KR100585046B1 - Plasma processing apparatus - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 진공 상태의 챔버 내부에 플라즈마를 발생시켜 기판에 소정의 처리를 실시하는 플라즈마 처리장치에 있어서, 상기 챔버의 상측에 마련되어 챔버 내부로 공정가스를 공급하는 상부 전극;을 포함하며, 상기 상부전극에는, 내,외측으로 분리되며, 각각의 둘레면에 방사형의 분기구가 형성되어 내, 외측 중 어느 하나를 회동하여 분기구의 개구 면적을 조절하는 가스 분배부;가 마련되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a plasma processing apparatus for generating a plasma in a vacuum chamber to perform a predetermined treatment on a substrate, the upper electrode being provided above the chamber and supplying a process gas into the chamber. The upper electrode is separated into an inner and an outer side, and a radial branching hole is formed on each circumferential surface thereof, and a gas distribution part for adjusting the opening area of the branching hole by rotating any one of the inner and outer sides is provided. A plasma processing apparatus is provided.
플라즈마 처리장치, 상부전극, 내, 외측 분배부, 내, 외측 분기구, 구동수단Plasma processing apparatus, upper electrode, inner and outer distribution, inner and outer branches, driving means
Description
도 1은 종래의 플라즈마 처리장치를 개략적으로 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view schematically showing a conventional plasma processing apparatus.
도 2는 도 1의 상부전극을 도시한 측단면도이다.FIG. 2 is a side cross-sectional view illustrating the upper electrode of FIG. 1.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 처리장치의 상부전극을 도시한 측단면도이다.3 is a side cross-sectional view illustrating an upper electrode of a plasma processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 4는 상기 플라즈마 처리장치의 상부전극의 분배부를 도시한 평단면도이다.4 is a plan sectional view showing a distribution part of the upper electrode of the plasma processing apparatus.
도 5a 및 도 5b는 도 4의 "A" 에 해당하는 분배부의 회전 상태를 도시한 부분 확대도이다.5A and 5B are partially enlarged views illustrating a rotation state of a distribution part corresponding to “A” of FIG. 4.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
120 : 상부전극 121 : 하우징120: upper electrode 121: housing
122 : 가스 이동로 124 : 내측 분배부122: gas passage 124: inner distribution
125 : 내측 분기구 126 : 외측 분배부125: inner branch 126: outer distribution
127 : 외측 분기구 128 : 가스 확산판127: outer branch opening 128: gas diffusion plate
140 : 인디케이터(Indicator) 141 : 위치조정블럭140: indicator 141: position adjustment block
142 : 스프링142: spring
본 발명은 플라즈마 처리장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 공정 챔버 내부로 공정 가스를 내부로 제공하는 상부전극이 구비된 플라즈마 처리장치에 관한 것이다.The present invention relates to a plasma processing apparatus, and more particularly, to a plasma processing apparatus having an upper electrode for providing a process gas into the process chamber.
상술한 반도체 웨이퍼 또는 액정 기판에 플라즈마 처리를 실시하는 과정을 설명하면 우선, 기판 수납 장치(이하 "카세트"라 칭함)에 다수 적재된 반도체 웨이퍼 또는 액정기판(이하 "기판"이라 칭함)을 운송 로봇에 의해 반입 또는 반출시키되 진공과 대기압을 순환하는 로드락 챔버(Load Lock Chamber) 내로 반입시키고 상기 로드락 챔버의 내부가 진공상태가 되도록 펌핑(Pumping)을 실시하여 진공으로 만들고 난 다음, 이송수단을 작동시켜 기판을 반송 챔버(Transfer Chamber)로 이동시킨다.Referring to the process of performing plasma processing on the above-described semiconductor wafer or liquid crystal substrate, first, a plurality of semiconductor wafers or liquid crystal substrates (hereinafter referred to as "substrates") stacked in a substrate storage device (hereinafter referred to as "cassette") are transport robots. Carry in or out by means of a load lock chamber, which circulates vacuum and atmospheric pressure, and pumps the inside of the load lock chamber into a vacuum state to make a vacuum, and then transfer means. In operation to move the substrate into the transfer chamber.
