KR100460050B1 - 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 - Google Patents

음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 펀넬과, 펀넬의 정부에 넥크가 결합된 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치에 관한 것으로서, 상면에 평탄한 지지플랫폼을 갖는 프레임과; 펀넬결합체를 지지하는 지지블럭과, 펀넬결합체를 소정의 측정 위치로 정렬시키는 정렬부와, 펀넬의 윤곽을 측정하는 프루브를 갖는 펀넬측정블럭을 가지며, 펀넬의 각 모서리 영역에 배치되어 지지플랫폼에 착탈가능하게 결합되는 복수의 베이스플레이트와; 검사될 펀넬결합체의 크기에 대응하여 지지플랫폼 상에 형성된 다수의 제1고정공과, 제1고정공에 베이스플레이트를 고정하는 제1고정볼트를 가지며, 검사될 펀넬결합체의 크기에 대응하여 지지플랫폼에 베이스플레이트의 설치 위치를 조절하는 제1위치조절수단을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, 다양한 크기의 펀넬결합체에 대해 신속하게 검사할 수 있으며 생산성을 향상시킬 수 있다.

Description

음극선관용 펀넬결합체의 검사장치{APPARATUS FOR INSPECTING A FUNNEL ASSEMBLY HAVING A FUNNEL AND A NECK}
본 발명은, 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치에 관한 것이다.
음극선관은, 화상이 형성되는 패널과, 패널의 배면에 부착되는 깔때기 형상의 펀넬과, 펀넬의 정부에 결합되는 관상의 넥크를 가진다. 넥크 내에는 화상을 형성하는 전자총이 수용된다.
넥크의 축선이 펀넬의 축선에 대해 편위되거나 기울어질 경우에는 전자총이 제위치에 유지될 수 없으므로 양질의 화상을 형성할 수 없게 된다. 그래서, 펀넬과 넥크의 융착공정이 완료된 후, 펀넬결합체는 펀넬에 대한 넥크의 편심도 및 기울기를 측정하여 그 양부를 판단하는 검사공정을 거친다.
도 6은 종래의 음극선관용 펀넬결합체 검사장치의 정면도이고, 도 7은 도 6의 검사장치의 평면도이며, 도 8은 도 6의 지지플랫폼의 확대평면도이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치(이하에서는 검사장치로 표기함)는, 상면에 평탄한 지지플랫폼(115)을 갖는 프레임(117)과, 프레임(117)으로부터 상향 연장된 세 개의 스탠드(161)를 갖는다. 세 개의 스탠드(161)는 검사될 펀넬결합체(110)의 축선에 대해 등각도 간격으로 배치되어 있다. 각 스탠드(161)는 넥크(113)의 외벽면에 접촉하여 넥크(113)의 편심도 및 기울기를 측정하는 프루브(179)를 갖는 넥크측정블럭(167)을 지지한다.
지지플랫폼(117) 상에는 검사될 펀넬결합체(110)를 평탄하게 지지하기 위한 네 개의 지지블럭(129)이 설치되어 있다. 지지블럭(129)들은 검사될 펀넬결합체(110)의 각 펀넬(111)의 모서리의 하부에 배치되어 펀넬(111)의 시일엣지에 접촉하여, 넥크(113)가 상향위치하도록 펀넬결합체(110)를 수평되게 지지한다.
지지플랫폼(117) 상에는 또한, 펀넬(111)의 스커트의 외벽면에 접촉하는 세 개의 스토퍼(131)가 설치되어 있다. 그리고, 지지플랫폼(117) 상에는 각 스토퍼(131)에 대향하여 세 개의 푸싱유니트(137)가 배치되어 있다.
또한, 지지플랫폼(117) 상에는 펀넬(111)의 모서리 영역의 둘레를 따라 8개의 펀넬측정블럭(143)이 마련되어 있다. 각 펀넬측정블럭(143)에는 펀넬(111)의 스커트의 모서리 영역의 외벽면에 접촉하여 펀넬(111)의 윤곽을 측정하는 프루브(147)가 마련되어 있다.
