제작한 후, 공통전극용 ITO(Indium Tin Oxide)막을 형성하는 공정이다.

또한, 액정 셀 공정은 박막 트랜지스터 형성 공정이 완료된 제 1기판과 컬러 필터 공정이 완료된 제 2 기판 사이의 일정한 틈이 유지되도록 합착하여 빈 액정 셀을 만든 다음 그 틈 사이로 액정을 주입하여 LCD 셀을 형성하는 공정이고, 상기 모듈 공정은 신호 처리를 위한 회로부를 제작하고, 박막 트랜지스터 액정표시장치의 패널과 신호처리 회로부를 실장 기술을 통해 서로 연결한 후 기구물을 부착하여 모듈을 제작하는 공정이다.

여기서, 종래의 액정 셀 공정을 좀 더 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저, 복수 개의 TFT기판이 적재된 카세트(Cassette)와 복수 개의 컬러 필터 기판이 적재된 카세트가 각각 로더(Loader:적재기)에 의해 각각 포트(Port)에 안착된다.

여기서, 상기 TFT 기판에는 일정 간격을 갖고 일 방향으로 배열된 복수개의 게이트 라인(Gate Line)과 상기 각 게이트 라인에서 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 배열되는 복수개의 데이터 라인(Data Line)과 상기 게이트라인 및 데이터 라인에 의해 정의된 매트릭스(Matrix)화소 영역에 각각 형성되는 복수개의 박막 트랜지스터 및 화소 전극들이 형성되어 있고, 상기 컬러 필터 기판에는 상기 화소 영역을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위한 블랙 매트릭스(Black Matrix)층과 컬러 필터층 및 공통전극 등이 형성되어 있다.

다음, 상기 복수 개의 TFT 기판 및 복수 개의 컬러필터 기판을 각각 하나씩 선택하도록 프로그램(Program)된 로봇암(Robot Arm)을 이용하여 TFT 기판 및 컬러 필터 기판을 선택한다.

이어, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 선택된 TFT 기판과 컬러 필터 기판 상에 배향물질을 도포한 후 액정 분자가 균일 한 방향성을 갖도록 하는 배향공정(1S)을 각각 진행한다. 상기 배향 공정(1S)은 배향막 도포 전 세정, 배향막 인쇄, 배향막 소성, 배향막 검사, 러빙 공정 순으로 이루어진다.

배향공정(1S) 후 갭(Gap) 공정이 진행된다. 상기 갭 공정은 TFT 기판 및 컬러 필터 기판을 각각 세정(2S)한 다음, TFT 기판에 셀 갭(Cell Gap)을 일정하게 유지하기 위한 스페이서(Spacer)를 산포(3S)하고, 컬러 필터 기판의 외각부에 씨일(Seal)재를 도포(4S)한 후 상기 TFT 기판과 컬러 필터 기판에 압력을 가하여 합착한다(5S).

한편, 상기 TFT 기판과 컬러 필터 기판은 대면적의 유리기판 상에 형성되어 있다. 다시 말해서 대면적의 유리기판에 복수의 단위기판 영역이 형성되고, 상기 단위 기판 영역 중 하부의 단위 기판(TFT 측)영역 내에는 별도의 화소전극이 형성되어 있으며, 상기 화소전극과 더불어 액정을 구동시키는 컬러필터 기판 측의 공통전극은 대면적의 유리기판에 전면적으로 형성되어 있다.

따라서, 각 단위 패널의 화소전극에 해당하는 전압을 인가하여 각 단위 패널별로 그에 해당하는 투과율에 따른 각각의 단위패널을 제작하기 위해서는 상기 유리기판을 절단, 가공해야만 한다(6S).

이후, 상기와 같이 가공된 각각의 단위패널에 액정주입구를 통해 액정을 주입하고, 상기 액정주입구를 봉지(7S)하여 액정층을 형성한 후 액정패널의 절단된 면을 연마하고, 외관 및 전기적 불량을 검사하여 액정 셀 공정을 마무리하고, 열적 안정도를 측정하는 중력 불량 검사(8S)를 마침으로써 액정 표시 공정을 완료하게 된다.

여기서, 상기 전기적 불량 및 중력 불량 검사는 액정표시소자의 제조 공정 상 액정표시소자의 화소 불량 및 액정의 열적 안정도를 검사하는 단계로서 반드시 필요한 제조공정 중 하나이다.

