본 발명에서는 저전력소비 액정표시소자를 제작하기 위해, 2-도트인버젼방식의 액정표시소자를 제작하였다. 상기 2-도트인버젼방식에서는 인접하는 2개의 화소 단위로 화소전압의 위상이 반전되어 인가된다. 도 6에 이러한 2-도트인버젼방식의 기본적인 개념이 도시되어 있다.
도면에 도시된 바와 같이, 2-도트인버젼방식은 종방향, 즉 데이터라인 방향으로 인접하는 2개의 화소에는 동일한 위상을 갖는 화소전압을 인가하고 상기 2개의 화소에 인접하는 다른 2개의 화소에 반전된 위상을 갖는 화소전압을 인가하는 방식이다. 이 방법의 장점은 도트인버젼방식이 모든 인접하는 화소에 반전된 위상의 화소전압을 인가하는 반면에 인접하는 2개의 화소에는 동일한 위상의 화소전압을 인가하기 때문에, 도트인버젼방식에 비해 저소비전력이 가능하다는 점이다.
도면에 도시된 바와 같이, odd프레임시 종방향으로 인접한 (m,n)번째 화소와 (m,n+1)번째 화소에는 정(+)의 화소전압이 인가되며, 상기 2개의 화소와 인접한 (m+1,n)번째 화소와 (m+1,n+1)번째 화소에는 부(-)의 화소전압이 인가된다. 또한, even프레임시에는 위상이 반전되어, (m,n)번째 화소와 (m,n+1)번째 화소에는 부의화소전압이 인가되며, (m+1,n)번째 화소와 (m+1,n+1)번째 화소에는 정의 화소전압이 인가된다.
상기와 같은 2-도트인버젼방식 액정표시소자는 도 4에 도시된 도트인버젼방식 액정표시소자와 거의 유사한 구성으로 이루어져 있다. 즉, 데이터구동IC를 복수개로 구성하여 서로 반전된 위상의 데이터신호를 출력하는 것이다.
도 7은 상기 2-도트인버젼방식 액정표시소자의 신호파형도이다. 도면에 도시된 바와 같이, odd프레임에서 주사신호가 게이트구동IC로부터 n번째 게이트라인을 통해 입력됨에 따라, n번째 게이트라인에 접속된 (m,n)번째 화소와 이에 인접한 (m,n+1)번째 화소에는 정의 화소전압이 인가되며 (m+1,n)번째 화소와 이에 인접한 (m+1,n+1)번째의 화소에는 부의 화소전압이 인가된다. 이와 반대로, even프레임에서는 n번째 게이트라인에 접속된 (m,n)번째 화소와 이에 인접한 (m,n+1)번째 화소에는 부의 화소전압이 인가되며 (m+1,n)번째 화소와 이에 인접한 (m+1,n+1)번째의 화소에는 정의 화소전압이 인가된다.
이때, 각각의 화소에 인가되는 전압은 피드스루전압(ΔVp)에 의한 변이가 발생한다. 상기 피드스루전압(ΔVp)은 기생캐패시턴스에 의해 발생하는 것으로, 다음의 수학식 1과 같이 표현될 수 있다.
여기서, Ctatal=Cgs+Cst+Clc+Cdp+Cgd로서, Cgs는 화소내에 배치된 TFT의 게이트전극과 소스전극 사이에 발생하는 기생캐패시턴스, Cst는 축적캐패시턴스, Clc는 액정에 의한 캐패시턴스, Cdp는 데이터라인과 화소전극 사이에 발생하는 기생캐패시턴스, Cgd는 TFT의 게이트전극과 드레인전극 사이에 발생하는 기생캐패시턴스이다. 또한, ΔVg는 게이트전압이다.
일반적으로 화소에 발생하는 기생캐패시턴스는 시간이 경과함에 따라 증가하기 때문에, 상기 피드스루전압(ΔVp)이 증가하게 되고, 결과적으로 화소에 인가되는 화소전압은 전압강하가 일어나게 된다.
또한, 화소에 인가되는 화소전압에는 각종 이유에 의해 전압변이가 발생한다. 이러한 전압변이값(Vpp)은 화소내의 캐패시턴스, 인접하는 화소의 화소전압 및 인접하는 화소 사이의 커플링효과에 의한 커플링캐패시턴스(Cpp)에 기인하는 것으로, 이 전압변이값(Vpp)에 의해 각 화소의 실효전압이 변하게 된다.
도 7에 도시된 바와 같이, odd프레임시 정의 화소전압이 인가되는 (m,n)번째 화소의 실효전압은 화소전압(Vp) 보다 전압변이값(Vpp) 만큼 상승한다. 즉, 실효전압이 상승하는 것이다. 그 이유는 인접하는 (m,n+1)번째의 화소에 정의 화소전압이 인가되기 때문이다. 즉, 인접하는 화소의 전압 증가에 의해 전압변이값(Vpp) 만큼의 실효전압이 상승하게 된다. 반면에 (m,n+1)번째 화소에 인가되는 실효전압은 인접하는 (m,n+2)번째 화소의 전압강하에 따라 화소전압(Vp) 보다 전압변이값(Vpp) 만큼 하강하게 된다. 또한, 부의 화소전압이 인가되는 (m+1,n)번째 화소의 실효전압은 인접하는 (m+1,n+1)번째 화소의 전압강하에 의해 화소전압(Vp) 보다 전압변이값(Vpp) 만큼 하강하며, (m+1,n+1)번째 화소의 실효전압은 인접하는 (m+1,n+2)의 전압 상승에 의해 전압변이값(Vpp) 만큼 상승하게 된다.
이러한 각 화소에서의 실효전압을 살펴보면, 정의 화소전압이 인가되는 (m,n)번째 화소는 실효전압이 화소전압(Vp) 보다 전압변이값(Vpp) 만큼 상승하여 화소전극에 화소전압 보다 더 큰 전압(|Vp+Vpp|)이 인가되며, 부의 화소전압이 인가되는 (m+1,n)번째 화소는 실효전압이 화소전압(Vp)에 비해 전압변이값(Vpp) 만큼 하강하여 화소전압 보다 더 큰 전압(|-Vp-Vpp|)이 인가된다. 즉, 상기 (m,n)번째 화소와 (m+1,n)번째 화소에 인가되는 실효전압은 실제 데이터라인을 통해 인가되는 화소전압(데이터신호)에 비해 더 큰 전압으로 된다. 반면에, (m,n+1)번째 화소에는 (|Vp-Vpp|)의 실효전압이 인가되고 (m+1,n+1)번째 화소에는 (|-Vp+Vpp|)의 실효전압이 인가된다.
다시 말해서, n번째 게이트라인에 접속된 (m,n)번째 화소 및 (m+1,n)번째 화소에는 화소전압 보다 큰 실효전압이 인가되며, n+1번째 게이트라인에 접속된 (m,n+1)번째 화소 및 (m+1,n+1)번째 화소에는 화소전압 보다 작은 실효전압이 인가된다. 이러한 경향은 상기한 4개의 화소에만 발생하는 것이 아니다. n번째 게이트라인에 접속된 모든 화소에는 화소전압 보다 큰 실효전압이 인가되고 n+1번째 게이트라인에 접속된 모든 화소에는 화소전압 보다 작은 실효전압이 인가된다. 또한, 이러한 현상은 모든 게이트라인에 접속되는 화소에 해당된다. 횡방향의 화소, 즉 하나의 게이트라인에 접속되는 화소의 화소전극에 화소전압 보다 큰 실효전압(예를 들면, |Vp+Vpp|)이 인가되면, 해당 게이트라인에 인접하는 게이트라인에 접속된 화소에는 화소전극 보다 작은 실효전압(예를 들면, |Vp-Vpp|)이 인가된다. 이러한 현상은 액정패널 전체에 걸쳐 반복된다.
상기와 같이, n번째 게이트라인을 따라 배열된 일련의 화소들과 n+1번째 게이트라인을 따라 배열된 일련의 화소들 사이의 실효전압이 다르다는 것은 n번째 게이트라인의 화소들과 n+1번째 게이트라인의 화소들의 투과율이 다르다는 것을 의미한다. 따라서, 2-도트인버젼방식의 액정표시소자에서는 게이트라인방향(즉, 횡방향)으로 휘도차가 발생하여 화면상에 횡방향의 딤(dim)현상이 발생하게 된다.
상기한 바와 같이, 2-도트인버젼방식의 액정표시소자는 저전력을 소비하는 장점을 갖는 반면에 화면상에 횡방향의 딤현상이 발생한다는 치명적인 약점도 갖고 있다. 따라서, 2-도트인버젼방식의 액정표시소자를 저소비전력 표시소자로서 응용하기 위해서는 상기한 딤현상을 제거해야만 한다.
한편, 2-도트인버젼방식에서 발생하는 전압변이값(Vpp)은 화소내의 캐패시턴스, 인접하는 화소의 화소전압 및 인접하는 화소 사이의 커플링효과에 의해 기인하는데, 이 전압변이값(Vpp)을 수학시 2에 표시하였다. 이때, 상기 전압변이값(Vpp)은(m,n)번째 화소에 인가되는 화소전압의 변이값이다.
여기서, Ctotal은 화소 전체 캐패시턴스이고, Cpp는 (m,n)번째 화소와 인접하는 (m,n+1)번째 화소 사이의 커플링효과에 기인하는 커플링 캐패시턴스이며, ΔVdata는 (m,n+1)번째 화소에 인가되는 화소전압 변동량이다.
상기한 바와 같이, 각 화소의 전압변이값(Vpp)은 화소의 전체 캐패시턴스와 인접하는 화소의 화소전압 변동량 및 인접하는 화소와의 사이에 발생하는 커플링 캐패시턴스에 따라 달라진다. 일반적으로 화소의 전체 캐패시턴스나 인접 화소의 화소전압 변동량을 제어하기란 실질적으로 불가능한 일이다. 반면에 인접하는 화소 사이의 커플링 캐패시턴스를 제어하는 것은 상대적으로 손쉬운 일이다.
본 발명에서는 인접하는 화소 사이의 커플링 캐패시턴스를 제어함으로서 딤현상이 발생하지 않는 2-도트인버젼방식 액정표시소자를 제작하였다. 특히, 화소들 사이의 커플링 캐패시턴스를 제어함으로써 하나의 게이트라인과 연결된 화소들과 인접하는 게이트라인에 연결된 화소들 사이에 발생하는 횡방향 딤현상을 제거한 액정표시소자를 제작하였다.
딤현상, 특히 2-도트인버젼방식에서 문제가 되는 횡방향의 딤현상은 각각의 게이트라인에 접속된 화소들에 인가되는 실효전압의 차에 의한 휘도차에 기인하지만, 화면상에 나타나는 미세한 딤현상은 무시할 수 있다. 그 이유는 표시소자에서 중요한 것은 딤현상의 절대적인 수치에 있는 것이 아니라 사용자가 딤현상을 인식할 수 있는가에 달려 있기 때문이다. 즉, 화면상에 딤현상이 발생해도 사용자가 이를 인식할 수 없을 정도의 미세하다면 이는 용납될 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명에서는 화소들 사이의 커플링 캐패시턴스(실효전압의 크기를 좌우하는 한 요소)를 제어함으로써 딤현상을 사용자가 인식할 수 없을 정도로 작게 만들었다.
본 발명에서는 화소 사이의 커플링캐패시턴스(Cpp)를 1.5∼2.3×10-15(F/pixel), 바람직하게는 약 1.88×10-15(F/pixel) 정도로 설정하여 사용자가 화면상에 표시되는 딤현상을 인식할 수 없을 정도로 작게 만들었다.
이러한 커플링 캐패시턴스(Cpp)는 인접하는 화소에 형성된 화소전극 사이에 형성된다. 따라서, 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 제어하기 위해서는 인접하는 화소의 화소전극의 간격을 제어할 필요가 있게 된다.
도 8은 본 발명에 따른 2-도트 액정표시소자에서 인접하는 화소 사이의 커플링 캐패시턴스(Cpp)와 화소전극 사이의 간격을 나타내는 그래프이다. 도면에 도시된 바와 같이, 화소전극 사이의 간격이 커짐에 따라 커플링 캐패시턴스(Cpp)는 비선형적으로 감소한다. 따라서, 본 발명에서 제시한 1.5∼2.3×10-15(F/pixel)의 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 형성하기 위해서는 인접하는 화소 전극의 간격을 2.4∼4㎛로 유지해야만 한다.
수학식 2에 도시된 바와 같이, 화소에 인가되는 실효전압값의 전압변이값(Vpp)은 커플링캐패시턴스(Cpp)에 비례하며, 상기 커플링캐패시턴스(Cpp)는 도 8의 그래프에 도시된 바와 같이 화소 전극의 간격과 비선형적으로 반비례하므로, 화소전극의 간격을 임계값 이상으로 형성함으로써 전압변이값(Vpp)을 감소시킬 수 있게 되며, 결국 실효전압값의 변이를 감소시킬 수 있게 된다.
이하에서는 1.5∼2.3×10-15(F/pixel)의 커플링 캐패시턴스(Cpp)가 형성된 본 발명의 액정표시소자의 실시예를 설명한다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 액정표시소자의 일실시예를 나타내는 도면으로, 도 9(a)는 액정표시소자의 한화소의 구조를 나타내는 평면도이고 도 9(b)는 도 9(a)의 A-A'선 단면도이다.
도면에 도시된 바와 같이, 게이트라인(103)과 데이터라인(105)은 종횡으로 배열되어 있으며, 상기 게이트라인(103)에는 TFT의 게이트전극(122)이 접속되어 있고 데이터라인(105)에는 소스/드레인전극(128)이 접속되어 있다. 또한, 화소내에는 ITO와 같은 투명한 금속으로 이루어진 화소전극(130)이 형성되어, 컨택홀(contact hole;121)을 통해 소스/드레인전극(128)과 전기적으로 연결되어 있다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 게이트전극(122)과 소스/드레인전극(128) 사이에는 반도체층이 형성되어, 게이트라인(103)을 통해 게이트전극(122)으로 주사신호가 인가됨에 따라 활성화됨에 따라 데이터라인(105)으로 입력된 데이터신호가 상기 소스/드레인전극(128)을 통해 화소전극(130)에 인가된다.
화소를 정의하는 게이트라인(103)은 인접하는(종방향으로 인접하는) 화소의 화소전극과 오버랩되어 있다. 즉, 도 9(b)에 도시된 바와 같이, 유리와 같은 투명한 하부 기판(120) 위에는 TFT의 게이트전극(122) 형성시 동시에 형성되는 게이트라인(103)이 형성되어 있으며, 그 위에 기판(120) 전체에 걸쳐서 게이트절연층(124)이 형성되어 있다. 상기 게이트절연층(124) 위에는 TFT를 덮고 있는 보호층(132)이 형성되어 있으며, 상기 보호층(132) 위에 화소전극(130a,130b)이 형성되어 있다. 게이트라인(103)은 인접하는(종방향 또는 데이터라인방향으로 인접하는) 화소의 화소전극(130a)과 그 일부가 겹치게 된다. 화소내에 형성된 화소전극(130b) 및 게이트라인(103)과 겹치는 인접화소의 화소전극(130b) 사이에 커플링 캐패시턴스(Cpp)가 형성된다. 상술한 바와 같이, 이 커플링 캐패시턴스(Cpp)는 약 1.5∼2.3×10-15(F/pixel), 바람직하게는 약 1.88×10-15(F/pixel)이며, 이 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 형성하기 위해, 서로 인접하는 화소전극(130a,130b)의 간격(d1)을 약 2.4∼4㎛, 바람직하게는 약 3㎛로 형성하였다.
이때, 상기 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 1.5×10-15(F/pixel) 이하로 설정하면, 화소 전극(130a,130b)의 간격(d1)이 4㎛ 이상으로 되어 액정표시소자의 개구율이 저하되는 문제가 발생하며, 2.3×10-15(F/pixel) 이상으로 설정하면 실효전압의 전압변이값(Vpp) 저하의 효과가 없어지기 때문에, 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 상기와 같이약 1.5∼2.3×10-15(F/pixel)로 설정하는 것이 바람직하다.
상술한 바와 같이, 본 발명에서는 종방향(데이터라인방향)으로 서로 인접하는 화소에 형성되는 화소전극(130a,130b) 사이의 간격(d1)을 약 2.4∼4㎛, 바람직하게는 약 3㎛로 배치함으로써 화소 사이의 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 약 1.5∼2.3×10-15(F/pixel), 바람직하게는 약 1.88×10-15(F/pixel)로 형성하였다. 그 결과, 2-도트인버젼방식의 액정표시소자를 제작했을 때, 횡방향(게이트라인방향)으로 발생하는 딤현상이 사용자가 인식할 수 없을 정도로 작게 만들 수 있었다.
통상적으로, 인접하는 화소 사이의 커플링 캐패시턴스(Cpp)는 주로 화소에 형성되는 화소전극에 의해 생성된다. 그러나, 다른 구조의 액정표시소자, 예를 들면, 축적캐패시터용 금속층이 형성된 액정표시소자와 같은 구조에서는 커플링 캐패시턴스(Cpp)가 인접하는 화소의 화소전극 사이에 형성되는 것이 아니라 화소전극과 축적캐패시터용 금속층 사이에 형성된다.
도 10에 이러한 구조의 2-도트인버젼방식의 액정표시소자의 한 화소가 도시되어 있다. 도면에 도시된 바와 같이, 이 구조의 액정표시소자는 도 9에 도시된 액정표시소자와는 그 구조가 거의 동일하며, 단지 축적캐패시터용 금속층이 형성되어 있다는 점만이 다르다. 이때, 도 10(a)는 화소의 구조를 나타내는 평면도이고 도 10(b)는 도 10(a)의 B-B'선 단면도이다. 도면에 도시된 바와 같이, 축적캐패시터용 금속층(231)은 게이트절연층(224) 위에 상기 게이트라인(203)의 폭 보다 큰 폭으로형성되어 있으며, 그 위에 보호층(232)이 형성되어 있다. 상기 보호층(232)에는 컨택홀(233)이 형성되어 축적캐패시터용 금속층(231)이 인접하는 화소의 화소전극(230a)과 전기적으로 접속되어 축적캐패시턴스(Cst)를 형성하게 된다.
커플링 캐패시턴스(Cpp)는 화소에 형성된 화소전극(230b)과 상기 축적캐패시터용 금속층(231) 사이에 형성된다. 따라서, 도 9에 도시된 구조의 액정표시소자에서는 서로 인접하는 화소의 화소전극 사이의 간격을 조절함으로써 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 조절하였지만, 이 구조의 액정표시소자에서는 화소전극(230b)과 축적캐패시터용 금속층(231) 사이의 간격(d2)을 제어함으로써 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 조절할 수 있게 된다. 이러한 구조의 액정표시소자도 도 9에 도시된 액정표시소자와 마찬가지로, 약 1.5∼2.3×10-15(F/pixel)의 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 형성하기 위해 화소전극(230b)과 축적캐패시터용 금속층(231)의 간격(d2)을 약 2.4∼4㎛로 형성하였다.
상술한 바와 같이, 본 발명에서는 2-도트인버젼방식 액정표시소자에서 사용자가 인식할 수 없을 정도로 딤현상을 감소시키기 위해, 화소 사이의 커플링효과에 의해 발생하는 커플링 캐패시턴스를 약 1.5∼2.3×10-15(F/pixel), 바람직하게는 약 1.88×10-15(F/pixel)으로 형성하였으며, 이를 위해 인접하는 화소들의 화소전극 사이의 간격(d1) 또는 화소전극과 축적캐패시터용 금속층 사이의 간격(d2)을 약 2.4∼4㎛, 바람직하게는 약 3㎛로 배치하였다.
그런데, 이러한 인접하는 화소전극 사이의 간격(d1)이나 화소전극과 축적캐패시터용 금속층 사이의 간격(d2)은 특정한 값으로 고정되는 것은 아니다. 본 발명에서 중요한 것은 인접하는 화소 사이의 커플링 캐패시턴스(Cpp)를 약 1.5∼2.3×10-15(F/pixel)의 값으로 형성함으로써 2-도트인버젼방식에서 발생할 수 있는 횡방향의 딤현상을 감소시키는 것이며, 이 커플링 캐패시턴스(Cpp)의 원하는 값을 형성하기 위한 화소전극의 간격 배치나 화소전극과 축적캐패시터용 금속의 금속배치는 제작되는 2-도트인버젼방식 액정표시소자의 패널 크기나 구조에 따라 달라질 수 있을 것이다.
즉, 본 발명의 기본적인 개념은 2-도트인버젼방식 액정표시소자에서의 커플링 캐패시턴스(Cpp)의 특정값 형성이며, 이 특정값을 형성할 수 있는 어떠한 구조의 액정표시소자도 본 발명의 개념을 이용하면 본 발명이 속하는 기술분야에 종사하는 사람이라면 누구나 제작할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 권리범위는 상술한 상세한 설명에 의해 결정되는 것이 아니라 첨부한 특허청구범위에 의해 결정되어야만 할 것이다.