KR100236975B1 - 질화알루미늄/수소화된 질화알루미늄/질화알루미늄 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법 - Google Patents

질화알루미늄/수소화된 질화알루미늄/질화알루미늄 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100236975B1
KR100236975B1 KR1019960076809A KR19960076809A KR100236975B1 KR 100236975 B1 KR100236975 B1 KR 100236975B1 KR 1019960076809 A KR1019960076809 A KR 1019960076809A KR 19960076809 A KR19960076809 A KR 19960076809A KR 100236975 B1 KR100236975 B1 KR 100236975B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
aluminum nitride
aln
thin film
acoustic wave
surface acoustic
Prior art date
Application number
KR1019960076809A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19980057515A (ko
Inventor
이재영
용윤중
김윤기
한영수
Original Assignee
윤덕용
한국과학기술원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤덕용, 한국과학기술원 filed Critical 윤덕용
Priority to KR1019960076809A priority Critical patent/KR100236975B1/ko
Priority to US08/999,022 priority patent/US6099700A/en
Publication of KR19980057515A publication Critical patent/KR19980057515A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100236975B1 publication Critical patent/KR100236975B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/46Filters
    • H03H9/64Filters using surface acoustic waves
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/0617AIII BV compounds, where A is Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02543Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
    • H03H9/02574Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of combined substrates, multilayered substrates, piezoelectrical layers on not-piezoelectrical substrate
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02818Means for compensation or elimination of undesirable effects

Abstract

본 발명은 질화알루미늄(AlN) 박막을 이용한 탄성표면파(surface acoustic wave) 필터의 제조방법 및 그에 의해 제조된 탄성표면파 필터에 관한 것이다. 좀 더 구체적으로, 본 발명은 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막을 증착할 때 이를 수증기로부터 보호하여 블리스터링(blistering)을 방지하기 위해 양단에 질화알루미늄(AlN)을 증착한 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막(tri-layered films)을 이용하여 탄성표면파 필터를 제조하는 방법 및 그에 의해 제조된 탄성표면파 필터에 관한 것이다. 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN)의 3층 박막을 압전재료로 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법은 용이하면서도 경제적으로, 탄성표면파 전파속도가 빠르고 전기기계 결합계수가 큰 탄성표면파 필터를 제조한다.

