KR100311012B1 - 인쇄회로기판 검사 시스템 - Google Patents
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Abstract
본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사 시스템은, 테스트 시퀀스 데이터를 인터페이싱하여, 인쇄회로기판에 실장된 집적회로소자의 상응하는 입력핀에 인가하는 각각의 핀 구동버퍼가 마련된 인쇄회로기판 검사 시스템이다. 이 시스템에는, 서로 다른 구동 전압을 출력하는 각각의 공통 전원 공급부가 마련된다. 그리고, 각각의 핀 구동버퍼는, 각각의 공통 전원 공급부로부터의 전원 전압을 선택적으로 공급받는다.
Description
본 발명은, 인쇄회로기판(PCB) 검사 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 테스트 시퀀스 데이터를 인터페이싱하여, 인쇄회로기판에 실장된 집적회로소자의 상응하는 입력핀에 인가하는 각각의 핀 구동버퍼가 마련된 인쇄회로기판 검사 시스템에 관한 것이다.
도 1을 참조하면, 일반적인 인쇄회로기판 검사 시스템에는, 핀 구동버퍼들(1, 2) 및 핀 수신버퍼들(4, 5)이 마련된다. 각각의 핀 구동버퍼(1, 2)는, 인가되는 테스트 시퀀스 데이터를 인터페이싱하여, 인쇄회로기판에 실장된 집적회로소자(3)의 상응하는 입력핀에 인가한다. 각각의 핀 수신버퍼(4, 5)는, 집적회로소자(3)의 상응하는 출력핀으로부터의 데이터를 인터페이싱하여, 출력 시퀀스 데이터를 발생시킨다. 반도체 집적화 기술의 발달로 인하여, 집적회로소자(3)의 입출력 핀들이 많아짐에 따라, 인쇄회로기판 검사 시스템의 핀 구동버퍼들(1, 2) 및 핀 수신버퍼들(4, 5)도 많아진다.
한편, 집적회로소자(3)들은 그 제조 공정에 따라 서로 다른 입력 문턱 전압(input threshold voltage)을 가질 수 있다. 이에 따라, 종래에는, 인쇄회로기판 검사 시스템의 각각의 핀 구동버퍼(1, 2)에는 서로 다른 전압을 설정할 수 있는 개별적인 전원 공급부가 포함된다.
도 2를 참조하면, 종래의 인쇄회로기판 검사 시스템의 각각의 핀 구동버퍼(1, 2)는, 구동 제어 회로(11, 21), 구동 출력 회로(12, 22), 디지털/아날로그 변환 회로(13, 23) 및 전원 출력 회로(14, 24)를 포함한다. 디지털/아날로그 변환 회로(13, 23)는 입력된 전압설정 데이터를 아날로그 신호로 변환시킨다. 전원 출력 회로(14, 24)는 디지털/아날로그 변환 회로(13, 23)로부터의 아날로그 신호의 레벨에 비례한 전원 전압을 출력한다. 구동 제어 회로(11, 21)는 상응하는 테스트 시퀀스 데이터에 따라 구동 제어 신호를 발생시킨다. 그리고, 구동 출력 회로(12, 22)는 구동 제어 회로(11, 21)로부터의 구동 제어 신호에 따라, 전원 출력 회로(14, 24)를 통하여 공급받은 전원 전압을 상응하는 입력핀에 인가한다.
이와 같이 종래의 인쇄회로기판 검사 시스템의 각각의 핀 구동버퍼(1, 2)에는 서로 다른 전압을 설정할 수 있는 개별적인 전원 공급부(13, 14 또는 23, 24)가 포함된다. 이에 따라, 인쇄회로기판 검사 시스템의 하드웨어 규모가 상대적으로 커지는 문제점이 있다.
본 발명의 목적은, 각각의 핀 구동버퍼에 포함될 개별적인 전원 공급부를 제거될 수 있는 인쇄회로기판 검사 시스템을 제공하는 것이다.
도 1은 일반적인 인쇄회로기판 검사 시스템을 설명하기 위한 블록도이다.
도 2는 종래의 인쇄회로기판 검사 시스템의 핀 구동 버퍼들을 보여주는 블록도이다.
도 3은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사 시스템의 공통 전원 공급부들 및 핀 구동버퍼들을 보여주는 블록도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1, 2...핀 구동버퍼, 3...집적회로소자,
4, 5...핀 수신버퍼, 11, 21...구동 제어회로,
12, 22...구동 출력 회로, 13, 23...디지털/아날로그 변환 회로,
14, 24...전원 출력 회로, 15, 25...전압 선택 회로,
61, 62...제1 공통 전원 공급부, 63, 64...제2 공통 전원 공급부.
상기 목적을 이루기 위한 본 발명의 인쇄회로기판 검사 시스템은, 테스트 시퀀스 데이터를 인터페이싱하여, 인쇄회로기판에 실장된 집적회로소자의 상응하는 입력핀에 인가하는 각각의 핀 구동버퍼가 마련된 인쇄회로기판 검사 시스템이다. 이 시스템에는 서로 다른 구동 전압을 출력하는 각각의 공통 전원 공급부가 마련된다. 그리고, 상기 각각의 핀 구동버퍼는, 상기 각각의 공통 전원 공급부로부터의 전원 전압을 선택적으로 공급받는다.
이에 따라, 상기 각각의 핀 구동버퍼에 포함될 개별적인 전원 공급부를 제거될 수 있다.
바람직하게는, 상기 각각의 공통 전원 공급부에는 디지털/아날로그 변환 회로 및 전원 출력 회로가 포함된다. 상기 디지털/아날로그 변환 회로는 입력된 전압설정 데이터를 아날로그 신호로 변환시킨다. 상기 전원 출력 회로는 상기 디지털/아날로그 변환 회로로부터의 아날로그 신호의 레벨에 비례한 전원 전압을 출력한다. 한편, 상기 각각의 핀 구동버퍼는 구동 제어 회로, 전압 선택 회로 및 구동 출력 회로를 포함한다. 상기 구동 제어 회로는 상응하는 테스트 시퀀스 데이터에 따라 구동 제어 신호를 발생시킨다. 상기 전압 선택 회로는 상기 각각의 공통 전원 공급부로부터의 전원 전압 라인을 선택적으로 연결한다. 상기 구동 출력 회로는 상기 구동 제어 회로로부터의 구동 제어 신호에 따라, 상기 전압 선택 회로를 통하여 공급받은 전원 전압을 상기 상응하는 입력핀에 인가한다.
이하, 본 발명에 의한 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사 시스템은, 테스트 시퀀스 데이터를 인터페이싱하여, 인쇄회로기판에 실장된 집적회로소자의 상응하는 입력핀에 인가하는 각각의 핀 구동버퍼(1, 2)가 마련된 인쇄회로기판 검사 시스템이다. 이 시스템에는 서로 다른 구동 전압을 출력하는 각각의 공통 전원 공급부(61, 62 및 63, 64)가 마련된다. 그리고, 각각의 핀 구동버퍼(1, 2)는, 각각의 공통 전원 공급부(61, 62 및 63, 64)로부터의 전원 전압을 선택적으로 공급받는다.
이에 따라, 각각의 핀 구동버퍼(1, 2)에 포함될 개별적인 전원 공급부를 제거할 수 있다.
각각의 공통 전원 공급부(61, 62 및 63, 64)에는 디지털/아날로그 변환 회로(61, 63) 및 전원 출력 회로(62, 64)가 포함된다. 각각의 디지털/아날로그 변환 회로(61, 63)는 입력된 전압설정 데이터를 아날로그 신호로 변환시킨다. 각각의 전원 출력 회로(62, 64)는 디지털/아날로그 변환 회로(61, 63)로부터의 아날로그 신호의 레벨에 비례한 전원 전압을 출력한다.
각각의 핀 구동버퍼(1, 2)는 구동 제어 회로(11, 21), 전압 선택 회로(15, 25) 및 구동 출력 회로(12, 22)를 포함한다. 각각의 구동 제어 회로(11, 21)는 상응하는 테스트 시퀀스 데이터에 따라 구동 제어 신호를 발생시킨다. 전압 선택 회로(15, 25)는 제1 및 제2 전원 출력 회로(62, 64)로부터의 전원 전압 라인을 선택적으로 연결한다. 각각의 구동 출력 회로(12, 22)는 상응하는 구동 제어 회로(11, 21)로부터의 구동 제어 신호에 따라, 상응하는 전압 선택 회로(15, 25)를 통하여 공급받은 전원 전압을 상응하는 입력핀에 인가한다.
테스트 시퀀스 데이터 중에서 "0"이 구동 제어 회로(11, 21)에 입력되는 경우, 구동 출력 회로(12, 22)의 하단(LTP) 트랜지스터가 턴-온(turn-on)되고 상단(UTP) 트랜지스터가 턴-오프(turn-off)된다. 이에 따라, 구동 출력 회로(12, 22)는 소정의 낮은 레벨의 전압을 상응하는 입력핀에 인가한다.
테스트 시퀀스 데이터 중에서 "1"이 구동 제어 회로(11, 21)에 입력되는 경우, 구동 출력 회로(12, 22)의 하단 트랜지스터가 턴-오프되고 상단 트랜지스터가 턴-온된다. 이에 따라, 구동 출력 회로(12, 22)는 상응하는 전압 선택 회로(15, 25)를 통하여 공급받은 제1 또는 제2 전원 전압을 상응하는 입력핀에 인가한다.
이상 설명된 바와 같이, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사 시스템에 의하면, 각각의 핀 구동버퍼에 포함될 개별적인 전원 공급부가 제거됨에 따라, 그 하드웨어 규모를 상대적으로 줄일 수 있다.
본 발명은, 상기 실시예에 한정되지 않고, 당업자의 수준에서 그 변형 및 개량이 가능하다.
Claims (3)
- 테스트 시퀀스 데이터를 인터페이싱하여, 인쇄회로기판에 실장된 집적회로소자의 상응하는 입력핀에 인가하는 각각의 핀 구동버퍼가 마련된 인쇄회로기판 검사 시스템에 있어서,서로 다른 구동 전압을 출력하는 각각의 공통 전원 공급부가 마련되고,상기 각각의 핀 구동버퍼는,상기 각각의 공통 전원 공급부로부터의 전원 전압을 선택적으로 공급받는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 각각의 공통 전원 공급부에는,입력된 전압설정 데이터를 아날로그 신호로 변환시키는 디지털/아날로그 변환 회로; 및상기 디지털/아날로그 변환 회로로부터의 아날로그 신호의 레벨에 비례한 전원 전압을 출력하는 전원 출력 회로;가 포함된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 각각의 핀 구동버퍼는,상응하는 테스트 시퀀스 데이터에 따라 구동 제어 신호를 발생시키는 구동 제어 회로;상기 각각의 공통 전원 공급부로부터의 전원 전압 라인을 선택적으로 연결하는 전압 선택 회로; 및상기 구동 제어 회로로부터의 구동 제어 신호에 따라, 상기 전압 선택 회로를 통하여 공급받은 전원 전압을 상기 상응하는 입력핀에 인가하는 구동 출력 회로;가 포함된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사 시스템.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019980026969A KR100311012B1 (ko) | 1998-07-04 | 1998-07-04 | 인쇄회로기판 검사 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019980026969A KR100311012B1 (ko) | 1998-07-04 | 1998-07-04 | 인쇄회로기판 검사 시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20000007564A KR20000007564A (ko) | 2000-02-07 |
KR100311012B1 true KR100311012B1 (ko) | 2001-11-15 |
Family
ID=19543112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019980026969A KR100311012B1 (ko) | 1998-07-04 | 1998-07-04 | 인쇄회로기판 검사 시스템 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100311012B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102495622B1 (ko) * | 2021-07-14 | 2023-02-06 | 한화시스템 주식회사 | 전력공급장치 |
-
1998
- 1998-07-04 KR KR1019980026969A patent/KR100311012B1/ko not_active IP Right Cessation
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---|---|
KR20000007564A (ko) | 2000-02-07 |
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