KR100529929B1 - Apparatus for inspecting PDP Rib and Method for the same - Google Patents

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KR100529929B1
KR100529929B1 KR10-2003-0083735A KR20030083735A KR100529929B1 KR 100529929 B1 KR100529929 B1 KR 100529929B1 KR 20030083735 A KR20030083735 A KR 20030083735A KR 100529929 B1 KR100529929 B1 KR 100529929B1
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Abstract

본 발명은 PDP 격벽의 검사장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 격벽이 형성된 PDP 하판에 수직으로 광을 조사하는 조명과, 격벽이 형성된 PDP 하판을 기준으로 상기 조명과 반대방향에 수직되게 설치되어 상기조명에 의해 발생되는 PDP 격벽의 영상을 촬영하는 카메라로 구성되는 PDP 격벽의 검사장치와, 상기 PDP 격벽의 검사장치에서 촬상되어 획득된 격벽의 이미지와 제어부의 알고리즘 연산을 통해 산출된 이미지피치를 비교하여 결함을 찾아내는 PDP 격벽의 검사방법으로 구성되어, PDP 격벽 결함검사의 신뢰도를 향상시킬수 있다. The present invention relates to an inspection apparatus and a method for inspecting a PDP partition wall, the illumination is irradiated perpendicularly to the PDP lower plate on which the partition wall is formed, and is installed perpendicular to the opposite direction to the illumination based on the PDP lower plate on which the partition wall is formed. PDP bulkhead inspection device comprising a camera for capturing an image of the PDP bulkhead generated by the camera, and the image pitch calculated by algorithm calculation of the control unit and the image of the partition wall obtained by the PDP bulkhead inspection device It is composed of inspection method of PDP bulkhead to find defects, which can improve the reliability of PDP bulkhead defect inspection.

Description

플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사장치 및 그 방법{Apparatus for inspecting PDP Rib and Method for the same} Apparatus for inspecting PDP Rib and Method for the same}

본 발명은 PDP 격벽의 검사장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 특히 조명원이 PDP에 광을 조사하고, 카메라가 PDP 격벽의 이미지를 촬상하여 격벽의 결함여부를 검사하는 PDP 격벽의 검사장치 및 그 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an apparatus and method for inspecting a PDP partition wall, and more particularly, to a PDP partition wall inspection device and method in which an illumination source irradiates light to the PDP, and a camera captures an image of the PDP partition wall to check for defects in the partition wall. It is about.

통상적으로 PDP는 상판과, 격벽이 형성된 하판으로 형성되는데, PDP 하판에 형성된 격벽의 결함여부를 정밀하게 검사하는 장치 및 방법이 PDP의 품질관리를 위해 절실하게 요구되어 개발되고 있다. In general, the PDP is formed of an upper plate and a lower plate having partition walls, and an apparatus and method for precisely inspecting whether a partition wall formed on the lower plate of PDP is precisely required are required for quality control of the PDP.

도 1은 PDP 하판에 형성된 격벽의 결함이 도시된 사시도 이고, 도 2는 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사장치 일 예가 도시된 사시도 이며, 도 3은 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사장치 다른 예가 도시된 사시도이고, 도 4는 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사장치로 결함을 촬상한 도면이며, 도 5는 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사방법이 도시된 순서도이고, 도 6은 PDP 하판 격벽의 종류에 따른 형태가 도시된 평면도이다.1 is a perspective view showing a defect of a partition formed on the PDP lower plate, Figure 2 is a perspective view showing an example of the inspection device of the PDP partition wall according to the prior art, Figure 3 is another example of the inspection device of the PDP partition wall according to the prior art is shown Figure 4 is a view showing a defect imaging by the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the prior art, Figure 5 is a flow chart showing the inspection method of the PDP partition wall according to the prior art, Figure 6 is a type of PDP lower plate partition wall The top view is shown in the form according to.

종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사장치 및 방법은 도 1내지 도 6에 도시된 바와 같이, PDP 하판(10)에 설치된 격벽(14)과, 로울러(11a)와 컨베이어벨트(11b)의 구성되어 PDP 하판(10)을 이송시키는 이송수단(11)과, 상기 격벽(14)을 가로질러 상측에서 하측으로 경사지게 조사하는 조명(20)과, 상기 광이 조사되어 생성되는 상기 PDP 하판(10)의 이미지를 촬상하는 카메라(30)와, 상기 카메라(30)에서 촬상된 이미지를 영상신호로 판독하는 영상처리부(40)와, 상기 영상신호를 그래픽보드에 출력하는 영상출력부(42)와, 상기 영상신호를 통해 결함이 검출되는 결함검출부(44)를 포함하여 구성된다. The inspection apparatus and method of the PDP partition wall according to the prior art is composed of the partition wall 14, the roller 11a and the conveyor belt 11b installed on the PDP lower plate 10, as shown in Figs. An image of the conveying means 11 for conveying the lower plate 10, illumination 20 for obliquely irradiating from the upper side to the lower side across the partition 14, and the PDP lower plate 10 generated by the light irradiation. A camera 30 for capturing an image, an image processor 40 for reading an image captured by the camera 30 as an image signal, an image output unit 42 for outputting the image signal to a graphics board, and the image. And a defect detection unit 44 through which a defect is detected through the signal.

