KR100190669B1 - Apparatus for checking circuit board operated by network system - Google Patents
Apparatus for checking circuit board operated by network system Download PDFInfo
- Publication number
- KR100190669B1 KR100190669B1 KR1019960042005A KR19960042005A KR100190669B1 KR 100190669 B1 KR100190669 B1 KR 100190669B1 KR 1019960042005 A KR1019960042005 A KR 1019960042005A KR 19960042005 A KR19960042005 A KR 19960042005A KR 100190669 B1 KR100190669 B1 KR 100190669B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit board
- inspection
- vme
- outputting
- network environment
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2803—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
- H05K1/0268—Marks, test patterns or identification means for electrical inspection or testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
본 발명은 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치에 관한 것으로, 특히 회로기판 검사를 위한 검사장치를 VME/VXI장치와 개인용 컴퓨터를 사용하여 네트워크 환경을 구축함으로써, 검사작업환경을 일원화한 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a circuit board inspection apparatus operating in a network environment, and more particularly, to an inspection apparatus for inspecting a circuit board by constructing a network environment using a VME / VXI apparatus and a personal computer, The present invention relates to a circuit board inspection apparatus.
본 발명은 수동지그상의 회로기판에 대한 기능을 측정하기 위해 신호를 선택하여 출력하는 개인용컴퓨터(31,32,33)와, 상기 개인용컴퓨터로부터의 신호로 검사를 수행한 다음에 출력하는 VME/VXI장치(60) 및 모니터(70)로 네트워크환경을 구축함으로써, 측정정보를 일원화할 수 있고 이에 따른 통합적인 생산관리와 생산량통계파악이 용이하도록 하는 특별한 효과가 있다.The present invention relates to a personal computer (31, 32, 33) for selecting and outputting a signal for measuring a function of a circuit board on a passive jig, a VME / VXI By establishing a network environment with the apparatus 60 and the monitor 70, there is a special effect that the measurement information can be unified and the integrated production management and the production statistics can be easily grasped accordingly.
Description
본 발명은 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치에 관한 것으로, 특히 회로기판 검사를 위한 검사장치VME/VXI장치와 개인용컴퓨터를 사용하여 네트워크환경을 구축함으로써, 검사작업환경을 일원화한 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a circuit board inspection apparatus operating in a network environment, and more particularly, to a network environment in which a test work environment is unified by using a VME / VXI apparatus and a personal computer to construct a network environment The present invention relates to a circuit board inspection apparatus.
종래의 기술에 대한 구성은 제1도에 도시되어 있으며, 제1도를 참조하면, 검사라인(1)상에서 이송되어 검사위치로 수동지그가 위치하면 그 위치의 스테이지(stage)에서 작업자는 고가의 계측 및 검사장비를 사용하여 정해진 검사를 수행하게 된다.1, and referring to FIG. 1, when the manual jig is moved on the inspection line 1 to the inspection position, at the stage of the position, Measurement and inspection equipment is used to perform the specified inspection.
이와 같은 종래기술에서 본 발명이 해결코자하는 종래기술에 대한 개선점 및 문제점은 각 측정위치의 스테이지(stage)에서 각각의 작업자마다 그 작업자에게 정해진 측정을 수행하기 위해서 개별적일 측정기와 측정모듈이 요구되는데, 이와 같은 종래의 검사장치에 의해서는 측정검사항목별로 검사작업이 개별적인 기기를 사용하여 각각 독립적으로 이루어지는 관계로, 측정정보를 일원화할 수 없고, 이에 따른 통합적인 생산관리도 불가능할 뿐만 아니라 생산량통계파악이 전혀 불가능한 문제점이 있었다.Improvements and problems with the prior art that the present invention overcomes in the prior art is that a separate work meter and a measurement module are required for each worker in the stage of each measurement location to perform a predetermined measurement on the worker , The conventional inspection apparatuses can not unify the measurement information because the inspection work is independently performed using the individual apparatuses according to the measurement inspection items and thus the integrated production management can not be unified, There was a problem that was impossible at all.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하고 개선점을 달성하기 위해 안출한 것이다.The present invention has been made to solve the above problems and to achieve improvements.
따라서, 본 발명의 목적은 회로기판 검사를 위한 검사장치응 VME/VXI장치와 개인용 컴퓨터를 사용하여 네트워크환경을 구축함으로써, 측정정보를 일원화할 수 있고 이에따른 통합적인 생산관리와 생산량통계파악이 가능하도록 하는 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치를 제공하는데 있다.Therefore, an object of the present invention is to construct a network environment by using an inspection device VME / VXI device and a personal computer for inspecting a circuit board, thereby unifying the measurement information, thereby collectively managing the production and collecting the production statistics And a circuit board inspection apparatus operated in a network environment.