그리고, 지지플랫폼(117) 상에는 펀넬(111)의 하나의 장변 및 한쌍의 단변의 각 중앙영역의 윤곽을 측정하는 프루브(159)를 갖는 3개의 펀넬보조측정블럭(151)이 마련되어 있다.
이상과 같이, 종래의 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치의 지지플랫폼(117) 상에는 지지블럭(129), 스토퍼(131), 푸싱유니트(137), 펀넬측정블럭(143), 펀넬보조측정블럭(151) 등이 각각 설치된다. 이에 지지플랫폼(117) 상에는 펀넬결합체(110)의 크기에 대응하여 지지블럭(129), 스토퍼(131), 푸싱유니트(137), 펀넬측정블럭(143), 펀넬보조측정블럭(151) 등이 고정 설치되는 다수의 지지블럭 고정공(129a), 스토퍼 고정공(131a), 푸싱유니트 고정공(137a), 펀넬측정블럭 고정공(143a), 펀넬보조측정블럭 고정공(151a)이 형성되어 있다.
이러한 구성에 의하여, 검사될 펀넬결합체(110)가 지지블럭(129) 상에 적치되면, 푸싱유니트(137)가 펀넬(111)의 외벽면을 가압하여 스토퍼(131)에 접촉되도록 한다. 이에 의해, 검사될 펀넬결합체(110)는 미리 설정된 기준 위치에 고정된다. 그리고, 8개의 펀넬측정블럭(143)의 각 프루브(147)가 펀넬(111)의 스커트의 모서리 영역의 외벽면에 접촉되어 펀넬(111)의 윤곽을 측정한다. 또한, 3개의 펀넬보조측정블럭(151)의 각 프루브(159)는 펀넬(111)의 하나의 장변 및 한쌍의 단변의 각 중앙영역의 윤곽을 측정한다.
그리고, 각 스탠드(161)에 마련된 넥크측정블럭(167)의 프루브(179)가 넥크(113)의 외벽면에 접촉하여 넥크(113)의 편심도 및 기울기를 측정한다.
그런데, 이러한 종래의 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치에 있어서는, 지지블럭, 스토퍼, 푸싱유니트, 펀넬측정블럭, 펀넬보조측정블럭 등이 지지플랫폼 상에 각각 고정 설치되어 있으므로, 검사될 펀넬결합체의 크기가 변경되는 경우, 펀넬결합체의 크기에 대응하여 지지플랫폼 상에 각각 고정 설치된 지지블럭, 스토퍼, 푸싱유니트, 펀넬측정블럭, 펀넬보조측정블럭 등을 소정의 측정 좌표로 이동시켜 각 고정공에 재설치하여 검사를 수행해야 하므로, 다품종 소량생산에 따른 잦은 검사장비의 교체작업시간이 많이 소요되어 생산성이 저하되는 문제점이 있다. 또한, 종래의 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치는 각 측정블럭에 설치되는 프루브가 노출되어 있어, 펀넬결합체의 이동 중에 펀넬결합체가 떨어져 프루브를 파손시키는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은, 다양한 크기의 펀넬결합체에 대해 신속하게 검사할 수 있으며 생산성을 향상시킬 수 있는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은, 프루브의 파손을 방지할 수 있는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치를 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 음극선관용 펀넬결합체 검사장치의 정면도,
도 2는 도 1의 검사장치의 평면도,
도 3은 도 1의 일측 베이스플레이트의 요부 확대평면도,
도 4는 도 1의 지지플랫폼의 확대평면도,
도 5는 일예로서 펀넬보조측정블럭에서 프루브와 커버의 설치상태를 도시한 요부 확대단면도,
도 6은 종래의 음극선관용 펀넬결합체 검사장치의 정면도,
도 7은 도 6의 검사장치의 평면도,
도 8은 도 6의 지지플랫폼의 확대평면도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
10 : 펀넬결합체 11 : 펀넬
13 : 넥크 15 : 프레임
17 : 지지플랫폼 19 : 제1고정공
21 : 제2고정공 23 : 베이스플레이트
27 : 제1고정볼트 29 : 지지블럭
31 : 스토퍼 37 : 푸싱유니트
43 : 펀넬측정블럭 47,59,79 : 프루브
51 : 펀넬보조측정블럭 55 : 제2고정볼트
67 : 넥크측정블럭 81 : 안전커버
상기 목적은, 본 발명에 따라, 펀넬과, 상기 펀넬의 정부에 넥크가 결합된 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치에 있어서, 상면에 평탄한 지지플랫폼을 갖는 프레임과; 상기 펀넬결합체를 지지하는 지지블럭과, 상기 펀넬결합체를 소정의 측정 위치로 정렬시키는 정렬부와, 상기 펀넬의 윤곽을 측정하는 프루브를 갖는 펀넬측정블럭을 가지며, 상기 펀넬의 각 모서리 영역에 배치되어 상기 지지플랫폼에 착탈가능하게 결합되는 복수의 베이스플레이트와; 검사될 상기 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼에 상기 베이스플레이트의 설치 위치를 조절하는 제1위치조절수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치에 의해 달성된다.
여기서, 상기 넥크의 축선에 대해 방사상으로 배치되도록 상기 프레임에 설치된 복수의 스탠드와, 상기 넥크의 편심도 및 기울기를 측정하는 프루브를 갖는 복수의 넥크측정블럭과, 상기 각 스탠드에 설치되어 상기 넥크측정블럭을 상기 넥크에 대해 이동시키는 액츄에이터를 더 포함하며, 상기 넥크측정블럭에는 한쌍의 프루브가 상기 넥크의 축선방향을 따라 상하 배치되어 있는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 펀넬의 장변 및 단변 중 적어도 어느 하나의 중앙영역에 마련되어 상기 펀넬의 윤곽을 측정하는 프루브를 가지며, 상기 지지플랫폼에 착탈가능하게 결합되는 펀넬보조측정블럭과; 검사될 상기 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼에 상기 펀넬보조측정블럭의 설치 위치를 조절하는 제2위치조절수단을 더 포함하는 것이 효과적이다.
한편, 상기 제1위치조절수단은, 검사될 상기 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼 상에 형성된 다수의 제1고정공과, 상기 제1고정공에 상기 베이스플레이트를 고정하는 제1고정볼트를 포함하는 것이 바람직하며, 상기 제2위치조절수단은, 검사될 상기 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼 상에 형성된 다수의 제2고정공과, 상기 제2고정공에 상기 펀넬보조측정블럭을 고정하는 제2고정볼트를 포함하는 것이 효과적이다.
또한, 상기 정렬부는 상기 펀넬의 외벽면에 접촉하는 스토퍼 및 상기 펀넬의 외벽면을 가압하는 푸싱유니트 중 적어도 어느 하나이다.
그리고, 상기 프루브를 보호하는 안전커버를 더 마련함으로써, 상기 펀넬결합체의 이동 중에 상기 프루브의 파손을 방지할 수 있게 된다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 대하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치의 정면도이고, 도 2는 도 1의 검사장치의 평면도이며, 도 3은 도 1의 일측 베이스플레이트의 요부 확대평면도이다. 도 1은 설명의 편리를 위해 다소 개략적으로 도시되어 있어 도 2 및 도 3과 반드시 일치하지 않음을 언급해둔다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 펀넬결합체(10)는 깔때기형상의 펀넬(11)과 그 정부에 결합되는 관상의 넥크(13)로 이루어진다. 펀넬(11)의 하단영역에는 패널(미도시)과의 결합을 위한 시일엣지(seal edge)를 형성하는 스커트가 형성되어 있다. 펀넬(11)의 평면형상은 거의 장방형을 가진다. 스커트에는 펀넬(11)의 기하학적 형상의 기준이 되는 다수의 패드(미도시)가 형성되어 있다.
본 발명에 따른 검사장치는, 상면에 평탄한 지지플랫폼(17)를 갖는 프레임(15)과, 펀넬(11)의 각 모서리 영역에 배치되어 지지플랫폼(17)에 착탈가능하게 결합되는 4개의 베이스플레이트(23)와, 검사될 펀넬결합체(10)의 크기에 대응하여 지지플랫폼(17)에 베이스플레이트(23)의 설치 위치를 조절하는 제1위치조절수단과, 펀넬(11)의 하나의 장변 및 한쌍의 단변의 각 중앙영역에 마련되어 펀넬(11)의 윤곽을 측정하는 프루브(59)를 가지며 지지플랫폼에 착탈가능하게 결합되는 3개의 펀넬보조측정블럭(51)과, 검사될 펀넬결합체(10)의 크기에 대응하여 지지플랫폼(17)에 펀넬보조측정블럭(51)의 설치 위치를 조절하는 제2위치조절수단을 갖는다.
지지플랫폼(17) 상에는 검사될 펀넬결합체(10)의 하단 각 모서리 영역을 지지하는 4개의 베이스플레이트(23)가 설치된다. 도 4에 도시된 바와 같이, 지지플랫폼(17) 상에는 각 베이스플레이트(23)를 고정시키는 제1위치조절수단으로서 제1고정볼트(27)가 체결되는 다수의 제1고정공(19)이 형성되어 있으며, 이들 제1고정공(19)은 검사될 펀넬결합체(10)의 크기에 대응하도록 소정의 측정좌표를 가지고 형성되어 있다. 또한, 지지플랫폼(17) 상에는 각 펀넬보조측정블럭(51)을 고정시키는 제2위치조절수단으로서 제2고정볼트(55)가 체결되는 다수의 제2고정공(21)이 형성되어 있으며, 이들 제2고정공(21)은 검사될 펀넬결합체(10)의 크기에 대응하도록 소정의 측정좌표를 가지고 형성되어 있다.
각 베이스플레이트(23)에는 제1고정볼트(27)가 관통 결합되는 3개의 제1관통공(미도시)이 형성되어 있다. 또한, 베이스플레이트(23) 상에는, 펀넬결합체(10)를 지지하는 지지블럭(29)과, 펀넬결합체(10)를 소정의 측정 위치로 정렬시키는 정렬부와, 펀넬(11)의 윤곽을 측정하는 프루브(47)를 갖는 펀넬측정블럭(43)이 마련되어 있다. 이하에서는 설명의 편의상 4개의 베이스플레이트를 제1, 제2, 제3, 제4베이스플레이트로 칭한다.
각 베이스플레이트(23) 상에 마련되는 지지블럭(29)은 펀넬(11)의 대각방향으로 상호 대향 배치되며, 이에 지지블럭(29)은 펀넬(11)의 하단 일측 모서리를 지지하게 된다.
정렬부는 펀넬(11)의 스커트의 외벽면에 접촉하는 스토퍼(31) 및 펀넬(11)의 스커트의 외벽면을 가압하는 푸싱유니트(37) 중 적어도 어느 하나로 구성되며, 제1베이스플레이트(23a)에는 정렬부로서 지지블럭(29)을 사이에 두고 펀넬(11)의 장변에 접촉하는 하나의 스토퍼(31)와 펀넬(11)의 단변을 가압하는 하나의 푸싱유니트(37)를 가진다. 제2베이스플레이트(23b)에는 펀넬(11)의 장변 및 단변에 접촉하는 한쌍의 스토퍼(31)가 지지블럭(29)을 사이에 두고 마련되어 있다. 제3 및 제4베이스플레이트(23c,23d)에는 펀넬(11)의 장변에 접촉하는 하나의 푸싱유니트(37)가 각각 마련되어 있다.
스토퍼(31)는, 베이스플레이트(23) 상에 마련되는 본체(33)와, 본체(33) 내에 슬라이딩 가능하게 결합되며 본체(33)의 일단부로부터 돌출되어 도시하지 않은 액츄에이터의 구동에 의해 펀넬(11)의 스커트의 외벽면에 접촉되는 접촉팁(35)을 가진다.
푸싱유니트(37)는, 베이스플레이트(23) 상에 마련되는 본체(39)와, 본체(39) 내에 슬라이딩 가능하게 결합되며 본체(39)의 일단부로부터 돌출되어 도시하지 않은 액츄에이터의 구동에 의해 펀넬(11)의 스커트의 외벽면을 가압하는 가압부(41)를 가진다.
또한, 각 베이스플레이트(23) 상에는 한쌍의 펀넬측정블럭(43)이 지지블럭(29)을 사이에 두고 설치되어 있다. 펀넬측정블럭(43)은, 본체(45)와, 본체(45) 내에 슬라이딩 가능하게 결합되며 도시않은 액츄에이터의 구동에 의해 펀넬(11)의 스커트의 외벽면에 접촉 및 이격되어 펀넬(11)의 스커트의 모서리 영역의 윤곽을 각각 측정하는 프루브(47)를 가진다.
이와 같이, 각 베이스플레이트(23) 상에는 지지블럭(29), 정렬부, 펀넬측정블럭(43) 등이 각각 설치된다.
또한, 지지플랫폼(17) 상에는 검사될 펀넬(11)의 하나의 장변 및 한쌍의 단변의 각 스커트의 윤곽을 측정하는 3개의 펀넬보조측정블럭(51)이 마련되어 있다.
각 펀넬보조측정블럭(51)에는 제2고정볼트(55)가 관통 결합되는 한쌍의 제2관통공(미도시)이 형성되어 있다. 각 펀넬보조측정블럭(51)은, 본체(57)와, 본체(57) 내에 슬라이딩 가능하게 결합되며 도시않은 액츄에이터의 구동에 의해 펀넬(11)의 스커트의 외벽면에 접촉 및 이격되어 펀넬(11)의 스커트의 윤곽을 측정하는 프루브(59)를 갖는다. 여기서, 펀넬측정블럭(43) 및 펀넬보조측정블럭(51)은 선형 이동이 가능하며, 이동변위량에 따라 전압을 출력하는 선형차동트랜스포머(linear variable differential transformer)를 사용하는 것이 바람직하다.
한편, 본 발명에 따른 검사장치는, 넥크(13)의 축선에 대해 방사상으로 배치되도록 프레임(15)에 설치되는 3개의 스탠드(61)와, 넥크(13)의 편심도 및 기울기를 측정하는 프루브(79)를 갖는 3개의 넥크측정블럭(67)과, 넥크측정블럭(67)을 넥크(13)에 접근 및 이격시키는 액츄에이터(69)를 더 가진다.
각 스탠드(61)는 검사될 넥크(13)의 축선에 대해 등각도 간격으로 배치되어 있으며, 넥크측정블럭(67)을 지지한다.
각 넥크측정블럭(67)은, 해당 스탠드(61)를 따라 승강가능하게 설치되어 있는 지지부재(63)에 지지되어 있다. 지지부재(63)는 스탠드(61)의 상단에 설치되는 핸들(65)에 의해 높이 조절되어, 펀넬결합체(10)의 크기에 따라 측정 위치를 변경할 수 있게 된다. 넥크측정블럭(67)은 지지부재(63) 상에 고정된 액츄에이터(69)와, 액츄에이터(69)의 구동로드(71)에 연결되어 수평방향으로 전진 및 후퇴가능한 본체(73)를 갖는다. 본체(73)의 안정된 수평이동을 안내하기 위해 구동로드(71)와 평행하게 안내로드(75)가 마련되어 있다. 액츄에이터(69)에는 구동로드(71)의 이동한계를 설정하는 한쌍의 리미트센서(77)가 마련되어, 구동로드(71)의 과도한 이동을 제한한다.
본체(73)에는 상하 한쌍의 프루브(79)가 설치되어 있다. 이들 프루브(79)는 액츄에이터(69)에 의해 넥크(13)의 축선에 가로방향 즉 반경방향으로 이동하여 넥크(13)의 외벽면에 접촉하여 넥크(13)의 편심도 및 기울기를 측정한다. 이들 프루브(79)는 윤곽검사 프루브(47,59)들과 마찬가지로 선형차동트랜스퍼머로 이루어지는 것이 바람직하다.
한편, 본 발명에 따른 검사장치는 각 프루브(47,59,79)를 보호하는 안전커버(81)를 더 가진다. 일예로서 펀넬보조측정블럭에서 프루브와 커버의 설치상태를 도시한 도 5에 도시된 바와 같이, 안전커버(81)는, 본체(57)에 밀착 결합되는 결합부(83)와, 결합부(83)로부터 절곡 연장되어 프루브(59)의 상부 영역을 보호하는 커버부(85)를 가진다. 이로써, 펀넬결합체(10)의 이동 중에 프루브(59)의 파손을 방지할 수 있게 된다.
이러한 구성에 의하여, 검사될 펀넬결합체(10)가 지지블럭(29) 상에 적치되면, 푸싱유니트(37)가 펀넬(11)의 외벽면을 가압하여 스토퍼(31)에 접촉되도록 한다. 이에 의해, 검사될 펀넬결합체(10)는 미리 설정된 기준 위치에 고정된다. 그리고, 8개의 펀넬측정블럭(43)의 각 프루브(47)가 펀넬(11)의 모서리 영역의 스커트의 외벽면에 접촉되어 펀넬(11)의 윤곽을 측정한다. 동시에, 3개의 펀넬보조측정블럭(51)의 각 프루브(59)가 펀넬(11)의 스커트의 외벽면에 접촉되어 펀넬(11)의 윤곽을 측정한다.
또한, 각 스탠드(61)에 마련된 넥크측정블럭(67)의 프루브(79)가 넥크(13)의 외벽면에 접촉하여 넥크(13)의 편심도 및 기울기를 측정한다.
그리고, 검사가 완료되거나 검사를 위해 펀넬결합체(10)의 이동 중, 각 프루브(47,59,79)는 안전커버(81)에 의해 펀넬결합체(10)와 직접 접촉하지 않게 되어 파손을 방지할 수 있게 된다.
한편, 검사될 펀넬결합체(10)의 크기가 변경되는 경우, 4개의 베이스플레이트(23a~23d)를 펀넬결합체(10)의 크기에 대응하도록 지지플랫폼(17) 상의 소정의 측정좌표에 형성된 제1고정공(19)에 제1고정볼트(27)로 체결하고, 또한 3개의 펀넬보조측정블럭(51)을 펀넬결합체(10)의 크기에 대응하도록 지지플랫폼(17) 상의 소정의 측정좌표에 형성된 제2고정공(21)에 제2고정볼트(55)로 체결하여, 검사장치를 세팅한다.
또한, 검사될 펀넬결합체(10)의 크기가 변경됨으로써 넥크(13)의 측정 위치가 변경되면, 스탠드(61)의 상단에 설치된 핸들(65)로 넥크측정블럭(67)의 높이를 조절하여 검사장치를 세팅한다.
이로써, 다른 크기를 갖는 펀넬결합체(10)가 지지블럭(29) 상에 적치되면, 푸싱유니트(37)가 펀넬(11)의 외벽면을 가압하여 스토퍼(31)에 접촉시켜 검사될 펀넬결합체(10)를 설정된 기준 위치에 고정시킨다. 그리고, 8개의 펀넬측정블럭(43)과 3개의 펀넬보조측정블럭(51)의 각 프루브(47,59)가 펀넬(11)의 스커트의 외벽면에 접촉되어 펀넬(11)의 윤곽을 측정한다.
그리고, 각 스탠드(61)에 마련된 넥크측정블럭(67)의 프루브(79)가 넥크(13)의 외벽면에 접촉하여 넥크(13)의 편심도 및 기울기를 측정한다.
이와 같이, 지지블럭, 정렬부, 펀넬측정블럭 등이 설치된 베이스플레이트를 펀넬결합체의 크기에 대응하여 펀넬의 각 모서리 영역을 지지하도록 지지플랫폼 상에 착탈가능하게 결합함으로써, 즉 펀넬결합체의 크기에 따라 지지블럭, 정렬부, 펀넬측정블럭 등이 설치된 베이스플레이트의 위치 변동이 가능하게 되어, 다양한 크기의 펀넬결합체에 대해 신속하게 검사할 수 있으며, 이에 생산성을 향상시킬 수 있게 된다.
또한, 각 프루브를 보호하는 안전커버를 마련함으로써, 펀넬결합체의 이동 중에 펀넬결합체가 프루브에 접촉되는 것을 미연에 방지하여, 프루브의 파손을 방지할 수 있게 된다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 다양한 크기의 펀넬결합체에 대해 신속하게 검사할 수 있으며 생산성을 향상시킬 수 있으며, 또한 프루브의 파손을 방지할 수 있는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치를 제공한다.

Claims (8)

  1. 펀넬과, 상기 펀넬의 정부에 넥크가 결합된 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치에 있어서,
    상면에 평탄한 지지플랫폼을 갖는 프레임과;
    상기 펀넬결합체를 지지하는 지지블럭과, 상기 펀넬결합체를 소정의 측정 위치로 정렬시키는 정렬부와, 상기 펀넬의 윤곽을 측정하는 프루브를 갖는 펀넬측정블럭을 가지며, 상기 펀넬의 각 모서리 영역에 배치되어 상기 지지플랫폼에 착탈가능하게 결합되는 복수의 베이스플레이트와;
    검사될 상기 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼 상에 형성된 다수의 제1고정공과, 상기 제1고정공에 상기 베이스플레이트를 고정하는 제1고정볼트를 가지며, 검사될 상기 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼에 상기 베이스플레이트의 설치 위치를 조절하는 제1위치조절수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 넥크의 축선에 대해 방사상으로 배치되도록 상기 프레임에 설치된 복수의 스탠드와,
    상기 넥크의 편심도 및 기울기를 측정하는 프루브를 갖는 복수의 넥크측정블럭과,
    상기 각 스탠드에 설치되어 상기 넥크측정블럭을 상기 넥크에 대해 이동시키는 액츄에이터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 넥크측정블럭에는 한쌍의 프루브가 상기 넥크의 축선방향을 따라 상하 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 펀넬의 장변 및 단변 중 적어도 어느 하나의 중앙영역에 마련되어 상기 펀넬의 윤곽을 측정하는 프루브를 가지며, 상기 지지플랫폼에 착탈가능하게 결합되는 펀넬보조측정블럭과;
    검사될 상기 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼 상에 형성된 다수의 제2고정공과, 상기 제2고정공에 상기 펀넬보조측정블럭을 고정하는 제2고정볼트를 가지며, 검사될 상기 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼에 상기 펀넬보조측정블럭의 설치 위치를 조절하는 제2위치조절수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제1항에 있어서,
    상기 정렬부는 상기 펀넬의 외벽면에 접촉하는 스토퍼 및 상기 펀넬의 외벽면을 가압하는 푸싱유니트 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치.
  8. 제1항 내지 제4항 중 어느 한항에 있어서,
    상기 프루브를 보호하는 안전커버를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치.
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