KR100608586B1 - Inspector of transparent panel and method thereof - Google Patents

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KR100608586B1 KR1020040000330A KR20040000330A KR100608586B1 KR 100608586 B1 KR100608586 B1 KR 100608586B1 KR 1020040000330 A KR1020040000330 A KR 1020040000330A KR 20040000330 A KR20040000330 A KR 20040000330A KR 100608586 B1 KR100608586 B1 KR 100608586B1
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Abstract

본 발명은 투명패널에 광을 조사한 후 기포, 돌기 또는 이물질에 의한 광 이미지를 검사하여 투명패널의 품질상태를 검사하는 투명패널의 검사장치 및 방법에 관한 것으로서, 본 발명의 목적은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 투명패널의 검사시 기포, 돌기 또는 이물질 등이 쉽게 구별되도록 하여 투명패널의 불량을 간편하고 정확하게 검사할 수 있는 투명패널의 검사장치 및 방법을 제공하는 것이다. 또한, 투명패널의 기포, 돌기 또는 이물질 등의 불량요인이 자동적으로 식별할 수 있도록 한 투명패널의 검사장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 투명패널의 검사장치는 투명패널에 존재하는 기포, 돌기 또는 이물질을 검사하기 위한 장치로서, 상기 투명패널로 광을 조사하는 광원과, 상기 광원과 투명패널 사이에 위치하고, 상기 광원에서 조사된 광이 직진에 의하여 투명패널 면에 투과영역과 비투과영역을 형성하는 차광판과, 상기 투명패널의 조사영역에 놓인 기포, 돌기 또는 이물질에 의해 산란, 굴절 및 반사된 빛을 차광판의 비투과면을 배경으로 광 이미지를 촬상하기 위한 촬상수단을 포함한다.The present invention relates to a transparent panel inspection apparatus and method for inspecting the quality of the transparent panel by inspecting the light image by bubbles, protrusions or foreign matter after irradiating light to the transparent panel, the object of the present invention is a problem of the prior art In order to solve the problem, it is to provide an inspection apparatus and method of the transparent panel that can easily and accurately inspect the defect of the transparent panel by making it easy to distinguish bubbles, protrusions or foreign matters when inspecting the transparent panel. In addition, an object of the present invention is to provide an apparatus and method for inspecting a transparent panel so that defects such as bubbles, protrusions or foreign matters of the transparent panel can be automatically identified. An apparatus for inspecting a transparent panel according to the present invention for achieving the above object is a device for inspecting bubbles, protrusions or foreign substances present in the transparent panel, the light source for irradiating light to the transparent panel, the light source and the transparent panel Positioned between the light shielding plate to form a transparent area and a non-transmissive area on the surface of the transparent panel by going straight, and scattered, refracted, and reflected by bubbles, protrusions, or foreign substances placed on the transparent area of the transparent panel; And imaging means for picking up the light image with the light on the non-transmissive surface of the light shielding plate.

음극선관, 투명패널, 기포, 돌기, 차광판, 슬릿, 촬상수단, 산란, 회절Cathode ray tube, transparent panel, bubble, protrusion, light shielding plate, slit, imaging means, scattering, diffraction

Description

투명패널의 검사장치 및 방법{INSPECTOR OF TRANSPARENT PANEL AND METHOD THEREOF}Inspection device and method of transparent panel {INSPECTOR OF TRANSPARENT PANEL AND METHOD THEREOF}

도 1은 일반적인 음극선관이 도시된 단면도.1 is a cross-sectional view showing a typical cathode ray tube.

도 2는 종래 기술에 따른 투명패널의 검사상태도.Figure 2 is a state inspection of the transparent panel according to the prior art.

도 3은 종래 기술의 다른 실시예에 따른 투명패널의 검사상태도.Figure 3 is an inspection state of the transparent panel according to another embodiment of the prior art.

도 4는 본 발명에 의한 투명패널의 검사상태도,4 is a state inspection of the transparent panel according to the present invention,

도 6은 본 발명에 의한 투명패널의 검사장치에 의한 이미지.Figure 6 is an image by the inspection device of the transparent panel according to the present invention.

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도 7은 본 발명의 투명패널의 검사장치에 의해 비투과영역에 위치된 기포의 7 is a view of the bubble located in the non-transmissive area by the inspection apparatus of the transparent panel of the present invention

이미지.image.

도 8은 본 발명의 투명패널의 검사장치에 의해 투과영역에 위치된 기포의 이미지.8 is an image of bubbles located in the transmission area by the inspection apparatus of the transparent panel of the present invention.

도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 의한 투명패널의 검사상태도9 is a state inspection of the transparent panel according to another embodiment of the present invention

도 10은 본 발명의 또 다른 실시예의 투명패널의 검사장치에 촬상된 돌기의 이미지.10 is an image of the projection imaged on the inspection device of the transparent panel of another embodiment of the present invention.

도 11은 본 발명의 변형예에 의한 투명패널의 검사장치의 검사상태도.11 is a state inspection of the inspection apparatus of the transparent panel according to a modification of the present invention.

도 12는 본 발명의 또 다른 변형예에 의한 투명패널의 검사장치의 검사상태 도.12 is an inspection state of the inspection apparatus of the transparent panel according to another modification of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

50 : 투명패널 52 : 기포50: transparent panel 52: bubble

54 : 돌기 또는 이물질 60 : 차광판54: projection or foreign material 60: shading plate

62 : 개구 64 : 유색폐구(有色 閉口)62: opening 64: colored closure

70 : 촬상수단 80 : 제어부70: imaging means 80: control unit

82 : 모니터 84 : 키보드82: monitor 84: keyboard

90 : 흡광판 A : 투과영역90: light absorbing plate A: transmission region

B : 비투과영역B: non-transmissive area

본 발명은 투명패널의 기포, 돌기 또는 이물질을 검사하는 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 투명패널에 광을 조사한 후 기포, 돌기 또는 이물질에 의한 광 이미지를 검사하여 투명패널의 품질상태를 검사하는 투명패널의 검사장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for inspecting bubbles, protrusions or foreign matters of a transparent panel, and more particularly, after inspecting an optical image by bubbles, protrusions or foreign matters after irradiating light to the transparent panel, inspecting the quality state of the transparent panel. An inspection apparatus and a method of a transparent panel.

