KR100492261B1 - Vacuum processing system and operating method of vacuum processing system - Google Patents

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KR100492261B1
KR100492261B1 KR10-2004-0105276A KR20040105276A KR100492261B1 KR 100492261 B1 KR100492261 B1 KR 100492261B1 KR 20040105276 A KR20040105276 A KR 20040105276A KR 100492261 B1 KR100492261 B1 KR 100492261B1
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wafer
processing apparatus
wafers
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KR10-2004-0105276A
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니시하타고지
죠오가즈히로
이쿠하라쇼지
다하라데츠야
오키구치쇼지
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가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼
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Abstract

본 발명은 프로세스 처리를 행하는 두 개이상의 프로세스 처리장치와, 웨이퍼의 반송을 행하는 반송 처리장치로 구성된 진공 처리장치에서는 두 개이상의 처리실중 어느 하나가 고장등으로 사용할 수 없게 된 경우에도 운전속행을 할 수 있고, 또 운전 개시시 수복이나 보수할 필요가 있는 경우, 프로세스 처리장치가 있는 경우에도 오조작에 의하여 작업자에게 위해를 가하지 않고, 정상인 프로세스 처리장치를 사용하여 운전할 수 있다는 편폐운전을 행할 수 있고, 장치의 가동율을 향상시킴과 동시에 작업자에 대한 안전성의 확보를 도모할 수 있다. 또 반송 처리장치를 이용하여 크리닝용 더미웨이퍼를 프로세스 처리장치내로 반송하고, 상기 프로세스 처리장치내의 크리닝처리를 행하고, 상기 크리닝처리 종료후, 더미웨이퍼를 카세트로 회수하여 계속하여 프로세스 처리장치로 웨이퍼처리를 행할 수 있다.The present invention relates to a vacuum processing apparatus comprising two or more process processing apparatuses for carrying out a process process and a conveying processing apparatus for carrying wafers, which can be operated even when any one of the two or more processing chambers cannot be used due to a failure or the like. In addition, when repair or maintenance is necessary at the start of operation, even if there is a process processing device, a single operation can be performed that can be operated using a normal process processing device without harming the operator by an incorrect operation. In addition, it is possible to improve the operation rate of the apparatus and at the same time ensure the safety of the operator. In addition, the cleaning dummy wafer is conveyed into the process processing apparatus by using the transfer processing apparatus, the cleaning processing in the process processing apparatus is performed, and after the cleaning process is completed, the dummy wafer is collected into a cassette and the wafer processing is continued with the process processing apparatus. Can be done.

Description

진공 처리장치 및 진공처리방법{Vacuum processing system and operating method of vacuum processing system}Vacuum processing system and operating method of vacuum processing system}

본 발명은 프로세스 처리를 행하는 두 개이상의 프로세스 처리장치와, 웨이퍼의 반송을 행하는 반송 처리장치로 구성되고, 적어도 두 개이상의 프로세스 처리장치를 사용하여 웨이퍼처리하는 진공 처리장치의 운전방법 및 진공 처리장치에 관한 것이다.The present invention comprises two or more process processing apparatuses for carrying out process processing, and a conveying processing apparatus for conveying wafers, and an operating method and a vacuum processing apparatus of a vacuum processing apparatus for wafer processing using at least two or more process processing apparatuses. It is about.

종래의 장치는 예를 들어 일본국 특개소 63-133532호 공보와 같이 반송실에 처리실을 접속한 시스템에 있어서, 정상인 운전상태에서 시료처리가 실시되는 경우, 별개의 웨이퍼를 별개의 처리실에서 동시에 실행하거나 또는 웨이퍼를 순차 두 개이상의 처리실을 경유하여 처리할 수 있는 장치 및 그 반송에 관한 것이었다.The conventional apparatus is, for example, in a system in which a processing chamber is connected to a transfer chamber as in Japanese Patent Laid-Open No. 63-133532, when sample processing is performed in a normal operating state, separate wafers are simultaneously executed in separate processing chambers. The present invention relates to an apparatus capable of processing a wafer via two or more processing chambers sequentially, and a transfer thereof.

또 다른 종래 장치는 일본국 특개평 3-274746호 공보와 같이 두 개의 경로의 프로세스 처리를 동시에 행하는 운전으로 한 개의 경로에 포함되는 처리실에 메인터넌스작업을 실시하는 경우는 다른 경로의 처리실을 과도적으로 두 개의 경로의 프로세스 처리에 공용하는 장치의 운전방법에 관한 것이었다.Another conventional apparatus is an operation that simultaneously performs two paths of process processing, such as Japanese Patent Laid-Open No. 3-274746. When maintenance work is performed on a processing chamber included in one path, the processing chamber of another path is transiently transitioned. It was about operating a device common to two-path process processing.

상기 종래 기술은 두 개이상의 프로세스 처리를 실시하는 경우, 웨이퍼를 진공 분위기의 반송로를 개재하여 두 개이상의 처리실로 반송하고, 각각의 처리실에서는 그 처리실이 가지는 고유의 처리를 실시함으로써 대기상태에 노출되지 않고 진공중에서 복수의 프로세스 처리를 하기 위한 장치 구성, 반송 방법 및 메인티넌스작업을 통상의 웨이퍼처리와 평행 작업시키는 것이었다.In the prior art, when two or more process processes are performed, wafers are conveyed to two or more process chambers through a conveyance path in a vacuum atmosphere, and each process chamber is exposed to an atmospheric state by performing a unique process of the process chamber. Instead, the apparatus configuration, conveying method and maintenance work for carrying out a plurality of process treatments in vacuum were performed in parallel with normal wafer processing.

그런데 상기 전자의 종래기술에서는 두 개이상의 처리실을 처리경로로서 사용하여 운전하고 있는 운전중에 어느 처리실이 고장등으로 사용할 수 없게 되었을 때 정상인 처리실을 사용하여 처리를 속행하는 운전 및 복구 처리에 관해서는 고려되어 있지 않았었다.However, in the former prior art, when an operation in which two or more processing chambers are used as a processing path and one of the processing chambers becomes unavailable due to a failure, the operation and recovery processing to continue the processing using the normal processing chamber is considered. It wasn't.

또 운전 개시시 수복할 필요가 있는 처리실이 있는 경우에도 정상인 처리실만을 사용하여 장치를 운전하는 방법, 순서에 관해서도 고려되어 있지 않았었다.In addition, even when there is a processing chamber that needs to be repaired at the start of operation, no consideration has been given to the method and procedure for operating the apparatus using only the normal processing chamber.

또 두 개이상의 처리실을 처리 경로로서 사용하여 운전중에 그 운전을 일시 중단시키고, 중단시키기까지 그 운전의 처리경로에 사용하고 있지 않던 처리실을 처리 경로로서 사용한 인터럽트 처리를 우선적으로 실행하고, 그 인터럽트 처리가 종료한 후는 일시 중단시키고 있던 처리를 속행시키는 운전방법, 순서에 관해서도 고려되어 있지 않았다.In addition, by using two or more processing chambers as processing paths, the operation is temporarily suspended during operation, and interrupt processing using the processing chambers not used in the processing path of the operation until the interruption is used as the processing path is executed first, and the interrupt processing is performed. The operation method and procedure for continuing the process which was suspended after the completion of the process were not considered.

또 두 개이상의 처리실을 처리경로로서 사용하여 운전중에 그 운전의 처리경로에 사용하고 있지 않는 처리실의 기기에 대한 조작 지시의 방법에 관해서는 고려되어 있지 않았다. 또 그 운전의 처리경로에 사용하고 있지 않는 처리실의 기기에 대한 조작 지시를 통상 조작하는 조작부와 이간된 장소에 있는 조작부에서 행하는 경우의 조작상의 안전성 확보에 관해서도 고려되어 있지 않았다.In addition, no consideration has been given to the method of operation instruction for the equipment of the processing chamber which uses two or more processing chambers as the processing path and is not used in the processing path of the operation during operation. Moreover, no consideration has been given to ensuring operational safety when the operation instruction for the equipment of the processing chamber that is not used in the processing route of the operation is performed by the operation unit that is separated from the operation unit that normally operates.

또 상기 후자의 종래 기술에서는 타겟 교환의 메인티넌스작업과 같이 작업자가 가동하고 있는 장치의 기기측에 서서 장치 및 기기에 메인티넌스하는 작업과 통상의 웨이퍼처리를 병행하여 운전하는 경우에 예를 들어 “오조작”에 의하여 처리용 가스를 흘리거나 방전용 전원을 온하여 감전하게 된다는 안전성의 확보에 관한 처치, 방법은 고려되어 있지 않았다.In the latter conventional technique, an example of a case in which the operation of maintaining the apparatus and the apparatus and the operation of the normal wafer processing in parallel with the operation of the apparatus standing on the apparatus side of the apparatus operated by the operator, such as the maintenance operation of the target exchange, is performed. For example, no treatment or method has been considered for securing safety that the processing gas or the power supply for discharging is turned on by "incorrect operation".

이와 같이 종래 기술은 처리실이 정상인 상태 및 운전개시전에 미리 수복하는 처리실만을 제외한 다음의 운전을 고려한 것이나, 운전중에 처리실이 이상등으로 사용할 수 없을 때의 운전, 인터럽트 처리, 운전중의 운전의 일시 중단 및 중단상태에서 재개 운전이나 운전중에 처리경로에 사용하고 있지 않는 처리실의 조작, 운용 등에 관해서는 고려되어 있지 않기 때문에 예를 들어 같은 종류의 처리실이 접속되어 있는 경우, 운전중에 다른쪽의 정상인 처리실을 사용하여 운전을 속행한다는 장치의 운전방법이 고려되어 있지 않아 가동율이 낮은 장치였다.As described above, the prior art considers the following operation except for the state in which the processing chamber is normal and only the processing chamber to be repaired before operation start, but the operation when the processing chamber cannot be used abnormally during the operation, interrupt processing, temporary suspension of the operation during the operation. And the operation and operation of the processing chamber which is not used in the processing path during the resumption operation or the operation in the suspended state is not considered, for example, when the same type of processing chamber is connected, The operation rate of the device to continue the operation was not considered.

또 정상으로 웨이퍼처리하는 통상운전과 병행하여 이상인 처리실을 복구하거나 정기적으로 실시하는 메인티넌스하는 작업을 행하는 경우의 작업자에 대한 안전성 확보의 배려가 되어 있지 않는 장치였다.In addition, it was an apparatus that did not consider the safety of the worker in the case of performing the maintenance work which restores abnormal process chambers or performs regularly in parallel with normal operation which processes a wafer normally.

본 발명은 프로세스 처리를 행하는 두 개이상의 프로세스 처리장치와 웨이퍼의 반송을 행하는 반송 처리장치로 구성되고, 적어도 두 개이상의 프로세스 처리장치를 사용하여 처리하는 진공 처리장치에 있어서, The present invention comprises two or more process processing apparatuses for carrying out process processing and a conveying processing apparatus for conveying wafers, wherein the vacuum processing apparatus for processing using at least two or more process processing apparatuses,

1) 두 개이상의 처리실을 처리 경로로 사용하여 운전중에 처리실중 어느것이 고장등으로 사용할 수 없게 된 경우에도 운전속행할 수 있고, 또,1) If two or more processing chambers are used as the processing route, the operation can be continued even if any one of the processing chambers cannot be used due to a failure during operation.

2) 수복할 필요가 있는 프로세스 처리장치가 있는 경우는 정상인 처리실만을 처리경로로서 사용하여 운전할 수 있고, 또,2) When there is a process processing apparatus that needs to be repaired, only a normal processing chamber can be used as the processing route, and

3) 운전중에 운전의 일시 중단 및 중단상태에서의 재개 운전 및 운전중에 운전을 일시 중단시키고, 중단시키기 까지 그 운전의 처리경로에 사용하고 있지 않던 처리실을 처리경로로 사용한 인터럽트 처리를 실행하고, 그 인터럽트 처리가 종료된 후는 일시 중단시키고 있던 처리를 속행시키는 운전을 할 수 있고, 또,3) Suspend and Resume Operation in Operation Suspend and Resume in Interrupted State Interrupt processing that uses the processing chamber that was not used in the operation path of the operation until the operation is suspended and stops is executed as the processing path. After the interrupt processing ends, the operation to continue the suspended processing can be performed.

4) 두 개이상의 처리실을 처리 경로로서 사용하여 운전중에 그 운전의 처리 경로에 사용하고 있지 않는 처리실의 기기에 대한 조작 지시를 할 수 있고, 또 그 운전의 처리 경로에 사용하고 있지 않는 처리실의 기기에 대하여 조작 지시를 하는 경우나, 통상의 조작 지시를 하는 조작부와 분리된 장소에 있는 조작부에서 조작 지시를 행하는 경우의 조작상의 안전성을 확보할 수 있고, 또,4) By using two or more processing chambers as processing paths, operation instructions for devices in the processing chambers not being used in the processing paths of the operation during operation can be given, and the equipments in the processing chambers not being used in the processing paths of the operation. The operational safety in the case of giving an operation instruction with respect to the operation instruction or in the case where the operation instruction is performed at an operation portion that is separated from the operation portion which gives a normal operation instruction,

5) 정상으로 웨이퍼처리하는 통상 운전과 병행하여 이상인 처리실을 복구하거나 정기적으로 실시하는 메인터넌스작업을 행하는 경우 작업자에 대한 안전성의 확보를 할 수 있게 함으로써 장치의 가동율을 향상할 수 있고, 또한 안전성의 확보가 도모되는 진공 처리장치의 운전 방법 및 진공 처리장치를 제공하는 데 있다.5) It is possible to improve the operation rate of the device by ensuring the safety of the operator in case of repairing abnormal processing chambers or performing maintenance work on a regular basis in parallel with the normal operation of normal wafer processing. The present invention provides a method of operating a vacuum processing apparatus and a vacuum processing apparatus.

상기 목적을 달성하기 위하여 각 프로세스 처리장치의 운전 유효 또는 운전 무효인 것을 나타내는 각 운전 정보 신호를 발생하는 운전 정보 신호 발생수단을 각 프로세스 처리장치 마다 설치하고, 그 각 운전 정보 신호를 기억하는 운전 정보 신호 기억수단을 설치하고, 각 운전 정보 신호를 기초로 하여 운전 무효인 상기 프로세스 처리장치를 사용하지 않고, 다른 운전 유효한 프로세스 처리장치를 사용하여 운전 속행하는 장치 제어수단을 설치한 것이다.In order to achieve the above object, operation information signal generating means for generating each operation information signal indicative of the operation valid or invalid operation of each process processing apparatus is provided for each process processing apparatus, and the operation information for storing each operation information signal. It is provided with a device storage means for providing signal storage means and continuing the operation using another process valid process operation apparatus without using the process processing apparatus invalid for operation based on each operation information signal.

장치의 운전에서는 운전 도중에 있는 프로세스 처리장치가 고장등으로 사용할 수 없게 된 경우는 장치 운전을 일시 중단하고, 오퍼레이터에게 운전 속행 또는 운전 중지의 판단을 재촉하고 속행할 경우는 운전 속행의 처치를 장치에 하는 것으로 운전 속행이 가능하게 되도록 한 것이다.In the operation of the device, if the process processing device in the middle of operation becomes unusable due to failure, etc., the operation of the device is suspended, and the operator is urged to judge the operation to be continued or to stop the operation. By doing so, it is possible to continue driving.

또 운전 개시 시점에서 수복, 보수 등을 할 필요가 있는 프로세스 처리장치가 있는 상태에서 운전을 개시하는 경우는 운전 개시전에 수복, 보수 등을 할 필요가 있는 프로세스 처리장치를 사용하지 않고, 유효한 프로세스 처리장치를 사용하여 장치 운전하는 처치를 실시하는 것으로 운전이 가능하게 되도록 한 것이다.In addition, when the operation is started while there is a process processing device that needs to be repaired or repaired at the start of operation, effective process processing is performed without using a process processing device that needs to be repaired or repaired before starting operation. By operating the device using the device, the operation is made possible.

