KR100486687B1 - 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치 - Google Patents

집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100486687B1
KR100486687B1 KR10-2002-0037768A KR20020037768A KR100486687B1 KR 100486687 B1 KR100486687 B1 KR 100486687B1 KR 20020037768 A KR20020037768 A KR 20020037768A KR 100486687 B1 KR100486687 B1 KR 100486687B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
touch panel
upper plate
signal
lower plate
signal wires
Prior art date
Application number
KR10-2002-0037768A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20040002315A (ko
Inventor
홍희정
유환성
방용익
유태호
Original Assignee
엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지.필립스 엘시디 주식회사 filed Critical 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority to KR10-2002-0037768A priority Critical patent/KR100486687B1/ko
Publication of KR20040002315A publication Critical patent/KR20040002315A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100486687B1 publication Critical patent/KR100486687B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2815—Functional tests, e.g. boundary scans, using the normal I/O contacts
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/13338—Input devices, e.g. touch panels
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70—Coupling devices
    • H01R12/77—Coupling devices for flexible printed circuits, flat or ribbon cables or like structures
    • H01R12/778—Coupling parts carrying sockets, clips or analogous counter-contacts
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S439/00—Electrical connectors
    • Y10S439/912—Electrical connectors with testing means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

본 발명은 커넥터를 집게형으로 변경하여 터치패널 불량검사시 터치패널의 테일부와 손쉽게 접속시킬 수 있도록 한 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 커넥터는 다수의 제 1 신호배선들이 형성된 상부 플레이트와, 상기 상부 플레이트와 대향되는 면에 다수의 제 2 신호배선들이 형성된 하부 플레이트와, 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트를 연결하는 힌지와, 상기 상부 플레이트와 상기 하부 플레이트 사이에 설치되고 상기 제1 및 제2 신호배선들을 연결시키는 배선연결부재와, 상기 힌지에 삽입됨과 아울러 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 배치되는 스프링부재를 구비한다. 상기 배선연결부재는 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선의 배선번호가 일치하도록 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선을 교차하는 형태로 접속시킨다.
이러한 구성에 의하여 본 발명은 상부 플레이트의 배면과 하부 플레이트의 전면에 신호배선들을 형성하고 상부 및 하부 플레이트 사이에 코일 스프링을 배치하여 집게 형태의 커넥터를 구성하게 된다. 이에 따라, 작업자는 한 손으로도 커넥터를 터치패널의 테일부에 연결 또는 탈거를 쉽게 할 수 있다. 따라서, 터치패널 테스트시 작업시간이 단축된다.

