KR100623186B1 - 스위칭 회로에서의 전류 측정방법 및 전류 측정회로 - Google Patents
스위칭 회로에서의 전류 측정방법 및 전류 측정회로 Download PDFInfo
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Description
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- 노이즈 감소회로(1)의 한 세트의 단자들(5,6)과 접속되는 제1세트의 단자들과, 상기 노이즈 감소회로의 상기 한 세트의 단자들(5,6) 사이에서 절환될 수 있는 스위칭 단자(17)를 갖는 제2세트의 단자들(7,8)을 구비하는 2포트형 스위칭 회로(2)에서의 전류측정방법으로서,상기 스위칭 회로에 대해 병렬로 임피던스를 제공하는 단계와,상기 스위칭 회로의 스위칭 시퀀스 동안에 피크 측정으로서 전류를 측정하는 단계로서, 상기 노이즈 감소회로 내의 상기 임피던스에 대해 수행되는 전류측정단계를 포함하고,전압원이 상기 노이즈 감소회로의 입력 포트(3,4)에 인가되고, 부하 회로(10)와 직렬인 인덕턴스(11)는 상기 스위칭 단자(17)를 갖는 상기 스위칭 회로의 상기 제2세트의 단자들(7,8) 사이에 삽입되어 있는 전류측정방법.
- 삭제
- 노이즈 감소회로(1)의 한 세트의 단자들(5,6)과 접속되는 제1세트의 단자들과, 상기 노이즈 감소회로의 상기 한 세트의 단자들(5,6) 사이에서 절환될 수 있는 스위칭 단자(17)를 갖는 제2세트의 단자들(7,8)을 구비하는 2포트형 스위칭 회로(2)에서의 전류측정방법으로서,상기 스위칭 회로에 대해 병렬로 임피던스를 제공하는 단계와,상기 스위칭 회로의 스위칭 시퀀스 동안에 피크 측정으로서 전류를 측정하는 단계로서, 상기 노이즈 감소회로 내의 상기 임피던스에 대해 수행되는 전류측정단계를 포함하고,부하 회로(9)가 상기 노이즈 감소회로의 입력 포트(3,4)에 삽입되고, 인덕턴스(11) 및 전압원은 직렬로 연결되어 상기 스위칭 단자(17)를 갖는 상기 스위칭 회로의 상기 제2세트의 단자들(7,8)에 인가되어 있는 전류측정방법.
- 노이즈 감소회로(1)의 한 세트의 단자들(5,6)과 접속되는 제1세트의 단자들을 포함하는 2포트형 스위칭 회로(2)에서의 전류를 측정하는 회로에 있어서,상기 스위칭 회로(2)는 상기 노이즈 감소회로(1)의 상기 한 세트의 단자들(5,6) 사이에서 절환될 수 있는 스위칭 단자(17)를 갖는 제2세트의 단자들(7,8)을 포함하고,스위칭 시퀀스동안 상기 스위칭 회로에서의 전류가 상기 노이즈 감소회로 내의 측정 임피던스 회로를 흐르게 되며,상기 측정 임피던스 회로는, 상기 노이즈 감소회로(1)의 단자(5)에 연결되어 있는 상기 스위칭 회로(2)의 제1세트의 단자들중 한 단자와 상기 노이즈 감소회로(1)의 입력 포트의 단자(3) 사이에 접속되어 있는 인덕턴스(13)에 의해 형성되고,커패시터(14)와 측정 저항(15)의 직렬 접속은 상기 스위칭 회로의 제1세트의 단자들과 병렬로 접속되는 전류를 측정하는 회로.
- 삭제
- 제4항에 있어서,상기 스위칭 단자(17)에 의한 결선 및 단선동안 상기 측정 저항(15)에 걸리는 과도 전압은 다이오드(16)에 의해 정류되며, 상기 다이오드의 일 단자는 상기 측정 저항(15)과 상기 커패시터(14) 사이의 공통점에 접속되고, 상기 다이오드의 타단자는 측정 커패시터(21)를 통해 접지되도록 접속되는 것을 특징으로 하는 전류를 측정하는 회로.
- 제6항에 있어서, 상기 측정 저항(15)와 상기 다이오드(16) 사이에 접지 분압기(23)가 삽입되거나, 상기 다이오드(16)와 상기 측정 커패시터(21) 사이에 접지 분압기가 삽입되는 것을 특징으로 하는 전류를 측정하는 회로.
- 제6항 또는 제7항에 있어서,상기 다이오드(16)의 전 또는 후에 저항이 삽입되는 것을 특징으로 하는 전류를 측정하는 회로.
- 제4항, 제6항, 제7항중 어느 한 항에 있어서,측정된 전류는 상기 스위칭 회로(2)의 상기 스위칭 단자(17)를 즉시 오프(OFF)시키는 제어회로(18)에 공급되는 것을 특징으로 하는 전류를 측정하는 회로.
- 제4항, 제6항, 제7항중 어느 한 항에 있어서,상기 노이즈 감소회로 및 상기 스위칭 회로는 기판 상에서 일체화된 유닛으로서 형성되는 것을 특징으로 하는 전류를 측정하는 회로.
- 제10항에 있어서,상기 일체화된 유닛 상에서의 도통 경로는 회로의 유도(inductive) 성분을 형성하는 것을 특징으로 하는 전류를 측정하는 회로.
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