KR100324444B1 - Work Table Structure of Liquid Crystal Display Inspecting System - Google Patents
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Abstract
본 발명은 엘시디(LCD)의 성능 테스트 시 LCD와 프로버 핀과의 신속하고 정확한 접촉을 유도하여 에러를 방지하기 위한 LCD 검사 시스템의 워크 테이블 구조에 관한 것이다. 상기 본 발명은 다수의 LCD 카셋트를 공급할 수 있도록 스택커를 구비한 인덱스 스테이지와, 상기 인덱스 스테이지의 스택커로부터 공급되는 LCD를 운반하기 위한 콘베이어를 구비하고 운반된 LCD를 정렬하기 위한 프리 얼라이너와, 상기 콘베이어에 의해 이송되고 프리 얼라이너에 의해 정렬된 LCD를 검사할 수 있도록 LCD를 이송시키는 캐리어와, 상기 캐리어에 의해 이송되어 검사할 수 있도록 셋팅하는 워크 테이블로 이루어지는 LCD 검사 시스템에 있어서, 상기 워크 테이블은 베이스 블록과; 상기 베이스 블록의 상부에 안착되고, 소정방향으로 이동가능한 이동블록과; 상기 이동블록의 상부에 설치되고, 상하로 승강 가능하게 설치된 상승블록과; 상기 상승블록의 상부 양측에 삽설되어 좌우로 이동 가능하게 설치된 LM 블록과; 상기 LM 블록의 상부에 설치되는 워크 테이블 플레이트와; 상기 워크 테이블 플레이트의 상부에 설치되어 이송된 LCD를 고정하는 LCD 고정플레이트로 구성되는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a work table structure of an LCD inspection system for preventing errors by inducing quick and accurate contact between the LCD and the prober pin during performance testing of LCD. The present invention has an index stage having a stacker for supplying a plurality of LCD cassettes, a pre-aligner for aligning the conveyed LCD and having a conveyor for transporting the LCD supplied from the stacker of the index stage; 1. An LCD inspection system comprising: a carrier for transferring an LCD so as to inspect an LCD arranged by a conveyor and aligned by a pre-aligner; and a work table that is set to be inspected by a carrier. The table includes a base block; A moving block seated on an upper portion of the base block and movable in a predetermined direction; An elevation block installed at an upper portion of the movable block and installed up and down; An LM block inserted in both upper sides of the rising block and installed to move left and right; A work table plate installed at an upper portion of the LM block; It is characterized by consisting of an LCD fixing plate for fixing the LCD is installed on the upper portion of the work table plate.
Description
본 발명은 엘시디(LCD; Liquid Crystal Display) 검사 시스템의 워크 테이블 구조에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 엘시디(이하, 'LCD'라 함)의 성능 테스트 시 LCD와 프로버 핀과의 신속하고 정확한 접촉을 유도하여 에러를 방지하기 위한 LCD 검사 시스템의 워크 테이블 구조에 관한 것이다.The present invention relates to a work table structure of a liquid crystal display (LCD) inspection system, and more particularly, to quickly and accurately contact an LCD and a prober pin during performance testing of an LCD (hereinafter, referred to as 'LCD'). It relates to a work table structure of the LCD inspection system to prevent errors by inducing.
일반적으로 LCD(Liquid Crystal Display)는 투명 전극막을 붙인 2장의 유리판 사이에 액정을 집어넣은 샌드위치 구조의 디스플레이 패널이다. 그리고, 액정은 유동성을 갖는 액체와 분자가 규칙적으로 배열하는 결정과의 중간 상태를 가지는 물질로 양자의 성질을 함께 갖추고 있다. 상기 액정은 길고 가느다란 막대기 모양의 분자 구조를 갖는 유기 화합물로서 광학적 굴절률과 유도 전류율에 이방성을 나타낸다.In general, an LCD (Liquid Crystal Display) is a sandwich-type display panel in which a liquid crystal is inserted between two glass plates attached with a transparent electrode film. The liquid crystal is a material having an intermediate state between a liquid having fluidity and a crystal in which molecules are regularly arranged, and have both properties. The liquid crystal is an organic compound having a long, thin rod-shaped molecular structure and exhibits anisotropy in optical refractive index and induced current rate.