한편, 상기에서 검사자는 영상출력부(42)를 보고 격벽의 결함여부를 직접 판정할 수도 있다. 상기 격벽(14)의 결함은 도 1에 도시된 바와 같이, 격벽(14)이 없어야 할 곳에 격벽(14)이 있는 쇼트결함(14a)과, 격벽(14)이 있어야 할 곳에 격벽(14)이 없는 오픈결함(14b)으로 구별된다.Meanwhile, the inspector may directly determine whether the partition is defective by looking at the image output unit 42. As shown in FIG. 1, the defect of the partition 14 includes a short defect 14a having the partition 14 where the partition 14 should not be located, and a partition 14 where the partition 14 should be located. It is distinguished by no open defect 14b.

상기 PDP 격벽(14)은 도 2에 도시된 바와 같이, 경사방향으로 조명(20)이 조사될 때, PDP 격벽(14)이 종방향으로 조명(20)을 받는 위치에 있게 되면 쇼트결함(14a)은 격벽(14)의 음영에 가려져 검출되지 않고, 오픈결함(14b)는 음영의 길이 변화가 생겨 검출되게 된다. As shown in FIG. 2, the PDP partition 14 is short-defected when the PDP partition 14 is in a position to receive the illumination 20 in the longitudinal direction when the illumination 20 is irradiated in the oblique direction. ) Is not covered by the shadow of the partition 14, and the open defect 14b is detected due to a change in the length of the shadow.

또한, 상기 PDP 격벽(14)는 도 3에 도시된 바와 같이, 경사방향으로 조명(20)이 조사될 때, PDP 격벽(14)이 횡방향으로 조명(20)을 받는 위치에 있게 되면 쇼트결함(14a)은 음영의 길이 변화에 의해 검출되나, 오픈결함(14b)는 음영의 길이 변화가 생기지 않게되어 검출되지 못하게 된다. In addition, as shown in FIG. 3, the PDP partition 14 is short-defected when the PDP partition 14 is in a position to receive the illumination 20 in the lateral direction when the illumination 20 is irradiated in the oblique direction. 14a is detected by the change in the length of the shadow, but the open defect 14b is not detected because the change in the length of the shadow does not occur.

도 4는 종래기술에 따른 경사조명에 의하여 형성된 PDP 격벽의 음영을 카메라로 촬상하였을 때, 영상출력부(42)에서 그래픽보드로 출력된 도면으로서, 결함이 형성되어 있어도 그 결함을 검출하기 어려운 영상이 출력되게 된다. FIG. 4 is a diagram outputted from the image output unit 42 to the graphics board when the shadow of the PDP partition wall formed by the inclined light according to the prior art is photographed by the camera, and it is difficult to detect the defect even when the defect is formed. Will be output.

또한, 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사방법은 도 5에 도시된 바와 같이 PDP 하판을 검사위치로 이송하는 제 1단계(45)와, 상기 격벽(14)에 경사조명을 조사하는 제 2단계(46)와, 조사된 광에 의하여 격벽의 이미지를 촬상하는 제 3단계(47)와, 촬상된 이미지의 영상신호를 그래픽보드(42a)에 출력하는 제 4단계(48)와, 제 4단계(48)에서 제시된 영상신호를 검사자가 제시한 정보와 비교하여 결함을 검출하는 제 5단계(49)로 구성된다. In addition, the inspection method of the PDP partition wall according to the prior art is the first step (45) for transferring the lower plate of the PDP to the inspection position, as shown in Figure 5 and the second step of irradiating the inclined light to the partition (14) ( 46, a third step 47 of capturing an image of the partition wall by the irradiated light, a fourth step 48 of outputting an image signal of the captured image to the graphic board 42a, and a fourth step ( And a fifth step 49 for detecting defects by comparing the image signal presented in 48) with the information presented by the inspector.

상기와 같이 구성된 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사 장치 및 그 방법의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the inspection apparatus and method of the PDP partition wall according to the prior art configured as described above are as follows.

상기 PDP 격벽(14)이 이송수단(11)에 의해 검사위치로 이송되고, 상기 조명(20)은 상기 PDP 하판(10)의 격벽(14)에 경사진 방향으로 광을 조사하게 되며, 광이 조사되면 상기 PDP하판(10)에는 격벽(14)으로 인해 음영이 형성된다. The PDP partition wall 14 is transported to the inspection position by the transfer means 11, the illumination 20 is irradiated with light in the direction inclined to the partition wall 14 of the PDP lower plate 10, the light is When irradiated, the PDP lower plate 10 is shaded by the partition 14.

PDP 하판에 형성된 카메라(30)로 촬상되고, 영상처리부(40)는 카메라(30)에서 촬상된 음영의 이미지를 영상신호를 출력하게 되며, 기 출력된 영상신호는 영상출력부(42)의 그래픽보드(42a)에 표시 된다. The image is captured by the camera 30 formed on the lower surface of the PDP, and the image processing unit 40 outputs an image signal of the image captured by the camera 30. The previously output image signal is a graphic of the image output unit 42. It is displayed on the board 42a.

여기서, 검사자는 피치비교를 통한 격벽(14)의 결함 검출을 위해 제어부에 이미지피치를 제공함으로써, 상기 결함검출부(44)는 서로 이웃한 이미지피치의 영상신호를 비교하여 격벽(14)의 결함을 검출하게 된다.Here, the inspector provides an image pitch to the controller to detect a defect of the partition 14 by pitch comparison, so that the defect detector 44 compares the image signals of the image pitches adjacent to each other to detect defects of the partition 14. Will be detected.

상기 제어부(44)는 그래픽보드에 출력된 영상신호와 검사자가 제시한 이미지피치의 비교를 통해 결함을 검출하게 된다.The controller 44 detects a defect by comparing the image signal output on the graphic board with the image pitch presented by the inspector.

한편, 상기 PDP 격벽(14)의 형상은 도 6a에 도시된 스트립 형상, 도 6b에 도시된 피시본(fish bone)형상이나, 도 6c에 도시된 웰(well)형상 등과 같이 그 형상이 다양화하고 있는 추세이다. On the other hand, the shape of the PDP partition wall 14 is varied in shape, such as the strip shape shown in Figure 6a, the fish bone shape shown in Figure 6b, the well shape shown in Figure 6c, etc. The trend is.

그러나, 종래 기술에서와 같이 경사진 방향에서 격벽을 가로질러 격벽에 횡방향 광을 조사하게 되면, 쇼트 결함은 격벽의 음영에 의하여 가려져 그 이미지가 촬상되기 어렵기 때문에 쇼트결함이 유출되고, 격벽을 경사진 방향으로 가로질러 격벽에 종방향 광을 조사하게 되면, 완만한 오픈 결함은 그림자가 생기지 않게되어 오픈결함이 유출되는 문제점이 있다. However, when the transverse light is irradiated to the partition wall across the partition wall in an inclined direction as in the prior art, a short defect is leaked because the short defect is covered by the shadow of the partition wall and the image is difficult to be picked up. When the longitudinal light is irradiated to the partition wall in the inclined direction, the gentle open defects do not cause shadows, and there is a problem that the open defects flow out.

또한, 이미지피치의 비교를 통해 결함이 검출될시, 검사자가 이미지피치를 입력하도록 하는데, 이때 검사자가 부정확한 피치를 입력하게 되면 과검출을 유발하게 되는 문제점이 있다. In addition, when a defect is detected through the comparison of the image pitch, the inspector inputs the image pitch. In this case, if the inspector inputs an incorrect pitch, there is a problem of causing overdetection.

본 발명은 상기한 종래기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, PDP에 형성된 격벽의 결함에 투과조명을 조사하여 보다 정확한 격벽의 이미지를 촬상하고, 정확한 이미지피치를 산출하여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 PDP 격벽의 검사장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to investigate the transmission light to the defects of the partition wall formed in the PDP to capture a more accurate image of the partition wall, calculate the accurate image pitch to improve the reliability of the inspection An object of the present invention is to provide an apparatus and method for inspecting a PDP partition wall.

