KR100253347B1 - Output buffer circuit - Google Patents
Output buffer circuit Download PDFInfo
- Publication number
- KR100253347B1 KR100253347B1 KR1019970059152A KR19970059152A KR100253347B1 KR 100253347 B1 KR100253347 B1 KR 100253347B1 KR 1019970059152 A KR1019970059152 A KR 1019970059152A KR 19970059152 A KR19970059152 A KR 19970059152A KR 100253347 B1 KR100253347 B1 KR 100253347B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- output
- control signal
- precharge
- signal
- input
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00346—Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
- H03K19/00361—Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1057—Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
- H03K19/0013—Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
Abstract
Description
본 발명은 출력버퍼회로에 관한 것으로, 특히 데이터가 출력되기 전에 출력단을 프레차지 시켜 억세스시간을 줄이며, 출력데이터에 잡음이 발생하는 것을 방지하는데 적당하도록 한 출력버퍼회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로, 출력버퍼회로는 일반적으로, 출력버퍼회로는 입력신호를 소정시간 지연하여 다른 회로의 동기에 맞춰 출력하거나, 다른 주변회로에서 사용되는 전압의 범위로 입력신호를 변경하여 출력하는 역할을 하고, 보통 인버터 등의 지연수단과 이를 제어하는 스위칭수단을 포함하여 구성된다. 보통 그 출력단은 출력신호의 잡음영향을 최소화하기 위해 일정한 값으로 프레차지 시키는 동작을 수행하며, 이와 같은 종래 출력버퍼회로를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.In general, the output buffer circuit, the output buffer circuit delays the input signal for a predetermined time and outputs it in synchronization with other circuits, or changes the input signal in the range of voltage used in other peripheral circuits and outputs it. In general, it comprises a delay means such as an inverter and switching means for controlling the same. Usually, the output stage performs an operation of precharging to a predetermined value in order to minimize the noise effect of the output signal, which will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도1은 종래 출력버퍼회로도로서, 이에 도시한 바와 같이 입력데이터(DIN)를 각각 반전하는 인버터(INV1),(INV2)와; 상기 인버터(INV1)의 출력신호와 출력제어신호(ODE)를 낸드조합하여 출력하는 낸드게이트(NAND1)와; 상기 인버터(INV2)의 출력신호와 인버터(INV3)를 통해 입력된 상기 출력제어신호(ODE)를 노아조합하는 노아게이트(NOR1)와; 상기 인버터(INV2)의 출력신호를 반전하는 인버터(INV4)와; 상기 인버터(INV1),(INV3),(INV4)의 출력신호를 노아조합하는 노아게이트(NOR2)와; 상기 낸드게이트(NAND1)와 노아게이트(NOR1),(NOR2)의 출력신호를 입력받아 출력단을 소정 값으로 프레차지시킨 후, 출력데이터(DOUT)를 출력하는 프레차지 구동부(10)로 구성된다.1 is a conventional output buffer circuit diagram, which shows inverters INV1 and INV2 for inverting input data DIN, respectively, as shown therein; A NAND gate NAND1 for NAND combining the output signal of the inverter INV1 and the output control signal ODE; A NOA gate NOR1 for performing a NOA combination of the output signal of the inverter INV2 and the output control signal ODE input through the inverter INV3; An inverter INV4 for inverting the output signal of the inverter INV2; A NOA gate NOR2 for NOR combining the output signals of the inverters INV1, INV3, and INV4; The
상기 프레차지 구동부(10)는 상기 낸드게이트(NAND1)의 출력단과 노아게이트(NOR1)의 출력단사이에 직렬접속되고, 각각의 게이트에 상기 노아게이트(NOR2)의 출력신호와 그 노아게이트(NOR2)의 출력신호를 인버터(INV5)를 통해 인가 받아 도통제어되는 엔모스 트랜지스터(NM1) 및 피모스 트랜지스터(PM1)와; 전원전압(VCC)과 접지전압(VSS)사이에 직렬접속되고, 각각의 게이트에 인가되는 상기 낸드게이트(NAND1) 및 노아게이트(NOR1)의 출력신호에 따라 도통제어되는 피모스 트랜지스터(PM2) 및 엔모스 트랜지스터(NM2)와; 일측단이 상기 엔모스 트랜지스터(NM1)와 피모스 트랜지스터(PM1)의 접점 및 피모스 트랜지스터(PM2)와 엔모스 트랜지스터(NM2)의 접점에 공통접속되고, 타측단이 접지된 부하 캐패시터(C1)로 구성된다.The
이하, 상기와 같이 구성된 종래 출력버퍼회로의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the conventional output buffer circuit configured as described above will be described.
먼저, 출력제어신호(ODE)가 저전위로 입력되는 경우에는 낸드게이트(NAND1)의 출력신호는 입력신호(DIN)에 관계없이 고전위로 고정되고, 상기 저전위의 출력제어신호(ODE)를 인버터(INV3)를 통해 입력받은 노아게이트(NOR1),(NOR2)의 출력신호는 입력이터(DIN)에 관계없이 저전위의 출력신호를 출력한다. 이에 따라 엔모스 트랜지스터(NM1,NM2) 및 피모스 트랜지스터(PM1,PM2)가 모두 턴오프되어 출력데이터(DOUT)는 트라이 스테이트(TRY STATE)가 된다.First, when the output control signal ODE is input at the low potential, the output signal of the NAND gate NAND1 is fixed at high potential regardless of the input signal DIN, and the low potential output control signal ODE is converted into an inverter ( The output signals of the NOA gates NOR1 and NOR2 input through INV3) output a low potential output signal regardless of the input eater DIN. As a result, the NMOS transistors NM1 and NM2 and the PMOS transistors PM1 and PM2 are both turned off, and the output data DOUT becomes a tri-state.
그 다음, 도2는 도1의 동작파형도로서, 이에 도시한 바와 같이 상기 출력제어신호(ODE)가 고전위로 인가되고, 입력데이터(DIN)가
이와 같이 고전위의 출력제어신호(ODE)를 인버터(INV3)를 통해 입력받고, 상기 인버터(INV1)의 출력신호와, 인버터(INV4)를 통해 인버터(INV2)의 출력신호를 입력받은 노아게이트(NOR2)의 출력신호는 상기 입력데이터(DIN)가
그 다음, 상기 입력데이터(DIN)가
그 다음, 입력데이터(DIN)가 고전위로 입력되면, 상기 낸드게이트(NAND1)의 출력신호는 고전위로 출력되며, 노아게이트(NOR1)의 출력신호 또한 고전위로 출력된다. 이때의 노아게이트(NOR2)의 출력신호는 저전위로 출력되어 엔모스 트랜지스터(NM1)와 피모스 트랜지스터(PM1)를 모두 오프시킨다.Then, when the input data DIN is input at high potential, the output signal of the NAND gate NAND1 is output at high potential, and the output signal of the NOR gate NOR1 is also output at high potential. At this time, the output signal of the NOA gate NOR2 is output at a low potential to turn off both the NMOS transistor NM1 and the PMOS transistor PM1.
이와 같은 동작으로, 피모스 트랜지스터(PM2)는 오프되고, 엔모스 트랜지스터(NM2)가 도통되어 결국 출력데이터(DOUT)는 저전위로 출력된다.In this operation, the PMOS transistor PM2 is turned off, the NMOS transistor NM2 is turned on, and the output data DOUT is output at a low potential.
그 다음, 상기 입력데이터(DIN)가 저전위로 입력되면 고전위의 출력제어신호(ODE)와 인버터(INV1)를 통해 반전된 입력데이터(DIN)를 낸드조합한 낸드게이트(NAND1)의 출력신호는 저전위로 출력되고, 상기 출력제어신호(ODE)를 인버터(INV3)를 통해 입력받고, 상기 입력데이터(DIN)를 인버터(INV2)를 통해 입력받은 노아게이트(NOR1)는 그 출력신호가 역시 저전위로 출력된다.Next, when the input data DIN is input at the low potential, the output signal of the NAND gate NAND combining NAND of inverted input data DIN through the high potential output control signal ODE and the inverter INV1 is The NOA gate NOR1, which is output at a low potential, receives the output control signal ODE through the inverter INV3, and receives the input data DIN through the inverter INV2, has its output signal also at a low potential. Is output.
또한, 노아게이트(NOR2)에는 상기 인버터(INV1)의 고전위 출력신호, 인버터(INV3)의 저전위 출력신호, 상기 인버터(INV2)의 출력신호를 반전한 인버터(INV4)의 저전위 출력신호가 입력되어 상기 고전위 입력데이터(DIN)가 입력되는 경우와 동일하게 저전위의 출력신호를 출력한다.The NOA gate NOR2 has a high potential output signal of the inverter INV1, a low potential output signal of the inverter INV3, and a low potential output signal of the inverter INV4 inverting the output signal of the inverter INV2. The output signal of the low potential is input in the same manner as the input of the high potential input data DIN.
이에 따라 엔모스 트랜지스터(NM1),(NM2) 및 피모스 트랜지스터(PM1)가 턴오프되고, 피모스 트랜지스터(PM2)가 도통되어 출력데이터(DOUT)는 고전위로 출력된다.Accordingly, the NMOS transistors NM1, NM2 and PMOS transistor PM1 are turned off, the PMOS transistor PM2 is turned on, and the output data DOUT is output at high potential.
이와 같이 종래 출력버퍼회로는 입력데이터(DIN)의 전위가 고전위일 때와 저전위일 때 사이의
그러나, 상기한 바와 같은 종래 출력버퍼회로는 입력데이터의 전위가
이와 같은 문제점을 감안한 본 발명은 소비전력을 줄이며, 용이하게 출력단을 프레차지 할 수 있는 출력버퍼회로를 제공함에 그 목적이 있다.It is an object of the present invention to reduce the power consumption and to provide an output buffer circuit which can easily precharge an output stage.
도1은 종래 출력버퍼회로도.1 is a conventional output buffer circuit diagram.
도2는 도1의 동작파형도.2 is an operational waveform diagram of FIG.
도3은 본 발명 출력버퍼회로도.Figure 3 is an output buffer circuit diagram of the present invention.
도4는 도3의 동작파형도.4 is an operational waveform diagram of FIG.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
1:입력부 2:프레차지 제어부1: input unit 2: precharge control unit
3:프레차지 구동부3: precharge drive unit
상기와 같은 목적은 출력제어신호에 따라 입력데이터와 반전된 입력데이터를 출력하는 입력부와; 프레차지 제어신호의 입력에 따라 상기 입력부의 출력신호가 전송되는 것을 차단하거나, 그 입력부의 출력신호를 전송하는 프레차지 제어부와; 상기 프레차지 제어부의 제어에 따라 상기 입력부의 출력신호가 인가되면 출력데이터를 출력하고, 상기 입력부의 출력신호의 인가가 없을 때, 프레차지 제어신호와 반전된 프레차지 제어신호에 따라 출력단을 프레차지 하는 프레차지 구동부로 구성하여 프레차지 제어신호를 이용하여 프레차지 구간에서의 입력데이터가 입력되는 것을 차단하고, 프레차지가 완료된 후 다시 입력데이터를 입력받아 출력하여 전류의 누설이 발생하는 경로를 차단함으로써 달성되는 것으로, 이와 같은 본 발명을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The above object includes an input unit for outputting input data and inverted input data according to an output control signal; A precharge control unit which blocks the output signal of the input unit from being transmitted or transmits an output signal of the input unit according to the input of the precharge control signal; Output data is output when the output signal of the input unit is applied under the control of the precharge control unit, and when the output signal of the input unit is not applied, the output terminal is precharged according to the precharge control signal and the inverted precharge control signal. It consists of a precharge driving unit to block input data in the precharge section by using the precharge control signal, and after the precharge is completed, input and output the input data again to block a path where current leakage occurs. This is achieved by, when described in detail with reference to the accompanying drawings, the present invention as follows.
도3은 본 발명 출력버퍼회로도로서, 이에 도시한 바와 같이 출력제어신호(OED)에 따라 입력데이터(DIN)와 반전된 입력데이터(DIN)를 출력하는 입력부(1)와; 프레차지 제어신호(PRE)의 입력에 따라 상기 입력부(1)의 출력신호가 전송되는 것을 차단하거나, 그 입력부(1)의 출력신호를 전송하는 프레차지 제어부(2)와; 상기 프레차지 제어부(2)의 제어에 따라 상기 입력부(1)의 출력신호가 인가되면 출력데이터(DOUT)를 출력하고, 상기 입력부(1)의 출력신호의 인가가 없고, 프레차지 제어신호(PRE)와 반전된 프레차지 제어신호(PRE)에 따라 출력단을 프레차지하는 프레차지 구동부(3)로 구성된다.Fig. 3 is an output buffer circuit diagram of the present invention, and as shown therein, an
상기 입력부(1)는 출력제어신호(ODE)와 입력데이터(DIN)를 낸드조합하는 낸드게이트(NAND1)와; 인버터(INV1)를 통해 상기 출력제어신호(ODE)를 입력받고, 입력데이터(DIN)를 입력받아 노아조합하는 노아게이트(NOR)로 구성된다.The
상기 프레차지 제어부(2)는 프레차지 제어신호(PRE)를 반전하는 인버터(INV2)와; 상기 프레차지 제어신호(PRE)와 인버터(INV2)를 입력받아 각각 프레차지신호(PRE)가 저전위일 때 상기 입력부(1)의 낸드게이트(NAND1)와 노아게이트(NOR1)의 출력신호를 전송하는 전송게이트(TG1),(TG2)로 구성된다.The
상기 프레차지 구동부(3)는 상기 프레차지 제어부(2)의 전송게이트(TG1),(TG2)의 출력단사이에 직렬접속되며, 상기 프레차지 제어신호(PRE)와 상기 인버터(INV2)의 출력신호를 각각의 게이트에 인가 받아 도통제어되는 엔모스 트랜지스터(NM1) 및 피모스 트랜지스터(PM1)와; 전원전압(VCC)과 접지전압(VSS)사이에 직렬접속되어, 상기 전송게이트(TG1),(TG2)를 통해 인가되는 낸드게이트(NAND1)와 노아게이트(NOR1)의 출력신호를 각각의 게이트에 인가 받아 도통제어되는 피모스 트랜지스터(PM2)와 엔모스 트랜지스터(NM2)와; 상기 엔모스 트랜지스터(NM1)와 피모스 트랜지스터(PM1)의 접점 및 상기 피모스 트랜지스터(PM2)와 엔모스 트랜지스터(NM2)의 접점에 일측단이 공통접속되고, 타측단이 접지된 부하 캐패시터(C1)로 구성된다.The
이하, 상기와 같이 구성된 본 발명 출력버퍼회로의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the output buffer circuit of the present invention configured as described above will be described.
먼저, 출력제어신호(ODE) 및 프레차지 제어신호(PRE)가 저전위로 인가되면, 이 저전위의 출력제어신호(ODE)에 의해 낸드게이트(NAND1)의 출력신호는 입력데이터(DIN)에 관계없이 고전위의 출력신호를 출력하고, 상기 저전위의 출력제어신호(ODE)를 인버터(INV1)를 통해 반전하여 일측입력단에 입력받은 노아게이트(NOR1)는 타측단에 입력되는 입력데이터(DIN)에 관계없이 저전위의 출력신호를 출력한다.First, when the output control signal ODE and the precharge control signal PRE are applied at a low potential, the output signal of the NAND gate NAND1 is related to the input data DIN by this low potential output control signal ODE. The output signal of the high potential without output, and the low potential output control signal (ODE) is inverted through the inverter INV1 and the NOA gate NOR1 input to one input terminal is input data DIN input to the other end. Irrespective of the output signal of low potential.
이때, 프레차지 제어부(2)의 전송게이트(TG1),(TG2)는 프레차지 구동부(3)의 피모스 트랜지스터(PM2)와 엔모스 트랜지스터(NM2)의 게이트에 각각 인가하여 모두 턴오프시킨다.At this time, the transfer gates TG1 and TG2 of the
또한, 상기 프레차지 제어신호(PRE)가 저전위로 인가되어 상기 프레차지 구동부(3)의 엔모스 트랜지스터(NM1)를 턴오프시키고, 프레차지 제어신호(PRE)를 인버터(INV2)를 통해 그 게이트에 인가 받은 피모스 트랜지스터(PM1)가 오프되어 출력단은 트라이 스테이트가 된다.In addition, the precharge control signal PRE is applied at a low potential to turn off the NMOS transistor NM1 of the
그 다음, 도4는 도3의 동작파형도로서, 이에 도시한 바와 같이 출력단의 프레차지 동작은 출력제어신호(ODE)가 고전위로 입력되는 상태에서, 입력데이터(DIN)가
즉, 프레차지 제어신호(PRE)가 고전위로 인가되면, 낸드게이트(NAND1)의 출력신호와 노아게이트(NOR1)의 출력신호는 전송게이트(TG1),(TG2)에 의해서 차단되며, 이에 따라 피모스 트랜지스터(PM2)와 엔모스 트랜지스터(NM2)는 오프된다.That is, when the precharge control signal PRE is applied at high potential, the output signal of the NAND gate NAND1 and the output signal of the NOA gate NOR1 are blocked by the transmission gates TG1 and TG2. The MOS transistor PM2 and the NMOS transistor NM2 are turned off.
이때, 상기 프레차지 제어신호(PRE)를 게이트에 인가 받은 엔모스 트랜지스터(NM1)는 턴온되고, 그 프레차지 제어신호(PRE)를 인버터(INV2)를 통해 게이트에 인가 받은 피모스 트랜지스터(PM1)또한 턴온된다. 이와 같은 동작으로 출력단의 이전상태가 저전위인 경우에 엔모스 트랜지스터(NM1)의 드레인 측이 저전위가 되고, 피모스 트랜지스터(PM1)의 소스가 일정한 전압값(VSS-Vtp:Vtp는 피모스 트랜지스터(PM1)의 문턱전압)이 되어 부하 캐패시터(C1)에 프레차지가 시작되며, 상기 엔모스 트랜지스터(NM1)의 드레인 측과 피모스 트랜지스터(PM1)의 소스측의 전압값이 동일해 질 때 프레차지가 완료된다.At this time, the NMOS transistor NM1 applying the precharge control signal PRE to the gate is turned on, and the PMOS transistor PM1 receiving the precharge control signal PRE to the gate through the inverter INV2. It is also turned on. In this operation, when the previous state of the output terminal is low potential, the drain side of the NMOS transistor NM1 becomes low potential, and the source of the PMOS transistor PM1 has a constant voltage value (VSS-Vtp: Vtp is a PMOS transistor). Precharge is started to the load capacitor C1, and when the voltage value of the drain side of the NMOS transistor NM1 and the source side of the PMOS transistor PM1 becomes equal, the precharge starts. The charge is complete.
이와 같은 프레차지가 완료된 후, 입력데이터(DIN)가 고전위 또는 저전위로 입력될 때 프레차지 제어신호(PRE)는 저전위로 입력된다.After the precharge is completed, the precharge control signal PRE is input at the low potential when the input data DIN is input at the high potential or the low potential.
이에 따라 전송게이트(TG1),(TG2)에 의해 낸드게이트(NAND1)와 노아게이트(NOR1)의 출력신호가 상기 피모스 트랜지스터(PM2)와 엔모스 트랜지스터(NM2)의 게이트로 인가된다. 이때, 상기 저전위의 프레차지 제어신호(PRE)를 각각의 게이트에 직접 및 인버터(INV2)를 통해 입력받은 엔모스 트랜지스터(NM1)와 피모스 트랜지스터(PM1)는 모두 오프된다.Accordingly, output signals of the NAND gate NAND1 and the NOA gate NOR1 are applied to the gates of the PMOS transistor PM2 and the NMOS transistor NM2 by the transfer gates TG1 and TG2. At this time, both the NMOS transistor NM1 and the PMOS transistor PM1 that receive the low-potential precharge control signal PRE directly through the respective gates and through the inverter INV2 are turned off.
또한, 상기 낸드게이트(NAND1)의 출력신호는 입력데이터(DIN)가 고전위로 입력될 때 저전위의 출력신호를 출력하고, 노아게이트(NOR1)의 출력데이터는 고전위의 출력신호를 출력한다. 즉, 낸드게이트(NAND1)는 입력데이터(DIN)를 반전하여 출력하고, 노아게이트(NOR1)는 입력데이터(DIN)와 동일한 출력신호를 출력한다.In addition, the output signal of the NAND gate NAND1 outputs a low potential output signal when the input data DIN is input at a high potential, and the output data of the NOR gate NOR1 outputs a high potential output signal. That is, the NAND gate NAND1 inverts and outputs the input data DIN, and the NOR gate NOR1 outputs the same output signal as the input data DIN.
그 다음, 상기와 같은 낸드게이트(NAND1) 및 노아게이트(NOR1)의 출력신호를 각 게이트에 입력받은 피모스 트랜지스터(PM2)와 엔모스 트랜지스터(NM2)는 각각 온오프제어되어, 그 접점측에서 상기 입력데이터(DIN)와 동일한 출력데이터(DOUT)를 출력하게 된다.Then, the PMOS transistor PM2 and the NMOS transistor NM2, which have received the output signals of the NAND gate NAND1 and the NOR gate NOR1 as described above, are controlled on and off, respectively. The same output data DOUT as the input data DIN is output.
상기한 바와 같이 본 발명 출력버퍼회로는 프레차지 제어신호를 추가하여 프레차지 동작 시에는 입력부로부터의 입력데이터 전송을 차단한 후, 그 프레차지 제어신호를 이용하여 출력단을 프레차지 함으로써, 용이하게 출력단을 프레차지 한 다음 출력데이터를 출력하여 출력데이터의 억세스 속도를 증가시키는 효과와 아울러 전류의 누설요인을 제거함으로써 소비전력을 절감하는 효과가 있다.As described above, the output buffer circuit of the present invention adds a precharge control signal to block the input data transmission from the input unit during the precharge operation, and then precharges the output terminal using the precharge control signal, thereby easily outputting the output terminal. After precharging, outputting the output data increases the access speed of the output data and reduces the power consumption by eliminating the leakage factor of the current.
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970059152A KR100253347B1 (en) | 1997-11-11 | 1997-11-11 | Output buffer circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970059152A KR100253347B1 (en) | 1997-11-11 | 1997-11-11 | Output buffer circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990039165A KR19990039165A (en) | 1999-06-05 |
KR100253347B1 true KR100253347B1 (en) | 2000-04-15 |
Family
ID=19524491
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970059152A KR100253347B1 (en) | 1997-11-11 | 1997-11-11 | Output buffer circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100253347B1 (en) |
-
1997
- 1997-11-11 KR KR1019970059152A patent/KR100253347B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990039165A (en) | 1999-06-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5189319A (en) | Power reducing buffer/latch circuit | |
US4090096A (en) | Timing signal generator circuit | |
KR960016140A (en) | Output buffer circuit of memory device | |
KR960006911B1 (en) | Data output buffer | |
KR970051206A (en) | Low power sense amplifier circuit | |
KR100202645B1 (en) | Cmos output circuit with precharging circuit | |
JPH01130618A (en) | Cmos latching circuit | |
US5835449A (en) | Hyper page mode control circuit for a semiconductor memory device | |
KR960035284A (en) | Memory data transfer device | |
KR960019303A (en) | Non-overlapping Signal Generation Circuit of Semiconductor Memory Device | |
KR100253347B1 (en) | Output buffer circuit | |
KR940004516B1 (en) | High-speed sensing device of the semiconductor memory | |
US5646566A (en) | Low power clocked set/reset fast dynamic latch | |
JPS5911993B2 (en) | drive circuit | |
KR100280399B1 (en) | Output buffer circuit | |
KR100243020B1 (en) | Output buffer circuit | |
JP3225903B2 (en) | Output circuit | |
JP3754028B2 (en) | Semiconductor device | |
JPH04261217A (en) | Arithmetic circuit | |
KR100239410B1 (en) | Data bus precharge circuit | |
KR100313519B1 (en) | Control circuit for output buffer | |
KR100224789B1 (en) | A high voltage generating circuit | |
KR100295654B1 (en) | Taped cmos driver | |
KR100457330B1 (en) | Data output buffer circuit | |
KR940006659Y1 (en) | Boot strapping data output buffer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20101224 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |