KR100315966B1 - Short-circuit location detector - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An apparatus for detecting a position of short-circuit is provided to detect a position of short-circuit within a short time by simplifying a structure of a short-circuit position detector. CONSTITUTION: A low resistance detection portion(7) is formed with an oscillator(1), an automatic range setup portion(2) for changing automatically a bias voltage, an AC constant current source(3) for generating AC constant current, an output terminal(4), a low resistance detector(6), and an amplifier(12). An A/D converter(8) converts an analog output value of the amplifier(12) to a digital value. A microprocessor unit(9) compares an output value of the A/D converter(8) with a predetermined range value and changes a sound. A speaker(10) is used for outputting an output of the microprocessor unit(9) by an audible frequency. A drive circuit(11) is used for driving the speaker(10) by amplifying the output of the microprocessor unit(9).

Description

단락위치검출장치 {Short-circuit location detector}Short-circuit location detector

본 발명은 전자부품이 조립된 상태에서 부품 단락 또는 PCB상의 단락(短絡)위치를 검출할 수 있는 단락위치검출장치에 관한 것으로, 특히 음향의 변화에 의하여 단락위치를 찾아 낼 수 있도록 한 단락위치검출장치에 관한 것이다.The present invention relates to a short-circuit position detection device capable of detecting a short-circuit or a short-circuit position on a PCB in an assembled electronic component, in particular, a short-circuit position detection capable of finding a short-circuit position by a change in sound. Relates to a device.

주지하는 바와 같이 PCB에는 각종 전자부품이 상호 연결되어 회로를 구성하고 있는 것이며, 점차 전자부품의 갯수가 많아지고 PCB의 패턴도 복잡하게 되는 추세에 있다.따라서 솔더링(납땜) 기술상의 문제나 부품의 불량으로 인하여 PCB에 고정된 전자부품의 결선상태가 단락되는 경우가 발생하게 된다.As is well known, various electronic components are interconnected in a PCB to form a circuit, and the number of electronic components is increasing and the pattern of the PCB is also becoming complicated. Due to the defect, the wiring state of electronic components fixed to the PCB may be shorted.

또한 정상적으로 조립된 PCB인 경우에도 사용과정에서 부품이 고장을 일으켜 단락을 일으키는 경우가 발생한다.이러한 경우에 종래에는 숙련자가 저항 테스터기의 프로브를 예상 위치에 대고 저항값을 측정하여 단락위치를 찾아내도록 하였으므로 숙련된 작업인력이 필요할 뿐만 아니라, 단락위치 검출을 위한 작업시간이 상당히 소요되어 작업능률이 저조하게 되었던 문제점이 있는 것이다.In addition, even a normally assembled PCB may cause a short circuit due to a component failure during use. In such a case, a person skilled in the art conventionally places a probe of a resistance tester at an expected position and measures a resistance value to find a short circuit position. Since not only a skilled workforce is required, but also a long time for detecting the short-circuit position has a problem that the work efficiency is low.

그러므로 최근에는 도 1로 도시된 바와 같이 이동메카니즘(100)에 의하여 이동가능한 기능적회로 및 와이어링 패턴을 포함하는 집적회로상(101)의 와이어링 패턴사이에 레이저빔(102)을 조사하고 이 때 전원회로(103)에 의하여 공급되는 전류량의 변화를 읽어들여 프로세서(104)에 의하여 미리 입력시킨 데이타와 비교하고, 그 결과 임계치 이상인 경우에 해당위치와 전류변화량 데이타를 출력시켜 줌을 특징으로 하는 단락회로 포인트 결정방법 및 장치가 대한민국 특허청 공개특허공보(공개 96-5115)로 제안된 바 있다.Therefore, recently, as shown in FIG. 1, the laser beam 102 is irradiated between the wiring patterns on the integrated circuit 101 including the functional circuits and the wiring patterns movable by the moving mechanism 100. A short circuit characterized in that a change in the amount of current supplied by the power supply circuit 103 is read out and compared with the data previously input by the processor 104, and as a result, the corresponding position and the amount of change in current are outputted when the threshold value is greater than or equal to the threshold value. A method and apparatus for determining a circuit point have been proposed in Korean Patent Office Publication No. 96-5115.

