KR100299244B1 - Method and device for testing quality of optical disc medium - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A quality testing device for an optical disc and a method thereof are provided to test all the manufactured disc quality by automatically loading the optical disc and performing the test to a predetermined area during a short time, thereby improving the reliability. CONSTITUTION: A quality testing device for an optical disc includes a recording/reproducing element for recording/reproducing test data with respect to a predetermined area of the disc, a storing element for storing source test data recorded to the disc by the recording/reproducing element, and a disc quality determination element for comparing a signal reproduced from the recording/reproducing element with a signal stored in the storing element for determining the quality of the disc according to the comparison result.

Description

광디스크의 품질검사방법 및 장치Quality inspection method and device of optical disc

본 발명은 광디스크의 품질검사방법 및 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 제조된 모든 광디스크의 품질을 검사하여 제품의 신뢰성을 제공할 수 있는 광디스크의 품질검사방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a quality inspection method and apparatus for an optical disc, and more particularly, to a quality inspection method and apparatus for inspecting a quality of all manufactured optical discs and providing reliability of a product.

지금까지 기록매체로는 자기 기록방식의 테이프와, 광디스크로서의 레이저 디스크 또는 컴팩 디스크 및 최근 대용량의 정보 저장능력을 갖고 탄생된 디지털 비디오 디스크 등을 들 수 있다.Until now, recording media include magnetic recording tapes, laser discs or compact discs as optical discs, and digital video discs that have been recently produced with a large capacity for storing information.

이러한 기록매체 중에서 광디스크는 기존에 사용하였던 자기 기록 방식의 테이프와 기록방식이 다른 디지털 기록방식을 사용하고 있고, 매우 작은 부피 및 무게를 갖기 때문에 보관 및 이동에 매우 효율적이라는 것에 의하여 소비자들에게 그 호응도가 매우 높은 편이다.Among these recording media, optical discs use digital recording method that is different from conventional magnetic recording method, and because they have very small volume and weight, they are very efficient for storage and movement. Is very high.

그러나 어떠한 제품에 있어서든지 간에 제조된 제품이 아무런 하자 없이 사용이 가능해야 하고, 만약 제품의 품질에 문제가 발생되었을 경우에는 제품을 생산한 생산자의 신뢰를 떨어뜨리는 일이 될 것이다.However, in any product, the manufactured product should be able to be used without any defects, and if problems with the quality of the product occur, it will reduce the trust of the producer who produced the product.

이와 같은 부분은 광디스크에서도 마찬가지이다. 특히, 매우 미세한 신호 특성을 갖는 광디스크는 스크래치, 성형불량, 지문 및 제조과정 중에 이물질 부착되므로 인하여 품질이 양호하지 못하다는 결과를 가져오기도 하였다.The same holds true for optical discs. In particular, optical discs with very fine signal characteristics have resulted in poor quality due to scratches, mold defects, fingerprints, and foreign matter adhered during the manufacturing process.

그래서 제조가 완료된 광디스크는 그 다음 공정으로써 품질검사를 행하게 되고, 그 다음에 광디스크 시장으로 출하되었다. 따라서 본 발명에서는 광디스크를 제조한 후, 수행되는 품질 검사 과정에 대해서 설명하고자 한다.The optical disc thus manufactured is then subjected to quality inspection as a next step and then shipped to the optical disc market. Therefore, the present invention will be described for the quality inspection process performed after the optical disk is manufactured.

종래의 광디스크 품질 검사는 비주얼(visual) 검사 및 반사율 등을 검사하는 방법을 이용하고 있다. 종래 광디스크 품질 검사방법 중에서 비주얼 검사방법에 대해서 간단하게 설명한다.In the conventional optical disc quality inspection, a visual inspection and a reflectance inspection method are used. The visual inspection method among the conventional optical disc quality inspection methods will be described briefly.

도 1에 도시하고 있는 바와 같이 종래 광디스크의 품질 검사는 일반적으로 4개의 측정 드라이브에 의해서 광디스크의 품질을 검사하도록 하고 있다.As shown in Fig. 1, the quality inspection of a conventional optical disc generally allows the quality of the optical disc to be inspected by four measuring drives.

우선, 동일장치로부터 제조된 광디스크들의 특성이 같다는 가정하에서 생산자는 제조된 모든 광디스크 중에서 임의의 광디스크를 선택하여 측정 시스템(24)에 장착한다. 그 다음에, 측정 시스템(24) 내에 포함된 광기록장치(도시하지 않음)를 이용하여 장착된 광디스크에 데이터를 기록한다.First, on the assumption that the characteristics of the optical discs manufactured from the same apparatus are the same, the producer selects an arbitrary optical disc from all the manufactured optical discs and mounts it to the measurement system 24. Then, data is recorded on the mounted optical disc using an optical recording device (not shown) included in the measurement system 24.

통상, 광디스크는 리드 인 영역, 프로그램 영역, 그리고 리드 아웃 영역으로 구분 가능하며, 직접적으로 사용자들에게서 사용되는 데이터는 프로그램 영역에 기록된다. 따라서 상기 측정 시스템(24) 내에 포함된 광기록장치를 이용한 데이터의 기록은 디스크의 프로그램 영역에 기록하는 것이다.In general, an optical disc can be divided into a lead-in area, a program area, and a lead-out area, and data directly used by users is recorded in the program area. Therefore, the recording of data using the optical recording device included in the measurement system 24 is to record in the program area of the disc.

이와 같이 장착된 광디스크의 프로그램 영역에 데이터가 기록된 후, 제 1 측정 드라이브(26)는 광디스크로부터 재생되는 신호에 의하여 고주파신호 및 지터를 측정한다. 이렇게 측정된 고주파신호(HF signal) 및 지터(jitter)는 시스템(24)의 제어하에 디스플레이부(10)로 전송된다.After data is recorded in the program area of the mounted optical disc, the first measurement drive 26 measures high frequency signals and jitter by signals reproduced from the optical disc. The measured high frequency signal (HF signal) and jitter are transmitted to the display unit 10 under the control of the system 24.

상기 디스플레이부(10)의 제 1 디지털 시그널 프로세서(14)는 상기 제 1 측정 드라이브(26)로부터 측정된 고주파신호 및 지터를 소정의 신호 처리를 수행한후, 검사자가 볼 수 있도록 디스플레이시킨다.The first digital signal processor 14 of the display unit 10 displays the high frequency signal and jitter measured by the first measurement drive 26 so as to be viewed by the inspector after performing predetermined signal processing.

또한, 제 2 측정 드라이브(28)는 시스템(24)에 장착된 광디스크로부터 재생되는 신호에 기초해서 서보 신호(포커싱에러신호 및 트랙킹에러신호)를 측정하고, 이렇게 측정된 서보 신호는 시스템(24)의 제어하에 제 2 디지털 시그널 프로세서(16)에 입력된다. 상기 제 2 디지털 시그널 프로세서(16)는 상기 측정시스템(24)으로부터 입력된 서보신호를 소정의 신호처리를 수행한 후, 검사자가 볼 수 있도록 디스플레이시킨다.In addition, the second measurement drive 28 measures servo signals (focusing error signals and tracking error signals) based on signals reproduced from the optical disc mounted in the system 24, and the measured servo signals are stored in the system 24. Is input to the second digital signal processor 16 under the control of. The second digital signal processor 16 performs a predetermined signal processing on the servo signal input from the measurement system 24, and then displays the servo signal for viewing by the inspector.

마찬가지로 제 3 측정 드라이브(30)는 품질 검사 수행중인 광디스크의 기계적 특성을 검출하고, 제 4 측정 드라이브(32)는 광디스크의 광학 특성을 검출한다. 상기 제 3 측정 드라이브(30)에서 검출된 기계적 특성은 제 3 디지털 시그널 프로세서(18)에서 신호처리되고, 제 4 측정 드라이브(32)에서 검출된 광학 특성은 제 4 디지털 시그널 프로세서(20)에서 신호처리되어서 디스플레이부(10)에 디스플레이된다.Similarly, the third measuring drive 30 detects the mechanical characteristics of the optical disc during the quality inspection, and the fourth measuring drive 32 detects the optical characteristics of the optical disc. The mechanical characteristic detected in the third measurement drive 30 is signal processed in the third digital signal processor 18, and the optical characteristic detected in the fourth measurement drive 32 is signaled in the fourth digital signal processor 20. It is processed and displayed on the display unit 10.

그리고 설명되지 않은 디스플레이부(10)의 중앙처리장치(12)는 상기 메인 컴퓨터(22) 및 측정 시스템(24)과 데이터 송수신을 통하여 상기 제 1 내지 제 4 디지털 시그널 프로세서의 신호처리를 제어한다. 또한 메인 컴퓨터(22)는 지금까지 설명된 모든 장치들의 동작이 정상적으로 이루어질 수 있도록 제어하는 역할을 담당한다.The central processing unit 12 of the display unit 10, which is not described, controls signal processing of the first to fourth digital signal processors through data transmission and reception with the main computer 22 and the measurement system 24. In addition, the main computer 22 is responsible for controlling the operation of all the devices described so far.

이와 같이 종래의 광디스크 품질 검사는 광디스크에 레이저 빔을 집광시켜서 데이터를 기록한 후, 상기 광디스크로부터 반사되는 신호를 측정하여 정보가 정확하게 기록되는지의 여부 및 광디스크의 제작상태를 판단하게 된다.As described above, the conventional optical disc quality inspection focuses a laser beam on the optical disc to record data, and then measures the signal reflected from the optical disc to determine whether the information is recorded correctly and the manufacturing state of the optical disc.

그래서 광디스크로부터 리드 인의 시작, 프로그램 영역의 시작, 리드아웃의 시작, 트랙(track)과 인덱스(index)의 시작, 검사속도, 트랙 피치(track pitch ; TRP), Bowed Deflection(DFL), Warp Deflection(WAV), 광디스크의 두께, Angular Deflection, Vertical Deviation, 광디스크의 반경, 중심홀의 직경 등의 기계적 특성치 들을 검사하고, 가청잡음(Radial Noise ; RNS), 초점 잡음(Focal Noise ; FOC), 푸쉬 풀(push/pull) 등의 트랙킹 신호(Tracking Signal), 데이터 캐리어 아날로그(Data Carrier Analog), 데이터 캐리어 디지털(Data Carrier Digital) 등을 검사해서 광디스크의 품질을 검사한다.Thus, the start of lead-in from the optical disc, the start of the program area, the start of lead-out, the start of track and index, the speed of inspection, the track pitch (TRP), Bowed Deflection (DFL), Warp Deflection ( WAV), optical disk thickness, Angular Deflection, Vertical Deviation, optical disk radius, center hole diameter, etc. The quality of the optical disc is checked by checking a tracking signal such as a / pull), a data carrier analog, a data carrier digital, and the like.

그러나 종래의 광디스크 품질 검사 방법은 제작된 광디스크를 전수 검사할 수 없는 문제점을 가지고 있다. 이것은, 품질 검사가 수행되는 광디스크는 사용자 데이터가 기록되는 프로그램 영역에 직접 품질 검사를 위한 데이터가 기록된다. 그래서 CD-R, DVD-R과 같이 한번 데이터를 기록하면 제품으로서의 가치를 상실해버리는 광디스크의 경우에 있어서는 샘플링 된 후 폐기처분 되야하고, 이로 인하여 샘플링 검사를 위한 광디스크의 양을 충분하게 선택하지 못하게 된다.However, the conventional optical disc quality inspection method has a problem in that it is impossible to fully inspect the manufactured optical disc. This means that in the optical disc on which the quality inspection is performed, data for quality inspection is directly recorded in the program area in which user data is recorded. Therefore, in the case of optical discs that record data once, such as CD-R and DVD-R, they have to be discarded after being sampled. Therefore, it is impossible to select a sufficient amount of optical discs for sampling inspection. do.