Description

집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치{CLIP TYPE CONNECTOR AND USING THE APPARATUS FOR TESTNG OF TOUCH PANEL}
본 발명은 터치패널의 테스트장치에 관한 것으로, 특히 커넥터를 집게형으로 변경하여 터치패널 불량검사시 터치패널의 테일부와 손쉽게 접속시킬 수 있도록 한 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치에 관한 것이다.
디스플레이 일체형 입력장치인 터치패널은 은행의 현금 지급기(ATM) 등이 대표적인데, 스타일러스 펜 또는 손가락이 눌려진 위치에 해당하는 전압 또는 전류 신호를 발생함으로써 사용자가 지정하는 명령 또는 그래픽 정보를 입력하게 된다.
이러한, 터치패널은 음극선관(Cathode Ray Tube), 액정표시장치(Liquid Crystal Display), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel) 및 전계발광소자(Electro Luminescence Device) 등과 같은 화상표시장치의 표시면에 설치되어 사용자가 화상표시장치를 보면서 터치패널을 가압하여 컴퓨터에 미리 정해진 정보를 입력하는 컴퓨터 주변장치이다.
여기서는 액정표시장치에서의 액정패널과 일체된 터치패널에 관하여 주로 설명하기로 한다.
일반적으로, 터치패널(10)이 장착되는 액정표시장치는 도 1에 도시된 바와 같이 터치패널(10), 액정패널(20), 백라이트 유닛(30)이 모두 독립적으로 존재하며, 이를 동작시키기 위해서 터치패널(10)이 신호선(8)(FPC)에 의해 터치패널 컨트롤러(2)에 연결되고, 터치패널 컨트롤러(2)는 다시 컴퓨터 본체(4)에 전기적으로 연결된다. 또한 상기 신호선(8)은 터치패널 컨트롤러(2)에 연결되어질 때 커넥터에 삽입되어 접속된 후 연결된다.
이의 동작을 설명하면, 터치패널(10)의 상부에 일정 이상의 압력으로 터치를 하게 되면, 그 위치에서의 전압치가 터치패널 컨트롤러(2)에서 계산되어 좌표를 인식하게 된다.
도 2는 도 1에 도시된 저항막 방식의 터치패널이 탑재되어진 액정패널을 도시한 것이다.
도 2를 참조하면, 액정패널(20)에 탑재되어진 터치패널(10)은 상부기판(12)과 하부기판(14)으로 이루어지고, 하부기판(14)의 배면에는 부착되는 편광판(32)을 구비한다.
우선, 터치패널(10)이 탑재되는 액정패널(20)은 하판(24)과 상판(22) 사이에 주입되어진 액정물질(34) 및 스페이서(39)를 가지게 된다.
하판(24)의 하부기판(25) 상에는 게이트라인(26), 절연막(27), 화소전극(28) 및 제 1 배향막(31)이 순차적으로 형성되어 있다. 상판(22)의 상부기판(29) 배면에는 블랙 매트릭스(38), 컬러필터(37), 공통전극(36) 및 제 2 배향막(35)이 순차적으로 형성되어 있다.
스페이서(39)는 상판(22)과 하판(24)이 합착되기 전에 제 1 배향막(31) 상에 산포된다. 이러한 상판(22)과 하판(24)은 스페이서(39)에 의해 일정한 간격으로 유지하게끔 이격되게 된다. 다시 말하여, 스페이서(39)는 상판(22)과 하판(24) 간의 간격이 균일하게 유지시킴으로써 상부기판(29)과 하부기판(25) 사이에 주입된 액정물질(34)의 두께를 균일하게 한다.
터치패널(10)은 폴리에틸렌 텔레프탈레이트(이하 "PET"라 함) 필름으로 된 하부기판(14) 및 상부기판(12) 사이에 살포되어진 스페이서(17)를 가지게 된다.
하부기판(14)의 표면에는 제 1 전극층(16)이 형성되고, 상부기판(12)의 밑면에는 제 2 전극층(18)이 형성되어 있다. 제 2 전극층(18)은 상부기판(12)이 스타일러스 펜 또는 손가락에 의해 눌려질 때 제 1 전극층(16)과 단락됨으로서 눌려진 위치에 따라 달라지는 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호가 발생되게 한다. 이 때, 제 1 및 제 2 전극층(16, 18)은 투명전도성 물질인 인듐-주석-옥사이드(Indium-Tin-Oxide), 인듐-아연-옥사이드(Indium-Zinc-Oxide) 및 인듐-주석-아연-옥사이드(Indium-Tin-Zinc-Oxide) 중 하나 상에 은(Ag)을 인쇄함으로써 형성된다.
편광판(32)은 터치패널(10)의 하판(14)에 형성되어 액정패널(20)을 중심으로 양면에서 가시광선을 직선편광으로 바꿔주는 역할을 한다. 이러한, 터치패널(10)은 편광판(32)과 액정패널(20)의 상판(22) 사이에 형성되는 접착제(33)에 의해 액정패널(20)에 탑재된다.