Description

질화알루미늄/수소화된 질화알루미늄/질화알루미늄 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법
본 발명은 질화알루미늄(AlN) 박막을 이용한 탄성표면파(surface acoustic wave)필터의 제조방법 및 그에 의해 제조된 탄성표면파 필터에 관한 것이다. 좀 더 구체적으로, 본 발명은 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막을 증착할 때 이를 수증기로부터 보호하여 블리스터링(blistering)을 방지하기 위해 그의 양단에 질화알루미늄(AlN)을 증착한 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막(tri-layered films)을 이용하여, 탄성표면파 전파속도 및 전기기계 결합계수(electromechanical coupling coefficient, k2)가 큰 탄성표면파 필터를 제조하는 방법 및 그에 의해 제조된 탄성표면파 필터에 관한 것이다.
일반적으로, 압전재료를 이용한 탄성표면파 필터가 100MHz 이상의 고주파대역에서 사용되기 위해서는 압전재료의 탄성표면파 전파속도 및 전기기계 결합계수가 크고, 압전재료의 제조단가가 저렴하여야 한다. 그럼에도 불구하고, 종래의 탄성표면파 소자의 압전재료는 LiNbO3등의 비싸고 부피가 큰 단결정이었다. 그후 개발되어 압전재료로 현재 사용되고 있는 질화알루미늄 박막은 스퍼터링(sputtering)법 등으로 용이하면서도 낮은 단가로 제조될 수 있고, 5000m/s 이상의 탄성표면파 전파속도를 가지는 것으로 알려져 있으나(참조 : H. Okano et al., Jpn, J. Appl. Phys., 33 : 2957(1994)), 0.8% 이하의 적은 전기기계 결합계수 값을 나타내는 것으로 보고되고 있다(참조 : K. Tsubouchi and N. Mikoshiba, IEEE Trans. Sonics Ultrason., SU-32 : 634(1985)). 따라서, 높은 전기기계 결합계수 값을 나타내는 질화알루미늄 박막의 압전재료가 요구되었다.
한편, 왕(Wang) 등은 질화알루미늄을 증착할 때 질소의 25%를 수소기체로 치환하면, 박막 표면의 거칠기가 0.3nm로 매우 평탄해지고, 박막내 응력이 감소해서 접착력이 향상된다고 보고하였다(참조 : X.-D. Wang et al., Thin Solid Films, 251 : 121(1994); X.-D. Wang et al., Langmuir, 8 : 1347(1992)). 이와 같이 수소가 함유된 질화알루미늄(AlN : H) 박막은 질화알루미늄(AlN) 박막의 표면 거칠기 및 접착력을 향상시켰으나, 대기 중의 수증기에 의해 화학조성이 변화하여 박리하는 블리스터링(blistering)현상을 야기시킨다는 문제점을 노출시켰다(참조 : X.-D. Wang et al., langmuir, 8 : 1347(1992)).
이에, 본 발명자들은 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막의 상기한 장점은 이용하면서도 단점으로 지적되고 있는 블리스터링 현상을 방지한 압전재료를 제조하고자 예의 연구노력한 결과, 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막의 양단에 질화알루미늄(AlN)을 증착시킨 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN)의 3층 박막이 수소기체 첨가량이 증가할수록 매끄러운(평탄한) 표면과 감소된 압축응력을 나타내며, 블리스터링 현상을 야기시키지 않고, 또한 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 압전재료로 이용하여 탄성표면파 필터를 제조하면, 그 필터는 큰 탄성표면파 전파속도 및 전기기계 결합계수를 나타냄을 발견하고, 본 발명을 완성하게 되었다.
결국, 본 발명의 목적은 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 이용하여, 탄성표면파 전파속도가 빠르고 전기기계 결합계수가 큰 탄성표면파 필터의 제조방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 전기 방법에 의해 제조된 탄성표면파 필터를 제공하는 것이다.
제1(a),(b),(c)도 및 (d)도는 반응기체에 포함된 수소기체의 양이 각각 0%(v/v), 5%(v/v), 10%(v/v) 및 20%(v/v)인 조건에서 증착된 질화알루미늄 박막의 표면 거칠기를 관찰한 주사전자현미경 사진이다.
제2도는 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막의 (0002)면의 면간 거리를 수소기체 첨가량에 따라 측정한 그래프이다.
제3도는 본 발명에서 사용한 탄성표면파 필터의 설계도면이다.
제4도는 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 주파수 응답특성을 나타내는 그래프이다.
제5도는 질화알루미늄(AlN)박막, 수소화된 질화알루미늄(AlN : H)박막, 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 이용한 각 탄성표면파 필터의 전기기계 결합계수(k2)를 나타내는 그래프이다.
이하, 본 발명을 보다 구체적으로 설명하고자 한다.
우선, 본 발명자들은 상온 증착이 가능한 반응성 RF 마그네트론 스퍼터링(sputtering)법으로 질화알루미늄 박막을 증착할 때, 반응기체에 수소기체를 첨가하여, 바람직하게는 5%(v/v) 내지 30%(v/v)의 수소기체를 첨가하여 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막을 제조하고, 그 박막의 표면 거칠기 및 면간 거리를 측정한 결과, 수소기체 첨가량이 증가할수록 매끄러운(평탄한) 표면과 감소된 압축응력을 나타내어 접착력이 증진됨을 확인하였다. 그러나, 상기에서 제조된 수소화 질화알루미늄(AlN : H)은 대기 중의 수증기에 의해 화학조성이 변화되어, 박막과 기판과의 계면에서 예상된 블리스터링 현상을 발생시켰다.
상술한 블리스터링 현상을 해결하기 위하여, 상기 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막의 양단에 질화알루미늄(AlN) 박막을 증착시켜, 바람직하게는 100Å 내지 10,000Å의 두께로 증착시켜, 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN)으로 구성된 3층 박막을 제조하였다. 그 결과, 이 질화알루미늄 3층 박막은 블리스터링 현상을 나타내지 않았고, 동일 함량의 수소기체를 포함한 반응기체하에서 증착된 질화알루미늄 1층 박막보다 더 감소된 압축응력을 나타내어 접착력이 우수함을 확인하였다.
전기 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 압전재료로 사용하여 탄성표면파 필터를 제조하였으며, 그 필터의 탄성표면파 전파속도 및 전기기계 결합계수를 결정한 결과, 질화알루미늄(AlN) 1층 박막 또는 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 1층 박막보다 큰 값의 전파속도 및 전기기계 결합계수를 나타내었다.
따라서, 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN)의 3층 박막을 압전재료로 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법은 용이하면서도 경제적으로, 탄성표면파 전파속도가 빠르고 전기기계 결합계수가 큰 탄성표면파 필터를 제조한다.
이하, 실시예를 통하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하기로 한다. 이들 실시예는 오로지 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명의 범위가 이들 실시예에 국한되지 않는다는 것은 당업계에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 자명할 것이다.
[실시예]
수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막은 반응성 스퍼터링(sputtering)법으로 제조하였다(참조 : H.C. Lee et al., Thin Solid Films, 271 : 50-55(1995)). 이때, 질화알루미늄(AlN) 박막의 증착에 사용된 스퍼터링 장비는 반응성 RF마그네트로 스프터링 시스템으로서, 진공시스템, 스퍼터링 타겟, RF전원공급장치, 기판지지대, 기체 주입장치로 구성된다. 기판은 p형(100) 실리콘이고, 불산을 이용하여 세척하였으며, 순도 99.999% 이상의 알루미늄, 99.9999% 이상의 아르곤, 질소 및 수소기체를 알루미늄의 증착에 사용하였으며, 초기진공도는 5×10-7Torr 이하이었다. 또한, 증착은 250W의 RF전원, 상온의 증착온도, 8mTorr의 증착압력, 각각 6sccm의 아르곤과 질소유량, 수소기체를 부피비로 5 내지 20%까지 포함한 반응기체의 조건에서 수행하였다.
제1(a),(b),(c)도 및 (d)도는 반응기체에 포함된 수소기체의 양이 각각 0%(v/v), 5%(v/v), 10%(v/v) 및 20%(v/v)인 조건에서 증착된 질화알루미늄 박막의 표면 거칠기를 관찰한 주사전자현미경 사진이다. 제1(a)도 내지 제1(d)도에서 보듯이, 수소기체의 첨가량이 증가함에 따라, 질화알루미늄 박막의 표면이 매끄러워짐을 알 수 있었다.
제2도는 질화알루미늄 박막의 응력을 측정하기 위해서 X선 회절분석기(X-ray diffractometer)를 이용하여, 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막의 (0002)면의 면간 거리를 수소기체 첨가량에 따라 측정한 그래프이다. 본 실험조건에서 질화알루미늄 박막의 (0002)면은 기판 표면과 평행하므로, 면간 거리가 표준분말시편의 면간 거리보다 큰 것은 압축응력의 증가를 의미한다. 제2도에서 보듯이, 수소기체 첨가량이 증가할수록 면간 거리는 좁아지고 압축응력이 감소함을 알 수 있었다. 이는 접착력의 증가를 의미한다. 제2도에서, (□)는 후술하는 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막의 면간 거리를 나타낸다.
아울러, 이미 예상한 바와 같이, 상기에서 제조된 수소화 질화알루미늄(AlN : H)은 대기 중에 노출되면 박막과 기판과의 계면에서 블리스터링 현상을 야기시켰다. 이를 해결하기 위하여, 반응기체에 10%의 수소기체를 첨가해서 증착한 질화알루미늄 박막의 양단(박막 표면과 박막/기판 계면)에 질화알루미늄(AlN) 박막을 1000Å만큼 증착시켜, 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN)으로 구성된 3층 구조 형태의 박막을 제조한 결과, 블리스터링 현상을 방지할 수 있었고, 또한 10%의 수소기체를 포함한 반응기체하에서 증착된 질화알루미늄 박막의 면간 거리보다 좁아, 전기 3층 박막의 압축응력이 더욱 감소함을 알 수 있었다(참조 : 제2도).
제3도는 본 발명에 사용한 탄성표면파 필터의 설계도면이며, 탄성표면파의 파장은 60㎛이고, 전극 폭과 전극간 거리는 모두 15㎛이다. 101개의 전극으로 이루어진 진폭변조형 단일전극으로 서프레션(supression)을 크게 하기 위해 아포다이즈드 웨이팅(apodized weighting)을 하였다. 전극 구경은 1440㎛, 변환기간 거리는 180㎛, 박막 표면을 제외한 다른 곳에서의 파의 전달을 막기 위한 차폐용 전극의 폭은 60㎛이다. 압전재료로 사용되는 박막의 두께는 4.77㎛이다(kH=0.5, k=2π/λ). 또한 전극으로 사용되는 알루미늄 박막의 두께는 200nm이다.
탄성표면파 필터의 압전재료는 질화알루미늄 박막, 수소를 10% 첨가한 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막, 블리스터링을 막기 위해 그의 양단에 1000Å 두께의 질화알루미늄을 증착한 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 사용하였다. 제4도는 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 주파수 응답특성을 나타내는 그래프이다. 제4도에서 보듯이, 중심주파수는 88MHz이고, 삽입손실은 20.08dB임을 알 수 있는 바, 탄성표면파의 파장이 60㎛인 점을 고려하면, 상기 3층 박막을 이용한 탄성표면파의 전파속도는 88MHz×60㎛=5280m/s임을 알 수 있었으며, 이는 매우 신속한 전파속도에 해당한다.
아울러, 제5도는 질화알루미늄(AlN) 박막, 수소를 10%만큼 첨가한 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막, 그의 양단에 1000Å두께의 질화알루미늄을 증착한 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 전기기계 결합계수(k2)를 나타내는 그래프이다. 이때, 필터의 전기기계 결합계수는 델타(delta) 함수 표현에 의한 교차장모델에 의해 계산하였다(참조 : A.A. Oliner, “Acoustic Surface Waves”, Springe-Verlag(1978)). 제5도에서 보듯이, 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN) 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 전기기계 결합계수는 1.35%로서 가장 큰 값을 나타내었다.
이상에서 상세히 설명하고 입증하였듯이, 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN)의 3층 박막을 압전재료로 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법은 용이하면서도 경제적으로, 탄성표면파 전파속도가 빠르고 전기기계 결합계수가 큰 탄성표면파 필터를 제조한다.

Claims (1)

  1. 반응성 스퍼터링(sputtering)법에 의한 탄성표면파 필터의 제조방법에 있어서, 5%(v/v) 내지 30%(v/v)의 수소기체가 포함된 반응기체하에서 수소화된 질화알루미늄(AlN : H) 박막을 증착시키고, 전기 수소화된 질화알루미늄(AlN : H)박막의 양단에 질화알루미늄(AlN) 박막을 100Å 내지 10,000Å의 두께로 증착시켜 질화알루미늄(AlN)/수소화된 질화알루미늄(AlN : H)/질화알루미늄(AlN)의 3층 박막을 수득하여 압전재료로 사용하는 탄성표면파 필터의 제조방법.
KR1019960076809A 1996-12-30 1996-12-30 질화알루미늄/수소화된 질화알루미늄/질화알루미늄 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법 KR100236975B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960076809A KR100236975B1 (ko) 1996-12-30 1996-12-30 질화알루미늄/수소화된 질화알루미늄/질화알루미늄 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법
US08/999,022 US6099700A (en) 1996-12-30 1997-12-29 Surface acoustic wave filter employing A1N/A1N:H/A1N tri-layered film and a process for fabricating the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960076809A KR100236975B1 (ko) 1996-12-30 1996-12-30 질화알루미늄/수소화된 질화알루미늄/질화알루미늄 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19980057515A KR19980057515A (ko) 1998-09-25
KR100236975B1 true KR100236975B1 (ko) 2000-01-15