또 정상으로 웨이퍼처리하는 통상 운전과 평행하여 이상인 처리실을 복구하거나 정기적으로 실시하는 메인티넌스작업을 행할 경우, 오조작을 행하여도 처리용 가스를 흘리지 않도록 가스 라인의 에어오퍼레이션 밸브 구동용 에어라인을 차단할 수 있는 기능(예를 들어 가스 라인마다 수동 개폐용 밸브를 설치함)을 설치하고, 방전용 전원을 잘못하여 온으로 감전하지 않도록 방전용 전원 유닛에 공급하고 있는 전원을 차단할 수 있는 기능(예를 들어 전원 라인마다 온/오프할 수 있는 브레이커를 설치함)을 설치함으로써 작업자에 대한 안전성의 확보를 할 수 있게 함으로써 장치의 가동율을 향상할 수 있고, 또한 안전성의 확보가 도모되는 진공 처리장치의 운전 방법 및 진공 처리장치를 제공하는 데 있다.In addition, when repairing abnormal processing chambers or performing maintenance on a regular basis in parallel with normal operation of normal wafer processing, the air operation valve driving air line of the gas line should be operated so that the processing gas does not flow even if an incorrect operation is performed. Install a function to shut off (for example, a manual opening / closing valve for each gas line) and a function to cut off the power supply to the power supply unit for discharging so that the electric power for discharging is not accidentally turned on. For example, by installing a breaker that can be turned on and off for each power line, the safety of the operator can be ensured, thereby increasing the operation rate of the apparatus and ensuring safety. An operating method and a vacuum processing apparatus are provided.

이하, 본 발명의 일실시예를 도 1 내지 도 13에 나타낸다.Hereinafter, one embodiment of the present invention is shown in Figs.

도 1은 일실시예로서 프로세스 처리장치가 반송 처리장치에 4실 접속되고, 처리장치에 웨이퍼를 반입하기 위한 카세트는 처리장치 본체의 앞에 설치한 대기 반송 장치에 설치하고, 상기 카세트로부터 한매씩 인출하여 처리장치로 반입하여 처리하는 장치 구성도를 나타낸다. 프로세스 처리장치가 4개이상 접속되어도 상관없다. 도 1에서 1은 웨이퍼의 반송을 행하는 반송 처리장치이고, 로드 록실의 웨이퍼를 웨이퍼의 반송 스케쥴에 따라 프로세스 처리장치(2-1 ~2-4)로 반송하고, 프로세스 처리장치에서 처리종료한 웨이퍼를 다음 프로세스 처리장치로 반송하고, 모든 프로세스 처리가 종료한 웨이퍼를 언로드 록실로 방송한다. 2-1 ~ 2-4는 프로세스 처리를 행하는 프로세스 처리장치이다. 프로세스 처리로서는 에칭, 후처리, 성막, 스패터, CVD, 수세 처리등 웨이퍼의 프로세스 처리 전체를 포함한다. 3은 로드 록실이며 대기 반송 장치(6)에 있는 웨이퍼를 반송 처리장치로 반입하는 실, 4는 언로드 록실이며 진공 처리실에 있는 웨이퍼를 대기 반송장치(6)로 반출하는 실, 5는 반송 처리장치내에 설치되어 웨이퍼의 반송을 행하는 진공 로봇, 6은 웨이퍼를 수납한 카세트를 설치하기 위한 대기 반송장치, 7은 처리할 웨이퍼를 수납한 카세트 이고 제품용 웨이퍼를 수납한 카세트나 크리닝용 웨이퍼를 수납한 카세트이다. 8은 대기 반송장치상의 카세트 내의 웨이퍼를 카세트로부터 반출하고, 로드 록실(3)로 반입하며 또 언로드 록실(4)의 웨이퍼를 원래의 카세트로 되돌리는 대기 로봇을 나타낸다.Fig. 1 shows, as one embodiment, four process processing apparatuses connected to a transfer processing apparatus, and cassettes for carrying wafers into the processing apparatus are installed in an atmospheric transfer apparatus installed in front of the processing apparatus main body, and taken out one by one from the cassette. The device configuration diagram which carries in to a processing apparatus and processes it is shown. Four or more process processors may be connected. 1 to 1 are conveying apparatuses for conveying wafers, wafers in the load lock chamber being conveyed to the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 according to the conveying schedule of wafers, and finished at the process processing apparatuses. Is transferred to the next process processing apparatus, and the wafer on which all the process processing is completed is broadcasted to the unload lock chamber. 2-1 to 2-4 are process processing apparatuses which perform process processing. Process processing includes the entire wafer processing such as etching, post-processing, film formation, spatter, CVD, and water washing. 3 is a load lock chamber, a chamber for carrying wafers in the atmospheric transfer apparatus 6 into the transfer processing apparatus, 4 is an unload lock chamber, a chamber for carrying wafers in the vacuum processing chamber to the atmospheric transfer apparatus 6, 5 is a transfer processing apparatus. A vacuum robot installed inside to carry wafers, 6 a standby conveying apparatus for installing a cassette containing wafers, 7 a cassette containing wafers to be processed, and a cassette containing a product wafer or a cleaning wafer Cassette. 8 shows an atmospheric robot which takes out the wafer in the cassette on the atmospheric conveying apparatus from the cassette, carries it into the load lock chamber 3 and returns the wafer of the unload lock chamber 4 to the original cassette.

통상의 운전에서는 오퍼레이터는 제품용 웨이퍼를 수납한 카세트(7-1)(또는 7-2)와 크리닝용 웨이퍼를 수납한 카세트(7-3)를 대기 반송장치(6)에 설치한다. 표시 수단(13), 입력 수단(14)을 사용하여 운전 조건의 설정을 행한 후, 운전의 개시 지시를 행한다. 운전이 개시되면, 웨이퍼의 반송이 개시되어 프로세스 처리장치[21-(2-2 ~ 2-4)도 포함]로 반송되고, 프로세스 처리를 행하여 원래의 카세트로 되돌려진다. 원래의 카세트내의 웨이퍼가 모두 처리되면, 그 카세트의 회수를 위해 도시 생략한 버저를 울려 오퍼레이터에게 카세트 회수 요구를 통보하고, 오퍼레이터가 카세트를 제거한다. 제품용 웨이퍼를 수납한 카세트의 처리가 종료하면, 카세트(7-3)로부터 크리닝용 웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-1, 2-2, 2-3, 2-4)로 반출하고, 크리닝 처리를 행하여 카세트(7-3)로 되돌아 가게 한다. 이 경우, 일매의 크리닝용 더미웨이퍼를 사용하여 순차 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)로 반출하고, 크리닝처리를 행하는 것도 가능하며, 또 다른 방법으로서 프로세프 처리장치(2-1 ~ 2-4)로 일매씩 반송하고, 크리닝 처리를 동시에 행하는 것도 가능하다. 또 상기한 크리닝 처리는 제품용 웨이퍼를 수납한 카세트의 처리가 종료하면, 카세트(7-3)로부터 크리닝용 더미웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)로 반송하고, 크리닝 처리를 행하였으나, 크리닝용 더미웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)로 반송하지 않고 크리닝 처리를 행하는 것도 가능하다. 또 이상과 같이 1카세트분의 제품용 웨이퍼의 처리 종료후, 크리닝처리를 행하는 것에 덧붙혀 크리닝주기로서 처리한 제품 웨이퍼의 매수마다(이 매수는 적절히 설정가능)카세트(7-3)로부터 크리닝용 더미웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)로 반출하고, 크리닝처리를 행하는 것도 가능하다. 또 크리닝 주기로서 처리한 제품 웨이퍼의 매수마다(이 매수는 적절히 설정가능)카세트(7-3)로부터 크리닝용 더미웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)로 반송하지 않고, 크리닝처리를 행하는 것도 가능하다. 또 제품용 웨이퍼를 수납한 카세트의 처리가 미리 설정된 카세트수 실시후에 카세트(7-3)로부터 크리닝용 더미웨이퍼를 프로세스처리장치(2-1 ~ 2-4)로 반송하고, 크리닝처리를 행하는 것도 가능하다.In normal operation, the operator installs the cassette 7-1 (or 7-2) containing the product wafer and the cassette 7-3 containing the cleaning wafer in the air conveying apparatus 6. After setting the operating conditions using the display means 13 and the input means 14, an instruction to start operation is performed. When the operation is started, the conveyance of the wafer is started and conveyed to the process processing apparatus 21- (2-2 to 2-4), and the process is performed to return to the original cassette. When all the wafers in the original cassette have been processed, a buzzer (not shown) is issued to recover the cassette, and the operator is notified of the cassette recovery request, and the operator removes the cassette. When the processing of the cassette containing the product wafer is finished, the cleaning wafer is taken out from the cassette 7-3 to the process processing apparatus 2-1, 2-2, 2-3, 2-4, and the cleaning process is performed. To return to the cassette 7-3. In this case, it is also possible to carry out to a process processing apparatus 2-1-2-4 using a single dummy wafer for cleaning, and to perform a cleaning process. As another method, the process processing apparatus 2-1-is carried out. It is also possible to carry out one by one in 2-4) and perform the cleaning process at the same time. In the above cleaning process, when the processing of the cassette containing the product wafer is completed, the cleaning dummy wafer is conveyed from the cassette 7-3 to the process processing apparatuses 2-1 to 2-4, and the cleaning processing is performed. However, it is also possible to perform the cleaning process without conveying the cleaning dummy wafer to the process processing apparatuses 2-1 to 2-4. As described above, in addition to performing a cleaning process after the completion of the processing of one cassette of product wafers, the cleaning for each of the number of product wafers processed as a cleaning cycle (this number can be appropriately set) is performed from the cassette 7-3. It is also possible to carry out a dummy wafer to process processing apparatuses 2-1 to 2-4, and to perform a cleaning process. Also, the cleaning process is not carried out from the cassette 7-3 to the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 for each number of product wafers processed as a cleaning cycle (this number can be set appropriately). It is also possible to do this. In addition, after the cassettes carrying the product wafers have been subjected to a preset number of cassettes, the cleaning dummy wafers are conveyed from the cassettes 7-3 to the process processing apparatuses 2-1 to 2-4, and cleaning is performed. It is possible.

다음에 제품 웨이퍼를 수납한 카세트의 처리 개시전에 카세트(7-3)로부터 더미 웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)로 반송하지 않고 에징처리후에 상기 웨이퍼처리를 행하는 것도 가능하다. 또 제품 웨이퍼를 수납한 카세트의 처리개시전에 카세트(7-3)으로부터 더미웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)로 반송하고, 에징처리한 후, 더미웨이퍼를 카세트(7-3)로 되돌리고, 본 에징처리를 미리 설정한 웨이퍼 매수분 처리를 실시한 후, 상기 웨이퍼처리를 행하는 것도 가능하다.Next, it is also possible to perform the above wafer processing after the edging process without transferring the dummy wafer from the cassette 7-3 to the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 before the start of processing the cassette containing the product wafer. In addition, the dummy wafer is conveyed from the cassette 7-3 to the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 before the processing of the cassette containing the product wafers, and subjected to edging, and then the dummy wafer is transferred to the cassette 7-3. ), The wafer treatment may be carried out after the wafer sheet treatment in which the edging treatment is set in advance.

이상 설명한 크리닝처리란 프로세스 처리장치내의 이물을 제거하기 위하여 행하는 처리이고, 에징처리란 웨이퍼처리를 행하기 전에 프로세스 처리장치내를 웨이퍼 처리상태로 하기 위하여 행하는 처리이다.The cleaning process described above is a process performed to remove foreign substances in the process processing apparatus, and the edging process is a process performed to bring the process processing apparatus into the wafer processing state before performing the wafer processing.

또한 운전 조건설정의 일부인 처리 경로의 설정에서는 그 처리에 사용하는 프로세스 처리장치를 웨이퍼의 처리하는 순서에 프로세스 처리장치의 기호 등을 사용하여 설정한다.In the process path setting which is a part of the operation condition setting, the process processor used for the process is set using the symbol of the process processor in order to process the wafer.

이 웨이퍼의 처리 순서는 운전 모드로서 표 1에 나타낸다.The processing sequence of this wafer is shown in Table 1 as an operation mode.

이하의 이 운전모드의 설명에서는 프로세스 처리장치(2-2, 2-3)는 동일 프로세스 처리를(이 실시예에서는 에칭처리라 함), 프로세스 처리장치(2-1, 2-4)는 동일 프로세프 처리를(이 실시예에서는 후처리라 함)하는 것으로 설명한다. 또 프로세스 처리의 실시예로서는 프로세스 처리장치(2-2, 2-3)를 사용한 에칭처리를 행한 후, 프로세스 처리장치(2-1, 2-4)를 행한 후 처리를 행하는 것으로 한다. 또한 1카세트분의 제품용 웨이퍼의 처리후, 카세트(7-3)로부터 크리닝용 웨이퍼를 프로세스 처리장치[2-3 또는 (2-2)]로부터 프로세스 처리장치[2-4 또는(2-1)]로 반송하고, 크리닝처리를 행하는 운전에 관하여 설명한다. 또 웨이퍼의 처리조건에 따라서는 에칭처리만이어도 상관없다.In the following description of this operation mode, the process processing apparatuses 2-2 and 2-3 perform the same process processing (called an etching process in this embodiment), and the process processing apparatuses 2-1 and 2-4 are the same. The process processing (referred to as post-processing in this embodiment) will be described. Moreover, as an Example of a process process, after performing the etching process using the process processing apparatuses 2-2 and 2-3, it is assumed that the process is performed after performing the process processing apparatuses 2-1 and 2-4. After the processing of one cassette of product wafers, the cleaning wafer from the cassette 7-3 is transferred from the process processor [2-3 or (2-2)] to the process processor [2-4 or (2-1). ), And the operation of carrying out the cleaning process will be described. Moreover, depending on the processing conditions of a wafer, only an etching process may be sufficient.

1) 1카세트 1레시피 병렬 운전1) 1 cassette 1 recipe parallel operation

동일한 프로세스 처리 조건(이하에서는 프로세스 처리조건을 레시피라 함)으로 처리하는 웨이퍼가 수납된 카세트내의 최하단 또는 최상단의 웨이퍼로부터 순서대로 카세트로부터 골라내어 반송 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 하는 것이다. 웨이퍼는 프로세스 처리장치(2-2)에서 에칭처리한 후, 프로세스 처리장치(2-1)에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이를 경로 A라 함)와, 프로세스 처리장치(2-3)에서 에칭처리한 후, 프로세스 처리장치(2-4)에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이를 경로 B라 함)의 양쪽을 사용하여 처리한다.The wafers processed under the same process processing conditions (hereinafter referred to as recipes) are sequentially picked from the cassettes from the lowermost or uppermost wafers in the cassette containing the wafers, and brought into the transfer processing apparatus for processing. After the wafer is etched in the process processor 2-2, the wafer is post-processed in the process processor 2-1 to return to the original cassette (this is called path A), and the process processor 2 After the etching treatment in -3), the process is carried out by using both of the paths (referred to as path B) which are post-processed in the process processing apparatus 2-4 and returned to the original cassette.

이 실시예에서의 처리 순서는 The processing sequence in this embodiment is

경로 A : 카세트(7-1)→프로세스 처리장치(2-2)→프로세스 처리장치(2-1)→ 카세트(7-1)Path A: Cassette 7-1 → Process Processing Unit 2-2 → Process Processing Unit 2-1 → Cassette 7-1

경로 B : 카세트(7-1)→프로세스 처리장치(2-3)→프로세스 처리장치(2-4)→ 카세트(7-1)Path B: Cassette (7-1) → Process Processing Unit (2-3) → Process Processing Unit (2-4) → Cassette (7-1)

의 조합으로 하였으나,But in combination

경로 C : 카세트(7-1)→프로세스 처리장치(2-2)→프로세스 처리장치(2-4)→ 카세트(7-1)Path C: Cassette 7-1 → Process Processing Unit 2-2 → Process Processing Unit 2-4 → Cassette 7-1

경로 D : 카세트(7-1)→프로세스 처리장치(2-3)→프로세스 처리장치(2-1)→ 카세트(7-1)Path D: Cassette (7-1) → Process Processing Unit (2-3) → Process Processing Unit (2-1) → Cassette (7-1)

의 조합으로 하여도 된다.It may be a combination of.