일반적으로 컬러 텔레비전이나 컴퓨터 모니터 등의 제조에 사용되는 음극선관(1)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 화상이 투시되는 투명패널(10)과, 상기 투명패널(10)의 배면에 부착되는 원추형의 훤넬(4)과, 상기 훤넬(4)의 꼭지점에 용착되는 관형상의 네크(2)로 이루진다. 상기 네크(2)에는 영상신호에 따라 전자빔을 발사하 는 전자총(4)이 설치되고, 상기 전자총(4)의 주변부에는 상기 전자빔을 편향시키기 위한 편향요크(6)가 설치된다. 상기 투명패널(10)에는 상기 전자빔에 의해 발광되는 형광물질(8)이 도포된다. 이와 같이 구성되는 음극선관(1)은 통상 유리로 제조되고 있으며, 특히 투명패널(10)과 훤넬(4)은 반고체형의 유리덩어리, 즉 유리곱(glass gob)이라 불리우는 물질을 상기 투명패널(10)과 훤넬(4)의 형태에 따라 형성된 틀에 넣고, 프레스로 가압하여 원하는 형상을 형성한다. 전술된 바와 같이 투명패널의 형태를 가공하는 과정에서 상기 투명패널(10)의 내부에 미소한 기포가 형성되거나, 작은 이물질 또는 성형공정에서의 크랙, 돌기(pit) 등이 형성된다. 상기한 기포, 돌기 또는 이물질은 화상의 품질을 떨어뜨리는 요인이 되고 있다. 통상적으로 투명패널(10)에 크기가 약 50㎛ 이상인 기포, 돌기 또는 이물질이 형성될 경우 불량으로 판단한다.Generally, a cathode ray tube 1 used for manufacturing a color television or a computer monitor is attached to a transparent panel 10 through which an image is projected and a rear surface of the transparent panel 10 as shown in FIG. 1. Conical channel 4 and a tubular neck 2 welded to the vertex of the channel 4. The neck 2 is provided with an electron gun 4 for emitting an electron beam according to an image signal, and a deflection yoke 6 for deflecting the electron beam is provided at the periphery of the electron gun 4. The transparent panel 10 is coated with a fluorescent material 8 emitted by the electron beam. The cathode ray tube 1 configured as described above is usually made of glass, and in particular, the transparent panel 10 and the channel 4 are made of a semisolid glass mass, that is, a material called glass gob. 10) and put into the frame formed according to the shape of the channel (4), press the press to form the desired shape. As described above, in the process of processing the shape of the transparent panel, minute bubbles are formed inside the transparent panel 10, or small foreign substances or cracks or protrusions are formed in the molding process. The bubbles, protrusions or foreign matters mentioned above are a cause of deterioration of image quality. Typically, if bubbles, protrusions or foreign substances having a size of about 50 μm or more are formed on the transparent panel 10, it is determined to be defective.

종래 기술에 따른 투명패널의 검사상태도인 도 2와 도 3을 참조하면, 투명패널(10)의 전방 또는 후방에 발광체를 설치하고, 상기 발광체로부터 상기 투명패널(10)에 역광(L1)으로 광을 조사하거나 전방에서 경사지게 광(L2)을 조사한다. 이때, 상기 투명패널(10)의 기포(12), 돌기 또는 이물질(14)은 빛을 받는 방향에 따라 밝기에 차이가 생기므로 이의 식별이 가능하다.Referring to FIGS. 2 and 3, which are inspection state diagrams of the transparent panel according to the related art, a light emitter is installed at the front or the rear of the transparent panel 10, and the backlight is lit from the light emitter to the transparent panel 10 by L 1 . Irradiate light or incline light L 2 from the front. At this time, the bubble 12, the projections or the foreign material 14 of the transparent panel 10 can be identified because there is a difference in brightness depending on the direction of light.

전술된 기포(12), 돌기 또는 이물질(14)은 대부분 육안 검사에 의해 검사되고 있으나, 그 크기가 브라운관의 크기에 비하여 현저히 작기 때문에 쉽게 판별하기가 어렵고, 투명패널(10)의 원료인 유리 자체가 광을 잘 투과하므로 식별하기가 곤란하다. 따라서, 투명패널(10)의 불량을 검사하는 공정의 시간이 지체되고 있으며, 전 생산공정에 비해 병목구간으로 작용되어 생산성을 저하시키고, 막대한 시간과 인원이 투입되는 문제가 있다. 또한, 이와 같이 검사자의 육안에 의한 검사는 검사자의 숙련도와 경험에 따라 식별능력에 차이가 있고, 검사자의 컨디션과 작업환경 등의 요인에 의해 검사의 정확성에 매우 큰 차이가 발생되는 바, 신뢰성이 저하되는 문제가 있다. 특히, 검사자가 투명패널(10)에 형성된 기포(12), 돌기 또는 이물질(14)을 식별하지 못하여 불량의 제품을 출하하게 될 경우, 조립 공정을 거쳐 완제품으로 출하되는 경우가 발생되므로 경제적 손실이 증가하고 있으며, 소비자의 신뢰를 떨어뜨리는 요인이 되고 있다.Most of the above-mentioned bubbles 12, protrusions or foreign matter 14 are inspected by visual inspection, but because the size thereof is significantly smaller than the size of the CRT, it is difficult to easily determine the glass itself, which is a raw material of the transparent panel 10. Is difficult to identify because it transmits light well. Therefore, the time of the process of inspecting the defect of the transparent panel 10 is delayed, and as a bottleneck period compared to the previous production process, there is a problem that the productivity is reduced, and enormous time and personnel are input. In addition, the inspection by the inspector's visual inspection differs according to the inspector's skill and experience, and the reliability of the inspection is very different due to factors such as the inspector's condition and working environment. There is a problem of deterioration. In particular, when the inspector does not identify the bubbles 12, protrusions or foreign matter 14 formed on the transparent panel 10, and ships the defective product, it may be shipped as a finished product through the assembly process, resulting in economic loss. It is increasing, and it is a factor that lowers consumer trust.

