KR100521259B1 - Shorting Bar for Thin Film Transistor Liquid Crystal Display - Google Patents
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Abstract
박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바는 박막 트랜지스터 기판에 형성된 다수 개의 셀의 게이트 신호선을 연결하여 형성된 게이트 쇼팅 바와, 다수 개의 셀의 데이터 신호선을 연결하여 형성된 데이터 쇼팅 바와, 게이트 쇼팅 바와 데이터 쇼팅 바 사이에 연결된 저항을 포함하며, 박막 트랜지스터 기판에 전체적으로 하나의 쇼팅 바를 형성함으로서 정전기 보호 효과를 향상시킬 수가 있다.The shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display device includes a gate shorting bar formed by connecting gate signal lines of a plurality of cells formed on a thin film transistor substrate, a data shorting bar formed by connecting data signal lines of a plurality of cells, and a gate shorting bar and a data shorting bar. Including a connected resistor, and by forming a shorting bar as a whole on the thin film transistor substrate can improve the electrostatic protection effect.
Description
이 발명은 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바(shorting bar)에 관한 것으로서, 더욱 상세하게 말하자면 박막 트랜지스터 기판에 형성된 다수 개의 셀에 각각 형성된 쇼팅 바가 서로 연결되어 형성되는 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바에 관한 것이다.The present invention relates to a shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display device, and more particularly, to a shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display device in which shorting bars formed in a plurality of cells formed on a thin film transistor substrate are connected to each other. will be.
일반적으로, 능동 매트릭스 액정 표시 장치의 기본적인 문제 중의 하나가 바로 정전기에 의한 박막 트랜지스터의 손상이다.In general, one of the basic problems of an active matrix liquid crystal display device is the damage of the thin film transistor due to static electricity.
박막 트랜지스터 기판 제작 공정 진행시 사람, 또는 장비 등에서 발생되는 정전기가 박막 트랜지스터에 유입되어 나타나는 불량을 최소화하기 위하여 설계적인 보호 회로가 필요한데, 그 중 하나가 박막 트랜지스터 기판의 데이터(data)와 게이트(gate) 신호선을 형성하는 공정에서 각 신호선을 묶어서 쇼트(short)시킨 쇼팅 바를 사용하는 것이다.A design protection circuit is needed to minimize the defects caused by static electricity generated from humans or equipment in the thin film transistor during the manufacturing process of the thin film transistor substrate, one of which is data and gate of the thin film transistor substrate. In the process of forming a signal line, a shorting bar in which each signal line is bundled and shorted is used.
이하, 첨부된 도면을 참조로 하여 종래의 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바에 대하여 설명한다.Hereinafter, a shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display device according to the related art will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 종래 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바의 구조를 도시한 도면이다.1 is a diagram illustrating a structure of a shorting bar for a conventional thin film transistor liquid crystal display.
도 1에 도시되어 있듯이, 종래 박막 트랜지스터 액정 표시 장치는 게이트 신호선(1)과 데이터 신호선(3)을 포함하고, 각 신호선(1, 3)의 끝단에는 각각 패드(5, 7)가 형성되어 있다.As shown in FIG. 1, a conventional thin film transistor liquid crystal display includes a gate signal line 1 and a data signal line 3, and pads 5 and 7 are formed at ends of each signal line 1 and 3, respectively. .
게이트 패드(5)의 끝단을 연장하여 서로 연결하여 게이트 쇼팅 바(9)가 형성되고, 데이터 패드(7)의 끝단을 연장하여 서로 연결하여 데이터 쇼팅 바(11)가 형성된다.The gate shorting bar 9 is formed by extending the ends of the gate pad 5 and connected to each other, and the data shorting bar 11 is formed by extending the ends of the data pad 7 and being connected to each other.
게이트 쇼팅 바(11)와 데이터 쇼팅 바(13)는 저항(13)을 통하여 서로 연결되어 전체적인 쇼팅 바(9, 11, 13)를 형성한다.The gate shorting bar 11 and the data shorting bar 13 are connected to each other through the resistor 13 to form the overall shorting bars 9, 11, and 13.
이와 같이 형성된 쇼팅 바(9, 11, 13)를 통하여 발생된 정전기로부터 박막 트랜지스터를 보호하게 된다.The thin film transistor is protected from static electricity generated through the shorting bars 9, 11, and 13 formed as described above.
한편, 종래의 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바는 첨부한 도 2에 도시되어 있듯이, 박막 트랜지스터 기판(15)에 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27)을 형성하는 공정에서 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27)의 게이트 신호선(29, 31, 33, 35, 37, 39)과 데이터 신호선(41, 43, 45, 47, 49, 51)을 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27) 별로 각 저항(53, 55, 57, 59, 61, 63)을 통하여 연결하여 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27) 별로 쇼팅 바를 형성시킨다.On the other hand, the conventional shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display device, as shown in FIG. 2, in the process of forming each cell 17, 19, 21, 23, 25, 27 on the thin film transistor substrate 15 The gate signal lines 29, 31, 33, 35, 37, and 39 and the data signal lines 41, 43, 45, 47, 49, and 51 of the cells 17, 19, 21, 23, 25, and 27 are connected to each cell ( 17, 19, 21, 23, 25, 27) through the resistors (53, 55, 57, 59, 61, 63) to connect the shorting bar for each cell (17, 19, 21, 23, 25, 27) To form.
그러나, 이러한 구조의 쇼팅 바의 연결은 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27) 별로 따로 되어 정전기 보호 측면에서 효과가 크지 않다.However, the connection of the shorting bar of this structure is separate for each cell 17, 19, 21, 23, 25, 27, so that the effect of the electrostatic protection is not great.
한편, 박막 트랜지스터 기판에 형성되는 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27)의 박막 트랜지스터 어레이(array)의 특성을 검사하기 위해서는 특수한 장비가 필요한데 이것이 바로 어레이 테스터(tester)이다.On the other hand, to test the characteristics of the thin film transistor array (array) of each cell (17, 19, 21, 23, 25, 27) formed on the thin film transistor substrate, special equipment is required, which is an array tester (tester).
이러한 어레이 테스터는 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27)에 형성되어 있는 쇼팅 바를 이용하여 박막 트랜지스터 어레이의 특성을 검사한다.The array tester inspects the characteristics of the thin film transistor array by using shorting bars formed in the cells 17, 19, 21, 23, 25, and 27.
따라서, 박막 트랜지스터 기판의 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27)에 쇼팅 바가 각각 형성되어 있으면, 각 셀(17, 19, 21, 23, 25, 27)의 쇼팅 바 및 패드에 따라 다른 프레임(frame)을 사용하여야 한다는 문제점이 있다.Therefore, when the shorting bars are formed in the cells 17, 19, 21, 23, 25, and 27 of the thin film transistor substrate, the shorting bars and the pads of the cells 17, 19, 21, 23, 25, and 27 are respectively formed. Therefore, there is a problem that another frame should be used.
따라서, 이 발명의 목적은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 박막 트랜지스터 기판의 각 셀에 형성되는 쇼팅 바를 서로 연결하여 하나의 쇼팅 바를 형성시킴으로서, 정전기로부터 매우 안정적인 구조를 갖게되고, 또한 어레이 테스터의 쇼팅 바와 패드를 각 셀에 관계없이 하나로 통일할 수가 있어서 단일 프레임으로 전체 셀을 검사할 수가 있는 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바를 제공하는 데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problems, and by connecting the shorting bars formed in each cell of the thin film transistor substrate to each other to form one shorting bar, the structure has a very stable structure from static electricity, and also an array The present invention provides a shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display device capable of unifying a shorting bar and a pad of a tester into one irrespective of each cell and thus inspecting an entire cell in a single frame.
상기한 목적을 달성하기 위한 수단으로서 이 발명은 박막 트랜지스터 기판의 각 셀에 형성되는 쇼팅 바를 서로 연결하여 형성되는 구조를 갖는다.As a means for achieving the above object, the present invention has a structure formed by connecting the shorting bars formed in each cell of the thin film transistor substrate to each other.
즉, 박막 트랜지스터 기판에 형성되는 각 셀의 게이트 신호선들이 모두 연결되어 게이트 쇼팅 바를 형성하고, 각 셀의 데이터 신호선들이 모두 연결되어 데이터 쇼팅 바를 형성한다.That is, the gate signal lines of each cell formed on the thin film transistor substrate are all connected to form a gate shorting bar, and the data signal lines of each cell are all connected to form a data shorting bar.
박막 트랜지스터 기판에 형성된 게이트 쇼팅 바와 데이터 쇼팅 바는 저항을 통하여 서로 연결되어 하나의 쇼팅 바를 형성한다.The gate shorting bar and the data shorting bar formed on the thin film transistor substrate are connected to each other through a resistor to form a shorting bar.
이하, 이 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조로 하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 3은 이 발명의 실시예에 따른 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바의 구조를 도시한 도면이다.3 is a diagram illustrating a structure of a shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 3에 도시되어 있듯이, 박막 트랜지스터 기판(100)에는 각 셀(110, 120, 130, 140, 150, 160)이 형성되어 있다.As shown in FIG. 3, each cell 110, 120, 130, 140, 150, and 160 is formed in the thin film transistor substrate 100.
각 셀(110, 120, 130, 140, 150, 160)의 게이트 신호선들은 모두 연결되어 게이트 쇼팅 바(170, 180, 190, 200)를 형성하고, 각 셀(110, 120, 130, 140, 150, 160)의 데이트 신호선들은 모두 연결되어 데이터 쇼팅 바(210, 220, 230)를 형성한다.Gate signal lines of each cell 110, 120, 130, 140, 150, and 160 are all connected to form gate shorting bars 170, 180, 190, and 200, and each cell 110, 120, 130, 140, 150. The data signal lines of the data line 160 are all connected to form the data shorting bars 210, 220, and 230.
각 게이트 쇼팅 바(170, 180, 190, 200)와 각 데이터 쇼팅 바(210, 220, 230)들은 저항(240, 250, 260, 270)을 통하여 서로 연결되어 박막 트랜지스터 기판(100)에 하나의 쇼팅 바를 형성한다.Each of the gate shorting bars 170, 180, 190, and 200 and the data shorting bars 210, 220, and 230 are connected to each other through resistors 240, 250, 260, and 270 so that the gate shorting bars 170, 180, 190, and 200 are connected to the thin film transistor substrate 100. Form a shorting bar.
또한, 각 셀(110, 120, 130, 140, 150, 160)의 게이트 패드와 데이터 패드를 전체적으로 연결하여 하나의 게이트 패드(290)와 데이터 패드(280)를 형성함으로서 어레이 테스터의 단일 프레임으로 하나로 형성된 쇼팅 바와 게이트 패드(290)와 데이터 패드(280)를 사용하여 전체 셀(110, 120, 130, 140, 150, 160)의 검사가 가능하게 된다.In addition, by connecting the gate pad and the data pad of each cell (110, 120, 130, 140, 150, 160) as a whole to form one gate pad 290 and the data pad 280, as a single frame of the array tester Inspection of all cells 110, 120, 130, 140, 150, and 160 may be performed using the formed shorting bar and gate pad 290 and data pad 280.
이상에서와 같이 이 발명의 실시예에서, 박막 트랜지스터 기판의 각 셀에 형성되는 쇼팅 바를 서로 연결하여 하나의 쇼팅 바를 형성시킴으로서, 정전기로부터 매우 안정적인 구조를 갖게되고, 또한 어레이 테스터의 쇼팅 바와 패드를 각 셀에 관계없이 하나로 통일할 수가 있어서 단일 프레임으로 전체 셀을 검사할 수가 있는 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바를 제공할 수 있다.As described above, in the embodiment of the present invention, by forming the shorting bar by connecting the shorting bars formed in each cell of the thin film transistor substrate to each other, it has a very stable structure from static electricity, and also the shorting bar and the pad of the array tester It is possible to provide a shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display device that can be unified regardless of the cell and can inspect the entire cell in a single frame.
비록, 이 발명이 가장 실제적이며 바람직한 실시예를 참조하여 설명되었지만, 이 발명은 상기 개시된 실시예에 한정되지 않으며, 후술되는 특허청구범위 내에 속하는 다양한 변형 및 등가물들도 포함한다.Although this invention has been described with reference to the most practical and preferred embodiments, the invention is not limited to the embodiments disclosed above, but also includes various modifications and equivalents within the scope of the following claims.
도 1은 종래 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바의 구조를 하나의 셀 단위로 도시한 도면이고,FIG. 1 is a diagram illustrating a structure of a shorting bar for a conventional thin film transistor liquid crystal display in one cell unit.
도 2는 종래 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바의 구조를 전체적으로 도시한 도면이고,FIG. 2 is a view showing the overall structure of a shorting bar for a conventional thin film transistor liquid crystal display device.
도 3은 이 발명의 실시예에 따른 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바의 구조를 전체적으로 도시한 도면이다.FIG. 3 is a diagram schematically illustrating a structure of a shorting bar for a thin film transistor liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
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