KR100378976B1 - 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비 및작업 방법 - Google Patents

액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비 및작업 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100378976B1
KR100378976B1 KR10-2001-0017854A KR20010017854A KR100378976B1 KR 100378976 B1 KR100378976 B1 KR 100378976B1 KR 20010017854 A KR20010017854 A KR 20010017854A KR 100378976 B1 KR100378976 B1 KR 100378976B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
crystal cell
storage area
directly connected
brush cleaning
Prior art date
Application number
KR10-2001-0017854A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20020077774A (ko
Inventor
린옌시우
이시이미키야수
Original Assignee
샤프 가부시키가이샤
콴타 디스플레이 인코퍼레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 샤프 가부시키가이샤, 콴타 디스플레이 인코퍼레이티드 filed Critical 샤프 가부시키가이샤
Priority to KR10-2001-0017854A priority Critical patent/KR100378976B1/ko
Publication of KR20020077774A publication Critical patent/KR20020077774A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100378976B1 publication Critical patent/KR100378976B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67046Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly scrubbing means, e.g. brushes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3735Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

액정 디스플레이를 제조하기위한 인 라인 작업방법. 먼저 액정 셀을 제1 저장영역으로 부터 이송하여 로오더를 사용하여 공정 스테이션에 놓는다. 공정 스테이션 내의 션트/베벨 장치를 사용하여 액정 셀을 분리절단하고 모서리를 가공한다. 다음으로 액정셀을 세정하기 위한 브러쉬 세척장치로 곧바로 운반한다. 세정이 끝난 후, 반제품을 연결저장영역으로 부터 액정 셀에 편광판을 붙이기 위한 접합장치로 곧바로 운반한다. 반제품을 언로오더를 사용하여 제2 저장영역으로 운반한다. 반제품이 연결저장영역에 있는 동안 샘플 검사가 실시된다.