상기의 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의 따른 PDP 격벽 검사 장치는, 격벽이 형성된 피검사기판을 향해 수직으로 빛을 조사하는 조명과, 상기 피검사기판을 기준으로 상기 조명과 반대방향에 설치되어 상기 피검사기판에 조사된 빛에 의해 생성되는 영상을 촬상하는 카메라와, 상기 카메라에서 촬상된 영상을 디지털화된 영상신호로 변환하는 영상 처리부와, 상기 영상신호를 입력받아 상기 수신된 영상 신호와 이웃한 이미지 피치의 영상신호와 비교하여 상기 피검사기판 격벽의 결함여부를 판단하는 결함검출부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다. The PDP bulkhead inspection apparatus according to the present invention for solving the above technical problem, the illumination to irradiate the light vertically toward the substrate to be formed with the partition wall, and is installed in the opposite direction to the illumination based on the substrate to be inspected. A camera for capturing an image generated by the light irradiated onto the substrate to be inspected, an image processing unit for converting the image captured by the camera into a digitized image signal, and receiving the image signal and receiving the received image signal and a neighbor And a defect detection unit for determining whether or not a defect is detected in the substrate partition wall compared with an image signal of one image pitch.

또한, 본 발명의 따른 PDP 격벽의 검사 방법은 격벽이 형성된 피검사기판에 수직하게 빛을 조사시키는 제1단계와, 상기 피검사기판에 조사된 빛에 의하여 생성되는 영상을 촬상하는 제2단계와, 상기 제2단계에서 촬상된 영상을 디지털화된 영상신호로 변환하는 제 3단계와, 상기 영상신호는 이웃한 피치의 영상신호와 비교하여 이웃한 피치의 영상신호보다 밝으면 오픈결함으로 판정하고 이웃한 피치의 영상신호보다 어두우면 쇼트결함으로 판정하는 제 4단계로 구성된 것을 특징으로 한다. In addition, the inspection method of the PDP partition wall according to the present invention includes a first step of irradiating light perpendicular to the substrate to be formed with the partition wall, and a second step of imaging the image generated by the light irradiated on the substrate to be inspected; And a third step of converting the image picked up in the second step into a digitized video signal, and when the video signal is brighter than the video signal of the neighboring pitch, the video signal is determined to be open defect. If it is darker than the video signal of one pitch, it is characterized by comprising a fourth step of determining that it is a short defect.

이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 6은 본 발명에 의한 PDP 격벽의 검사장치의 제 1실시 예가 도시된 구성도 이고, 도 7은 본 발명에 의한 PDP 격벽의 검사장치의 제 2 실시 예가 도시된 구성도이다. 6 is a configuration diagram showing a first embodiment of the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the present invention, Figure 7 is a configuration diagram showing a second embodiment of the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the present invention.

본 실시 예에 따른 PDP 격벽(52)의 검사장치는 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 격벽(52)이 형성된 PDP 하판(50)과, 로울러(60a)와 컨베이어벨트(60b)로 구성되어 상기 PDP 하판(50)을 이송하는 이송수단(60)과, 상기 PDP 하판(50)에 대하여 수직방향으로 상측 혹은 하측에 위치되어 상기 PDP 하판(50)에 수직방향으로 광을 조사시키는 조명(70)과, 상기 조명(70)과 PDP 하판(50)을 기준으로 반대되는 위치에 설치되어 상기 조명(70)으로부터 조사된 광에 의하여 생성된 상기 PDP 하판(50)의 영상을 촬상하는 카메라(80)와, 상기 카메라(80)로부터 촬상된 영상을 디지털화된 영상신호로 변환하는 영상처리부(90)와, 상기 영상신호를 그래픽보드에 출력하는 영상출력부(92)와, 상기 영상처리부(90)로부터 출력된 연속적인 영상신호를 비교하여 격벽의 결함을 검사하는 결함검출부(100)를 포함하여 구성된다. As shown in FIGS. 7 and 8, the inspection apparatus of the PDP partition wall 52 according to the present embodiment includes a PDP lower plate 50 having the partition wall 52 formed thereon, a roller 60a, and a conveyor belt 60b. And a transport means 60 for transporting the PDP lower plate 50, and an upper side or a lower side perpendicular to the PDP lower plate 50 to irradiate light in the vertical direction to the PDP lower plate 50 ( 70 and a camera installed at a position opposite to the illumination 70 and the PDP lower plate 50 to capture an image of the PDP lower plate 50 generated by the light emitted from the illumination 70 ( 80, an image processing unit 90 for converting an image captured by the camera 80 into a digitized image signal, an image output unit 92 for outputting the image signal to a graphics board, and the image processing unit 90 The defect detection unit 100 for comparing the continuous video signal output from the It is configured to include.