이와 같이 종래의 광디스크 품질 검사 방법은 샘플링 테스트로 인한 폐기된 디스크 만큼의 제조 비용에서 손실을 가져왔고, 제조된 광디스크의 전수검사를 할수 없는 것으로 인하여, 제품의 신뢰성이 떨어지는 문제점을 가지고 있다. 그리고 종래의 광디스크 품질 검사 방법은 비주얼 테스트의 한계성 및 장비의 설치 비용 그리고 제조 공정상에서도 택 타임(tack time)이 긴 등, 여러 가지 점에서 문제점을 노출시켰다.As described above, the conventional optical disc quality inspection method has a loss in manufacturing cost as much as the discarded disc due to the sampling test, and due to the inability to perform a full inspection of the manufactured optical disc, there is a problem in that the reliability of the product is inferior. In addition, the conventional optical disc quality inspection method has exposed problems in various aspects, such as the limitation of visual test, installation cost of equipment, and long tack time in the manufacturing process.

그래서 본 발명에서는 제조된 광디스크의 샘플링 테스트를 전수 검사로 전환 하고, 테스트 데이터 등을 디스크 상에 기록 재생하더라도 제품성을 잃지 않게 하고자 한다. 또한, 본 발명에서는 광디스크 제조 공정상의 택 타임을 줄이고, 신뢰성을 높이면서 결국 제조 비용을 낮추고자 한다.Therefore, in the present invention, the sampling test of the manufactured optical disk is converted to full inspection, and the product quality is not lost even if the test data and the like are recorded and reproduced on the disk. In addition, the present invention is to reduce the tack time in the optical disk manufacturing process, increase the reliability and eventually reduce the manufacturing cost.

따라서 본 발명의 목적은 제조된 광디스크의 전수 검사를 할 수 있는 광디스크의 품질검사방법 및 장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a method and apparatus for quality inspection of an optical disk capable of performing a full inspection of the manufactured optical disk.

본 발명의 다른 목적은 제품의 신뢰성을 높이면서 광디스크의 제조 비용을 줄일 수 있는 광디스크의 품질검사방법 및 장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an optical disc quality inspection method and apparatus which can reduce the manufacturing cost of the optical disc while increasing the reliability of the product.

제1도는 종래 광디스크 품질검사장치를 도시하는 구성도.1 is a block diagram showing a conventional optical disc quality inspection apparatus.

제2도는 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치의 기계적인 구성도.2 is a mechanical configuration diagram of an optical disk quality inspection apparatus according to the present invention.

제3도는 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치의 전체 시스템 구성도.3 is an overall system configuration of an optical disk quality inspection apparatus according to the present invention.

제4도는 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치의 내부 구성을 도시하는 블록도.4 is a block diagram showing an internal configuration of an optical disc quality inspection apparatus according to the present invention.

제5도는 본 발명에 따른 광디스크의 구조도.5 is a structural diagram of an optical disk according to the present invention.

제6도는 본 발명에 따른 광디스크 품질검사의 과정을 도시하는 흐름도.6 is a flowchart showing a process of optical disc quality inspection according to the present invention;

제7도는 본 발명의 다른 실시예에 따른 광디스크 품질검사 과정을 도시하는 흐름도.7 is a flowchart showing an optical disc quality inspection process according to another embodiment of the present invention.

제8도는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 광디스크 품질검사 과정을 도시하는 흐름도.8 is a flowchart showing an optical disc quality inspection process according to another embodiment of the present invention.

제9도는 이동 픽업의 디스크를 흡착하기 위한 구성 예시도.9 is an exemplary configuration diagram for sucking a disk of a mobile pickup.

제10도는 이동 픽업의 상하이동을 위한 구성 예시도.10 is an exemplary configuration diagram for the shanghai dong of the mobile pickup.

제11도는 이동 픽업의 회전운동을 위한 구성 예시도.11 is an exemplary configuration for the rotational movement of the mobile pickup.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

40 : 드라이브 44 : 원형 축40: drive 44: circular axis

46 : 이동 픽업 48, 50, 52 : 스핀들46: moving pickup 48, 50, 52: spindle

60 : 광디스크 62 : 스핀들 모터60: optical disk 62: spindle motor

64 : 슬라이드 모터 66 : 로딩 모터64: slide motor 66: loading motor

68 : 디스플레이부 70 : 픽업장치68: display unit 70: pickup device

72 : 레이저 다이오드 드라이브 74 : 쓰기 제어 로직72: laser diode drive 74: write control logic

76 : 고주파 증폭부 78 : DSP76: high frequency amplifier 78: DSP

80 : 서보 프로세서 82 : 마이크로 프로세서80: servo processor 82: microprocessor

84 : 메모리 86 : 비교기84: memory 86: comparator

88 : 버퍼 90 : 인터페이스88: buffer 90: interface

92 : 캐리어 94 : 인터페이스92 carrier 94 interface

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광디스크의 품질검사방법은, 디스크의 특정 영역을 서치하는 단계와; 상기 디스크의 특정 영역에 테스트 데이터를 기록하는 단계와; 상기 특정 영역에 기록된 데이터를 재생하는 단계와; 상기 재생 데이터와 기준 데이터를 비교하여 디스크의 품질을 판단하는 단계를 포함하여 구성된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting a quality of an optical disc, the method including: searching for a specific area of the disc; Recording test data in a specific area of the disc; Reproducing data recorded in the specific area; And comparing the reproduction data with the reference data to determine the quality of the disc.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광디스크의 품질검사장치는 디스크의 특정 영역에 테스트 데이터를 기록/재생하는 기록/재생수단과; 상기 기록/재생수단에 의해 디스크에 기록되는 소오스 테스트 데이터를 저장하는 저장수단과; 상기 기록/재생수단으로부터 재생된 재생신호와 상기 저장수단에 저장된 신호를 비교하여, 디스크의 품질을 판별하는 디스크 품질판별수단을 포함하여 구성된다.According to an aspect of the present invention, a quality inspection apparatus for an optical disc includes: recording / reproducing means for recording / reproducing test data in a specific area of the disc; Storage means for storing source test data recorded on the disc by the recording / reproducing means; And disc quality discriminating means for discriminating the quality of the disc by comparing the reproduced signal reproduced from the recording / reproducing means with the signal stored in the storing means.

이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 광디스크의 품질검사방법 및 장치에 대해서 상세하게 설명한다.Hereinafter, a method and an apparatus for checking quality of an optical disc according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

우선, 본 발명은 제조된 다수의 광디스크들에게서 양품 디스크와 불량 디스크를 판별하기 위한 품질검사를 수행하는 것이므로, 이제 곧 성형 제조된 다수의 광디스크들을 품질검사장치로 이송시키게 될 것이다.First, since the present invention performs quality inspection for discriminating good and bad discs from a plurality of manufactured optical discs, it will soon be carried to the quality inspection apparatus of a plurality of molded optical discs.

그리고 광디스크들은 통상의 제조공정에 의해서 제조될 것이다. 예를 들어서, 폴리카보네이트가 공급되고, PC건조공정, 용융 및 사출공정, 금형에 의한 성형 공정이 이루어진 후, 성형된 기록막을 코딩시키는 공정 및 클리닝공정, 기록막 드라이 공정이 수행되면 기록막에 대한 모든 공정이 완료된다. 그리고 데이터가 기록되는 기록막을 보호하기 위한 보호막 코딩공정이 이루어지면 원하는 광디스크가 제조된다.And optical discs will be manufactured by a conventional manufacturing process. For example, a polycarbonate is supplied, a PC drying process, a melting and injection process, a molding process by a mold are performed, a process of coding a formed recording film, a cleaning process, and a recording film drying process are performed on the recording film. All processes are complete. When the protective film coding process is performed to protect the recording film on which data is recorded, a desired optical disc is manufactured.

이렇게 제조된 광디스크는 스핀들(48) 상에 쌓여져서 본 발명의 품질검사장치로 이송될 것이다.The optical disk thus manufactured will be stacked on the spindle 48 and transferred to the quality inspection apparatus of the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치(Compact Disc Recordable Inspection Apparatus : CDIA)의 예시적인 구성도이다. 도시된 실시예는, 후술하는 바와 같이 광디스크의 품질검사를 위한 다수개의 드라이브(40)와 각각의 스핀들(48,50,52) 사이를 이동 가능하게 설치되는 이동픽업(46)에 대한 하나의 실시예이다.2 is an exemplary configuration diagram of a compact disc recordable inspection apparatus (CDIA) according to the present invention. The illustrated embodiment is one embodiment for the mobile pickup 46 which is movably installed between the plurality of drives 40 and the respective spindles 48, 50, 52 for quality inspection of the optical disc as described below. Yes.

도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치는 통상의 제조공정에 의해서 제조된 광디스크의 품질을 검사하기 위하여, 장착된 광디스크의 일정영역에 데이터를 기록하고, 데이터가 기록된 광디스크로부터 데이터를 재생하여 광디스크의 품질을 검사하는 다수개의 드라이브(40)를 포함한다.As shown in Fig. 2, the optical disc quality inspection apparatus according to the present invention records data in a predetermined area of the mounted optical disc in order to inspect the quality of the optical disc manufactured by a conventional manufacturing process, and the optical disc on which the data is recorded. And a plurality of drives 40 for reproducing data from the data disc and checking the quality of the optical disc.

그리고 광디스크 품질검사장치는 통상의 제조공정에 의해서 제조된 다수의 광디스크들을 쌓아 둔 제 1 스핀들(48)과, 상기 드라이브(40)에 의해서 품질 검사가 수행된 후 양품 디스크를 쌓는 제 2 스핀들(50)과, 상기 드라이브(40)에 의해서 품질 검사가 수행된 후, 불량 디스크를 쌓는 제 3 스핀들(52)을 포함한다.The optical disc quality inspection apparatus includes a first spindle 48 having a plurality of optical discs manufactured by a conventional manufacturing process, and a second spindle 50 for stacking good quality discs after quality inspection is performed by the drive 40. And a third spindle 52 for stacking bad disks after quality inspection is performed by the drive 40.

즉, 광디스크 품질검사장치는 입력 스핀들을 최소 1개 구비하고 있어야 하고, 출력 스핀들을 최소 2개 구비하고 있어야 한다. 상기 입력 스핀들은 제조된 후 품질 검사가 수행이 안된 디스크들을 쌓아두기 위한 스핀들이고, 출력 스핀들은 광디스크 품질검사장치로부터 검사후 양품 또는 불량의 스핀들을 쌓아두기 위한 것이다.That is, the optical disc quality inspection device should have at least one input spindle and at least two output spindles. The input spindle is a spindle for stacking disks for which quality inspection has not been performed after manufacture, and the output spindle is for stacking good or defective spindles after inspection from an optical disk quality inspection apparatus.

또한, 본 발명의 광디스크 품질검사장치는 상기 제 1 스핀들(48)에 쌓여있는 광디스크 중에서 맨 상부의 광디스크를 잡아서, 상기 드라이브(40) 상에 장착시키거나, 또는 상기 드라이브(40)에서 품질 검사 후 양품 디스크는 상기 제 2 스핀들(50)로 이동시키고, 불량 디스크는 제 3 스핀들(52)로 이동시키는 이동픽업(46)을 포함한다.In addition, the optical disk quality inspection apparatus of the present invention by holding the optical disk at the top of the optical disk stacked on the first spindle 48, mounted on the drive 40, or after the quality inspection in the drive 40 The good quality disc includes a moving pickup 46 which moves to the second spindle 50 and the bad disc moves to the third spindle 52.

따라서 상기 이동픽업(46)은 상기 드라이브(40)와 스핀들 사이에서 이동 가능하게 설치되는데, 도 2에 도시되고 있는 바와 같이 드라이브(40)와 스핀들(48,50,52) 사이의 중앙에 회전 가능한 원형의 축(44) 상에 장착되며, 또한 상기 이동픽업(46)은 상기 원형의 축(44) 상에서 상하로 이동 가능하게 장착된다.Accordingly, the movable pickup 46 is installed to be movable between the drive 40 and the spindle. As shown in FIG. 2, the movable pickup 46 is rotatable in the center between the drive 40 and the spindles 48, 50, and 52. It is mounted on the circular shaft 44, and the movable pickup 46 is mounted to be movable up and down on the circular shaft 44.

이동픽업(46) 자체는, 상기 다수개의 스핀들(48,50,52)과 다수개의 드라이브(40) 사이를 이동하면서, 스핀들에 적층된 디스크를 이동시키기 위한 것이다. 따라서 상기 이동픽업(46)는 상기 스핀들을 하나씩 잡을 수 있는 장치를 구비하고 있다. 이러한 장치는, 여러가지로 구성하는 것이 가능하지만, 먼저 흡착(Sucking) 방식에 대하여 설명한다. 흡착에 의한 디스크의 파지동작을 예시적으로 도시하고 있는 도 9에 도시한 바와 같이, 흡착에 의한 디스크의 파지는, 상기 이동픽업(46)의 하측(디스크와 접하는 면)에 흡착공(46a)을 형성하고, 상기 흡착공(46a)을 관형부재(46b)에 의하여 예를 들면 진공펌프(P)와 연결하도록 구성된다. 따라서 상기 진공펌프(P)가 동작함에 따라, 상기 관형부재(46b)와 연결되는 흡착공(46b)을 통하여, 상기 디스크를 흡입하는 흡입력이 발휘되어, 디스크가 한장씩 상기 이동픽업(46)에 밀착하게 된다.The moving pickup 46 itself is for moving a disk stacked on the spindle while moving between the plurality of spindles 48, 50, 52 and the plurality of drives 40. Therefore, the mobile pickup 46 is provided with a device that can hold the spindles one by one. Such an apparatus can be configured in various ways, but first, a sucking method will be described. As shown in FIG. 9, which shows a grip operation of the disk by adsorption, the grip of the disk by adsorption is a suction hole 46a on the lower side (surface in contact with the disk) of the mobile pickup 46. And the suction hole 46a is connected to, for example, the vacuum pump P by the tubular member 46b. Therefore, as the vacuum pump P operates, the suction force for sucking the disk is exerted through the suction hole 46b connected to the tubular member 46b, so that the disk adheres to the mobile pickup 46 one by one. Done.

이렇게 하여 한장의 디스크를 파지한 상기 이동픽업(46)은, 후술하는 상하이동동작 및 회전 동작을 통하여, 스핀들(48,50,52)과 드라이브(40) 사이를 이동하게 된다. 그리고 이동이 완료된 다음에는, 상기 진공펌프(P)의 동작이 중지되면, 디스크를 빨아당기는 흡입력이 해제되어, 디스크는 스핀들 또는 드라이브의 소정위치에 안착될 것이다.In this way, the mobile pick-up 46, which holds a single disc, is moved between the spindles 48, 50, 52 and the drive 40 through the shank movement and rotation operations described later. And after the movement is completed, when the operation of the vacuum pump (P) is stopped, the suction force for sucking the disk is released, the disk will be seated in a predetermined position of the spindle or drive.

그러나 실질적으로 상기 이동픽업(46)에 대한 구성은 이러한 구성에 한정되는 것은 아니다. 즉, 상기 디스크를 한장씩 집어서, 원하는 위치로 이동시키는 것이 가능한 구성이면 족하다. 예를 들면 다수개의 아암으로 구성되어, 상기 디스크를 파지할 수 있는 장치를 구현하는 것도 가능함은 물론이고, 다수개의 관절운동이 가능한 아암과 상기 아암의 관절운동을 수행시킬 수 있는 유압장치 또는 공기압장치를 이용하여 실현할 수 있음은 물론이다.However, the configuration of the mobile pickup 46 is not limited to this configuration. That is, it is sufficient if it is possible to pick up the discs one by one and move them to a desired position. For example, it is possible to implement a device that can hold the disk, consisting of a plurality of arms, as well as a plurality of articulated arms and a hydraulic or pneumatic device that can perform the joint motion of the arm Of course, it can be realized by using.

다음에 상기 이동픽업(46)은 상술한 바와 같이 상기 원형의 축(44)에 소정간격 상하 운동이 가능하도록 구성되어 있다. 이러한 구성에 대하여 도 10에 기초하여 살펴보기로 한다.Next, as described above, the movable pickup 46 is configured to allow the circular shaft 44 to move up and down by a predetermined interval. This configuration will be described based on FIG. 10.

이동픽업(46)의 상하이동장치는, 상기 원형 축(44)의 내부에 회동 가능하게 설치되는 워엄(44a)와, 상기 워엄(44a)의 외주면 치형에 맞물리도록 형성되는 이동픽업(46)의 치형부(46c)를 포함하여 구성된다. 상기 워엄(44a)의 외주면에는, 치형이 형성되어 있으며, 상기 치형부(46c)는 상기 워엄(44a)의 치형과 맞물려 있기 때문에 워엄(44a)의 회전에 따라서, 실질적으로 상하운동을 수행하게 된다. 이 때 상기 이동픽업(46)은 원형의 축(44)에 의하여 상하방향으로의 이동만 할 수 있도록 가이드되어 있어야 함은 물론이다. 상기 워엄(44a)은, 정역회전이 가능한 모터(M)에 의하여 회전하게 된다. 그리고 상기 이동픽업(46)의 하면에는, 터치센서(46s)가 설치되어 있다.The shank moving device of the movable pickup 46 includes a worm 44a rotatably installed inside the circular shaft 44 and a movable pickup 46 formed to engage the teeth of the outer circumferential surface of the worm 44a. It is comprised including the tooth | gear part 46c. On the outer circumferential surface of the worm 44a, teeth are formed, and since the teeth 46c are engaged with the teeth of the worm 44a, the vertical movement is substantially performed in accordance with the rotation of the worm 44a. . At this time, the moving pickup 46 is to be guided so as to be able to move only in the vertical direction by the circular shaft 44, of course. The worm 44a is rotated by a motor M capable of forward and reverse rotation. On the lower surface of the mobile pickup 46, a touch sensor 46s is provided.

도 10에 도시한 구성예는 이동픽업(46)을 상하 이동 가능하게 구성하는 것에 대한 하나의 구성예에 불과한 것이다. 실질적으로 상기 이동픽업(46)을 상하 이동 시키는 구성은 다른 많은 변형예가 있을 수 있다. 예를 들어, 상기 이동픽업(46)을 랙(rack)에 설치하고, 상기 랙을 구동시키는 피니언을 회전수제어 가능한 모터에 연결하여 구성하는 것도 가능하다. 상기 피니언을 회전시키는 것에 의하여, 랙은 상하운동을 하면서, 이동픽업(46)을 상하로 이동시키는 것이 가능하게 된다.The configuration example shown in FIG. 10 is only one configuration example for configuring the mobile pickup 46 to be movable up and down. Substantially, the configuration for moving the mobile pickup 46 up and down may have many other modifications. For example, the mobile pickup 46 may be installed in a rack, and the pinion for driving the rack may be connected to a motor capable of controlling the rotation speed. By rotating the pinion, the rack can move the pick-up 46 up and down while moving up and down.

다른 변형예로서, 벨트구동방식도 가능함은 물론이다. 상기 원형의 축(44)의 내부의 상하에 걸쳐, 엔드리스벨트를 설치하고, 상기 엔드리스벨트의 중간부분에 이동픽업을 부착하는 것을 의미한다. 이러한 벨트 구동방식을 취할 경우, 구동 풀리에 모터에 의한 회전 동력을 전달하는 것으로, 이동픽업의 상하 운동을 가능하게 할 수 있을 것이다.As another modification, the belt driving method is also possible. It is meant that the endless belt is installed over the inside of the circular shaft 44 and a mobile pickup is attached to the middle portion of the endless belt. In the case of the belt driving method, by transmitting the rotational power by the motor to the drive pulley, it will be possible to enable the vertical movement of the mobile pickup.

다음에는 이동픽업의 회전운동에 대한 구성의 예시도인 도 11을 참조하면서, 상기 이동픽업(46)의 회전운동에 대하여 설명한다. 상기 이동픽업(46)의 회전운동은, 실질적으로 원형의 축(44)에 의하여 수행된다. 상기 원형의 축(44)은 중심축(44s)에 의하여, 본 발명에 의한 장치의 본체지지면(49)에 회전 가능하게 지지되어 있다. 그리고 상기 중심축(44s)은, 전달기어(46)를 통하여 구동모터(M1)에 의하여 회전동력이 전달될 수 있도록 구성되어 있다. 따라서 상기 구동모터(M1)이 구동하면, 상기 중심축(44s)은 전달기어(45)에 의한 동력전달에 의하여 회전하게 된다. 이 때, 상기 원형 축(44)의 회전각의 제어는, 구동모터(M1)의 회전수를 제어하는 것에 의하여 충분하게 제어가능하다. 즉, 구동모터(M1)의 회전수를 감지하는 회전수감지장치, 예를 들면 엔코더 등에 의하여 상기 구동모터(M1)의 회전수를 제어하는 것에 의하여 이동픽업(46)의 회전각이 제어되어, 다수개의 스핀들(48,50,52)에 대한 위치제어와, 다수개의 드라이브(40)에 대한 위치제어를 수행할 수 있게 된다.Next, the rotational motion of the mobile pickup 46 will be described with reference to FIG. 11, which is an exemplary view of the configuration of the rotational motion of the mobile pickup. The rotational movement of the movable pick-up 46 is performed by a substantially circular shaft 44. The circular shaft 44 is rotatably supported by the main shaft 44s on the main body supporting surface 49 of the apparatus according to the present invention. The central shaft 44s is configured to transmit rotational power by the driving motor M1 through the transmission gear 46. Therefore, when the driving motor M1 is driven, the central shaft 44s is rotated by power transmission by the transmission gear 45. At this time, the control of the rotation angle of the circular shaft 44 is sufficiently controllable by controlling the rotation speed of the drive motor M1. That is, the rotation angle of the mobile pickup 46 is controlled by controlling the rotation speed of the drive motor M1 by a rotation speed sensing device, for example, an encoder, which senses the rotation speed of the drive motor M1. Position control for the plurality of spindles 48, 50, 52 and position control for the plurality of drives 40 can be performed.

도 11에 도시한 실시예는 상기 원형의 축(44)을 회전시키는 것에 의하여 이동픽업(44)의 회전운동을 가능하게 구성하는 예시적인 구성에 불과한 것이고, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 회전수의 제어가 가능한 구동모터를, 상기 원형의 축(44)의 외주면에 직접 동력을 전달할 수 있도록 구성하는 것이 가능한 것도 물론이다. 또 다른 구성예로서, 상기 회전축(44s)과 구동모터 사이를 벨트구동을 통하여 동력을 연결함으로써, 원형의 축(44)을 회전각을 제어하면서 회전시키는 것도 가능할 것이다.The embodiment shown in FIG. 11 is merely an exemplary configuration for enabling the rotational movement of the mobile pickup 44 by rotating the circular shaft 44, but is not limited thereto. For example, it is of course possible to configure the drive motor which can control the rotation speed so that a power can be directly transmitted to the outer peripheral surface of the circular shaft 44. As another configuration example, it may be possible to rotate the circular shaft 44 while controlling the rotation angle by connecting power between the rotating shaft 44s and the drive motor through the belt drive.

다음에는 상술한 이동픽업의 상하운동 및 회전운동에 관련된 동작을 간단하게 살펴본다. 먼저 모터(M)가 구동되면, 상기 이동픽업(46)은 상측 또는 하측으로 이동하게 된다. 하측으로 이동하여, 디스크를 파지하는 경우를 예로 들어 설명하면, 상기 이동픽업(46)이 하측으로 이동하여, 스핀들(48,50,52)에 적층되어 있는 디스크에 이르게 되면, 상기 터치센서(46s)에서의 감지신호에 의하여 디스크와 접하는 상태라는 것을 인식하게 된다. 그러면 상기 진공펌프(P)가 동작하여 흡착공(46a)에는 디스크를 빨아들이는 흡입력이 발생하고, 이러한 흡입력에 의하여 디스크는 상기 이동픽업(46)에 밀착된다. 이러한 상태에서 상기 이동픽업(46)은 상부로 이동하거나, 원형 축(44)의 회전운동을 통하여 회전이동하게 된 후, 선택된 드라이브를 향하여 다시 하향 이동하게 된다. 이러한 상하운동 및 회전운동은, 상술한 바와 같다. 그리고 디스크가 선택된 드라이브에 안착되면, 진공펌프의 구동을 정지하게 되어, 선택된 위치에 디스크가 안착되어, 후술하는 바와 같은 테스트를 위한 과정이 수행될 것이다. 그리고 테스트가 완료된 디스크를 드라이브(40)에서 꺼내어 다시 하나의 스핀들(50 또는 52)에 적층하는 과정은 상술한 것과는 역순으로 진행될 것이다.Next, the operation related to the vertical motion and the rotational motion of the above-mentioned mobile pickup will be described briefly. First, when the motor M is driven, the mobile pickup 46 moves upward or downward. Taking the case of moving to the lower side and holding the disk as an example, when the movable pick-up 46 moves to the lower side and reaches a disk stacked on the spindles 48, 50 and 52, the touch sensor 46s It is recognized that the state of contact with the disk by the detection signal in the). Then, the vacuum pump P operates to generate suction force for sucking the disk in the suction hole 46a, and the disk closely adheres to the mobile pickup 46 by the suction force. In this state, the movable pickup 46 moves upward or rotates through the rotational movement of the circular shaft 44, and then downward again toward the selected drive. Such vertical motion and rotational motion are as described above. When the disk is seated in the selected drive, the driving of the vacuum pump is stopped, the disk is seated at the selected position, and a process for testing as described below will be performed. In addition, the process of removing the tested disk from the drive 40 and stacking it on one spindle 50 or 52 may be performed in the reverse order as described above.

그리고 본 발명의 광디스크 품질검사장치는 상기 이동픽업(46) 및 드라이브(40)의 동작을 제어하는 컨트롤러(41)를 포함한다. 즉, 상기 컨트롤러(41)는 광디스크 품질검사장치(CDIA)의 동작을 전체적으로 제어하는 기능을 갖는다.The optical disc quality inspection apparatus of the present invention includes a controller 41 for controlling the operation of the mobile pickup 46 and the drive 40. That is, the controller 41 has a function of controlling the operation of the optical disc quality inspection apparatus CDIA as a whole.

이러한 구성으로 이루어진 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치는 컨트롤러(41)의 제어하에 제 1 스핀들(48) 상에 쌓여있는 다수의 광디스크로부터 하나의 광디스크가 이동픽업(46)에 의해서 드라이브(40)로 이동된다.In the optical disk quality inspection apparatus according to the present invention having such a configuration, one optical disk is moved from the plurality of optical disks stacked on the first spindle 48 under the control of the controller 41 to the drive 40 by the movable pickup 46. Is moved.

그리고 상기 드라이브(40) 내에 장착되어서 본 발명의 데이터 포맷(STP ; Standard Test Program)에 맞는 ATIP(Absolute Time Information in Pregroove)의 특성 트랙으로 서치하여 드라이브(40)에 포함된 광픽업장치(도시하지 않음)를 이동시킨 후, 상기 광픽업장치를 이용하여 STP 데이터를 기록한다.And an optical pickup device (not shown) included in the drive 40 that is mounted in the drive 40 and searched as a characteristic track of Absolute Time Information in Pregroove (ATIP) suitable for the data format (STP; Standard Test Program) of the present invention. After recording, the STP data is recorded using the optical pickup apparatus.

이렇게 STP 데이터를 기록한 광디스크로부터 다시 데이터를 재생하고, 재생 신호와 메모리에 저장된 기준 STP 데이터를 비교하여 정상적으로 재생이 이루어졌는 지를 판단하므로서 디스크의 불량여부를 판단하게 된다.The data is reproduced again from the optical disc on which the STP data is recorded, and the discrepancy of the disc is judged by comparing the reproduction signal with the reference STP data stored in the memory to determine whether the reproduction is normally performed.

상기 드라이브(40)에서 불량 디스크로 판단된 디스크는 컨트롤(41)의 제어하에 이동픽업(46)에 의해서 서킹되어 불량 디스크를 쌓아두는 제 3 스핀들(52)로 이동된다. 마찬가지로 상기 드라이브(40)에서 양품 디스크로 판단된 디스크는 컨트롤러(41)의 제어하에 이동픽업(46)에 의해 서킹되어 양품 디스크를 쌓아두는 제2 스핀들(50)로 이동된다.The disc determined to be a bad disc in the drive 40 is moved by the mobile pickup 46 under the control of the control 41 and moved to the third spindle 52 which stacks the bad disc. Similarly, the disc determined as the good disc in the drive 40 is moved by the mobile pickup 46 under the control of the controller 41 and moved to the second spindle 50 for stacking the good discs.

이와 같이 상기 드라이브(40)를 통해서 제조된 광디스크가 양품인지 또는 불량인지 판단된 후, 불량 디스크는 폐기 처분될 것이고, 양품 디스크는 이동되어서 디스크 표면의 인쇄공정이 이루어진 후 시장으로 출하된다.After determining whether the optical disk manufactured by the drive 40 is good or bad, the bad disk will be discarded, and the good disk is moved and shipped to the market after the printing process of the surface of the disk is performed.

다음은 제조된 디스크에 테스트 데이터를 기록한 후, 재생하는 과정에 의해서 디스크가 양품인지 또는 불량인지를 판단하는 과정에 대해서 설명한다.The following describes the process of determining whether the disc is good or defective by recording the test data on the manufactured disc, and then reproducing it.

도 3은 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치의 전체 시스템을 도시하고 있다.3 shows an entire system of an optical disc quality inspection apparatus according to the present invention.

광디스크의 품질검사 시스템(Compact Disc Recordable Inspection Technology : CDIT)은 품질검사장치(CDIA)와 외부 컴퓨터(95)를 SCSI에 의해서 연결하고 있다. 상기 외부 컴퓨터(95)는 상기 품질검사장치로 테스트 데이터를 전송하거나 또는 상기 품질검사장치에서 재생된 테스트 데이터를 SCSI를 통해서 전송받아 장착된 디스크가 양품인지 또는 불량인지를 판별하는 동작을 수행하는 것이 가능하다. 그리고 사용자는 상기 외부 컴퓨터(95)를 통해서 상기 품질검사장치(CDIA)의 동작을 제어하는 것이 가능하다.A compact disc recordable inspection technology (CDIT) of an optical disc connects a quality inspection apparatus (CDIA) and an external computer 95 by SCSI. The external computer 95 transmits test data to the quality inspecting apparatus or receives test data reproduced by the quality inspecting apparatus via SCSI to determine whether the mounted disk is good or bad. It is possible. And the user can control the operation of the quality inspection device (CDIA) through the external computer (95).

또한, 사용자는 디스크 판별 동작시에 양품인지 또는 불량인지를 판별하기 위한 기준값의 조정을 임의로 할 수 있다. 따라서 상기 외부 컴퓨터(95)에서 디스크의 양품 또는 불량을 판별할 때는, 상기 사용자가 지정한 기준값이 상기 외부 컴퓨터에 설정될 것이고, 만약 디스크의 품질 판단이 상기 CDIA의 컨트롤러(41)에서 수행될때는 사용자가 지정한 기준값이 외부 컴퓨터(95)에서 입력되어 SCSI를 통해 컨트롤러(41)에 설정될 것이다.Further, the user can arbitrarily adjust the reference value for discriminating whether it is good or bad in the disc discrimination operation. Therefore, when the external computer 95 determines the good or bad of the disc, the user-specified reference value will be set in the external computer, and if the quality of the disc is performed in the controller 41 of the CDIA, The reference value specified by the above will be input from the external computer 95 and set to the controller 41 via SCSI.

이렇게 설정되는 기준값은 통상 검출되는 에러신호가 몇 개인가로 결정되고, 그 범위 내에 포함될때는 양품 디스크로 판단될 것이다. 그러나 설정된 에러신호의 개수 범위를 벗어났을 때 디스크는 불량으로 판단된다. 따사서 상기 기준값으로 설정된 에러수가 작을수록 디스크의 품질에 따른 신뢰도는 높아질 것이고, 기준 값으로 설정된 에러수가 많을수록 디스크의 품질에 대한 신뢰도는 낮아질 것이다.The reference value set in this way is usually determined by how many error signals are detected, and when included in the range, it will be determined as a good quality disc. However, when the number of error signals is out of the set range, the disk is determined to be defective. Therefore, the smaller the number of errors set as the reference value, the higher the reliability according to the quality of the disk, and the higher the number of errors set as the reference value, the lower the reliability of the quality of the disk.

도 4는 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치의 내부 구성에 의한 블록도를 도시하고 있다.4 is a block diagram of the internal structure of the optical disc quality inspection apparatus according to the present invention.

본 발명의 광디스크 품질검사를 수행하는 드라이브는 광디스크(60)와, 상기 광디스크(60)를 제 1 스핀들(48)에서 드라이브(40) 내로 이동시키는 이동픽업(46)과, 상기 이동픽업(46)의 상,하,좌,우 이송수단인 캐리어(92)와, 장착된 광디스크(60)를 회전시키는 스핀들 모터(62)와, 상기 장착된 광디스크(60)에 데이터를 기록하거나 또는 기록된 데이터를 읽어내는 픽업장치(70)와, 상기 픽업장치(70)를 광디스크(60)의 내주에서 외주로 또는 외주에서 내주로 이동시키는 슬라이드 모터(64)와, 시스템의 로딩동작을 위한 로딩 모터(66)를 포함한다.The drive for performing an optical disc quality inspection of the present invention includes an optical disc 60, a mobile pickup 46 for moving the optical disc 60 from the first spindle 48 into the drive 40, and the mobile pickup 46. Data is recorded on or recorded on the carrier 92, which is an upper, lower, left and right conveying means of the upper and lower carriers, the spindle motor 62 which rotates the mounted optical disk 60, and the mounted optical disk 60. A pickup device 70 for reading out, a slide motor 64 for moving the pickup device 70 from the inner circumference to the outer circumference or the outer circumference to the inner circumference of the optical disc 60, and a loading motor 66 for loading operation of the system. It includes.

따라서 상기 슬라이드 모터(64)와 스핀들 모터(62), 로딩 모터(66)는 드라이브를 전체적으로 제어하는 마이크로 프로세서(82)에서 지시한 명령을 인가받아 상기 모터들(62,64)의 동작을 제어하는 서보 프로세서(80)의 제어를 받게 된다.Accordingly, the slide motor 64, the spindle motor 62, and the loading motor 66 are configured to control the operation of the motors 62 and 64 by receiving a command from the microprocessor 82 that controls the drive as a whole. It is under the control of the servo processor 80.

또한, 본 발명의 광디스크 품질검사장치는 상기 픽업장치(70)로부터 읽혀진 재생신호를 소정만큼 증폭하는 고주파증폭부(76)와, 상기 고주파증폭부(76)의 출력 신호를 입력하여 복조 및 에러정정 등의 디지털신호처리를 수행하는 디지털신호처리부(78)를 포함한다.In addition, the optical disc quality inspection apparatus of the present invention inputs a high frequency amplifier 76 for amplifying a reproduction signal read from the pickup device 70 by a predetermined amount, and an output signal from the high frequency amplifier 76 to demodulate and correct errors. And a digital signal processor 78 for performing digital signal processing.