이러한 단락회로 포인트 결정방법 및 장치에 의하면 비교적 정확하게 단락위치를 검출할 수 있게 되는 것이기는 하나, 이는 고가의 레이저 발생장치와 높은 정밀도를 갖는 이동메카니즘이 필요하게 되는 것이어서 제작비가 많이 소요되므로 널리 보급하기 어려운 것이며, 또한 수많은 포인트별로 레이저 조사시 전류변화량을 입력시켜야 하는 바 이는 매우 번거로운 작업이 되는 문제점이 있다.Although the short-circuit point determination method and apparatus can detect the short-circuit position relatively accurately, this requires an expensive laser generator and a high-precision mobile mechanism, which requires a lot of manufacturing cost. It is difficult, and also has to input a current change amount during laser irradiation for many points, which is a very troublesome task.

또한 PCB의 종류가 바뀌면 다시 새로운 포인트별 전류변화량 데이타를 입력시켜야 하므로 실용상 매우 불편한 문제점이 있다.In addition, when the PCB type is changed, it is necessary to input new current change amount data for each point again, which is very inconvenient in practical use.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 단락위치검출장치를 간단하게 구성하면서도 신속하고 정확하게 단락위치를 검출할 수 있는 단락위치검출장치를 제공하는데 그 목적이 있는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide a short-circuit position detection apparatus capable of quickly and accurately detecting a short-circuit position while simply configuring a short-circuit position detection apparatus.

도 1은 종래의 단락위치검출장치를 보인 개략도이다.1 is a schematic view showing a conventional short-circuit position detection device.

도 2는 본 발명에 의한 단락위치검출장치의 전체적인 구성을 보인 개략도이다.2 is a schematic view showing the overall configuration of a short-circuit position detection apparatus according to the present invention.

도 3은 본 발명에 의한 단락위치검출장치를 이용하여 단락위치를 검출하는 예를 보인 회로도이다.3 is a circuit diagram showing an example of detecting a short circuit position using the short circuit position detection apparatus according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