Description

액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비 및 작업 방법{IN-LINE OPERATION SYSTEM AND FLOW PLAN FOR MANUFACTURING LIQUID CRYSTAL DISPLAY}
본 발명은 액정 디스플레이(LCD;liquid crystal display)를 제조하는 방법에 관한 것으로서, 더 구체적으로 액정 디스플레이(LCD)를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비(in-line operation system) 및 작업 방법(flow plan)에 관한 것이다.
액정 디스플레이(LCD;liquid crystal display)는 휴대용 텔레비젼(portable television), 휴대폰(mobile telephone), 캠코더, 노트북 컴퓨터, 데스크탑 컴퓨터 및 프로젝션 텔레비젼(projection television)과 같은 다양한 전자제품 및 컴퓨터 제품에 사용된다.
액정 디스플레이가 가지고있는 주된 장점은 고화질, 가볍고 간소한 몸체, 저전압 구동 및 저전력 소모 등을 포함한다. 이로 인하여, 액정 디스플레이는 바람직한 디스플레이의 수단으로서 음극선관(CRT;cathode ray tube)를 점차 대체하고 있다. 액정 디스플레이의 주요부분은 두개의 투명 패널(panel)과 상기 두개의 투명 패널 사이의 액정 층으로 구성된 액정부(liquid crystal unit)이다. 최근에는, 박막트랜지스터(TFT;thin film transistor)가 액정 디스플레이 주요형태를 차지한다. 일반적으로, TFT형 액정 디스플레이를 제조하는 방법은 TFT어레이의 생산, 액정 셀의 조립 및 액정 모듈 제조의 세가지 그룹으로 묶을 수 있다.
TFT LCD의 생산에 있어서, TFT 어레이의 생산은 박막 트랜지스터 패널을 생산하는 것을 포함한다. 액정부(liquid crystal unit)의 조립은 두개의 박막 트랜지스터 패널을 합하여 두 패널 사이에 액정을 주입하여 액정부를 형성하는 것을 포함한다. 액정 모듈의 제조는 액정 디스플레이 패널에 편광판을 붙이고, 구동 IC가 있는 회로를 액정 디스플레이 패널 내에 연결하고, 반사판(reflector) 또는 후사광(back light)를 장치하는 것을 포함한다. 마지막으로 상기 모듈이 형성된 이후에 번인(burn-in) 테스트가 수행된다.
현재는 액정 셀 조립에서 액정 모듈을 조립하는 단계까지의 액정 디스플레이 제조에 오프라인 작업이 수행된다. 도 1은 액정 조립 에서 액정 모듈 조립까지의 액정 디스플레이를 제조하기 위한 통상적인 오프라인 작업방법의 단계를 나타내는 흐름도이다. 도 1의 제 100단계에서 보는 바와 같이, 액정 패널 사이의 공간에 액정이 봉입된 반제품을 제1 저장영역에 위치시킨다. 제 102단계에서, 로오더(loader)에 의해 제1 저장영역으로 부터 상기 반제품이 운반된다. 제 104단계에서, 완전히 조림된 액정셀은 분리절단 및 모서리가 가공된다. 제 106단계에서 상기 분리절단 및 모서리 가공공정을 진행하는 동안 형성된 유리찌꺼기를 제거한다. 제 108단계에서, 상기 반제품은 브러쉬 세척에 의해 더 세척된다. 제 110단계에서, 언로오더에 의해 상기 반제품은 제2 저장영역에 놓여진다.
도 1에서 보는바와 같이, 상기 반제품은 제 112단계에서 제2 저장영역으로 부터 이송되어 액정 셀 생산 단계 완료 후 광학 검사(visual inspection)를 실시한다. 제 114단계에서, 상기 반제품은 제3 저장영역에 놓여진다. 따라서, 상기 반제품은 액정 모듈의 제조가 필요할 때 상기 제3 저장영역으로 부터 가져올 수 있다. 이러한 이유로, 반제품이 생산라인으로 부터 이송되어 저장버퍼에 저장될 때까지의 액정 셀의 조립 및 액정 모듈의 조립 사이의 공정이 오프라인 작업의 전형적인 예이다.
도 1에서 보는 바와 같이 액정 디스플레이를 제조하기 위해서, 제 116단계에서 상기 검사된 액정 디스플레이 셀은 제3 저장영역으로 부터 이송된다. 제 118단계에서, 상기 액정 셀은 브러쉬 세척 되어 모든 노출면이 세척된다. 제 122단계에서, 상기 반제품은 생산라인으로 부터 제4 저장영역으로 언로드되어 이후 공정을 기다린다.
그러나, 액정 셀의 조립 및 액정 모듈의 조립 사이에 오프라인 작업을 선택하게 되면 적어도 50M 내지 60M 길이의 생산라인이 필요하다.
본 발명의 목적은 액적 셀을 생산하기 위한 조립라인과 액정 모듈을 생산하기 위한 조립라인을 직접 연결하기위하여 연결저장영역을 사용하는 작업방법 및 인 라인 작업 설비를 제공하는데 있다.
도 1은 액정 셀의 조립부터 액정 모듈의 조립까지 액정 디스플레이를 제조하기위한 종래의 오프라인 작업의 단계를 설명하는 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 셀 및 액정 모듈의 조립을 통합한 액정 디스플레이를 제조하기 위한 실시간 작업의 단계를 설명하는 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 셀 및 액정 모듈의 조립을 통합한 액정 디스플레이를 제조하기 위한 실시간 작업 설비를 나타내는 개념도이다.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 셀 및 액정 모듈의 조립을 통합한 액정 디스플레이를 제조하기 위한 실시간 작업의 단계를 나타내는 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 셀 및 액정 모듈의 조립을 통합한 액정 디스플레이를 제조하기위한 실시간 작업 설비를 나타내는 개념도이다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업(in line operation)을 제공한다. 먼저, 액정 셀은 제1 저장영역에서 이송되어 로오더(loader)에 의해 공정 스테이션(processing station)내에 놓여진다. 상기 액정 셀은 공정 스테이션 내의 션터/베벨(shunt and bevel) 장치에 의하여 꺾여 절단되고, 모서리가 가공된다. 상기 액정 셀은 세정을 위한 브러쉬 세척 장치로 곧바로 이송된다. 세정이 끝난 후, 반제품은 연결저장영역(linked stocking region)으로 부터 액정 셀에 편광판을 부착하기 위한 접합장치(affixing unit)로 곧바로 이송된다. 상기 반제품은 언로오더(unloader)에 의해 제2 저장영역으로 이송된다. 상기 반제품이 상기 연결저장영역에 있는 동안 샘플 검사를 수행할 수 있다. 상기 연결저장영역을 통과하는 동안 검사 완료된 상기 반제품은 편광판 부착을 위한 접합장치(affixing unit)로 이송되기 전에 제2 브러쉬 세척을 할 수도 있다.상기 제2 브러쉬 세척장치는 상기 연결저장영역 및 상기 접합장치 사이에 배치된다.
이에 더하여 본발명은 액정 셀을 보관하기 위한 저장영역, 션트/베벨장치(shunt and bevel unit), 브러쉬 세척장치, 연결저장영역, 접합장치, 검사장치 및 액정모듈 반제품을 저장하기 위한 제2 저장영역을 포함하는 인라인 작업설비를 제공한다. 상기 브러쉬 세척장치, 상기 검사장치, 상기 션트/베벨 장치 및 상기 연결저장영역은 함께 결합되어 있다. 더 나아가, 상기 접합장치에 결합된 언로오더(unloader)를 포함하고, 상기 션트 및 베벨장치에 결합된 로오더(loader)를 포함할 수 있다. 상기 접합장치 및 상기 연결저장영역에 제2 브러쉬 세척장치가 결합될 수도 있다.
액정 셀 조립라인 및 액정 모듈 조립라인 사이의 반제품 자동운반을 사용하여 저장영역의 수, 공정 장비 및 생산라인의 작업자의 수를 줄일 수 있다. 또한, 유리지꺼기 제거 및 브러쉬 세척 작업을 대체하는 단일 브러쉬 세척을 실시함으로써, 생산수율에 영향을 미치지 않고 생산라인의 길이를 감축할 수 있다. 이에 더하여, 연결저장영역에 검사실을 설치함으로써, 전체 광학적 검사를 생산라인 이외에서 실시하지 않고, 생산 라인 내에서 검사를 할 수 있다. 생산라인 외부에서 검사를 실시하지 않기 때문에 생산시간 및 생산을 위한 공간을 감축시킬 수 있다. 따라서, 생산 사이클을 단축할 수 있고, 생산수율이 증가하고 생산 라인 관리 또한 간략화할 수 있다.
상술한 일반적이고 구체적인 설명은 예시적인 것에 불과하고, 권리범위로서본 발명을 더 구체적으로 설명하기위하여 제공되는 것임은 명백하다.
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하도록한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 셀 및 액정 모듈의 조립을 통합한 액정 디스플레이를 제조하기 위한 온라인 작업의 단계를 설명하는 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 셀 및 액정 모듈의 조립을 통합한 액정 디스플레이를 제조하기 위한 온라인 작업설비를 나타내는 개념도이다.
본 발명에서 액정 셀을 조립하기 위한 단계의 일부는 일반적인 기술과 유사하다. 액정 디스플레이 패널에 액정이 봉입되었을 때, 액정 셀의 제조가 완료된 것으로 본다. 도 2 및 도 3에서 보여지는 것과 같이, 제 200단계에서 액정 셀(300)은 제1 저장영역(302)에 놓여진다. 계속해서 공정을 수행하기 위하여 상기 액정 셀(300)은 상기 제1 저장영역(302)로 부터 이송된다. 상기 제1 저장영역(302)는 예컨대, 자동저장장치에 내재될 수 있다.
제 202단계에서, 상기 제1 저장영역(302)로 부터 액정 셀의 반제품(300)을 이송시키는데 로오더(304)가 사용된다. 제 204단계에서, 상기 반제품(300)은 상기 로오더(304)에 의하여 션터/베벨 장치(306)로 옮겨진다. 상기 션터/베벨 장치(306)에서 상기 액정 셀(300)의 분리 절단 및 모서리 가공이 이루어진다. 상기 션트/베벨 장치(306)과 상기 로오더(304)는 직접 연결되어 있다.
제 206단계에서, 상기 분리절단되고 모서리 가공이 완료된 액정셀의 반제품은 상기 션트/베벨 장치(306)로 부터 브러쉬 세척장치(308)로 곧바로 운반된다. 상기 션트/베벨 장치(306) 내에서 발생한 상기 액정 셀의 모든 유리지꺼기가 세척된다. 상기 브러쉬 세척장치(308)및 상기 션트/베벨 장치(306)은 직접 연결되어 있다. 본 발명은 단일 브러쉬 세척단계(206)을 사용하여 도 1의 제 108단계에서 보여지는 것과 같은 유리 지꺼기 세척단계(106)를 실시하고 브러쉬 세척단계(108)를 실시하는 종래의 방법을 대체하였다. 따라서, 유리 지꺼기를 세척하는 한 단계를 줄일 수 있다. 제 208단계에서, 상기 브러쉬 세척된 반제품은 상기 브러쉬 세척장치(308)로 부터 연결저장영역(310)으로 곧바로 운반된다. 연결저장영역(310)으로 부터 상기 반제품은 다른 공정장치로 분배된다. 상기 연결저장영역(310) 및 상기 브러쉬 세척장치(308)은 직접 연결된다. 이데 더하여, 상기 연결저장영역(310) 내에 청정실(clean room) 제어설비가 되어있다.
제 210단계에서, 상기 액정 셀은 상기 연결저장영역(310)으로 부터 접합 장치(312)로 직접 운반된다. 상기 접합장치(312)에서 액정 모듈을 제조하기 위하여 상기 액정 셀의 일 표면(300a)에 편광판(314)이 부착된다. 상기 접합장치(312) 및 상기 연결저장영역(310)은 직접 연결된다.
본 발명의 특징 중 하나는 상기 브러쉬 세척장치 및 상기 접합장치가 상기 연결저장영역을 통하여 연결되어 있는 것이다. 따라서, 상기 액정 셀 조립라인 및 상기 액정모듈 조립라인이 함께 병합된다. 그 결과, 상기 브러쉬 세척된 반제품은 상기 브러쉬 세척장치로 부터 상기 접합장치로 곧바로 운반될 수 있다. 상기 액정 셀 조립라인 및 상기 액정 모듈 조립라인 사이에서의 반제품 자동운반은, 본 발명을 따른 인 라인 작업 방법을 구성한다.
이에 더하여, 도 3에서 보여지는 것과 같이 상기 연결저장영역(310) 및 검사장치(316)가 직접연결된다. 제 214단계에서, 상기 검사장치(316)에서 상기 액정 셀의 반제품의 비쥬얼 검사와 같은 샘플 검사가 실시된다. 모든 불량제품은 재처리 및 추가처리를 위하여 생산라인으로 부터 이전된다. 추가처리 및 재처리 후, 상기 반제품은 상기 검사장치(316)로 다시 보내질 수 있다. 상기 검사장치(316)에서 적절한 검사가 이루어진 후, 상기 반제품은 남은 공정을 계속하기 위하여 상기 연결저장영역(310)으로 옮겨진다. 더 나아가, 상기 공정 단계들 중 어떤 단계 내에서 불량이 발생하면, 상기 공정라인에 있는 반제품은 상기 연결저장영역(310)으로 부터 옮겨질 수 있다. 상기 불량의 원인이 제거되었을 때, 재처리된 반제품은 남은 작업을 수행하기 위하여 상기 연결저장영역(310)으로 되돌려질 수 있다.
제 212단계에서, 상기 편광판이 부착된 반제품은 상기 접합장치(312)로 부터 이송되어 언로오더(318)에 의하여 제2 저장영역(320)으로 운반된다. 상기 언로오더(318) 및 상기 접합장치(312)는 직접 연결되어 있다. 상기 제2 저장영역(320)은 반제품을 저장하기 위한 영역이다. 예컨대, 자동저장장치가 상기 제2 저장영역(320)이 될 수 있다.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 셀 및 액정 모듈의 조립을 통합한 액정 디스플레이를 제조하기 위한 일괄처리 작업의 단계를 나타내는 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 셀 및 액정 모듈의 조립을 통합한 액정 디스플레이를 제조하기위한 일괄처리 작업 설비를 나타내는 개념도이다.
본 발명의 제2 실시예에서, 액정 셀의 조립 및 액정 모듈의 조립하는 단계의일부는 상술한 제1 실시예와 동일하다. 액정 디스플레이 패널 내에 액정이 봉입될 때, 액정 셀의 제조가 완료되는 것을 본다. 도 4 및 도 5에서 보여지는 바와 같이, 제 400단계에서, 액정 셀(500)은 제1 저장영역(502)에 놓여진다. 계속해서 공정을 진행하기 위하여, 상기 액정 셀(500)은 상기 제1 저장영역(502)로 부터 이송된다. 상기 제1 저장영역(502)는 예컨대, 자동저장장치의 내부에 있을 수 있다.
제 402단계에서, 상기 액정 셀의 반제품(500)은 로오더(504)에 의하여 상기 제1 저장영역(502)로 부터 이송된다. 제 404단계에서, 상기 반제품 액정 셀(500)은 상기 로오더(504)에 의하여 션트/베벨 장치(506)로 운반된다. 상기 션트/베벨 장치(506)에서, 상기 액정 셀(500)은 분리절단 및 모서리 가공이 실시된다. 상기 션트/베벨 장치(506) 및 상기 로오더(504)는 직접 연결되어 있다.
제 406단계에서, 상기 분리절단되고, 모서리 가공이 이루어진 반제품 액정 셀은 상기 션트/베벨 장치(506)으로 부터 제1 브러쉬 세척 장치(508a)로 곧바로 운반된다. 상기 션트/베벨 장치(506)에서 상기 액정 셀의 표면에 형성된 유리지꺼기들이 깨끗하게 제거된다. 상기 제1 브러쉬 세척장치(508a) 및 상기 션트/베벨 장치(506)는 직접 연결되어 있다. 본 실시예에서, 도 1에서 보여지는 유리지꺼기를 제거하고 브러쉬 세척하는 단계를 실시하는 종래의 방법을 대체하여 단일 브러쉬 세척 단계를 사용함으로써 유리지꺼기 제거 단계를 한 단계 줄일 수 있다. 제 408단계에서, 브러쉬 세척된 상기 반제품은 상기 제1 브러쉬 세척장치(508a)로 부터 연결저장영역(510)으로 곧바로 운반된다. 상기 연결저장영역(510) 및 상기 제1 브러쉬 세척장치(508a)는 직접 연결되어 있다. 이에 더하여, 상기 연결저장영역(510)은 그 내부에 청정실(clean room) 제어설비를 갖추고 있다.
제 410단계에서, 상기 액정 셀은 상기 연결저장영역(510)으로 부터 제2 브러쉬 세척장치(508b)로 곧바로 운반된다. 상기 제2 브러쉬 세척장치(508b)에서 상기 액정 셀의 표면은 완전히 세정된다. 상기 제2 브러쉬 세척장치(508b)는 상기 제1 브러쉬 세척장치(508a)와 마찬가지로 상기 연결저장영역(510)에 직접 연결되어 있다. 상술한 제1 실시예와 유사하게, 상기 액정 셀 조립라인 및 상기 액정 모듈 조립라인은 상기 제1 브러쉬 세척장치, 상기 연결저장영역 및 상기 제2 브러쉬 세척장치의 연결을 통하여 함께 통합된다. 상기 액정 셀 조립라인 및 상기 액정 모듈 조립라인 사이의 반제품 자동운반 본 발명에 따른 인 라인 작업방법의 구성요소이다.
제 412단계에서, 상기 세정된 액정 셀은 상기 제2 브러쉬 세척장치(508b)로 부터 접합장치(512)로 곧바로 운반된다. 상기 접합장치(512)에서, 편광판(514)이 상기 액정 셀의 일 표면(500a)에 부착되어 액정 모듈 조립을 진행한다. 상기 접합장치(512) 및 상기 제2 브러쉬 세척장치(508b)는 직접 연결되어 있다.
본 발명의 제1 실시예와 마찬가지로, 도 3에서 보는 바와 같이 상기 연결저장영역(510) 및 검사장치(516)가 직접 연결되어 있다. 제 416단계에서 비쥬얼 검사와 같은 반제품 액정 디스플레이의 샘플 검사가 상기 검사장치에서 실시된다. 결함이 있는 제품들은 추가처리 또는 재처리를 위하여 상기 생산라인으로 부터 이전된다. 추가 처리 또는 재처리 후, 상기 반제품은 상기 검사장치(516)로 다시 보내질 수 있다. 상기 검사 장치(516)에서 적절한 검사가 수행된 후, 상기 반제품은 상기연결저장영역(510)으로 운반되어 남은 생산 단계가 계속된다.
제 414단계에서, 상기 편광판이 부착된 반제품은 상기 접합장치(512)에서 이송되어 언로오더(518)에 의하여 제2 저장영역(520)으로 운반된다. 상기 언로오더(518) 및 상기 접합 장치(512)는 직접 연결되어 있다. 상기 제2 저장영역은 반제품을 저장하기 위한 영역이다. 예컨대, 상기 제2 저장영역은 자동저장장치가 될 수도 있다.
본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않는다. 따라서, 많은 변형이 본 발명의 기술적 사상 내에서 당분야에 통상의 지식을 가진 자에 의하여 가능함은 명백하다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명의 인 라인 작업은 연결저장영역을 사용하여 액정 셀 조립라인과 액정 모듈 조립라인을 통합한다. 따라서, 반제품은 상기 두 조립라인 사이에서 자동으로 운반될 수 있다. 그 결과, 자동 저장 장치의 갯수, 오프라인 작업을 위한 로오더 및 언로오더의 갯수 및 작업자의 수를 줄일 수 있어 장비 및 생산 단가를 줄일 수 있다.
본 발명은 액정 셀 조립라인 및 액정 모듈 조립라인을 연결하는 연결저장영역을 사용할 뿐만 아니라, 따로 실시하던 유리지꺼기 세정 및 브러쉬 세척 단계를 대체하는 단일 브러쉬 세척 단계를 사용한다. 따라서, 제품의 품질에 영향을 주지않고, 유리 지꺼기 세정장치를 줄일 수 있다. 생산라인의 전체 길이도 약 25M 내지 30M 정도가 되기 때문에 설비투자, 생산관리 및 생산주기를 줄일 수 있다.
또한, 연결저장영역에 검사실을 설치함으로써, 오프라인 검사를 위한 공간 및 시간이 필요없이 상기 연결저장영역을 지나는 반제품의 광학적 검사를 할 수 있다. 따라서, 생산 단가가 줄어들고 생산 수율이 향상된다.

Claims (10)

  1. 액정 디스플레이 제조를 위한 인 라인 작업에 있어서,
    저장 영역으로 부터 액정 셀을 이송하는 단계;
    상기 액정 셀을 분리절단 및 모서리 가공작업을 실시하기 위한 션트/베벨 장치로 운반하는 단계;
    상기 액정 셀을 브러쉬 세척을 위하여 상기 션트/베벨 장치에 직접 연결된 브러쉬 세척장치로 운반하는 단계;
    상기 액정 셀을 상기 브러쉬 세척장치와 직접연결된 연결저장영역으로 운반하고 상기 액정 셀을 상기 연결저장영역에서 상기 연결저장영역에 직접 연결된 접합장치로 운반하는 단계;및
    상기 액정 셀의 일 표면에 편광판을 부착하는 단계를 포함하는 인 라인 작업방법.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 저장영역으로 부터 상기 액정 셀을 이송하는 단계에서 로오더를 사용하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 인 라인 작업방법.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 액정 셀을 상기 연결저장영역으로 운반하는 단계에 상기 액정 셀의 샘플 검사를 수행하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인 라인 작업방법.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 액정 셀을 상기 연결저장영역으로 운반한 이후, 접합 장치에서 상기 편광판을 부착하기 이전에 상기 액정 셀의 부착면을 세척하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인 라인 작업방법.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 액정 셀의 표면에 상기 편광판을 부착한 후에,
    상기 액정 셀을 반제품 저장 영역으로 운반하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인 라인 작업방법.
  6. 제5 항에 있어서, 상기 액정 셀을 상기 반제품 저장 영역으로 운반하는 단계에서 언로오더를 사용하는 것을 포함하는 인 라인 작업방법.
  7. 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업설비에 있어서,
    제1 저장영역으로 부터 복수개의 액정 셀을 가져오기 위한 로오더;
    상기 로오더와 직접 연결되고, 각각의 액정셀을 분리절단 및 모서리 가공을 하기 위한 션트/베벨 장치;
    상기 션트/베벨 장치에 직접 연결되고, 각각의 액정 셀을 브러쉬 세척하기위한 브러쉬 세척장치;
    상기 브러쉬 세척장치에 직접 연결되고, 각각의 액정 셀을 운반하기 위한 연결저장영역;
    상기 연결저장영역에 직접 연결되고, 각각의 액정 셀의 표면에 편광판을 부착하기위한 접합장치;및
    상기 접합장치와 직접 연결되고, 상기 편광판이 부착된 액정셀을 제2 저장영역으로 운반하기 위한 언로오더를 포함하는 인 라인 작업설비.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 이동하는 액정 셀을 검사하기 위하여 상기 연결저장영역에 직접 연결된 검사장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인 라인 작업설비.
  9. 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인라인 작업 설비에 있어서,
    제1 저장영역으로 부터 복수개의 액정 셀을 가져오기 위한 로오더;
    상기 로오더와 직접 연결되고, 각각의 액정셀을 분리절단 및 모서리 가공을 하기 위한 션트/베벨 장치;
    상기 션트/베벨 장치에 직접 연결되고, 지나가는 각각의 액정 셀을 브러쉬 세척하기 위한 제1 브러쉬 세척장치;
    상기 제1 브러쉬 세척장치에 직접 연결되고, 각각의 액정 셀을 운반하기 위한 연결저장영역;
    상기 연결저장영역에 직접 연결되고, 지나가는 각각의 액정 셀을 브러쉬 세척하기 위한 제2 브러쉬 세척장치;
    상기 제2 브러쉬 세척장치에 직접 연결되고, 각각의 액정 셀의 표면에 편광판을 부착하기위한 접합장치;및
    상기 접합장치와 직접 연결되고, 상기 편광판이 부착된 액정셀을 제2 저장영역으로 운반하기 위한 언로오더를 포함하는 인 라인 작업설비.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 연결저장영역에 결합되어 있고, 지나가는 액정 셀을 검사하기 위한 검사장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인 라인 작업설비.
KR10-2001-0017854A 2001-04-04 2001-04-04 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비 및작업 방법 KR100378976B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0017854A KR100378976B1 (ko) 2001-04-04 2001-04-04 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비 및작업 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0017854A KR100378976B1 (ko) 2001-04-04 2001-04-04 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비 및작업 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20020077774A KR20020077774A (ko) 2002-10-14
KR100378976B1 true KR100378976B1 (ko) 2003-04-07