상기 액정은 자체 발광형 디스플레이 장치가 아니기 때문에 패널 외면에 광원이 필요하게 되고, 음극선관(CRT)와 비교해서 얇은판 모양으로 구성할 수 있는 점과 풀 컬러화를 이룰 수 있는 점등의 이유로 실용화가 급속도로 이루어지고 있다.Since the liquid crystal is not a self-luminous display device, a light source is required on the outer surface of the panel, and compared to the cathode ray tube (CRT), the liquid crystal can be configured in a thin plate shape and the practical use is rapid due to the lighting that can achieve full color. Is being done.
LCD는 크게 TN형 LCD와, GH형 LCD와, TFT LCD의 3가지 타입으로 분류할 수 있다.LCDs can be classified into three types: TN type LCD, GH type LCD, and TFT LCD.
첫째, TN형 LCD는 표시형으로 많이 사용하고 있는 꼬임 네머틱(TWISTED NEMATIC:TN)이라는 액정을 사용하고, 투명 전극막을 부여한 2장의 유리판 사이에 끼워서 구성되며, 상기 유리표면에는 러빙(RUBBING)이라는 특수한 처리를 실시하여제조한다.First, a TN type LCD uses a liquid crystal called TWISTED NEMATIC (TN), which is frequently used as a display type, and is sandwiched between two glass plates provided with a transparent electrode film. Manufacture by special treatment.
둘째, GH형 LCD란 상기 TN형 액정 베이스(호스트)에 염료(게스트)를 가함으로써 컬러 표시를 가능하게 제조한 것이다.Second, the GH type LCD is a color display can be produced by adding a dye (guest) to the TN type liquid crystal base (host).
셋째, TFT LCD는 유리 기판 상에 트랜지스터와 표시 화소전극(PIXEL)을 조합한 화소를 매트릭스 형태로 배열시키고 투명한 공통전극을 붙인 1장의 유리로 TN 액정을 끼우고 각각의 화소에 대향한 위치에 3원색 매트릭스로 이루어지는 컬러 필터를 배치하고, 액정을 구동하는 FET(FIELD EFFECT TRANSISTOR)가 유리 기판 상에 함께 구성하여 이루어진다. 이때, 상기 FET(FIELD EFFECT TRANSISTOR)는 박막 기술로 만들어지므로 TFT(THIN FILM TRANSISTOR)라 불려진다.Third, TFT LCD arranges pixels in combination with transistor and display pixel electrode (PIXEL) on a glass substrate in a matrix form, inserts TN liquid crystal into one glass with transparent common electrode, The color filter which consists of a primary color matrix is arrange | positioned, and the FET (FIELD EFFECT TRANSISTOR) which drives a liquid crystal is comprised together on a glass substrate. In this case, the FET (FIELD EFFECT TRANSISTOR) is made of a thin film technology and is called TFT (THIN FILM TRANSISTOR).
최근의 TFT LCD는 저소비전력, 경박단소화 등의 특징으로 여러 전자장치, 예컨대 계산기, 전화기, 전자수첩, 노트북 등의 디스플레이로 활용되고 있다. 또한, LCD의 제조기술 및 구동기술의 진보로 7-세그먼트 구성에서 도트매트릭스 구성으로 발전하고 있으며, 현재의 추세로는 도트매트릭스 구성이 주종을 이루고 있다.In recent years, TFT LCDs have been utilized as displays for various electronic devices such as calculators, telephones, electronic notebooks, notebooks, and the like with low power consumption and light and small size. In addition, the advancement of LCD manufacturing technology and driving technology is progressing from the 7-segment configuration to the dot matrix configuration, and the current trend is mainly the dot matrix configuration.
