KR100523003B1 - Epoxy resin composition for sealing semiconductor element - Google Patents
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Abstract
본 발명은 펠렛 성형이 용이한 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 관한 것으로, 좀 더 상세하게는 100중량부의 에폭시 수지, 상기 에폭시 수지 중의 에폭시기 1당량에 대하여 0.5∼1.5당량의 페놀성 히드록시기를 함유하는 페놀 수지, 0.5∼5중량부의 실리콘 탄성체, 0.5∼5중량부의 첨가제 및 상기 수지 조성물 전체에 대하여 70∼90중량%의 충진제를 포함하는 펠렛 성형이 용이한 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 탄성체를 사용하여 내충격성을 높임으로써 펠렛 깨짐을 방지하고 스크래치 유발을 억제하여 타정깨짐으로 인한 불량성을 해결하고, 이에 따른 이송 및 취급 개선을 통해 안정적인 공급이 가능하여 생산효율을 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라, 부가적으로 잉크 마킹의 개선효과를 얻을 수 있는 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물을 제공할 수 있다. The present invention relates to an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation that can be easily formed into pellets. More specifically, the present invention relates to 100 parts by weight of an epoxy resin and a phenol containing 0.5 to 1.5 equivalents of phenolic hydroxyl groups based on 1 equivalent of an epoxy group in the epoxy resin. It is related with the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation which is easy to shape | mold pellets containing resin, 0.5-5 weight part silicone elastic body, 0.5-5 weight part additive, and 70-90 weight% filler with respect to the said whole resin composition. According to the present invention, by using an elastic body to increase the impact resistance to prevent cracking of the pellets and to prevent scratches to solve the defects caused by the tableting cracking, it is possible to provide a stable supply through improved transport and handling, thereby improving production efficiency In addition, it is possible to provide an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation that can additionally obtain an effect of improving ink marking.
Description
본 발명은 펠렛 성형이 용이한 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 관한 것으로, 좀 더 상세하게는 탄성체를 사용하여 펠렛 깨짐을 방지하고 스크래치 유발을 억제할 뿐만 아니라 내충격성이 향상되어 펠렛 성형이 용이한 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 관한 것이다. The present invention relates to an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation that is easy to mold pellets, and more particularly, to prevent cracking of a pellet and to prevent scratches by using an elastic body, and to improve impact resistance and to facilitate pellet molding. It relates to the epoxy resin composition for sealing.
종래에는 집적회로, 고집적 회로 및 발광 다이오드와 같은 전자 부품의 밀봉시 세라믹, 유리 또는 금속 등을 이용한 기밀봉지 방식이 사용되어 왔으나, 가격이 비싸고 대량생산에 적합하지 못하여 근래에는 비용이 저렴하고 대량생산이 가능한 수지 봉지 방식이 보편적으로 사용되고 있다. 특히 에폭시 수지는 전기 절연성, 기계적 특성, 내열성 및 내습성 등이 다른 수지보다 월등히 우수하기 때문에 높은 신뢰성이 요구되는 전기 전자 부품 또는 반도체 장치의 밀봉에 널리 이용되고 있다.Conventionally, hermetic sealing methods using ceramics, glass or metals have been used to seal electronic components such as integrated circuits, integrated circuits, and light emitting diodes, but they are expensive and not suitable for mass production. This possible resin encapsulation method is commonly used. In particular, epoxy resins are widely used for sealing electrical and electronic components or semiconductor devices requiring high reliability because they have superior electrical insulation, mechanical properties, heat resistance, and moisture resistance than other resins.