Family

ID=19492332

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960076809A KR100236975B1 (ko) 1996-12-30 1996-12-30 질화알루미늄/수소화된 질화알루미늄/질화알루미늄 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6099700A (ko)
KR (1) KR100236975B1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030001696A1 (en) * 2000-11-29 2003-01-02 Kenji Yoshida Acoustic wave device
WO2008152646A2 (en) * 2007-06-13 2008-12-18 Atlantium Technologies Ltd. A method for preventing biofouling on surfaces using ultraviolet pre-treatment
US9243316B2 (en) * 2010-01-22 2016-01-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method of fabricating piezoelectric material with selected c-axis orientation
US8796904B2 (en) 2011-10-31 2014-08-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator comprising piezoelectric layer and inverse piezoelectric layer
US20140246305A1 (en) * 2010-01-22 2014-09-04 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method of fabricating rare-earth element doped piezoelectric material with various amounts of dopants and a selected c-axis orientation
US8673121B2 (en) 2010-01-22 2014-03-18 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method of fabricating piezoelectric materials with opposite C-axis orientations
US9679765B2 (en) 2010-01-22 2017-06-13 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method of fabricating rare-earth doped piezoelectric material with various amounts of dopants and a selected C-axis orientation
US8962443B2 (en) 2011-01-31 2015-02-24 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Semiconductor device having an airbridge and method of fabricating the same
US10340885B2 (en) 2014-05-08 2019-07-02 Avago Technologies International Sales Pte. Limited Bulk acoustic wave devices with temperature-compensating niobium alloy electrodes

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5941602B2 (ja) * 1978-04-18 1984-10-08 松下電器産業株式会社 表面弾性波素子
JPS59231911A (ja) * 1983-06-14 1984-12-26 Clarion Co Ltd 表面弾性波素子
JPS60119114A (ja) * 1983-11-30 1985-06-26 Murata Mfg Co Ltd 表面波装置
US4749900A (en) * 1986-11-17 1988-06-07 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Multi-layer acoustic transducer for high frequency ultrasound
JP3321369B2 (ja) * 1996-09-27 2002-09-03 日本碍子株式会社 表面弾性波装置およびその基板およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6099700A (en) 2000-08-08
KR19980057515A (ko) 1998-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3205976B2 (ja) 表面弾性波素子
US4516049A (en) Multi-layer acoustic surface wave device having minimal delay time temperature coefficient
TW425758B (en) Surface acoustic wave device
JPH10507599A (ja) ダイヤモンド表面音波デバイスとその製造方法
JP2006513649A (ja) 改善された温度特性を有するsaw素子
KR100236975B1 (ko) 질화알루미늄/수소화된 질화알루미늄/질화알루미늄 3층 박막을 이용한 탄성표면파 필터의 제조방법
US20070182279A1 (en) Surface acoustic wave device and electronic apparatus
WO1998051009A1 (en) SURFACE ACOUSTIC WAVE AND BULK ACOUSTIC WAVE DEVICES USING A Zn(1-x) YxO PIEZOELECTRIC LAYER DEVICE
US20020047495A1 (en) Surface acoustic wave device, and its fabrication process
EP1001531A2 (en) Surface acoustic wave device
CA2186185C (en) Diamond-zno surface acoustic wave device having relatively thinner zno piezoelectric layer
US6710513B2 (en) Surface acoustic wave device and substrate thereof
CN109997307A (zh) 表面声波装置
CN115314018A (zh) 一种声表面波滤波器及其制备方法
JPH10270978A (ja) 表面弾性波素子及びその製造方法
JP2003298131A (ja) 圧電薄膜素子およびその製造方法
EP0758165A1 (en) Diamond-ZnO surface acoustic wave device
JPS6341449B2 (ko)
Hickernell et al. Surface‐elastic‐wave properties of dc‐triode‐sputtered zinc oxide films
WO2001028090A1 (fr) Dispositif a ondes acoustiques de surface
CN116865704A (zh) 一种声表面波滤波器结构及制备方法
JPH06326548A (ja) 高配向性ダイヤモンド薄膜を使用した表面弾性波素子
EP4047819A1 (en) Composite substrate for elastic wave device
EP0644651A1 (en) Surface wave filter element and method for manufacturing it
CN215418219U (zh) 一种非连续基底结构声表面波滤波器

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030930

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee