KR100303342B1

KR100303342B1 - 광전송장비의광선로시험방법및광선로시험장치접속장치

Info

Publication number: KR100303342B1
Application number: KR1019980052761A
Authority: KR
Inventors: 안인택
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1998-12-03
Filing date: 1998-12-03
Publication date: 2001-10-20
Also published as: KR20000037935A

Abstract

가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야

본 발명은 주파수 분할 다중화 방식의 광전송장비의 광선로 시험방법 및 광선로 시험장치 접속장치에 관한 것이다.

나. 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제

주파수 분할 다중화 방식의 광전송장비간을 연결하는 광선로의 특성을 외부 시험장치로도 측정할 수 있도록 한다.

다. 발명의 해결방법의 요지

시험자의 명령에 따라 정상모드 또는 시험모드를 설정하는 단계와, 정상모드로 설정된 때에는 광전송장비내에서 광선로를 감시 및 시험하면서 그 광선로로부터 수신한 광신호에 따른 전기신호를 외부 시험장치에 제공하여 에러체크를 수행하도록 하는 단계와, 시험모드로 설정된 때에는 광전송장비와 연결된 광선로와 외부 시험장치간의 경로를 형성하여, 외부 시험장치가 그 광선로를 통해 시험을 수행하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.

라. 발명의 중요한 용도

본 발명은 광전송장비에 사용된다.

Description

광전송장비의 광선로 시험방법 및 광선로 시험장치 접속장치{OPTICAL FIBER TEST METHOD AND OPTICAL FIBER TESTER CONNECTION APPARATUS FOR OPTICAL TRANSMISSION APPARATUS}

본 발명은 주파수 분할 다중화 방식의 광전송장비에 관한 것으로, 특히 광선로를 시험하는 방법 및 장치에 관한 것이다.

통상적인 광선로의 시험방식을 도 1을 참조하여 설명한다.광전송장비(100,200)는 광선로를 통해 감시채널의 신호를 송신한다. 광전송장비(100,200)의 채널 애드(Add)/드롭(Drop) 및 데이타 송수신부(102,202)는 프로세서(104,204)가 제공하는 광선로 시험을 위한 데이타를 처리하여 광선로를 통해 상대 광전송장비에 송신하거나, 상대 광전송장비로부터의 광선로 시험을 위한 데이타를 처리하여 프로세서(104,204)에 제공한다. 상기 프로세서(104,204)는 광선로의 상태를 감시하고 시험하기 위한 프로그램을 구비하여, 그 프로그램에 따라 광선로의 상태를 감시하고 시험한다. 특히 상기 프로세서(104,204)는 광선로의 상태를 감시하고 시험하기 위한 데이타를 상대 광전송장비에 제공하기 위해 채널 애드/드롭 및 데이타 송수신부(102,202)에 제공하거나, 채널 애드/드롭 및 데이타 송수신부(102,202)로부터 데이타를 제공받아 상기 프로그램에 따라 처리함으로써 광선로를 감시하고 시험한다.

상술한 바와 같이 종래에는 단순히 프로그램에 의존하여 광선로를 감시하고 시험하였는데, 이러한 프로그램에 의해 생성된 데이타는 그 패턴이 랜덤(Random)하지 않고 제한되었다. 그런데, 광선로는 데이타의 패턴에 따라 각기 다른 특성을 가지므로 제한된 패턴의 데이타로는 광선로를 신뢰성있게 감시하거나 시험할 수 없었다.

그리고 종래에는 데이타를 송수신해봄으로써 간접적으로 광선로를 시험하므로, 지터 등과 같은 광선로의 특성을 정확하게 측정할 수 없었다.

상술한 바와 같이 종래에는 단순히 프로그램에 의존하여 광선로를 감시하고 시험함에 따라 광선로를 신뢰성있게 감시하거나 시험할 수 없었다. 아울러 종래에는 광선로를 간접적으로 감시하고 시험함으로써 지터 등과 같은 광선로의 특성을 측정하기가 곤란하였다.

따라서 본 발명의 목적은 광선로의 특성을 외부 시험장치를 통해 직접적으로 측정할 수 있도록 하는 광전송장비의 광선로 시험방법 및 광선로 시험장치 접속장치를 제공함에 있다.

도 1은 종래의 광선로 시험을 위한 광전송장치의 개략적인 구성도,

도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광선로 시험을 위한 광전송장치의 개략적인 구성도,

도 3은 도 2의 시험장치 접속장치를 상세히 도시한 도면,

도 4는 도 2의 프로세서의 처리흐름도,

도 5는 도 2의 시험장치의 처리흐름도.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 시험자의 명령에 따라 정상모드 또는 시험모드를 설정하는 단계와, 정상모드로 설정된 때에는 광전송장비내에서 광선로를 감시 및 시험하면서 그 광선로로부터 수신한 광신호에 따른 전기신호를 외부 시험장치에 제공하여 에러체크를 수행하도록 하는 단계와, 시험모드로 설정된 때에는 광전송장비와 연결된 광선로와 시험장치간의 경로를 형성하여, 시험장치가 그 광선로를 통해 시험을 수행하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기 설명 및 첨부 도면에서 많은 특정 상세들이 본 발명의 보다 전반적인 이해를 제공하기 위해 나타나 있으나, 이들 특정 상세들은 본 발명의 설명을 위해 예시한 것으로 본 발명이 그들에 한정됨을 의미하는 것은 아니다. 그리고 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.

본 발명의 시험장치 접속장치는 광선로를 사이에 두고 연결된 광전송장비들에 외부 시험장치들을 연결하고, 그 광선로와 시험장치간의 경로를 형성할 수 있도록 한다. 이에따라 광선로를 사이에 두고 연결된 광전송장비들에 설치된 시험장치들은 광선로를 통해 다양한 패턴의 데이타를 교환하는 등의 시험동작을 수행함으로써 광선로의 상태를 정확하고 신뢰성있게 시험할 수 있게 된다. 또한 상기 외부 시험장치에 의해 광선로의 지터특성 등을 측정할 수 있게 된다.

이러한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광선로 시험을 위한 광전송장치의 개략적인 구성도를 도시한 도 2를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 제1,제2시험장치(400,600)가 접속되어 있는 제1,제2광전송장치(300,500)는 광선로를 통해 메인채널의 광신호와 감시채널의 광신호가 다중화되어 있는 광신호를 송수신할 수 있다. 상기 제1,제2광전송장치(300,500)는 정상모드일 때에는 제1,제2시험장치(400,600)에 감시채널을 통해 수신되는 데이타를 제공하여 간단한 에러체크 등을 수행가능하도록 하고, 시험모드일 때에는 제1,제2시험장치(400,600)가 상기 감시채널을 통해 각종 시험을 수행가능하도록 한다.

이러한 제1,제2광전송장치(300,500)는 그 구성과 동작이 동일하므로, 이하 제1광전송장치(300)의 동작을 상세히 설명한다.

제1광전송장치(300)의 제1WDM(Wavelength Division Modulation) 커플러(302)는 제2광전송장치(500)로부터 수신한 광신호를 메인채널의 광신호와 감시채널의 광신호로 분리하여 감시채널의 광신호를 시험장치 접속장치(306)에 제공한다. 그리고제2WDM 커플러(304)는 시험장치 접속장치(306)로부터 제공되는 감시채널의 광신호와 메인채널의 광신호를 다중화하여 제2광전송장치(500)로 전송한다.

상기 시험장치 접속장치(306)는 프로세서(310)의 제어에 따라 정상모드 또는 시험모드가 설정된다. 우선, 정상모드로 설정될 경우에 시험장치 접속장치(306)는 감시채널의 광신호를 전기신호로 변환한 후에 지터를 감쇄한 후에 채널 애드/드롭 및 데이타 송수신부(308) 및 시험장치(400)에 제공하고, 채널 애드/드롭 및 데이타 송수신부(308)로부터 제공되는 전기신호를 광신호로 변환하여 제2WDM 커플러(304)에 제공한다. 그리고 시험모드시 시험장치 접속장치(306)는 감시채널의 광신호를 전기신호로 변환한 후에 채널 애드/드롭 및 데이타 송수신부(308)에 제공하고, 감시채널의 전기신호에 대해 지터를 감쇄한 후에 시험장치(400)에 제공하고, 시험장치(400)로부터의 시험용 데이타를 광신호로 변환하여 감시채널의 광신호로서 제2WDM 커플러(304)에 제공한다. 상기 채널 애드/드롭 및 데이타 송수신부(308)는 감시채널로부터의 데이타를 시험장치 접속장치(306)를 통해 수신하여 처리하여 프로세서(310)에 제공하거나, 프로세서(310)로부터 제공받은 데이타를 처리하여 시험장치 접속장치(306)를 통해 감시채널로 전송한다.

상기 프로세서(310)는 조작부(312)를 통해 시험자가 정상모드 설정을 명령하면 정상모드로 설정하고, 시험모드 설정을 명령하면 시험모드로 설정한다. 상기 프로세서(310)는 정상모드로 설정되었을 때에 광선로 감시 및 시험을 위한 프로그램에 따라 광선로를 감시하고 시험한다. 그리고 시험모드일 때에는 광선로로부터 시험용 데이타를 수신하여 시험장치(400)에 의한 시험결과와 직접 수신한 시험용 데이타에 따른 결과를 비교하여 광전송장비의 상태도 체크한다. 상기 조작부(312)는 사용자가 모드설정을 명령할 수 있도록 하는 키입력부와 시험결과 등을 표시하기 위한 디스플레이장치로 구성된다.

상기 시험장치 접속장치의 상세한 구성을 도시한 도 3을 참조하면, O(Optic)/E(Electronic) 변환기(C1)는 입력되는 감시채널의 광신호를 전기신호로 변환하여 지터감쇄기(J) 및 제1스위치(SW1)의 제3단자에 입력한다. 지터감쇄기(J)는 입력된 전기신호에 대해 지터를 감쇄한 후에 제2스위치(SW2)의 제2단자 및 시험장치(400)에 입력한다. 상기 시험장치(400)는 시험모드시에 각종 시험용 데이타를 제2스위치(SW2)의 제3단자로 출력한다.

상기 제2스위치(SW2)는 프로세서(310)의 제어에 따라 정상모드시에는 제2단자로부터의 입력을 출력하고, 시험모드시에는 제3단자로부터의 입력을 출력한다. 상기 제2스위치(SW2)의 출력은 제3스위치(SW3)의 제3단자 및 제1스위치(SW1)의 제2단자로 입력된다. 상기 제1스위치(SW1)는 프로세서(310)의 제어에 따라 정상모드시에는 제2단자로부터의 입력을 출력하고, 시험모드시에는 제3단자로부터의 입력을 출력한다. 상기 제1스위치(SW1)의 출력은 채널 애드/드롭 및 데이타 송수신부(308)를 통해 프로세서(310)에 제공된다. 그리고 채널 애드/드롭 및 데이타 송수신부(308)를 통한 프로세서(310)의 출력은 제3스위치(SW3)의 제2단자에 입력된다. 상기 제3스위치(SW3)는 프로세서(310)의 제어에 따라 정상모드시에는 제2단자로부터의 입력을 출력하고, 시험모드시에는 제3단자로부터의 입력을 출력한다. 상기 제3스위치(SW3)의 출력은 E/O 변환기(C2)에 입력된다. 상기 E/O 변환기(C2)는입력된 제3스위치(SW3)의 출력을 광신호로 변환한 후에 출력한다.

상기 제1,제2,제3스위치(SW1,SW2,SW3)의 스위칭동작을 나타낸 것이 표 1이다.

	정상모드시의 출력	시험모드시의 출력
제1스위치	제2단자로 입력된 신호(지터감쇄기를 통과한 신호)	제3단자로 입력된 신호(지터감쇄기를 통과하지 않은 신호)
제2스위치	제2단자로 입력된 신호(지터감쇄기를 통과한 신호)	제3단자로 입력된 신호(시험장치로부터의 시험용 데이타)
제3스위치	제2단자로 입력된 신호(프로세서로부터의 데이타)	제3단자로 입력된 신호(시험장치로부터의 시험용 데이타)

상술한 바와 같은 스위칭 동작과 프로세서의 처리 흐름도를 도시한 도 4와 시험장치의 처리 흐름도를 도시한 도 5를 참조하여 본 발명에 따른 광선로 시험동작을 설명한다.

도 4의 (700)단계에서 사용자가 조작부(312)를 통해 테스트 모드 설정을 명령하지 않으면 프로세서(310)는 정상모드로 판단하여 (702)단계로 진행한다. (702)단계에서 프로세서(310)는 제1,제2,제3스위치(SW1,SW2,SW3)가 제2단자로 입력되는 신호를 출력하도록 제어한 후에 (704)단계로 진행한다. 상기 (704)단계에서 프로세서(310)는 광선로 감시 및 시험 프로그램을 통해 광선로 감시 및 시험을 수행한다.

그리고 사용자가 조작부(312)를 통해 테스트 모드 설정을 명령하면 프로세서(310)는 테스트 모드로 판단하여 (706)단계로 진행한다. 상기 (706)단계에서 프로세서(310)는 제1,제2,제3스위치(SW1,SW2,SW3)로 제3단자로부터의 입력을 출력하도록 제어한 후에 (708)단계로 진행한다. 상기 (708)단계에서 시험장치로부터 시험용 데이타 및 시험결과, 수신한 데이타 등을 제공받아 시험장치에 의한 시험결과와 수신한 데이타에 의한 시험결과 등을 비교하여 디스플레이한다.

도 5의 (800)단계에 시험장치(400)의 제어부는 프로세서(310)에 의해 정상모드로 설정되면 (802)단계로 진행하여 수신한 데이타를 제공받아 단순한 에러체크 등을 수행한다. 그리고 제어부는 프로세서(310)에 의해 시험모드로 설정되면 (804)단계로 진행하여 광선로를 통한 시험 수행 및 시험 데이타, 시험결과 등을 프로세서(310)에 제공한다.

상술한 바와 같이 본 발명은 광선로를 외부 시험장치로 시험가능하도록 한다.

상술한 바와 같이 본 발명은 광선로를 외부 시험장치로 시험가능하도록 할 수 있으므로, 광선로의 특성을 정확하고 신뢰성있게 시험하거나 측정하거나 감시할 수 있는 이점이 있다.

Claims

광선로를 통해 다른 광전송장비와 연결되어 있는 광전송장비의 광선로 시험장치 접속장치로서, 상기 광선로를 통해 수신된 광신호를 전기신호로 변환하여 외부 시험장치에서의 시험을 위해 출력하는 제1변환기와, 상기 전기신호 및 외부 시험장치로부터의 시험용 데이타를 입력받아, 정상모드시 상기 전기신호를 출력하고 시험모드시 시험용 데이타를 출력하는 제1스위칭부와, 상기 제1스위칭부의 출력 및 광전송장비로부터의 시험용 데이타를 입력받아, 정상모드시 상기 광전송장비로부터의 시험용 데이타를 출력하고 시험모드시 제1스위칭부의 출력을 출력하는 제2스위칭부와, 상기 제2스위칭부의 출력을 광신호로 변환하여 상기 광선로로 출력하는 제2변환기와, 상기 전기신호 및 상기 제1스위칭부의 출력을 입력받아, 정상모드시 제1스위칭부의 출력을 광전송장비내에서의 시험을 위해 출력하고 시험모드시 상기 전기신호를 광전송장비내에서의 시험을 위해 출력하는 제3스위칭부와, 상기 정상모드와 시험모드에 따라 상기 제1,제2,제3스위칭부의 스위칭을 제어하는 제어부를 구비하는 광전송장비의 광선로 시험장치 접속장치에서의 광전송장비의 광선로 시험방법에 있어서,

시험자의 명령에 따라 정상모드 또는 시험모드를 설정하는 단계와,

정상모드로 설정된 때에는 광전송장비내에서 광선로를 감시 및 시험하면서 그 광선로로부터 수신한 광신호에 따른 전기신호를 외부 시험장치에 제공하여 에러체크를 수행하도록 하는 단계와,

시험모드로 설정된 때에는 광전송장비와 연결된 광선로와 외부 시험장치간의 경로를 형성하여, 외부 시험장치가 그 광선로를 통해 시험을 수행하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 광전송장비의 광선로 시험방법.
광선로를 통해 다른 광전송장비와 연결되어 있는 광전송장비의 광선로 시험장치 접속장치에 있어서,

상기 광선로를 통해 수신된 광신호를 전기신호로 변환하여 외부 시험장치에서의 시험을 위해 출력하는 제1변환기와,

상기 전기신호 및 외부 시험장치로부터의 시험용 데이타를 입력받아, 정상모드시 상기 전기신호를 출력하고 시험모드시 시험용 데이타를 출력하는 제1스위칭부와,

상기 제1스위칭부의 출력 및 광전송장비로부터의 시험용 데이타를 입력받아, 정상모드시 상기 광전송장비로부터의 시험용 데이타를 출력하고 시험모드시 제1스위칭부의 출력을 출력하는 제2스위칭부와,

상기 제2스위칭부의 출력을 광신호로 변환하여 상기 광선로로 출력하는 제2변환기와,

상기 전기신호 및 상기 제1스위칭부의 출력을 입력받아, 정상모드시 제1스위칭부의 출력을 광전송장비내에서의 시험을 위해 출력하고 시험모드시 상기 전기신호를 광전송장비내에서의 시험을 위해 출력하는 제3스위칭부와,

상기 정상모드와 시험모드에 따라 상기 제1,제2,제3스위칭부의 스위칭을 제어하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 전송장비의 광선로 시험장치 접속장치.