상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 PDP 격벽의 검사장치는, 로울러(60a)와 컨베이어벨트(60b)로 구성된 이송수단(60)에 의하여 PDP 하판(50)을 소정의 피치 간격 만큼 수평이동 시키면서 조명(70)으로부터 조사된 광에 의하여 PDP 하판(50)에 생성되는 영상을 카메라(80)로 촬상하여 격벽(52)의 결함여부를 검사하게 된다. In the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the present invention configured as described above, while the horizontal movement of the PDP lower plate 50 by a predetermined pitch interval by the transport means (60) consisting of a roller (60a) and a conveyor belt (60b) The image generated on the PDP lower plate 50 by the light irradiated from 70 is captured by the camera 80 to inspect whether the partition 52 is defective.

한편, 상기에서 PDP 하판(50)을 이송시키지 않고, 상기 조명(70)과 카메라(80)를 이송시키면서 격벽(52)의 결함을 검사할 수도 있다. Meanwhile, the defect of the partition wall 52 may be inspected while the illumination 70 and the camera 80 are transferred without transferring the PDP lower plate 50.

도 9a은 본 발명에 따른 PDP 격벽의 검사장치에 의해 촬상된 격벽의 오픈 결함이 표현된 영상이고, 도 9b는 본 발명에 따른 PDP 격벽의 검사장치에 의해 촬상된 격벽의 쇼트 결함이 표현된 영상이다. 9A is an image in which an open defect of a partition photographed by the inspection apparatus of the PDP bulkhead according to the present invention is expressed, and FIG. 9B is an image in which a short defect of the partition photographed by the inspection device of the PDP partition wall according to the present invention is expressed. to be.

이를 종래 기술에 따른 영상과 비교하여 보면, 종래의 PDP 격벽(52)의 검사장치에서와 같이 경사 조명을 사용할 때에는 도 4에서와 같이, 결함 부분에 밝은 부분과 어두운 부분이 같이 존재하여 오픈결함(14b)과 쇼트결함(14a)의 결함여부 및 결함의 유형이 잘 판별되지 않지만, 본 발명에 의한 PDP 격벽(52)의 검사장치에서와 같이 투과조명을 사용하는 경우에는 오픈결함(52b)은 결함부분이 밝게 나타나고 쇼트결함(52a)은 결함부분이 어둡게 나타나므로 결함의 여부 및 결함의 여부를 정확하게 검출할 수 있다. Compared with the image according to the prior art, when using the inclined light as in the inspection apparatus of the conventional PDP partition wall 52, as shown in Figure 4, as shown in Fig. 14b) and the short defect 14a are not well distinguished, and the type of the defect is not well determined, but in the case of using the transmissive lighting as in the inspection apparatus of the PDP partition wall 52 according to the present invention, the open defect 52b is a defect. Since the part appears bright and the short defect 52a shows the defect part dark, the presence or absence of a defect can be detected correctly.

따라서, 본 발명에 의한 PDP 격벽(52)의 검사장치를 사용함으로써 격벽(52)의 다양한 형상에 관계없이 PDP 격벽(52)의 결함을 검출할 수 있을 뿐만 아니라, 오픈 결함과 쇼트 결함을 구분할 수 있으므로 공정개선을 위해 보다 정확한 정보를 제공할 수 있다.Therefore, by using the inspection apparatus of the PDP partition wall 52 according to the present invention, not only the defects of the PDP partition wall 52 can be detected regardless of various shapes of the partition wall 52, but also the open and short defects can be distinguished. Therefore, more accurate information can be provided for process improvement.

도 10은 본 발명에 따른 PDP 격벽의 검사방법이 도시된 순서도이고, 도 11,12는 본 발명에 따른 이미지피치 산출을 위한 알고리즘을 설명하기 위한 제 1, 2도면이다. 10 is a flowchart illustrating a method of inspecting a PDP partition wall according to the present invention, and FIGS. 11 and 12 are first and second views for explaining an algorithm for calculating an image pitch according to the present invention.

본 발명에 따른 PDP 격벽의 검사방법은 도 10에 도시된 바와 같이, 격벽이 형성된 피검사기판을 이미지 피치 간격만큼 이송시키면서 상기 피검사기판에 수직하게 빛을 조사시키는 제1단계(95)와, 조사된 빛에 의하여 상기 피검사기판에 생성되는 이미지를 촬상하는 제2단계(96)와, 상기 제2단계(96)에서 촬상된 이미지를 디지털화된 영상신호로 변환하는 제3단계(97)와, 상기 영상신호를 연속적으로 비교하여 이미지피치를 산출하는 제 5단계(98)와, 상기 제5단계에서 산출된 이미지의 영상신호를 이웃한 이미지피치의 영상신호와 비교분석하여 결함을 검출하는 제6단계(99)로 구성된다. As shown in FIG. 10, the inspection method of the PDP partition wall according to the present invention includes a first step 95 of irradiating light perpendicular to the inspected substrate while transferring the inspected substrate on which the partition is formed by an image pitch interval; A second step (96) of capturing an image generated on the test target substrate by the irradiated light; a third step (97) of converting the image captured in the second step (96) into a digitized video signal; And a fifth step (98) of continuously comparing the video signals to calculate an image pitch, and comparing and analyzing a video signal of the image calculated in the fifth step with a video signal of a neighboring image pitch to detect defects. It consists of six steps (99).

