KR100508550B1 - 비대칭 가변폭 스캔 파형을 사용한 교류형 플라즈마디스플레이 패널의 구동 방법 - Google Patents

Abstract

어드레스 전압을 높이는 일이 없이, 또한 어드레스 방전의 통계적 지연, 오방전 등의 문제를 야기시키지 않고, 동적 전압 마진을 확보하면서도 어드레스 펄스폭을 줄여 어드레스 기간을 단축하는 것이 가능하도록 하는 새로운 어드레스 기간 동안의 구동 방법이 제공된다. 본 발명의 구동 방법에서의 어드레스 기간은, 화상 정보에 의한 데이터를 원하는 방전 셀에 표시하고자 방전 셀의 주사 전극에 연결된 스캔 라인에 스캔 펄스를 인가하는 단계; 스캔 펄스 인가와 함께, 원하는 방전셀에 표시하고자 하는 데이터가 방전 셀에 데이터를 기입할 것을 나타내는 경우에, 방전 셀의 어드레스 전극에 연결된 라인에 해상도에 의하여 결정되는 소정 펄스폭을 가지는 어드레스 펄스를 인가하여 어드레스 방전을 발생시키는 단계; 및 어드레스 펄스폭에 상당하는 기간이 종료한 후에도 스캔 펄스가 스캔 라인에 인가된 상태로 시간 t 동안 더 지속되도록 하여, 어드레스 방전에 의해 생성된 벽전하가 충분히 누적될 수 있도록 하는 스캔 펄스 연장 단계를 포함한다. 여기서, 스캔 펄스 연장 시간 t는 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어느 정도 시간이 경과한 후에 인가되는 것인지의 여부에 따라 그 크기가 가변되는 것임이 바람직하다.

Description

비대칭 가변폭 스캔 파형을 사용한 교류형 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법{METHOD FOR DRIVING PLASMA DISPLAY PANEL USING ASYMMETRIC VARIABLE-WIDTH SCAN WAVEFORM}

본 발명은 교류형 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 관한 것으로서, 어드레스 전압을 높이는 일이 없이, 또한 어드레스 방전의 통계적 지연, 오방전 등의 문제를 야기시키지 않고, 그리고 동적 전압 마진을 확보하면서도 어드레스 펄스폭을 줄여 어드레스 기간을 단축하는 것이 가능하도록 하는 새로운 어드레스 기간 동안의 구동 방법을 제공하기 위한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 비대칭 가변폭 스캔 파형을 사용하는 어드레스 기간 동안의 구동 방법을 제안한다.

현재 양산되고 있는 플라즈마 디스플레이 장치는 일반적으로 교류형 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP)을 사용한 것이며, 이를 구동하기 위해 제안된 어드레스-디스플레이 분리(Address-Display-Separated: ADS) 구동 방식은 교류형 플라즈마 디스플레이의 안정된 구동을 위해 가장 적합한 방식으로 알려져 있다.

도 1은 종래 기술의 480 스캔 라인을 가지는 VGA 급의 PDP의 경우에 있어서, 한 개의 부필드를 이루는 리셋 기간, 어드레스 기간 및 유지 기간 동안의 일반적인 구동 파형을 도시하고 있다. 도 1에 도시한 바와 같이, 리셋 기간 이후 어드레스 기간의 구동을 위하여, 스캔 펄스 및 어드레스 펄스가 선택된 방전셀에 데이터를 기입하기 위하여 스캔 라인 Y1에서 Y480까지 순차적으로 스캔 전극과 어드레스 전극에 각각 인가된다. 도 1에 도시한 종래 기술은 대칭 스캔(symmetrical scan) 방법을 사용하고 있으며, 이는 스캔 펄스의 폭과 어드레스 펄스의 폭을 일치시키는 방법을 말한다. 어드레스 과정이 리셋 과정 직후에 스캔 라인 대 라인으로 순차적으로 이루어지기 때문에, 모든 라인을 스캔하기 위해서는 일정한 시간이 필요하다.

따라서, 리셋 방전 직후에 스캔되는 라인에서와 리셋 방전이 끝난후 어느 정도 시간이 경과된 후에 스캔되는 라인에서의 방전셀의 상황은 서로 달라질 수 있다. 특히, 어드레스 방전 형성 및 방전 통계적 지연 시간(discharge characteristic delay time) 등의 방전 특성들은 리셋 방전과 어드레스 방전 사이의 시간 간격에 따라 달라지게 된다. 따라서, 모든 스캔 라인에 대하여 안정된 어드레스 방전을 발생시키기 위해서는 충분한 스캔 시간이 필요하게 된다. 종래 기술의 스캔 펄스 폭은 약 3us이다.

그러나, XGA 해상도를 갖는 고품위 PDP의 성공적인 구현을 위해서 현재의 ADS 구동 방식에서 사용되는 어드레스 시간을 그대로 채용할 경우에는 지나치게 많은 시간을 어드레스 시간에 할당하여야 하므로 구동이 곤란해지고, 따라서 이를 단축하는 것이 반드시 필요하다.

어드레스 방전은 프라이밍(priming) 효과에 의하여 그 이전의 리셋 방전에 크게 의존함이 알려져 있다. 리셋 방전 이후 남아있는 공간 전하는 어드레스 방전에서 프라이밍 입자로 작용한다. 어드레스 방전은 라인 대 라인으로 순차적으로 이루어지고, 프라이밍 입자들은 시간에 따라 계속 소멸하게 되기 때문에, 이러한 프라이밍 입자에 대한 의존성은 어드레스 방전의 형성에 영향을 미치게 되고 통계적 지연 현상(statistical delayed phenomena)등의 효과를 가져 온다.

따라서, 이전의 리셋 방전에 의존하는 어드레스 방전의 이러한 특성에 의해서, 어드레스 방전 시간의 단축은 더욱 어렵게 된다. 스캔 펄스 폭을 줄이기 위해서는, 그에 대응하여 어드레스 전압을 증가시키는 방법을 생각할 수 있다. 그러나 적은 수의 프라이밍 입자들에 의해서도 어드레스 방전이 촉진될 수 있지만, 프라이밍 입자들이 많은 경우 높은 어드레스 전압은 오방전을 일으킬 수도 있다. 역으로, 낮은 어드레스 전압으로는 적은 프라이밍 입자만으로는 셀에서 효과적인 어드레스 방전을 발생시킬 수가 없는 반면에, 많은 프라이밍 입자들이 있는 경우에도 낮은 어드레스 방전의 경우는 오방전을 발생시키는 일은 없게 된다. 따라서, 어드레스 전압을 변화시키는 방법에는 한계가 있게 된다.

또한, 짧은 스캔 펄스폭은 낮은 동적 전압 마진(dynamic voltage margin)을 야기시키고, 이는 PDP의 안정된 구동의 관점에서는 심각한 문제가 된다. 특히, 어드레스 펄스로써 70V에서 80V까지 선형적으로 증가하는 어드레스 전압을 사용하는 경우에 어드레스 시간을 3.0us에서 2.1us까지 감소시키는 것이 가능하다는 연구 결과가 있다. 그러나, 이와 같은 어드레스 전압의 증가는 오방전을 유발시켜 동적 마진의 감소를 야기시킨다. 또한, 이러한 선형적으로 증가하는 어드레스 전압은 복잡한 구동 회로를 필요로 하여 높은 구동 비용을 발생시킨다.

본 발명은, 이하에서 상세히 서술될, 3.0us와 1.4us의 서로 다른 펄스 폭을 갖는 스캔 펄스에 대한, 어드레스 방전의 형성과 통계적 지연 현상에 대한 관찰을 기초로 한다. 또한, 동적 전압 마진이 스캔 펄스 폭의 변화에 따라 측정되었다. 어드레스 시간을 감소시키고 동시에 동적 전압 마진을 확보하기 위해서, 그러한 어드레스 방전의 지연 발생 현상에 대한 관측을 기초로 하여, 새로운 비대칭 가변폭 스캔 파형이 제안되었다.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 어드레스 전압을 높이는 일이 없이, 또한 어드레스 방전의 통계적 지연, 오방전 등의 문제를 야기시키지 않고, 동적 전압 마진을 확보하면서도 어드레스 펄스폭을 줄여 어드레스 기간을 단축하는 것이 가능하도록 하는 새로운 어드레스 기간 동안의 구동 방법을 제공하기 위한 것이다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방법은, 스캔 전극, 유지 전극 및 어드레스 전극을 각각 갖는 복수개의 방전 셀을 포함하는 교류형 플라즈마 디스플레이 패널에 소정의 해상도로 화상 정보를 표시하기 위하여, 상기 화상 정보의 1 프레임을 복수 개의 부 프레임으로 분할하고, 각각의 부 프레임은 리셋 기간, 어드레스 기간 및 유지 기간을 포함하도록 하는 교류형 플라즈마 디스플레이의 구동 방법이며, 상기 어드레스 기간은, 상기 화상 정보에 의한 데이터를 원하는 방전 셀에 표시하고자 상기 방전 셀의 주사 전극에 연결된 스캔 라인에 스캔 펄스를 인가하는 단계; 상기 스캔 펄스 인가와 함께, 상기 원하는 방전셀에 표시하고자 하는 데이터가 상기 방전 셀에 데이터를 기입할 것을 나타내는 경우에, 상기 방전 셀의 어드레스 전극에 연결된 라인에 상기 해상도에 의하여 결정되는 소정 펄스폭을 가지는 어드레스 펄스를 인가하여 어드레스 방전을 발생시키는 단계; 및 상기 어드레스 펄스폭에 상당하는 기간이 종료한 후에도 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 라인에 인가된 상태로 시간 t 동안 더 지속되도록 하여, 상기 어드레스 방전에 의해 생성된 벽전하가 충분히 누적될 수 있도록 하는 스캔 펄스 연장 단계를 포함한다.

상기 플라즈마 디스플레이의 구동 방법의 상기 스캔 펄스 연장 시간 t는 상기 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어느 정도 시간이 경과한 후에 인가되는지의 여부에 따라 그 크기가 가변되는 것임이 바람직하다.

상기 플라즈마 디스플레이의 구동 방법의 상기 스캔 펄스 연장 시간 t는 해당 스캔 라인에 인가되는 상기 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어느 정도 시간이 경과한 후의 것인지에 따라 점차 증가하는 값을 가지는 것임이 바람직하다.

상기 플라즈마 디스플레이의 구동 방법의 상기 스캔 펄스 연장 시간 t는 해당 스캔 라인에 인가되는 상기 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어느 정도 시간이 경과한 후의 것인지에 따라 증가하는 수개의 이산화(discretized)된 값으로 설정되며, 상기 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어드레스 방전 형성 및 방전 통계적 지연 시간에 미치는 상기 리셋 방전의 영향이 포화되는 시점이 지난 후에는 일정한 값으로 고정되는 것임이 바람직하다.

여기서, 상기 해상도는 XGA급 이상의 해상도이며, 상기 어드레스 펄스의 폭은 3.0us 미만, 상기 연장 시간 t는 1.0us 이하인 경우에, 본 플라즈마 디스플레이의 구동 방법을 사용하는 것이 특히 효과적이다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 2a는 플라즈마 디스플레이에서의 어드레스 방전의 지연 효과를 검증하기 위하여 본 발명자가 사용한 테스트 패널의 구조를 나타낸다. 테스트 패널은 He-Ne (4%)-Xe 의 혼합 개스를 사용하였고 압력은 400Torr로 유지되었다. 구동 조건은 유지 전압 180V, 유지 주파수 50kHz, 유지 펄스의 폭은 8us로 하였다. 다양한 스캔 구동 방법에 따른 동적 전압 마진을 관측하기 위해서, 테스트 패널은 도 2a에 나타낸 바와 같이, A, B 및 C의 구간으로 나누어졌다. 영역 A에서는, 본 발명에서 제안된 새로운 스캔 파형의 효과를 관측하기 위하여 어드레스 방전이 발생되어졌고, 그에 대응하는 스캔 전극 Y와 어드레스 전극 A사이의 오방전은 영역 B에서 관측되었다. 유지 전극 X와 스캔 전극 Y사이의 오방전은 영역 C에서 관측되었다.

도 2b는 본 발명자가 시험을 위해 사용한 PDP 테스트 패널의 세 개의 전극, X, Y 및 A에 인가되는 리셋 구간, 어드레스 구간 및 유지 구간의 구동 파형을 나타낸다. 도 2b에 나타낸 바와 같이, 리셋, 어드레스 및 유지 구간에서 모든 유지 전극에는 공통으로 X-구동 회로(X-drive circuit)에 의해서 Vx가 인가된다. 또한, 스캔 전극들 Y1 및 Y2에는 각각의 구동회로에 의하여 스캔 펄스 Vy1 및 Vy2 가 각각 인가되며, 어드레스 구간만을 제외하고는 모두 동일하게 인가된다. 어드레스 구간에서는, 60V의 스캔 펄스들 Vy1과 60V의 어드레스 펄스들 VA가 동시에(대칭으로) A 영역의 스캔 라인들과 어드레스 라인들에 함께 인가된다.

도 2c는 시험을 위해서 각각 어드레스 기간 동안에 스캔 전극들 Y1 및 어드레스 전극들 A에 인가된 스캔 펄스와 어드레스 펄스의 파형들을 나타낸다. 어드레스 방전의 형성 및 통계적 지연 현상을 관측하기 위해서, 어드레스 펄스들 VY1 과 스캔 펄스들 VA는 리셋 펄스를 인가한 후 0us에서부터 1000us까지 20us 간격으로 변화되어 인가되었다. 이와 같은 조건에서, 어드레스 및 스캔 펄스의 폭을 1.4us에서 3.0us까지 변화시켜가면서 펄스 폭의 변화와 어드레스 방전 형성 및 통계적 지연과의 관계가 조사되었다.

도 3은 리셋 펄스를 인가한 후 어드레스 방전 동안에 스캔 펄스가 0us에서부터 1000us까지 20us간격으로 변화되어 인가될 경우에, 서로 다른 어드레스 및 스캔 펄스의 폭에 따른(도 3a: 3.0us, 도 3b: 1.4us) 어드레스 방전 형성 및 통계적 지연 현상을 도시한다.

스캔 과정이 수행될 때, 즉, 라인 대 라인 스캔의 결과로, 스캔 시간이 증가할 때(즉, 리셋 이후 어느 정도 시간이 경과하여 스캔이 이루어지는 경우), 방전 형성 및 방전 통계적 시간은 도 4에 도시된 바와 같이 지연되었으며 이는 스캔이 진행됨에 따라 프라이밍 효과가 감소함을 보여준다. 특히, 어드레스 방전 형성 지연 시간은 스캔 펄스가 리셋 방전 이후 80us를 지나서 인가되면 거의 포화되는 것이 관측되었으며, 이는 프라이밍 효과가 펄스의 폭에 관계없이 총 스캐닝 과정 동안에 단지 80us 정도 동안에만 존재한다는 것을 나타낸다. 도 4에 나타낸 바와 같이 방전 지연 형성 및 통계적 지연 현상의 경향은 스캔 펄스의 폭과는 거의 관계없었다. 이와 같은 결과는 어드레스 방전에서의 방전 형성 및 통계적 지연 현상은 스캔 펄스폭에 의존하는 것이 아니고 이전의 리셋 방전에서 생성된 프라이밍 효과에 크게 의존한다는 것을 나타낸다.

도 5는 종래 기술의 스캔 방식을 사용할 경우의, 1000us의 어드레스 기간동안 3us, 2us 및 1.4us의 서로 다른 스캔 펄스폭에서의 동적 전압 마진의 변화를 나타낸다. 어드레스 방전 형성 및 통계적 지연 현상은 도 4에 표시된 바와 같이 스캔 펄스 폭에 관계 없이 유사한 경향을 나타낸다. 그러나, 동적 전압 마진은 도 5에 나타낸 바와 같이, 스캔 펄스 폭에 상당히 영향을 받았으며, 이는 안정된 유지 방전을 위해 충분한 양의 벽전하가 축적되어야 하기 때문일 것으로 보인다. 따라서, 도 5에 나타낸 바와 같이 작은 폭의 경우에는 동적 전압 마진이 감소하였고 이는 충분한 벽전하가 누적되지 못했기 때문이다. 스캔 펄스가 1.4us일 경우에, 결국 동적 전압 마진 확보를 위해서는 65V 이상의 높은 어드레스 전압이 필요하게 된다. 결과적으로 종래 기슬의 대칭 구동 스캔 방법에서 어드레스 기간의 단축을 위해서는, 어드레스 방전 형성 및 통계적 지연 현상 뿐만이 아니라 이어지는 유지 방전을 위한 충분한 벽전하의 누적이라는 필요 조건이 고려되어야 함을 알 수 있다.

도 6a의 방전 셀 1 및 2는 비대칭 스캔 방법의 원리와 비대칭 스캔 방법과 관련된 오방전 문제를 설명하기 위한 개략도이다. 어드레스 과정이 비대칭 스캔 방법에 의하여 수행되는 경우, 셀 1은 영상을 표시하도록 온 셀(on-cell)로 선택되어지고 셀 2가 오프 셀(off-cell)로 선택되어진 경우를 가정하면, 셀 1에서는 어드레스 방전이 수행되게 되고 셀 2에서는 어드레스 방전이 수행되지 않는 상황이 된다. 도 6b는 도 6a의 두 개의 셀 1 및 2에 각각 인가되는 유지, 스캔 및 어드레스 파형 Vs, Vsc 및 Va를 나타내며, 그 각각에 대응하는 IR 방출 파형도 함께 나타내었다. 도 6c 및 도 6d는 두개의 셀 내의 벽/공간 전하의 시간적 분포의 변화를 나타낸다.

벽전하는 도 6c의 셀 1의 ①에 나타낸 바와 같이, 리셋 방전 이후 셀 1내에서 X, Y 및 A1 전극 위에 누적되어 있다. 스캔 전압 Vsc가 60V에서 0V까지 갑자기 감소할 경우, 그리고 동시에 어드레스 전압 Va가 0V에서 60V까지 갑자기 증가할 경우, 스캔 및 어드레스 전극에 누적된 벽전하는 도 6c의 셀 1의 ②에 도시된 바와 같이 공간 전하로 전환된다. 이때, Vs와 Vsc의 전압차는 180V가 되며, Vs와 Va의 전압차는 120V가 되어, 강한 전계가 유지 전극 X및 스캔 전극 Y사이에 주로 형성된다.

한편, 어드레스 방전의 개시는 도 6b의 IR 방출에서 도시된 바와 같이, 지연되고 이는 도 6b의 ②와 ③의 상태 사이에 일정한 시간 지연이 존재한다는 것을 나타낸다. 이러한 어드레스 방전 지연 현상은 리셋 방전의 상태에 따라 달라질 수 있다. 도 6c의 셀 1의 ③에 나타낸 바와 같이, 벽전하는 어드레스 방전이 발생된 후 즉시 누적되기 시작한다. 유지 전극 X와 어드레스 전극 A 사이의 전압에 비하여 유지 전극 X와 스캔 전극 Y 사이의 전압차가 더 크기 때문에 대부분의 벽전하는 전극 X와 Y의 사이에 누적된다.

종래 기술의 대칭 스캔 방법에서의 짧은 어드레스 또는 스캔 펄스(1.4us)의 경우에는, 어드레스 전압이 높은 레벨로 증가되지 않으면, 이후의 안정된 유지 방전에 충분할 정도로 벽전하가 누적되기에는 너무 펄스 폭이 짧기 때문에 충분한 벽전하가 누적되지 못한다. 이 문제를 보상하기 위해서, 즉, 1.4us의 경우에도 충분한 벽전하를 누적시키도록 하기 위하여, 어드레스 펄스 Va가 이미 60V에서 0V로 감소된 이후에도 일정한 시구간 t동안 스캔 펄스 Vsc를 0V로 유지되도록 한다. 이와 같이 어드레스 펄스 Va의 폭이 스캔 펄스 Vsc의 폭에 비하여 더 넓은 것이 본 발명의 주요한 한가지 특징이다. 이 경우에, Vsc가 영으로 유지되고 있기 때문에 어드레스 펄스 Va가 짧은 경우에도 오랜 시간 동안 높은 전계 세기가 유지 전극 X와 스캔 전극 Y 사이에 유지된다. 결과적으로, 본 발명의 비대칭 스캔 파형에서는 짧은 어드레스 펄스 Va를 사용함으로써 스캐닝 시간의 감소에 기여하게 되며, 동시에 더 긴 스캔 펄스 Vsc가 전극 X와 Y 사이의 안정된 벽전하의 형성에 기여하게 되어 짧은 스캔 시간과 넓은 동적 전압 마진의 확보를 함께 달성할 수 있도록 한다.