1 : 발진기 2 : 자동레인지설정부1: Oscillator 2: Auto Range Setting Unit

3 : AC정전류원 4 : 출력단3: AC constant current source 4: Output stage

5 : 프로브 6 : 저전압검출기5: probe 6: low voltage detector

7 : 저저항검출수단 8 : A/D 변환기7: Low resistance detection means 8: A / D converter

9 : 마이크로프로세서유니트 10 : 스피커9 microprocessor unit 10 speaker

11 : 구동회로 12 : 증폭기20 : 회로11 driving circuit 12 amplifier 20 circuit

상술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 프로브를 회로에 접속하여 단락위치를 검출하는 장치에 있어서,발진기와, 바이어스 전압을 자동으로 변화시키는 자동레인지설정부와, 상기 발진기의 구동과 자동레인지설정부의 출력에 따라서 AC정전류를 발생시키는 AC정전류원과, 상기 AC정전류원의 전류를 출력시켜 상기 프로브에 전류를 공급하는 출력단과, 상기 프로브의 양단간 전압을 검출하는 저전압검출기와, 상기 저전압검출기의 출력을 증폭하는 증폭기로 구성된 저저항검출수단과;상기 증폭기의 출력신호값을 아날로그값에서 디지털값으로 변화시키는 A/D변환기와;상기 A/D변환기의 출력값이 기설정된 값의 범위안에 있는 지를 비교하여 비교값을 출력하고, 설정 주파수로 된 출력펄스나 단속음의 발생간격을 변화시키는 등으로 음향을 변화시키는 마이크로프로세서유니트와;상기 마이크로프로세서유니트의 출력값을 가청주파수의 소리로 출력하는 스피커와;상기 마이크로프로세서유니트의 출력값을 증폭하여 상기 스피커를 구동하는 구동회로로;구성된 단락위치검출장치를 제공한다.이에 따라 본 발명은 전자부품이나 PCB의 단락예상위치에 순차로 프로브를 접촉시킴에 따라 단락위치에 접근하면 음향출력이 변화하여 단락위치를 신속하고 정확하게 찾아낼 수 있어서 작업능률을 대폭 향상시킬 수 있게 되는 효과를 얻게 된다.이러한 본 발명을 첨부된 도면에 따라 상세히 설명하면 다음과 같다.In order to achieve the above object, the present invention provides an apparatus for detecting a short circuit position by connecting a probe to a circuit, an oscillator, an automatic range setting unit for automatically changing a bias voltage, driving and automatic range setting of the oscillator An AC constant current source for generating an AC constant current according to a negative output, an output terminal for outputting a current of the AC constant current source to supply current to the probe, a low voltage detector for detecting a voltage between both ends of the probe, and an output of the low voltage detector A low resistance detection means comprising an amplifier for amplifying a; and an A / D converter for changing an output signal value of the amplifier from an analog value to a digital value; comparing whether the output value of the A / D converter is within a preset range of values; Output the comparison value, and change the sound by changing the output interval of the set frequency or the occurrence interval of intermittent sound. And a microprocessor unit; a speaker for outputting the output value of the microprocessor unit as an audible frequency sound; and a driving circuit for driving the speaker by amplifying the output value of the microprocessor unit. Therefore, according to the present invention, when the probe is sequentially contacted with a short-circuit predicted position of an electronic component or a PCB, the sound output changes and the short-circuit position can be found quickly and accurately, thereby greatly improving work efficiency. The present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2에 본 발명에 의한 단락위치검출장치의 전체적인 구성을 도시하였다.2 shows the overall configuration of the short-circuit position detecting apparatus according to the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 프로브(5)를 회로(20)에 접속하여 단락위치를 검출하는 장치에 있어서,발진기(1)와, 바이어스 전압을 자동으로 변화시키는 자동레인지설정부(2)와, 상기 발진기(1)의 구동과 자동레인지설정부(2)의 출력에 따라서 AC정전류를 발생시키는 AC정전류원(3)과, 상기 AC정전류원(3)의 전류를 출력시켜 상기 프로브(5)에 전류를 공급하는 출력단(4)과, 상기 프로브(5)의 양단간 전압을 검출하는 저전압검출기(6)와, 상기 저전압검출기(6)의 출력을 증폭하는 증폭기(12)로 구성된 저저항 검출수단(7)과;상기 증폭기(12)의 출력신호값을 아날로그값에서 디지털값으로 변화시키는 A/D변환기와(8)와;상기 A/D변환기(8)의 출력값이 기설정된 값의 범위안에 있는 지를 비교하여 비교값을 출력하고, 설정 주파수로 된 출력펄스나 단속음의 발생간격을 변화시키는 등으로 음향을 변화시키는 마이크로프로세서유니트(9)와;상기 마이크로프로세서유니트(9)의 출력값을 가청주파수의 소리로 출력하는 스피커(10)와;상기 마이크로프로세서유니트(9)의 출력값을 증폭하여 상기 스피커(10)를 구동하는 구동회로(11)로;구성된다.본 발명은 발진기(1)의 출력으로 구동되는 AC정전류원(3)과, AC정전류원(3)의 출력이 공급되는 프로브(5)가 구비된 출력단(4)과, 출력단(4)과 접속되어 입력전압을 검출하는 저전압검출기(6)와, 상기 저전압검출기(6)의 출력을 증폭하는 증폭기(12)와, 증폭기(12)가 미리 설정된 크기로 증폭하도록 설정하는 자동레인지설정부(2)와, 상기 증폭기(12)의 출력을 아날로그에서 디지털로 변환하기 위한 A/D변환기(8)와, A/D변환기(8)의 출력값을 미리 키패드에 의하여 미리 설정된 값의 범위안에 있는 지를 비교하여 비교값을 출력하는 마이크로프로세서유니트(9)와, 마이크로프로세서유니트(9)의 출력펄스를 증폭하여 스피커(10)을 구동하기 위한 구동회로(11)로 구성된다.As shown in Fig. 2, in the apparatus for connecting the probe 5 to the circuit 20 to detect the short circuit position, the oscillator 1, the auto range setting unit 2 for automatically changing the bias voltage, and And an AC constant current source 3 for generating an AC constant current according to the driving of the oscillator 1 and the output of the automatic range setting unit 2, and a current of the AC constant current source 3 to be output to the probe 5. Low resistance detection means comprising an output terminal 4 for supplying current to the battery, a low voltage detector 6 for detecting a voltage between both ends of the probe 5, and an amplifier 12 for amplifying the output of the low voltage detector 6. (7); and an A / D converter (8) for changing the output signal value of the amplifier (12) from an analog value to a digital value; and the output value of the A / D converter (8) is within a preset value range. Compares the presence of a pulse, outputs a comparison value, and changes the interval at which the output pulse or intermittent sound A microprocessor unit (9) for changing the sound by the back; and a speaker (10) for outputting the output value of the microprocessor unit (9) as an audible frequency sound; and amplifying the output value of the microprocessor unit (9) And a drive circuit 11 for driving the speaker 10. The present invention provides an AC constant current source 3 driven by an output of an oscillator 1 and a probe to which an output of the AC constant current source 3 is supplied. An output terminal 4 provided with (5), a low voltage detector 6 connected to the output terminal 4 for detecting an input voltage, an amplifier 12 for amplifying the output of the low voltage detector 6, and an amplifier ( An automatic range setting unit 2 which sets 12 to amplify to a predetermined size, an A / D converter 8 for converting the output of the amplifier 12 from analog to digital, and an A / D converter 8 ) And compare the output value in the range of preset value by keypad A microprocessor unit 9 for outputting a comparison value, and a driving circuit 11 for driving the speaker 10 by amplifying the output pulses of the microprocessor unit 9.

이러한 본 발명에 의한 단락위치검출장치는 예를 들면 도 3으로 도시된 바와 같은 회로(20)에 적용할 수 있다.The short-circuit position detecting apparatus according to the present invention can be applied to, for example, the circuit 20 as shown in FIG.

이를 기준으로 설명하면 도 3의 점선으로 둘러 친 앤드게이트(G)가 부품불량으로 접지와 단락되었다고 가정한다.이 경우 먼저 작업자가 테스터나 기타 일반 장비에 의하여 게이트(G,G1-G5)에 이상이 있다는 것을 인지하게 된다.In this case, it is assumed that the AND gate G surrounded by the dotted line in FIG. 3 is shorted to the ground due to a defective component. In this case, the operator first fails the gate G, G1-G5 by a tester or other general equipment. You will notice that there is.

그러나 이러한 상태에서 일반 장비에 의하면 게이트(G,G1-G5) 6개의 입력값이 모두 0Ω으로 되어 어느 게이트(G,G1-G5)에 이상이 있는 지를 도저히 알 수 없는 상태가 된다.In this state, however, according to the general equipment, the six input values of the gates G and G1 to G5 all become 0 Ω, which makes it impossible to know which gates G and G1 to G5 are abnormal.

본 발명에서는 단자(A)에 프로브(5)의 일측을 접지시키고 프로브(5)의 타측을 위치1에서 위치5까지 이동시켜 접속하게 되는 경우를 살펴보기로 한다.In the present invention, a case in which one side of the probe 5 is grounded to the terminal A and the other side of the probe 5 is connected by moving from position 1 to position 5 will be described.

이러한 경우 최초의 위치인 위치1과 단자(A)간에는 예를 들면 100mΩ의 저항값이 측정된다고 가정하자.이러한 상태는 다른 여타 부위의 저항값보다 월등히 작은 것이므로 단락위치에 근접한 것이며, 이때 프로브(5) 양단간의 전압이 저전압검출기(6)에 의해 검출된다.In this case, assume that a resistance value of, for example, 100 mΩ is measured between the first position, Position 1, and the terminal A. This state is close to the short-circuit position because it is much smaller than the resistance value of other parts. The voltage between both ends is detected by the low voltage detector 6.

이러한 저전압검출기(6)의 출력전압은 증폭기(12)에 의하여 충분히 증폭되는 바, 이러한 증폭은 비반전증폭이나 반전증폭이 가능하다.Since the output voltage of the low voltage detector 6 is sufficiently amplified by the amplifier 12, such amplification can be non-inverted or inverted.

이와 같이 증폭된 저전압검출기(6)의 아날로그 출력값은 A/D변환기(8)에서 DC 전압형태의 출력으로 변환되며, 이는 마이크로프로세서유니트(9)에 의하여 설정 주파수로 된 출력펄스나 단속음의 발생간격을 변화시키는 등으로 음향을 변화시키는 형태로 출력된다.The analog output value of the amplified low voltage detector 6 is converted from the A / D converter 8 into the DC voltage output, which is generated by the microprocessor unit 9 at intervals of output pulses or intermittent sounds. It is output in the form of changing the sound by changing the.

다음, 위치2에 프로브(5)의 타측을 접속시켜, 프로브(5) 양단간의 전압을 저전압검출기(6)에 의해 검출한다.Next, the other side of the probe 5 is connected to the position 2, and the low voltage detector 6 detects the voltage between the both ends of the probe 5.

이러한 저전압검출기(6)의 출력전압은 증폭기(12)에 의하여 충분히 증폭되는 바, 이러한 증폭은 비반전증폭이나 반전증폭이 가능하다.Since the output voltage of the low voltage detector 6 is sufficiently amplified by the amplifier 12, such amplification can be non-inverted or inverted.

이와 같이 증폭된 저전압검출기(6)의 아날로그 출력값은 A/D변환기(8)에서 시간당 소정의 갯수를 갖는 펄스형태(DC 전압형태)의 출력으로 변환되며, 이는 마이크로프로세서유니트(9)에 의하여 설정 주파수로 된 출력펄스나 단속음의 발생간격을 변화시키는 등으로 음향을 변화시키는 형태로 출력된다.The analog output value of the amplified low voltage detector 6 is converted into a pulse form (DC voltage form) output having a predetermined number per hour in the A / D converter 8, which is set by the microprocessor unit 9. The sound is output in the form of changing the sound by changing the frequency of the output pulse or the interval of occurrence of the intermittent sound.

이와 같이 프로브(5)를 위치2와 단자(A)에 접속시켜 검출된 저항값이 75mΩ이라고 가정하면, 이때에도 전술한 과정으로 마이크로프로세서유니트(9)에 의하여 설정 주파수로 된 출력펄스나 단속음의 발생간격을 변화시키는 등으로 음향을 변화시키는 형태로 출력된다.이와 같은 방법으로, 위치3에 프로브(5)를 접속시켜 검출된 저항값이 50mΩ이 된다고 가정하면, 이에 따라 음향이 재차 변화된다.다음, 위치4에 프로브(5)를 접속시켜 검출된 저항값이 10mΩ이 된다고 가정하면, 음향이 또 다시 변화된 상태로 된다.다음, 위치5에 프로브(5)를 접속시켜 검출된 저항값이 5mΩ이 된다고 가정하면, 이때 음향이 한계상태까지 변화되어 이 지점과 가장 근접한 위치에 있는 게이트(G)가 접지와 단락된 부품임을 알 수 있게 되는 것이다.When the probe 5 is connected to the position 2 and the terminal A in this manner, it is assumed that the resistance value detected is 75 mΩ. In this case, the output pulse or the intermittent sound of the frequency set by the microprocessor unit 9 is The sound is changed in such a manner that the sound is changed by changing the generation interval. In this way, assuming that the resistance value detected by connecting the probe 5 to position 3 is 50 m ?, the sound is changed again accordingly. Next, assuming that the resistance value detected by connecting the probe 5 to position 4 is 10 mΩ, the sound is changed again. Next, the resistance value detected by connecting the probe 5 to position 5 is 5 mΩ. If it is assumed that the sound is changed to the limit state at this point, the gate (G) in the position closest to this point can be seen that the component shorted to ground.

실제로 단락된 위치의 저항값은 부품이나 PCB의 종류에 따라 다르며 수μΩ 내지 수백mΩ의 범위에 있다.그러므로 적어도 100mΩ이상인 정상위치에서 프로브(5)에 의하여 검출되는 저전압검출기(6)의 출력은 낮은 수준이 되며, 단락된 위치에 접근할수록 프로브(5)에 의하여 검출되는 저전압검출기(6)의 출력은 높은 수준이 된다.In practice, the resistance value of the shorted position varies depending on the type of component or PCB and is in the range of several μΩ to several hundred mΩ. Therefore, the output of the low voltage detector 6 detected by the probe 5 at a normal position of at least 100 mΩ or more is low. Level is approaching, the closer the shorted position is, the higher the output of the low voltage detector 6 detected by the probe 5 becomes.

이러한 저전압검출기(6)의 출력전압은 증폭기(12)에 의해 충분히 증폭되어, 증폭된 저전압검출기(6)의 아날로그 출력값은 A/D변환기(8)에서 DC 전압형태의 출력으로 변환되며, 이는 마이크로프로세서유니트(9)에 의하여 설정 주파수로 된 출력펄스나 단속음의 발생간격을 변화시키는 등으로 음향을 변화시키는 형태로 출력된다.The output voltage of this low voltage detector 6 is sufficiently amplified by the amplifier 12, so that the analog output value of the amplified low voltage detector 6 is converted into an output in the form of DC voltage in the A / D converter 8, which is a microcomputer. The processor unit 9 outputs the sound in such a manner that the sound is changed by changing the output pulse at the set frequency or the interval of occurrence of the intermittent sound.

이러한 음향의 변화는 주파수가 상승, 하강되는 형태의 것이거나 단속음이 발생되는 주기가 변화되도록 할 수도 있다.Such a change in sound may be in the form of rising or falling frequency or a period in which intermittent sounds are changed.

이는 마이크로프로세서유니트(9)에 탑재되는 프로그램을 각각 다르게 하고 이중 하나를 선택하여 선택적으로 가동되도록 함으로써 달성될 수 있는 것이고, 필요에 따라 어느 한 고정된 형태의 음향변화가 이루어 지도록 할 수 있음도 물론이다.This can be achieved by varying the programs mounted on the microprocessor unit 9 and selecting one of them to be selectively operated, and of course, a fixed form of acoustic change can be made as necessary. to be.

예를 들어, 상기 예에서 출력펄스의 주파수가 점차 높아지거나 낮아지도록 하는 프로그램을 선택한 경우에는 프로브(5)에 의하여 검출되는 저항값이 위치1에서 100mΩ인 경우에 스피커(10)에서 발하는 가청주파수가 1KHz로 되도록 하고, 위치2에서 75mΩ인 경우에 2KHz로 하며, 위치3에서 50mΩ인 경우에 3KHz로 하며, 위치4에서 10mΩ인 경우에 4KHz로 하며, 위치5에서 5mΩ인 경우에 5KHz로 할 수 있는 것이다.For example, in the above example, when a program is selected such that the frequency of the output pulse is gradually increased or decreased, the audible frequency emitted by the speaker 10 when the resistance value detected by the probe 5 is 100 m? 1KHz, 2KHz at 75mΩ at position 2, 3KHz at 50mΩ at position 3, 4KHz at 10mΩ at position 4, and 5KHz at 5mΩ at position 5. will be.

이와 같이 하면 프로브(5)를 단락위치에 접근할수록 검출된 저항값이 낮아지면서 전술한 과정으로 마이크로프로세서유니트(9)에서 출력되는 주파수가 높아지므로 작업자는 스피커(10)에서 발하는 소리의 주파수가 높아지는 방향으로 프로브(5)를 이동시켜 단락위치를 찾을 수 있다.In this case, the closer the probe 5 approaches the short-circuit position, the lower the detected resistance value and the higher the frequency output from the microprocessor unit 9 in the above-described process. Thus, the operator increases the frequency of the sound emitted from the speaker 10. The short circuit position can be found by moving the probe 5 in the direction.