이와 같은, 종래의 터치패널(10)은 제 2 전극층(18)이 스타일러스 펜 또는 손가락에 의해 눌려져 제 1 전극층(16)과 단락됨으로서 눌려진 위치에 따라 달라지는 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 터치컨트롤러(2)로 공급하게 된다.
이를 위해, 종래 터치패널(10)은 도 3에 도시된 바와 같이 상부기판(12) 상에 형성된 X축 전극들(42, 43)과, X축 전극(42, 43)의 중앙으로부터 도출되어 터치컨트롤러(2)에 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 공급하는 X축 신호선들(52, 53)과, 하부기판(도시되지 않음) 상에 형성된 Y축 전극들(44, 45) 및 Y축 전극(44, 45)의 중앙으로부터 도출되어 터치컨트롤러(2)에 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 공급하는 Y축 신호선(54, 55)을 구비한다.
이러한, X축 및 Y축 신호선들(52, 53, 54, 55)은 상부기판(12) 및 하부기판(14)이 가장지리를 따라 형성되어 상부기판(12) 및 하부기판(14) 상의 일측부에 형성된 테일부(49)와 접속된다.
테일부(49)는 "L"자 형태로 절곡되어 X축 및 Y축 신호선들(52, 53, 54, 55) 각각에 접속되는 신호패드들(56, 57, 58, 59)이 형성되어 있다. 이러한, 테일부(49)의 신호패드들(56, 57, 58, 59)은 도시하지 않은 필름에 형성된 신호라인들을 통해 터치컨트롤러(2)에 접속된다.
이와 같은 터치패널(10)의 불량여부를 검사하기 위하여 종래의 테일부(49)는 도 4에 도시된 바와 같이 커넥터(48)를 통해 도시하지 않은 테스트 장치로부터 테스트신호를 주고 받게 된다. 이러한, 커넥터(48)는 테일부(49)에 형성된 신호패드들(56, 57, 58, 59)과 접속되어 X축 및 Y축 신호선들(52, 53, 54, 55)로부터 공급되는 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 테스트 장치로 공급하게 된다.
이러한, 터치패널(10)의 검사공정에서는 작업자가 커넥터(48)를 한손으로 잡고 다른 한손으로는 터치패널(10)의 테일부(49)를 잡아서 테일부(49)에 커넥터(48)를 삽입시키게 된다. 이 때, 작업자는 테일부(49)와 커넥터(48) 간의 연결부위가 한쪽 방향으로 미리 정해져 있기 때문에 정해진 방향으로만 커넥터(48)를 테일부(49)에 접속시키게 된다. 이로 인해 터치패널(10)의 검사공정에서 시간적 손실이 많게 된다.
따라서, 본 발명의 목적은 커넥터를 집게형으로 변경하여 터치패널 불량검사시 터치패널의 테일부와 손쉽게 접속시킬 수 있도록 한 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치를 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시 예에 따른 터치패널 테스트용 집게형 커넥터는 다수의 제 1 신호배선들이 형성된 상부 플레이트와, 상기 상부 플레이트와 대향되는 면에 다수의 제 2 신호배선들이 형성된 하부 플레이트와, 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트를 연결하는 힌지와, 상기 상부 플레이트와 상기 하부 플레이트 사이에 설치되고 상기 제1 및 제2 신호배선들을 연결시키는 배선연결부재와, 상기 힌지에 삽입됨과 아울러 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 배치되는 스프링부재를 구비한다.상기 배선연결부재는 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선의 배선번호가 일치하도록 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선을 교차하는 형태로 접속시킨다.
삭제
상기 커넥터는 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 각각은 소정거리로 이격되어 파지 위치를 한정하는 가이드부재를 추가로 구비한다.
상기 커넥터에서 상기 가이드부재는 소정 간격 이격되어 나란하게 형성되어 파지 폭을 한정하는 제 1 돌출부와, 상기 제 1 돌출부와 직교하는 방향으로 형성되어 파지 깊이를 한정하는 제 2 돌출부를 구비한다.
본 발명의 실시 예에 따른 터치패널 테스트장치는 터치패널과, 상기 터치패널의 일측부에서 다수의 신호선들이 연장되는 테일부와, 다수의 제 1 신호배선들이 형성된 상부 플레이트, 상기 상부 플레이트와 대향되는 면에 다수의 제 2 신호배선들이 형성된 하부 플레이트, 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트를 연결하는 힌지, 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 설치되고 상기 제 1 및 제 2 신호배선들을 연결시키는 배선연결부재, 및 상기 힌지에 삽입됨과 아울러 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 배치되는 스프링부재를 포함하는 커넥터를 구비한다. 상기 커넥터의 신호배선들은 상기 테일부의 신호선들과 접촉되고, 상기 배선연결부재는 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선의 배선번호가 일치하도록 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선을 교차하는 형태로 접속시킨다.
삭제
상기 테스트장치는 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 각각은 소정거리로 이격되어 파지 위치를 한정하는 가이드부재를 추가로 구비한다.
상기 테스트장치에서 상기 가이드부재는 소정 간격 이격되어 나란하게 형성되어 파지 폭을 한정하는 제 1 돌출부와, 상기 제 1 돌출부와 직교하는 방향으로 형성되어 파지 깊이를 한정하는 제 2 돌출부를 구비한다.
상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부도면을 참조한 실시 예의 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
도 5 내지 도 8을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 터치패널이 장착되는 액정표시장치는 터치패널(110), 액정패널(120), 백라이트 유닛(130)이 모두 독립적으로 존재하며, 이를 동작시키기 위해서 터치패널(110)이 신호선(108)(FPC)에 의해 터치패널 컨트롤러(100)에 연결되고, 터치패널 컨트롤러(100)는 다시 컴퓨터 본체(124)에 전기적으로 연결된다. 또한 상기 신호선(108)은 터치패널 컨트롤러(100)에 연결되어질 때 커넥터에 삽입되어 접속된 후 연결된다.
이러한 터치패널(110)의 동작을 설명하면, 터치패널(110)의 상부에 일정 이상의 압력으로 터치를 하게 되면, 그 위치에서의 전압치가 터치패널 컨트롤러(100)에서 계산되어 좌표를 인식하게 된다.
이를 위해, 본 발명의 실시 예에 따른 터치패널은 도 6에 도시된 바와 같이 상부기판(122) 상에 형성된 X축 전극들(102, 103)과, X축 전극(102, 103)의 중앙으로부터 도출되어 터치패널 컨트롤러(도시되지 않음)에 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 공급하는 X축 신호선들(112, 113)과, 하부기판(도시되지 않음) 상에 형성된 Y축 전극들(104, 105) 및 Y축 전극(104, 105)의 중앙으로부터 도출되어 터치컨트롤러에 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 공급하는 Y축 신호선(114, 115)을 구비한다.
이러한, X축 및 Y축 신호선들(112, 113, 114, 115)은 상부기판(122) 및 하부기판이 가장지리를 따라 형성되어 상부기판(122) 및 하부기판 상의 일측부에 형성된 테일부(109)와 접속된다.
테일부(109)는 "L"자 형태로 절곡되어 X축 및 Y축 신호선들(112, 113, 114, 115) 각각에 접속되는 신호패드들(116, 117, 118, 119)이 형성되어 있다. 이러한, 테일부(109)의 신호패드들(116, 117, 118, 119)은 도시하지 않은 필름에 형성된 신호라인들을 통해 터치컨트롤러에 접속된다.
이와 같은 터치패널의 불량여부를 검사하기 위하여 본 발명의 실시 예에 따른 테일부(109)는 도 7에 도시된 바와 같은 집게형 커넥터(60)를 통해 도시하지 않은 테스트 장치로부터 테스트신호를 주고받게 된다.
도 7을 도 8과 결부하여 설명하면, 본 발명의 실시 예에 따른 터치패널 테스트용 집게형 커넥터(60)는 배면에 상부 신호배선들(92)이 형성된 상부 플레이트(62)와, 전면에 하부 신호배선들(90)이 형성된 하부 플레이트(64)와, 상부 및 하부 플레이트(62, 64) 사이에 배치된 코일 스프링(68)과, 하부 신호배선들(90)과 상부 신호배선들(92)을 상호 접속시키기 위한 배선연결부재(70)를 구비한다.
상부 플레이트(62)는 테일부(109)의 신호패드들(116, 117, 118, 119)과 접촉되는 제 1 수평면(61)과, 제 1 수평면(61)으로부터 소정 기울기를 가지는 경사면(63)과, 경사면(63)으로부터 소정 길이로 신장된 제 2 수평면(65)으로 구성된다. 한편, 상부 플레이트(62)는 경사면 없이 도시하지 않은 평판 형태일 수 있다. 제 1 수평면(61) 및 경사면(63)의 배면에는 테일부(109)의 신호패드들(116, 117, 118, 119)과 대응되는 위치에 상부 신호배선들(92)이 형성된다. 제 2 수평면(65)은 작업자의 손에 의해 가압되는 손잡이 역할을 한다. 이러한, 상부 플레이트(62)의 중앙부 양측면에는 소정 높이로 돌출된 플랜지 형태의 상부 힌지부(74b)가 형성된다.
또한, 상부 플레이트(62)가 테일부(109)를 파지할 경우에 정확한 위치에서 파지할 수 있도록 테일부(109)의 파지 폭(W1)을 한정하기 위하여 제 1 수평면(61)의 배면 양 가장자리에 소정 간격 이격되어 나란하게 돌출되는 제 1 돌출부(80a, 80b)와, 테일부(109)의 파지 깊이(W2)를 한정하기 위하여 제 1 돌출부(80a, 80b)와 직교하는 방향으로 돌출되는 제 2 돌출부(82)가 형성된다.
하부 플레이트(64)에는 테일부(109)의 신호패드들과 접촉되는 하부 신호배선들(90)이 형성되고, 하부 플레이트(64)의 중앙부에는 상부 플레이트(62) 상에 형성된 플랜지 형태의 상부 힌지부(74b)와 대응되는 프랜지 형태의 하부 힌지부(74a)가 형성된다. 이러한, 하부 플레이트(64)의 하부 신호배선들(90)은 테일부(109)의 신호패드들과 접촉됨과 아울러 필름(66)이 부착되어 터치패널 컨트롤러(100)에 접속된다.
또한, 하부 플레이트(64) 상에는 하부 플레이트(64)가 테일부(109)를 파지할 경우에 정확한 위치에서 파지할 수 있도록 테일부(109)의 파지 폭(W1)을 한정하기 위하여, 끝단 양 가장자리에 소정 간격 이격되어 나란하게 돌출되는 제 1 돌출부(84a, 84b)와, 테일부(109)의 파지 깊이(W2)를 한정하기 위하여 제 1 돌출부(84a, 84b)와 직교하는 방향으로 돌출되는 제 2 돌출부(86)가 형성된다.
코일 스프링(68)은 핀(72)에 삽입되어 상부 및 하부 플레이트(62, 64)의 상부 및 하부 힌지부(74b, 74a) 사이에 삽입된다. 이러한, 코일 스프링(68)은 자신의 탄성력 또는 복원력에 의해 핀(72)에 의해 결합된 상부 및 하부 플레이트(62, 64)를 집게 역할을 하도록 한다. 즉, 상부 및 하부 힌지부(74b, 74a)는 상부 및 하부 플레이트(62, 64)를 지렛대 원리로 동작되도록 하고, 코일 스프링(68)은 작업자의 가압에 의해 상승된 상부 및 하부 플레이트(62, 64)를 원위치로 복원시켜 상부 및 하부 플레이트(62, 64)가 테일부(109)에 파지할 수 있도록 한다.
배선연결부재(70)에는 필름 형태로 상부 및 하부 신호배선들(92, 90) 상에 부착되어 하부 플레이트(64)의 하부 신호배선들(90)을 상부 플레이트(62)의 상부 신호배선들(92)과 연결시키는 배선들(94)이 형성된다. 이 때, 배선연결부재(70)는 상부 플레이트(62)의 상부 신호배선들(92)과 하부 플레이트(64)의 하부 신호배선들(90)의 배선번호가 일치하도록 상부 신호배선들(92)과 하부 신호배선들(90)을 교차하는 형태로 접속시키게 된다. 즉, 배선연결부재(70)는 테일부(109)의 신호패드들이 상부 또는 하부 신호배선들(92, 90) 중 어느 하나에 접촉되더라도 동일한 신호들이 인가되도록 한다.
이와 같은, 본 발명의 실시 예에 따른 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치는 터치패널 테스트시 터치패널의 테일부(109)에 물리어 테일부(109)에 형성된 신호패드들(116, 117, 118, 119)들을 통해 인가되는 X축 및 Y축 신호선들(112, 113, 114, 115)로부터의 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 터치패널 컨트롤러(100)로 공급하게 된다.
이를 상세히 하면, 우선 작업자는 완성된 터치패널을 불량검사를 실시 하기 위하여, 본 발명의 실시 예에 따른 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치는 전면에 신호패드들(116, 117, 118, 119)이 형성된 테일부(109)에 물리게 된다. 즉, 작업자는 한 손만으로도 집게형 커넥터(60)를 테일부(109)에 접속시킬 수 있다. 이를 상세히 하면, 작업자는 집게형 커넥터(60)의 상부 플레이트(62) 제 2 수평면(65)을 손가락으로 가압하여 상부 플레이트(62)의 제 1 수평면(61)을 상승시키게 된다. 상부 플레이트(62)의 제 1 수평면(61)이 상승되어 벌려진 상태에서 작업자는 집게형 커넥터(60)를 테일부(109)에 물리게 된다. 즉, 상부 플레이트(62)의 제 1 수평면(61)은 코일 스프링(68)의 복원력에 의해 하강되어 테일부(109)에 물리게 된다. 이 때, 작업자는 상부 플레이트(92)의 배면에 형성된 제 1 돌출부(80a, 80b)와 제 2 돌출부(82) 또는 하부 플레이트(90)의 전면에 형성된 제 1 돌출부(84a, 84b)와 제 2 돌출부(86)를 이용하여 테일부(109)의 파지 폭과 깊이를 가이드하여 상부 플레이트(62)를 테일부(109)에 물리게 된다.