Family

ID=37490236

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0017854A KR100378976B1 (ko) 2001-04-04 2001-04-04 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비 및작업 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100378976B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100920158B1 (ko) 2008-06-18 2009-10-06 (주)에이원메카 엘씨디 셀 라인의 일직선 셀 에이징 장치 및 셀 에이징방법

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101435323B1 (ko) * 2013-02-28 2014-08-27 세메스 주식회사 디스플레이 셀들을 검사하기 위한 장치
CN114488589A (zh) * 2022-03-06 2022-05-13 新谱(广州)电子有限公司 一种超大型液晶模组组装自动化流水线

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000047436A (ko) * 1998-12-25 2000-07-25 아끼구사 나오유끼 반송 장치, 반송 방법 및 반송 시스템

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000047436A (ko) * 1998-12-25 2000-07-25 아끼구사 나오유끼 반송 장치, 반송 방법 및 반송 시스템

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100920158B1 (ko) 2008-06-18 2009-10-06 (주)에이원메카 엘씨디 셀 라인의 일직선 셀 에이징 장치 및 셀 에이징방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20020077774A (ko) 2002-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7525336B2 (en) Method and apparatus for testing liquid crystal display device
KR101935780B1 (ko) 액정표시장치 제조라인
KR101476849B1 (ko) 박리 및 안착 통합 장치와, 이를 이용한 액정표시장치의제조방법
US20190384078A1 (en) Lighting jig for returning to light-on and panel detecting method thereof
US7637799B2 (en) Substrate production apparatus for producing a substrate for a display device
KR20030077076A (ko) 액정 패널의 제조장치 및 방법
US6190224B1 (en) Automation system and a method for assembling a workpiece
KR100378976B1 (ko) 액정 디스플레이를 제조하기 위한 인 라인 작업 설비 및작업 방법
KR101084970B1 (ko) 기판 에지 검사 방법
US6549262B2 (en) In-line operation system and flow plan for manufacturing liquid crystal display
JPS5895383A (ja) マトリクス形表示装置
KR101298358B1 (ko) 액정표시장치 제조용 연마장치 및 연마방법
US20190279545A1 (en) System of inspecting display panel and method of inspecting display panel
JP2000216230A (ja) Tft基板固定用治具及びtft基板の断線検出装置
KR20030095888A (ko) 액정 패널의 이송장치
KR20050114132A (ko) 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법
JP2008042205A (ja) V字状のパレット
JP2824101B2 (ja) 表示装置の欠陥修正装置
KR20060068997A (ko) 액정표시장치 제조용 연마 및 세정 시스템
KR101002348B1 (ko) Lcd 패널용 연마장치
KR20040054244A (ko) 액정표시장치를 제조하기 위한 인라인 장치
KR20090006456A (ko) 액정패널 검사장치 및 검사방법
KR20050069109A (ko) 액정표시장치의 기판 언로딩 방법
US20140011299A1 (en) Manufacturing apparatus and method of liquid crystal panel
KR20100059481A (ko) 기판 검사 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130228

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140303

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150217

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160219

Year of fee payment: 14

LAPS Lapse due to unpaid annual fee