또한 마이크로프로세서유니트(9)에서 출력되는 신호음이 단속되는 주기가 변화하도록 선택한 경우에는, 상기 예에서 프로브(5)에 의하여 검출되는 저항값이, 위치1에서 100mΩ인 경우에 스피커(10)에서 발하는 단속음이 4초간격으로 발생되도록 하고, 위치2에서 75mΩ인 경우에 스피커(10)에서 발하는 단속음이 3초간격으로 발생되도록 하며, 위치3에서 50mΩ인 경우에 스피커(10)에서 발하는 단속음이 2초 간격으로 발생되도록 하며, 위치4에서 10mΩ인 경우에는 단속음이 1초간격으로 발생되도록 하며, 위치5에서 5mΩ인 경우에서 0.5초 간격으로 발생되도록 할 수 있는 것이다.In addition, when the period in which the signal sound output from the microprocessor unit 9 is selected to be changed is changed, in the above example, when the resistance value detected by the probe 5 is 100 m? The intermittent sound is generated at 4 second intervals, the intermittent sound emitted from the speaker 10 is generated at 3 second intervals when 75 mΩ at position 2, and the intermittent sound emitted by the speaker 10 is 2 seconds when it is 50 mΩ at position 3 Intermittent sound is generated at intervals of 1 second in the case of 10 mΩ at position 4, and at 0.5 second intervals at 5 mΩ at position 5.

이와 같이 하면 프로브(5)가 단락위치에 접근할수록 저항값이 낮아지면서 전술한 과정으로 마이크로프로세서유니트(9)에서 출력되는 단속음의 발생주기가 짧아지므로, 작업자는 스피커(10)에서 발하는 단속음의 주기가 짧아지는 방향으로 프로브(5)를 이동시켜 단락위치를 정확하게 찾을 수 있다.In this case, as the probe 5 approaches the short-circuit position, the resistance value is lowered, and the generation period of the intermittent sound output from the microprocessor unit 9 is shortened by the above-described process, so that the operator has a period of the intermittent sound emitted from the speaker 10. By moving the probe 5 in the direction of shortening, the short circuit position can be accurately found.

아울러 전자부품이나 PCB의 종류에 따라 프로브(5)에서 발생되는 단락위치의 저항이 수μΩ내지 수백mΩ이 될 수 있으므로 본 발명에서는 저전압검출기(6)와 연결된 증폭기(12)의 증폭도를 자동 조절함으로써 전술한 넓은 범위에 걸쳐서 출력전압이 변화되는 범위를 설정할 수 있다.In addition, since the resistance of the short-circuit position generated by the probe 5 may be several μΩ to several hundred mΩ depending on the type of electronic component or PCB, in the present invention, the amplification degree of the amplifier 12 connected to the low voltage detector 6 is automatically adjusted. It is possible to set a range in which the output voltage changes over the above-mentioned wide range.

즉, 상기 증폭기(12)의 바이어스 전압은 자동레인지설정부(2)에 의하여 변화됨으로써 실현가능하며 상기 자동레인지설정부(2)는 다수의 다른 값을 갖는 저항으로 바이어스 전압을 변화시킬 수 있다.상기 자동레인지설정부(2)의 저항이 마이크로프로세서유니트(9)에 연결되어 있어서 마이크로프로세서유니트(9)가 A/D변환기(8)에서 출력되는 출력펄스를 카운트하여 저항값을 인지하고 이에 따라 자동레인지설정부(2)의 여러개의 저항중 선택된 것에 전압이 인가되도록 함으로써 증폭기(12)의 바이어스전압이 변화되면서 증폭도가 조절되는 것이므로 레인지가 자동전환되어 여러 종류의 전자부품과 PCB에 적용할 수 있는 것이다.That is, the bias voltage of the amplifier 12 can be realized by the automatic range setting unit 2, and the automatic range setting unit 2 can change the bias voltage with a resistor having a plurality of different values. The resistance of the auto range setting unit 2 is connected to the microprocessor unit 9 so that the microprocessor unit 9 counts the output pulse output from the A / D converter 8 to recognize the resistance value and accordingly Since the amplification degree is adjusted by changing the bias voltage of the amplifier 12 by applying a voltage to a selected one of several resistors of the automatic range setting unit 2, the range is automatically switched and applied to various kinds of electronic components and PCBs. It is.