LCD는 표시하고자 하는 정보량이 많아질수록 전극수가 증가하기 때문에 LCD 구동장치와 LCD 간의 회로연결이 복잡해지게 된다. 따라서, LCD의 회로연결을 테스트하기 위한 장치가 요구되어 진다.Since the number of electrodes increases as the amount of information to be displayed on the LCD increases, the circuit connection between the LCD driver and the LCD becomes complicated. Therefore, a device for testing the circuit connection of the LCD is required.
종래의 LCD 테스트 장치는 주로 7-세그먼트방식을 테스트하기 위한 것으로 키 입력을 통해 LCD의 각 세그먼트의 연결상태를 테스트하였다.The conventional LCD test apparatus is mainly for testing the 7-segment method, and the connection state of each segment of the LCD is tested through key input.
그러나, 현재 주종을 이루고 있는 도트매트릭스 구성으로 이루어진 LCD는 테스트 시에는 모든 세그먼트를 테스트하지 못하는 문제점이 있었다.However, the LCD composed of the dot matrix configuration, which is currently dominated, has a problem that all segments cannot be tested during the test.
본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, LCD와 프로버 핀과의 전기적인 접촉을 신속하고 정확하게 할 수 있는 LCD 검사 시스템의 워크 테이블 구조를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem in the related art, and an object thereof is to provide a work table structure of an LCD inspection system that can quickly and accurately make electrical contact between an LCD and a prober pin.
도1은 본 발명의 엘시디(LCD) 검사 시스템을 나타낸 사시도,1 is a perspective view showing an LCD (LCD) inspection system of the present invention,
도2는 본 발명의 워크 테이블(Work Table)의 구조를 나타낸 확대 사시도,2 is an enlarged perspective view showing the structure of a work table of the present invention;
도 3은 본 발명의 워크 테이블의 구조를 나타낸 사시도이다.3 is a perspective view showing the structure of the work table of the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
10 : 베이스 블록 12 : 이동블록10: base block 12: moving block
14 : 상승블록 16 : LM 가이드14: ascending block 16: LM guide
18 : LM 레일 20 : LM 블록18: LM rail 20: LM block
22 : 받침 플레이트 24 : 워크 테이블 플레이트22: support plate 24: work table plate
26 : LCD 고정테이블 100 : 인덱스(INDEX) 스테이지26: LCD fixed table 100: INDEX stage
101 : 인덱스 프레임 102 : 프리(PRE) 얼라이너(ALIGNER)101: index frame 102: PRE aligner (ALIGNER)
104 : 워크 테이블 유닛 106 : 메인 프레임104: work table unit 106: main frame
108 : 캐리어 110 : 캐리어 프레임108: carrier 110: carrier frame
112 : 스택커112: stacker
상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 다수의 LCD 카셋트로부터 LCD(미도시됨)를 공급할 수 있도록 스택커가 구비된 인덱스 스테이지와, 상기 인덱스 스테이지의 스택커로부터 공급되는 LCD를 운반하기 위한 콘베이어가 구비되고 상기 운반된 LCD를 정렬하기 위한 프리 얼라이너와, 상기 콘베이어에 의해 이송되고 프리 얼라이너에 의해 정렬된 LCD를 검사할 수 있도록 이송시키는 캐리어와, 상기 캐리어에 의해 이송되어 검사할 수 있도록 셋팅하는 워크 테이블로 이루어지는 LCD 검사 시스템에 있어서, 상기 워크 테이블은 베이스 블록과, 상기 베이스 블록의 상부에 얹혀지도록 설치되고 전후좌우 그리고, 회전과 상승이 가능하게 설치된 이동블록과, 상기 이동블록의 상부에 연속하여 설치되고 상하로 승강 가능하게 설치된 상승블록과, 상기 상승블록의 상부 양측에 삽설되어 좌우로 이동 가능하도록 설치된 LM 블록과, 상기 LM 블록의 상부에 얹혀져 이동되는 받침 플레이트의 상부에 설치된 워크 테이블 플레이트와; 상기 워크 테이블 플레이트의 상부에 설치어 이송된 LCD를 고정하는 LCD 고정플레이트로 구성되는 것을 특징으로 하는 엘시디 검사시스템의 워크테이블 구조를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides an index stage equipped with a stacker to supply LCD (not shown) from a plurality of LCD cassettes, and a conveyor for carrying an LCD supplied from the stacker of the index stage. A pre-aligner for aligning the conveyed LCD, a carrier for conveying the LCD conveyed by the conveyor and aligned by the pre-aligner, and a setting for inspecting the conveyed by the carrier. In the LCD inspection system consisting of a work table, the work table is a base block, a movable block installed to be mounted on the upper portion of the base block, front and rear, right and left, and rotatable and ascendable, and continuous on top of the movable block. And a rising block installed to be capable of lifting up and down, and the rising block An LM block inserted in both upper sides of the LM block and installed on the upper side of the LM block; It provides a work table structure of the LCD inspection system, characterized in that consisting of the LCD fixing plate for fixing the LCD installed and transported on top of the work table plate.