여기서, 제어부는 정확한 이미지피치를 산출해 내기위해 알고리즘을 사용하게 되는데 그 알고리즘을 설명하면 다음과 같다. Here, the controller uses an algorithm to calculate an accurate image pitch. The algorithm will be described below.

사용자가 피치(격벽 사이의 간격;이하 "피치"라 함)가 존재하리라고 예상하는 피치 범위의 시작점피치와 종료점피치를 입력하면, 제어부는 시작점 피치와 종료점 피치사이의 임의의 피치를 이미지피치로 정하고 하기정의된 (식-1)와 (식-2)를 이용하여 실제피치와 일치하는 정확한 이미지피치를 구할 수 있다. When the user inputs a start point pitch and an end point pitch of a pitch range in which a pitch (gap between partitions, hereinafter referred to as "pitch") is expected to be present, the controller sets an arbitrary pitch between the start point pitch and the end point pitch as the image pitch. Equations (1) and (-2) defined below can be used to obtain an accurate image pitch that matches the actual pitch.

상기 (식-1)에 표현된 x 방향의 이미지피치를 산출하는 방법은 도 11을 참조하여 설명하면 다음과 같다. A method of calculating the image pitch in the x direction expressed in Equation (1) will be described below with reference to FIG. 11.

기준점(a1)과 상기 기준점(a1)으로부터 가로방향으로 제어부가 지정한 이미지 피치(iPitch1) 만큼의 간격을 두고 떨어진 지점(b1)간 이미지 밝기의 차이(A1)를 구하고, 다시 상기 지점(b1)를 기준점으로 잡은후 상기 이미지 피치만큼의 간격을 두고 떨어진 지점(c1)간 이미지밝기의 차이(A2)를 구하고, 상기 방식으로 (c1)과 상기 이미지 피치만큼 떨어져 있는 (d1)과의 이미지 밝기 차이(A3)를 구하는 방식으로 진행한다. 상기 방식으로 구해진 이미지 밝기 차이값(A1,A2,A3...)들을 합산한다. The difference between the brightness of the image A1 between the reference point a1 and the point b1 spaced apart from the reference point a1 by the image pitch iPitch1 specified by the controller in the horizontal direction is obtained, and the point b1 is again obtained. The difference in image brightness A2 between points c1 spaced apart by the image pitch after being taken as a reference point is obtained, and the image brightness difference between (c1) and (d1) spaced apart by the image pitch in this manner ( Proceed to A3). The image brightness difference values A1, A2, A3 ... obtained in this manner are summed.

또한, 상기 제어부는 도 12에서 도시한 바와 같이 상기 방식으로 비교를 위해 초기값(a1)은 유지하고 제어부가 지정해주는 상기 이미지 피치와 값이 다른 이미지 피치(iPitch2)를 이용하여 지점(b2)와의 이미지 밝기 차이(B1)를 구하게 된다. In addition, as shown in FIG. 12, the controller maintains the initial value a1 for comparison in the above manner and uses the image pitch iPitch2 different from the image pitch iPitch2 designated by the controller. The image brightness difference B1 is obtained.

상기 합들은 이미지피치를 변화시킴으로써 그 크기가 달라지는데 그 크기의 합이 최소가 되는 지점의 이미지 피치가 정확한 격벽의 실제피치에 해당되는 이미지피치로 설정된다. The sums are changed in size by changing the image pitch, and the image pitch at the point where the sum of the sizes becomes the minimum is set to the image pitch corresponding to the actual pitch of the exact partition wall.

같은 방법으로 y 방향에 대한 정확한 이미지 피치가 상기의 (식-2)에 의하여 구해지게 된다. In the same way, the exact image pitch for the y direction is obtained by the above equation (2).

[식-1] A= |I(x,y) - I(x+이미지피치,y)| A = | I (x, y)-I (x + image pitch, y) |

[식-2] B= |I(x,y) - I(x,y+이미지피치)| Equation-2 B = I (x, y) -I (x, y + image pitch) |

단, 상기에서 I(x,y)는 이미지 (x,y) 위치에서의 이미지 밝기이고, 피치가 시작점 피치와 종료점 피치 사이에 존재한다고 주어졌을 때 이미지피치(iPitch)는 시작점피치보다 크거나 같고 종료점 피치보다 작거나 같다. Where I (x, y) is the image brightness at the image (x, y) position and the image pitch (iPitch) is greater than or equal to the starting point pitch given that the pitch exists between the starting point pitch and the ending point pitch Is less than or equal to the endpoint pitch.

상기와 같이 구성되는 본 발명에 의한 PDP 격벽의 검사 장치 및 그 방법은 투과 조명을 PDP 하판에 수직하게 조사하여 카메라에 촬상함으로써 PDP 격벽의 결함모양과는 무관하게 격벽의 결함을 검출할 수 있다.The inspection apparatus and method of the PDP partition wall according to the present invention configured as described above can detect defects in the partition wall irrespective of the defect shape of the PDP partition wall by irradiating the illumination to the PDP lower plate perpendicularly to the camera.

또한, 상기 제어부는 검사자의 부정확한 피치입력으로 인한 피치를 자동으로 정확하게 산출하여 검사를 수행함으로써 검사의 신뢰성을 향상시키고 검사 장치를 보다 편리하게 사용할 수 있는 이점을 가지고 있다.In addition, the control unit has an advantage of improving the reliability of the inspection and using the inspection apparatus more conveniently by automatically calculating the pitch due to the incorrect pitch input of the inspector to perform the inspection.

도 1은 PDP 격벽의 결함이 도시된 사시도, 1 is a perspective view showing a defect of the PDP partition wall,

도 2는 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사장치 일 예가 도시된 사시도,Figure 2 is a perspective view showing an example of the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the prior art,

도 3은 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사장치 다른 예가 도시된 사시도,3 is a perspective view showing another example of the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the prior art,

도 4는 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사장치로 결함을 촬상한 도면,4 is a view of imaging a defect with the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the prior art,

도 5는 종래 기술에 따른 PDP 격벽의 검사방법이 도시된 순서도,5 is a flowchart illustrating a method of inspecting a PDP partition wall according to the prior art;

도 6은 PDP 하판 격벽의 종류에 따른 형태가 도시된 평면도,6 is a plan view showing the form according to the type of PDP lower plate partition wall,

도 7은 본 발명에 의한 PDP 격벽의 검사장치 제 1실시 예가 도시된 구성도,7 is a configuration diagram showing a first embodiment of the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the present invention;

도 8은 본 발명에 의한 PDP 격벽의 검사장치 제 2실시 예가 도시된 구성도,8 is a block diagram showing a second embodiment of the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the present invention;

도 9는 본 발명에 따른 PDP 격벽의 검사장치에 의해 촬상된 격벽의 결함이 도시된 도면,9 is a view showing a defect of a partition filmed by the inspection apparatus of the PDP partition wall according to the present invention,

도 10은 본 발명에 따른 PDP 격벽의 검사방법이 도시된 순서도,10 is a flowchart illustrating a method of inspecting a PDP partition wall according to the present invention;

도 11은 본 발명에 따른 이미지피치 산출을 위한 알고리즘을 설명하기 위한 제 1도면, 11 is a first view for explaining an algorithm for calculating an image pitch according to the present invention;

도 12는 본 발명에 따른 이미지피치 산출을 위한 알고리즘을 설명하기 위한 제 2도면이다.12 is a second diagram for explaining an algorithm for calculating an image pitch according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

50 : PDP 하판 52 : 격벽 50: PDP lower plate 52: bulkhead

52a: 오픈 결함 52b: 쇼트 결함52a: open defect 52b: short defect

60 : 이송수단 60a: 모터60: transfer means 60a: motor

60b: 컨베이어벨트 70: 조명 60b: conveyor belt 70: lighting

80 : 카메라 90 : 영상처리부80: camera 90: image processing unit

92 : 영상출력부 100: 제어부 92: image output unit 100: control unit

Claims (7)

격벽이 형성된 피검사기판을 향해 수직으로 빛을 조사하는 조명과;An illumination for irradiating light vertically toward the test target substrate on which the partition wall is formed; 상기 피검사기판을 기준으로 상기 조명과 반대방향에 설치되어 상기 피검사기판에 조사된 빛에 의해 생성되는 영상을 촬상하는 카메라와;A camera installed in a direction opposite to the illumination on the basis of the substrate to be imaged to capture an image generated by light irradiated onto the substrate to be inspected; 상기 카메라에서 촬상된 영상을 디지털화된 영상신호로 변환하는 영상 처리부와;An image processor for converting an image captured by the camera into a digitized image signal; 상기 영상신호를 입력받아 상기 수신된 영상 신호와 이웃한 이미지 피치의 영상신호와 비교하여 상기 피검사기판 격벽의 결함여부를 판단하는 결함검출부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사장치.And a defect detector which receives the image signal and compares the received image signal with an image signal of a neighboring image pitch to determine whether the substrate barrier wall is defective. . 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조명은 빛이 상기 피검사기판에 수직방향으로 조사되도록 상기 피검사기판에 하측에 설치되고, 상기 카메라는 상기 피검사기판의 상측에 설치된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사장치.And the illumination is provided below the substrate to be irradiated with light in a vertical direction to the substrate to be inspected, and the camera is installed above the substrate to be inspected. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조명은 빛이 상기 피검사기판에 수직방향으로 조사되도록 상기 피검사기판의 상측에 설치되고, 상기 카메라는 상기 피검사기판의 하측에 설치된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사장치.And the illumination is installed above the substrate to be irradiated with light perpendicular to the substrate to be inspected, and the camera is installed below the substrate to be inspected. 소정의 이미지 피치간격 만큼 격벽이 형성된 피검사기판을 이송시키면서 상기 피검사기판에 수직방향으로 빛을 조사시키는 제1단계와; A first step of irradiating light to the inspected substrate in a vertical direction while transferring the inspected substrate on which the partition wall is formed by a predetermined image pitch interval; 상기 피검사기판에 조사된 빛에 의하여 생성되는 영상을 촬상하는 제2단계와; A second step of capturing an image generated by light irradiated onto the substrate to be inspected; 상기 제2단계에서 촬상된 영상을 디지털화된 영상신호로 변환하는 제 3단계와;A third step of converting the image picked up in the second step into a digitized video signal; 상기 영상신호를 입력받아 소정의 이미지 피치를 산출하는 제4단계와;A fourth step of receiving the video signal and calculating a predetermined image pitch; 이웃한 이미지피치의 영상신호를 비교 분석하여 결함을 검출하는 제 5단계로 구성된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사방법.And a fifth step of detecting defects by comparing and analyzing image signals of neighboring image pitches. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 소정의 이미지피치를 산출하는 단계는, 다음의 (식-1) 및 (식-2)와 같이 x 또는 y를 임의의 이미지 피치 간격만큼 변화시키고 임의의 이미지피치에서의 이미지 밝기 차이인 A 및 B의 합을 구하여, 상기의 A 및 B의 합이 최소가 되는 때의 이미지피치를 소정의 이미지 피치로 산출하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사방법.The calculating of the predetermined image pitch may be performed by changing x or y by an arbitrary image pitch interval, as shown in Equation-1 and Equation-2, and A, which is an image brightness difference at any image pitch. A method for inspecting a plasma display panel partition wall, wherein the sum of B is calculated to calculate an image pitch when the sum of A and B is minimum. (식-1) A= | I(x,y) - I(x+이미지피치,y)| (Equation-1) A = | I (x, y)-I (x + image pitch, y) | (식-2) B= | I(x,y) - I(x,y+이미지피치)| (Equation-2) B = | I (x, y)-I (x, y + image pitch) | 단, 상기에서 I(x,y)는 이미지 (x,y) 위치에서의 이미지 밝기이고, I(x+이미지피치,y)는 x방향으로 1이미지피치 이동된 위치에서의 이미지 밝기이며, I(x,y+이미지피치)는 y방향으로 1이미지 피치 이동된 위치에서의 이미지 밝기임.Where I (x, y) is the image brightness at the image (x, y) position, and I (x + image pitch, y) is the image brightness at the position moved by one image pitch in the x direction, x, y + image pitch) is the image brightness at the position shifted by one image in the y direction. 제 4항 또는 5항에 있어서,The method according to claim 4 or 5, 상기 피검사기판의 검사방법은 이웃한 소정의 이미지피치의 영상신호를 비교하여 피검사기판의 격벽의 결함여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사방법. The method of inspecting a substrate to be inspected is a method of inspecting a plasma display panel partition wall, by comparing an image signal of an adjacent predetermined image pitch to determine whether a partition of a substrate to be inspected is defective. 제 6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사방법은 소정의 이미지피치의 이미지 밝기가 이웃한 이미지피치의 이미지 밝기보다 밝으면 그 결함을 오픈결함, 어두우면 쇼트결함이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽의 검사방법.In the method of inspecting the plasma display panel partition wall, if the image brightness of the predetermined image pitch is lighter than the image brightness of the neighboring image pitch, the defect is determined to be an open defect, or the dark display is a short defect. Way.
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