그리고 장착된 광디스크(60)의 일정영역에 기록하기 위한 테스트 데이터를 컨트롤러(41)로부터 전송받은 인터페이스(90)는 입력된 데이터를 쓰기 제어 로직(74)으로 전송하고, 상기 쓰기 제어 로직(74)은 입력된 데이터에 기초해서 레이저 다이오드 드라이브(72)를 구동시킨다. 상기 레이저 다이오드 드라이브(72)로 부터 발광된 레이저는 픽업장치(70)를 통해서 광디스크(60)의 일정 영역에 기록된다.The interface 90, which has received test data from the controller 41 for writing test data for recording in a predetermined region of the mounted optical disc 60, transmits the input data to the write control logic 74, and the write control logic 74. Drives the laser diode drive 72 based on the input data. The laser light emitted from the laser diode drive 72 is recorded in a predetermined area of the optical disc 60 through the pickup device 70.

또한, 상기 인터페이스(90)는 상기 고주파 증폭기(76), 디지털 신호처리부(78), 마이크로 프로세서(82)와 데이터 송수신을 통해서 입력된 데이터를 인코딩 또는 디코딩하여 컨트롤러(41)와 주변기기 사이의 데이터의 송수신을 제어한다. 그리고 버퍼(88)는 상기 인터페이스(90)에 입출력되는 데이터를 일시 저장해 두는 곳이다.In addition, the interface 90 encodes or decodes data inputted through data transmission / reception with the high frequency amplifier 76, the digital signal processor 78, and the microprocessor 82 to convert data between the controller 41 and the peripheral device. Control transmission and reception. The buffer 88 temporarily stores data input and output to the interface 90.

마이크로 프로세서(82)는 상기 인터페이스(90)에서 인가하는 ATIP 스핀들 서보제어신호에 따라서 서보 프로세서(80)를 제어함과 동시에 상기 디지털신호처리부(78)에서 디지털신호 처리된 재생신호를 인가받아서 메모리(84)에 저장된 기준 데이터와 재생신호를 비교기(86)로 전송하여 두신호의 비교 작업을 제어한다. 물론 상기 메모리(84)는 마이크로 프로세서(82) 내에 내장된 메모리수단을 이용하는 것도 가능할 것이며, 마찬가지로 비교기(86)의 수행작업 또한 상기 마이크로 프로세서(82) 내에서 수행하는 것이 가능할 것이다.The microprocessor 82 controls the servo processor 80 according to the ATIP spindle servo control signal applied from the interface 90, and at the same time receives the reproduction signal processed by the digital signal from the digital signal processor 78 to store the memory ( The reference data and the reproduction signal stored at 84 are transmitted to the comparator 86 to control the comparison operation between the two signals. Of course, the memory 84 may use a memory means built in the microprocessor 82, and likewise, the performing of the comparator 86 may also be performed in the microprocessor 82.

상기 마이크로 프로세서(82) 또는 비교기(86)에서 신호 비교후, 장착된 광디스크가 양품인지 또는 불량인지 판단되고, 그 판단에 따른 표시는 디스플레이부(68)에 디스플레이 시키는 것도 가능하다.After the signal comparison in the microprocessor 82 or the comparator 86, it is determined whether the mounted optical disc is good or bad, and the display according to the determination can be displayed on the display unit 68.

그리고 본 발명의 광디스크 품질검사장치에는 상기와 같은 구성을 갖는 드라이브(40)를 다수개 장착하고 있으며, 상기 드라이브(40)와 스핀들(48,50,52) 사이에서 디스크를 이동시키는 이동 픽업(46)을 장착하고 있다. 그래서 다수개의 드라이브(40)의 동작 및 이동 픽업(46)의 동작 및 광디스크 품질검사장치의 전체적인 동작을 제어하는 컨트롤러(41)를 포함하고 있다.In addition, the optical disk quality inspection apparatus of the present invention is equipped with a plurality of drives 40 having the above-described configuration, and the mobile pickup 46 for moving the disk between the drive 40 and the spindles 48, 50, 52. ) Is attached. Therefore, it includes a controller 41 for controlling the operation of the plurality of drives 40, the operation of the mobile pickup 46 and the overall operation of the optical disk quality inspection apparatus.

상기 컨트롤러(41)는 상기 마이크로 프로세서(82)에서 수행하는 디스크의 품질검사 판별동작을 수행하는 것이 가능하다. 따라서 사용자는 상기 디스크의 품질 검사 판별동작을 드라이브(41) 자체 내의 마이크로 프로세서(82)에서 수행시키고자 할 때는 상기 마이크로 프로세서(82)에 디스크의 품질 검사를 위한 기준값을 설정 시킴과 동시에 그에 따른 동작을 수행시키고, 만약 상기 컨트롤러(41)에서 디스크의 품질검사 판별동작을 수행시키고자 할 때는 상기 마이크로 프로세서(82)는 드라이브(40) 자체 내의 제어동작만을 수행하도록 하고 자신이 디스크 판별동작을 수행한다.The controller 41 may perform a quality inspection determination operation on the disk performed by the microprocessor 82. Therefore, when the user wants to perform the quality check determination operation of the disc in the microprocessor 82 in the drive 41 itself, the user sets a reference value for the quality check of the disc in the microprocessor 82 and at the same time, the operation accordingly. If the controller 41 wants to perform the disc quality check determination operation, the microprocessor 82 performs only the control operation in the drive 40 itself and performs the disc determination operation. .

다음은 본 발명에 따른 광디스크 품질검사장치에서 장착된 광디스크의 품질을 검사하는 과정에 대해서 상세하게 설명한다.Next will be described in detail the process of inspecting the quality of the optical disk mounted in the optical disk quality inspection apparatus according to the present invention.

우선, 광디스크의 품질을 검사하는 과정의 설명에 앞서서 도 5를 참조하여 광디스크의 구조를 살펴보면서 테스트 데이터를 기록하는 디스크의 영역을 설명한다.First, the area of the disc for recording test data will be described with reference to FIG. 5 prior to the description of the process of checking the quality of the optical disc.

광디스크는 크게 리드 인 영역과 프로그램 영역 그리고 리드 아웃 영역으로 구분된다. 상기 리드 인 영역에는 통상 프로그램 영역의 시작점과 같은 데이터가 기록된다. 그리고 프로그램 영역은 사용자 데이터가 기록되는 영역이다. 따라서 본 발명에 따른 광디스크의 품질을 검사하기 위하여 테스트 데이터가 기록되는 영역은 리드 아웃 영역이 된다.An optical disc is roughly divided into a lead-in area, a program area, and a lead-out area. In the lead-in area, data such as a start point of a normal program area is recorded. The program area is an area in which user data is recorded. Therefore, in order to inspect the quality of the optical disc according to the present invention, an area in which test data is recorded becomes a lead out area.

도 5에 도시되고 있는 광디스크의 영역은 본 발명에 따른 광디스크의 품질을 검사하기 위하여 테스트 데이터가 기록되는 리드 아웃 영역을 보다 구체적으로 도시하고 있다.The area of the optical disc shown in FIG. 5 shows the lead out area in which test data is recorded in order to check the quality of the optical disc according to the present invention.

즉, 본 발명에 따른 광디스크의 리드 아웃 영역은 프로그램 영역이 끝나는 지점에서부터(약 75분 30초 00 블록 지점) 시작된다. 그리고 상기 광디스크의 리드 아웃 영역에서도 약 75분 32초 00 블록 지점까지는 광픽업장치의 위치를 찾기 위한 지점으로 약간의 여유 트랙을 두게 된다. 통상 상기 부분을 댐퍼 영역(Damper area)이라 하며, 상기 댐퍼 영역은 약 6.5 트랙 정도가 바람직하다.In other words, the lead-out area of the optical disc according to the present invention starts from the point where the program area ends (about 75 minutes 30 seconds 00 block point). In the lead-out area of the optical disc, some spare tracks are provided as points for finding the position of the optical pickup device until the block point of about 75 minutes 32 seconds. Typically, the portion is referred to as a damper area, preferably about 6.5 tracks.

상기 댐퍼 영역 다음부분에 본 발명에 따른 STP 데이터가 기록되는 STPA(Standard Test Program Area)영역이 위치한다. 상기 STPA영역은 약 75분 42초 지점까지 차지한다. 상기 STPA영역의 트랙수는 약 32.4 트랙 정도가 바람직하다. 그러나 상기 STP 데이터가 기록되는 영역(트랙 수)을 항상 일정하게 고정시킬 필요는 없다. 통상 CD-R 제조공정에서 택 타임(tact time)은 5내지 12초 정도에서 결정하는 것이 바람직하다. 그러므로 사용자가 택 타임이 5내지 12초 사이에서 필요한 만큼으로 설정하는 것이 가능하다.Next to the damper area is a STPA (Standard Test Program Area) area in which STP data according to the present invention is recorded. The STPA area occupies up to about 75 minutes and 42 seconds. The number of tracks in the STPA area is preferably about 32.4 tracks. However, it is not necessary to always fix the area (track number) in which the STP data is recorded. In general, the tact time in the CD-R manufacturing process is preferably determined in about 5 to 12 seconds. It is therefore possible for the user to set the tack time as needed between 5 and 12 seconds.

물론 상기 택 타임의 조정에 따라서 STP데이터가 기록되는 트랙수가 달라질 것이고, 이에 따라서 디스크의 품질에 따른 정확도로 변화하게 된다. 다시 말해서 텍 타임이 길수록 STP 데이터가 기록되는 트랙수가 많아질 것이고, 또한 디스크 품질에 대한 정확도가 높아진다. 이와 반대로 택 타임을 짧게 하면 STP 데이터가 기록되는 트랙수는 작게 되나, 이에 비례해서 디스크 품질에 대한 검사의 정확도가 낮아진다.Of course, the number of tracks on which STP data is recorded will vary according to the adjustment of the tack time, and accordingly the accuracy will be changed according to the quality of the disc. In other words, the longer the tex time, the greater the number of tracks on which STP data is recorded, and the higher the accuracy of the disc quality. On the contrary, if the tack time is shortened, the number of tracks on which STP data is recorded is small, but the accuracy of the check on the disc quality is lowered in proportion.

그리고 상기 STPA영역 다음 부분에서 다시 여유 트랙으로써 댐퍼 영역을 위치시킨다. 상기 댐퍼 영역은 약 75분 47초 정도까지 위치하며, 약 16.2 트랙 정도가 바람직하다.The damper area is then positioned as a spare track again next to the STPA area. The damper region is located up to about 75 minutes 47 seconds, preferably about 16.2 tracks.

물론 상기 리드 아웃 영역에 포함되는 댐퍼 영역 및 STPA영역의 트랙수는 결정되어 있는 것이 아니라 본 발명에 따른 광디스크의 품질을 테스트하기에 적당한 트랙수로 결정하는 것이 바람직할 것이다.Of course, the number of tracks in the damper area and the STPA area included in the lead-out area is not determined, but it is preferable to determine the number of tracks suitable for testing the quality of the optical disc according to the present invention.

따라서 도 5에 도시되고 있는 바와 같이 본 발명에 따른 광디스크는 기존 광 디스크의 데이터 영역에서 조금 더 긴 데이터 영역을 갖게 하고 있다.Accordingly, as shown in FIG. 5, the optical disc according to the present invention has a slightly longer data area in the data area of the conventional optical disc.

그리고 본 발명의 CDIT에 사용되는 테스크 신호(STP 데이터)는 모든 아스키(ASCII) 코드(십진법의 0 ∼ 255)를 사용하는 것이 가능하다. 이러한 아스키 코드를 표 1에 도시하고 있다.The task signal (STP data) used in the CDIT of the present invention can use any ASCII code (0 to 255 in decimal). This ASCII code is shown in Table 1.

이 중에서 242 코드는 EFM변조 후에는 3T펄스를 많이 갖기 때문에 상기 STP 데이터로 매우 적당하다. 왜냐하면 디스크로부터 데이터 재생시에 가장 짧은 3T 신로를 검출하는 것이 매우 어렵다. 그러나 상기 242 코드는 상기 3T신호를 다른 코드에 비해서 많이 갖고 있기 때문에 다른 코드에 비해서 3T신호를 검출하는 것이 쉽기 때문이다.Among them, 242 codes are very suitable for the STP data because they have many 3T pulses after EFM modulation. This is because it is very difficult to detect the shortest 3T path at the time of data reproduction from the disc. However, since the 242 code has more of the 3T signal than other codes, it is easier to detect the 3T signal than other codes.

이와 같은 구조를 갖는 광디스크를 드라이브에 장착하여 품질을 검사하는 과정은 다음과 같다.The process of inspecting the quality by mounting an optical disc having such a structure in a drive is as follows.

도 6은 본 발명에 따른 광디스크 품질검사 과정을 도시하는 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating an optical disc quality inspection process according to the present invention.

먼저, 컨트롤러(41)는 이동 픽업(46)을 제어하여 제 1 스핀들(48)에 쌓여있는 광디스크 중에서 가장 상부의 광디스크(60)를 드라이브(40)로 이동시킨다. 상기 드라이브(40) 내로 이동된 광디스크(60)는 스핀들 모터(62)의 상단에 장착된다.First, the controller 41 controls the moving pickup 46 to move the uppermost optical disk 60 to the drive 40 among the optical disks stacked on the first spindle 48. The optical disk 60 moved into the drive 40 is mounted on the top of the spindle motor 62.

상기 스핀들 모터(62)에 광디스크(60)가 장착되면, 마이크로 프로세서(82)는 컨트롤러(41)로부터 인가하는 명령의 수행을 위하여 시스템의 동작이 가능한 상태로 제어를 한다. 예를 들어서 서보 프로세서(80)를 제어하여 광디스크(60)의 최내주로 픽업장치(70)를 이동시킨다든지(제 101 단계) 또는 디지털신호처리부(78) 및 고주파 증폭부(76) 및 기타 드라이브들의 동작이 가능한 초기 상태로 제어한다.When the optical disk 60 is mounted on the spindle motor 62, the microprocessor 82 controls the system in a state where the system can be operated to perform a command applied from the controller 41. For example, the servo processor 80 is controlled to move the pickup device 70 to the innermost circumference of the optical disc 60 (step 101) or the digital signal processor 78 and the high frequency amplifier 76 and other drives. Control their operation to the initial state possible.

상기 픽업장치(70)가 디스크의 최내주로 이동 확인은 광디스크의 최내주에 위치한 리미트 스위치의 검출에 의해서 판단된다(제 103 단계).The movement of the pickup device 70 to the innermost circumference of the disk is determined by the detection of the limit switch located at the innermost circumference of the optical disk (step 103).

상기 제 103 단계의 확인에 의해서 현재 장착된 디스크의 품질 검사를 위한 초기 단계가 완료되고, 그 다음 단계로서 컨트롤러(41)는 상기 픽업장치(70)를 디스크의 리드 아웃 영역의 시작점에 위치시키라고 명령한다.The initial step for the quality inspection of the currently loaded disc is completed by the confirmation of step 103, and as a next step, the controller 41 tells the pick-up device 70 to be positioned at the start of the lead out area of the disc. Command

상기 명령은 인터페이스(90)를 통해서 마이크로 프로세서(82)로 전달되고, 상기 마이크로 프로세서(82)는 상기 인터페이스(90)로부터의 명령을 인가받아 서보 프로세서(80)를 제어하여 상기 픽업장치(70)의 롱 트랙 점프를 위하여 슬라이드 모터(64)를 구동한다(제 105 단계).The command is transmitted to the microprocessor 82 through the interface 90, and the microprocessor 82 receives the command from the interface 90 to control the servo processor 80 to control the pickup device 70. The slide motor 64 is driven for the long track jump (step 105).

상기 제 105 단계에 의한 광픽업장치(70)의 이동 중에 광픽업장치(70)로부터 재생되는 신호에 의해서 현재 광픽업장치(70)가 위치한 지점을 계속해서 검출한다(제 107 단계). 상기 제 107 단계에 의한 위치 검출은, 상기 광픽업장치(70)의 이동 트랙수를 검출하는 작업에 의해서 마이크로 프로세서(82)에서 광픽업장치(60)가 위치한 지점을 판단하게 된다.During the movement of the optical pickup apparatus 70 in the step 105, a point where the current optical pickup apparatus 70 is located is continuously detected by the signal reproduced from the optical pickup apparatus 70 (step 107). In the position detection according to the step 107, the position at which the optical pickup device 60 is located in the microprocessor 82 is determined by detecting the number of moving tracks of the optical pickup device 70.

상기 슬라이드 모터(64)의 구동에 의한 광픽업장치(70)의 이동은 리드 아웃 영역의 시작점(약 75분 30초 지점)이 검출되기까지 반복해서 이루어진다(제 117 단계). 이것은 슬라이드 모터(64)의 구동에 의한 광픽업장치(70)의 이동은 롱 트랙 점프가 되기 때문으로, 상기 롱 트랙 점프에서는 통상 수십트랙 또는 수백트랙씩 이동이 된다.The movement of the optical pickup device 70 by driving the slide motor 64 is repeated until the start point (about 75 minutes and 30 seconds) of the lead-out area is detected (step 117). This is because the movement of the optical pickup device 70 driven by the slide motor 64 becomes a long track jump, so that the long track jump is usually moved by tens or hundreds of tracks.

제 109 단계에서 현재 광픽업장치(70)의 위치가 리드 아웃 영역의 시작점(약 75분 30초)에 위치했다고 마이크로 프로세서(82)에서 판단되면, 상기 마이크로 프로세서(82)는 서보 프로세서(80)를 제어하여 슬라이드 모터(64)의 구동을 오프시킨다.If the microprocessor 82 determines that the position of the current optical pickup device 70 is located at the start point of the lead-out area (about 75 minutes and 30 seconds) in operation 109, the microprocessor 82 may transmit the servo processor 80. Control to turn off the drive of the slide motor (64).

그리고 광픽업장치(70)의 트랙킹 액츄에이터 등을 구동시켜서 광픽업장치의 트랙 이동을 제어한다. 이때 광픽업장치(70)의 트랙 이동은 N 개 만큼 이동된다. 여기서 상기 N개의 트랙은 리드 아웃 영역의 시작점에서 STPA영역의 시작점까지 위치한 트랙수 만큼을 일컫는다. 이 과정에서도 마이크로 프로세서(82)는 계속해서 광픽업장치(70)의 현재 위치를 읽고, 광픽업장치가 STPA영역의 시작점에 위치하는지를 감시한다(제 111단계 및 제 113 단계).Then, the tracking actuator of the optical pickup device 70 is driven to control the track movement of the optical pickup device. At this time, the track movement of the optical pickup device 70 is moved by N pieces. The N tracks refer to as many tracks as are located from the start point of the lead-out area to the start point of the STPA area. In this process, the microprocessor 82 continuously reads the current position of the optical pickup apparatus 70 and monitors whether the optical pickup apparatus is located at the start point of the STPA area (steps 111 and 113).

상기 광픽업장치가 STPA영역의 시작점에 위치하기까지 트랙 이동은 반복해서 이루어지고(제 115 단계), 상기 광픽업장치가 STPA영역의 시작점(약 75분 32초 지점)에 위치했을때(제 113 단계), 컨트롤러(41)는 상기 STPA영역에 테스트 데이터를 기록하는 작업을 수행한다(제 119 단계).The track movement is repeated until the optical pickup device is located at the start point of the STPA area (step 115), and when the optical pickup device is located at the start point (about 75 minutes and 32 seconds) of the STPA area (step 113). In operation 119, the controller 41 records test data in the STPA area (operation 119).

상기 제 119 단계는 컨트롤러(41)로부터 STP 데이터가 인터페이스(90)에 입력되고, 이후 쓰기 제어 로직(74)의 제어하에 레이저 다이오드 드라이브(72)가 구동되어 광픽업장치(70)는 STPA영역에 STP 데이터를 기록한다.In step 119, the STP data is inputted from the controller 41 to the interface 90, and then the laser diode drive 72 is driven under the control of the write control logic 74 so that the optical pickup device 70 may enter the STPA region. Record the STP data.

그리고 제 121 단계에서 STPA영역에 STP데이터의 기록이 완료되면, 마이크로 프로세서(82)는 다시 광픽업장치(70)를 내주 방향으로 N트랙 이동시킨다. 여기까지의 동작에 의해서 품질 검사 중의 광디스크(60)의 일정부분(STPA 영역)에 테스트 데이터를 기록하는 작업이 완료된다.When the recording of the STP data is completed in the STPA area in step 121, the microprocessor 82 moves the optical pickup device 70 again by N tracks in the inner circumferential direction. By the operation up to this point, the operation of recording test data in a predetermined portion (STPA area) of the optical disc 60 during the quality inspection is completed.

그 다음에는 기록된 테스트 데이터가 정상적으로 재생이 이루어지는 지의 작업이 수행된다. 우선, 상기 내주 방향으로의 광픽업장치를 N 트랙 이동시킨다. 즉, 광픽업장치(70)를 STPA의 시작점(약 75분 32초)의 위치로 복귀시키는 것이다(제 123 단계).Then, a task is carried out whether or not the recorded test data is normally reproduced. First, the optical pickup device in the inner circumferential direction is moved N tracks. That is, the optical pickup device 70 returns to the position of the start point (about 75 minutes and 32 seconds) of the STPA (step 123).

상기 제 123 단계의 수행에 의하여 광픽업장치(70)가 STPA의 시작점에 위치하면(제 125 단계), 마이크로 프로세서(82)는 광픽업장치(70)를 구동하여 STPA의 영역에 기록된 STP 데이터를 읽어낸다(제 127 단계)When the optical pickup device 70 is located at the start point of the STPA by performing the step 123 (step 125), the microprocessor 82 drives the optical pickup device 70 to record the STP data recorded in the area of the STPA. Read (Step 127)

상기 제 127 단계의 수행에 의한 데이터 재생은 STPA의 끝 위치(약 75분 42초 지점)까지 이루어지며, 광픽업장치(70)의 위치가 약 75분 42초 지점에 위치했을때, STP데이터 재생은 완료된다(제 129 단계).Data reproduction by the step 127 is performed up to the end position (about 75 minutes 42 seconds) of the STPA, and when the position of the optical pickup device 70 is located at about 75 minutes 42 seconds, STP data reproduction Is completed (step 129).

상기와 같은 과정에 의해서 광디스크의 리드 아웃 영역의 일정부분(STPA) 영역에 STP데이터를 기록하고, 기록된 STP데이터를 재생하는 작업이 이루어졌다.By the above process, the STP data is recorded in a predetermined area (STPA) of the lead-out area of the optical disc, and the operation of reproducing the recorded STP data has been performed.

그 다음, 재생된 STP데이터와 기록전의 STP데이터를 비교하는 작업이 필요할 것이다. 상기 데이터 비교 작업은 상기 제 127 단계에서 제 129 단계의 수행과정에서 디스크의 STPA영역에 기록된 STP데이터를 읽는 중에 계속적으로 이루어질 것이다.Next, it will be necessary to compare the reproduced STP data with the STP data before recording. The data comparison operation will be continuously performed while reading STP data recorded in the STPA area of the disk in the step 127 through the step 129.

즉, 상기 제 127 단계에서 광픽업장치(70)로부터 읽혀진 데이터는 고주파 증폭부(76)를 통해서 소정만큼 증폭된 후, 디지털신호처리부(78)에서 복조 및 에러정정 등의 디지털 신호처리가 이루어진다.That is, the data read from the optical pickup device 70 in step 127 is amplified by the high frequency amplifier 76 by a predetermined amount, and then the digital signal processor 78 performs digital signal processing such as demodulation and error correction.