이상에서와 같이 본 발명의 LCD 검사 시스템의 워크 테이블 구조는 LCD의 테스트 시 프로버 핀과의 테스트 접촉을 정확하게 유도하여 LCD의 검사 에러율을 줄일 수 있는 이점이 있다. 또한, LCD를 신속하고 정확하게 이동시킬 수 있으므로 결론적으로 그 생산성이 향상되는 효과가 있다.As described above, the work table structure of the LCD inspection system of the present invention has an advantage of reducing the test error rate of the LCD by accurately inducing a test contact with the prober pin when the LCD is tested. In addition, since the LCD can be moved quickly and accurately, the productivity is improved in conclusion.
(실시예)(Example)
첨부된 도1은 본 발명의 엘시디(LCD) 검사 시스템을 나타낸 사시도이고, 도2는 본 발명의 워크 테이블(Work Table)의 구조를 나타낸 확대 사시도이고, 도 3은 본 발명의 워크 테이블의 구조를 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view showing an LCD (LCD) inspection system of the present invention, Figure 2 is an enlarged perspective view showing the structure of the work table of the present invention, Figure 3 is a structure of the work table of the present invention It is a perspective view shown.
본 발명의 LCD 검사 시스템은 도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 메인 프레임(106)과, 상기 메인 프레임(106)의 내측에 설치되고, 인덱스 프레임(10)의 상부에 LCD를 공급하기 위한 스택커(112)가 구비되어 있고, 상기 인덱스 프레임(10)의 안쪽에 볼스크류(미도시됨)에 의해 공급이 이루어지도록 설치된 인덱스 스테이지(100)와, 상기 스택커(112)로부터 공급된 LCD를 이송하기 콘베이어(34)를 구비하고, 공급된 LCD를 틸팅시키기 위한 프리 얼라이너(102)와, 상기 프리 얼라이너(102)로 공급된 LCD를 테스트하기 위한 워크 테이블 유닛(104)과, LCD를 상기 워크 테이블 유닛(104)으로 이동시키기 위해 캐리어 프레임(110)에 설치된 캐리어(108)로 이루어진다.As shown in FIGS. 1 to 3, the LCD inspection system of the present invention is installed inside the main frame 106 and the main frame 106, and for supplying the LCD to the upper part of the index frame 10. The stacker 112 is provided, the index stage 100 is provided to be supplied by a ball screw (not shown) inside the index frame 10, and the LCD supplied from the stacker 112 And a pre-aligner 102 for tilting the supplied LCD, a work table unit 104 for testing the LCD supplied to the pre-aligner 102, and an LCD. Is made up of a carrier 108 installed in the carrier frame 110 to move it to the work table unit 104.
상기 워크 테이블 유닛(104)은 메인 프레임(106)에 베이스 블록(10)이 고정되어 있고, 상기 베이스 블록(10)의 상부에는 이동블록(12)이 설치되어 있다. 상기 이동블록(12)은 전후좌우 그리고 회전동작이 가능하도록 이루어져 있으며, Z축방향으로도 이동이 가능한 장점이 있다.The work table unit 104 has a base block 10 fixed to the main frame 106, and a moving block 12 is provided above the base block 10. The moving block 12 is made to enable the front and rear, right and left rotation operation, there is an advantage that can move in the Z-axis direction.