웨이퍼의 처리는 1 매째의 웨이퍼는 경로 A, 2 매째는 경로 B, 3 매째의 웨이퍼는 경로 A, 4 매째는 경로 B …라는 순서로 카세트내의 최종 웨이퍼까지 처리를 행한다. 최종 웨이퍼를 카세트(7-1)로부터 반출하면(도 3-A), 카세트(7-3)로부터 크리닝용 웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-3)로 반송하고, 크리닝 처리를 개시시킨다(도 3-B). 또 프로세스 처리장치(2-2)내에 있던 최종 웨이퍼가 프로세스 처리장치(2-1)로 반송되어 있으면, 카세트(7-3)로부터 크리닝용 웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-2)로 반송하고, 크리닝처리를 개시시킨다. 프로세스 처리장치(2-3)에서의 크리닝처리가 종료하면, 크리닝용 웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-3)로부터 프로세스 처리장치(2-4)로 반송하고, 크리닝처리를 행한다. 이때까지 제품용 카세트(7-2)가 설치되어 있으면, 카세트(7-1)의 처리 종료에 계속해서 카세트(7-2)의 처리로 옮겨가고, 그후 카세트(7-2)로부터 제품용 웨이퍼의 1매째를 프로세스 처리장치(2-3)로 반송하고, 프로세스 처리를 행한다(도 3-C). 프로세스 처리장치(2-4)에서의 크리닝처리가 종료하면, 크리닝용 웨이퍼를 카세트(7-3)로 되돌아가게 한다. 또 이때까지 프로세스 처리장치(2-2)에서의 크리닝 처리가 종료하면, 크리닝용 웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-2)로부터 프로세스 처리장치(2-1)로 반송하고, 크리닝 처리를 행한다. 그후, C2카세트로부터 제품용 웨이퍼의 2 매째를 프로세스 처리장치(2-2)로 반송하고, 프로세스처리를 행한다(도 3-D). 또 카세트(7-1)내의 모든 웨이퍼가 처리를 종료하면 카세트(7-1)의 처리종료와 카세트교환을 오퍼레이터에게 통보하기 위하여 도시 생략한 버저를 울린다. 이상과 같이 카세트(7-2)에 관해서도 카세트(7-1)의 경우와 동일 순서로 처리를 행하고, 카세트(7-2)내의 모두를 처리종료하면, 카세트(7-2)의 처리종료와 카세트교환을 오퍼레이터에게 통보하기 위하여 버저를 울린다. 이후, 이 운전 사이클을 반복한다. 이 운전을 종료하는 경우는 주제어부(11)로부터 운전 종료의 조작 입력을 행하는 것으로 운전이 종료한다.The wafer is processed by the first wafer as the path A, the second as the path B, the third as the path A, the fourth as the path B. The process is performed up to the final wafer in the cassette in the following order. When the final wafer is taken out from the cassette 7-1 (Fig. 3-A), the cleaning wafer is transferred from the cassette 7-3 to the process processor 2-3, and the cleaning process is started (Fig. 3). -B). Moreover, if the last wafer in the process processing apparatus 2-2 is conveyed to the process processing apparatus 2-1, the cleaning wafer will be conveyed from the cassette 7-3 to the process processing apparatus 2-2, The cleaning process is started. When the cleaning process in the process processing apparatus 2-3 is complete | finished, a cleaning wafer is conveyed from the process processing apparatus 2-3 to the process processing apparatus 2-4, and a cleaning process is performed. If the product cassette 7-2 is provided up to this time, the processing of the cassette 7-2 is continued following the end of the processing of the cassette 7-1, and the product wafer is then released from the cassette 7-2. The first sheet of the sample is returned to the process processing apparatus 2-3, and the process is performed (Fig. 3-C). When the cleaning process in the process processing apparatus 2-4 ends, the cleaning wafer is returned to the cassette 7-3. Moreover, when the cleaning process by the process processing apparatus 2-2 is complete | finished until this time, the cleaning wafer is conveyed from the process processing apparatus 2-2 to the process processing apparatus 2-1, and a cleaning process is performed. Thereafter, the second sheet of the wafer for the product is transferred from the C2 cassette to the process processor 2-2, and the process is performed (Fig. 3-D). When all wafers in the cassette 7-1 have finished processing, a buzzer (not shown) is sounded to notify the operator of the completion of the processing of the cassette 7-1 and the cassette replacement. As described above, the cassette 7-2 is also processed in the same order as in the cassette 7-1, and when all the cassettes 7-2 are finished, the processing of the cassette 7-2 is terminated. The buzzer sounds to notify the operator of the cassette change. Then, this operation cycle is repeated. When the operation is terminated, the operation is terminated by performing operation input of operation termination from the main controller 11.

처리를 종료하는 방법으로서 이하의 5모드가 있다.There are five modes as a method of ending the process.

가) 웨이퍼 공급정지 : 처리중의 카세트로부터 웨이퍼인출을 중지한다.(2 카세트를 1 로트로서 운전하고 있는 경우는 지정한 쪽의 카세트로부터 웨이퍼 인출을 중지한다.)(A) Wafer supply stop: Stops taking out the wafer from the cassette under processing. (If the two cassettes are operated as one lot, stop taking out the wafer from the designated cassette.)

나) 카세트 공급 정지 : 현재 처리중의 카세트내의 웨이퍼를 모두 처리 종 한후, 그 처리 종료까지 설치되어 있던 카세트의 처리를 중지한다.(2 카세트를 1로트로 운전하고 있는 경우는 지정한 쪽의 카세트내의 웨이퍼를 모두 처리 종료한 후, 그때까지 설치되어 있던 카세트의 처리를 중지한다.)B) Cassette supply stop: After all wafers in the cassette currently being processed have been processed, processing of the cassette which has been installed until the end of the processing is stopped. After all the wafers have been processed, the processing of the cassettes installed up to that time is stopped.)

다) 사이클 정지 : 현재 실행중의 프로세스 처리, 배기, 리크, 반송 등의 동작 종료후 그곳에서 정지한다.C) Cycle stop: Stops at the end of the currently executing process processing, exhaust, leak, conveyance, etc.

라) 처리실 일시 정지 : 지정 처리실에 관하여 현재 처리중의 프로세스 처 리 종료후, 정지한다. 이 경우는 운전의 재개에 의하여 일시 정지한 상태에서 운전을 재개할 수 있다. 또 그 처리실만 수동 조작은 가능하다. D) Temporary stop of processing room: The processing room stops after finishing processing of the current processing. In this case, operation can be resumed in the state which paused by resumption of operation. In addition, manual operation is possible only in the processing chamber.

마) 즉시 정지 : 실행중의 모든 동작을 즉시 정지한다.E) Immediate Stop: Immediately stops all running operations.

처리종료에 있어서는 어느 방법에 의하든 상관 없다. It does not matter which method it uses in the completion of a process.

2) 2 카세트 1 레시피 병렬 운전2) 2 cassettes 1 recipe parallel operation

동일 프로세스 처리조건(레시피)으로 처리하는 웨이퍼가 수납된 카세트내의 최하단 또는 최상단의 웨이퍼로부터 순서대로 골라내어 반송 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 하는 것이다. 이 경우의 카세트로부터 골라 내어 반송 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 하는 운전이 상기 「1카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 다르다. The wafers processed under the same process conditions (recipe) are picked out in order from the lowermost or uppermost wafers in the cassette in which the wafers are stored and brought into the transfer processing apparatus for processing. In this case, the operation of picking out from the cassette and bringing it into the transfer processing device to perform the process processing differs from the case of the " 1 cassette 1 recipe parallel operation ".

상기 「1카세트 1레시피 병렬 운전」의 경우는 동일 카세트로부터 순차 웨이퍼를 골라 내어 반송 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 실시하고, 그 카세트의 웨이퍼를 모두 종료한 후, 다음 카세트의 웨이퍼 처리로 이행하였으나, 원래「2카세트 1레시피 병렬 운전」에서는 카세트(7-1)와 카세트(7-2)로부터 교대로 웨이퍼를 골라 내어 반송 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 실시한다. 웨이퍼의 처리 경로는 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 마찬가지로 프로세스 처리장치(2-2)에서 에칭 처리한 후, 프로세스 처리장치(2-1)에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이 경로A라 함)와, 프로세스 처리장치(2-3)에서 에칭처리한 후, 프로세스 처리장치(2-4)에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이 경로B라 함)의 양쪽을 사용하여 처리한다.In the case of the "one cassette one recipe parallel operation", the wafers were sequentially picked from the same cassette, brought into the transfer processing apparatus, the process was performed, and after the wafers of the cassette were all finished, the process proceeded to the wafer processing of the next cassette. In the original " two cassette one recipe parallel operation ", wafers are alternately selected from the cassette 7-1 and the cassette 7-2, and carried in to a transfer processing apparatus to perform a process process. As in the case of the "1 cassette 1 recipe parallel operation", the wafer processing path is etched in the process processing apparatus 2-2, and then subjected to post-processing in the process processing apparatus 2-1 to return to the original cassette. A path to be turned (called this path A) and a path to be etched by the process processing apparatus 2-3 and then post-processed by the process processing apparatus 2-4 to return to the original cassette (this path B). To both sides.

이 실시예에서의 처리 순서의 경로A, B 또는 경로 C, D에 관해서는 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다.The paths A, B, or paths C and D in the processing procedure in this embodiment are the same as in the case of " one cassette 1 recipe parallel operation ".

웨이퍼의 처리는 1매째의 웨이퍼는 카세트(7-1)로부터 1매째를 경로 A, 2매째는 카세트(7-2)로부터 1매째를 경로 B, 3매째의 웨이퍼는 카세트(7-1)로부터 2매째를 경로 A, 4매째는 카세트(7-2)로부터 2매째를 경로 B, …라는 순서로 카세트내의 최종 웨이퍼까지 처리를 행한다. 카세트(7-1) 또는 카세트(7-2)내의 모든 웨이퍼를 처리 종료하면, 카세트[7-1(또는 7-2)]의 처리 종료와 카세트 교환을 오퍼레이터에 통보하기 위하여 도시 생략한 버저를 울린다. 이 종료한 카세트가 제거되어 새로운 카세트가 설치되기 까지는 다른 쪽 카세트측의 처리만 계속되고 있다. 새로운 카세트가 설치되면, 상기와 같이 카세트(7-1, 7-2)로부터 교대로 웨이퍼를 골라 내어 반송 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 실시한다. 이후 이 운전 사이클을 반복한다. 이 운전을 종료하는 경우는 주제어부(11)로부터 운전 종료의 조작 입력을 행함으로써 운전이 종료한다. 종료 방법은 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다. 또 크리닝 처리에 관해서는 상기 1)과 동일하다.The wafer processing was performed by the first wafer from the cassette 7-1, the first sheet from the path A, the second from the cassette 7-2, and the first from the path B, and the third wafer from the cassette 7-1. The second sheet is route A, and the fourth sheet is route B, ... from the cassette 7-2. The process is performed up to the final wafer in the cassette in the following order. When the processing of all the wafers in the cassette 7-1 or the cassette 7-2 is finished, a buzzer (not shown) is shown to notify the operator of the completion of the processing of the cassette 7-1 (or 7-2) and the cassette replacement. It rings. Until the finished cassette is removed and a new cassette is installed, only the processing on the other cassette side is continued. When a new cassette is installed, the wafers are alternately picked out from the cassettes 7-1 and 7-2 as described above and brought into the transfer processing apparatus to carry out the process processing. This operation cycle is then repeated. When this operation is terminated, the operation is terminated by performing operation input of operation termination from the main controller 11. The termination method is the same as in the case of " one cassette 1 recipe parallel operation ". The cleaning process is the same as in 1) above.

3) 2 카세트 2 레시피 병렬 운전3) 2 cassettes 2 recipe parallel operation

이 운전에서는 카세트(7-1)와 카세트(7-2)의 웨이퍼 처리 레시피가 서로 다름으로써 프로세스 처리장치에서의 처리시간이 다른 일이 있다. 이 경우, 카세트(7-1)와 카세트(7-2)로부터의 웨이퍼 반출은 교대로가 아니라 프로세스 처리 장치에서의 처리가 종료하고 다른 프로세스 처리장치로 웨이퍼를 반송한 후 다음 웨이퍼를 상기 프로세스 처리장치로 반송하는 처리이외는 상기 「2 카세트 1 레시피 병렬 운전」와 동일하다. 상기 웨이퍼의 또한 크리닝처리에 관해서는 상기 1)과 동일하다.In this operation, the wafer processing recipes of the cassette 7-1 and the cassette 7-2 are different, so that the processing time in the process processing apparatus may be different. In this case, the wafer unloading from the cassette 7-1 and the cassette 7-2 is not alternating, but the processing in the process processing apparatus is finished and the wafer is transferred to another process processing apparatus, and then the next wafer is processed in the above process. The processing other than the conveyance to the apparatus is the same as the above "2 cassette 1 recipe parallel operation". The cleaning of the wafer is the same as in 1) above.

4) 1 카세트 1 레시피 직렬 운전4) 1 cassette 1 recipe serial operation

이 운전에서는 동일 프로세스 처리 조건(레시피)으로 처리하는 웨이퍼가 수납된 카세트내의 최하단 또는 최상단의 웨이퍼로부터 순서대로 카세트로부터 골라 내어 반송 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 하는 것은 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다. 그런데 웨이퍼의 처리 경로는 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 다르다. 본「1 카세트 1 레시피 직렬 운전」에서는 웨이퍼는 프로세스 처리장치[2-2(또는 프로세스 처리장치(2-3))]에서 에칭처리한 후, 다시 프로세스 처리장치[2-3(또는 프로세스 처리장치(2-2))]에서 에칭처리한 후, 프로세스 처리장치[2-1(또는 프로세스 처리장치(2-4))]에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이 경로 E라 함)에서 처리한다.In this operation, the wafers processed under the same process processing conditions (recipe) are sequentially picked from the cassettes from the lowermost or uppermost wafers in the cassette containing the wafers and brought into the transfer processing apparatus for processing. Is the same as the case of By the way, the process path of a wafer differs from the case of "1 cassette 1 recipe parallel operation" mentioned above. In the present " 1 cassette 1 recipe series operation ", the wafer is etched by the process processing apparatus [2-2 (or process processing apparatus 2-3)], and then the process processing apparatus [2-3 (or process processing apparatus) is again processed. (2-2))], followed by post-treatment in the process processor (2-1 (or process processor 2-4)) to return to the original cassette (this path E). ).

웨이퍼의 처리는 1 매째의 웨이퍼는 경로 E, 2 매째는 경로 E, 3 매째의 웨이퍼는 경로 E, 4 매째는 경로 E, …라는 순서로 카세트내의 최종 웨이퍼까지 처리를 행한다. 카세트(7-1)내의 모두를 처리 종료하면 카세트(7-1)의 처리 종료와 카세트 교환을 오퍼레이터에게 통보하기 위하여 버저를 울린다. 이때까지 카세트(7-2)가 설치되어 있으면, 카세트(7-1)의 처리종료에 이어서 카세트(7-2)의 처리로 이행한다. 카세트(7-2)에 관해서도 카세트(7-1)의 경우와 동일 순서로 처리를 행하고, 카세트(7-2)내의 모든 웨이퍼를 처리 종료하면, 카세트(7-2)의 처리 종료와 카세트교환을 오퍼레이터에게 통보하기 위하여 버저를 울린다. 이때까지 카세트(7-1)가 설치되어 있으면, 카세트(7-2)의 처리 종료에 이어서 카세트(7-1)의 처리로 이행한다. 이후 이 운전 사이클을 반복한다. 이 운전을 종료하는 경우는 주제어부(11)로부터 운전종료의 조작 입력을 행함으로써 운전이 종료한다. 종료 방법은 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다. 또 크리닝 처리에 관해서는 상기 1)과 동일하다.The wafer is processed by the first wafer as the path E, the second as the path E, the third as the path E, the fourth as the path E,... The process is performed up to the final wafer in the cassette in the following order. When all the processing in the cassette 7-1 is finished, a buzzer sounds to notify the operator of the completion of the processing of the cassette 7-1 and the cassette replacement. If the cassette 7-2 is provided up to this time, the processing of the cassette 7-2 is shifted to the end of the processing of the cassette 7-1. The cassette 7-2 is also processed in the same order as in the cassette 7-1, and when all wafers in the cassette 7-2 are finished, the processing of the cassette 7-2 is terminated and the cassette is replaced. The buzzer sounds to notify the operator. If the cassette 7-1 is provided up to this point, the processing of the cassette 7-1 is shifted to the end of the processing of the cassette 7-2. This operation cycle is then repeated. When the operation is terminated, the operation is terminated by performing operation input of the operation termination from the main controller 11. The termination method is the same as in the case of " one cassette 1 recipe parallel operation ". The cleaning process is the same as in 1) above.

이상 1) 내지 4)의 운전 방법은 대표 사례에 관하여 설명한 것으로 카세트, 레시피와 병렬/직렬 운전의 조합에 의하여 다른 운전 방법을 생각할 수 있고, 본 발명은 상기 1) 내지 4)의 운전 방법에 한정되는 것은 아니다.The above-mentioned 1) to 4) operation methods have been described with respect to representative cases, and other driving methods can be considered by a combination of a cassette, a recipe, and parallel / serial operation, and the present invention is limited to the driving methods of 1) to 4). It doesn't happen.

또 장치를 보수, 메인티넌스하는 경우는 보조 조작반(22)내에 있는 표시 수단(26), 입력 수단(25)을 사용하여 장치의 기기측에서 조작할 수 있다. 이 보조 조작반(22)은 반송 가능형의 조작 단말(예를 들어 노트퍼스컴)이며, 장치의 근처까지 운반하여 장치 상태를 눈으로 보면서 표시 수단(26)에 표시되는 장치 정보(예를 들어 입출력 비트의 온/오프정보, 에러정보등)를 보수, 메인티넌스의 조작으로 활용할 수 있고, 보수, 메인티넌스의 조작성을 향상시키고 있는 것이다. 이 보조 조작반(22)에서는 주제어부(11)와 동일 기능을 가지고 있으나, 오퍼레이터에 대한 안전성을 확보하기 위하여 주제어부(11)와 보조 조작반(22)에 의해 동시에 조작하는 경우는 한쪽 밖에 조작 입력할 수 없도록 오조작 방지 기능을 설치하고 있다. When the device is to be repaired or maintained, the display device 26 and the input device 25 in the auxiliary operation panel 22 can be used to operate the device. The auxiliary operation panel 22 is a transportable operation terminal (for example, a notebook computer), and the device information (for example, input / output bit) displayed on the display means 26 while being transported to the vicinity of the device and visually viewing the device state. On / off information, error information, etc.) can be used for maintenance and maintenance operations, and the operability of maintenance and maintenance is improved. This auxiliary operation panel 22 has the same function as the main control unit 11, but in order to ensure safety for the operator, when the operation is performed simultaneously by the main control unit 11 and the auxiliary operation panel 22, only one side can be input. In order to prevent this from happening, it is equipped with a tamper proof function.

도 2는 다른 일실시예로서 프로세스 처리장치가 반송 처리장치에 4실 접속되고, 처리장치로 웨이퍼를 반입하기 위한 카세트는 처리 장치 본체내의 로드록실(3A)에 설치하고, 카세트로부터 1매씩 인출하여 처리장치로 반입하여 처리하는 장치구성도를 나타낸다. 프로세스 처리장치가 이것 이상 접속되어도 상관없다. 장치 구성으로서는 도 1에 나타낸 구성으로부터 웨이퍼를 수납한 카세트를 설치하기 위한 대기 반송장치(6), 대기 로봇(8)을 삭제한 것이다. 웨이퍼의 카세트로부터의 반출이 로드록실(3A)로 이루어지고, 카세트에의 수납이 언로드록실(4A)이 되는 이외의 각 기기의 기능 및 구성은 도 1과 동일하다. 또 크리닝처리로서는 크리닝용 웨이퍼를 수납한 카세트를 로드록실[3A(또는 언로드록실(4A))]에 설치하고, 크리닝용 웨이퍼를 프로세스 처리장치(2-1, 2-2, 2-3, 2-4)로 반출하고, 크리닝처리를 행하여 원래의 카세트로 되돌아가게 한다. 또 운전모드에 있어서는 FIG. 2 shows, as another embodiment, four process processing apparatuses connected to a transfer processing apparatus, and cassettes for carrying wafers into the processing apparatus are installed in the load lock chamber 3A in the processing apparatus main body, and are withdrawn one by one from the cassette. The apparatus block diagram which carries in to a processing apparatus and processes it is shown. The process processor may be connected more than this. As the apparatus configuration, the standby conveyance apparatus 6 and the atmospheric robot 8 for installing the cassette which accommodated the wafer were removed from the structure shown in FIG. The functions and configurations of the respective devices are the same as those in Fig. 1 except that the wafer is taken out from the cassette by the load lock chamber 3A, and the storage in the cassette is the unload lock chamber 4A. Moreover, as a cleaning process, the cassette which accommodated the cleaning wafer is provided in the load lock chamber 3A (or unload lock chamber 4A), and the cleaning wafer is processed into the process processing apparatus 2-1, 2-2, 2-3, 2 -4), and the cleaning is carried out to return to the original cassette. In the operation mode,

1) 1 카세트 1 레시피 병렬 운전1) 1 cassette 1 recipe parallel operation

동일한 프로세스 처리조건(레시피)으로 처리하는 웨이퍼가 수납된 카세트내의 최하단 또는 최상단의 웨이퍼로부터 순서대로 카세트로부터 골라 내어 프로세스 처리 장치로 반입하여 프로세스 처리를 하는 것이다. 웨이퍼는 프로세스 처리장치(2-2)에서 에칭 처리한 후, 프로세스 처리 장치(2-1)에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이를 경로 A라 함)와, 프로세스 처리장치(2-3)에서 에칭 처리한 후, 프로세스 처리장치(2-4)에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이를 경로 B라 함)의 양쪽을 사용하여 처리한다.The wafers processed under the same process processing conditions (recipe) are picked out from the cassettes in order from the lowermost or uppermost wafer in the cassette, and brought into the process processing apparatus for processing. After the wafer is etched in the process processing apparatus 2-2, the wafer is post-processed in the process processing apparatus 2-1 to return to the original cassette (this is referred to as path A), and the process processing apparatus 2 After the etching treatment at -3), the processing is performed by using both of the paths (called path B) which are post-processed in the process processing apparatus 2-4 and returned to the original cassette.

이 실시예에서의 처리 순서는 The processing sequence in this embodiment is

경로 A : 로드록실(3A)내 카세트(7-1A)→프로세스 처리장치(2-2)→프로세스 처리장치(2-1)→언로드록실(4A)내 카세트(7-2A)Path A: Cassette 7-1A in the load lock chamber 3A → Process processor 2-2 → Process processor 2-1 → Cassette 7-2A in the unload lock 4A

경로 B : 로드록실(3A)내 카세트(7-1A)→프로세스 처리장치(2-3)→프로세스 처리장치(2-4)→언로드록실(4A)내 카세트(7-2A)Path B: Cassette (7-1A) in the load lock chamber 3A → process processor (2-3) → process processor (2-4) → cassette (7-2A) in unload lock chamber 4A

또는 or

경로 C : 로드록실(3A)내 카세트(7-1A)→프로세스 처리장치(2-2)→프로세스 처리장치(2-4)→언로드록실(4A)내 카세트(7-2A)Path C: Cassette 7-1A in the load lock chamber 3A → Process processor 2-2 → Process processor 2-4 → Cassette 7-2A in the unload lock 4A

경로 D : 로드록실(3A)내 카세트(7-1A)→프로세스 처리장치(2-3)→프로세스 처리장치(2-1)→언로드록실(4A)내 카세트(7-2A)Path D: Cassette (7-1A) in the load lock chamber 3A → process processor (2-3) → process processor (2-1) → cassette (7-2A) in unload lock chamber 4A

의 조합이어도 상관 없다. 또 상기 처리 순서에서는 처리한 웨이퍼는 언로드록실(4A)내 카세트(7-2A)로 되돌아가게 하였으나, 웨이퍼를 인출한 로드록실(3A)내 카세트(7-1A)로 되돌아갈 수도 있다.It may be a combination of. In the above processing sequence, the processed wafer is returned to the cassette 7-2A in the unload lock chamber 4A, but may be returned to the cassette 7-1A in the load lock chamber 3A from which the wafer is taken out.

본 실시예에서는 경로 A와 경로 B를 병행하여 로드록실(3A)내의 카세트(7-1A)로부터 골라 낸 웨이퍼는 언로드록실(4A)내의 카세트(7-2A)로 되돌리는 처리의 예를 나타낸다. 웨이퍼의 처리는 1 매째의 웨이퍼는 경로 A, 2 매째는 경로 B, 3 매째의 웨이퍼는 경로 A, 4 매째는 경로 B, …라는 순서로 카세트내의 최종 웨이퍼까지 처리를 행한다. 로드록실(3A)내 카세트(7-1A)내의 모두를 처리 종료하면, 로드록실내 카세트와 언로드록실(4A)내 카세트(7-2A)의 처리종료와 카세트교환을 오퍼레이터에게 통보하기 위하여 버저를 울린다. 다음에 새로운 미처리 웨이퍼가 들어간 카세트를 로드록실(3A)에, 빈 카세트를 언로드록실(4A)에 설치하고, 이후 이 운전사이클을 반복한다. 이 운전을 종료하는 경우는 주제어부(11)로부터 운전종료의 조작입력을 행함으로써 운전이 종료한다. 종료방법은 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다.In this embodiment, the wafer picked out from the cassette 7-1A in the load lock chamber 3A in parallel with the path A and the path B shows an example of a process of returning the cassette to the cassette 7-2A in the unload lock chamber 4A. The wafer is processed by the first wafer as path A, the second as path B, the third wafer as path A, the fourth as path B,... The process is performed up to the final wafer in the cassette in the following order. When the processing in the cassette 7-1A in the load lock chamber 3A is finished, the buzzer is notified to notify the operator of the completion of the processing and the cassette replacement of the cassette in the load lock chamber and the cassette 7-2A in the unload lock chamber 4A. It rings. Next, a cassette containing a new unprocessed wafer is placed in the load lock chamber 3A, and an empty cassette is placed in the unload lock chamber 4A. Then, this operation cycle is repeated. When the operation is terminated, the operation is terminated by inputting the operation termination operation from the main controller 11. The termination method is the same as in the case of "1 cassette 1 recipe parallel operation" above.

2) 2 카세트 1 레시피 병렬 운전2) 2 cassettes 1 recipe parallel operation

동일한 프로세스 처리조건(이하에서는 프로세스 처리조건을 레시피라 함)으로 처리하는 웨이퍼가 수납된 카세트내의 최하단 또는 최상단의 웨이퍼로부터 순서대로 카세트로부터 골라내어 프로세스 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 하는 것이다.The wafers processed under the same process processing conditions (hereinafter, referred to as recipes) are sequentially picked from the cassettes from the lowermost or uppermost wafers in the cassette containing the wafers and brought into the process processing apparatus for processing.

상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우는 동일 카세트로부터 순차 웨이퍼를 골라 내어 프로세스 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 실시하고, 그 카세트의 웨이퍼를 모두 종료한 후, 다음 카세트의 웨이퍼처리로 이행하였으나, 본「2 카세트 1 레시피 병렬 운전」에서는 로드록실(3A)내의 카세트(7-1A)와 언로드록실(4A)내의 카세트(7-2A)로 부터 교대로 웨이퍼를 골라 내어 프로세스 처리 장치로 반입하여 프로세스 처리를 실시한다. 웨이퍼의 처리 경로는 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 마찬가지로 프로세스 처리장치(2-2)에서 에칭처리한 후, 프로세스 처리장치(2-1)에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이 경로를 A라 함)와, 프로세스 처리장치(2-3)에서 에칭처리한 후, 프로세스 처리장치(2-4)에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이 경로를 B라 함)의 양쪽을 사용하여 처리한다.In the case of "1 cassette 1 recipe parallel operation", the wafers were sequentially selected from the same cassette, brought into the process processing apparatus, and the process was performed. After the wafers of the cassettes were all finished, the process proceeded to the wafer processing of the next cassette. In this " 2 cassette 1 recipe parallel operation ", wafers are alternately picked from the cassette 7-1A in the load lock chamber 3A and the cassette 7-2A in the unload lock chamber 4A, and brought into the process processing apparatus. Perform process processing. As in the case of "1 cassette 1 recipe parallel operation", the wafer processing path is etched in the process processing apparatus 2-2, and then subjected to post-processing in the process processing apparatus 2-1 to return to the original cassette. The path to be turned (this path is called A), and the process is etched in the process processor (2-3), followed by post-processing in the process processor (2-4) to return to the original cassette (this path is Process using both sides.

이 실시예에서의 처리 순서의 경로A, B 또는 경로 C, D에 관해서는 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다.The paths A, B, or paths C and D in the processing procedure in this embodiment are the same as in the case of " one cassette 1 recipe parallel operation ".

웨이퍼의 처리는 1 매째의 웨이퍼는 로드록실(3A)내의 카세트(7-1A)로부터 1매째를 경로 A, 2 매째는 언로드록실 내의 카세트로부터의 1 매째를 경로 B, 3 매째의 웨이퍼는 로드록실(3A)내의 카세트(7-1A)로부터 2 매째를 경로 A, 4 매째는 언로드록실(4A)내의 카세트(7-2A)로부터 2 매째를 경로 B, …라는 순서로 카세트내의 최종 웨이퍼까지 처리를 행한다. 로드록실(3A)내 또는 언로드록실(4A) 카세트(7-2A)내의 모든 웨이퍼를 처리 종료하면, 로드록실(3A)내 (또는 언로드록실(4A)내)카세트의 처리 종료와 카세트 교환을 오퍼레이터에게 통보하기 위하여 버저를 울린다. 이 종료한 카세트가 제거되고 새로운 카세트가 설치되기 까지는 다른 쪽의 카세트측의 처리만 계속되고 있다. 새로운 카세트가 설치되면, 상기와 같이 로드록실(3A)내와 언로드록실(4A)내 카세트로부터 교대로 웨이퍼를 골라 내어 프로세스 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 실시한다. 이후 이 운전 사이클을 반복한다. 이 운전을 종료하는 경우는 주제어부(11)로부터 운전 종료의 조작 입력을 행함으로써 운전이 종료한다. 종료 방법은 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다.The wafer is processed by the first wafer from the cassette 7-1A in the load lock chamber 3A, the path A, the second from the cassette in the unloadlock chamber, the path B, and the third wafer from the loadlock chamber 3A. Path A, the second sheet from the cassette 7-1A in (3A), the second sheet from the cassette 7-2A in the unloading chamber 4A, and the second sheet from the cassette 7-1A. The process is performed up to the final wafer in the cassette in the following order. When all wafers in the load lock chamber 3A or the unload lock chamber 4A cassette 7-2A have been processed, the end of the cassette processing in the load lock chamber 3A (or the unload lock chamber 4A) and the cassette exchange are performed. Rings the buzzer to notify. Until the finished cassette is removed and a new cassette is installed, only the processing on the other cassette side is continued. When a new cassette is installed, the wafers are alternately picked from the cassettes in the load lock chamber 3A and the unload lock chamber 4A as described above, brought into the process processing apparatus, and subjected to process processing. This operation cycle is then repeated. When this operation is terminated, the operation is terminated by performing operation input of operation termination from the main controller 11. The termination method is the same as in the case of " one cassette 1 recipe parallel operation ".

3) 2 카세트 2 레시피 병렬 운전3) 2 cassettes 2 recipe parallel operation

이 운전에서는 로드록실(3A)내의 카세트(7-1A)와 언로드록실(4A)내의 카세트(7-2A)의 웨이퍼 처리 레시피가 다른 일이 있다. 이 경우, 카세트(7-1)와 카세트(7-2)로부터의 웨이퍼 반출은 교대가 아니라 프로세스 처리 장치에서의 처리가 종료하고, 다른 프로세스 처리장치로 웨이퍼를 반송한 후 다음 웨이퍼를 상기 프로세스 처리장치로 반송하는 처리이외는 상기 「2 카세트 1 레시피 병렬 운전」과 동일하다. 상기 웨이퍼의 또 크리닝처리에 관해서는 상기 1)과 동일하다.In this operation, the wafer processing recipe of the cassette 7-1A in the load lock chamber 3A and the cassette 7-2A in the unload lock chamber 4A may be different. In this case, the wafer unloading from the cassette 7-1 and the cassette 7-2 is not alternating, but the processing in the process processing apparatus ends, the wafer is transferred to another process processing apparatus, and the next wafer is processed in the above process. The processing other than the conveyance to the apparatus is the same as the above "2 cassette 1 recipe parallel operation". The cleaning process of the wafer is the same as in 1) above.

4) 1카세트 1 레시피 직렬 운전4) 1 cassette 1 recipe serial operation

이 운전에서는 동일한 프로세스 처리조건(이하에서는 프로세스 처리조건을 레시피라 함)으로 처리하는 웨이퍼가 수납된 카세트내의 최하단 또는 최상단의 웨이퍼로부터 순서대로 카세트로부터 골라 내어 프로세스 처리장치로 반입하여 프로세스 처리를 하는 것은 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다. 그런데 웨이퍼의 처리 경로는 상기 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 경우와 다르다. 본「1 카세트 1 레시피 직렬 운전」에서는 웨이퍼는 프로세스 처리장치(2-2)[또는 프로세스 처리장치(2-3)]에서 에칭처리한 후, 다시 프로세스 처리장치(2-3)[또는 프로세스 처리장치(2-2)]에서 에칭처리한 후, 프로세스 처리장치(2-1)[또는 프로세스 처리장치(2-4)]에서 후처리를 하여 원래의 카세트로 되돌리는 경로(이 경로를 E라 함)에 의해 처리한다.In this operation, the wafers processed under the same process processing conditions (hereinafter, referred to as recipes) are sequentially picked from the cassettes from the lowermost or uppermost wafer in the cassette containing the wafers and brought into the process processing apparatus for processing. It is the same as the case of "1 cassette 1 recipe parallel operation" mentioned above. By the way, the process path of a wafer differs from the case of "1 cassette 1 recipe parallel operation" mentioned above. In the present " 1 cassette 1 recipe series operation ", the wafer is etched in the process processing apparatus 2-2 (or process processing apparatus 2-3), and then the process processing apparatus 2-3 (or process processing) again. Device 2-2], and then a post-treatment process in the process processing device 2-1 (or the process processing device 2-4) to return to the original cassette (this path is E). Processing).

본 실시예에서는 경로 E에 의해 로드록실(3A)내의 카세트(7-1A)로부터 골라 낸 웨이퍼는 언로드록실(4A)내의 카세트(7-2A)로 되돌리는 처리의 예를 나타낸다. 웨이퍼의 처리는 1 매째의 웨이퍼는 경로 E, 2 매째는 경로 E, 3 매째의 웨이퍼는 경로 E, 4 매째는 경로 E, …라는 순서로 카세트내의 최종 웨이퍼까지 처리를 행한다. 카세트내의 모두를 처리 종료하면, 로드록실(3A)내 카세트(7-1A)와 언로드록실(4A)내 카세트(7-2A)의 처리종료와 교환을 오퍼레이터에게 통보하기 위하여 버저를 울린다. 다음에 새로운 미처리 웨이퍼가 들어간 카세트를 로드록실(3A)에 빈 카세트를 언로드록실(4A)에 설치하여 이후 이 운전 사이클을 반복한다. 이 운전을 종료할 경우는 주제어부(11)로부터 운전 종료의 조작 입력을 행함으로써 운전이 종료한다. 종료 방법은 상기 「1 카세트 1레시피 병렬 운전」의 경우와 동일하다.In this embodiment, the wafer picked out from the cassette 7-1A in the load lock chamber 3A by the path E is shown as an example of a process for returning to the cassette 7-2A in the unload lock chamber 4A. The wafer is processed by the first wafer as the path E, the second as the path E, the third as the path E, the fourth as the path E,... The process is performed up to the final wafer in the cassette in the following order. When the processing in all the cassettes is finished, a buzzer sounds to notify the operator of the completion of processing and replacement of the cassette 7-1A in the load lock chamber 3A and the cassette 7-2A in the unload lock chamber 4A. Next, a cassette containing the new unprocessed wafer is installed in the load lock chamber 3A, and an empty cassette is installed in the unload lock chamber 4A, and the operation cycle is repeated thereafter. When this operation is terminated, the operation is terminated by inputting operation termination operation from the main controller 11. The termination method is the same as in the case of " one cassette one recipe parallel operation ".

도 4는 제어 구성도를 나타낸다. 본 실시예에서는 장치 전체의 주제어부는 반송 처리장치(1)에 탑재되어 있는 경우를 나타낸다. 또한 장치 전체의 주제어부는 반송 처리장치 이외에 있어도 상관없다. 또 표시 수단(13), 입력 수단(14)은 주제어부와는 다른 제어유닛으로서 구성하여도 된다. 11은 장치 전체를 제어하는 주제어부의 구성을 나타낸다. 제어 수단으로서는 본 발명의 청구 범위에 해당하는 부분 만을 골라 내어 기술하고 있고, 장치를 움직이는 데 필요한 입출력 제어부분(DI/O, AI/O)에 관해서는 기술하지 않았다. 16은 진공 처리장치 내에서의 웨이퍼의 처리 순서를 기억하는 처리 순서 정보 기억 수단이고, 예를 들어 RAM(Random Access Memory)이다. 이 웨이퍼의 처리 순서는 운전 개시전에 표시 수단(13), 입력 수단(14)을 사용하여 오퍼레이터에 의하여 입력된 데이터가 기억된다. 17은 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)의 운전 유효/무효인 것을 나타내는 운전 정보 신호를 기억하는 운전 정보 신호 기억 수단이고, 예를 들어 RAM이다. 13은 운전 상태, 운전 조건의 설정 내용, 운전의 개시 지시/종료의 표시를 행하는 표시수단이며, 예를 들어 CRT이다. 14는 운전 조건의 설정, 운전의 개시 지시 입력, 프로세스 처리 조건, 보수나 메인티넌스의 조작 입력 등을 행하는 입력 수단이고, 예를 들어 키보드이다. 15는 상기 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)의 운전 유효/무효인 것을 나타내는 운전 정보 신호 상태를 판단하고, 자동 운전중에 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)중 어느것이 운전 불가로 되어도 상기 프로세스 처리 장치를 사용하지 않고, 다른 프로세스 처리장치를 사용하여 운전을 속행하는 처리 순서를 기억한 장치 제어수단이고, 예를 들어 ROM(Read Oniy Memory)이다. 12는 상기 13 ~ 17을 제어하는 중앙 제어수단이고, 예를 들어 CPU(Central Processor Unit)이다. 2-1 ~ 2-4는 웨이퍼의 프로세스 처리를 행하는 프로세스 처리장치이다. 이 처리장치로서는 에칭, 후처리, 성막, 스패터, CVD, 물처리등 웨이퍼의 프로세스 처리를 행하는 처리이면, 어느 것이든 상관 없다. 19-1 ~ 19-4는 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)의 운전 유효/무효인 것을 나타내는 운전 정보 신호를 발생하는 운전 정보 신호 발생 수단이다. 본 실시예에서는 프로세스 처리장치에 마련되어 있으나, 어느 곳에 있어도 좋다. 이 운전 정보 신호를 발생하는 수단으로서 4 shows a control configuration diagram. In this embodiment, the main control part of the whole apparatus is shown in the case where it is mounted in the conveyance processing apparatus 1. As shown in FIG. In addition, the main control part of the whole apparatus may be other than a conveyance processing apparatus. In addition, the display means 13 and the input means 14 may be comprised as a control unit different from a main control part. 11 shows the configuration of the main controller which controls the whole apparatus. As the control means, only parts corresponding to the claims of the present invention are selected and described, and no input / output control parts (DI / O, AI / O) necessary for moving the device are described. 16 is processing sequence information storage means for storing the processing sequence of the wafer in the vacuum processing apparatus, for example, RAM (Random Access Memory). In the processing sequence of the wafer, data input by the operator using the display means 13 and the input means 14 before the start of operation is stored. 17 is operation information signal storage means for storing an operation information signal indicating that the operation processing of the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 is enabled / disabled, for example, RAM. Numeral 13 denotes display means for displaying the operation state, the setting contents of the operation condition, and the indication of start / end of operation, for example, CRT. Reference numeral 14 denotes input means for setting the operating conditions, inputting the start of operation, inputting the process processing conditions, operation input of maintenance or maintenance, and the like, for example, a keyboard. 15 determines an operation information signal state indicating that operation of the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 is enabled / disabled, and any of the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 operate during automatic operation. Even if it is disabled, it is apparatus control means which memorize | stores the process sequence which continues operation using another process processing apparatus, without using the said process processing apparatus, for example, ROM (Read Oniy Memory). 12 is a central control means for controlling the 13 to 17, for example a CPU (Central Processor Unit). 2-1 to 2-4 are process processing apparatuses which process a wafer. As this processing apparatus, any may be used as long as it is a process for processing a wafer such as etching, post-processing, film formation, sputtering, CVD, and water treatment. 19-1 to 19-4 are operation information signal generation means for generating an operation information signal indicating that operation of the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 is valid / invalid. In this embodiment, although provided in the process processing apparatus, it may be anywhere. As a means for generating this driving information signal

1) 프로세스 처리장치 장치 전원의 차단 신호를 이용1) By using the interrupt signal of the power of the process processor unit

2) 프로세스 처리장치 사용의 유효/무효를 설정하는 운전 전환신호(예를 들어 전환 스위치)를 이용2) using an operation switching signal (e.g., a switching switch) that sets whether the process processor is used or not;

3) 프로세스 처리장치 사용의 유효/무효를 나타내는 운전 제어신호로서 오퍼레이터가 설정 입력한 입력 정보를 이용할 수 있다.3) The input information set and input by the operator can be used as an operation control signal indicating whether the process processor is used or not.

20과 21은 장치 전체를 제어하는 주제어부(11)와 보조 조작반(22)을 접속하는 통신 수단이다. 보조 조작반(22, 25, 26)은 상기한 용도로 사용하는 것이다. 24는 보조 조작반에서의 단말 기능을 제어하는 처리 순서를 기억한 단말 제어수단이다. 23은 상기 21, 24로부터 26을 제어하는 중앙 제어수단이고, 예를 들어 CPU(Central Processor Unit)이다.20 and 21 are communication means for connecting the main control part 11 which controls the whole apparatus, and the auxiliary operation panel 22. As shown in FIG. The auxiliary operation panels 22, 25, and 26 are used for the above-mentioned purposes. 24 is terminal control means which memorize | stores the process sequence which controls terminal function in an auxiliary operation panel. 23 is a central control means for controlling the 21 to 24 to 26, for example, a CPU (Central Processor Unit).

도 5는 운전 정보 신호도이다. 각 프로세스 처리장치 마다 운전의 유효/무효를 나타내는 정보가 기억된다. 이 경우에는 유효한 경우는 1을, 무효인 경우는 0을 나타내게 되나 구별할 수 있는 내용이면, 기호나 숫자이어도 상관 없다. 이 정보는 운전 정보 신호 발생수단(19-1 ~ 19-4)의 신호 상태가 반영된 것이고, 운전 정보 신호 기억수단(17)에 기억된다.5 is a driving information signal diagram. Information indicating the validity / invalidity of the operation is stored for each process processing apparatus. In this case, 1 is shown as valid, and 0 as it is invalid, but may be a symbol or a number as long as it is distinguishable. This information reflects the signal state of the driving information signal generating means 19-1 to 19-4, and is stored in the driving information signal storing means 17.

도 6은 처리 순서 정보도이다. 운전 조건 설정의 하나로서 오퍼레이터가 운전 개시전에 표시 수단(13), 입력 수단(14)을 사용하여 웨이퍼의 처리하는 순서를 설정한 정보이다. 이 정보는 처리 순서 정보 기억수단에 기억된다.6 is a processing sequence information diagram. One of the operation condition settings is information in which an operator sets a procedure for processing a wafer using the display means 13 and the input means 14 before the start of operation. This information is stored in the processing order information storage means.

도 7은 장치 운전 플로우도를 나타낸다. 오퍼레이터는 운전 개시전에 처리장치로서 구성되어 있는 프로세스 처리장치중 고장등으로 운전에 사용할 수 없는, 또는 보수(플라즈마 크리닝도 포함)를 위해 사용하지 않는 프로세스 처리장치가 있는 지의 여부를 판단한다(30). 사용할 수 없는(또는 사용하지 않음)프로세스 처리장치가 있으면, 운전 정보 신호 발생수단(19)을 이용하여 도 4에 기술한 상태로 되어 있도록 설정한다(32). 이 설정의 한 방법으로서 7 shows an apparatus operation flow diagram. The operator determines whether there is a process processing device which cannot be used for operation due to a breakdown or the like that is not used for maintenance (including plasma cleaning) among the process processing devices configured as the processing device before the operation starts (30). . If there is a process processing apparatus that cannot be used (or not used), it is set so as to be in the state described in Fig. 4 by using the operation information signal generating means 19 (32). As a way of setting this up

1) 프로세스 처리장치의 장치 전원의 차단신호를 이용하는 경우는 상기 프로세스 처리장치의 장치 전원 공급용 전자 개폐기를 오프한다. 이로써 차단 신호가 발생하여 운전 정보 신호 기억수단(17)에 전달되고, 도 4에 기재된 정보로서 기억된다.1) When the interrupt signal of the apparatus power supply of the process processing apparatus is used, the electronic switch for supplying apparatus power of the process processing apparatus is turned off. As a result, a cutoff signal is generated and transmitted to the driving information signal storage unit 17, and stored as the information shown in FIG.

2) 프로세스 처리장치의 사용의 유무를 설정하는 운전 전환신호(예를 들어 전환 스위치)를 이용하는 경우는 상기 프로세스 처리장치에 할당된 전환 스위치를 유효 또는 무효의 상태로 설정한다. 이로써 전환 신호가 확정하고, 운전 정보 신호 기억수단(17)에 전달되고 도 5에 기재된 정보로서 기억된다.2) In the case of using an operation switching signal (e.g., a changeover switch) for setting the use of the process processor, the changeover switch assigned to the process processor is set to a valid or invalid state. In this way, the changeover signal is determined and transmitted to the driving information signal storage unit 17 and stored as the information shown in FIG. 5.

3) 프로세스 처리장치 사용의 유효/무효를 나타내는 운전 제어신호로서 오퍼레이터가 설정 입력한 입력 정보를 이용하는 경우는 오퍼레이터는 상기 프로세스 처리장치에 할당된 설정 정보를 입력 수단(14)에서 입력한다. 이로써 설정 정보가 확정되고, 운전 정보 신호 기억수단(17)에 전달되어 도 5에 기재된 정보로서 기억된다. 장치 접속 구성을 결정한 후, 자동 운전을 시작한다(34). 또한 웨이퍼의 처리하는 순서는 이하와 같이 제품 처리조건으로서 설정한다.3) In the case of using input information set by the operator as an operation control signal indicating whether the process processing apparatus is used or not, the operator inputs the setting information allocated to the process processing apparatus in the input means 14. Thus, the setting information is determined, transferred to the driving information signal storing means 17, and stored as the information shown in FIG. After determining the device connection configuration, automatic operation is started (34). In addition, the process of processing a wafer is set as product processing conditions as follows.

1) 웨이퍼의 운전 모드를 선택한다.1) Select the operating mode of the wafer.

「1 카세트 1레시피 병렬」, 「2 카세트 1레시피 병렬」, 「2 카세트 2 레시피 병렬」, 「1 카세트 1 레시피 직렬」중 어느하나를 선택Select one of "1 Cassette 1 Recipe Parallel", "2 Cassette 1 Recipe Parallel", "2 Cassette 2 Recipe Parallel", and "1 Cassette 1 Recipe Parallel"

2) 웨이퍼의 반송 경로를 설정한다.2) The transfer path of the wafer is set.

카세트 마다 웨이퍼의 처리 경로를 프로세스 처리장치의 기호를 사용하여 병렬 또는 직렬 처리를 설정한다. 대표적인 설정예를 이하에 나타낸다.(웨이퍼 처리 경로는 상기와 같이 조합이 가능하다)The processing route of the wafer for each cassette is set in parallel or serial processing using the symbol of the process processor. A typical setting example is shown below. (The wafer processing paths can be combined as described above.)

2-1) 병렬 처리의 경우 :2-1) For parallel processing:

카세트7-1 : E1→A1, 카세트 7-1 : E2→A2Cassette 7-1: E1 → A1, Cassette 7-1: E2 → A2

카세트7-2 : E1→A1, 카세트 7-2 : E2→A2Cassette 7-2: E1 → A1, Cassette 7-2: E2 → A2

E1 : 프로세스 처리장치 2-2, E2 : 프로세스 처리장치 2-3E1: process processor 2-2, E2: process processor 2-3

A1 : 프로세스 처리장치 2-1, A2 : 프로세스 처리장치 2-4A1: process processor 2-1, A2: process processor 2-4

2-2) 직렬 처리의 경우 :2-2) For serial processing:

카세트7-1 : E1→E2→A1Cassette 7-1: E1 → E2 → A1

카세트7-2 : E2→E1→A2Cassette 7-2: E2 → E1 → A2

3) 프로세스 처리 마다 프로세스 처리 조건(프로세스 레시피라고도 함)을 설정한다.3) Process process conditions (also called process recipes) are set for each process process.

이상의 제품 처리 조건을 설정한 후, 자동 운전 개시의 기동을 개시한다.After setting the above-mentioned product processing conditions, the start of automatic operation start is started.

도 8은 자동 운전 플로우도를 나타낸다. 자동 운전을 개시하면, 처리해야하는 웨이퍼를 모두 반송하였는 지를 판단하고, 반송이 끝났으면, 처리가 종료되고, 반송이 필요하면, 자동 운전 처리로 진행한다(40). 자동 운전중에 이상 등이 발생하여 운전이 일시 중단된 상태에 있는 지의 여부를 판단한다(42). 이상이 없으면, 운전을 속행한다(44로). 운전에 사용할 수 없는 프로세스 처리장치가 있는 경우는 상기 프로세스 처리 장치를 사용하지 않고 운전 속행이 가능한지의 여부를 오퍼레이터가 판단한다(70). 속행이 불가능한 경우는 오퍼레이터가 자동 운전의 중지 설정을 행함으로서 장치는 자동 운전 정지 처리를 행한다(90). 속행이 가능한 경우에도 프로세스 처리장치에 웨이퍼가 남아 있는 경우, 진공 로봇의 손 위에 웨이퍼가 남아 있는 경우, 로드록실이나 언로드록실에 웨이퍼가 남아 있는 경우 등이 있다. 이와 같이 자동 운전중에 이상이 발생하고, 자동 운전의 속행을 할 수 없게 되어 자동 운전이 일시 중단한 상태로부터 계속하여 자동 운전을 재개하여 속행하기 위하여 이상이 발생한 기기내에 잔존하고 있는 웨이퍼를 원래의 카세트로 반출하는 처리를 행한다. 이것은 자동 운전중에 이상이 발생한 시점에서는 처리 장치내의 모든 웨이퍼의 반송, 처리의 스케쥴이 확정되어 있기 때문에, 이상이 발생한 기기에 있는 웨이퍼를 인출한 카세트(7)로 되돌리지 않으면 웨이퍼의 반송, 처리의 스케쥴이 착오가 생겨 자동 운전의 일시 중단상태로부터의 재개, 자동 운전 속행을 할 수 없게 되기 때문이다.8 shows an automatic operation flow diagram. When autonomous operation is started, it is determined whether all wafers to be processed have been conveyed, and when the transfer is completed, the process ends, and when transfer is required, the process proceeds to the autonomous operation (40). It is determined whether an abnormality or the like occurs during the automatic operation and the operation is in the suspended state (42). If there is no abnormality, driving continues (at 44). If there is a process processing device that cannot be used for operation, the operator determines whether operation can be continued without using the process processing device (70). If it is impossible to continue, the operator performs automatic driving stop processing by setting the operator to stop the automatic driving (90). Even if it is possible to continue, there are wafers left in the process processor, wafers left on the hand of the vacuum robot, and wafers left in the load lock chamber or unload lock chamber. In this way, an abnormality occurs during the automatic operation, the automatic operation cannot be continued and the original cassette is stored in the wafer in which the abnormality remains in order to resume the automatic operation from the state in which the automatic operation was suspended. The carrying out process is performed. This is because when the abnormality occurs during the automatic operation, the transfer and processing schedule of all the wafers in the processing apparatus are determined. This is because a schedule error occurs and resumes from the suspension of automatic operation and resumes automatic operation.

또 다른 실시예로서 이상이 발생한 기기내에 잔존하고 있는 웨이퍼를 원래의 카세트에 반출하지 않고, 상기 웨이퍼를 이상이 발생한 기기내에 잔존시킨 채 중도의 웨이퍼에 관하여 일시 중단상태로부터의 재개, 자동 운전을 속행시켜 일괄 처리를 종료시키고, 자동 운전을 종료시킨 후, 잔존하고 있는 웨이퍼를 원래의 카세트로 되돌리는 것도 가능하다. 또 다른 실시예로서 상기 웨이퍼를 원래의 카세트로 반출하도록 웨이퍼정보의 변경을 행하는 것도 가능하다. 예를 들어 이상 발생으로 처리장치내에 잔존하고 있는 웨이퍼를 그대로 두고, 상기 웨이퍼를 원래의 카세트로 반출한 바와 같이 웨이퍼정보의 변경을 행한 다음에 중도의 웨이퍼에 관하여 일시 중단상태로부터의 재개, 자동 운전을 속행시켜 일괄(1로트)처리를 종료시키고, 자동운전을 종료시킨 후, 잔존하고 있는 웨이퍼를 원래의 카세트로 되돌리는 경우에 이용한다. 처리 장치내에 잔존하고 있는 웨이퍼의 처리예를 이하에 나타낸다.As yet another embodiment, the wafer remaining in the abnormal device is not carried out to the original cassette, and resumes from the suspended state and resumes automatic operation with respect to the intermediate wafer while leaving the wafer in the abnormal device. It is also possible to return the original cassette to the original cassette after the batch processing is terminated and the automatic operation is finished. As another embodiment, it is also possible to change the wafer information to carry the wafer out to the original cassette. For example, the wafer remaining in the processing apparatus is left unchanged due to an abnormal occurrence, and the wafer information is changed as the wafer is exported to the original cassette. Is used when the batch (one lot) process is finished, the automatic operation is finished, and the remaining wafer is returned to the original cassette. The processing example of the wafer which remains in a processing apparatus is shown below.

장치내에 잔존 웨이퍼가 있는 지의 여부를 판단한다(72). 장치내에 잔존하고 있는 웨이퍼를 그대로 두고 운전을 계속할 지의 여부를 판단한다(73). 장치내에 잔존하고 있는 에이퍼를 그대로 두고 운전을 계속할 경우는 상기 웨이퍼를 원래의 카세트에 반출하도록 웨이퍼정보의 변경을 행한다(77). 장치내에 잔존하고 있는 웨이퍼를 그대로 두고 운전을 계속하지 않을 경우는 잔존하고 있는 웨이퍼중 에칭 처리를 할지의 여부를 판단한다(74). 처리실내에 잔존하고 있는 웨이퍼중 에칭처리 도중에 이상이 발생한 경우는 나머지 에칭 처리를 실시한 후(76), 웨이퍼를 원래의 카세트로 되돌린다(78). 이것은 되도록 웨이퍼를 구제하기 위하여 행한 것이다. 또 진공 로봇의 웨이퍼 핸드상에 웨이퍼가 남아 있는 경우나 로드록실 언로드록실에 웨이퍼가 남아 있는 경우는 기기 개별의 조작(록실의 배기/리크, 웨이퍼의 반송)을 행하고 그 웨이퍼를 원래의 카세트로 되돌린다(78). 이상과 같이 이상이 발생한 기기에 있던 웨이퍼는 필요한 조치를 실시하여 원래의 카세트로 되돌린 후, 일시 중단하고 있던 자동 운전을 재개하는 조작을 행한다. 이와 같이 함으로써 이상이 발생한 기기(처리실이나 진공 로봇등) 에 있던 웨이퍼의 트랙킹 정보는 정상인 경로에서 처리된 것과 동등하게 되어 자동 운전을 재개할 수 있게 된다. 이상과 같은 처리장치내에 잔존하고 있던 웨이퍼의 처치를 행한 후, 사용하지 않는 프로세스 처리장치에 대하여 도 7의 (32)로 나타낸 내용과 동일 운전 정보 신호 발생수단의 전환 조작(80)을 행한다. 이상 발생 정보를 리세트하고(82), 자동 운전을 속행한다.It is determined whether there is a residual wafer in the device (72). It is determined whether the operation is to be continued with the wafer remaining in the apparatus as it is (73). When the operation is continued while the remaining aper is left in the apparatus, the wafer information is changed to carry the wafer out to the original cassette (77). If the wafer remains in the apparatus and operation is not continued, it is judged whether or not etching is performed among the remaining wafers (74). If an abnormality occurs during the etching process among the wafers remaining in the processing chamber, after the remaining etching process is performed (76), the wafer is returned to the original cassette (78). This is done to save the wafer as much as possible. In the case where the wafer remains on the wafer hand of the vacuum robot or when the wafer remains in the load lock chamber unload lock chamber, the individual operation (exhaust / leak of the lock chamber, transfer of the wafer) is performed to return the wafer to the original cassette. (78). As described above, the wafer in the apparatus in which the abnormality has occurred is subjected to necessary measures and returned to the original cassette, and then the operation of resuming the suspended automatic operation is performed. By doing in this way, the tracking information of the wafer in the device (processing chamber, vacuum robot, etc.) in which the abnormality has occurred becomes equivalent to that processed in the normal path, so that automatic operation can be resumed. After the wafers remaining in the processing apparatus as described above are treated, the switching operation 80 of the operation information signal generating means in the same manner as shown in FIG. The abnormality occurrence information is reset (82), and automatic operation is continued.

정상인 운전 상태에서는 다음 웨이퍼의 반송 경로를 처리 순서 정보 기억 수단(16)에 기억되어 있는 정보를 판독하고(44), 운전 정보 신호 기억 수단(17)에 기억되어 있는 정보와 정합처리하여 반송 순로를 결정한다(46). 결정한 반송 순로는 카세트로부터 반출하는 웨이퍼마다 반송 순로 데이터를 가져도 좋고, 처리 순서 정보 기억 수단(16)과는 다른 처리 순서 정보 테이블을 작성하고, 웨이퍼를 반송할 때에는 이 테이블을 참조하도록 하여도 된다. 반송 순로가 결정되면, 대기 로봇(8)은 카세트(7)로부터 웨이퍼를 반출하고(48), 상기 결정한 반송 순로에 등록되어 있는 프로세스 처리 장치로 반송하고(50), 웨이퍼의 처리를 행한다(52). 이 웨이퍼반송 처리 및 프로세스 처리에서 이상이 발생한 경우는 계속해서 자동 운전을 계속하기 위하여 처리 속행 가능한 처리는 그 개개의 처리를 종료시키기 까지 실행한 후, 자동 운전을 일시 중단 상태로 한다. (예를 들어 N매째 웨이퍼의 에칭처리중이면, 그 N매째 웨이퍼의 에칭처리가 종료하기 까지 에칭처리를 계속하고, 종료한 시점에서 자동 운전을 일시 중단한다. 또 진공 로봇(5)에 의한 웨이퍼 반송중에 다른 처리에서 이상이 발생하면, 진공 로봇(5)은 소정의 장소로 웨이퍼 반송을 종료한 시점에서 자동 운전을 일시 중단한다.) 이후, 이상 발생한 것을 나타낸 이상 발생 정보(도시 생략)를 기억시킨 후, 장치를 일시 중단 상태로 오퍼레이터에게 중단한 것을 표시 수단(13)에 표시함과 동시에 버저를 울린다. 그후 (42)로 되돌아가 소정의 플로우로 처리한다.In the normal operation state, the conveyance path of the next wafer is read 44 of information stored in the process order information storage means 16, and matched with the information stored in the operation information signal storage means 17, thereby carrying the conveyance sequence. Determine (46). The determined conveying order may have the conveying order data for each wafer to be taken out of the cassette, and a process order information table different from the process order information storing means 16 may be created, and the table may be referred to when the wafer is conveyed. . When the transfer route is determined, the standby robot 8 takes out the wafer from the cassette 7 (48), transfers it to the process processing apparatus registered in the determined transfer route (50), and processes the wafer (52). ). If an abnormality occurs in the wafer transfer process and the process process, in order to continue the automatic operation, the process can be continued until the end of the individual process, and then the automatic operation is suspended. (For example, if the N-th wafer is being etched, the etching process is continued until the etching process of the N-th wafer is completed, and automatic operation is suspended at the end of the N-th wafer. If an abnormality occurs in another process during conveyance, the vacuum robot 5 suspends automatic operation at the end of wafer conveyance to a predetermined place.) Thereafter, abnormality occurrence information (not shown) indicating an abnormality is stored. After that, the display means 13 indicates that the apparatus has been suspended by the operator in a suspended state, and at the same time, a buzzer sounds. Thereafter, the process returns to 42 and the process proceeds to the predetermined flow.

도 9는 이상 발생후의 자동 운전 재개 처리도를 나타낸다. 이하에 도 8에서 기술한 자동 운전중에 이상이 발생한 후 자동 운전 재개까지의 처리에 관하여 설명한다. 도 A는 표 1에서의 「1 카세트 1레시피 병렬 운전」의 운전 모드로 웨이퍼의 반송 경로가 9 shows an automatic operation resumption processing diagram after an error has occurred. Hereinafter, a description will be given of a process from the occurrence of the abnormality during the automatic operation described in FIG. 8 to the resumption of the automatic operation. Fig. A shows the wafer transfer path in the operation mode of " 1 cassette 1 recipe parallel operation "

카세트 7-1 : E1→A1 및 E2→A2Cassette 7-1: E1 → A1 and E2 → A2

카세트 7-2 : E1→A1 및 E2→A2로 운전하고, E2에서는 (N)매째의 웨이퍼가 에칭처리중이고, A1에서는 (N-1)매째의 웨이퍼가 후처리중일 때 도 B에 나타낸 바와 같이 E2에서 이상이 발생하면, 에칭처리는 종료하고 A1의 (N-1)매째의 웨이퍼는 후처리 종료후, 언로드록실(4)로 반출하지 않고, 자동 운전을 일시 중단한다. E2에서 이상이 발생한 (N)매째 웨이퍼에 관해서는 도 7의 76과 78의 처치를 행한다. 그후 E2와 A2에 관해서는 도 8의 80의 운전 정보 신호 발생수단에 의한 전환 조작으로서 도 7의 설명에서 설명한 1) 또는 2) 또는 3)의 조작을 행하고, 도 5에서 나타낸 바와 같이 프로세스 처리장치 3(E2), 프로세스 처리장치 4(A2)의 운전 정보를 「무효 : 0」으로 한다. 이후, 이상 발생정보를 리세트(도 8의 80)하고, 자동 운전을 재개한다. 재개후는 도 C와 같이 A2의 (N-1)매째의 웨이퍼는 언로드록실(4)로 반송되고, 이후는 E1과 A1을 사용하여 처리를 속행한다.Cassette 7-2: E1 → A1 and E2 → A2, the (N) th wafer is being etched at E2, and the (N-1) th wafer is post-processed at A1 as shown in FIG. If an abnormality occurs in E2, the etching process ends and the wafer of (N-1) sheets of A1 is not taken out to the unload lock chamber 4 after the post-processing end, and the automatic operation is suspended. Regarding the (N) th wafer in which an abnormality occurred at E2, the treatment of 76 and 78 of FIG. 7 is performed. Subsequently, with respect to E2 and A2, the operation of 1) or 2) or 3) described in the description of FIG. 7 is performed as the switching operation by the operation information signal generating means of 80 of FIG. 8, and the process processing apparatus as shown in FIG. The operation information of 3 (E2) and process processor 4 (A2) is set to "invalid: 0". Thereafter, the abnormality occurrence information is reset (80 in FIG. 8), and automatic operation is resumed. After the resumption, as shown in Fig. C, the (N-1) th wafer of A2 is transferred to the unload lock chamber 4, and then the processing is continued using E1 and A1.

다음에 운전 정보를 「무효 : 0」으로 한 프로세스 처리장치 3(E2), 프로세스 처리장치 4(A2)에 관해서는 보조 조작반(22)을 사용하여 이상 원인을 구명하기 위하여 프로세스 처리장치 3(E2), 프로세스 처리장치 4(A2)에 대하여 기기 동작을 행하기 위한 조작 입력을 행할 수 있다. 예를 들어 프로세스 처리장치 3(E2)내의 도시생략한 웨이퍼 밀어 올림조작을 행하여 동작을 확인한다.Next, with respect to the process processor 3 (E2) and the process processor 4 (A2) whose operation information is set to "invalid: 0", the process processor 3 (E2) is used to determine the cause of the abnormality by using the auxiliary operating panel 22. ), Operation input for performing the device operation can be performed to the process processing apparatus 4 (A2). For example, a wafer pushing up operation not shown in the process processor 3 (E2) is performed to confirm the operation.