상기 디지털 신호처리가 이루어진 재생데이터는 인터페이스(90)를 통해서 컨트롤러(41)로 입력된다. 상기 컨트롤러(41)는 입력한 재생데이터와 메모리에 미리 저장해둔 STP데이터(기준 데이터)를 비교한다(131 단계). 즉, 상기 컨트롤러(41)는 광디스크의 품질 검사 초기에 인터페이스(90)를 통해서 상기 드라이브(40) 내로 전송한 소오스 STP 데이터를 자신의 메모리에 저장하고 있다가 광디스크로부터 재생되는 데이터를 메모리에 저장된 기준 데이터와 비교하는 작업을 수행하는 것이다.The reproduction data subjected to the digital signal processing is input to the controller 41 through the interface 90. The controller 41 compares the inputted reproduction data with the STP data (reference data) previously stored in the memory (step 131). That is, the controller 41 stores the source STP data transmitted to the drive 40 through the interface 90 in its memory at the beginning of the quality inspection of the optical disk, and then stores the data reproduced from the optical disk in the memory. Is to do a comparison with the data.

즉, 상기 컨트롤러(41)와 마이크로 프로세서(82)는 디스크의 품질을 판별하는 동작과정에서 인터페이스(90)를 통해서 계속적으로 데이터 송수신을 수행하여 서로의 제어동작에 데이터 충돌이 발생하지 않도록 한다.That is, the controller 41 and the microprocessor 82 continuously transmit and receive data through the interface 90 in the process of determining the quality of the disk so that data collision does not occur in the control operation of each other.

상기 제 131 단계에서 기준데이터와 비교된 재생데이터의 에러값이 소정 범위 내에 포함될 때, 두 데이터가 동일하다고 판단된다. 그러나 기준 단계에서 기준데이터와 비교된 재생데이터의 에러값이 소정 범위를 벗어났을 때, 두 데이터는 상이하다고 판단한다(제 133 단계).When the error value of the reproduction data compared with the reference data in step 131 is included within a predetermined range, it is determined that the two data are the same. However, when the error value of the reproduction data compared with the reference data in the reference step is out of a predetermined range, it is determined that the two data are different (step 133).

상기 컨트롤러(41)는 상기 제 133 단계의 판단여부에 따라서 장착된 디스크의 양품 또는 불량을 판단한다(제 135 단계, 제 137 단계). 그리고 컨트롤러(41)는 상기 장착된 디스크의 양품 또는 불량의 판단 여부에 따라서 사용자가 알 수 있도록 디스플레이부(68)에 디스크의 품질을 표시한다(제 139 단계).The controller 41 determines whether the mounted disk is good or bad according to the determination of the step 133 (step 135 and step 137). Then, the controller 41 displays the quality of the disc on the display unit 68 so that the user can know according to whether the mounted disc is good or bad (Step 139).

이상의 설명에서와 같이 본 발명은 통상의 과정에 의해서 제조된 광디스크를 컨트롤러(41)의 제어하에 드라이브(40)에 장착시킨 후, 광픽업장치(70)를 목적하는 STPA 영역으로 이동시킨다. 즉, 본 발명의 컨트롤러(41)는 데이터 포맷(STP)에 맞는 ATPI의 특성 트랙으로 서치하여 이동시킨 후, STP데이터를 기록하고, 이를 다시 재생하여, 그 판독신호와 미리 메모리에 저장시킨 기준 데이터를 비교하여 디스크의 불량 여부를 판단한다.As described above, the present invention mounts the optical disk manufactured by the conventional process to the drive 40 under the control of the controller 41, and then moves the optical pickup device 70 to the desired STPA area. That is, the controller 41 of the present invention searches for and moves to a characteristic track of ATPI conforming to the data format (STP), records the STP data, reproduces it, and stores the readout signal and the reference data previously stored in the memory. Compare the to determine whether the disk is bad.

그러나 본 발명에 따른 디스크의 불량 또는 양품의 판단을 상기 드라이브(40) 외부의 컨트롤러(41)에서 항상 수행하도록 한정할 필요는 없다.However, it is not necessary to limit the determination of whether the disc is defective or good according to the present invention by the controller 41 outside the drive 40 at all times.

즉, 본 발명의 다른 실시 형태로 도 3에 도시하고 있는 바와 같이, 드라이브(40) 자체 내에 메모리(84)와 비교기(86)가 구비되고 있을 때, 상기 제 127 단계에서 광픽업장치(70)로부터 읽혀진 데이터는 고주파 증폭부(76)를 통해서 소정만큼 증폭된 후, 디지털신호처리부(78)에서 복조 및 에러정정 등의 디지털 신호처리가 이루어진 재생데이터는 마이크로 프로세서(82)로 입력되는 것도 가능하다.That is, as shown in FIG. 3 as another embodiment of the present invention, when the memory 84 and the comparator 86 are provided in the drive 40 itself, the optical pickup device 70 in step 127 is performed. The data read out from the amplification unit may be amplified by the high frequency amplification unit 76, and then reproduced data obtained by digital signal processing such as demodulation and error correction may be input to the microprocessor 82. .

상기 마이크로 프로세서(82)로 입력된 재생데이터는 비교기(86)로 전송되고, 상기 비교기(86)는 상기 마이크로 프로세서(82)에서 입력되는 재생데이터와 메모리(84)로부터 읽혀지는 데이터를 비교하여(제 131 단계), 두 데이터의 동일 여부를 판단하고(제 133 단계), 상기 제 133 단계의 판단여부에 따라서 장착된 디스크의 양품 또는 불량을 판단한다(제 135 단계, 제 137 단계).The reproduction data input to the microprocessor 82 is transmitted to the comparator 86, and the comparator 86 compares the reproduction data input from the microprocessor 82 with the data read from the memory 84 ( Step 131), it is determined whether the two data are the same (step 133), and according to whether or not the determination of the step 133, the good or bad of the mounted disk (step 135, step 137).

그리고 마이크로 프로세서(82)는 상기 장착된 디스크의 양품 또는 불량의 판단 여부에 따라서 사용자가 알 수 있도록 디스플레이부(68)에 디스크의 품질을 표시시킨다(제 139 단계).Then, the microprocessor 82 displays the quality of the disc on the display unit 68 so that the user can know according to whether the mounted disc is good or bad (Step 139).

다음, 본 발명의 설명에서는 STP의 기록 또는 재생을 위한 드라이브를 하나의 드라이브 내에서 수행하도록 설명하고 있지만, 택 타임(tack time)을 줄이기 위하여 기록과 재생을 다른 드라이브에서 수행하는 것도 가능할 것이다.Next, in the description of the present invention, a drive for recording or reproducing STP is described in one drive, but recording and reproducing may be performed in another drive in order to reduce tack time.

이상과 같이 불량으로 판별된 디스크는 불량 디스크를 쌓아두는 스핀들(52)쪽으로 이동 픽업(46)이 이동시키고, 양품 디스크는 양품 디스크를 쌓아두는 스핀들(50)쪽으로 이동픽업(46)이 이동시키게 된다.As described above, the disc determined as defective moves the pickup 46 toward the spindle 52 for stacking the defective disk, and the pickup 46 moves the defective disk for the spindle 50 for stacking the good disk. .

다음, 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광디스크 품질검사 과정을 도시하는 흐름도이다.Next, Fig. 7 is a flowchart showing an optical disc quality inspection process according to another embodiment of the present invention.

상기 도 7에서는 택 타임을 줄이기 위하여 광픽업장치(70)를 디스크 로딩 직후에 STPA의 영역으로 바로 이동시키기 위한 동작 과정을 설명해 놓은 흐름도이다.7 is a flowchart illustrating an operation process for directly moving the optical pickup device 70 to the area of the STPA immediately after loading the disk in order to reduce the tack time.

즉, 디스크 로딩 직후, 광픽업장치(70)의 포커스를 온시켜서 현재 위치를 판단하고, 곧바로 STPA영역으로 이동하는 것이다. 즉, 도 7은 도 6에 도시된 제 101 단계에서 제 103 단계까지의 과정이 생략된 것이다.In other words, immediately after the disc is loaded, the optical pickup device 70 is turned on to determine the current position, and immediately moves to the STPA area. That is, in FIG. 7, processes from steps 101 to 103 shown in FIG. 6 are omitted.

도 7에서와 같이 동작이 이루어지므로써, 픽업을 최내주의 위치까지 이동하였다가 리미트 스위치의 검출에 의한 픽업의 동작 시작위치를 검출하는 과정이 생략된다.Since the operation is performed as shown in FIG. 7, the process of moving the pickup to the position of the innermost circumference and detecting the operation start position of the pickup by detecting the limit switch is omitted.

다음, 도 8은 본 발명에 따른 광디스크의 품질검사를 위한 또 다른 실시예를 설명하고 있다.Next, Fig. 8 illustrates another embodiment for quality inspection of an optical disc according to the present invention.

먼저, 일반적인 디스크 제조과정에 의해서 제조된 광디스크는 스핀들(48) 상에 쌓여지고(제 201 단계), 상기 제조된 광디스크를 쌓아둔 스핀들(48)을 검사기로 이송시킨다(제 203 단계).First, an optical disc manufactured by a general disc manufacturing process is stacked on the spindle 48 (step 201), and the spindle 48 on which the manufactured optical disc is stacked is transferred to the inspector (step 203).

그리고 검사기 내의 드라이브(40)의 트래이를 열고(제 205 단계), 상기 스핀들(48)의 최상부의 광디스크를 이송픽업(46)에 의해서 서킹(sucking)된다(제 207 단계).Then, the tray of the drive 40 in the inspection machine is opened (step 205), and the optical disk on the top of the spindle 48 is sucked by the transfer pickup 46 (step 207).

그리고 서킹한 광디스크를 트래이로 이동시키고(제 209 단계), 상기 트래이 위에 디스크를 로딩시킨다(제 211 단계). 그리고 트래이를 닫는다(제 213 단계).Then, the surged optical disc is moved to the tray (step 209), and the disc is loaded on the tray (step 211). Then close the tray (step 213).

그 다음에 마이크로 프로세서(82)는 광픽업장치(70)를 광디스크(60)의 최내주로 이동시키고(제 215 단계), 리미트 스위치의 검출에 의하여 광픽업장치의 이동동작을 위한 시작점을 검출한다(제 217 단계).Then, the microprocessor 82 moves the optical pickup device 70 to the innermost circumference of the optical disc 60 (step 215), and detects a starting point for the movement operation of the optical pickup device by detecting the limit switch. (Step 217).

이후, 상기 광픽업장치(70)가 광디스크의 리드 아웃 영역의 STPA영역의 시작점을 찾기까지의 동작이 제 229 단계까지 이루어지며, 상기 제 217 단계에서 제 229 단계까지의 동작과정은 도 6의 과정과 동일하게 이루어지므로 상세한 설명은 생략한다.Subsequently, the operation until the optical pickup device 70 finds the starting point of the STPA area of the lead-out area of the optical disc is performed up to step 229, and the operations from step 217 to step 229 are performed in FIG. 6. Since it is made the same as the detailed description thereof will be omitted.

다음, 광픽업장치(70)가 제 227 단계에서 STPA 영역의 시작점에 위치되었을때, 마이크로 프로세서(82)는 상기 STPA 영역에 기록된 데이터를 읽어오는 작업을 수행한다(제 231 단계 내지 제 235 단계).Next, when the optical pickup device 70 is located at the start point of the STPA area in step 227, the microprocessor 82 performs an operation of reading data recorded in the STPA area (steps 231 to 235). ).

상기 과정에서 STPA의 영역에 기록된 STP데이터가 존재할 때(제 237 단계), 마이크로 프로세서(82)는 이미 광디스크의 STPA영역에 디스크의 품질을 검사하기 위한 테스트 데이터가 기록되어 있다고 판단하고, 기록된 데이터를 재생하면서 기준 데이터와의 비교작업을 수행한다(제 239 단계).When the STP data recorded in the area of the STPA exists in the above process (step 237), the microprocessor 82 determines that test data for checking the quality of the disk has already been recorded in the STPA area of the optical disc, and recorded While the data is reproduced, a comparison operation with the reference data is performed (step 239).

그러나 상기 디스크의 STPA영역의 끝 위치까지 데이터를 재생했을 때, 재생된 데이터가 없다면 마이크로 프로세서(82)는 테스트 데이터가 기록되어 있지 않다고 판단한다(제 237 단계).However, when data is reproduced to the end position of the STPA area of the disc, if there is no reproduced data, the microprocessor 82 determines that test data is not recorded (step 237).

그러면, 상기 마이크로 프로세서(82)는 광픽업장치(70)를 다시 디스크의 내주 방향으로 N트랙 이동시킨다. 이때 광픽업장치(70)가 광디스크의 STPA 영역의 시작점(약 75분 32초 지점)에 위치될 때까지 마이크로 프로세서(82)는 광픽업장치(70)의 이동 트랙을 감시한다(제 243 단계 내지 제 247 단계).Then, the microprocessor 82 moves the optical pickup device 70 by N tracks in the inner circumferential direction of the disk. At this time, the microprocessor 82 monitors the movement track of the optical pickup device 70 until the optical pickup device 70 is located at the start point (about 75 minutes and 32 seconds) of the STPA area of the optical disc (steps 243 through 243). Step 247).

상기 제 247 단계에서 광픽업장치의 현재 위치가 광디스크의 STPA 영역 시작점에 위치했을 때, 쓰기 제어 로직(74) 및 레이저 다이오드 드라이브(72)의 구동하에 STP데이터의 기록이 이루어진다(제 249 단계 및 제 251 단계).When the current position of the optical pickup device is located at the start point of the STPA area of the optical disk in step 247, the STP data is written under the driving of the write control logic 74 and the laser diode drive 72 (steps 249 and 5). 251 step).

상기 제 251 단계에서 STP데이터의 기록이 완료되면, 이후부터는 기록된 데이터를 재생하는 작업을 수행한다. 이 과정 또한 도 6의 과정과 동일하므로 상세한 설명은 생략한다. 상기 기록된 데이터의 재생작업은 제 253 단계 내지 제 259 단계).When the recording of the STP data is completed in step 251, the operation of reproducing the recorded data is performed thereafter. This process is also the same as the process of Fig. 6, so a detailed description thereof will be omitted. The reproduction operation of the recorded data is performed in steps 253 to 259).

상기 제 259 단계까지의 수행에 의하여 데이터 재생작업이 완료되고, 이후 비교기(86)에서 재생데이터와 기준 데이터의 비교작업이 이루어진다(제 261 단계).The data reproducing operation is completed by performing the operation up to step 259, and thereafter, the comparator 86 compares the reproduction data with the reference data (step 261).

상기 제 261 단계의 비교작업에 의해서 드라이브(40)에 장착된 디스크가 양품 인지 또는 불량인지 판단된다.By the comparison operation of step 261, it is determined whether the disk mounted in the drive 40 is good or bad.

즉, 상기 제 237 단계에서 제 261 단계까지는 장착된 디스크의 STPA 영역에 테스트 데이터가 기록되어 있지 않은 경우, 테스트 데이터를 기록한 다음에 재생하고, 비교하는 작업까지의 수행과정을 설명하고 있다.In other words, when the test data is not recorded in the STPA area of the mounted disc from the step 237 to the step 261, the process of recording and reproducing the test data and then performing the comparison is described.

따라서 상기 제 239 단계 그리고 제 261 단계에서 재생데이터와 기준 데이터의 비교 작업 후, 제 263 단계에서 양품 디스크 또는 불량 디스크의 판단이 이루어진다.Accordingly, after comparing the playback data with the reference data in steps 239 and 261, a good disc or a bad disc is determined in step 263.

상기 제 263 단계에서 양품디스크로 판단된 디스크는 컨트롤러(41)의 제어하에 양품 디스크를 쌓아두는 스핀들(50)로 이송하는 작업이 이루어진다. 즉, 트래이가 열리고, 이송 픽업에 의해서 디스크(60)를 서킹하여, 양품 스핀들(50)로 이송시킨다(제 265 단계 내지 제 271 단계).In operation 263, the disk determined as the good disk is transferred to the spindle 50 in which the good disks are stacked under the control of the controller 41. That is, the tray is opened, and the disc 60 is circulated by the transfer pick-up and transferred to the good quality spindle 50 (steps 265 to 271).

또한, 상기 제 263 단계에서 불량 디스크로 판단된 디스크는 컨트롤러(41)의 제어하에 불량 디스크를 쌓아두는 스핀들(52)로 이송하는 작업이 이루어진다(제 273 단계 내지 제 279 단계).In operation 263, the disk determined as the defective disk is transferred to the spindle 52 in which the defective disks are stacked under the control of the controller 41 (steps 273 to 279).

상기 제 271 단계 및 제 279 단계에 의한 품질에 따른 디스크의 분리 작업이 수행된 후, 컨트롤러(41)의 제어하에 이동 픽업(46)은 제 1 스핀들(48)로 이동하여, 제 1 스핀들(48) 상에 디스크가 존재하는 지를 판단한다. 그리고 디스크가 존재하면, 다시 하나의 디스크를 이동픽업(46)에 의해서 드라이브(40) 상에 장착하고, 상기 제 1 스핀들(48) 상에 디스크가 존재하지 않으면, 상기 제 1 스핀들을 교체시켜서 제 207 단계로 귀환하여 상기의 과정을 반복 수행한다(제 281 단계 내지 제 287 단계).After the disk separation operation according to the quality in the steps 271 and 279 is performed, the mobile pickup 46 moves to the first spindle 48 under the control of the controller 41, and thus the first spindle 48. It is determined whether a disk exists on the disk. If a disk exists, one disk is again mounted on the drive 40 by the mobile pickup 46, and if the disk does not exist on the first spindle 48, the first spindle is replaced. Returning to step 207 to repeat the above process (steps 281 to 287).

이상의 도 8의 과정 설명은 디스크의 품질 판단을 드라이브(40) 내의 마이크로 프로세서(82)에서 수행하는 것으로 설명하였다. 그러나 도 6에 설명되고 있는 실시예에서와 같이 디스크의 품질 판단을 CDIA 내의 컨트롤러(41)에서 수행하는 것도 가능하고, 또 외부 컴퓨터(95)에 의해 수행하는 것도 물론 가능하다.In the above description of the process of FIG. 8, the quality of the disc is determined by the microprocessor 82 in the drive 40. However, as in the embodiment described in FIG. 6, the quality of the disc can be determined by the controller 41 in the CDIA, and of course, by the external computer 95.

이상 설명한 바와 같이 본 발명은 제조된 광디스크를 자동으로 로딩시켜서 특정 영역에 테스트 프로그램을 짧은 시간 내에 기록 및 재생하여, 디스크의 품질을 측정하게 된다. 따라서 본 발명에 따른 광디스크 품질검사방법 및 장치는 제조된 모든 광디스크의 품질을 검사할 수 있으므로서 신뢰성을 높이는 것이 가능하고, 품질 검사에 따른 테스트 시간을 줄이면서 제조비용을 절감시킬 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention automatically loads the manufactured optical disc, records and reproduces a test program in a specific area within a short time, and measures the quality of the disc. Therefore, the optical disk quality inspection method and apparatus according to the present invention can increase the reliability while inspecting the quality of all manufactured optical disks, and can reduce the manufacturing cost while reducing the test time according to the quality inspection. .

Claims (10)

디스크의 특정 영역에 테스트 데이터를 기록/재생하는 기록/재생수단과; 상기 기록/재생수단에 의해 디스크에 기록되는 소오스 테스트 데이터를 저장하는 저장수단과; 상기 기록/재생수단으로부터 재생된 재생신호와 상기 저장수단에 저장된 신호를 비교하여, 디스크의 품질을 판별하는 디스크 품질판별수단을 포함하여 구성되는 광디스크 품질검사장치.Recording / reproducing means for recording / reproducing test data in a specific area of the disc; Storage means for storing source test data recorded on the disc by the recording / reproducing means; And a disc quality discriminating means for discriminating the quality of the disc by comparing the reproduced signal reproduced from said recording / reproducing means with the signal stored in said storage means. 제1항에 있어서, 디스크의 특정 영역에 기록되는 테스트 데이터는, 사용자에 의해서 입력 가능한 것을 특징으로 하는 광디스크 품질검사장치.The optical disc quality inspection apparatus according to claim 1, wherein the test data recorded in a specific area of the disc is input by a user. 제조된 디스크를 보관하는 다수개의 보관수단과; 상기 디스크의 특정영역에 테스트 데이터를 기록/재생하는 기록/재생수단과; 상기 보관수단과 상기 기록/재생수단 사이에서 디스크를 선택적으로 이동시키는 이동수단과; 상기 기록/재생수단으로부터 재생된 재생신호를 기준신호와 비교해서 디스크의 품질을 판별하는 디스크 품질판별수단을 포함하여 구성되는 광디스크 품질검사장치.A plurality of storage means for storing the manufactured disk; Recording / reproducing means for recording / reproducing test data in a specific area of the disc; Moving means for selectively moving a disk between the storage means and the recording / reproducing means; And a disc quality discriminating means for discriminating the quality of the disc by comparing the reproduced signal reproduced from said recording / reproducing means with a reference signal. 제3항에 있어서, 상기 기록/재생수단을 제어하는 제어수단을 더 포함하고, 상기 디스크 품질판별수단은, 상기 제어수단 내에 포함되는 것을 특징으로 하는 광디스크 품질검사장치.4. The optical disc quality inspection apparatus according to claim 3, further comprising control means for controlling the recording / reproducing means, wherein the disc quality discriminating means is included in the control means. 제3항에 있어서, 상기 이동수단을 제어하는 제어수단을 더 포함하고, 상기 디스크 품질판별수단은, 상기 제어수단 내에 포함되는 것을 특징으로 하는 광디스크 품질검사장치.4. An optical disc quality inspection apparatus according to claim 3, further comprising control means for controlling said moving means, wherein said disc quality discriminating means is included in said control means. 제3항에 있어서, 상기 기록/재생수단으로 데이터 입력이 가능한 외부 제어수단을 더 포함하고, 상기 디스크 품질판별수단은, 상기 제어수단 내에 포함되는 것을 특징으로 하는 광디스크 품질검사장치.4. An optical disc quality inspection apparatus according to claim 3, further comprising external control means capable of inputting data into said recording / reproducing means, wherein said disc quality discriminating means is included in said control means. 제3항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 디스크 품질판별수단에서 디스크의 품질 판별을 위한 기준신호의 범위를 선택적으로 설정 가능한 것을 특징으로 하는 광디스크 품질검사장치.The optical disc quality inspection apparatus according to any one of claims 3 to 6, wherein the disc quality discriminating means can selectively set a range of a reference signal for disc quality determination. 제7항에 있어서, 상기 테스트 데이터는, 아스키코드를 이용 가능한 것을 특징으로 하는 광디스크 품질검사장치.8. An optical disc quality inspection apparatus according to claim 7, wherein said test data can use ASCII codes. 디스크의 특정 영역을 서치하는 단계와; 상기 디스크의 특정 영역에 테스트 데이터를 기록하는 단계와; 상기 특정 영역에 기록된 데이터를 제생하는 단계와; 상기 재생데이터와 기준 데이터를 비교하여 디스크의 품질을 판단하는 단계를 포함하여 구성되는 광디스크 품질검사방법.Searching for a specific area of the disc; Recording test data in a specific area of the disc; Regenerating data recorded in the specific area; And comparing the play data with the reference data to determine the quality of the disk. 디스크의 특정 영영을 서치하는 단계와; 상기 디스크의 특정 영역에 테스트 데이터가 기록되어 있는 지를 판단하는 단계와; 상기 기록된 신호가 없을 때, 상기 특정 영역에 테스트 데이터를 기록하는 단계와; 상기 특정 영역에 기록된 데이터를 재생하는 단계와; 상기 재생신호와 기준 데이터를 비교하여 디스크의 품질을 판단하는 단계를 포함하여 구성되는 광디스크 품질검사방법.Searching for specific domains of the disc; Determining whether test data is recorded in a specific area of the disc; Recording test data in the specific area when the recorded signal is absent; Reproducing data recorded in the specific area; And comparing the reproduction signal with reference data to determine the quality of the disc.
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