종래 중력 불량 검사과정은 도 2 에 도시된 바와 같이, LCD기판이 중력불량측정용 카세트에 담겨 오븐으로 이동하고 중력 불량(9S)이 나타나는 상온 이상의 온도로 일정 시간동안 에이징(10S)후 로봇을 이용하여 LCD기판을 하나씩 검사대로 이동하여 검사하게 된다.

종래에는 LCD 패널의 불량을 검사하기 위하여 도 3에 도시된 바와 같은 과정을 이용하였다. 불량을 검출하기 위하여 균질한 밝기를 가지는 백라이트(Back Light)(11)를 사용하여 편광되지 않은 일반적인 자연광(12)을 투사하고, 자연광이 편광필터(13)를 통과하게 되면 한쪽 방향으로 직진하는 성분(14)만 남아있는 편광이 글라스(15)와 액정(16)으로 이루어진 LCD기판에 투사된다. 이때, 불량인 부분(17)을 통과한 광선은, 그렇지 않은 부분과 편광 방향이 달라져 편광필터(19)를 통과하게 된다(20). 종래의 기술에서는 불량인 부분만을 걸러내는 방법으로 다른 부분과 편광 방향이 달라진 빛을 편광 필터(19)로 검출하고 사람이 육안으로 인식하 는 방법을 택하였다.

그러나 이러한 종래의 기술은, 사람의 육안으로 판별하기 때문에 사람에 따라 검사의 기준이 달라질 수 있어 정확도가 결여되며, 불량부분의 판별을 위하여 높은 조도의 광선을 장시간 사용하므로 작업환경이 열악하고, 육안으로 검사하기 때문에 작업자의 피로도가 크다는 단점이 있었다. 또한, 육안으로 검사하기 때문에 중력 불량의 크기나, 불량 위치 등 불량에 대한 정확한 데이터를 획득하기 어려워 검사 신뢰도가 떨어지고, 작업속도가 느려서 생산성이 떨어짐과 동시에 많은 작업 인원이 투입되어야 한다는 중대한 문제점이 있었다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로 백라이트(28)와, 상기 백라이트(28)의 전방에 설치된 확산판(29)과, 상기 확산판(29)의 전방에 설치된 편광판(30)과, 상기 편광판의 전방에서 일정한 거리를 두고 상기 편광판(30)방향을 촬영하도록 설치되어 있는 카메라(33)와, 상기 카메라(33)의 렌즈 전방에 설치된 회전 가능한 편광판(32)과, 상기 카메라(33)에서 촬영된 영상을 처리하여 불량부위를 자동으로 판별하는 검사컴퓨터(34)를 포함하여 구성되는 LCD 중력불량 자동 검사장치를 제공하는 것을 주목적으로 한다.

상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 에이징된 LCD 패널에 투사될 광선을 제공하는 백라이트; 상기 백라이트의 전방에 설치된 편광판; 상기 편광판의 전방에서 일정한 거리를 두고 상기 편광판을 향하여 설치되어 있는 카메라; 상기 카메라에서 촬영된 영상을 기저장된 기준영상과 비교하여 불량부위를 판별하는 검사용 검사컴퓨터;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 백라이트의 전방에는 상기 백라이트에서 투사된 광선을 상기 LCD 패널의 각 부분에 최대한 균일하게 확산시키는 확산판;을 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 하나 이상의 상기 검사용 검사컴퓨터와 연결된 제어 컴퓨터를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 오븐에서 에이징된 LCD 패널을 상기 편광판 전방의 측정위치로 자동으로 이송시키는 이송기를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 검사장치에서 검사된 불량유무에 따라 양품과 불량품을 자동으로 구분하여 이송하는 분류이송기를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 따른 LCD 중력불량 자동 검사 방법은 LCD 중력불량을 검사하는 방법에 있어서, a) 에이징된 LCD 패널을 편광된 광선으로 투과시키는 단계; b) 상기 a) 단계에서 투과된 광선을 카메라로 영상촬영하는 단계; c) 상기 b)단계에서 촬영한 영상을 기저장된 기준영상과 비교하여 불량부위를 판별하는 단계; 로 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 a)단계 이전에는 오븐(22)에서 LCD 패널(31)을 에이징하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 b) 단계 이전에는 투과된 광선을 회전 편광판(32)에 투과시키는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 일실시예에 따른 LCD 중력불량 자동 검사장치를 상세히 설명하기로 한다.

본 발명은 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이 오븐(22), 백라이트(28), 확산판(29), 편광판(30), 카메라(33), 회전 가능한 편광판(32), 검사컴퓨터(34)로 구성된다.

먼저 백라이트(28)에 관하여 설명하고자 한다. 상기 백라이트(28)는 편광되지 않은 일반적인 자연광(12)을 투사하여 LCD 패널(31)을 검사하는데 필요한 광원을 제공하는 기능을 한다. 상기 백라이트(Back Light)는 삼파장 자연광 램프 등을 사용하여 전류의 소모를 줄이는 것이 바람직하다. 또한 상기 백라이트(28)는 가능한 점광원이 아닌 평면광원의 성질을 갖도록 하여, 검사하고자 하는 상기 LCD 패널(31)의 전 표면에 고른 조도의 광선이 투사될 수 있도록 하는 것이 바람직하다. 그렇지 않은 경우 상기 LCD 패널(31)의 위치별로 불균일한 조도의 광선이 투사되면, 이러한 투사광선의 조도차이는 후술할 카메라(33)에서 촬영되는 화면에 불균일한 영상의 발생을 초래하게 된다.

다음으로 확산판(29)에 관하여 설명한다. 상기 확산판(29)은 도 5에 도시된 바와 같이 상기 백라이트(28)의 전방에 평행으로 설치되며, 상기 백라이트(28)에서 투사된 광선을 부드럽게 변화시켜 강렬한 빛으로 인한 반사를 최소화시키는 기능과 동시에 상기 백라이트(28)에서 투사된 광선을 상기 LCD 패널(31)의 각 부분에 최대한 균일하게 확산시키는 기능을 가진다.

다음으로 편광판(30)에 관하여 설명한다. 상기 편광판(30)은 도5에 도시된 바와 같이 상기 확산판(29)과 불량을 검사할 LCD 패널(31)사이에 위치하게 되며, 상기 확산판(29)을 투과한 광선이 일정한 방향의 파동성분만을 가지도록 편광시키는 기능을 한다.

다음으로 회전편광판(32)에 관하여 설명한다. 상기 회전편광판(32)은 후술할 카메라(33)의 렌즈 전방에 상기 백라이트(28) 방향으로 설치되며, 카메라(33)의 렌즈축을 회전축으로 회전할 수 있도록 설치되어 있다. 만약, 도3 에 도시된 바와 같이 상기 LCD 패널(31)에 불량부분(17)이 있으면 불량인 부분에서의 빛의 방향이 불량이 아닌 부분의 빛의 방향과 다르게 편광 되므로 상기 카메라(33)의 앞쪽에 상기 편광판(32)을 부착하면, 도 3에 도시된 바와 같이 편광된 부분의 빛만 투과 되도록 하는 결과를 얻을 수 있다(20). 한편, 상기 불량부분(17)에서 편광된 광선의 편광 각도는 검사하고자 하는 상기 LCD 패널(31)의 불량 부분이나 불량유형에 따라 일정하지 않고 변화 할 수 있으나, 이러한 경우 상기 회전 편광판(32)의 회전 각도를 변화시켜 불량부분에 의해 편광된 광선의 영상이 가장 선명하게 나타나도록 할 수 있다.

다음으로 카메라(33)에 관하여 설명한다. 상기 카메라(33)는 검사할 상기 LCD 패널의 전방에 설치되며, 상기 회전 편광판(32)을 통과한 상기 LCD 패널(31)의 불량부분의 영상을 CCD를 이용하여 촬영하여, 이 영상정보를 검사컴퓨터(34)에 전송하는 기능을 가진다. 한편, 본 발명에 의해 검사하게 되는 상기 LCD 패널(31)의 크기와 상기 카메라(33)의 시간당 데이터 처리능력에 따라, 상기 카메라(33)는 하나 이상이 설치되도록 하는 것이 바람직하다.

다음으로 검사컴퓨터(34)에 관하여 설명하고자 한다. 상기 검사컴퓨터(34)는 도 8에 도시된 것과 같은 상기 카메라(33)에서 전송된 영상신호 입력받아, 잡음제거, 조명보상 스레쉬 홀딩 등의 영상처리 과정을 거쳐 도 9에 도시된 것과 같은 이미지로 변환된 후, 이 이미지를 기존에 촬영된 정상적인 LCD 패널의 이미지와 비교하여 자동으로 상기 LCD 패널(31)의 불량부분을 검사하는 기능을 가진다. 이 경우 상기 카메라(33)에서 획득된 아날로그 비디오 신호를, 컴퓨터에서 재생 및 획득, 처리하기 위한 디지털 신호로 바꾸어주는 장치인 프레임 그래버(Frame Grabber)를 통하여 상기 검사컴퓨터(34)로 전송하는 것이 바람직하다. 이러한 불량부분의 검사기능을 통해, 중력에 의한 상기 LCD 패널(31)의 결함 여부는 물론, 불량부분의 위치, 불량부분의 크기까지도 자동으로 판단할 수 있게 된다. 또한, 각 LCD 패널(31)의 중력불량 유무여부와, 불량유형, 불량부분의 위치 및 크기 등의 정보를 데이터베이스화 하여 LCD 패널(31)의 불량사항 관리에 사용하는 것은 물론, 이러한 데이터를 LCD 패널 제조 공정에 피이드백하여 불량발생 감소를 위한 제조공정의 개선에 사용하도록 할 수 있다. 이러한 기능을 구현하는데 필요한 이미지 처리기술과 이미지 비교판단방법 및 데이터베이스 구축방법은 본 발명이 속하는 기술분야에 있어 공지의 기술이므로 상세한 설명은 생략한다.