본 발명의 목적은 전술된 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 유리 및 석영 등과 같이 투명한 물질을 가공/성형하여 만든 투명패널류의 검사시 기포, 돌기 또는 이물질 등이 쉽게 구별되도록 하여 제품의 불량을 간편하고 정확하게 검사할 수 있는 검사장치 및 방법을 제공하는 것이다. 또한, 이러한 제품의 기포, 돌기 또는 이물질 등의 불량요인이 자동적으로 식별할 수 있도록 하는 검사장치 및 방법을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, the defect of the product to make it easy to distinguish bubbles, protrusions or foreign matter when inspecting the transparent panels made by processing / molding a transparent material such as glass and quartz It is to provide an inspection apparatus and method that can easily and accurately inspect the. In addition, the present invention provides an inspection apparatus and method for automatically identifying defects such as bubbles, protrusions, and foreign matter of such a product.

또한, 검사자가 판단하기 어려운 크기의 기포에 대한 정확한 식별이 가능하여 검사를 간편하고 신속하게 수행할 수 있는 투명패널의 검사장치 및 방법을 제공하는 것이다.In addition, it is possible to accurately identify the size of the bubble difficult to determine by the inspector to provide an inspection apparatus and method of the transparent panel that can perform the inspection easily and quickly.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 투명패널의 검사장치는 투명패널에 존재하는 기포, 돌기 또는 이물질을 검사하기 위한 장치로서, 상기 투명패널로 광을 조사하는 광원과, 상기 광원과 투명패널 사이에 위치하고, 상기 광원에서 조사된 광이 직진에 의하여 투명패널 면에 투과영역과 비투과영역을 형성하는 차광판과, 상기 투명패널의 조사영역에 놓인 기포, 돌기 또는 이물질에 의해 산란, 굴절 및 반사된 빛을 차광판의 비투과면을 배경으로 광 이미지를 촬상하기 위한 촬상수단을 포함한다.An apparatus for inspecting a transparent panel according to the present invention for achieving the above object is a device for inspecting bubbles, protrusions or foreign substances present in the transparent panel, the light source for irradiating light to the transparent panel, the light source and the transparent panel Located between the light shielding plate to form a transmission area and a non-transmission area on the surface of the transparent panel by going straight, and scattered, refracted, and reflected by bubbles, projections or foreign matter placed in the irradiation area of the transparent panel And imaging means for picking up the light image with the light on the non-transmissive surface of the light shielding plate.

또한, 본 발명의 차광판은 투명필름을 포함하고, 상기 투명필름에 도포되어 상기 투명필름에 소정의 투과영역과 비투과영역을 형성하는 차광재를 포함할 수도 있다. 한편, 상기 차광판은 슬릿형상 또는 홀형상을 포함할 수 있다. 또한 상기 차광판은, 액정과 편광판을 사용하여 액정에 인가하는 전압에 의하여 투과부분과 비투과부분을 외부에서 제어할 수도 있다. 나아가, 상기 차광판을 이동시키는 이동수단을 포함할 수 있다. 여기서, 상기 촬상수단은 반사광의 세기를 감소시키거나 원하는 파장을 선택적으로 받아들이기 위한 광학필터를 포함할 수 있다. 또한, 상기 촬상수단은 발광체가 위치하는 방향에 설치되어 차광판과 함께 이동되면서 투명패널의 기포, 돌기 또는 이물질에 의해 반사된 광을 촬상할 수 있으며, 상기 촬상수단의 대향되는 방향에는 흡광판이 더 설치될 수 있다. 더불어, 촬상된 기포, 돌기 또는 이물질의 이미지의 크기를 판단하는 제어부를 더 포함할 수 있다. 또한In addition, the light shielding plate of the present invention may include a transparent film, and may include a light shielding material applied to the transparent film to form a predetermined transmission region and a non-transmissive region in the transparent film. The light blocking plate may include a slit shape or a hole shape. In addition, the light blocking plate may externally control the transmission portion and the non-transmission portion by a voltage applied to the liquid crystal using a liquid crystal and a polarizing plate. Furthermore, it may include a moving means for moving the light blocking plate. Here, the imaging means may include an optical filter for reducing the intensity of the reflected light or selectively receiving a desired wavelength. In addition, the image pickup means may be installed in a direction in which the light emitter is positioned to move with the light shielding plate to capture light reflected by bubbles, protrusions or foreign matter of the transparent panel, and a light absorbing plate is further installed in the opposite direction of the image pickup means. Can be. In addition, it may further include a control unit for determining the size of the image of the image bubbles, projections or foreign matter. Also

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 투명패널의 검사방법은 투명패널의 검사방법은 투명패널의 기포, 돌기 또는 이물질을 검사하는 방법으로서, 광원으로부터 광을 발산하여 상기 투명패널에 조사하는 광조사단계와, 상기 광조사단계에서 직진하여 조사된 광을 선택적으로 차단하여 투명패널 면에 투과영역과 비투과영역을 형성하는 광투과단계와, 상기 광투과단계에서 선택적으로 투과된 광에 의해 상기 투명패널의 조사영역에 놓인 기포, 돌기 또는 이물질에 의해 산란, 굴절 및 반사된 빛을 차광판의 비투과면을 배경으로 광 이미지를 촬상하여 검사하는 검사단계를 포함한다.Transparent panel inspection method according to the present invention for achieving the above object is a method for inspecting the transparent panel bubbles, projections or foreign matter of the transparent panel, the light emitted from the light source to irradiate the transparent panel A light transmitting step of selectively irradiating the light irradiated by going straight in the light irradiation step to form a transmission area and a non-transmission area on the transparent panel surface, and the transparent by the light selectively transmitted in the light transmission step And an inspection step of photographing and inspecting an optical image of light scattered, refracted, and reflected by bubbles, protrusions, or foreign substances placed in the irradiation area of the panel against a non-transmissive surface of the light shielding plate.

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이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 의한 투명패널의 검사상태도이고, 도 6은 본 발명에 의한 투명패널의 검사장치에 의한 돌기의 이미지이다. 본 발명에 따른 투명패널의 검사장치는, 도 4 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 검사하고자 하는 투명패널(50)의 후방에 광(L3)을 조사하기 위한 (도시되지 않은) 발광체가 위치된다. 상기 발광체는 높은 조도를 일정하게 유지할 수 있는 백색발광소자(White light emitting diode)로 구성하는 것이 바람직하나 편광된 광이나 단색광을 사용할 수 있다. 상기 백색발광소자의 일예로는 수은등, 형광등이 사용된다. 또한, 상기 투명패널(50)과 발광체 사이에는 상기 발광체에서 조사된 광(L3)이 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 반사되도록 광(L3)을 선택적으로 투과시키는 차광판(60)이 설치된다. 상기 차광판(60)은 직진하는 광(L3)을 투과하기 위한 복수의 개구(62)가 형성된다. 상기 차광판(60)은 복수의 개구(62)홈이 형성된 얇은 금속판 또는 투명필름으로 이루어 질 수 있다. 또한 차광판은 광의 투과영역을 외부에서 제어할 수 있도록 편광판과 액정으로 이루어질 수 있다. 또한, 상기 차광판(60)은 상기 투명필름에 소정의 투과영역(A)과 비투과영역(B)이 형성되도록 광(L3)을 차광하는 차광재를 도포하여 형성할 수 있다. 여기서, 상기 차광판(60)에 형성되는 개구(62)는 얇은 슬릿형상으로 이루어지거나 홀형상으로 이루어진다. 또한, 상기 발광체는, 도 4와 같이, 상기 투명패널(50)에 대해 경사지게 형성될 수 있다.4 is an inspection state diagram of the transparent panel according to the present invention, Figure 6 is an image of the projection by the inspection apparatus of the transparent panel according to the present invention. In the apparatus for inspecting a transparent panel according to the present invention, as shown in FIGS. 4 to 6, a light emitter (not shown) for irradiating light L 3 is positioned behind the transparent panel 50 to be inspected. do. The light emitter is preferably composed of a white light emitting diode (White light emitting diode) that can maintain a high illuminance constant, but may use polarized light or monochromatic light. As an example of the white light emitting device, a mercury lamp and a fluorescent lamp are used. In addition, between the transparent panel 50 and the light emitter, the light blocking plate 60 selectively transmitting the light L 3 so that the light L 3 irradiated from the light emitter is reflected on the bubble 52, the projection, or the foreign matter 54. ) Is installed. The light blocking plate 60 is formed with a plurality of openings 62 for transmitting the light L 3 going straight. The light blocking plate 60 may be made of a thin metal plate or a transparent film having a plurality of openings 62 grooves. In addition, the light blocking plate may be formed of a polarizing plate and a liquid crystal so as to control the light transmission region from the outside. In addition, the light blocking plate 60 may be formed by applying a light blocking material that shields light L 3 to form a predetermined transmission area A and a non-transmission area B on the transparent film. Here, the opening 62 formed in the light blocking plate 60 is formed in a thin slit shape or a hole shape. In addition, the light emitter may be formed to be inclined with respect to the transparent panel 50, as shown in FIG.

상기 차광판(60)에 광이 투과할 수 있는 개구(62)와 투과할 수 없는 유색폐구(64)가 있고 차광판 상부에 (도시되지 않은) 발광체가 있으므로, 차광판을 향하고 있는 촬상수단에는 (관객 뒤에서 무대 중앙을 비추는 조명을 받지못하는 무대 앞의 관객이, 뒤돌아 볼 때 조명이 보이는 것과 같은 원리로) 투과영역(A)과 비투과영역(B)이 형성된다. 촬상수단(70)과 차광판(60)이 평행이면 도4와 5의 빗금친 영역이 비투과영역(B)이 된다.The light shielding plate 60 has an opening 62 through which light can pass and a colored closure 64 which cannot pass through, and a light emitter (not shown) on top of the light shielding plate. The viewer in front of the stage, which does not receive the illumination of the stage center, forms the transmission region A and the non-transmission region B in the same principle as the illumination is seen when looking back. When the imaging means 70 and the light shielding plate 60 are parallel, the hatched areas in Figs. 4 and 5 become non-transmissive areas B.

상기와 같이 구성된 투명패널의 검사장치는 상기 투명패널(50)의 후방에서 광(L3)을 조사할 경우 광(L3)이 상기 차광판(60)에 직진하며 통과한다. 또한 이와 같이 상기 개구(62)를 통과한 광(La)은 직진에 의하여 상기 차광판(60)의 투과영역(A)을 형성한다. 이때 상기 투과영역(A)에 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)이 있을 경우 광이 산란하게 된다. 상기와 같은 방법으로 광이 조사될 경우, 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 광이 산란되며 밝게 빛나게 되어 용이하게 식별하는 것이 가능하게 된다. 한편, 상기 투명패널(50)의 검사장치는 상기 차광판(60)을 이동시켜 투과영역(A)과 비투과영역(B)을 전환시키기 위한 이동수단이 설치된다. 이동수단은 선형운동 가이드 등의 통상적인 이송기구이면 충분하다. 또한 액정과 편광판으로 차광판(60)을 구성하여 이에 전압을 인가하여 광의 투과 영역을 선택적으로 외부에서 제어하는 경우, 외부 신호의 절환으로 상기 이동수단과 동일한 효과를 가져올 수 있다.In the inspection apparatus of the transparent panel configured as described above, when the light L 3 is irradiated from the rear of the transparent panel 50, the light L 3 passes straight through the light blocking plate 60. In addition, the light (L a) having passed through the opening 62 thus is by the straight form a transmission area (A) of said shield plate (60). At this time, if there are bubbles 52, protrusions or foreign matter 54 in the transmission region (A), light is scattered. When light is irradiated in the above manner, light is scattered and brightly shines on the bubbles 52, the protrusions, or the foreign matter 54, thereby making it easy to identify them. On the other hand, the inspection apparatus of the transparent panel 50 is provided with a moving means for moving the light blocking plate 60 to switch the transmission region (A) and the non-transmissive region (B). The moving means is sufficient to be a conventional feed mechanism such as a linear motion guide. In addition, when the light blocking plate 60 is composed of a liquid crystal and a polarizing plate and a voltage is applied to the light blocking plate 60 to selectively control the transmission region of the light from the outside, switching of an external signal may have the same effect as the moving means.

또한, 상기 차광판(60)과 대향되는 방향에는 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 의한 산란되는 광(Lb)을 이미지로 촬상하기 위한 촬상수단(70)이 설치된다. 상기 촬상수단(70)은 CCD(Charge coupled device) 카메라나 1차원 CCD 배열을 포함하고, 상기 CCD 카메라의 렌즈는 초점을 정확하게 맞출 수 있도록 심도가 높은 렌즈가 사용되는 것이 바람직하다. 상기 촬상수단(70)은 한번의 촬상으로 상기 투명패널(50)의 전면을 비추게 구성되거나, 일부 영역을 촬상한 후 상기 촬상수단(70)을 이동시키며 전 영역을 촬상하도록 구성되는 것도 가능하다.In addition, an image pickup means 70 for photographing scattered light L b by the bubble 52, the projection, or the foreign matter 54 is provided in the direction opposite to the light blocking plate 60. The imaging means 70 includes a charge coupled device (CCD) camera or a one-dimensional CCD array, and the lens of the CCD camera is preferably a lens having a high depth so as to accurately focus. The imaging means 70 may be configured to illuminate the entire surface of the transparent panel 50 in one imaging, or may be configured to move the imaging means 70 and to capture the entire region after imaging a partial region. .

한편, 최근에는 상기 투명패널(50)의 크기가 대화면화 되는 경향에 따라 상기 촬상수단(70)의 크기를 크게할 경우 공간적 제한이 발생되므로, 상기 촬상수단(70)으로 국소부위를 촬상한 후 이동시켜 촬상하는 과정을 반복하고, 이와 같이 촬상된 이미지를 조합하여 대화면 투명패널(50)을 검사하는 방법이 사용된다. 또한, 상기 CCD 카메라에는 반사광의 세기를 감소시키거나 선택적인 파장을 수광하기 위한 필터를 포함하거나, 반사광을 편광시켜 반사광을 선택적으로 검사하기 위한 편광필터를 포함한다.On the other hand, in recent years, when the size of the image pickup means 70 is increased due to the tendency of the size of the transparent panel 50 to be large screen, spatial limitation is generated, so that after imaging the localized portion with the image pickup means 70 The method of repeating the process of imaging by moving, and combining the image | photographed in this way, and the method of inspecting the big screen transparent panel 50 is used. In addition, the CCD camera includes a filter for reducing the intensity of the reflected light or receiving a selective wavelength, or a polarizing filter for selectively inspecting the reflected light by polarizing the reflected light.

또한, 상기 촬상수단(70)에는 촬상된 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)의 이미지의 크기를 판단하는 제어부(80)를 더 포함한다. 이와 같이, 상기 촬상수단(70)으로부터 출력되는 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)의 이미지는 상기 제어부(80)에 실시간으로 입력된다. 상기 제어부(80)는 데이터를 연산하기 위한 마이크로 프로세서와, 모니터(82) 또는 프린터 등의 출력장치와, 키보드(84)와 같은 입력장치를 갖추고 있다. 상기 제어부(80)는 상기 촬상수단(70)으로부터 입력되는 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)의 이미지를 프로그램에 의하여 처리하여 그 결과를 모니터(82) 상에 표시하게 된다. 이때, 상기 제어부(80)는 상기 투명패널(50)의 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)의 크기에 따라 불량 또는 양품 여부를 판단할 수 있고, 그 결과를 수치데이터나 음성신호로 변환하여 출력할 수 있다. 따라서, 검사자는 제어부(80)에 의해 출력되는 데이터에 의해 상기 투명패널(50)의 상태가 양품 또는 불량인지를 정확하고 신속하게 식별할 수 있다.In addition, the imaging means 70 further includes a controller 80 that determines the size of the image of the bubble 52, the projection, or the foreign matter 54. In this way, the image of the bubble 52, the projection or the foreign matter 54 output from the imaging means 70 is input in real time to the controller 80. The controller 80 includes a microprocessor for calculating data, an output device such as a monitor 82 or a printer, and an input device such as a keyboard 84. The controller 80 processes an image of the bubble 52, the protrusion, or the foreign matter 54 input from the imaging means 70 by a program and displays the result on the monitor 82. In this case, the controller 80 may determine whether the product is defective or good according to the size of the bubble 52, the protrusion or the foreign substance 54 of the transparent panel 50, and converts the result into numerical data or a voice signal. Can be output. Therefore, the inspector can accurately and quickly identify whether the state of the transparent panel 50 is good or bad by the data output by the controller 80.

바람직하게는 상기 촬상수단(70)에 이동수단을 설치하고, 상기 촬상수단(70)을 신속하게 이동시키며 필요에 따라 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)의 이미지를 확대 재촬상하여 크기를 판별하거나, 제어부(80)에 의해 판단된 불량부위를 모니터(82)에 표시하고, 검사자가 이를 확인하도록 하여 검사의 신뢰성을 더욱 향상시킬 수 있다.Preferably, a moving means is installed in the imaging means 70, the imaging means 70 is quickly moved, and if necessary, the size of the bubble 52, the projection, or the foreign matter 54 is enlarged and re-photographed. The defective part determined by the control unit 80 or displayed on the monitor 82, and the inspector confirms this, may further improve the reliability of the test.

전술된 바와 같이 구성된 투명패널(50)의 검사장치를 이용한 검사방법은 투명패널(50)에 광을 조사하는 광조사단계와, 상기 광조사단계에서 조사된 광이 투과영역(A)과 비투과영역(B)을 형성하는 차광판(60)에 선택적으로 통과하는 광투과단계와, 상기 광투과단계에서 선택적으로 투과된 광이 상기 투명패널(50)의 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 의해 상기 차광판(60)의 비투과영역(B)의 전면방향으로 반사/산란되는 광을 검사하는 검사단계를 포함한다. 여기서, 상기 광조사단계는 광을 경사지게 입사시켜 비투과영역(B)에 위치된 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)이 반사되도록 하거나, 상기 광투과단계에서 투과되는 광을 직진, 회절 및 내부산란 및 반사에 의해 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 광이 산란되도록 한다. 여기서, 상기 광조사단계는 광을 수직하게 입사시켜 식별하는 것도 물론 가능하다. 또한, 상기 검사단계는 반사되는 광의 면적이 소정 크기 이상일 경우 불량이라고 판단하는 판단단계를 더 포함할 수 있다. 상기 판단단계는 상기 제어부(80)에서 상기 촬상수단(70)에 촬상된 이미지의 크기를 측정하여 소정크기 이상일 경우, 상기 투명패널(50)이 불량이라고 판단한다.The inspection method using the inspection apparatus of the transparent panel 50 configured as described above is a light irradiation step of irradiating light to the transparent panel 50, the light irradiated in the light irradiation step is a transmission region (A) and a non-transmissive region A light transmission step selectively passing through the light shielding plate 60 forming (B), and the light selectively transmitted in the light transmission step to the bubbles 52, protrusions or foreign matter 54 of the transparent panel 50 And an inspection step of inspecting light reflected / scattered in the front direction of the non-transmissive area B of the light blocking plate 60. Here, the light irradiation step is to be incident to the light obliquely to reflect the bubble 52, the projections or the foreign material 54 located in the non-transmissive area (B), or to go straight, diffraction and inside the light transmitted in the light transmission step By scattering and reflection, light is scattered to the bubble 52, the projection or the foreign matter 54. In this case, the light irradiation step can of course be identified by vertically incident light. In addition, the inspecting step may further include a determining step of determining that the area of the reflected light is a bad size or more. In the determining step, when the controller 80 measures the size of the image picked up by the image pickup means 70 and is larger than a predetermined size, it is determined that the transparent panel 50 is defective.

도 7은 본 발명의 투명패널의 검사장치에 의해 비투과영역에 위치된 기포의 이미지(점선 원의 중앙)이고, 도 8은 본 발명의 투명패널의 검사장치에 의해 투과영역에 위치된 기포의 이미지(검은색)이다. 본 발명에 의한 투명패널(50)의 검사장치에 있어서, 기포(52)의 경우 유색폐구(64)의 폭이 넓은 경우 식별이 더욱 용이하다. 이때, 상기 유색폐구(64) 폭이 좁으면 기포(52)의 이미지가 차광판(60)의 비투과면의 배경(즉, 검은색)과 구분이 잘 않되는 경우가 발생된다. 이때, 상기 차광판(60)을 이동시켜 상기 기포(52)의 이미지가 차광판(60)의 비투과면(즉, 검은색)의 전방에 위치되도록 하면 상기 광이 투과하는 영역(즉, 흰색)에 비해 상기 기포(52)가 검게 보이게 되어 식별이 용이해 진다. 돌기 또는 이물질(54)의 경우 차광판의 비투과면을 배경으로 광의 반사, 산란이 매우 밝게 일어나고, 상기 차광판(60)을 이동시켜 돌기 또는 이물질(54)의 이미지가 광이 투과하는 영역(즉, 흰색)에 위치될 경우 구별이 잘 되지 않는다. 이와 같은 특성을 이용할 경우 불량 요인이 기포(52)에 기인하는 것인지 아니면 돌기 또는 이물질(54)에 의한 것인지 판단하는 것이 가능하다.7 is an image of the bubble (center of the dashed circle) located in the non-transmissive area by the inspection apparatus of the transparent panel of the present invention, Figure 8 is an image of the bubble located in the transmission region by the inspection apparatus of the transparent panel of the present invention. (Black). In the inspection apparatus of the transparent panel 50 according to the present invention, in the case of the bubble 52, the identification of the colored closure 64 is wider and easier. In this case, when the colored closure 64 is narrow in width, the image of the bubble 52 may be difficult to distinguish from the background (ie, black) of the non-transmissive surface of the light shielding plate 60. In this case, when the light blocking plate 60 is moved so that the image of the bubble 52 is positioned in front of the non-transmissive surface (ie, black) of the light blocking plate 60, the light transmitting plate 60 may be compared with an area (ie, white) through which the light passes. The bubbles 52 appear black, making identification easier. In the case of the projections or the foreign matter 54, the reflection and scattering of the light occurs very brightly on the background of the non-transmissive surface of the light shielding plate. ), It is difficult to distinguish them. When such a characteristic is used, it is possible to determine whether the defective factor is due to the bubble 52 or the protrusion or the foreign matter 54.

도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 의한 투명패널의 검사상태도이고, 도 10은 본 발명의 또 다른 실시예의 투명패널의 검사장치에 촬상된 돌기의 이미지이다. 본 발명의 실시예에서는, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 촬상수단(70)의 주변부에 반사광 또는 투과광을 흡수하기 위한 흡광판(90)이 더 설치된다.9 is an inspection state diagram of a transparent panel according to another embodiment of the present invention, Figure 10 is an image of the projection imaged on the inspection device of the transparent panel of another embodiment of the present invention. In the embodiment of the present invention, as shown in Fig. 9, a light absorbing plate 90 for absorbing the reflected light or transmitted light is further provided in the peripheral portion of the image pickup means 70.

본 발명의 변형예에 의한 투명패널의 검사장치의 검사상태도인 도 11을 참조하면, 상기 발광체는 상기 촬상수단(70)과 동일한 방향에 위치되는 것도 가능하다. 전술된 투명패널(50)의 검사장치는 발광체로부터 조사되는 광(L4)이 상기 투명패널(50)에 일정한 각도로 조사되도록 하고, 상기 차광판(60)과 촬상수단(70)을 이동시키면 어떤 순간에는 상기 투명패널(50)에 형성된 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 의해 광(Lc)이 반사하게 되고, 그 반사된 광을 촬상수단(70)으로 촬상하여 이미지를 형성시킨다. 이때, 상기 차광판(60)의 유색폐구(64)의 음영이 상기 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 위치하게 하고, 개구(62)를 통과한 빛이 회절, 매 질 바깥면에서의 반사 및 내부굴절로 광이 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 조사하게 되면 기포(52), 돌기 또는 이물질(54)에 약한 산란광이 형성되게 되어 식별이 가능해진다. 또한, 상기 촬상수단(70)은 상기 발광체로부터 직접적으로 광이 조사되지 않으므로 반사되는 광(Lc)만을 촬상할 수 있게 되는 장점이 있다. 좀더 효과를 좋게 하기 위해서는, 도 12에 도시된 바와 같이, 상기 촬상수단(70)의 대향되는 방향에 흡광판(90)을 설치할 수 있다. Referring to FIG. 11, which is an inspection state diagram of an inspection apparatus for a transparent panel according to a modification of the present invention, the light emitting body may be positioned in the same direction as the image pickup means 70. The inspection apparatus of the above-described transparent panel 50 causes the light L 4 irradiated from the light emitter to be irradiated at a predetermined angle on the transparent panel 50, and moves the light shielding plate 60 and the image pickup means 70. At the moment, light L c is reflected by bubbles 52, protrusions or foreign matter 54 formed on the transparent panel 50, and the reflected light is captured by the imaging means 70 to form an image. . At this time, the shade of the colored closure 64 of the light blocking plate 60 is located in the bubble 52, the projection or the foreign matter 54, the light passing through the opening 62 is diffracted, the outer surface of the medium When the light is irradiated to the bubble 52, the protrusion or the foreign substance 54 by reflection and internal refraction, weak scattered light is formed on the bubble 52, the protrusion or the foreign substance 54, and identification is possible. In addition, the imaging means 70 has the advantage that it is possible to capture only the light (L c ) that is reflected because the light is not directly irradiated from the light emitter. In order to further improve the effect, as illustrated in FIG. 12, the light absorbing plate 90 may be provided in a direction opposite to the image pickup means 70.

이상과 같이 본 발명에 따른 투명패널의 검사장치 및 방법을 예시된 도면을 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 이상에서 설명된 실시예와 도면에 의해 한정되지 않으며, 특허청구범위 내에서 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자들에 의해 다양한 수정 및 변형될 수 있음은 물론이다. 따라서 본 발명에 의한 검사장치 및 방법은 음극선관의 투명패널 뿐만 아니라, PDP, LCD 등의 디스플레이 장치의 패널과 유리성형 제품에도 적용될 수 있다. 뿐만아니라, 본 발명의 명세서에 기재된 광을 선택적으로 투과시키는 차광판이 가지는 의미는 상기 투명패널에 도달하는 광의 세기가 상기 투명패널의 지역에 따라 다르게 광이 분포되도록 하는 것도 당연히 포함한다.As described above, the inspection apparatus and method of the transparent panel according to the present invention have been described with reference to the illustrated drawings, but the present invention is not limited to the embodiments and drawings described above, and the present invention belongs to the claims. Of course, various modifications and variations can be made by those skilled in the art. Therefore, the inspection apparatus and method according to the present invention can be applied not only to transparent panels of cathode ray tubes, but also to panels and glass molded products of display devices such as PDPs and LCDs. In addition, the meaning of the light shielding plate for selectively transmitting the light described in the specification of the present invention naturally includes that the light intensity reaching the transparent panel is differently distributed depending on the area of the transparent panel.

전술된 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 투명패널의 검사장치 및 방법은 상기 차광판에 의해 비투과영역에서, 개구를 통과한 빛의 일부가 회절, 직진 및 반사에 의해 기포, 돌기 또는 이물질에서 산란 또는 반사되도록 하여 불량요인을 간편하고 정확하게 검사할 수 있다.An apparatus and method for inspecting a transparent panel according to the present invention configured as described above includes a portion of light passing through an opening in a non-transmissive region by the light shielding plate so as to be scattered or reflected from bubbles, protrusions or foreign substances by diffraction, straightness and reflection It is possible to inspect defects simply and accurately.

또한, 본 발명에 따른 투명패널의 검사장치 및 방법은 기포, 돌기 또는 이물질을 촬상하는 촬상수단과 상기 촬상수단에 의해 촬상된 이미지를 판단하는 제어부 를 포함하며 또한, 본 발명에 따른 투명패널의 검사장치 및 방법은 기포, 돌기 또는 이물질의 이미지를 제어부의 프로그램에 의하여 처리할 수 있어 객관적인 기준에 따라 불량을 선별할 수 있다. 또한, 투명패널의 기포, 돌기 또는 이물질 등의 불량요인이 자동적으로 식별할 수 있도록 하여 자동화가 가능하고, 이로 인해 검사를 신속하게 수행할 수 있고, 검사의 신뢰성 및 정확성이 향상시킬 수 있다.In addition, the inspection apparatus and method of the transparent panel according to the present invention includes an image pickup means for picking up the bubbles, projections or foreign matter and a control unit for judging the image picked up by the image pickup means, the inspection of the transparent panel according to the present invention The apparatus and method may process an image of bubbles, protrusions, or foreign matter by a program of a controller, and may select defects according to an objective criterion. In addition, it is possible to automatically identify the defects such as bubbles, projections or foreign matter of the transparent panel can be automated, which can be performed quickly, thereby improving the reliability and accuracy of the inspection.

Claims (13)

투명패널에 존재하는 기포, 돌기 또는 이물질을 검사하기 위한 장치로서,A device for inspecting bubbles, protrusions or foreign substances present in the transparent panel, 상기 투명패널로 광을 조사하는 광원과,A light source for irradiating light to the transparent panel; 상기 광원과 투명패널 사이에 위치하고, 상기 광원에서 조사된 광이 직진에 의하여 투명패널 면에 투과영역과 비투과영역을 형성하는 차광판과,A light shielding plate disposed between the light source and the transparent panel, wherein light emitted from the light source forms a transmissive region and a non-transmissive region on a surface of the transparent panel by going straight; 상기 투명패널의 조사영역에 놓인 기포, 돌기 또는 이물질에 의해 산란, 굴절 및 반사된 빛을 차광판의 비투과면을 배경으로 광 이미지를 촬상하기 위한 촬상수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.And imaging means for capturing an optical image of light scattered, refracted, and reflected by bubbles, protrusions, or foreign substances placed in the irradiation area of the transparent panel against a non-transmissive surface of the light shielding plate. . 청구항 1에 있어서, 상기 차광판은 투명필름을 포함하고, 상기 투명필름에 선택적으로 도포되는 차광재에 의해 투과영역과 비투과영역이 형성되는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치. The apparatus of claim 1, wherein the light shielding plate comprises a transparent film, and a transparent region and a non-transmissive region are formed by a light shielding material selectively applied to the transparent film. 청구항 1에 있어서, 상기 차광판을 이동시키는 이동수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.The inspecting apparatus of claim 1, further comprising moving means for moving the light blocking plate. 청구항 1에 있어서, 상기 차광판은 슬릿형상을 포함하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.The inspection apparatus of claim 1, wherein the light blocking plate comprises a slit shape. 청구항 1에 있어서, 상기 차광판은 홀형상을 포함하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.The apparatus of claim 1, wherein the light blocking plate comprises a hole shape. 청구항 1에 있어서, 상기 차광판은 외부 전기신호에 의해 광투과 부위가 변하는 액정과 편광판을 포함하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.The apparatus of claim 1, wherein the light shielding plate comprises a liquid crystal and a polarizing plate whose light transmitting portions are changed by an external electric signal. 삭제delete 청구항 1에 있어서, 상기 촬상수단은 촬상수단으로 입사되는 광의 세기를 감소시키거나 특정 파장이나 편광을 통과시키는 광학필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.The apparatus of claim 1, wherein the image pickup means comprises an optical filter for reducing the intensity of light incident on the image pickup means or passing a specific wavelength or polarized light. 청구항 1에 있어서, 상기 촬상수단은 발광체가 위치하는 방향에 설치되어 차광판과 함께 이동되면서 투명패널의 기포, 돌기 또는 이물질에 의해 반사된 광을 촬상하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.The apparatus of claim 1, wherein the image pickup unit is installed in a direction in which the light emitter is positioned to move together with the light blocking plate to capture light reflected by bubbles, protrusions, or foreign matter of the transparent panel. 청구항 9에 있어서, 상기 촬상수단의 대향되는 방향에는 흡광판이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.10. The apparatus for inspecting a transparent panel according to claim 9, wherein a light absorbing plate is provided in an opposite direction of the image pickup means. 청구항 1 내지 청구항 10중 어느 한 항에 있어서, 촬상된 기포, 돌기 또는 이물질의 이미지 크기를 판단하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사장치.11. The transparent panel inspection apparatus according to any one of claims 1 to 10, further comprising a control unit for determining an image size of the bubble, the projection, or the foreign matter photographed. 투명패널의 검사방법은 투명패널의 기포, 돌기 또는 이물질을 검사하는 방법으로서,The inspection method of the transparent panel is a method of inspecting bubbles, protrusions, or foreign substances on the transparent panel. 광원으로부터 광을 발산하여 상기 투명패널에 조사하는 광조사단계와,A light irradiation step of radiating light from a light source and irradiating the transparent panel; 상기 광조사단계에서 직진하여 조사된 광을 선택적으로 차단하여 투명패널 면에 투과영역과 비투과영역을 형성하는 광투과단계와, A light transmission step of selectively blocking the light irradiated straight in the light irradiation step to form a transmission area and a non-transmission area on the transparent panel surface; 상기 광투과단계에서 선택적으로 투과된 광에 의해 상기 투명패널의 조사영역에 놓인 기포, 돌기 또는 이물질에 의해 산란, 굴절 및 반사된 빛을 차광판의 비투과면을 배경으로 광 이미지를 촬상하여 검사하는 검사단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명패널의 검사방법.An inspection in which light is scattered, refracted, and reflected by bubbles, protrusions, or foreign substances placed in the irradiation area of the transparent panel by light selectively transmitted in the light transmitting step by imaging an optical image on a non-transmissive surface of a light shielding plate. Inspection method of a transparent panel comprising the step. 삭제delete
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