기판이 이송된 반송 챔버는 진공 상태를 유지하는 다수의 공정 챔버(Process Chamber)와 연통되어 있고, 상기 반송 챔버는 각각의 공정 챔버로 이송수단을 통해 반입, 반출을 실시하며, 여기서 각각의 공정 챔버로 반입된 기판은 하부 전극의 상부에 위치된 적재대 상에 놓이게 되며, 상부 전극 하부에 형성된 미세 구멍을 통해 공정 가스가 유입되고, 유입된 가스로 외부의 전원을 인가 받은 상, 하부 전극에 의해 전기 방전을 일으켜 기판의 표면에 플라즈마 공정을 진행하는 것이다.The transfer chamber to which the substrate is transferred is in communication with a plurality of process chambers that maintain a vacuum state, and the transfer chamber carries in and out of each process chamber through transfer means, where each process chamber The substrate brought into is placed on the mounting table positioned on the upper part of the lower electrode, the process gas is introduced through the micro holes formed in the lower part of the upper electrode, and the upper and lower electrodes are externally supplied with the introduced gas. It causes an electrical discharge to perform a plasma process on the surface of the substrate.
상술한 공정 챔버의 상, 하부 전극은 챔버의 내부 상, 하측에 각각 설치되며, 플라즈마 공정처리의 수행 대상물인 기판이 적재되는 하부전극의 양측에 절연 체가 설치된다. 상술한 전극은 통상적으로 알루미늄이 사용되고, 반도체를 공정 처리하는데 비교적 저렴한 재료로 가장 폭넓게 사용되며 상, 하부전극간에 가해지는 고전압에 따라 전극으로 유입된 가스의 방전으로 형성되는 플라즈마의 화학적인 반응과 고전압으로부터 각각의 전극을 보호한다.The upper and lower electrodes of the above-described process chamber are respectively installed above and below the inside of the chamber, and insulators are provided on both sides of the lower electrode on which the substrate, which is a target of plasma processing, is loaded. The above-mentioned electrode is generally aluminum, and is a relatively inexpensive material for processing semiconductors, and is widely used, and chemical reaction and high voltage of plasma formed by discharge of gas introduced into the electrode according to high voltage applied between upper and lower electrodes. Protect each electrode from
또한, 플라즈마 공정은 알루미늄에 대해 부식을 초래할 수 있으므로 알루미늄재질인 전극의 표면을 보호하기 위한 산화 알루미늄(Al₂O₃)피막과 같은 비교적 불활성의 세라믹 재료가 사용된다.In addition, since the plasma process may cause corrosion to aluminum, a relatively inert ceramic material such as an aluminum oxide (Al 2 O 3) coating is used to protect the surface of the electrode made of aluminum.
종래의 플라즈마 처리장치는 도 1에 도시된 바와 같이 내부에서 공정 처리가 수행되는 공정 챔버(10)와, 상술한 공정챔버(10)내 상측에 마련되되 최하단에 공정 가스가 기판에 분사되는 샤워 헤드(25)가 구비된 상부전극(20)과, 상술한 상부전극(20)과 이격된 하측에 마련되어 기판이 적재되는 하부전극(30)으로 구성된다.In the conventional plasma processing apparatus, as shown in FIG. 1, a shower head having a
상술한 상부전극(20)은 하방으로 개구된 하우징(21)과, 상술한 하우징(21)의 중심부에 결합되어 외부의 공정 가스가 내부로 이동되는 가스 이동로(22)와, 상기 가스 이동로(22)가 상술한 하우징(21)의 중심부에 결합되며, 그 가스 이동로(22)에서 유입된 가스를 하방으로 이동시켜 확산하는 제 1가스 확산판(23)과, 상술한 제 1가스 확산판(23)과 이격된 공간을 갖으며, 하측에 마련되어 제 1가스 확산판(23)에서 확산된 가스를 이차적으로 확산시켜 하방으로 확산하는 제 2가스 확산판(24)과 상술한 제 2가스 확산판(24)의 하측에 마련되어 최종적으로 기판에 공정 가스를 분사하는 샤워 헤드(25)로 구성된다.The above-mentioned
상술한 제 1가스 확산판(23)은 적정 길이를 갖는 판상으로 그 상면에 적정 간격으로 배열되는 타공이 형성되며, 상술한 제 2가스 확산판(24)은 하우징(21)의 내측 길이와 상응한 판상으로 그 상면에 적정 간격으로 배열되는 타공이 형성되고, 상술한 샤워 헤드(25)는 상술한 제 2가스 확산판(24)과 유사한 하우징(21)의 내측 길이와 상응한 판상으로 그 상면에 적정 간격으로 배열되는 타공이 형성된다.The above-described first
그러나, 상술한 가스 이동로(22)를 통해 유입된 공정 가스가 제 1가스 확산판(23)의 타공과 제 2가스 확산판(24)의 타공과 최종적인 샤워 헤드(25)의 타공을 거치면서 기판에 분사될 때 그 타공으로 분사되는 가스량의 조절이 불가능하여 플라즈마가 균일하지 못한 문제점이 있었다.However, the process gas introduced through the above-described
본 발명은 상기 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 그 목적은 공정 가스가 하방과 양측방으로 분배되는 분배부의 크기를 조절하여 공급되는 가스량을 조절할 수 있게 한 플라즈마 처리장치를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a plasma processing apparatus capable of controlling the amount of gas supplied by adjusting the size of a distribution unit in which process gas is distributed downward and both sides.
상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 진공 상태의 챔버 내부에 플라즈마를 발생시켜 기판에 소정의 처리를 실시하는 플라즈마 처리장치에 있어서, 상기 챔버의 상측에 마련되어 챔버 내부로 공정가스를 공급하는 상부 전극;을 포함하며, 상기 상부전극에는, 내,외측으로 분리되며, 각각의 둘레면에 방사형의 분기구가 형성되어 내, 외측 중 어느 하나를 회동하여 분기구의 개구 면적을 조절하는 가스 분배부;가 마련됨으로써, 상술한 상부전극에 구비된 가스 분배부의 내, 외측 분배부중 어느 하나를 회동시키면 내, 외측 분배부에 방사상으로 형성된 내, 외측 분기구 이 교차되면서 개구 면적이 조절됨에 따라 공정 가스량을 조절하여 그 상황에 따라 적합한 공정 가스를 제공하므로 바람직하다.In order to achieve the above object, the present invention provides a plasma processing apparatus for generating a plasma inside a chamber in a vacuum state to perform a predetermined treatment on a substrate, the upper portion of which is provided above the chamber to supply a process gas into the chamber; And an electrode, wherein the upper electrode is separated into an inner side and an outer side, and a radial branching hole is formed on each circumferential surface thereof to rotate one of the inner side and the outer side to adjust the opening area of the branching hole. Is provided, when any one of the inner and outer distribution portions of the gas distribution portion provided in the upper electrode is rotated, the inner and outer branching portions formed radially in the inner and outer distribution portions intersect and the opening area is adjusted. It is preferable because the amount of gas is adjusted to provide a suitable process gas according to the situation.
또한, 본 발명에서의 가스 분배부는, 내측 분배부와 외측 분배부로 이루어지며, 상기 외측 분배부에 접한 상태로 내측 분배부가 회전함으로써, 공급되는 공정 가스량을 조절하기 위해 내, 외측 분배부에 각각 형성된 내, 외측 분기구의 개구 면적 조절을 가스 분배부중 어느 하나를 회동시킴에 따라 가능하므로 바람직하다.In addition, the gas distribution part of the present invention is composed of an inner distribution portion and an outer distribution portion, and the inner distribution portion is rotated in a state in contact with the outer distribution portion, respectively formed in the inner and outer distribution portions to adjust the amount of process gas supplied It is preferable to adjust the opening area of the inner and outer branches by turning any one of the gas distribution parts.
또한, 본 발명에서의 내측 분배부를 회전시키는 구동수단이 더 마련되는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the driving means for rotating the inner distribution portion in the present invention is further provided.
또한, 본 발명에서의 구동수단은, 수동 또는 자동으로 구동되며, 수동인 경우, 내, 외측 분배부의 상부측에 내, 외측 분기구의 개구 정도를 나타내는 인디케이터(Indicator)가 마련되고, 자동인 경우, 구동모터의 회전각을 제어하여 내측 분배부가 중심부의 가스 이동로를 기점으로 적정 각도만큼 회전함으로써, 내측 분배부의 회전시 그 회전력을 부여하는 구동수단이 수동에 의해 구동되면 상술한 인디케이터에 의해 내, 외측 분기구의 개구 정도를 작업자가 인지하여 공정 가스량을 조절할 수 있으며, 자동에 의해 구동되면 상술한 내측 분배부의 회전각을 제어할 수 있는 구동모터에 의해 상술한 내, 외측 분기구의 개구 정도를 조절하므로 바람직하다.In addition, the driving means in the present invention is driven manually or automatically, and in the case of manual, an indicator indicating the opening degree of the inner and outer branches is provided on the upper side of the inner and outer distribution portions, and is automatic. By controlling the rotation angle of the drive motor, the inner distribution part rotates by a proper angle from the gas movement path in the center, so that the driving means for imparting the rotational force during rotation of the inner distribution part is driven manually by the above-mentioned indicator. The degree of opening of the inner and outer branches can be adjusted by a driving motor which can control the amount of process gas by the operator's perception of the opening degree of the outer branch and, when driven automatically, can control the rotation angle of the inner distribution part. It is preferable because it adjusts.
또한, 본 발명에서의 구동수단이 수동에 의해 구동될 때, 상기 내, 외측 분배부중 어느 한 분배부에 적정 길이 만큼 형성되는 홈부; 상기 홈부가 형성된 분배부와 대향된 분배부에 결합되어 그 홈부내에서 이동하는 위치조정블럭; 상기 홈부의 일측에 일단이 고정되고 타단은 대향되는 위치조정블럭에 고정되는 스프링;을 포함함으로써, 내, 외측 분기구의 개구 면적을 조절할 때 회동 거리가 내, 외측 분기구의 직경만큼 회동하면 그 내, 외측 분기구는 서로 연통되지 않으므로 최초로 동심되어 연통된 상태에서 서로 이격되어 연통되지 않는 상태까지의 이동거리를 홈부에서 제한할 수 있도록 위치조정블럭에 의해 이동거리가 제한되며, 이때, 개재된 스프링에 의해 원위치로 복귀할 수 있도록 하여 바람직하다.In addition, when the driving means in the present invention is driven by a manual, the groove portion which is formed by an appropriate length in any one of the inner and outer distribution portion; A positioning block coupled to the dispensing part opposite to the distributing part in which the groove part is formed and moving in the groove part; One end is fixed to one side of the groove portion and the other end is fixed to the opposite position adjustment block; including, when the rotational distance when adjusting the opening area of the inner, outer branch is rotated by the diameter of the inner, outer branch Since the inner and outer branches are not in communication with each other, the movement distance is limited by the positioning block so as to limit the movement distance from the first concentrically communicated state to the non-communicated state at the groove part, and the intervening It is preferable to be able to return to the original position by the spring.
이하, 본 발명의 플라즈마 처리장치를 첨부도면을 참조하여 일실시예를 들어 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment of the plasma processing apparatus of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
본 발명의 바람직한 일 실시예의 플라즈마 처리장치의 대략적인 구조는 도면에 도시하지 않았지만 공정 챔버와, 상술한 공정 챔버내 상측에 마련된 상부전극(120)과, 상술한 상부전극(120)과 대향된 하측에 마련되는 하부전극으로 이루어지며 상술한 공정 챔버와 하부전극은 종래의 그것과 동일한 구조와 기능을 하므로 상세한 설명은 생략한다.Although the schematic structure of the plasma processing apparatus of the preferred embodiment of the present invention is not shown in the drawings, the process chamber, the
상술한 상부전극(120)은 도 3에 도시된 바와 같이 하방으로 개구된 하우징(121)과, 상술한 하우징(121)의 중앙부에 고정 삽입되어 외부의 공정 가스가 상술 한 상부전극(120)으로 유입되는 통로인 가스 이동로(122)와, 상술한 가스 이동로(122)에 결합되어 유입된 공정 가스를 하측방향과 양측방향으로 분배하는 가스 분배부(123)와, 상술한 가스 분배부(123)의 저면에 구비되어 하측방향과 양측방향으로 배출되는 가스를 확산시키는 가스 확산판(128)과, 상술한 가스 확산판(128)의 하측에 마련되어 기판에 최종적으로 가스를 분사하는 샤워 헤드(129)로 이루어진다.The
상술한 가스 분배부(123)는 내측 분배부(124)와 외측 분배부(126)로 이루어지며, 상술한 내측 분배부(124)는 원판 형상으로 저면에 직경이 작은 단턱이 형성되며 그 단턱부에 방사상으로 종 방향의 내측 분기구(125)가 형성되며, 상술한 외측 분배부(126)는 저면이 폐쇄된 원통 형상으로 상술한 내측 분배부(124)의 단턱부에 결합될 수 있도록 내주면은 그에 상응하는 직경을 갖고, 상술한 내측 분배부(124)의 내측 분기구(125)와 동심된 외측 분기구(127)가 방사상으로 마련되고 바닥 중앙부에 하방으로 관통된 하측 분기구(127a)가 형성된다.The
여기서, 상술한 내측 분배부(124)와 결합된 외측 분배부(126)의 내, 외측 분기구(125, 127)의 상부측에 그 외측 분기구(127)가 형성된 외측 분배부(126)에서 내측 분기구(125)가 형성된 내측 분배부(124)를 회전시켜 서로 교차하는 내, 외측 분기구(125, 127)의 개구 정도를 나타내는 인디케이터(Indicator : 140)가 마련된다. 즉, 상술한 인디케이터(140)를 이용하여 내, 외측 분배기(124, 126)중 내측 분배기(124)의 회전시켜 공정 가스량을 조절한다.Here, in the
또한, 상술한 가스 분배부(123)중 내측 분배부(124)는 회전형이고 외측 분배 부(126)는 고정형으로 상술한 내측 분배부(124)를 수동 또는 자동으로 작동하는 구동수단이 마련된다.In addition, among the above-described
여기서, 상술한 구동수단이 수동에 의해 가스 분배부(123)의 내측 분배부(124)를 회동시킬 때는 상술한 내, 외측 분기구(125, 127)의 상측에 마련된 인디케이터(140)에 의해 개구 면적을 조절하여 그에 대한 공급 가스량 조절이 가능하며, 상술한 구동수단이 자동에 의해 가스 분배부(123)의 내측 분배부(124)를 회동시킬 때는 상술한 내측 분배부(124)를 구동모터(M)에 의해 회전시키며, 이때 상술한 구동모터(M)의 회전각도를 모터 제어부(도면에 미도시)에 의해 제어하는 것이다.Here, when the above-mentioned driving means rotates the
상술한 가스 확산판(128)은 상술한 가스 분배부(123)의 양측에 관통된 내, 외측 분기구(125, 127)와 하측 분기구(127a)에서 분배된 공정 가스가 근접한 타공으로 이동할 수 있도록 적정 위치에 다수개의 타공이 형성된다.The
상술한 샤워 헤드(129)는 상술한 가스 확산판(128)을 거치면서 확산되어 이동된 공정 가스가 기판에 분사되기 전 최종적으로 거치며, 타공이 배열 형성된다.The
상술한 가스 분배부를 보다 상세히 설명하면 도 4에 도시된 바와 같이 내측에 마련된 내측 분배부(124)와, 상술한 내측 분배부(124)의 외측에 삽입된 상태로 마련된 외측 분배부(126)로 이루어지며, 상술한 내측 분배부(124)의 단턱부에 방사상인 내측 분기구(125)가 형성되고 상술한 외측 분배부(126)에 방사상인 외측 분기구(127)가 내측 분기구(125)와 동심상인 둘레면에 형성되어 수동 또는 자동으로 구동하는 구동수단으로 내측 분배부(124)를 회전시켜 최초로 외측 분배부(126)의 외측 분기구(127)에서 내측 분배부(124)의 내측 분기구(125)가 서로 동심된 상태로 연통되어 있다가 상측에 마련된 구동수단에 의해 회전력을 부여하여 상술한 내측 분배부(124)를 회동시키면 고정식 외측 분기구(127)의 중심과 내측 분기구(125)의 중심이 서로 이격되면서 개구 면적이 축소되어 그 만큼 공정 가스의 이동량이 감소된다.In more detail, the above-described gas distribution unit may be described as an
한편, 상술한 외측 분배부(126)의 내부에서 내측 분배부(124)를 회전시키는 이유는 상술한 외측 분배부(126)에 형성된 외측 분기구(127)에서 내측 분배부(124)에 형성된 내측 분기구(125)를 어느 한 방향으로 이동하면 각각의 내, 외측 분기구(125, 127)가 동심된 상태에서 그 각각의 중심이 이격되어 어느 한 분기구(125, 127)의 직경 길이 만큼 회동하면 각각의 내, 외측 분기구(125, 127)는 연통되지 않으며 그에 따라 공정 가스의 유동이 차단되어 내, 외측 분기구(125, 127)의 교차량에 따라 가스량의 조절이 가능하기 때문이다. 그리고, 상술한 내측 분배부(124)의 회동 각도를 제한할 수 있게 외측 분배부(126)의 소정위치에 내측으로 오목한 홈부(126')를 형성하고 그 홈부(126')의 길이 범위 내에서 이동할 수 있는 위치조정블럭(141)을 접하는 내측 분배부(124)에 결합하며, 상술한 외측 분배부(126)의 홈부(126')에 스프링(142)의 일단을 고정하고 타단은 대향되는 위치조정블럭(141)에 고정하여 상술한 내측 분배부(124)를 회동시키면 그 내측 분배부(124)에 결합된 위치조정블럭(141)이 외측 분배부(126)의 홈부(126')에 고정된 스프링(142)을 압축하며, 상술한 외측 분기구(127)의 직경 길이 이상 회동하면 더 이상 압축된 스프링(142)에 의해 이동하지 못하고 내, 외측 분기구(125, 127)가 서로 차단되므로 가스의 이동이 차단딘다. 여기서, 상술한 내측 분배부(124)의 회전력을 제거하면 상술 한 스프링(142)의 복원력에 의해 원위치로 복귀하게 되어 내, 외측 분기구(125, 127)는 동심된 최초의 상태로 연통하게 된다.(도 4의 "A" 부분의 확대도인 도 5a 및 도 5b 참조)On the other hand, the reason for rotating the
그러므로, 본 발명의 플라즈마 처리장치에서 외부의 공정 가스가 공정 챔버내 상부전극을 통해 유입되는 과정은 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이 상술한 상부전극(120) 상면 중앙부에 연결된 가스 이동로(122)를 통해 유입된 공정 가스는 내측 분배부(124)에 결합된 외측 분배부(126)로 이루어진 가스 분배부(123)의 내부로 유입되며, 여기서 상술한 내측 분배부(124)의 상측 중심부에 위치된 구동수단인 구동모터(M)에 의해 자동으로 구동될 경우 그 내측 분배부(124)의 내측 분기구(125)가 외측 분배부(126)의 외측 분기구(127)에 동심을 갖도록 연통되다가 배출되는 공정 가스량을 줄이기 위해선 상술한 구동모터(M)를 구동시켜 외측 분기구(127)에서 내측 분기구(125)를 엇갈리게 하여 개구 면적을 축소함에 따라 그 축소된 면적을 통과하는 가스의 공급량이 감소하여 상술한 가스 분배부(123)의 양측에 마련된 내, 외측 분기구(125, 127)와 외측 분배부(126)의 바닥 중심부에 형성된 하측 분기구(127a)를 통하여 하측에 마련된 가스 확산판(128)의 중심과 양측 방사상으로 형성된 타공으로 이동되고 최하부에 위치된 샤워 헤드(129)를 통과하여 기판에 분사된다.Therefore, in the plasma processing apparatus of the present invention, the process of introducing external process gas through the upper electrode in the process chamber may be performed through a gas movement path connected to the upper center of the upper surface of the
다른 방법으로, 상술한 가스 분배부(123)의 내측 분배부(125)를 회동시키는 구동수단이 자동에 의해 구동될 경우 필요에 따라 공정 가스량을 감소시킬 필요가 있을 때, 상술한 내, 외측 분배부(124, 126)에 형성된 내, 외측 분기구(125, 127)의 상측에 마련되어 이 분기구(125, 127)의 개구량을 나타내는 인디케이터(140)에 따라 상술한 외측 분기구(127)가 형성된 외측 분배부(126)에서 상술한 내측 분기구(125)가 형성된 내측 분배부(124)를 수동으로 회동시켜 그 외측 분기구(127)와 내측 분기구(125)를 동심된 상태에서 서로 엇갈리게 하여 개구 면적이 축소되고 그에 따라 배출되는 가스량이 감소되며 이때, 상술한 내측 분배부(124)가 소정 위치만큼 이동할 수 있도록 외측 분배부(126)의 내주면에 홈부(126')가 형성되어 그 홈부(126')의 길이가 이동 거리가 될 수 있도록 내측 분배부(124)에 돌출된 위치조정블럭(141)에 의해 이동거리가 제한되다가 내, 외측 분기구(125, 127)를 동심 상에 위치시키고자 할 경우 구동력을 제거하면 일단이 홈부(126')의 일측에 고정되고 타단은 대향된 위치조정블럭(141)에 고정된 스프링(142)의 복원력에 의해 관통된 원위치로 복귀한다.Alternatively, when the driving means for rotating the above-described
그후, 배출량이 감소된 공정 가스가 상술한 가스 분배부(123)의 양측에 마련된 내, 외측 분기구(125, 127)와 외측 분배부(126)의 바닥 중심부에 형성된 하측 분기구(127a)를 통하여 하측에 마련된 가스 확산판(128)의 중심과 양측 방사상으로 형성된 타공으로 이동되어 최하부에 위치된 샤워 헤드(129)를 통과하여 기판에 가스가 분사된다.Subsequently, the process gas having a reduced discharge amount is provided on both sides of the above-described
이와 같은 본 발명의 플라즈마 처리장치는 최종적으로 기판에 가스 이동로를 통해 공급된 공정 가스량의 조절이 필요할 경우 그 가스 이동로와 연통된 가스 분 배부중 외측 분배부를 기점으로 내측 분배부를 회동하되 상술한 외측 분배부의 외측 분기구와 내측 분배부의 내측 분기구가 동심되어 연통된 상태에서 개구면적을 구동수단의 구동에 의해 축소하여 그 축소된 내, 외측 분기구를 통해 감소된 가스량이 기판에 분사되어 균일하게 플라즈마를 형성시킬 수 있는 효과가 있다.Such a plasma processing apparatus of the present invention rotates the inner distribution part based on the outer distribution part of the gas distribution part communicated with the gas movement path when it is necessary to finally adjust the amount of process gas supplied to the substrate through the gas movement path. In the state where the outer branch of the outer distribution part and the inner branch of the inner distribution part are in concentric communication, the opening area is reduced by driving the driving means, and the reduced amount of gas is injected to the substrate through the reduced inner and outer branches. There is an effect that can form a plasma.
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