그러나, 본 발명의 경우와 같이 더 넒은 스캔 펄스에 의해 셀 2에서 유발될 수 있는 오방전의 문제를 더욱 세심히 고려하여야 한다. 도 6d의 셀 2의 ②및 ③에 나타낸 바와 같이, 세 전극 X, Y 및 A2에 누적된 벽전하는 셀 1에서의 어드레스 방전을 발생시키기 위해 스캔 전압 Vsc가 60V에서 0V로 낮추어진 경우에도 어드레스 전극 A2에 인가된 어드레스 전압은 0으로 유지되고 있기 때문에, 거의 변화하지 않는다. 도 6b의 셀 2의 IR 방출에 나타낸 바와 같이, Vs와 Vsc의 전압차이가 180V에 이르는 경우에도, 방전은 발생하지 않는다. 그러나, 다음 스캔 라인을 어드레스하기 위하여 어드레스 전극 A2에 다른 어드레스 전압 Va2가 인가될 때, 도 6d의 ④에 도시된 바와 같이, 셀 2의 어드레스 전극에 누적된 벽전하에 의해 셀 2에는 공간 전하가 발생된다. 이때, 공간 전하가 존재하는 상황에서 Vs와 Vsc의 사이에 180V의 전압 차이가 존재하기 때문에 바람직하지 못한 오방전이 발생할 수 있다.

그러나, 본 발명자는, 어드레스 방전 지연 시간보다 스캔 펄스의 연장된 구간 t의 길이가 짧은 경우에 오방전이 발생하지 않음을 관측하였다. 달리 말하면, 도 6d의 셀 2의 ⑤에 나타낸 바와 같이, 세 전극 X, Y 및 A2 사이의 전계 강도가 스캔 전압 Vsc를 0V에서 60V로 상승시킴에 따라서 어드레스 방전이 개시되기 전까지는 약해지고, 그에 의하여 셀 2에서의 바람직하지 못한 오방전이 발생하지 않는 것이다. 결과적으로, 오방전을 억제하기 위해서는 도 6b의 비대칭 스캔 펄스 Vsc의 시구간 t를 적절히 선택하는 것이 중요하게 된다. 따라서, 도 6b의 비대칭 펄스의 시구간 t는 리셋 방전의 프라이밍 효과에 의한 어드레스 방전 지연 형성에 따라서 변화될 수 있다. 결과적으로, 본원 발명에서 제안된 비대칭 스캔 방법은 두 가지로 나누어질 수 있다. 즉, 넓은 스캔 펄스의 폭이 스캔 라인에 무관하게 일정하게 유지되는 경우(비대칭 고정폭 스캔 펄스)와, 다른 경우는 도 6b의 비대칭 스캔 펄스 Vsc내의 시구간 t가 가변인 경우(비대칭 가변폭 스캔 펄스), 즉 스캔 라인이 변화함에 따라서 넓은 스캔 펄스 Vsc의 폭 t가 변화하도록 구성되는 경우이다.

도 7은 펄스 연장 폭 t가 0.4us로 일정한 경우(비대칭 고정폭 스캔 펄스)에 대해서 스캐닝 시간이 0us에서 100us까지 변화하는 경우에 (a) 구동 파형과 (b) 동적 전압 마진을 나타내었다. 이 경우에, 어드레스 펄스폭은 1.4us로, 스캔 펄스폭은 1.8us로 고정되었다. 도 7b에 도시된 바와 같이, 동적 전압 마진은 스캐닝 시간이 0us에서 60us까지 변화하는 동안에 동적 전압 마진은 거의 일정하였다. 그러나, 스캐닝 시간이 80us 이상으로 증가하는 경우에, 동적 전압 마진은 상당히 감소하는것을 볼 수 있다. 따라서, 이 경우에는 어드레스 전압은 높아져야만 한다.

80us 이상의 스캔 시간의 경우에서도 동적 전압 마진의 향상을 위해서, 도 8a와 같은 점진적으로 증가하는 스캔 펄스 폭을 가진 새로운 비대칭 스캔 펄스가 사용되었다, 이 실험에서는, 도 4에 도시된 어드레스 방전 형성 지연 시간을 고려하여, 세가지 타입의 스캔 펄스 폭이 다음과 같이 선택되었다: (1) 스캐닝 시간이 0us에서 40us까지 변화할 때, 스캐닝 펄스폭은 1.8us(t=0.4us), (2) 스캐닝 시간이 40us에서 80us까지 변화할 때 스캐닝 펄스폭은 2.0us(t=0.6us), (3) 스캐닝 시간이 80us 이상일 때 스캔 펄스폭은 2.2us(t=0.8us).

상술한 바와 같이, 방전 형성 시간은 80us 이상에서 포화된다. 80us 이상인 경우 방전 형성 시간은 포화되기 때문에, 80us 이상인 경우의 스캔 펄스의 폭은 2.2us으로 고정하였다. 80us 이상인 스캔 시간의 경우에 2.2us 정도의 펄스폭은 전극 X 및 Y에 벽전하를 더 축적하도록 촉진할 수 있어, 넓고 안정된 동적 전압 마진을 확보할 수 있도록 한다. 도 9에 도시한 바와 같이 새로운 비대칭 가변폭 스캔 방법은 종래 기술의 대칭 스캔 방법이나 또는 본 발명의 비대칭 고정폭 스캔 방법에 비하여 동적 전압 마진 측면에서 우수한 특성을 가지고 있다. 도 9에 나타낸 바와 같이, 어드레스 전압은 1.4us의 스캔 펄스폭에서도 55V를 사용하여도 충분한 동적 전압 마진을 얻을 수 있게 된다.

도 10은 어드레스 방전에 의하여 충분한 양의 벽전하가 누적되어 있는지를 검증하기 위하여, 첫번째의 유지 방전 펄스의 인가후 방출되는 IR 방출 세기를 측정한 결과이다. 여기서, (a) 종래 기술의 대칭 스캔 방법의 경우, (b) 본 발명의 비대칭 고정폭 스캔의 경우, (c) 본 발명의 비대칭 가변폭 스캔의 경우에 대해서 각각 조사하였다. 그 결과 도 10에 나타낸 바와 같이, 비대칭 가변폭 스캔의 경우가 가장 피크의 절대치와 스캔 시간에 따른 균일한 분포를 보여 그 특성이 가장 우수한 것으로 평가되었다.

이와 같이, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위 뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

본 발명에 의하여, 어드레스 전압을 높이는 일이 없이, 또한 어드레스 방전의 통계적 지연, 오방전 등의 문제를 야기시키지 않고, 동적 전압 마진을 확보하면서도 어드레스 펄스폭을 줄여 어드레스 기간을 단축하는 것이 가능하도록 하는 새로운 어드레스 기간 동안의 구동 방법이 제공된다.

본 발명의 구동 방법을 사용하여 어드레스 기간을 단축함으로써, 특히 많은 화소 및 스캔 라인을 가지는 고해상도의 교류형 PDP의 경우에도 원활한 구동이 가능하다.

도 1은 종래 기술의 480 스캔 라인을 가지는 VGA 급의 PDP의 경우에 있어서, 한 개의 부필드를 이루는 리셋 기간, 어드레스 기간 및 유지 기간 동안의 일반적인 구동 파형을 도시한다.

도 2a는 플라즈마 디스플레이에서의 어드레스 방전의 지연 효과를 검증하기 위하여 본 발명자가 사용한 테스트 패널의 구조를 나타낸다.

도 2b는 본 발명자가 시험을 위해 사용한 PDP 테스트 패널의 세 개의 전극, X, Y 및 A에 인가되는 리셋 구간, 어드레스 구간 및 유지 구간의 구동 파형을 나타낸다.

도 2c는 시험을 위해서 각각 어드레스 기간 동안에 스캔 전극들 Y1 및 어드레스 전극들 A에 인가된 스캔 펄스와 어드레스 펄스의 파형들을 나타낸다.

도 3은 리셋 펄스를 인가한 후 어드레스 방전 동안에 스캔 펄스가 0us에서부터 1000us까지 20us간격으로 변화되어 인가될 경우에, 서로 다른 어드레스 및 스캔 펄스의 폭에 따른(도 3a: 3.0us, 도 3b: 1.4us) 어드레스 방전 형성 및 통계적 지연 현상을 도시한다.

도 4는 스캔이 진행됨에 따라 프라이밍 효과가 감소하여 방전 형성 및 방전 통계적 시간이 지연됨을 나타내는 시험 결과를 도시한다.

도 5는 종래 기술의 스캔 방식을 사용할 경우의, 1000us의 어드레스 기간동안 3us, 2us 및 1.4us의 서로 다른 스캔 펄스폭에서의 동적 전압 마진의 변화를 나타낸다.

도 6a의 방전 셀 1 및 2는 비대칭 스캔 방법의 원리와 비대칭 스캔 방법과 관련된 오방전 문제를 설명하기 위한 개략도이다.

도 6b는 도 6a의 두 개의 셀 1 및 2에 각각 인가되는 유지, 스캔 및 어드레스 파형 Vs, Vsc 및 Va를 나타내며, 그 각각에 대응하는 IR 방출 파형도 함께 나타낸다.

도 6c 및 도 6d는 두개의 셀 내의 벽/공간 전하의 시간적 분포의 변화를 나타낸다.

도 7은 펄스 연장 폭 t가 0.4us로 일정한 경우(비대칭 고정폭 스캔 펄스)에 대해서 스캐닝 시간이 0us에서 100us까지 변화하는 경우에 (a) 구동 파형과 (b) 동적 전압 마진을 나타내었다.

도 8은 펄스 연장 폭 t가 가변인 경우(비대칭 가변폭 스캔 펄스)에 대해서 스캐닝 시간이 0us에서 100us까지 변화하는 경우에 (a) 구동 파형과 (b) 동적 전압 마진을 나타내었다.

도 9는 본 발명의 비대칭 가변폭 스캔 방법 및 비대칭 고정폭 스캔 방법과, 종래 기술의 대칭 스캔 방법의 동적 전압 마진을 각각 비교하여 도시한다.

도 10은 어드레스 방전에 의하여 충분한 양의 벽전하가 누적되어 있는지를 검증하기 위하여, 첫번째의 유지 방전 펄스의 인가후 방출되는 IR 방출 세기를 측정한 결과이다. 여기서, (a) 종래 기술의 대칭 스캔 방법의 경우, (b) 본 발명의 비대칭 고정폭 스캔의 경우, (c) 본 발명의 비대칭 가변폭 스캔의 경우를 나타낸다.

Claims (5)

1. 삭제
2. 스캔 전극, 유지 전극 및 어드레스 전극을 각각 갖는 복수개의 방전 셀을 포함하는 교류형 플라즈마 디스플레이 패널에 소정의 해상도로 화상 정보를 표시하기 위하여, 상기 화상 정보의 1 프레임을 복수 개의 부 프레임으로 분할하고, 각각의 부 프레임은 리셋 기간, 어드레스 기간 및 유지 기간을 포함하도록 하는 교류형 플라즈마 디스플레이의 구동 방법에 있어서,

   상기 어드레스 기간은,

   상기 화상 정보에 의한 데이터를 원하는 방전 셀에 표시하고자 상기 방전 셀의 주사 전극에 연결된 스캔 라인에 스캔 펄스를 인가하는 단계;

   상기 스캔 펄스 인가와 함께, 상기 원하는 방전셀에 표시하고자 하는 데이터가 상기 방전 셀에 데이터를 기입할 것을 나타내는 경우에, 상기 방전 셀의 어드레스 전극에 연결된 라인에 상기 해상도에 의하여 결정되는 소정 펄스폭을 가지는 어드레스 펄스를 인가하여 어드레스 방전을 발생시키는 단계; 및

   상기 어드레스 펄스폭에 상당하는 기간이 종료한 후에도 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 라인에 인가된 상태로 시간 t 동안 더 지속되도록 하여, 상기 어드레스 방전에 의해 생성된 벽전하가 충분히 누적될 수 있도록 하는 스캔 펄스 연장 단계를 포함하고,

   상기 스캔 펄스 연장 시간 t는 상기 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어느 정도 시간이 경과한 후에 인가되는지의 여부에 따라 그 크기가 가변되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이의 구동 방법.
3. 제2항에 있어서,

   상기 스캔 펄스 연장 시간 t는 해당 스캔 라인에 인가되는 상기 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어느 정도 시간이 경과한 후의 것인지에 따라 점차 증가하는 값을 가지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이의 구동 방법.
4. 제3항에 있어서,

   상기 스캔 펄스 연장 시간 t는 해당 스캔 라인에 인가되는 상기 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어느 정도 시간이 경과한 후의 것인지에 따라 증가하는 수개의 이산화(discretized)된 값으로 설정되며, 상기 스캔 펄스가 리셋 방전이 종료된 후 어드레스 방전 형성 및 방전 통계적 지연 시간에 미치는 상기 리셋 방전의 영향이 포화되는 시점이 지난 후에는 일정한 값으로 고정되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이의 구동 방법.
5. 제2항 내지 제4항의 어느 한 항에 있어서,

   상기 해상도는 XGA급 이상의 해상도이며, 상기 어드레스 펄스의 폭은 3.0us 미만, 상기 연장 시간 t는 1.0us 이하인 플라즈마 디스플레이의 구동 방법.