최근에는 반도체 소자의 집적도가 증가함에 따라 반도체 칩의 크기가 대형화되고 있는 반면, 표면실장형 팩키지의 확산과 더불어 소형화 및 박형화가 이루어지고 있다. 이러한 반도체 소자의 표면 실장시 고온의 열이 가해지므로 내부응력이 발생할 수 있으며, 또한 팩키지 보관 중에 외부로부터 흡수된 수분의 기화 팽창으로 수지 조성물과 리드프레임(Leadframe) 및 다이패들(Die Paddle) 간의 박리로 인하여 내습성이 저하될 수 있고, 더욱 심한 경우에는 팩키지 크랙을 초래할 수 있다. 특히 칩과 수지 조성물간의 박리는 칩상에 부착된 본드와이어의 절단을 초래할 수 있어 심각한 문제점으로 대두되고 있다. 이와 같은 불량성을 방지하기 위하여 반도체 업체에서는 방습곤포 등의 엄격한 습도 관리를 함으로써 대처하고 있으나 한편 봉지제에도 박리 및 팩키지 크랙이 발생하지 않는 품질이 강하게 요구되고 있다.In recent years, as the degree of integration of semiconductor devices increases, the size of a semiconductor chip has been increased, while miniaturization and thickness have been achieved along with the proliferation of surface-mount packages. Internal stress may occur when high temperature heat is applied during surface mounting of such a semiconductor device, and also due to vaporization and expansion of moisture absorbed from the outside during package storage, between the resin composition, the leadframe, and the die paddle. Peeling may reduce moisture resistance, and in more severe cases, may cause package cracks. In particular, peeling between the chip and the resin composition may cause cutting of the bond wire attached on the chip, which is a serious problem. In order to prevent such defects, semiconductor companies are dealing with strict humidity control such as moisture-proof bales, but on the other hand, a quality that does not cause peeling and package cracking in the encapsulant is strongly required.
한편, 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물로 반도체 칩을 자동화 장비에서 몰딩시 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물의 펠렛은 자동화된 운반장치에 의해 몰딩할 케버티의 포트에 위치하게 된다. 이 때, 불량한 펠렛은 이러한 자동 운반장치에 의한 포트로의 이송시 센서에 감지되어 분리된다. 그러나, 펠렛이 심하게 깨져 있는 경우에는 센서가 이를 감지하여 불량한 펠렛을 분리할 수 있지만, 심하게 깨어져 있지 않는 경우에는 센서가 이를 감지하지 못하고 몰딩이 진행되어 무게 손실에 의한 미충진 불량이 발생된다.On the other hand, when molding a semiconductor chip with an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation in an automated equipment, the pellet of the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation is located in the port of the cavities to be molded by the automated conveying device. At this time, the poor pellets are sensed and separated by the sensor upon transfer to the port by this automatic transport device. However, if the pellets are severely broken, the sensor can detect them and separate the poor pellets. If the pellets are not severely broken, the sensor does not detect them and molding is performed, resulting in unfilled defects due to weight loss.
따라서, 상술한 펠렛 작업 공정 및 운반 과정에서 발생되는 펠렛의 깨짐 문제를 해결하기 위하여, 종래의 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물은 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 왁스 또는 징크라이트를 도입하여 사용하였다. 그러나, 왁스를 적용할 경우에는 타정머신 및 반도체 봉지용 수지 조성물과의 이형성을 주어 펠렛이 깨지는 문제를 해결할 수 있지만, 크랙이 발생하여 신뢰성 측면에서 취약한 문제점이 있으며, 또한 징크스테아레이트는 펠렛 개선에 영향을 미치지 못하여 현재는 널리 적용되지 않고 있는 실정이다. Therefore, in order to solve the problem of cracking of the pellets generated in the above-described pellet working process and transport process, the conventional epoxy resin composition for semiconductor encapsulation was used by introducing wax or zincite into the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation. However, when the wax is applied, it can solve the problem of breaking the pellets by giving release property with the tableting machine and the resin composition for semiconductor encapsulation, but there is a problem that cracks are vulnerable in terms of reliability. The situation is not widely applied at present.
이에 본 발명에서는 전술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 연구를 거듭한 결과, 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 탄성체를 적용함으로써 타정시 실리카 및 실리카 바인더로 작용하는 수지와의 압착에 의한 스트레스를 해소시켜 펠렛이 깨지는 문제를 해결하고, 탄성체의 유연한 성질에 기인하여 타정 후 펠렛의 스크래치를 없애는 작용을 하는 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물을 얻을 수 있었으며, 본 발명은 이에 기초하여 완성되었다. Accordingly, in the present invention, as a result of repeated studies to solve the problems described above, by applying an elastomer to the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation, the stress caused by the compression of the silica and the resin acting as a silica binder during the tableting to eliminate the pellets This cracking problem was solved and the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation which functions to remove the scratch of a pellet after tableting due to the flexible property of an elastic body was obtained, and this invention was completed based on this.
따라서, 본 발명의 목적은 내충격성을 높여 펠렛 깨짐을 방지하고 스크래치 유발을 억제하여 타정깨짐으로 인한 불량성을 해결하고, 생산효율을 향상시킨 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물을 제공하는데 있다. Accordingly, an object of the present invention is to provide an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation, which has improved impact resistance, prevents cracking of pellets, suppresses scratching, and solves defects caused by tableting, and improves production efficiency.
본 발명의 다른 목적은 잉크 마킹 개선효과를 얻을 수 있는 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물을 제공하는데 있다. Another object of the present invention is to provide an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation which can obtain an ink marking improvement effect.
상기 목적 및 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 조성물은 100중량부의 에폭시 수지, 상기 에폭시 수지 중의 에폭시기 1당량에 대하여 0.5∼1.5당량의 페놀성 히드록시기를 함유하는 페놀 수지, 0.5∼5중량부의 실리콘 탄성체, 0.5∼5중량부의 첨가제 및 상기 수지 조성물 전체에 대하여 70∼90중량%의 충진제를 포함한다. Compositions of the present invention for achieving the above and other objects are 100 parts by weight of an epoxy resin, a phenol resin containing 0.5 to 1.5 equivalents of phenolic hydroxy groups relative to 1 equivalent of an epoxy group in the epoxy resin, 0.5 to 5 parts by weight of a silicone elastomer , 0.5 to 5 parts by weight of an additive and 70 to 90% by weight of a filler based on the entire resin composition.
이하 본 발명을 좀 더 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail.
전술한 바와 같이, 본 발명은 모든 정형화된 펠렛을 요구하는 영역에서 탄성체를 적용함으로써 펠렛 깨짐을 방지하고 스크래치 유발을 억제하며 내충격성을 향상시킬 수 있는 펠렛 성형이 용이한 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 관한 것이다. As described above, the present invention is applied to an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation that can be easily formed into a pellet that can prevent cracking of the pellets, suppress scratches, and improve impact resistance by applying an elastic body in a region requiring all standardized pellets. It is about.
본 발명에 따르면, 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 탄성체를 적용하여 내충격성을 높임으로써 타정깨짐으로 인한 불량성을 해결하고, 이에 따른 이송 및 취급 개선을 통해 생산효율을 향상시킬 수 있다.According to the present invention, by applying an elastic body to the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation to increase the impact resistance, it is possible to solve the defects caused by the tableting broken, thereby improving the production efficiency through improved transport and handling.
또한, 본 발명에 따르면 탄성체를 적용한 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물의 펠렛으로 잉크 마킹시 탄성체는 잉크 접착제와의 접착력을 향상시킬 뿐만 아니라, 잉크접착제 및 반도체 봉지용 수지 조성물과의 선명도도 높여주어 마킹 개선 효과를 얻을 수 있다.In addition, according to the present invention, when the ink is marked with a pellet of the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation to which the elastic body is applied, the elastic body not only improves adhesion to the ink adhesive, but also improves sharpness with the ink adhesive and the resin composition for semiconductor encapsulation. The effect can be obtained.
