KR100252531B1 - 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기 - Google Patents

Abstract

본 발명은 반도체 리드프레임을 도금하는 과정에서 발생하게 되는 가스 및 기포의 의해 전극이 자가도금되면 전극으로 흐르는 전류량이 감소되고, 감소된 전류를 감지하여 기준(평균값 또는 절대값)전류량과 비교하여 비교된 전류량으로 다수의 전극으로 흐르는 전류의 유무를 감지하며, 경고표시수단을 통하여 전극의 전류감소된 상태를 작업자에게 알려 전극를 교체 또는 수정하여 반도체 리드프레임의 도금상태를 균일하게 피복도금되도록 한 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극이상유무검출기에 관한 것으로서, 다수의 전극으로 흐르는 전류를 감지하는 전류검출수단과; 상기 전류검출수단에 의해 감지된 신호를 증폭하는 증폭기와: 상기 증폭기에 의해 증폭된 신호를 합산한 기준(평균값 또는 절대값)전류량을 출력하는 컨트롤러와; 상기 컨트롤러에서 입력되는 신호에 의해 각각의 증폭기로부터 입력되는 신호를 비교하여 전극의 이상유무를 비교하는 전극의 이상유무를 비교하는 비교기와; 상기 비교기로부터 출력되는 신호를 스위칭하도록 다수의 스위치를 갖는 셀렉트부와; 상기 셀렉터부의 스위치를 경유하여 출력된 신호에 의해 전극의 이상유무를 표시하는 경고표시수단으로 이루어진 것을 특징으로 한다.

Description

반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기

본 발명은 반도체 리드프레임 피복도금장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 반도체 리드프레임을 도금하는 과정에서 발생하게 되는 가스 및 기포의 의해 전극이 자가도금되면 전극으로 흐르는 전류량이 감소되고, 감소된 전류를 감지하여 기준 전류량과 비교하여 비교된 전류량으로 다수의 전극으로 흐르는 전류의 유무를 감지하며, 경고표시수단을 통하여 전극의 전류감소된 상태를 작업자에게 알려 전극를 교체 또는 수정하여 반도체 리드프레임의 도금상태를 균일하게 피복도금되도록한 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기에 관한 것이다.

일반적으로 반도체 리드프레임을 피복도금하기 위한 도금장비에는, 각각의 셀내에 다수의 전극이 설치되어 있으며, 반도체 리드프레임으로부터 전극으로 전류가 공급되도록 전원전압을 공급된다. 이때, 흐르는 전류에 의해 반도체 리드프레임에 균일한 두께로 피복도금되게 된다.

이와 같이, 주석, 납 또는 구리를 녹아 있는 도금액(혹은 전해액)이 담겨져 있는 도금장비에 반도체 리드프레임을 침전시키고, 전류를 공급하여 일정시간이 경과되면 반도체 리드프레임이 피복도금되게 한다. 따라서, 반도체 리드프레임에 (+)전원을 공급하고, 전극에 (-)전원을 공급하며, 이렇게 공급되는 전원전압에 의해 반도체 리드프레임이 피복도금되게 된다.

그러나, 이와 같은 반도체 리드프레임 도금장치의 운용시간이 경과됨에 따라 도금액에서 발생하게 되는 가스 또는 기포에 의해 전극이 자가도금되어 반도체 리드프레임에서 전극으로 흐르는 전류가 차단되며, 따라서 반도체 리드프레임의 피복도금이 불규칙하게 피복도금되는 문제점을 갖게 된다.

또한, 반도체 리드프레임을 피복도금하는 과정에서 순간적인 가스발생으로 리드프레임이 불규칙하게 피복도금되는 등 도금과정에서 여러 가지 문제점을 내포하게 된다. 이렇게 불규칙하게 피복도금되는 반도체 리드프레임으로 반도체 패키지를 제작하게 되면, 상기 반도체 패키지특성을 충족시키지 못하게 되므로 패키지의 불량률을 증가시키게 되는 문제점을 갖게 된다.

이러한, 문제점을 해소하기 위한 방안으로서, 작업자가 일정시간 간격으로 반도체 리드프레임의 피복도금 상태를 확인하여 가스 및 기포 등에 의한 문제점을 개선시켜 왔다.

그러나, 작업자가 일정시간 간격으로 반도체 리드프레임의 도금상태를 작업자의 육안으로 검사하게 되므로, 반도체 리드프레임이 도금된 상태를 정확하게 판단하기 어려운 문제점을 갖게 된다. 또한, 작업자의 부주의로 인하여 일정시간 간격으로 반도체 리드프레임의 도금상태를 확인하지 않는 경우, 도금하는 과정에서 발생하게 되는 가스 및 기포에 의해 반도체 리드프레임의 피복도금이 불규칙하게 되는 등 작업자의 작업공수를 증가시키게 되는 문제점을 내포하게 된다.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 고려하여 안출된 것으로서, 그 목적은 반도체 리드프레임을 도금하는 과정에서 발생하게 되는 가스 및 기포의 의해 전극이 자가도금되면 전극으로 흐르는 전류량이 감소되고, 감소된 전류를 감지하여 기준 전류량과 비교하여 비교된 전류량으로 다수의 전극으로 흐르는 전류의 유무를 감지하며, 경고표시수단을 통하여 전극의 전류감소된 상태를 작업자에게 알려 전극를 교체 또는 수정하여 반도체 리드프레임의 도금상태를 균일하게 피복도금되도록 한 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기를 제공함에 있다.

이러한 본 발명의 목적은, 각각의 셀내에 다수의 전극이 설치되며, 반도체 리드프레임으로부터 다수의 전극으로 공급되는 전원전압에 의해 도금장비에 담겨 있는 도금액이 반도체 리드프레임에 균일한 두께로 피복도금되게 되는 반도체 리드프레임의 피복도금장비에 있어서, 상기 다수의 전극으로 흐르는 전류를 감지하는 전류검출수단과; 상기 전류검출수단에 의해 감지된 신호를 증폭하는 증폭기와; 상기 증폭기에 의해 증폭된 신호를 합산하여 절대값을 취하고, 상기 절대값의 비교신호를 입력되는 전압레퍼런스에 의해 기준 전류간을 출력하는 컨트롤러와: 상기 컨트롤러에서 입력되는 신호에 의해 각각의 증폭기로부터 입력되는 신호를 비교하여 전극의 이상유무를 비교하는 비교기와: 상기 비교기로부터 출력되는 신호를 스위칭 하도록 다수의 스위치를 갖는 셀렉트부와; 상기 셀렉터부의 스위치를 경유하여 출력된 신호에 의해 전극의 이상유무를 표시하는 경고표시수단으로 이루어진 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 전류검출수단은 다수의 전극에 전류검출저항을 설치하여 전극으로 흐르는 전류의 유무를 검출하는 것을 특징으로 한다.

제1도는 본 발명에 따른 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기의 구성을 보인 블럭도.

제2도는 제1도의 전류검출수단의 상세회로도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 전류검출수단 20 : 증폭기

30, 41 : 비교기 40 : 컨트롤러

42 : 전압레퍼런스 50 : 셀렉터부

60 : 경고표시수단 70 : 디스플레이부

R : 전류검출수단 SW : 스위치

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 구체적으로 설명하면 다음과 같다.

제1도는 본 발명에 따른 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기의 구성을 보인 블록도이고, 제2도는 제1도의 전류검출수단의 상세회로도이다. 제1도 및 제2도를 살펴보면, 반도체 리드프레임을 피복도금하는 과정에서 장비의 운용시간이 경과됨에 따라 도금액에서 발생하게 되는 가스 및 기포에 의해 전극이 자가도금되어 전극으로 흐르는 전류가 차단된다. 즉, 전극으로 흐르는 전류를 감지하는 전류검출수단(10)에 의해 다수의 전극으로 흐르는 전류를 감지하게 된다. 이러한, 전류검출수단(10)은 다수의 전극으로 흐르는 전류를 감지하기 위해 다수의 전극에 전류검출저항(R)을 각각 접속하고, 접속된 전류검출저항(R)에 의해 전극으로 흐르는 전류값을 감지하게 된다.

전류검출수단(10)의 전류검출저항(R)을 경유하여 출력되는 전류신호를 증폭하는 증폭기(20)에 의해 전류신호를 증폭하게 되고, 이 증폭된 신호는 제 2비교기(30)와 컨트롤러(40)에 입력된다.

상기 컨트롤러(40)는 증폭기(20)에서 출력된 신호를 제 1비교기(41)에 의해 절대값으로 환산하게 되고, 절대값의 비교신호로 입력되는 전압레퍼런스(42)에 의해 기준 전류값을 출력하게 되며, 이 출력된 신호는 비교기(30)에 입력된다.

상기 제 2비교기(30)는 컨트롤러(40)에서 입력되는 신호에 의해 각각의 증폭기(20)로부터 입력되는 신호를 비교하여 전극의 이상유무를 비교하게 되고, 비교된 신호는 셀렉터부(50)에 입력된다.

상기 셀렉터부(50)는 다수의 스위치(SW)의 접점에 의해 제 2비교기(30)로부터 출력되는 신호를 온(ON)/오프(OFF) 스위칭하면 스위칭된 신호는 경고표시수단(60)에 입력된다.

상기 경고표시수단(70)은 스위치를 경유하여 출력된 신호에 의해 전극의 이상유무를 경광등(경보음 또는 제어기)을 구동시켜 이상유무를 표시하게 하여 작업자가 도금액의 기포 또는 가스 등에 의해 전극의 이상유무를 육안(또는 기계정지)으로 인식하게 된다.

한편, 상기 증폭기(20)에서 출력되는 전류량을 표시하여 다수의 전극의 이상 유무를 표시하는 디스플레이부(70)를 설치할 수도 있다. 또한, 셀렉터부(50)의 스위치(SW)는 작업자가 반도체 리드프레임의 도금되는 양에 따라 스위치(SW)접점을 온/오프상태로 변환시킬 수 있다. 따라서, 반도체 리드프레임을 피복도금하는 과정에서 발생되는 가스 및 기포에 의해 전극가 자가도금되는 문제점을 개선하게 되고, 반도체 리드프레임을 균일하게 피복도금하게 된다.

이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명에 따른 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기로, 반도체 리드프레임을 피복도금하는 과정에서 발생하게되는 가스 및 기포에 의해 전극이 자가도금되어 전극으로 흐르는 전류가 감소될 때 다수의 전극으로 흐르는 전류의 유무를 감지하게 되고, 이 감지된 신호로 작업자가 육안으로 인식이 용이하도록 경광등(경보음 또는 제어기)을 송출하게 되므로 작업자가 전극의 이상유무를 인식하게 되며, 전극을 교체하여 반도체 리드프레임의 피복도금이 균일하게 도금되도록 하는 장점을 갖게된다. 또한, 리드프레임이 균일하게 피복도금된 상태에서 반도체 패키지를 제작하게 되므로 패키지의 불량률을 절감시키게 되는 장점을 갖게 되는 유용한 발명인 것이다.

Claims (3)

1. 각각의 셀내에 다수의 전극이 설치되며, 반도체 리드프레임으로부터 다수의 전극으로 공급되는 전원전압에 의해 도금장비에 담겨 있는 도금액이 반도체 리드프레임에 균일한 두께로 피복도금되게 되는 반도체 리드프레임의 피복도금장비에 있어서, 상기 다수의 전극으로 흐르는 전류를 감지하는 전류검출수단(10)과; 상기 전류검출수단(10)에 의해 감지된 신호를 증폭하는 증폭기(20)과; 상기 증폭기(20)에서 출력된 신호를 제 1비교기(41)에 의해 평균절대값으로 환산하게 되고, 상기 절대값의 비교신호를 입력되는 전압레퍼런스(42)에 의해 기준전류값을 출력하는 컨트롤러(40)와; 상기 컨트롤러(40)에서 입력되는 신호에 의해 각각의 증폭기(20)로부터 입력되는 신호를 비교하여 전극의 이상유무를 비교하는 제 2비교기(30)와; 상기 제 2비교기(30)로부터 출력되는 신호를 스위칭하도록 다수의 스위치(SW)를 갖는 셀렉트부(50)와; 상기 셀렉터부(50)의 스위치(SW)를 경유하여 출력된 신호에 의해 전극의 이상유무를 표시하는 경고표시수단(60)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기.
2. 제1항에 있어서, 상기 전류검출수단(10)은 다수의 전극에 전류검출저항(R)을 설치하여 전극으로 흐르는 전류의 유무를 검출하는 것을 특징으로 하는 반도체 리드프레임 피복도금장비의 전극 이상유무검출기.
3. 제1항에 있어서, 상기 증폭기(20)에서 출력되는 전류량을 표시하여 다수의 전극의 이상유무를 표시하는 디스플레이부(70)를 포함하여 이루어진 반도체 리드프레임의 피복도금 이상유무검출기.

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