다음으로 제어 컴퓨터(40)에 관하여 설명한다. 상기 제어컴퓨터(40)는 도 6에 도시된 바와 같이 하나 이상의 상기 검사컴퓨터(34)와 연결되어, 상기 검사컴퓨터(34)에서 검사된 결과를 일괄적으로 표시하는 기능을 가진다. 또한 상기 제어 컴퓨터는 후술할 이송기(50)의 작동을 제어하고, 상기 검사컴퓨터(34)에서 검사된 결과에 의해 후술할 분류 이송기(60)의 작동을 제어하는 기능을 갖는 것이 바람직하다.

다음으로 오븐(22)에 관하여 설명한다. 상기 오븐(22)은 도 2의 불량 검사 흐름도에 도시된 에이징 과정을 수행하기 위한 것으로, 중력 불량(9S)이 나타나는 상온 이상의 온도로 일정 시간동안 에이징(10S)하는 기능을 수행한다. 이러한 에이징 과정은 상온 이상의 온도로, 바람직하게는 60~100 ℃의 온도로, 일정한 시간, 바람직 하게는 2시간 가량 진행되게 된다. 이렇게 에이징된 상기 LCD 패널은 상기 제어 컴퓨터(40)의 제어에 의해 후술할 이송기(50)에 의하여 하나씩 상기 편광판(30)전방의 검사 위치로 이송된다.

다음으로 이송기(50)에 관하여 설명한다. 상기 이송기(50)는 상기 제어 컴퓨터(40)의 제어에 의해 상기 LCD 패널을 상기 편광판(30)전방의 검사 위치로 이송하는 기능을 수행한다.

다음으로 분류 이송기(60)에 관하여 설명한다. 상기 분류 이송기(60)는 도4에 도시된 바와 같이 상기 검사컴퓨터(34)의 검사결과에 의한 불량유무에 따라 상기 제어 컴퓨터(40)의 제어에 의해 양품(24)과 불량품(25)을 자동으로 구분하여 이 송하는 기능을 수행한다. 이러한 상기 이송기(50)와 분류 이송기(60)의 구성과 제어에 관한 기술은 본 발명이 속하는 기술분야에 있어 공지의 기술이므로 상세한 설명은 생략한다.

이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 LCD 중력불량 자동 검사장치의 작동에 관하여 설명하고자 한다.

먼저 도4에 도시된 바와 같이 LCD 패널은 오븐(22)에 투입되어, 중력불량이 나타나는 상온 이상의 온도로 에이징 된다. 상기 에이징된 LCD 패널은 이송기를 이용하여 차례로 LCD 불량 검사장치로 이송이 되며, 확산판 앞에 위치하게 된다. 그 후, 도 5에 도시된 바와 같이 백라이트의 광선이 확산판을 투과하여 부드럽게 변화되면서 균일한 광선으로 변화하며, 이 광선이 편광판을 투과하며 일정한 방향의 파동성분만을 가지는 편광이 되어 검사할 LCD 패널을 투과한다.

만약, 검사할 LCD 패널에 불량이 있으면 도3에 도시된 바와 같이 불량인 부분에서의 빛의 방향이 불량이 아닌 부분의 빛의 방향과 다르게 바뀌게 되므로 카메라 앞쪽에 설치된 회전편광판의 회전각도를 조정해 가며 바뀐 부분의 빛만 투과 되도록 한다. 이렇게 투과된 광선은 렌즈를 통해 카메라에 맺히게 되고, 프레임 그래버를 통해 도 8에 도시된 것과 같은 촬영 영상이 검사 컴퓨터로 전해지게 된다. 검사 컴퓨터에서는 획득된 영상에 영상처리기술을 적용하여 도 9에 도시된 것과 같이 각각의 특유한 불량원인에 의한 이미지를 얻게 되며, 이 이미지를 정상적인 LCD 패널의 이미지와 비교분석하여 자동으로 불량의 크기나 위치 등 불량에 대한 정보를 획득할 수 있게 된다.