계속해서, 상기 이동블록(12)의 상부에는 상승블록(14)이 설치되어 있는데, 상기 상승블록(14)은 그 내측에 볼스크류를 내장하여 상하로 이동이 가능하도록 구성되어 있다.Subsequently, a rising block 14 is provided at an upper portion of the moving block 12. The rising block 14 has a ball screw inside thereof, and is configured to be movable up and down.
그리고, LM 가이드(16)와 LM 레일(18)로 이루어진 LM 블록(20)은 상기 상승블록(14)의 상부 양측에 평행하게 설치되어 있고, 상기 LM 블록(20)의 상부에는 받침 플레이트(22)가 설치되어 상기 LM 블록(20) 위를 자유롭게 미끄럼 이동할 수 있도록 설치되어 있으며, 상기 받침 플레이트(22)의 상부에는 워크 테이블 플레이트(24)가 고정되어 있다. 이때, 상기 LCD는 상기 워크 테이블 플레이트(24)의 상부에 설치되고 상부가 개구된 박스 형태의 LCD 고정테이블(26)에 고정 설치되어 진다.In addition, the LM block 20 including the LM guide 16 and the LM rail 18 is installed in parallel to both sides of the upper portion of the rising block 14, and the support plate 22 is disposed on the upper portion of the LM block 20. ) Is installed to slide freely on the LM block 20, the work table plate 24 is fixed to the upper portion of the support plate 22. In this case, the LCD is installed on the upper part of the work table plate 24 and fixed to the LCD fixed table 26 of a box shape having an upper portion.
이상과 같은 본 발명의 워크 테이블 유닛(104)은 메인 프레임(10)에 고정되어 상기 프리 얼라이너(102)에 의해 초기 정렬이 이루어진 후, 캐리어(108)에 의해 이송된 후, 동작이 이루어지며 LCD가 상기 LCD 고정플레이트(26)에 놓여지면 하부에 설치된 상승블록(14)이 승하강 시켜서 프로버 핀(미도시됨)과의 전기적인 접촉을 정확하고 신속하게 할 수 있다.The work table unit 104 of the present invention as described above is fixed to the main frame 10, the initial alignment is made by the pre-aligner 102, after being transported by the carrier 108, the operation is made When the LCD is placed on the LCD fixing plate 26, the rising block 14 installed at the lower side of the LCD may move up and down to accurately and quickly make electrical contact with the prober pin (not shown).
또한, 상기 이동블록(12)은 상기 프로버 핀과의 접촉을 성공적으로 마친 LCD를 이동시켜 배출하거나 프로버 핀과의 접촉을 정확하게 하여 테스트를 완료할 수 있도록 전후좌우, 회전 및 승강시켜서 셋팅된다.In addition, the moving block 12 is set by moving back and forth, left and right, rotated and lifted so as to complete the test by moving and discharging the LCD which has successfully completed contact with the prober pin or making accurate contact with the prober pin. .
이상에서와 같이 본 발명의 LCD 검사 시스템의 워크 테이블 구조는 LCD의 테스트 시 프로버 핀과의 테스트 접촉을 정확하게 유도하여 LCD의 검사 에러율을 줄일 수 있는 이점이 있다. 또한, LCD를 신속하고 정확하게 이동시킬 수 있으므로 결론적으로 그 생산성이 향상되는 효과가 있다.As described above, the work table structure of the LCD inspection system of the present invention has an advantage of reducing the test error rate of the LCD by accurately inducing a test contact with the prober pin when the LCD is tested. In addition, since the LCD can be moved quickly and accurately, the productivity is improved in conclusion.
Claims (3)
Priority Applications (4)
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- 1999-11-19 KR KR1019990051556A patent/KR100324444B1/en not_active IP Right Cessation
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| N231 | Notification of change of applicant | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20100129 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |