KR100536110B1 - 액정표시판의 검사 방법 및 그 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 액정표시판의 검사 방법 및 그 시스템에 관한 것으로서, 보다 구체적으로, 광학촬상으로 액정표시판의 복수개 영상화면의 휘도 변화 곡선을 얻어내며, 이 휘도 변화 곡선의 진폭 및 중심값에 의하여 영상화면의 플리커 레벨을 결정한다. 본 발명은 산출한 플리커 레벨 수치의 고저에 따라 액정표시판의 구동회로의 전위를 조정함으로써, 사람들의 눈으로 감지할 수 있는 플리커 현상을 제거한다.

Description

액정표시판의 검사 방법 및 그 시스템{Inspection method and system for LCD panel}

본 발명은 액정표시판의 검사 방법 및 그 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 기기에 응용된, 시각으로 액정표시판의 플리커(flicker)의 정도를 검사하는 방법과 그 시스템에 관한 것이다.

플리커 현상은 액정표시기 중 표시 품질에 영향 주는 가장 중요한 요소로서, 그것과 사람의 눈의 민감도는 매우 직접적인 관계가 있다. TFT(thin flim transistor)와 STN(super twisted nematic) 액정표시기는 현재 가장 광범하게 응용되고 있는 표시기이다. 그러나 양자는 모두 플리커 현상이 있다. 일반적으로, 표시기의 구동신호는 일정한 시간 내에 교류 전기장을 가해줌으로써 그것이 극성반전하게 해야한다. 그러나 일반적인 액정함은 이온의 전하효과가 비교적 쉽게 플리커 현상을 일으키기 때문에 외부에서 가하는 전기장의 빈도수를 높이면 플리커의 정도를 비교적 쉽게 낮출 수 있다. 하지만, 외부에서 더해지는 전기장의 빈도가 높을 수록 그 공율소모량도 더욱 크게 된다. 이에 따라 TFT는 기생 전하용량으로 인하여 신호전압의 레벨위치가 이동하는 현상이 발생하며, 정, 부의 반주기 동안의 신호 크기가 서로 상이하게 되어, 플리커 현상이 더욱 심하게 나타난다.

현재 액정표시판의 공급업체들은 4종류의 극성 반전(polarity inversion)의 구동방법을 제시하고 있다. 하지만 특정 테스트 도형을 디스플레이할 때 여전히 플리커 현상이 나타난다. 예를 들면 도트반전(dot inversion)의 구동방법은 부화소(sub-pixel) 설계의 테스트 도형을 나타낼 때 반짝거리는 점을 생성하는 것과 같은 것이다. 또한 행반전(line inversion)의 구동방법은 수평선의 테스트 도형을 나타낼 때 플리커 현상이 쉽게 나타나는 결함이 있다. 즉, 이 4종류의 구동방법은 모두 어떤 종류의 테스트 도형을 디스플레이할 때 플리커 현상을 나타내게 되며, 당연히 시각이 민감한 사용자가 검사할 때 위와 같은 결함을 발견하게 된다.

액정표시판은 출하되기 전, 모든 액정표시판의 표시품질에 대하여 품질관리인원에 의해 검사를 받아야 됨과 동시에 가능한 모든 액정의 표시효과가 일치되도록 조정해야만 한다. 그 중 플리커의 정도는 매우 중요한 결함검사(defect inspection)항목중의 하나이다. 그러나 사람마다의 시각구조의 차이로 인하여, 플리커 현상을 시각적으로 체크하는 능력이 상이하며, 자연히 품질검사시 상당한 오차가 발생한다. 통상 액정표시판이 품질검사를 거친 후 출하되어 최종 사용자에게 도달되었을 때 시각이 민감한 사용자에게 불량품이 발견되어 반품되는 경우가 있으며, 이는 회사의 신용과, 금전상 커다란 손실을 가져오게 된다.

이에 따라, 시장에서는 일종의 표준화 및 자동화된 상기 문제 해결의 방법이 절실하게 요구되어 왔다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하게 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 액정표시판의 검사방법 및 그 시스템을 제공함으로써, 가장 효과적인 검사방법을 제공하여 액정표시판의 화면의 플리커 정도를 검사하게 하는 것이다. 즉, 육안에 의한 검사작업의 방식을 대체 하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 액정표시판의 구동회로의 방법을 제공함으로써, 정확하게 각각의 표시판 화면의 플리커의 정도를 가장 낮은 수준으로 조정하며, 양호한 일치성을 갖게 한다.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시판의 검사 방법과 그 시스템은 광학촬상으로 액정표시판에 디스플레이되는 복수개의 영상화면으로부터 휘도변화 곡선을 얻어내며, 이 휘도 변화 곡선의 진폭 및 중심값에 의하여 영상화면의 플리커 레벨(flicker level)을 결정하게 된다. 사용자, 혹은 자동조정장치가 얻은 플리커 레벨의 수치에 의하여 액정표시판의 구동전압을 보다 정확히 조정할 수 있어, 휘도변화곡선의 진폭을 낮출 수 있으며, 동시에 얻은 플리커 레벨의 수치가 커지게 할 수 있다. 이렇게 반복적인 검사와 보상적인 조정으로 플리커 정도가 가장 낮은 수준으로 된다. 설사 플리커 레벨의 수치가 최대치가 되더라도, 결국 사람의 눈으로 감지할 수 있는 플리커 현상을 제거할 수 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명에 따른 액정표시판의 검사시스템의 블록도이다. 액정표시판(60)의 상방에 광학촬상장치(11)가 설치되며, 일반적으로 CCD 혹은 CMOS 카메라를 많이 사용하며, 이런 종류의 카메라는 또 구진형(矩陣型) 혹은 단일선형으로 구분되며, 또한 유비(類比) 혹은 수위(數位)의 두 종류의 신호 전송방식으로 나누어진다. 테스트 도형생성기(14)를 이용하여 특정한 테스트 도형을 생성하여, 액정표시판(60)에 상기 테스트 도형의 화면(frame)을 나타나게 한다. 이 테스트 도형생성기(14)는 제어기(12)와 연결될 수도 있고, 연결되지 않을 수도 있다. 동시에, 상방에 고정된 광학촬상장치(11)는 시간에 따라 액정표시판(60)에서 화면을 연속적으로 얻게 되며, 제어기(12)(예컨대, 일반 컴퓨터와 영상추출카드의 조합)로 전송하여, 그 휘도의 변화를 계산하며, 변화의 곡선을 기록하게 된다.

상기 검사시스템(10)에서 촬상 화면을 측정하면 그 휘도 변화는 도 2와 같이 곡선으로 나타남을 관찰할 수 있다. 도면에서 횡좌표는 시간축이며, 종좌표는 광학촬상장치(11)가 얻은 영상을 수치변환한 휘도값이다. 도시된 바와 같이, 이 선택된 화면의 휘도는 일정한 값이 아니며, 근사한 사인함수 혹은 삼각파형의 곡선으로서 상하측의 휘도변화에 의한 것이다. 곡선상의 점은 그 중 한 차례 촬상된 화면의 휘도를 나타낸다. 그 중 La와 Lb는 상기 곡선의 광의의 평균진폭 및 평균 상하 진폭의 수치이며, Lc는 일반적으로 두 종류의 정의를 갖는다. 하나는 휘도의 평균치로서 이 경우, 상하 완전히 동일한 파형을 제외하고는 La≠Lb/2이며, 다른 하나는 Lc가 파형의 피크(a')와 골(b')의 값의 평균치를 나타낸다. 이때, La=Lb/2이다. 상기 밝음도 변화 곡선에 의하여 아래와 같은 비슷한 플리커 레벨의 수학식 1, 수학식 2, 수학식 3, 수학식 4, 수학식 5, 수학식 6을 얻게 된다.