본 발명의 에폭시 수지 조성물은 100중량부의 에폭시 수지, 상기 에폭시 수지 중의 에폭시기 1당량에 대하여 0.5∼1.5당량의 페놀성 히드록시기를 함유하는 페놀 수지, 0.5∼5중량부의 실리콘 탄성체, 0.5∼5중량부의 첨가제 및 상기 수지 조성물 전체에 대하여 70∼90중량%의 충진제를 포함한다. The epoxy resin composition of this invention is a 100 weight part epoxy resin, the phenol resin containing 0.5-1.5 equivalent phenolic hydroxyl group with respect to 1 equivalent of epoxy groups in the said epoxy resin, 0.5-5 weight part silicone elastomer, 0.5-5 weight part additive And 70 to 90% by weight of a filler based on the entire resin composition.
본 발명에 사용가능한 에폭시 수지로는 비스페놀 A형 에폭시 수지, 지환형 에폭시 수지, 선형 지방족 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 선형 지방족 에폭시 수지, 복소환계 에폭시 수지, 및 할로겐화 에폭시 수지 등의 1분자 중에 에폭시기를 2개 이상 함유하는 수지가 포함된다. 본 발명에 따르면, 상기 에폭시 중 하나를 선택하여 단독으로 사용하거나, 또는 2개 이상 선택하여 함께 사용할 수 있으며, 사용되는 에폭시 수지 전체 중 0.1∼1.3poise를 갖는 저점도형의 비페닐형 에폭시 10∼30%를 필수적으로 사용해야 한다. 이 때, 상기 비페닐형 에폭시의 점도가 0.1poise 미만이면 작업성에 문제가 있고, 1.3poise를 초과하면 조성물간의 결합력이 약화될 수 있다. 또한, 전체 에폭시 수지 중 상기 비페닐형 에폭시의 사용량이 10% 미만이면 사용시 충분한 결합력을 기대할 수 없으며, 30%를 초과하면 경제성이 없다. Epoxy resins usable in the present invention include bisphenol A epoxy resins, alicyclic epoxy resins, linear aliphatic epoxy resins, cresol novolac epoxy resins, biphenyl epoxy resins, cresol novolac epoxy resins, linear aliphatic epoxy resins, Resin containing two or more epoxy groups is contained in 1 molecule, such as a heterocyclic epoxy resin and a halogenated epoxy resin. According to the present invention, one of the above-mentioned epoxy may be used alone or two or more may be selected and used together, and a low viscosity biphenyl epoxy 10-30 having 0.1-1.3 poise in the whole epoxy resin used. % Must be used. At this time, when the viscosity of the biphenyl-type epoxy is less than 0.1 poise, there is a problem in workability, and when the viscosity of more than 1.3 poise may cause a weakening of the bonding strength between the compositions. In addition, when the amount of the biphenyl-type epoxy of the total epoxy resin is less than 10%, sufficient bonding strength cannot be expected when used, and if it exceeds 30%, it is not economical.
또한, 상기 페놀 수지는 상기 에폭시 수지 성분의 경화제로서 작용하며, 본 발명에 사용가능한 페놀 수지로는 특별하게 제한되는 것은 아니지만, 예를 들어 페놀 노볼락 수지, 레졸형 페놀 수지, 비스페놀 A 수지, 크레졸 노볼락 수지, 페놀 알킬 수지, 노닐 페놀 수지, t-부틸 페놀 노볼락 수지, 및 디 사이클로 펜타 다이엔 페놀 수지 등의 1분자 중 페놀성 OH기를 2종 이상 함유하는 수지가 포함된다. 본 발명에 따르면 상기 페놀 수지 중 하나를 선택하여 단독으로 사용하거나, 또는 2개 이상 선택하여 함께 사용할 수 있다. 이 때, 상기 페놀 수지의 사용량은 상기 에폭시 수지 중의 에폭시기 1당량에 대하여 페놀성 히드록시기가 0.5∼1.5당량, 바람직하게는 0.9∼1.1당량이 되도록 조절하는 것이 좋으며, 상기 페놀 수지의 사용량이 상기 범위를 벗어날 경우 에폭시 수지 조성물의 경도 저하로 인하여 경화도가 느려져 금형이형에 문제가 발생될 수 있다.In addition, the phenol resin acts as a curing agent of the epoxy resin component, and is not particularly limited as a phenol resin usable in the present invention, for example, phenol novolak resin, resol type phenol resin, bisphenol A resin, cresol Resin which contains 2 or more types of phenolic OH groups in 1 molecule, such as a novolak resin, a phenol alkyl resin, a nonyl phenol resin, t-butyl phenol novolak resin, and a dicyclo pentadiene phenol resin, is contained. According to the present invention, one of the phenol resins may be selected and used alone, or two or more may be selected and used together. In this case, the amount of the phenol resin to be used is preferably adjusted so that the phenolic hydroxyl group is 0.5 to 1.5 equivalents, preferably 0.9 to 1.1 equivalents to 1 equivalent of the epoxy group in the epoxy resin, and the amount of the phenol resin used is within the above range. In case of deviation, the hardness of the epoxy resin composition may be lowered, thereby causing a problem in mold release.
본 발명에 사용가능한 실리콘 탄성체는 실리콘 러버 파우더, 실리콘 겔 파우더, 또는 이의 혼합물을 사용할 수 있다. 한편, 상기 실리콘 탄성체는 평균 분말 크기는 1∼20㎛, 바람직하게는 3∼7㎛인 것이 좋으며, 이 때 상기 분말 크기가 1㎛ 미만이면 펠렛의 충분한 탄성효과를 기대할 수 없고, 20㎛를 초과하면 반도체 에폭시수지 조성물의 성형성을 저하시킨다. Silicone elastomers usable in the present invention may use silicone rubber powder, silicone gel powder, or mixtures thereof. On the other hand, the silicone elastomer preferably has an average powder size of 1 to 20 μm, preferably 3 to 7 μm, and when the powder size is less than 1 μm, a sufficient elastic effect of the pellet cannot be expected and exceeds 20 μm. The lower surface reduces the moldability of the semiconductor epoxy resin composition.
한편, 상기 실리콘 탄성체의 사용량은 상기 에폭시 수지 100중량부에 대하여 0.5∼5중량부인 것이 바람직하며, 상기 탄성체의 사용량이 0.5중량부 미만이면 펠렛의 마모효과가 없으며, 5중량부를 초과하면 흡습에 의한 크랙이 발생하여 반도체 본지재의 신뢰성이 저하된다.On the other hand, the amount of the silicone elastomer is preferably 0.5 to 5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the epoxy resin, and if the amount of the elastomer is less than 0.5 parts by weight, there is no abrasion effect of the pellets. A crack occurs and the reliability of the semiconductor base material falls.
또한, 본 발명의 충진제는 봉지제의 팽창 계수를 작게 하여 반도체 소자에 가해지는 응력을 저하시키기 위하여 배합되며, 본 발명에 사용가능한 충진제로는 평균 입경이 1∼30㎛의 범위에 있는 용융 또는 합성 실리카를 사용할 수 있으며, 특히 사용되는 전체 충진제에 대하여 평균입경이 3∼10㎛인 각상 실리카 17∼25%를 필수적으로 사용하는 것이 바람직하다. 이 때, 상기 각상 실리카의 평균입경이 상기 범위를 벗어나는 경우에는 수지성분과의 적정한 접착강도를 유지시킬 수 없다. 또한, 상기 각상 실리카의 사용량이 전체 충진제 사용량에 대하여 17% 미만이면 충분한 접착강도를 기대할 수 없으며, 25%를 초과하면 성형성에 문제가 생긴다. In addition, the filler of the present invention is blended to reduce the stress applied to the semiconductor device by reducing the expansion coefficient of the encapsulant, and the filler usable in the present invention may be melted or synthesized having an average particle diameter in the range of 1 to 30 탆. Silica may be used, and in particular, it is preferable to use 17-25% of each phase silica having an average particle diameter of 3 to 10 µm with respect to all the fillers used. At this time, when the average particle diameter of the respective phase silica is out of the above range, it is not possible to maintain an appropriate adhesive strength with the resin component. In addition, when the amount of each phase silica is less than 17% of the total filler amount, sufficient adhesive strength cannot be expected, and if it exceeds 25%, there is a problem in moldability.
한편, 상기 전체 충진제의 사용량은 본 발명의 수지조성물 총량에 대하여 70∼90중량%인 것이 바람직하며, 상기 충진제의 사용량이 70% 미만이면 내크랙성이 취약하고, 90%를 초과하면 반도체 에폭시 수지 조성물의 성형성을 저하시킨다. On the other hand, the total amount of the filler is preferably 70 to 90% by weight with respect to the total amount of the resin composition of the present invention, if the amount of the filler is less than 70% crack resistance is weak, if more than 90% semiconductor epoxy resin The moldability of the composition is lowered.
본 발명에 따르면, 상기 에폭시 수지 조성물은 필요에 따라서 삼산화 안티몬, 트리페닐 포스파인, 카본 블랙, 카나바왁스 및 에폭시 실란 등과 같은 기타 참가제들을 더욱 사용할 수 있다. 한편, 본 발명의 첨가제 중 하나로서 상기 에폭시 수지 및 상기 페놀계 경화제의 경화 반응을 촉진시키기 위하여 경화촉매를 사용할 수 있다. 이 때, 본 발명의 첨가제의 전체 사용량은 0.5∼5중량부인 것이 바람직하다. According to the present invention, the epoxy resin composition may further use other participating agents such as antimony trioxide, triphenyl phosphine, carbon black, canavawax and epoxy silane as necessary. Meanwhile, as one of the additives of the present invention, a curing catalyst may be used to promote the curing reaction of the epoxy resin and the phenolic curing agent. At this time, it is preferable that the total usage-amount of the additive of this invention is 0.5-5 weight part.
한편, 본 발명에 사용가능한 경화촉매로는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 2-메틸 이미다졸, 2,4-디메틸 이미다졸, 2-에틸 4메틸 이미다졸, 2-페닐 이미다졸 및 2-페닐 4-메틸 이미다졸 등의 이미다졸 화합물; 트리에틸 아민, 벤질 디메틸 아민, 메틸 벤질 디메틸 아민, 2-(디메틸 아미노 메틸) 페놀, 2,4,6-트리스(디메틸 아미노 메틸) 페놀, 트리에틸 포스핀, 및 트리부틸 포스핀 등의 삼급 아민 화합물; 및 트리페닐 포스핀, 트리메틸 포스핀, 트리에틸 포스핀, 트리부틸 포스핀, 트리(p-메틸 페닐) 포스핀 및 트리(노닐 페닐) 포스핀 등의 유기 포스핀 화합물이 포함된다. 본 발명에 따르면, 상기 경화촉매 중 하나를 선택하여 단독으로 사용하거나, 또는 2개 이상 선택하여 함께 병용하여 사용할 수 있다. 이 때, 상기 경화촉매의 사용량은 상기 에폭시 수지 100중량부에 대해 0.1∼10중량부의 범위가 바람직하며, 상기 경화촉매의 사용량이 0.1중량부 미만이면 촉매로서의 효과를 기대할 수 없으며, 10중량부를 초과하면 이형성 등의 문제가 발생될 수 있다. On the other hand, the curing catalyst usable in the present invention is not particularly limited, but for example, 2-methyl imidazole, 2,4-dimethyl imidazole, 2-ethyl 4 methyl imidazole, 2-phenyl imidazole and 2- Imidazole compounds such as phenyl 4-methyl imidazole; Tertiary amines such as triethyl amine, benzyl dimethyl amine, methyl benzyl dimethyl amine, 2- (dimethyl amino methyl) phenol, 2,4,6-tris (dimethyl amino methyl) phenol, triethyl phosphine, and tributyl phosphine compound; And organic phosphine compounds such as triphenyl phosphine, trimethyl phosphine, triethyl phosphine, tributyl phosphine, tri (p-methyl phenyl) phosphine and tri (nonyl phenyl) phosphine. According to the present invention, one of the above curing catalysts may be selected and used alone, or two or more may be selected and used together. In this case, the amount of the curing catalyst is preferably in the range of 0.1 to 10 parts by weight based on 100 parts by weight of the epoxy resin, and when the amount of the curing catalyst is less than 0.1 part by weight, the effect as a catalyst cannot be expected, and it is more than 10 parts by weight. Problems such as mold release may occur.
전술한 바와 같이, 본 발명의 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물은 탄성체를 사용하여 내충격성을 높임으로써 펠렛 깨짐을 방지하고 스크래치 유발을 억제하여 타정깨짐으로 인한 불량성을 해결하고, 이에 따른 안정적인 공급을 통해 생산효율을 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라, 부가적으로 잉크 마킹의 개선효과를 얻을 수 있다. As described above, the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation of the present invention by using an elastic body to increase the impact resistance to prevent cracking of the pellets and to suppress the occurrence of scratches to solve the defects caused by tableting cracking, thereby producing through stable supply Not only can the efficiency be improved, but also the effect of improving the ink marking can be obtained.
이하 비교예 및 실시예를 통하여 본 발명을 구체적으로 살펴보지만, 하기 예에 본 발명의 범주가 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to comparative examples and examples, but the scope of the present invention is not limited to the following examples.
실시예 1∼2 및 비교예 1∼3Examples 1-2 and Comparative Examples 1-3
반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물을 얻기 위하여, 하기 표 1에 나타낸 바와 같이 각각의 수지 성분들을 혼합한 후, 수지와 실리카 분말간의 고른 분산을 유지시키기 위하여 각각의 에폭시 수지 조성물을 혼련기(기기명: T-2 Kurimoto사)로 혼련하여 용융 혼합하였다. 이 때, 토출물의 온도는 100∼135℃로 유지시켰다.In order to obtain an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation, after mixing the respective resin components as shown in Table 1, each epoxy resin composition was kneaded in order to maintain even dispersion between the resin and the silica powder (device name: T- 2 Kurimoto) and melt mixed. At this time, the temperature of the discharged product was maintained at 100 to 135 占 폚.
그 다음, 상기 용융 혼합된 각각의 에폭시 수지 조성물을 타정기를 이용하여 동일한 압력, 동일한 무게(직경: 14파이, 무게:3.7g, 압력: 13kgf, 20kgf, 30kgf)로 타정하였다. 판상의 에폭시 수지 조성물을 분쇄한 후, 일정 크기의 망체를 이용하여 동일한 입도 분포를 맞추었으므로 타정기에 의해 타정된 펠렛은 동일한 압력에서 동일한 밀도를 갖는다고 생각된다. 이와 같이 타정된 펠렛을 UTM 장비를 이용하여(UTM 사용조건: 하중속도: 100mm/분, 하중 1톤) 동일한 속도 및 하중을 이용하여 타정강도를 측정하고, 후술하는 방법에 따라 내크랙성을 측정한 후, 그 결과를 하기 표 2에 나타내었다.Then, each of the melt-mixed epoxy resin compositions were tableted at the same pressure and the same weight (diameter: 14 pi, weight: 3.7 g, pressure: 13 kgf, 20 kgf, 30 kgf) using a tableting machine. After pulverizing the plate-like epoxy resin composition, the same particle size distribution was adjusted using a mesh of a certain size, so that the pellets compressed by the tableting machine have the same density at the same pressure. The compressed tablets thus obtained were measured using UTM equipment (UTM use condition: load speed: 100 mm / min, load 1 ton) to measure the tableting strength using the same speed and load, and to measure crack resistance according to the method described below. After that, the results are shown in Table 2 below.
※ 내크랙성 측정방법※ How to measure crack resistance
각각의 수지 조성물을 반도체 칩 몰딩(175℃, 50초) 후, 후경화(175℃, 5시간) 및 백킹(125℃, 24시간) 시켰으며, 이후에 85℃ 85%의 챔버에 168시간 동안 방치한 다음, IR REFLOW 3CYCLE(MAX 240℃)에 흘려서 SAM INSPECTION(SONIX사 제품)을 통하여 테스트 함.Each resin composition was subjected to post-curing (175 ° C., 5 hours) and backing (125 ° C., 24 hours) after semiconductor chip molding (175 ° C., 50 seconds), followed by 168 hours in a 85 ° C. 85% chamber. After standing, flowed through IR REFLOW 3CYCLE (MAX 240 ℃) and tested through SAM INSPECTION (SONIX).
상기 표 2에 나타낸 바와 같이, 탄성체를 적용하지 않은 펠렛은 강도가 저하되어 타정할 수 없거나, 펠렛에 스크레치 또는 크랙이 발생되어 내크랙성이 불량한 반면, 본 발명에 따라 탄성체를 적용한 펠렛은 타정강도가 우수하고 내크랙성도 우수함을 알 수 있었다As shown in Table 2, the pellets to which the elastic body is not applied cannot be compressed due to reduced strength, or scratches or cracks are generated in the pellet, so that the crack resistance is poor, whereas the pellet to which the elastic body is applied according to the present invention has a tableting strength. Was excellent and crack resistance was also excellent.
전술한 바와 같이, 본 발명은 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물에 탄성체를 적용하여 타정강도, 내충격성 및 내크랙성이 향상된 에폭시 수지 조성물을 제공할 수 있어 반도체 봉지용 에폭시 수지 조성물의 불량성을 해결하고, 이에 따른 이송 및 취급 개선으로 안정적인 공급이 가능하여 높은 생산효율성을 기대할 수 있을 뿐 아니라, 잉크 마킹을 개선할 수 있는 부가적 효과를 얻을 수 있다.As described above, the present invention can provide an epoxy resin composition with improved tablet strength, impact resistance and crack resistance by applying an elastomer to the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation to solve the defects of the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation, As a result, a stable supply is possible through improved transportation and handling, and thus, high production efficiency can be expected, and an additional effect of improving ink marking can be obtained.
Claims (6)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0042633A KR100523003B1 (en) | 2002-07-19 | 2002-07-19 | Epoxy resin composition for sealing semiconductor element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0042633A KR100523003B1 (en) | 2002-07-19 | 2002-07-19 | Epoxy resin composition for sealing semiconductor element |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20040008898A KR20040008898A (en) | 2004-01-31 |
| KR100523003B1 true KR100523003B1 (en) | 2005-10-20 |
Family
ID=37317887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0042633A KR100523003B1 (en) | 2002-07-19 | 2002-07-19 | Epoxy resin composition for sealing semiconductor element |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100523003B1 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200457812Y1 (en) * | 2009-05-21 | 2012-01-05 | 김경숙 | Lipstic case |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09316176A (en) * | 1996-06-03 | 1997-12-09 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Epoxy resin composition for semiconductor sealing |
| KR19980064256A (en) * | 1996-12-19 | 1998-10-07 | 카나가와치히로 | Epoxy resin composition |
| JPH11147938A (en) * | 1997-11-19 | 1999-06-02 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Epoxy resin composition and semiconductor device |
| US6005030A (en) * | 1997-01-28 | 1999-12-21 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Epoxy resin composition for semiconductor sealing and resin molded type semiconductor device sealed with the epoxy resin composition |
-
2002
- 2002-07-19 KR KR10-2002-0042633A patent/KR100523003B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09316176A (en) * | 1996-06-03 | 1997-12-09 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Epoxy resin composition for semiconductor sealing |
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| US6005030A (en) * | 1997-01-28 | 1999-12-21 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Epoxy resin composition for semiconductor sealing and resin molded type semiconductor device sealed with the epoxy resin composition |
| JPH11147938A (en) * | 1997-11-19 | 1999-06-02 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Epoxy resin composition and semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20040008898A (en) | 2004-01-31 |
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