이에 따라, 상부 플레이트(62)의 배면에 형성된 상부 신호배선들(92) 각각은 테일부(109)의 신호패드들(116, 117, 118, 119)에 접속된다. 이로 인해, 터치패널 상에서 발생되는 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호는 테일부(109), 상부 신호배선들(92), 배선연결부재(70), 하부 신호배선들(90) 및 필름(66)을 통해 터치패널 컨트롤러(100)로 공급된다. 이에 따라, 터치패널 컨트롤러(100)는 공급되는 신호로부터 터치패널의 불량여부를 검사하게 된다.
한편, 테일부(109)의 신호패드들(116, 117, 118, 119)이 배면에 형성된 경우에 작업자는 한 손만으로도 집게형 커넥터(60)를 테일부(109)에 접속시킬 수 있다. 이를 상세히 하면, 작업자는 집게형 커넥터(60)의 상부 플레이트(62) 제 2 수평면(65)을 손가락으로 가압하여 상부 플레이트(62)의 제 1 수평면(61)을 상승시키게 된다. 상부 플레이트(62)의 제 1 수평면(61)이 상승되어 벌려진 상태에서 작업자는 집게형 커넥터(60)를 테일부(109)에 물리게 된다. 즉, 상부 플레이트(62)의 제 1 수평면(61)은 코일 스프링(68)의 복원력에 의해 하강되어 테일부(109)에 물리게 된다. 이 때, 작업자는 상부 플레이트(62)의 배면에 형성된 제 1 돌출부(80a, 80b)와 제 2 돌출부(82) 또는 하부 플레이트(64)의 전면에 형성된 제 1 돌출부(84a, 84b)와 제 2 돌출부(86)를 이용하여 테일부(109)의 파지 폭과 깊이를 가이드하여 상부 플레이트(62)를 테일부(109)에 물리게 된다.
이에 따라, 하부 플레이트(64)의 전면에 형성된 하부 신호배선들(90) 각각은 테일부(109)의 배면에 형성된 신호패드들(116, 117, 118, 119)에 접속된다. 이로 인해, 터치패널 상에서 발생되는 전류량 또는 전압 레벨을 가지는 신호는 테일부(109), 하부 신호배선들(90) 및 필름(66)을 통해 터치패널 컨트롤러(100)로 공급된다. 이에 따라, 터치패널 컨트롤러(100)는 공급되는 신호로부터 터치패널의 불량여부를 검사하게 된다.
다른 한편으로, 테일부(109)의 신호패드들(116, 117, 118, 119)이 배면에 형성된 경우에 있어서, 작업자에 따라 집게형 커넥터(60)의 상부 플레이트(62)가 테일부(109)의 전면에 물리거나, 하부 플레이트(64)가 테일부(109)에 전면에 물리게 되더라도 상부 및 하부 플레이트(62, 64) 각각에 형성된 상부 신호배선들(92)과 하부 신호배선들(90)의 배선순서가 일치하도록 배선연결부재(70)의 신호배선이 교차하는 방향으로 형성되기 때문에 동일한 신호를 인가할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 터치패널 테스트용 집게형 커넥터는 상부 플레이트의 배면과 하부 플레이트의 전면에 신호배선들을 형성하고 상부 및 하부 플레이트 사이에 코일 스프링을 배치하여 집게 형태의 커넥터를 구성하게 된다. 이에 따라, 작업자는 한 손으로도 커넥터를 터치패널의 테일부에 연결 또는 탈거를 쉽게 할 수 있다. 따라서, 터치패널 불량검사시 작업시간이 단축된다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.
도 1은 터치패널이 탑재되어진 액정패널을 나타내는 도면.
도 2는 도 1에 도시된 터치패널이 탑재되어진 액정패널을 나타내는 사시도.
도 3은 도 2에서의 터치패널 상에 종래기술에 따른 전극 및 신호선이 형성된 모양을 나타내는 평면도.
도 4는 도 3에 도시된 테일부에 커넥터를 접속시키는 것을 나타내는 사시도.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 터치패널이 탑재되어진 액정패널을 나타내는 도면.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 터치패널 상에 전극 및 신호선이 형성된 모양을 나타내는 평면도.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 집게형 커넥터를 이용한 터치패널 테스트장치를 나타내는 사시도.
도 8은 도 7에 도시된 본 발명의 실시 예에 따른 집게형 커넥터를 나타내는 분해 사시도.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
2, 100 : 터치패널 컨트롤러 4, 124 : 컴퓨터 본체
10, 110 : 터치패널 20, 120 : 액정패널
30, 130 : 백라이트 유닛 49, 109 : 테일부
62 : 상부 플레이트 64 : 상부 플레이트
68 : 코일 스프링 70 : 배선연결부재
74b, 74a : 힌지부

Claims (8)

  1. 다수의 제 1 신호배선들이 형성된 상부 플레이트와,
    상기 상부 플레이트와 대향되는 면에 다수의 제 2 신호배선들이 형성된 하부 플레이트와,
    상기 상부 플레이트와 하부 플레이트를 연결하는 힌지와,
    상기 상부 플레이트와 상기 하부 플레이트 사이에 설치되고 상기 제1 및 제2 신호배선들을 연결시키는 배선연결부재와,
    상기 힌지에 삽입됨과 아울러 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 배치되는 스프링부재를 구비하고,
    상기 배선연결부재는 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선의 배선번호가 일치하도록 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선을 교차하는 형태로 접속시키는 것을 특징으로 하는 터치패널 테스트용 집게형 커넥터.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 각각은 소정거리로 이격되어 파지 위치를 한정하는 가이드부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치패널 테스트용 집게형 커넥터.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 가이드부재는,
    소정 간격 이격되어 나란하게 형성되어 파지 폭을 한정하는 제 1 돌출부와,
    상기 제 1 돌출부와 직교하는 방향으로 형성되어 파지 깊이를 한정하는 제 2 돌출부를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치패널 테스트용 집게형 커넥터.
  5. 터치패널과,
    상기 터치패널의 일측부에서 다수의 신호선들이 연장되는 테일부와,
    다수의 제 1 신호배선들이 형성된 상부 플레이트, 상기 상부 플레이트와 대향되는 면에 다수의 제 2 신호배선들이 형성된 하부 플레이트, 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트를 연결하는 힌지, 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 설치되고 상기 제 1 및 제 2 신호배선들을 연결시키는 배선연결부재, 및 상기 힌지에 삽입됨과 아울러 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 배치되는 스프링부재를 포함하는 커넥터를 구비하고,
    상기 커넥터의 신호배선들은 상기 테일부의 신호선들과 접촉되고, 상기 배선연결부재는 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선의 배선번호가 일치하도록 상기 제 1 신호배선과 제 2 신호배선을 교차하는 형태로 접속시키는 것을 특징으로 하는 터치패널 테스트장치.
  6. 삭제
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 각각은 소정거리로 이격되어 파지 위치를 한정하는 가이드부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치패널 테스트장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 가이드부재는,
    소정 간격 이격되어 나란하게 형성되어 파지 폭을 한정하는 제 1 돌출부와,
    상기 제 1 돌출부와 직교하는 방향으로 형성되어 파지 깊이를 한정하는 제 2 돌출부를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치패널 테스트장치.
KR10-2002-0037768A 2002-06-29 2002-06-29 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치 KR100486687B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0037768A KR100486687B1 (ko) 2002-06-29 2002-06-29 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0037768A KR100486687B1 (ko) 2002-06-29 2002-06-29 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040002315A KR20040002315A (ko) 2004-01-07
KR100486687B1 true KR100486687B1 (ko) 2005-05-03

Family

ID=37314017

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2002-0037768A KR100486687B1 (ko) 2002-06-29 2002-06-29 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100486687B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11114787B2 (en) 2018-06-22 2021-09-07 Lg Chem, Ltd. Terminal for connector mounted to printed circuit board and connector supporting said terminal

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100577266B1 (ko) * 2004-08-20 2006-05-10 엘지전자 주식회사 이동 단말기용 ｌｃｄ 평가 장치
KR100844337B1 (ko) * 2008-04-03 2008-07-07 (주)엠아이케이 이십일 터치판넬의 전원인가용 멀티연결부

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR880005294U (ko) * 1986-08-14 1988-05-11 주식회사 금성사 데이타 전송용 케이블의 콘넥터
KR980009455U (ko) * 1996-07-24 1998-04-30 배순훈 브이씨알 데크 양산용 최종 검사 신호 전달용 클립
JPH10302909A (ja) * 1997-04-23 1998-11-13 Yazaki Corp 低挿入力コネクタ
KR19990003020U (ko) * 1997-06-30 1999-01-25 배순훈 회로기판용 집게커넥터
JP2002093503A (ja) * 2000-09-08 2002-03-29 Fujikura Ltd 可撓性プリント基板接続用コネクタ

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR880005294U (ko) * 1986-08-14 1988-05-11 주식회사 금성사 데이타 전송용 케이블의 콘넥터
KR980009455U (ko) * 1996-07-24 1998-04-30 배순훈 브이씨알 데크 양산용 최종 검사 신호 전달용 클립
KR0139836Y1 (ko) * 1996-07-24 1999-04-15 대우전자주식회사 브이씨알 데크 양산용 최종 검사 신호 전달용 클립
JPH10302909A (ja) * 1997-04-23 1998-11-13 Yazaki Corp 低挿入力コネクタ
KR19990003020U (ko) * 1997-06-30 1999-01-25 배순훈 회로기판용 집게커넥터
JP2002093503A (ja) * 2000-09-08 2002-03-29 Fujikura Ltd 可撓性プリント基板接続用コネクタ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11114787B2 (en) 2018-06-22 2021-09-07 Lg Chem, Ltd. Terminal for connector mounted to printed circuit board and connector supporting said terminal

Also Published As

Publication number Publication date
KR20040002315A (ko) 2004-01-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101351413B1 (ko) 터치 패널 및 이를 적용한 터치 패널 일체형 액정 표시 장치
KR100835920B1 (ko) 터치패널 일체형 액정패널
KR100840670B1 (ko) 터치패널 일체형 액정표시패널
US6483498B1 (en) Liquid crystal display with integrated resistive touch sensor
US7050047B2 (en) Signal line of touch panel display device and method of forming the same
US8390575B2 (en) Touch-sensitive liquid crystal display panel with built-in touch mechanism and method for driving same
US8111246B2 (en) Touch panel integrated flat display device
US20030067448A1 (en) Touch panel
US8179379B2 (en) Flat display device unified with touch panel
KR20030055856A (ko) 필름 타입 터치패널 일체형 액정표시장치의 제조방법
JP2008134975A (ja) 入力装置及びその製造方法
US8514182B2 (en) Touch panel display device and method of fabricating the same
JP3538417B2 (ja) Ｅｇｉｐ付き液晶表示装置
KR100486687B1 (ko) 집게형 커넥터와 이를 이용한 터치패널 테스트장치
US20110115725A1 (en) Touch Panel and Display Device Including the Same and Touch Position Detection Method of Touch Panel
KR20030055990A (ko) 터치패널 일체형 표시장치
KR100891495B1 (ko) 터치패널 일체형 표시장치
CN110489003A (zh) 显示设备
KR100926110B1 (ko) 터치패널 일체형 표시장치의 구동장치
KR100469357B1 (ko) 터치패널
KR200226352Y1 (ko) 아이콘 일체형 터치패널
KR100472362B1 (ko) 터치패널의 신호선 형성방법
KR100957809B1 (ko) 에프피씨 부착장치용 백라이트
KR100472374B1 (ko) 터치패널의 제조장치
KR100472361B1 (ko) 터치패널의 구동장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120330

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130329

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160329

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170320

Year of fee payment: 13

LAPS Lapse due to unpaid annual fee