이상과 같은 조작에 의하여 이상 원인을 대책할 수 있고, 「무효 : 0」으로 한 프로세스 처리장치 3(E2), 프로세스 처리장치 4(A2)를 웨이퍼의 처리 경로로 복귀시키는 순서를 이하에 나타낸다. 다음에 도 C의 운전중에 자동 운전의 중단 조작을 행하고 운전 모드의 처리경로로부터 분리한 E2와 A2를 유효로 설정함으로써 도 A로 이행할 수 있고,By the above operation, the cause of an abnormality can be countermeasured and the procedure which returns the process processing apparatus 3 (E2) and process processing apparatus 4 (A2) which made it "invalid: 0" to the processing path of a wafer is shown below. Next, the operation can be shifted to FIG. A by performing an interruption operation of the automatic operation during the operation of FIG. C and setting E2 and A2 separated from the processing path of the operation mode to be valid.

운전 모드에서 웨이퍼의 반송 경로를 In operation mode, the wafer transfer path

카세트 7-1 : E1→A1 및 E2→A2Cassette 7-1: E1 → A1 and E2 → A2

카세트 7-2 : E1→A1 및 E2→A2로 운전할 수 있다.Cassette 7-2: E1-> A1 and E2-> A2 can be operated.

도 10은 자동 운전중의 처리장치 운전 분리 처리도를 나타낸다. 이하에 도 8에서 설명한 자동 운전중에 E2와 A2를 자동 운전 처리경로로부터 분리한 후, 자동 운전을 재개하는 처리에 관하여 설명한다. 도 A는 도 9의 도 A의 운전 경로와 동일하다. 표 1에서 「1 카세트 1 레시피 병렬 운전」의 운전 모드에서 웨이퍼의 반송 경로가 10 shows a processing unit operation separation processing diagram during automatic operation. Hereinafter, a process of resuming automatic operation after separating E2 and A2 from the automatic driving process path during the automatic driving described in FIG. 8 will be described. FIG. A is identical to the driving route of FIG. A of FIG. 9. In Table 1, the wafer transfer path in the operation mode of "1 cassette 1 recipe parallel operation"

카세트 7-1 : E1→A1 및 E2→A2Cassette 7-1: E1 → A1 and E2 → A2

카세트 7-2 : E1→A1 및 E2→A2로 운전하고, E2에서는 (N)매째의 웨이퍼가 에칭처리중이고, A1에서는 (N-1)매째의 웨이퍼가 후처리중일 때 도 A에 나타낸 바와 같이 E2와 A2에 운전 정지 조작에 의하여 정지 지시가 나오면, A1의 (N-1)매째의 웨이퍼는 후처리 종료후, 원래의 카세트로 되돌려지고, (N)매째 웨이퍼의 에칭처리가 종료하고 A2로 반송되어 후처리 종료후 원래의 카세트로 되돌려진다. 그런데 E2와 A2는 운전 정지 상태로 되어 있기 때문에, (N+1)매째 이후의 웨이퍼는 E1과 A1을 사용하여 운전이 속행된다.Cassette 7-2: E1 → A1 and E2 → A2, the (N) th wafer is being etched at E2, and the (N-1) th wafer is post-processed at A1 as shown in FIG. When the stop instruction is issued to the E2 and the A2 by the operation stop operation, the (N-1) th wafer of A1 is returned to the original cassette after the post-processing is finished, and the etching process of the (N) th wafer is completed and the A2 is finished. It is conveyed and returned to the original cassette after finishing the post-processing. By the way, since E2 and A2 are in the stop state, the wafers after the (N + 1) th are operated using E1 and A1.

상기에서는 자동 운전중에 E2와 A2를 자동 운전 처리 경로로부터 분리하는 수단으로서 운전 정지조작에 의하여 정지 지시를 냄으로서 분리를 행하였으나, 다른 방법으로서 처리 장치내에 조립한 검출기의 기능에 의하여 정지 지시를 낼 수도 있다. 일예로서는 처리 장치내에 조립한 이물 모니터 장치로부터의 이물 측정 모니터치가 운전전에 설정한 설정치를 초과한 것을 검지하고, 이 초과한 신호를 가지고 자동 운전중에 E2와 A2에 정지 지시를 내어 운전 정지 조작과 동일 기능을 행할 수 있다.In the above, the separation was performed by giving a stop instruction by an operation stop operation as a means of separating E2 and A2 from the automatic operation processing path during the automatic operation, but alternatively, a stop instruction is issued by the function of a detector built into the processing apparatus. It may be. As an example, the foreign material measurement monitor value from the foreign material monitoring device assembled in the processing device detects that the set value set before the operation is exceeded, and the stop signal is given to the E2 and A2 during the automatic operation with this exceeded signal, which is the same as the operation stop operation. Function can be performed.

또 분리한 프로세스 처리장치를 웨이퍼의 반송 경로로 복귀시키는 순서는 도 9의 설명에서 나타낸 내용과 동일하다.The procedure for returning the separated process processing apparatus to the wafer transfer path is the same as that shown in the description of FIG. 9.

도 11은 파일롯 카세트 처리도를 나타낸다. 이것은 자동 운전중에 인터럽트 특급 처리를 행하고, 그 처리 종료후는 원래의 처리를 재개하여 속행하는 것이다. 이하에 도 8에서 설명한 자동 운전중에 특정한 (이 경우는 E2와 A2라 함)처리장치를 현재 운전중 운전 모드의 처리 경로로부터 분리하고, 그 분리한 E2와 A2를 사용하여 그때까지 운전하고 있던 프로세스 처리 조건과는 다른 프로세스 처리조건으로 처리하는 카세트(이 카세트에 대해 파일롯 카세트라 부름)를 인터럽트하여 처리후, 원래의 자동 운전을 재개하여 속행하는 처리에 관하여 설명한다. 도 A는 도 9에서의 운전 경로와 동일하다. 표 1에서 「1 카세트 1레시피 병렬 운전」의 운전 모드에서 웨이퍼의 반송 경로가 11 shows a pilot cassette processing diagram. This executes interrupt express processing during automatic operation, and resumes the original processing after the completion of the processing. The processing device (in this case, E2 and A2) specified during the automatic operation described below in FIG. 8 is separated from the processing path of the current operation mode, and the process that has been operated until then using the separated E2 and A2. A process of interrupting a cassette (called a pilot cassette for this cassette) which is processed under a process processing condition different from the processing condition and resuming the original automatic operation after the processing will be described. FIG. A is identical to the driving route in FIG. 9. In Table 1, the wafer transfer path in the operation mode of "1 cassette 1 recipe parallel operation"

카세트 7-1 : E1→A1 및 E2→A2Cassette 7-1: E1 → A1 and E2 → A2

카세트 7-2 : E1→A1 및 E2→A2로 운전하고, E2에서는 카세트 7-1의 (N)매째의 웨이퍼가 에칭처리중이고, A1에서의 카세트 7-1의 (N-1)매째의 웨이퍼가 후처리중일 때 도 A에 나타낸 바와 같이 E2와 A2를 사용한 인터럽트 특급 처리를 행하기 위하여 자동 운전의 중단 조작을 행한다. E2와 A2에 운전 정지 조작에 의하여 정지 지시가 나오면 A1의 (N-1)매째의 웨이퍼는 후처리 종료후, 원래의 카세트로 되돌리고, (N)매째의 웨이퍼는 에칭처리가 종료하고 A2로 반송되어 후처리 종료후 원래의 카세트로 되돌려진다. 그런데 E2와 A2는 운전 정지 상태로 되어 있기 때문에 (N+1)매째 이후의 웨이퍼는 E1과 A1을 사용하여 운전이 속행된다(도 C). E1과 A1을 사용한 운전중에 E2와 A2를 사용한 인터럽트 특급 처리의 카세트가 카세트 7-2에 놓여져 할당 처리의 기동 운전이 개시되면(도 C), 그때까지 카세트7-1로부터 골라낸 웨이퍼가 모두 처리되고 카세트 7-1로 반입후, 카세트 7-1내 웨이퍼의 E1과 A1을 사용한 운전은 일시 중단 상태가 되고, 인터럽트 특급 처리용의 카세트 7-2내 웨이퍼의 처리가 개시된다(도 D). 카세트 7-2의 웨이퍼에 관해서는 순차 E2→A2의 처리를 행하여 카세트 7-2로 반입한다. 파일롯 카세트의 처리가 종료하면, 인터럽트 처리 종료와 일시 중단 상태의 운전의 재개 설정을 행하고, 중단하고 있던 카세트 7-1로부터 웨이퍼의 처리를 재개한다(도 C의 상태로 되돌린다). 다음에 도 C로 되돌린 상태에서 운전중에 자동 운전의 중단 조작을 행하고, 운전 모드의 처리경로로부터 분리한 E2와 A2를 유효로 설정함으로써 도 A로 이행할 수 있고,Cassette 7-2: E1 → A1 and E2 → A2, and in E2, the (N) th wafer of cassette 7-1 is being etched, and the (N-1) th wafer of cassette 7-1 in A1 When is post-processing, as shown in Fig. A, an interruption operation of automatic operation is performed to perform interrupt express processing using E2 and A2. When the stop instruction is issued to the E2 and the A2 by the operation stop operation, the (N-1) th wafer of A1 is returned to the original cassette after the post-processing is finished, and the (N) th wafer is etched and returned to A2. After the end of the post processing, the original cassette is returned. By the way, since E2 and A2 are in the stop state of operation, the wafers after (N + 1) th are operated using E1 and A1 (Fig. C). If the cassette of interrupt express processing using E2 and A2 is placed in cassette 7-2 during the operation using E1 and A1 and the start operation of allocation processing is started (Fig. C), all the wafers selected from cassette 7-1 are processed until then. After the transfer into the cassette 7-1, the operation using E1 and A1 of the wafer in the cassette 7-1 is suspended, and the processing of the wafer in the cassette 7-2 for interrupt express processing is started (Fig. D). About the wafer of cassette 7-2, the process of E2-> A2 is performed sequentially, and it carries in to cassette 7-2. When the processing of the pilot cassette is finished, the interrupt processing is terminated and the operation of the suspended state is set again, and the wafer processing is resumed from the interrupted cassette 7-1 (return to the state of FIG. C). Then, the operation of stopping the automatic operation during the operation in the state of returning to Fig. C can be performed, and the process can be transferred to Fig. A by setting E2 and A2 separated from the processing path of the operation mode to be valid.

운전 모드에서 웨이퍼의 반송 경로가 In operation mode, the wafer's return path

카세트 7-1 : E1→A1 및 E2→A2Cassette 7-1: E1 → A1 and E2 → A2

카세트 7-2 : E1→A1 및 E2→A2로 운전할 수 있다.Cassette 7-2: E1-> A1 and E2-> A2 can be operated.

도 12는 진공 처리장치에서의 처리장치 분리를 위한 구성도를 나타낸다. 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)는 처리용 가스 라인마다 에어 오퍼레이터션 밸브 구동용 에어 라인을 차단할 수 있는 구조로 하고, 수동 개폐용 밸브를 설치하고 있다. 또 방전용 전원 유닛에 공급하고 있는 전원을 차단할 수 있는 구조로 하고, 전원 라인마다 온/오프할 수 있는 브레이커를 설치하고 있다. 본 도에서는 “1 카세트 1 레시피 병렬 운전”을 행함에 있어서, 프로세스 처리장치(2-2)에서의 전극 교환의 메인티넌스작업과 프로세스 처리장치(2-3, 2-4)를 사용하여 웨이퍼처리하는 통상 운전을 병행하여 행하는 운전에 관하여 설명한다. 또 실시예 설명에서 특별히 설명하지 않은 프로세스 처리장치로의 상기 대응 내용의 도시는 생략하고 있다.12 shows a configuration diagram for separating a processing apparatus from a vacuum processing apparatus. The process processing apparatuses 2-1 to 2-4 have a structure capable of blocking the air operation valve driving air line for each processing gas line, and are provided with a manual opening / closing valve. Moreover, the structure which can cut off the power supply to the discharge power supply unit, and the breaker which can turn on / off for each power supply line is provided. In this figure, in performing "one cassette 1 recipe parallel operation", the wafer replacement process is performed by the maintenance operation of the electrode exchange in the process processing apparatus 2-2 and the process processing apparatuses 2-3 and 2-4. The operation performed in parallel with the normal operation to be processed will be described. In addition, illustration of the said correspondence content to the process processing apparatus which was not specifically demonstrated in embodiment description is abbreviate | omitted.

장치 운전 경로로서는 경로 A와 경로 B를 사용한 운전이 되나(도 1 실시예의 설명을 참조), 프로세스 처리장치(2-2)에서는 메인티넌스작업을 행하기 위하여 프로세스 처리장치(2-2)에서도 가스 라인의 에어 오퍼레이션 밸브 구동용 에어라인의 수동 개폐용 밸브를 폐쇄로 하고, 또한 방전용 전원 유닛에 공급하고 있는 전원 라인마다의 브레이커를 오프로 한 후, 도 7에서 나타낸 장치 운전을 행한다. 따라서 메인티넌스중의 프로세스 처리장치에 잘못하여 처리용 가스를 흘리는 조작을 행하여도 가스 라인의 에어오퍼레이션 밸브 구동용 에어라인을 차단하고 있기 때문에 처리용 가스는 흐르지 않는다. 방전용 전원을 잘못하여 온하여도 방전용 전원유닛에 공급하고 있는 전원이 차단되어 있기 때문에 감전되는 일이 없다. 이와 같이 작업자가 가동하고 있는 장치의 기기측에 서서 장치 및 기기에 메인티넌스 작업과 통상의 웨이퍼처리를 병행하여 운전하는 경우에도 “오조작”에 의하여 처리용 가스를 흘리거나 방전용 전원을 온하여 감전한다고 하는 작업자에게 위해를 미치는 것을 저지할 수 있고, 작업자에 대한 안전성을 확보할 수 있다.As the device operation route, operation using the path A and the path B is performed (refer to the description of the embodiment of FIG. 1), but in the process processing apparatus 2-2, the process processing apparatus 2-2 also performs the maintenance work. Air operation valve of the gas line The valve for manual opening and closing of the air line for driving is closed, and the breaker for every power supply line supplied to the power supply unit for discharge is turned off, and the apparatus shown in FIG. 7 is performed. Therefore, even if an operation to flow the processing gas by mistake in the process processing apparatus during maintenance is performed, since the air operation valve driving air line of the gas line is shut off, the processing gas does not flow. The electric power supplied to the power supply unit for the discharge is cut off even when the power supply for the discharge is turned on by mistake. In this way, even when the operator stands on the apparatus side of the apparatus in which the operator is operating, the apparatus and the apparatus are operated in parallel with the maintenance work and the normal wafer processing, so that the processing gas is flowed or the discharge power is turned on by the “misoperation”. This can prevent the worker from harming the electric shock, and can ensure safety for the worker.

도 13은 주조작부와 보조 조작반의 조작상의 인터록의 플로우도를 나타낸다. 도 1에서 나타낸 장치 구성에서 주조작부(11)에서 장치 조작을 실시하고 있는 도중에 프로세스 처리장치(2-2)에 대하여 보조 조작반(22)을 이용하여 조작을 행하는 경우의 조작상의 인터록을 나타낸다.Fig. 13 shows a flow chart of the operational interlock between the casting operation unit and the auxiliary operation panel. In the apparatus configuration shown in FIG. 1, an operation interlock is shown when an operation is performed on the process processing apparatus 2-2 using the auxiliary operation panel 22 while the casting operation unit 11 is operating the apparatus.

