KR100486768B1 - 회로기판의 아이씨소자용 실드 검사장치 및 그 검사방법 - Google Patents

회로기판의 아이씨소자용 실드 검사장치 및 그 검사방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 회로기판의 IC소자용 실드 검사장치 및 검사방법에 대한 것으로, 발명의 주된 목적은 연속공급되는 실드의 모든 접촉부를 그 실드의 외측에 설치한 광원과 카메라로 검사하므로 써, 가능한 정확한 검사결과를 얻어내고, 또 측정된 결과의 오차값을 화소수로 써 수치화 할 수 있도록 하는데 있으며, 또 한편으로는 전, 후면 접촉부를 측정하기 위한 가로이송구간부와 좌, 우측면의 접촉부를 측정하기 위한 세로이송구간부와, 내부의 접촉부를 측정하기 위한 저면 측정구간부로 구성하므로 써, 실드를 최소거리로 이동시키면서 모든 부분을 동시에 다 측정할 수 있도록 하는데 있으며, 또 다른 한편으로는 각각의 광원과 카메라의 위치 조절이 용이하도록 하므로 써, 실드의 크기나 모양이 바뀌더라도 모두 검사할 수 있도록 호환성을 높이고자 하는데 있다.
상기 목적한 바를 달성하기 위한 본 발명의 특징적인 수단은 실드 조립장치로부터 완성된 실드를 정상자세로 공급받기 위한 실드도입 컨베이어(100); 상기 실드도입 컨베이어로부터 도입되는 실드의 전, 후면을 측정하기 위하여 가로이송대(211)와, 그 가로이송대를 따라 이송시키는 가로이송수단(210)과, 상기 가로이송수단의 전, 후방향에 설치한 적어도 하나 이상의 카메라 측정수단(600)과, 불량 실드를 배출하기 위한 배출수단(700)을 포함하는 가로이송부(200); 상기 가로이송부로부터 전, 후면의 측정을 마친 실드를 다음의 측정단계로 이송시키되, 직교하는 방향으로 이동할 수 있도록 방향전환시키는 이송전환부(300); 상기 이송전환부로부터 도입되는 실드의 좌, 우측면을 측정하기 위하여 세로이송대(411)와, 그 세로이송대를 따라 이송시키는 세로이송수단(410)과, 상기 세로이송수단의 좌, 우측면에 설치한 적어도 하나 이상의 카메라 측정수단(600)과, 불량 실드를 배출하기 위한 배출수단(700)을 포함하는 세로이송부(400); 상기한 가로이송부 또는 세로이송부 중 어느 한곳에 구비한 저면측정기구(500);로 이루어진 것이다.

Description

회로기판의 아이씨소자용 실드 검사장치 및 그 검사방법 {MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD FOR IC-CHIP SHIELD}
본 발명은 회로기판의 IC소자용 실드 검사장치 및 검사방법에 대한 것으로, 더 상세하게는 리드와 프레임으로 실드를 구성하되, 그 프레임의 테두리를 따라 구비된 하단 접촉부들의 수평도를 보다 간편하고 신속 정확하게 측정하고자 하는데 특징이 있는 것이다.
회로기판의 IC소자용 실드라고 하면, 이동통신용 단말기 등의 제품에서 회로기판상에 식립된 IC소자들의 윗부분을 덮어서 서로 인접한 IC소자와 IC소자 사이에 발생되는 자기장 간섭을 상호 차단하기 위해 사용하는 것이며, 이를 사용하므로 써 노이즈를 예방하고 통화 성능을 향상시킬 수 있다.
실드(S)의 구성은 도 1에서 보는 바와 같이 리드(L)와 그 내부에 조립된 프레임(F)으로 이루어지며, 이를 회로기판(PCB) 상에 조립할 때는 도 2에서 보는 바와 같이 회로기판상에 미리 묻혀진 납땜(Pb)의 위로 얹고 솔더링 하므로 써 접착되는 바, 이때 가장 중요한 점은 상기 프레임(F)들이 가지는 저면의 접촉부(S1)가 모두 완벽하게 솔더링 접합되어야 한다는 것이며, 그 허용 공차가 대략 0.1mm 이상으로 커질 때는 불량으로 처리된다.
따라서 상기와 같이 모든 접촉부(S1)가 회로기판상에 완벽하게 솔더링 되기 위해서는 리드(L) 및 프레임(F)이 뒤틀리거나 들뜨지 않아야 하며, 이는 실드(S)를 생산하는 과정에서 단품 측정하여 모든 불량 실드를 가려 내야 한다.
이와 같이 실드의 양불을 검사하기 위한 종래의 검사 방법으로는 육안 검사와, 빛을 이용한 방법이 있다.
먼저, 육안 검사는 정반이나 유리판 위에 실드의 접촉부가 아래로 가도록 올려 놓고, 들뜬 부분이 있는지 육안으로 검사한 후, 들뜬 부분에 대해서는 틈새 게이지를 넣어 측정하는 것이다.
또 다른 방법으로는 상기 실드(S)를 임의의 높이로 고정된 2장의 유리판 사이로 통과시키도록 하므로 써, 통과되는 양품과 통과되지 않는 불량품을 선별하기도 하였다.
그러나 이와 같은 재래식 검사 방법들은 많은 인력과 시간이 투자되어야 할 뿐만 아니라 오차가 많고 획일적인 방법이 아니기 때문에 매우 불합리하다.
따라서 근래에는 생산성을 높이고 측정오차를 줄이기 위하여 빛을 이용하는 방법을 실시하기 시작했다.
즉, 실드(S)를 올려 놓기 위한 측정판의 중앙에 구멍을 마련한 후, 그 내부에 광원을 두어서 밖으로 새어 나오는 빛을 측정하되, 모든 접촉부(S1)가 측정판의 바닥에 닿아서 빛이 새지 않는 경우 양품으로 하고, 접촉부(S1) 임에도 불구하고 빛이 새는 경우 불량으로 처리하는 것이 었다.
그러나 이경우에는 사방에서 카메라 또는 시각을 이용하여 측정해야 하는 바, 측정이 번거롭고 선별된 양품, 불량품을 자동으로 선별하기 어려우며, 특히 실드의 내부 중앙에 접촉부가 있는 경우, 그 중앙의 접촉부는 측정할 수 없기 때문에 미비점이 있다.
따라서 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 감안하여 이를 해결 보완하고자 안출한 것으로, 발명의 주된 목적은 연속공급되는 실드의 모든 접촉부를 그 실드의 외측에 설치한 광원과 카메라로 검사하므로 써, 가능한 정확한 검사결과를 얻어내고, 또 측정된 결과의 오차값을 화소수로 써 수치화 할 수 있도록 하는데 있으며, 또 한편으로는 전, 후면 접촉부를 측정하기 위한 가로이송구간부와 좌, 우측면의 접촉부를 측정하기 위한 세로이송구간부와, 내부의 접촉부를 측정하기 위한 저면 측정구간부로 구성하므로 써, 실드를 최소거리로 이동시키면서 모든 부분을 동시에 다 측정할 수 있도록 하는데 있으며, 또 다른 한편으로는 각각의 광원과 카메라의 위치 조절이 용이하도록 하므로 써, 실드의 크기나 모양이 바뀌더라도 모두 검사할 수 있도록 호환성을 높이고자 하는데 있다.
상기 목적한 바를 달성하기 위한 본 발명의 특징적인 수단은 실드 조립장치로부터 완성된 실드를 정상자세로 공급받기 위한 실드도입 컨베이어; 상기 실드도입 컨베이어로부터 도입되는 실드의 전, 후면을 측정하기 위하여 가로이송대와, 그 가로이송대를 따라 이송시키는 가로이송수단과, 상기 가로이송수단의 전, 후방향에 설치한 적어도 하나 이상의 카메라 측정수단1과, 불량 실드를 배출하기 위한 배출수단1을 포함하는 가로이송부; 상기 가로이송부로부터 전, 후면의 측정을 마친 실드를 다음의 측정단계로 이송시키되, 직교하는 방향으로 이동할 수 있도록 방향전환시키는 이송전환부; 상기 이송전환부로부터 도입되는 실드의 좌, 우측면을 측정하기 위하여 세로이송대와, 그 세로이송대를 따라 이송시키는 세로이송수단과, 상기 세로이송수단의 좌, 우측면에 설치한 적어도 하나 이상의 카메라 측정수단2과, 불량 실드를 배출하기 위한 배출수단2을 포함하는 세로이송부; 상기한 가로이송부 또는 세로이송부 중 어느 한곳에 구비한 저면측정기구;를 차례로 거치도록 구성하므로써 측정 대상인 실드의 이동구간과 측정시간을 가능한 짧게 하고, 측정 수단인 카메라의 설치를 최소로 하여 비용을 줄이면서 생산성을 늘릴 수 있도록 한 것이다.
이하 본 발명의 측정장치와 그 측정장치의 구성에 따른 측정방법을 첨부 도면에 따라 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명의 측정장치를 보인 전체 평면 배치도이다.
도 3에서 보는 바와 같이 본 발명은 실드 조립장치(A)로부터 완성된 실드를 공급받기 위한 실드도입 컨베이어(100)로 부터 이어지는 가로이송부(200)와, 상기 가로이송부(200)로부터 방향을 전환시키는 이송전환부(300)와, 여기서 이어지는 세로이송부(400)로 구성된다.
먼저 본 발명의 구성을 설명한다.
가로이송부(200)는 상기 실드 도입 컨베이어로부터 도입되는 실드의 전면에 형성된 접촉부와 후면에 형성된 접촉부를 동시에 측정하기 위하여 가로이송대(211)와, 그 가로이송대를 따라 이송시키는 가로이송수단(210)과, 상기 가로이송수단의 전, 후방향에 설치한 적어도 하나 이상의 카메라 측정수단(600)과, 불량 실드를 배출하기 위한 배출수단(700)을 포함한다.
그리고 이송전환부(300)는 상기 가로이송부에서 전, 후면에 형성된 접촉부의 측정을 마친 실드를 다음의 측정단계로 이송시키되, 가로이송을 정지시키는 가로스톱퍼(310)와, 상기 가로스톱퍼에 의해 정지된 실드를 액튜에이터에 의해 작동하는 밀대(320)로써 직교하는 방향 즉, 세로방향으로 이동할 수 있도록 방향전환시키는 것이다.
세로이송부(400)는 상기 이송전환부로부터 도입되는 실드의 좌, 우측면에 형성된 접촉부를 측정하기 위하여 세로이송대(411)와, 그 세로이송대를 따라 이송시키는 세로이송수단(410)과, 상기 세로이송수단의 좌, 우측면에 설치한 적어도 하나 이상의 카메라 측정수단(600)과, 불량 실드를 배출하기 위한 배출수단(700)을 포함하는 것이다.
이때, 상기한 가로이송수단(210) 및 세로이송수단(410)은 도 5와 도 6에서 보는 바와 같이 상호 대동소이한 구성으로써, 각각의 가로이송대(211)와 세로이송대(411)의 상부에서 길이 방향을 따라 양쪽에 구비된 둘 이상의 체인 스프로켓(811)과, 상기 체인 스프로켓(811)을 구동시키기 위해 타이밍풀리(812)를 포함하는 액튜에이터(814)와, 상기 체인 스프로켓에 일정 간격으로 고정된 채, 상기 가로이송대(211)의 상면에 근접하면서 이동하도록 구비된 다수의 어태치먼트부재(813)로 이루어진 것이다.
또한, 상기한 저면측정기구(500)는 도 9에서 보는 바와 같이 가로이송대(211) 또는 세로이송대(411)에 투과부(510)를 마련한 후, 그 저면에 마련한 블럭체(520)로부터 경사진 각도로 레이저 빛을 발산하는 발광부(530)와, 임의의 측정 대상면에서 반사되는 반사광을 수신하는 수광부(540)로 이루어진 것이며, 여기서 상기한 블럭체(520)는 가이드부재(550)를 따라 위치를 가변시킬 수 있도록 하되, 가로이송대(211) 또는 세로이송대(411)에 직교하는 방향으로 설치하여 이동할 수 있도록 하고, 아울러 그 이동을 정밀조작할 수 있도록 하기 위하여 마이크로미터(M)를 채택한 것이다.
다음의 카메라 측정수단(600)은 본 발명에서 중요한 구성이다.
상기 가로이송부 및 세로이송부에 각각 레이저 발광기구(610) 및 카메라기구(620)로 이루어진 카메라 측정수단(600)을 구비하되, 측정하고자하는 실드의 측정면의 수량만큼 복수개를 설치한다.
먼저, 도 7 또는 도 8에서 보인 카메라 측정수단(600)의 발광기구(610)와 카메라기구(620)를 설명한다.
발광기구(610)는 가로이송대(211) 또는 세로이송대(411)의 측면에 고정하는 설치부재(611)와, 그 설치부재의 내부에서 레이저 빛을 발하는 광체(612)와, 상기 광체(612)로부터 나오는 빛을 상기 가로이송대(211) 또는 세로이송대(411)의 상면으로 굴절시키기 위한 반사수단(613)을 포함하여 이루어 진다.
또한, 카메라기구(620)는 상기 가로 및 세로이송대(211)(411)의 측편에 마련하되, 베이스 블럭(621)과, 상기 베이스 블럭의 위에 마련한 복수의 지지부재(622)와, 상기 지지부재들의 사이에 연결한 이송안내간(623)과, 상기 이송안내간(623)을 따라 슬라이딩할 수 있는 습동체(624)와, 상기 습동체(624)를 정밀 조절하기 위하여 채택한 마이크로미터(M)와, 상기 습동체(624)의 상면에 고정하되, 초점이 상기 광체(612)로부터 발사되는 빛의 방향과 같은 방향으로 향하면서 임의의 각도(θ)로 하향 경사지게 고정한 카메라(625)로 이루어 진다.
따라서 상기한 카메라(625)는 도 7 또는 도 8에서 보듯이 습동체(624) 위에서 가로이송대 또는 세로이송대 위의 실드를 향하여 하향 경사진 채 설치되어 있기 때문에 상기 습동체(624)를 마이크로미터(M)로써 전진/후진 시키면 그 초점의 위치가 습동체(624)의 이동에 따라 정밀하게 전, 후 조절될 수 있다.
한편, 상기한 가로이송부(200) 및 세로이송부(400)에 설치한 배출수단(700)들은 상기한 가로이송대(211) 또는 세로이송대(411)의 중간 중간에 마련하되, 상기의 이송대들과 같은 높이를 유지하고 있다가 힌지점(710)을 가지고 하향회동할 수 있는 회동판(720)과, 상기 회동판(720)의 일측단을 밀어 경사지게 유도할 수 있는 액튜에이터(730)로 이루어 진다.
따라서 가로이송대(211) 및 세로이송대(411) 위에 올려진 채 가로이송수단(210) 또는 세로이송수단(410)에 의해 이송되다가 상기한 액튜에이터(730)의 작동으로 회동판(720)이 하향 회동하면 그 위치에 있던 실드가 아래로 배출되는 것이다.
다음은 상기와 같이 구성된 본 발명의 검사장치를 이용한 검사방법을 설명한다.
본 발명의 검사 과정은 가로이송대를 통해 실드를 가로로 이송하는 가로이송과정, 그리고 상기 가로이송과정 중에 가로이송대의 전방 및 후방에 마련된 카메라 측정수단으로써 전방측 및 후방측의 접촉부를 동시에 측정하는 전, 후방 접촉부 측정과정, 상기 전, 후방 접촉부 측정과정에서 정상 판단된 실드는 통과시키고, 불량판단된 실드를 배출수단으로 배출시키는 1차 선별과정을 거친다.
여기까지가 실드의 전, 후에 구비된 접촉부를 측정하는 과정이다.
이어서, 상기의 1차 선별과정을 통해 정상으로 판단된 실드를 이송전환부의 이송전환 수단으로써 세로로 이송하는 세로이송과정과, 상기 세로이송과정 중에 세로이송대의 좌측 및 우측에 마련된 카메라 측정수단으로써 좌측 및 우측의 접촉부를 동시에 측정하는 좌, 우측 접촉부 측정과정, 그리고 상기 좌, 우측 접촉부 측정과정에서 정상 판단된 실드는 통과시키고, 불량판단된 실드를 배출수단으로 배출시키는 2차 선별과정을 거쳐 측정하면 실드의 좌, 우측에 구비된 접촉부까지 측정완료하는 것이다.
이때, 실드의 내부에도 접촉부가 있을 경우, 상기한 가로이송과정이나 세로이송과정 중에서 어느 한 과정중에 또는 가로이송과정이나 세로이송과정 모두 실드의 내부에 구비된 접촉부를 측정하는 저면측정과정을 추가할 수 있다.
상기 과정을 도면을 참조하여 더 자세히 설명한다.
본 발명은 도 3에서 보는 바와 같이 가상선으로표시된 실드 조립장치(A)로부터 하나씩 공급되는 실드를 컨베이어(100)를 통해 공급받는다.
컨베이어에서는 가로이송부(200)의 가로이송대(211) 위로 하나씩 줄지어 공급되며, 가로이송수단(210)의 체인(810)에 연결된 어태치먼트부재(813)들이 이를 일정 등간격으로 밀어 진행시킨다.
이와 같이 가로이송부(200)를 통과하는 과정 중에 도 11에서 보는 바와 같이 가로이송대(211)의 전, 후에 설치된 카메라 측정수단(600)에 의해 실드의 전, 후에 마련된 접촉부 검사하게 되며(도 7참조), 이어서 저면측정기구(500)에서 블럭체(520)에 구비된 발광부(530)와 수광부(540)의 작동으로 내부의 가로형 접촉부를 검사한다.(도 9 참조)
이와 같이 가로이송부(200)에서 전, 후에 마련된 접촉부와 내부에 마련된 가로형 접촉부를 검사하였을 때 그 중 어느 하나라도 허용공차를 넘어서 불량으로 판단되면 배출수단(700)을 개방하여 더 이상 진행시키지 않고 배출시킨다.(도 10 참조)
다음은 이송전환부(300)의 밀대(320)에 의한 작동(도 4, 도 11 참조)으로 실드가 전혀 회전하지 않은 채 세로이송부(400)의 세로이송대(411)로 보내진다.
이 세로이송대(411)에서는 가로이송수단(210)에서와 마찬가지로 체인(810)에 연결된 어태치먼트부재(813)들이 이를 일정 등간격으로 밀어 진행시키며, 그 과정에서 세로이송대(411)의 좌, 우측면에 설치된 카메라 측정수단(600)에 의해 실드의 좌, 우측면에 마련된 접촉부들을 동시에 검사하게 되며(도 8 참조), 또 저면측정기구(500)에서 블럭체(520)에 구비된 발광부(530)와 수광부(540)의 작동으로 내부의 세로형 접촉부를 검사한다.(도 9, 도 11 참조)
이 때도 측정 대상인 실드의 접촉부 중에서 어느 하나라도 허용공차를 넘어서 불량으로 판단되면 배출수단(700)을 개방하여 더 이상 진행시키지 않고 배출시킨다.(도 10 참조)
이후, 모든 검사에서 정상으로 판단되면 다음의 포장장치로 보내진다.
이때, 실드의 접촉부들은 바닥으로부터 얼마나 이격되어 있는 가에 따라 양, 불이 판정이 되는 바, 공차범위 내에 있는지를 판단할 때는 카메라로 촬영되는 화면의 화소수(畵素數)를 가지고 판단한다.
즉, 가로이송대 또는 세로이송대의 바닥으로 부터 이격된 상태가 도 12에서 보는 바와 같이 카메라로 촬영되면, 전체 화소수를 100%에 대하여 그 이격 거리 안에 들어 가는 화소수(a)가 몇%가 되는 가를 파악하였을 때, 그 값이 미리 설정된 값보다 많으면 허용공차를 벗어난 것이고, 적으면 허용공차 내에 있는 것이다.
위에서 상세히 설명한 바와 같은 본 발명의 장치 및 검사방법에 따르면, 연속공급되는 실드의 전, 후 그리고 좌, 우 및 내부의 모든 접촉부들을 그 실드의 전, 후방, 좌, 우측면 및 저면에 설치한 카메라 측정수단과 레이저 광원으로 측정하므로 써 오차를 검사할 수 있게 된 것이다.
따라서 실드의 이동거리를 최소화 시키면서 사방 측면 및 내부에 형성된 접촉부들을 동시 다발적으로 검사할 수 있게 되었기 때문에 검사장치에 대한 설비가 줄어들면서 생산성이 크게 향상된 것이다.
또 다른 한편으로는 각각의 카메라 측정수단과 저면측정기구를 구성하는데 있어서 빛의 위치조절과 카메라의 초점거리를 마이크로미터로써 정밀하게 조절할 수 있고, 복수로 설치하였기 때문에 실드의 형상과 치수가 달라진다 하더라도 즉시 대처할 수 있다. 따라서 모든 실드의 치수와 종류에 관계없이 적용할 수 있어 호환성이 큰것이다.
특히, 측정된 결과의 오차값을 화소수를 이용하여 수치화 하고, 그 화소수에 따른 측정값에 따라 양불을 판정하기 때문에 매우 정확한 장점이 있다.
도 1은 실드의 예시도
도 2는 실드의 사용상태도
도 3은 본 발명의 검사장치가 설치된 전체 배치도
도 4는 본 발명의 검사장치를 보인 평면도
도 5는 본 발명의 검사장치를 보인 정면도
도 6은 본 발명의 검사장치를 보인 우측면도
도 7은 본 발명의 가로이송부 중에 설치된 카메라 측정수단을 보인 측면도
도 8은 본 발명의 세로이송부 중에 설치된 카메라 측정수단을 보인 측면도
도 9는 본 발명의 저면측정기구의 구성을 보인 측면도
도 10은 본 발명의 배출수단을 보인 측면도
도 11은 본 발명의 검사과정을 설명하기 위한 진행도(평면)
도 12는 본 발명의 카메라 측정수단에 의한 측정상태의 예시도
<도면의 주요 부분에 대한 부호설명>
100 : 컨베이어 200 : 가로이송부
210 : 가로이송수단 211 : 가로이송대
300 : 이송전환부 310 : 가로스톱퍼
320 : 밀대 400 : 세로이송부
410 : 세로이송수단 411 : 세로이송대
500 : 저면측정부 510 ; 투과부
520 : 블럭체 530 : 발광부
540 : 수광부 600 : 카메라 측정수단
610 : 발광기구 611 : 설치부재
612 : 광체 613 : 반사수단
620 : 카메라기구 621 : 베이스블럭
622 : 지지부재 623 : 이송안내간
624 : 습동체 625 : 카메라
700 : 배출수단 710 : 힌지점
720 : 회동판 730 : 액튜에이터
M : 마이크로미터

Claims (11)

  1. 실드 조립장치로부터 완성된 실드를 정상자세로 공급받기 위한 실드도입 컨베이어(100);
    상기 실드도입 컨베이어(100)로부터 도입되는 실드의 전 ·후면을 측정하기 위하여, 가로이송대(211)와, 이 가로이송대(211)를 따라 상기 실드를 이송시키는 가로이송수단(210)과, 이 가로이송수단(210)의 전 ·후방향에 설치되는 하나 이상의 카메라 측정수단(600)과, 불량 실드를 배출하기 위하여 상기 가로이송대(211)의 중간 중간에 마련되어 상기 가로이송대(211)와 같은 높이를 유지하고 있다가 힌지점(710)을 가지고 하향회동하는 회동판(720)과 이 회동판(720)의 일측단을 밀어 경사지게 유도하는 액튜에이터(730)로 이루어진 배출수단(700)을 포함하는 가로이송부(200);
    상기 가로이송부(200)로부터 전 ·후면의 측정을 마친 실드를 다음의 측정단계로 이송시키되, 가로이송을 정지시키는 가로스톱퍼(310)와, 이 가로스톱퍼(310)에 의해 정지된 실드를 액튜에이터에 의해 작동하는 밀대(320)로써 직교하는 방향으로 이동할 수 있도록 방향전환시키는 이송전환부(300);
    상기 이송전환부(300)로부터 도입되는 실드의 좌 ·우측면을 측정하기 위하여, 세로이송대(411)와, 이 세로이송대(411)를 따라 상기 실드를 이송시키는 세로이송수단(410)과, 이 세로이송수단(410)의 좌 ·우측면에 설치되는 하나 이상의 카메라 측정수단(600)과, 불량 실드를 배출하기 위하여 상기 세로이송대(411)의 중간 중간에 마련되어 상기 세로이송대(411)와 같은 높이를 유지하고 있다가 힌지점(710)을 가지고 하향회동하는 회동판(720)과 이 회동판(720)의 일측단을 밀어 경사지게 유도하는 액튜에이터(730)로 이루어진 배출수단(700)을 포함하는 세로이송부(400);
    상기 가로이송부(200) 및 세로이송부(400) 중 어느 한 곳 이상에 구비되되, 상기 가로이송대(211)와 세로이송대(411) 중 어느 한 곳 이상에 마련되는 투과부(510)와, 상기 가로이송대(211)와 세로이송대(411) 중 어느 한 곳 이상의 저면에 마련되는 블럭체(520)와, 이 블럭체(520)로부터 경사진 각도로 레이저 빛을 발산하는 발광부(530)와, 임의의 측정 대상면에서 반사되는 반사광을 수신하는 수광부(540)를 구비한 저면측정기구(500)로 이루어진 회로기판의 아이씨소자용 실드 검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 가로이송수단(210) 및 세로이송수단(410)은, 각각의 가로이송대(211)와 세로이송대(411)의 상부에서 길이 방향을 따라 양쪽에 구비된 둘 이상의 체인 스프로켓(811)과, 이 체인 스프로켓(811)을 구동시키기 위해 타이밍풀리(812)를 포함하는 액튜에이터(814)와, 상기 체인 스프로켓(811)에 일정 간격으로 고정된 채 상기 가로이송대(211)의 상면에 근접하면서 이동하도록 구비된 다수의 어태치먼트부재(813)로 구성된 것을 특징으로 하는 회로기판의 아이씨소자용 실드 검사장치.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 블럭체(520)는, 가이드부재(550)를 따라 위치를 가변시킬 수 있도록 되되, 상기 가로이송대(211) 및 세로이송대(411)에 직교하는 방향으로 설치되어 이동할 수 있게 되며, 그 이동을 마이크로미터(M)로써 정밀 조절하도록 된 것을 특징으로 하는 회로기판의 아이씨소자용 실드 검사장치.
  5. 실드의 전 ·후방에 형성된 접촉부와 좌 ·우측면에 형성된 접촉부의 가공상태를 측정하기 위하여 상기 실드가 가로이송부(200) 및 세로이송부(400)를 차례로 통과하게 되되, 상기 가로이송부(200) 및 세로이송부(400)에 각각 구비되는 레이저 발광기구(610)와 카메라기구(620)로 이루어진 카메라 측정수단(600)들이 복수로 설치되어 여러 접촉부를 동시에 측정하는 회로기판의 아이씨소자용 실드 검사장치에 있어서,
    상기 레이저 발광기구(610)는, 상기 가로이송대(211) 및 세로이송대(411)의 측면에 고정되는 설치부재(611)와, 상기 설치부재(611)의 내부에서 레이저 빛을 발하는 광체(612)와, 상기 광체(612)로부터 나오는 빛을 상기 가로이송대(211) 및 세로이송대(411)의 상면으로 굴절시키는 반사수단(613)으로 이루어지고,
    상기 카메라기구(620)는, 상기 가로이송대(211) 및 세로이송대(411)의 측편에 마련되며, 베이스 블럭(621)과, 이 베이스 블럭(621)의 위에 마련되는 복수의 지지부재(622)와, 이 지지부재(622)들의 사이에 연결되는 이송안내간(623)과, 이 이송안내간(623)을 따라 슬라이딩할 수 있는 습동체(624)와, 상기 습동체(624)를 정밀 조절하는 마이크로미터(M)와, 상기 습동체(624)의 상면에 고정되어 초점이 상기 광체(612)로부터 발사되는 빛의 방향과 같은 방향으로 향하면서 임의의 각도(θ)로 하향 경사지게 고정되는 카메라(625)로 이루어진 것을 특징으로 하는 회로기판의 아이씨소자용 실드 검사장치.
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 가로이송대를 통해 실드를 가로로 이송하는 가로이송과정;
    상기 가로이송과정 중에 가로이송대의 전방 및 후방에 마련된 카메라 측정수단으로써 전방측 및 후방측의 접촉부를 동시에 측정하는 전 ·후방 접촉부 측정과정;
    상기 전 ·후방 접촉부 측정과정에서 정상 판단된 실드는 통과시키고, 불량판단된 실드를 배출수단으로 배출시키는 1차 선별과정;
    상기 1차 선별과정을 통해 정상으로 판단된 실드를 이송전환부의 이송전환수단으로써 세로로 이송하는 세로이송과정;
    상기 세로이송과정 중에 세로이송대의 좌측 및 우측에 마련된 카메라 측정수단으로써 좌측 및 우측의 접촉부를 동시에 측정하는 좌 ·우측 접촉부 측정과정;
    상기 좌 ·우측 접촉부 측정과정에서 정상 판단된 실드는 통과시키고, 불량판단된 실드를 배출수단으로 배출시키는 2차 선별과정;
    상기 가로이송과정과 세로이송과정 중 어느 한 과정에서 실드의 내부에 마련된 접촉부를 측정하는 저면측정과정을 포함하는 회로기판의 아이씨소자용 실드 검사방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 전 ·후방 접촉부 측정과정 및 좌 ·우측면 접촉부 측정과정에서 이용되는 레이저 측정기구는 레이저 발광기구 및 카메라기구를 사용하되, 카메라에 촬영된 화면의 화소수를 계산하여 불량치수의 오차값을 파악하는 것을 특징으로 하는 회로기판의 아이씨소자용 실드 검사방법.
  11. 삭제
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101420101B1 (ko) 2013-04-19 2014-07-17 대동전자(주) 아이씨용 쉴드 캡 조립 장치
KR101463595B1 (ko) 2013-04-22 2014-11-20 정태열 아이씨소자용 실드 제조장치 및 이의 제조방법
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