이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은 간단한 구조로, 레이저발생기 등과 같은 고가의 부품이 불필요하여 검출장치의 제작비가 저렴하여 널리 보급할 수 있게 되는 잇점이 있을 뿐만 아니라 단락위치의 검출을 위하여 사전에 데이타를 입력시키는 등의 불편이 없고, 신속하게 정확하게 단락위치를 검출할 수 있게 되는 것이어서 작업능률을 크게 개선할 수 있다.As described above, the present invention has a simple structure, which does not require expensive components such as a laser generator, and thus, the manufacturing cost of the detection device is inexpensive and widely available. There is no inconvenience such as input, and it is possible to detect the short circuit position quickly and accurately, which greatly improves work efficiency.

또한 본 발명은 자동으로 레인지가 전환되어 부품의 종류나 PCB의 종류에 무관하게 단락위치의 검출이 가능하므로 다용도로 널리 사용할 수 있게 되는 잇점도 있다.In addition, the present invention has the advantage that the range can be automatically switched to detect the short circuit position irrespective of the type of component or the type of PCB, so that it can be widely used for various purposes.

Claims (1)

프로브를 회로에 접속하여 단락위치를 검출하는 장치에 있어서,An apparatus for detecting a short circuit position by connecting a probe to a circuit, 발진기와, 바이어스 전압을 자동으로 변화시키는 자동레인지설정부와, 상기 발진기의 구동과 자동레인지설정부의 출력에 따라서 AC정전류를 발생시키는 AC정전류원과, 상기 AC정전류원의 전류를 출력시켜 상기 프로브에 전류를 공급하는 출력단과, 상기 프로브의 양단간 전압을 검출하는 저전압검출기와, 상기 저전압검출기의 출력을 증폭하는 증폭기로 구성된 저저항검출수단과;An oscillator, an automatic range setting unit for automatically changing a bias voltage, an AC constant current source for generating AC constant current according to the driving of the oscillator and the output of the auto range setting unit, and an output of the AC constant current source to the probe Low resistance detecting means comprising an output terminal for supplying a current, a low voltage detector for detecting a voltage between both ends of the probe, and an amplifier for amplifying the output of the low voltage detector; 상기 증폭기의 출력신호값을 아날로그값에서 디지털값으로 변화시키는 A/D변환기와;An A / D converter for changing an output signal value of the amplifier from an analog value to a digital value; 상기 A/D변환기의 출력값이 기설정된 값의 범위안에 있는 지를 비교하여 비교값을 출력하고, 설정 주파수로 된 출력펄스나 단속음의 발생간격을 변화시키는 등으로 음향을 변화시키는 마이크로프로세서유니트와;A microprocessor unit which compares whether the output value of the A / D converter is within a range of a predetermined value, outputs a comparison value, and changes the sound by changing an occurrence interval of an output pulse or intermittent sound at a set frequency; 상기 마이크로프로세서유니트의 출력값을 가청주파수의 소리로 출력하는 스피커와;A speaker for outputting an output value of the microprocessor unit as an audible frequency sound; 상기 마이크로프로세서유니트의 출력값을 증폭하여 상기 스피커를 구동하는 구동회로로;A driving circuit for driving the speaker by amplifying the output value of the microprocessor unit; 구성됨을 특징으로 하는 단락위치검출장치.Short circuit position detection device characterized in that configured.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101223702B1 (en) 2011-06-01 2013-01-22 정재우 Earth ring observation device and earth ring monitoring system

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