ＦＬ＝Ｋ／Ｌｂ＋Ｍ

ＦＬ＝Ｋ／Ｌａ＋Ｍ

ＦＬ＝ＫｌｏｇＬｃ／Ｌａ＋Ｍ

ＦＬ＝ＫｌｏｇＬｃ／Ｌｂ＋Ｍ

ＦＬ＝ＫｌｏｇＬｃ／（Ｌｂ／２）＋Ｍ

ＦＬ＝ＫｌｏｇＬｃ／（Ｌｂ－Ｌａ）＋Ｍ

여기서, K와 M은 계수이며, 각각 20과 0으로 설정한다. 이 K와 M의 수치는 교정 후의 모의 보상으로 사용된다. 진폭 La 혹은 Lb가 클수록, 플리커가 심하게 나타나며 이에 따라서, FL의 수치가 더욱 작아진다. 반면에, 진폭 La 혹은 Lb가 작아질 수록, 플리커 현상은 개선되며, FL의 수치가 커진다. 상기 6개의 수학식 이외에, 플리커 레벨을 Lc로 표시하면 La와 Lb와 상대한 비례치의 관계식은 모두 본 발명의 정신에 부합되는 것이므로 본 발명은 대수 혹은 자연대수 표시 관계식에만 국한되지 않는다.

본 발명은 플리커 레벨의 수치로 액정표시판(60)의 구동회로를 조정하는 기준을 삼는 것으로서, 변이성이 비교적 큰 사람의 육안에 의한 관찰에 의해 조정작업을 완성하는 것이 아니다.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시판의 검사방법의 흐름도이다. 30 단계에 의하여 테스트 도형생성기로 테스트 도형을 설정한다. 31 단계는, 액정표시판에 의하여 상기 테스트 도형을 생성한다. 일반적으로, 상기 테스트 도형은 액정표시화면의 구동방식에 의하여 설계되는데, 그 목적은 가장 쉽게 그 테스트의 결함을 알 수 있도록 하는 화면이 나타나게 하려는 것이다. 32 단계에서, 액정표시판에 상기 테스트 도형이 나타났을 때, 촬상장치가 시간에 따라 상기 표시화면에 대해 촬상하게 된다. 일반적으로 연속된 촬상은 곡선 한 개의 완전한 주기의 표본수를 초과하게 된다. 액정표시판이 테스트 도형의 디스플레이 명령에 따라 개개의 화소가 색의 차이를 나타내면, 광학촬상장치는 시간경과에 따라 순차적으로 상기 표시화면에 대한 광학촬상을 진행한다. 33 단계에서는, 32 단계에서 얻은 촬상된 자료에 의하여, 화면 중에서 촬상된 화면의 휘도 변화의 양을 측정하게 된다. 34 단계에서, 촬상 화소의 휘도 변화 곡선에 의하여 Lc, La 및 Lb등 3개의 수치를 얻게 되며, 이 들 수치를 수학식 1 수학식 2, 수학식 3, 수학식 4, 수학식 5 혹은 수학식 6에 대입하여 플리커 레벨의 수치를 결정한다. 상기 수학식의 선택은 사용자에 의해 결정된다. 이와 같이하여 액정표시화면의 플리커 현상의 측정이 완료되면, 이어서 조정의 작업을 진행한다.

상기 플리커 레벨의 수치에 근거하여, 그것이 최대치인지 아닌지의 여부를 판단한다. 예를 들면 35 단계에서 보이는 것과 같은 것이다. 만약 최대치가 상기 액정표시판의 가장 좋은 상태를 표시하는 것이 아니라면, 관련된 구동회로의 조정이 필요하게 된다(36 단계). 일반적으로 대부분 액정표시판은 공통전압(common voltage)을 조정하는 회전조정자를 구비하고 있다. 공통전압이 최적화의 수치로 조정되었을 때, 액정회전의 각도 변이는 화소의 극성변환시 가능한 작게 한다. 이렇게하면 휘도 변화의 진폭도 최소치에 도달하게 된다. 조정 후에는 리턴하여 다시 32 단계에서 광학촬상을 하게 된다. 반대로, 만약 35 단계의 판단이 '예'이면, 37 단계를 진행하여 이 플리커 레벨이 미리 설정한 문턱치에 도달하는지를 판단한다. 만약 이 문턱치에 부합되면 이 액정표시판은 합격품으로 되는 것이며, 부합되지 않으면, 이 액정표시판은 조정을 거쳤을지라도 여전히 불합격품이 되는 것이다.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시판의 화면의 휘도측정을 위해 화면촬상하는 방식을 설명하기 위한 도면이다. 전체 액정표시판의 화면(61)은 수직 혹은 수평으로 여러 개의 영역으로 나누어질 수 있다. 영역 수가 가장 작은 경우는 1이며, 플리커 레벨 측정을 동일하지 않은 범위에서 한다. 도 4에 도시된 예와 같이, 화면(61)을 4개의 수직 측정 영역(611∼614)으로 나눈다. 이어서 광학촬상장치(11)에서 촬상된 영상은 제어기(12)로 전송된다. 이미 설정한 측정 영역에 의해 곡선을 완성하는 방법은 두가지가 있다. 첫째는, 상기 영역의 모든 화소의 휘도를 측정하며, 그 평균치를 계산하여 휘도 변화 곡선을 만드는 것이다. 둘째는, 여러 개 혹은 하나의 주사선(62)을 임의로 선택하여 그 곡선상의 화소를 측정 목표로 하는 것이다. 서로 다른 측정 영역(611∼614) 내에서 La, Lb 및 Lc의 수치를 얻는다. 다음, 이를 수학식 1 내지 수학식 6에 대입하여 각각의 측정 영역의 플리커 레벨수치를 결정한다. 액정표시판의 전기회로의 배치방식 때문에, 화면(61)상의 측정영역(611∼614)의 플리커 레벨은 반드시 동일하지는 않다. 표시판(60)의 플리커 우열과 등급을 결정하기 위하여 일반적으로, 한 개의 플리커 레벨의 문턱치를 설정하게 되는데, 이 문턱치는 액정표시판 플리커의 수용도를 결정하게 된다. 당연히 몇 개의 플리커 레벨을 설정하여 등급과 우열을 판단할수 있다. 영역수가 1보다 클 때, 각각의 영역에는 각각의 해당 플리커 레벨값을 갖게 된다. 이때, 평균 각 영역의 플리커 레벨값의 평균치와 가장 낮은 영역의 플리커 레벨값 혹은 기타 방식으로 판단할 수 있다.

각 제조업체들의 액정표시판(60)의 공통전압 조정 회전조정자(64)의 위치가 일치하지 않기 때문에 어떤 것은 도 5a와 같이 표시판과 동일한 측면에 있으며, 어떤 것은 도 5b의 액정표시판(60')과 같이 표시판과 부동한 측면에 있게 된다. 액정표시판의 검사시스템이 이 두 가지 유형의 액정표시판 (60,60')에 모두 적용될 수 있게 하기 위해 두 세트의 광학촬상 장치(11a,11a')를 사용할 필요가 있다. 하나는 위에, 다른 하나는 아래 방식의 고정틀(51)에 설치하여, 각각 표시판 공작대(52)의 양측에 위치하게 한다. 이 표시판 공작대(52)의 중앙부분에 하나의 문이 있어, 액정표시판(60')의 표시판과 배합되어 아래 방향으로 놓이게 되며, 또한 아랫방향의 광학촬상장치(11b)가 화면을 얻는 작업을 진행하게 된다. 당연히, 조작자(70)는 수공작도구(57)로 회전조정자(64')를 돌려서, 화면의 플리커현상이 가장 적은 수준에 이르게 한다. 이와같이 사람을 고려한 공정의 검사고정장치에 의해 조작자(70)의 작업효율이 향상된다.

다른 한 가지 검사고정장치는 다만 한 조의 광학촬상장치(11')만 사용하며, 180도 회전할 수 있는 하나의 고정틀(51')이 보조적으로 사용된다. 이러한 방식은 바로 도 5c와 도 5d에 도시된 바와 같이 상기 고정틀(51')은 광학촬상장치(11')를 위해 사용되며, 상기 액정표시판(60, 60')의 표시판 공작대(52')와 서로 결합된다. 이외에 회전기구(53)를 구비하여 상기 고정틀(51')이 180도로 회전하도록 제어한다. 회전 운동하는 상기 회전기구(53)는 일반적인 회전실린더 혹은 축 구동부품의 조합 부품을 사용할 수 있다.

공통전압의 회전조정자(64)와 표시판이 동일한 측면에 있을 경우 조정할 때, 액정표시판(60)의 표시면은 도 5c와 같게 위로 향하게 하여 표시판 공작대(52')에 놓는다. 이때, 조작자(70)은 수공공작도구(57)을 가지고 위에서 구동회전조정자(64') 혹은 자동회전기구(80)을 이용하여 화면의 플리커 현상이 가장 낮은 단계가 될 때까지 조정하는 작업을 한다. 즉, 플리커 레벨의 수치가 최대치에 이를 때 구동회전조정자(64)의 동작을 멈춘다. 도 5d에 도시된 바와 같이, 공통전압의 회전조정자(64')와 표시판이 동일한 측면에 있지 않을 때, 액정표시판(60')의 표시면이 아래로 향하도록 표시판 공작대(52')에 놓는다. 이때, 회전기구(53)은 고정틀(51')을 180도 회전시키면 광학촬상장치(11')는 액정표시판(60')의 아래쪽으로 회전되어 위치하게 되며, 조작자(70) 혹은 자동회전기구(80)는 동일한 위치에서 회전조정자(64')를 회전시킨다. 당연히, 시스템 보정신호에 의해 자동회전기구(80)는 회전조정자(64')가 가장 적정한 위치로 회전되도록 한다.

이상 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상술하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 본 발명이 속하는 기술분야에 있어서 통상의 지식을 가진 사람이라면 누구든지 다양한 변형의 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재범위 내에 있게 된다.

본 발명에 의하면, 광학촬상으로 액정표시판의 복수개 영상화면의 휘도 변화 곡선으로부터 산출한 플리커 레벨 수치의 고저에 따라 액정표시판의 구동회로의 전위를 조정함으로써, 각각의 표시판 화면의 플리커의 정도를 가장 낮은 수준으로 정확한 조정이 가능하며, 양호한 검사결과의 일치성을 갖는다.

도 1은 본 발명에 따른 액정표시판의 검사시스템의 블럭 구성도이다.

도 2는 본 발명에 따른 검사장치 측정 양의 휘도 변화 곡선도이다.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시판의 검사방법을 설명하기 위한 흐름도이다.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시판의 화면의 휘도측정을 위해 화면촬상하는 방식을 설명하기 위한 도면이다.

도 5a 내지 5d는 본 발명에 따른 액정표시판의 검사고정장치의 바람직한 실시예를 나타낸 도면이다.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

10 액정표시판의 검사 시스템 11, 11a, 11b, 11' 광학 촬상장치

12 제어기 14 테스트 도형생성기

51, 51' 고정틀 52, 52' 표시판 공작대

53 회전 기구 57 치공구

60, 60' 액정표시판 64, 64' 회전조정자

70 조작자 80 자동회전기구

Claims (27)

1. 액정표시판을 제공하는 과정;

   상기 액정표시판을 구동시켜 테스트 도형의 화면을 디스플레이하는 과정;

   상기 화면의 촬상 및 측정 방식을 설정하는 과정;

   광학촬상 방식으로 상기 액정표시판의 화면을 기록하는 과정;

   상기 촬상화면의 휘도변화를 분석하는 과정과;

   상기 휘도 변화의 진폭과 중심값의 비례치로서 상기 촬상 화소의 플리커 레벨이 소정의 문턱치를 넘는지 판단하는 과정을 포함하는 액정표시판의 검사방법.
2. 제1항에 있어서, 상기 광학촬상방식은 CCD 카메라, CMOS 카메라, 단일선형카메라, 또는 구진형 카메라를 사용하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
3. 제1항에 있어서, 상기 테스트 도형은 테스트 도형생성기에서 생성한 것으로, 표시 구동 매개면을 투과하며, 상기 액정표시판을 구동시켜 상기 테스트 도형의 화면을 나타내는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
4. 제1항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=K/Lb+M에 의하여 결정되며, Lb는 상기 휘도변화의 상하 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
5. 제1항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=K/La+M에 의하여 결정되며, La는 상기 휘도 변화의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
6. 제1항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=KlogLc/La+M에 의하여 결정되며, Lc는 상기 휘도 변화의 중심값 또는 파형의 피크와 골의 평균치이며, La는 상기 휘도 변화의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
7. 제1항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=KlogLc/Lb+M에 의하여 결정되며, Lc는 상기 휘도 변화의 중심값 또는 파형의 피크와 골의 평균치이며, Lb는 상기 휘도 변화의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
8. 제1항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=KlogLc/(Lb/2)+M에 의하여 결정되며, Lc는 상기 휘도 변화의 중심값 또는 파형의 피크와 골의 평균치이며, Lb는 상기 휘도 변화의 정,부의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
9. 제1항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=KlogLc/(Lb-La)+M에 의하여 결정되며, Lc는 상기 휘도 변화의 중심값 또는 파형의 피크와 골의 평균치이며, La는 상기 휘도 변화의 평균진폭이고, Lb는 상기 휘도 변화의 정,부의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
10. 제1항에 있어서, 상기 액정표시판의 구동전압을 조정하여, 상기 플리커 레벨를 상기 문턱치보다 높게 하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
11. 제1항에 있어서, 상기 플리커 레벨이 최대치에 도달했는지를 판단하는 과정과;

    도달하지 못하였을 경우에, 상기 액정표시판의 구동전압을 조정하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
12. 제1항에 있어서, 상기 플리커 레벨의 최대치가 상기 문턱치를 초과했는지를 판단하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
13. 제1항에 있어서, 상기 화면촬상 및 측정 방식은 상기 화면을 여러 개의 측정 영역으로 나누는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
14. 제1항에 있어서, 상기 화면촬상 및 측정 방식은 적어도 하나의 주사선을 선택하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사방법.
15. 테스트 도형의 화면을 표시하며, 구동전압을 조정할 수 있는 회전조정자를 구비한 액정표시판;

    상기 테스트 도형의 화면을 촬상하기 위한 광학촬상장치와;

    상기 광학촬상장치가 촬상한 화면의 휘도 변화를 계산하여 플리커 레벨을 생성하며, 또한 상기 플리커 레벨이 소정의 문턱치를 넘는지의 여부를 판단하는 제어기를 포함하며,

    상기 플리커 레벨은 휘도 변화의 진폭 또는 진폭과 중심값의 비례 관계식인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
16. 제15항에 있어서, 상기 광학촬상장치는 CCD 카메라, CMOS 카메라, 단일선형카메라, 또는 구진형 카메라를 사용하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
17. 삭제
18. 제15항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=K/Lb+M에 의하여 결정되며, Lb는 상기 휘도변화의 상하 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
19. 제15항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=K/La+M에 의하여 결정되며, La는 상기 휘도 변화의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
20. 제15항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=KlogLc/La+M에 의하여 결정되며, Lc는 상기 휘도 변화의 중심값 또는 파형의 피크와 골의 평균치이며, La는 상기 휘도 변화의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
21. 제15항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=KlogLc/Lb+M에 의하여 결정되며, Lc는 상기 휘도 변화의 중심값 또는 파형의 피크와 골의 평균치이며, Lb는 상기 휘도 변화의 상하의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
22. 제15항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=KlogLc/(Lb/2)+M에 의하여 결정되며, Lc는 상기 휘도 변화의 중심값 또는 파형의 피크와 골의 평균치이며, Lb는 상기 휘도 변화의 정,부의 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
23. 제15항에 있어서, 상기 플리커 레벨 FL은 수학식 FL=KlogLc/(Lb-La)+M에 의하여 결정되며, Lc는 상기 휘도 변화의 중심값 또는 파형의 피크와 골의 평균치이며, La는 상기 휘도 변화의 평균진폭이고, Lb는 상기 휘도 변화의 정,부 평균진폭이며, K와 M은 계수인 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
24. 제15항에 있어서, 상기 테스트 도형을 생성하는 테스트 도형생성기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
25. 제15항에 있어서, 상기 광학촬상장치의 위치를 조정하며 180도로 회전할 수 있는 고정틀을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
26. 제15항에 있어서, 다른 하나의 광학촬상장치를 더 포함하며, 상기 두 개의 광학촬상 장치는 상기 액정표시판 검사위치의 양측에 설치되는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.
27. 제15항에 있어서, 상기 회전조정자를 조정하기 위한 자동회전기구를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시판의 검사시스템.