보조 조작반으로 프로세스 처리장치(2-2)의 장치 조작을 실시하기 전에 주조작부(11)로부터 보조 조작반(22)에 프로세스 처리장치(2-2)의 조작권을 건네면(110), 그 조작권을 보조 조작반(22)으로부터 수령하기 까지 주조작부(11)로부터는 프로세스 처리장치(2-2)로의 조작만을 할 수 없게 된다(116). 보조 보작반(22)이 프로세스 처리장치(2-2)의 조작권을 수령하면(104), 보조 조작반(22)에서 프로세스 처리장치(2-2)의 조작이 가능하게 된다(108). 보조 조작반(22)에서의 프로세스 처리장치(2-2)의 조작이 종료하면(110), 보조 조작부(22)로 부터 주조작부(11)에 프로세스 처리장치(2-2)의 조작권을 건네면(112), 보조 조작반(22)으로부터는 프로세스 처리장치(2-2)로의 조작은 할 수 없다(114). 주조작부(11)가 프로세스 처리장치(2-2)의 조작이 가능하게 되고(118), 주제어부(11)로부터는 모든 프로세스 처리장치에 대한 조작이 가능하게 된다(120).When the operating right of the process processing apparatus 2-2 is passed from the casting operation unit 11 to the auxiliary operating panel 22 before the apparatus operation of the process processing apparatus 2-2 is performed by the auxiliary operating panel 110, the operating right thereof. Until it is received from the auxiliary operating panel 22, only the operation to the process processing apparatus 2-2 cannot be performed from the casting operation part 11 (116). When the auxiliary operation panel 22 receives the operation right of the process processing apparatus 2-2 (104), the operation of the process processing apparatus 2-2 is enabled in the auxiliary operating panel 22 (108). When the operation of the process processing apparatus 2-2 on the auxiliary operating panel 22 is finished (110), the operation right of the process processing apparatus 2-2 is passed from the auxiliary operating unit 22 to the casting operation unit 11. (112), the operation from the auxiliary operation panel 22 to the process processing apparatus 2-2 cannot be performed (114). The casting operation part 11 can operate the process processing apparatus 2-2 (118), and the main control part 11 can operate all the process processing apparatuses (120).

이상 설명한 내용에서도 알 수 있는 바와 같이 고장등으로 운전에 사용할 수 없는 또는 수복이나 보수(플라즈마 크리닝도 포함)를 위해 사용하지 않는 프로세스 처리장치는 운전 정보 신호 기억수단(17)에 기억되어 있고, 장치 제어수단은 이 정보를 참조하여 운전을 진행하기 때문에 무효로 설정한 프로세스 처리장치로 반송하는 일은 없다. 또 이 무효로 설정한 프로세스 처리장치에서는 수복, 보수 및 부적합한 원인을 행하기 위하여 속행하고 있는 자동 운전중의 웨이퍼처리와 병행하여 메인티넌스조작으로서 작업자가 장치의 기기측이 아닌 장치로부터 분리된 상태에서 장치 조작(예를 들어 플라즈마 크리닝처리, 가스라인 배기처리, 웨이퍼 푸셔의 밀어 올림/밀어 내림동작)을 행할 수 있다. 또 무효로 설정한 프로세스 처리장치에 대하여 장치의 기기측에서 수복, 보수 및 단점의 원인 때문에 조작 입력하는 경우는 상기 보조 조작반(22)을 이용하게 된다. 그런데 통상 생산 라인에서는 도 1에 나타낸 대기 반송 장치(6)가 크린룸측으로 반송 처리장치(1), 프로세스 처리장치(2-1 ~ 2-4)는 메인티넌스실측에 설치되어 있고, 크린룸측과 메인티넌스실측과의 사이는 파티션으로 구분되어 있고, 한쪽에서 다른 쪽은 충분히 시계가 미치지 않는 경우가 있다. 또 보조 조작반(22)은 주제어부(11)에도 접속되어 있으나, 보조 조작반(22)은 주제어부(11)와는 보통 분리된 장소이고 또한 서로서로 사람이 조작하는 일이 있다. 이와 같은 경우, 어느쪽의 조작부에서도 조작을 할 수 있게 하여 두면, 특히 기기측에서 보조 조작반(22)을 이용하여 조작하는 경우, 조작하고 있는 오퍼레이터에 대하여 안전상 재해의 발생을 생각할 수 있기 때문에 이 재해를 방지하기 위하여 보조 조작반(22)을 이용하여 기기측에서 프로세스 처리장치로 조작(예를 들어 웨이퍼 밀어 올림의 상승/ 하강조작)을 행할 때는 주제어부(11)에서는 기기로의 조작을 할 수 없도록 도 13에서 나타낸 조작상의 인터록을 걸어 두고 있다.As can be seen from the above description, a process processing apparatus that cannot be used for operation due to a failure or that is not used for repair or maintenance (including plasma cleaning) is stored in the operation information signal storage means 17. Since the control means proceeds with reference to this information, it does not return to the process processing apparatus set as invalid. In addition, in the process processing apparatus set to this invalid state, the operator is separated from the apparatus other than the apparatus side of the apparatus as a maintenance operation in parallel with the wafer processing during the automatic operation which is continued to perform repair, maintenance, and inadequate cause. The device operation (e.g., plasma cleaning treatment, gas line exhaust treatment, pushing up / down operation of the wafer pusher) can be performed. In addition, the auxiliary operation panel 22 is used when an operation is input to the process processing apparatus that has been set to invalid due to the cause of repair, maintenance, and shortcoming on the apparatus side of the apparatus. By the way, in the normal production line, the air conveying apparatus 6 shown in FIG. 1 is provided to the clean room side, and the conveyance processing apparatus 1 and the process processing apparatuses 2-1 to 2-4 are provided in the maintenance room side, There is a partition between the maintenance room and the clock from one side to the other. The auxiliary operation panel 22 is also connected to the main control unit 11, but the auxiliary operation panel 22 is a place which is usually separated from the main control unit 11, and may be operated by each other. In such a case, if the operation can be performed from either of the operation units, in particular, when the operation is performed using the auxiliary operation panel 22 on the apparatus side, the occurrence of a safety hazard can be considered for the operator operating the disaster. In order to prevent damage to the main control unit 11, the main control unit 11 cannot operate the device when the operation is performed by the process processing device (for example, the lift up / down operation) on the device side using the auxiliary operation panel 22. The operational interlock shown in FIG. 13 is suspended.

이상의 내용을 가지고 자동 운전중에 그 처리에 사용하고 있지 않는 처리실을 사용한 처리 및 그 처리실로의 조작을 할 수 있어 편폐 운전을 실행할 수 있다.With the above-mentioned contents, the process using the process chamber which is not used for the process during automatic operation, and operation to the process chamber can be performed, and a single-close operation can be performed.

본 발명에 의하면, 운전도중에 또는 프로세스 처리장치가 고장등으로 사용할 수 없게 된 경우나 운전 개시 시점에서 수복이나 보수의 필요가 있는 프로세스 처리장치가 있는 상태에서 운전을 개시하는 경우나 운전 도중에 또는 프로세스 처리장치의 운전을 중단시켜 다른 유효한 프로세스 처리장치를 사용하여 운전중에 먼저 중단시킨 프로세스 처리장치를 운전 재개하는 경우, 장치 운전 속행의 처치를 실시함으로써 운전 속행이 가능하게 되도록 함으로써 프로세스 처리를 행하는 복수의 프로세스 처리장치와, 웨이퍼의 반송을 행하는 반송 처리장치로 구성된 진공 처리장치에서는 복수 또는 처리실 중 어느것이 고장등으로 사용할 수 없게 된 경우에도 운전 속행을 할 수 있고, 또 운전 개시시 수복이나 보수할 필요가 있는 프로세스 처리장치가 있는 경우에도 정상인 프로세스 처리장치를 사용하여 운전할 수 있고, 장치의 가동율을 향상할 수 있다. 또 정상으로 웨이퍼처리하는 통상 운전과 병행하여 이상한 처리실을 복구하거나 정기적으로 실시하는 메인티넌스작업을 장치의 기기측에서 행할 경우, 오조작을 행함으로써 처리용 가스를 흘리거나 오조작으로 감전되는 일이 없도록 작업자에게의 위해를 저지함으로써 작업자에 대한 안전성의 확보가 도모되는 진공 처리장치를 제공할 수 있게 된다.According to the present invention, when the operation is started during the operation or when the process processing apparatus becomes unusable due to a failure or the like and when there is a process processing apparatus that needs to be repaired or repaired at the start of operation, or during the operation or during the process processing In the case where the operation of the process is resumed by stopping the operation of the apparatus and using the other valid process processing apparatus, the process may be resumed. In the vacuum processing apparatus composed of the processing apparatus and the conveying processing apparatus for conveying wafers, the operation can be continued even when any of the plurality or the processing chambers cannot be used due to a failure or the like, and it is necessary to repair or repair at the start of the operation. With process handler Even in the case of using a normal process processing apparatus can be operated, the operation rate of the apparatus can be improved. In addition to the normal operation of normal wafer processing, when an abnormal operation chamber is repaired or maintenance is performed regularly on the apparatus side of the apparatus, misoperation causes flow of processing gas or electric shock due to misoperation. It is possible to provide a vacuum processing apparatus which can secure safety for the worker by preventing the worker from being harmless.

도 1은 본 발명에 의한 진공 처리장치의 일실시예를 나타낸 평면도,1 is a plan view showing an embodiment of a vacuum processing apparatus according to the present invention,

도 2는 본 발명에 의한 진공 처리장치의 다른 실시예를 나타낸 평면도,2 is a plan view showing another embodiment of a vacuum processing apparatus according to the present invention;

도 3은 본 발명에 의한 크리닝 운전의 플로우도,3 is a flowchart of a cleaning operation according to the present invention;

도 4는 도 1의 일실시예의 진공 처리장치에서의 장치 제어수단의 제어 구성도,4 is a control block diagram of the device control means in the vacuum processing apparatus of the embodiment of FIG.

도 5는 도 1의 일실시예의 진공 처리장치에서의 장치 제어수단의 운전 정보 신호를 나타낸 도,5 is a view showing an operation information signal of the apparatus control means in the vacuum processing apparatus of the embodiment of FIG.

도 6은 도 1의 일실시예의 진공 처리장치에서의 장치 제어수단의 처리 순서 정보를 나타낸 도,6 is a view showing processing sequence information of the device control means in the vacuum processing apparatus of the embodiment of FIG.

도 7은 도 1의 일실시예의 진공 처리장치에서의 장치 제어수단의 자동운전의 플로우도,7 is a flow chart of automatic operation of the device control means in the vacuum processing apparatus of the embodiment of FIG.

도 8은 도 7의 자동 운전 플로우의 상세를 나타낸 플로우도,FIG. 8 is a flow diagram showing details of the autonomous driving flow of FIG. 7; FIG.

도 9는 도 1의 일실시예의 진공 처리장치에서의 이상 발생후의 자동 운전 재개 처리시의 동작 상태를 나타낸 도,FIG. 9 is a view showing an operating state at the time of automatic operation resume processing after an abnormality occurs in the vacuum processing apparatus of the embodiment of FIG. 1;

도 10은 도 1의 일실시예의 진공 처리장치에서의 자동 운전중의 처리장치 운전 분리 처리의 동작 상태를 나타낸 도,FIG. 10 is a view showing an operating state of a processing apparatus operation separation process during automatic operation in the vacuum processing apparatus of the embodiment of FIG. 1;

도 11은 도 1의 일실시예의 진공 처리장치에서의 자동 운전중의 파이롯 카세트처리시의 상태 변화를 나타낸 도,11 is a view showing a state change during pilot cassette processing during automatic operation in the vacuum processing apparatus of the embodiment of FIG. 1;

도 12는 진공 처리장치에서의 처리 장치 분리를 위한 구성도,12 is a block diagram for separating a processing apparatus from a vacuum processing apparatus;

도 13은 주조작부와 보조 조작부의 조작상의 인터록의 플로우도를 나타낸다.13 shows a flow chart of an operational interlock of a casting operation part and an auxiliary operation part.

Claims (4)

프로세스 처리를 행하는 복수의 프로세스 처리장치와, 상기 프로세스처리장치에 웨이퍼를 반송하는 반송처리장치와, 상기 반송처리장치 내에 설치되어 웨이퍼의 반송을 행하는 반송장치 및 웨이퍼를 복수매 수납할 수 있는 복수의 카세트를 대기 중에서 탑재하는 대기반송장치와, 상기 대기반송장치의 어느 하나의 카세트 내로부터도 상기 웨이퍼를 빼낼 수 있게 구성된 다른 반송장치와, 상기 반송처리장치와 다른 반송장치와의 사이에 설치된 록실을 구비하고, 상기 카세트와 상기 다른 반송장치, 록실, 반송처리장치 및 프로세스처리장치와의 사이에서 웨이퍼를 반송하기 위한 반송제어를 행하는 제어장치로 구성되고, 상기 반송처리장치에 접속된 복수의 프로세스처리장치를 사용하여 웨이퍼처리를 행하는 진공처리장치에 있어서,A plurality of process processing apparatuses for carrying out process processing, a conveying apparatus for conveying wafers to the process processing apparatus, a conveying apparatus installed in the conveying processing apparatus for conveying wafers, and a plurality of wafers capable of storing a plurality of wafers A large base conveying apparatus for mounting a cassette in the air, another conveying apparatus configured to extract the wafer from any of the cassettes of the large conveying apparatus, and a lock chamber provided between the conveying processing apparatus and another conveying apparatus. And a control device for carrying out a transfer control for transferring a wafer between the cassette and the other transfer device, lock chamber, transfer processing device, and process processing device, and a plurality of process processes connected to the transfer processing device. In the vacuum processing apparatus which performs a wafer process using an apparatus, 적어도 2개의 카세트를 사용하고, 각 카세트마다 수납된 웨이퍼를 다른 반송장치, 록실 및 상기 반송장치를 거쳐 상기 어느 하나의 프로세스처리장치로 반송하고, 반송한 웨이퍼에 상기 카세트마다 다른 레시피를 적용하여 다른 처리를 실시하는 병렬처리와, 또는 각 카세트에 수납된 웨이퍼에 공통의 레시피를 적용하여 공통의 처리를 실시하는 병렬처리의 어느 하나를 실시한 후의 웨이퍼를 록실을 거쳐 원래의 카세트로 되돌리는 것을 특징으로 하는 진공처리장치.At least two cassettes are used, and the wafers stored for each cassette are transferred to any one of the processing apparatuses through another conveying apparatus, lock chamber and the conveying apparatus, and different recipes are applied to the conveyed wafers for different cassettes. Returning the wafer to the original cassette via the lock chamber after one of the parallel processing to perform the processing or the parallel processing to apply the common recipe to the wafers stored in each cassette. Vacuum processing apparatus. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 록실은 로드록실과 언로드록실로 이루어지고, 상기 어느 하나의 병렬처리를 실시한 웨이퍼를 상기 언로드록실로부터 원래의 카세트로 되돌리는 것을 특징으로 하는 진공처리장치.And the lock chamber comprises a load lock chamber and an unload lock chamber, and returns the wafer subjected to any one of the parallel processing from the unload lock chamber to the original cassette. 대기중에서 대기반송장치에 탑재된 각 카세트 내의 웨이퍼를 다른 반송장치로부터 록실, 다시 반송처리장치를 거쳐 프로세스처리장치에 반송하고, 적어도 2개 이상의 프로세스처리장치로 웨이퍼의 프로세스처리를 행하는 진공처리방법에 있어서,In the vacuum processing method, a wafer in each cassette mounted on a large base conveying apparatus is conveyed from another conveying apparatus to a process processing apparatus through a lock chamber and a conveying processing apparatus in the air, and the wafer is processed by at least two process processing apparatuses. In 적어도 2개의 카세트를 사용하고, 각 카세트마다 수납된 웨이퍼를 빼낼 수 있게 구성된 다른 반송장치, 록실 및 반송장치를 거쳐 반송하고, 반송한 웨이퍼에 상기 카세트마다 다른 레시피를 적용하여 다른 처리를 실시하는 병렬처리와, 또는 각 카세트에 수납된 웨이퍼에 공통의 레시피를 적용하여 공통의 처리를 실시하는 병렬처리의 어느 하나를 실시한 후의 웨이퍼를 록실을 거쳐 원래의 카세트로 되돌리는 것을 특징으로 하는 진공처리방법.Parallel to which at least two cassettes are used and conveyed through another conveying apparatus, a lock chamber, and a conveying apparatus configured to pull out the wafers stored for each cassette, and apply different recipes for the cassettes to the conveyed wafer to perform different processing. A vacuum processing method comprising returning a wafer after a lock processing and a parallel processing in which a common recipe is applied to a wafer stored in each cassette to perform a common processing, and then return to the original cassette through a lock chamber. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 웨이퍼는 2개의 카세트로부터 교대로 빼내어 각각 병렬처리하는 것을 특징으로 하는 진공처리방법.And the wafers are alternately withdrawn from two cassettes for parallel processing.
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