이상에서는 도면과 명세서에서 최적 실시 예들이 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

상술한 바와 같이 본 발명에 의하는 경우, 자동으로 LCD의 불량을 검사함으로써 검사 속도 증가와 정확한 불량 검출 및 신뢰성 있는 데이터 관리 효과를 거둘 수 있으며, 검사기 당 근무자 수를 절감함으로써 비용절감 효과를 가져 올 수 있다. 또한 각 LCD 패널의 불량 유무여부와, 불량유형, 불량부분의 위치 및 크기 등의 정보를 데이터베이스화 하여 LCD 패널의 불량사항 관리에 사용하는 것은 물론, 이러한 데이터를 LCD 패널 제조 공정에 피이드백하여 불량발생 감소를 위한 제조공정의 개선에 사용하도록 할 수 있다.

Claims

LCD 패널을 60~100℃의 온도로 110분 내지 130분동안 에이징하는 오븐;

검사할 상기 LCD 패널에 투사될 자연광선을 제공하는 백라이트;

상기 백라이트의 전방에 평행으로 설치되고, 상기 백라이트에서 투사된 광선을 부드럽게 변화시켜 강렬한 빛으로 인한 반사를 최소화시키며, 상기 LCD 패널의 각 부분에 최대한 균일하게 확산시키는 확산판;

상기 백라이트의 전방에 설치되되, 상기 확산판과 상기 LCD패널의 사이에 위치하여 상기 확산판을 투과한 광선이 일정한 방향의 파동성분만을 가지도록 편광시키는 편광판;

상기 편광판의 전방에서 일정한 거리를 두고 상기 편광판을 향하여 설치되며, 상기 LCD 패널의 불량부분의 영상을 촬영하는 카메라;

상기 카메라의 렌즈 전방에서 상기 백라이트 방향으로 설치되며, 상기 카메라의 렌즈축을 회전축으로 회전되도록 설치되는 회전편광판;

상기 카메라에서 촬영되어 전송된 영상신호를 입력받아 잡음제거, 조명보상 스레쉬 홀딩의 영상처리과정을 통해 기저장된 기준영상과 비교하여 중력 불량부위를 판별하는 검사용 검사컴퓨터;

하나 이상의 상기 검사용 검사컴퓨터와 연결되어 상기 검사컴퓨터에서 검사된 결과를 일괄적으로 표시하는 제어 컴퓨터;

상기 오븐에서 에이징된 LCD 패널을 상기 편광판 전방의 측정위치로 자동으로 이송시키는 이송기; 및

상기 검사용 검사컴퓨터에서 검사된 LCD 패널을 중력 불량유무에 따라 양품과 불량품을 자동으로 구분하여 이송하는 분류이송기;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 LCD 중력불량 자동 검사장치.
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LCD 중력불량을 검사하는 방법에 있어서,

a) 오븐에서 LCD 패널을 60~100℃의 온도로 110분 내지 130분동안 에이징하는 단계;

b) 상기 a)단계에서 에이징된 LCD 패널에, LCD 패널 백라이트로부터 발산되는 자연광선을 일정한 방향의 파동성분만을 가지도록 편광시키는 편광판을 통하여 투과시키는 단계;

c) 상기 b)단계에서 상기 편광판을 통하여 투과된 광선을 상기 LCD 패널의 불량유무에 따라 상기 투과된 광선의 방향이 다르게 편광되도록 회전 편광판에 투과시키는 단계;

d) 상기 c) 단계에서 상기 회전 편광판에 투과된 광선을 카메라로 영상촬영하여 잡음제거, 조명보상 스레쉬 홀딩의 영상처리과정을 진행하는 검사컴퓨터로 전송하는 단계;

e) 상기 d)단계에서 상기 검사컴퓨터로 전송된 영상촬영정보를 상기 검사컴퓨터에 기저장된 기준영상과 비교하여 중력 불량부위를 판별하는 단계;

f) 상기 e)단계에서 상기 검사컴퓨터에서 중력 불량부위가 판별된 LCD 패널을 불량유무에 따라 상기 검사컴퓨터에 연결된 제어컴퓨터의 지시에 의해 양품과 불량품을 자동으로 구분하여 이송하는 분류 이송기를 통하여 이송하는 단계;로 구성되는 것을 특징으로 하는 LCD 중력불량 자동 검사 방법.
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