본 발명이 이루고자하는 기술적과제는 종래의 문제점을 해결하고 개선점을 달성하는 것으로, 이와 같은 기술적인 과제를 달성하기 위한 기술적인 수단으로써, 본 발명의 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치는 검사라인상에서 이동되어 오는 수동지그상에 놓인 검사대상체인 회로기판에 대한 기능검사를 수행하는 장치에 있어서,상기 수동지그의 회로기판에 대한 검사항목을 선택하는 키보드와, 상기 선택된 항목에 대한 신호파형을 입력받아서 화면출력을 제어함과 동시에 상기 회로기판의 신호에 대한 측정검사를 수행하고 그 검사결과를 이더넷(Ethernet)으로 접속하여 상기 개인용컴퓨터로 검사작업 스테이지의 선택을 제어하는 제어신호를 출력하고, 신호버스로 접속한 수동지그상의 회로기판에서 출력되는 신호를 입력받고, 또한 상기 개인용컴퓨터로부터의 데이타를 수집하여 관리하며, 상기 전송받은 신호 및 데이타를 화면으로 출력하는 모니터로 출력하는 VME/VXI장치; 상기 VME/VXI장치(60)로부터의 신호와 검사결과를 화면으로 출력하는 모니터(70);를 구비함을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a circuit board inspection apparatus operating in a network environment of the present invention as a technical means for solving such a technical problem, An apparatus for performing a function test on a chain board to be inspected placed on a moving jig to be moved, the apparatus comprising: a keyboard for selecting an inspection item for a circuit board of the manual jig; And outputs a control signal for controlling the selection of the inspection work stage to the personal computer by connecting the inspection result to the Ethernet (Ethernet) A signal output from the circuit board on the passive jig connected to the signal line, A VME / VXI device for collecting and managing data from a personal computer, and outputting the received signal and data to a monitor for outputting to a screen; And a monitor 70 for outputting signals and inspection results from the VME / VXI device 60 to a screen.
제1도는 종래의 회로기판 검사하는 공정을 설명하기 위한 작업상태도이다.FIG. 1 is a working state diagram for explaining a conventional circuit board inspection process.
제2도는 본 발명에 따른 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치의 구성을 보이는 블럭도이다.FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a circuit board inspection apparatus operating in a network environment according to the present invention.
제3도는 본 발명에 따른 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치의 동작 설명을 위한 플로우챠트이다.FIG. 3 is a flow chart for explaining the operation of a circuit board inspection apparatus operating in a network environment according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS
1 : 검사라인 11~13 : 수동지그1: Inspection line 11 to 13: Manual jig
31~33 :개인용컴퓨터 40 : 신호버스31 to 33: personal computer 40: signal bus
50 : 이더넷(Ethernet) 60 : VME/VXI장치50: Ethernet 60: VME / VXI device
70 : 모니터70: Monitor
이하, 본 발명에 따른 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치의 바람직한 실시예를 첨부한 도면은 참조하여 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of a circuit board inspection apparatus operating in a network environment according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
제2도는 본 발명에 따른 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치의 구성을 보이는 블럭도로서, 제2도를 참조하면, 본 발명의 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치는 검사라인(1)상에서 이동되어 오는 수동지그(11,12,13)상에 놓인 검사대상체인 회로기판에 대한 기능검사를 수행하는 장치에 있어서, 상기 수동지그(11~13)의 회로기판에 대한 검사항목을 선택하는 키보드와, 상기 선택된 항목에 대한 신호파형을 입력받아서 화면출력을 제어함과 동시에 상기 회로기판의 신호에 대한 측정검사를 수행하고 그 검사결과를 이더넷(Ethernet)(50)으로 출력하도록 제어하는 본체와, 상기 본체의 제어에 따라 신호파형을 화면출력하는 모니터로 이루어진 개인용컴퓨터(31,32,33)와, 상기 개인용컴퓨터(31~33)로 검사작업 스테이지의 선택을 제어하는 제어신호를 출력하고, 신호버스(40)로 접속한 수동지그(11~13)상의 회로기판에서 출력되는 신호를 입력받고, 또한 상기 개인용컴퓨터(31~33)로부터의 데이타를 수집하여 관리하며, 상기 전송받은 신호 및 데이타를 화면으로 출력하는 모니터(70)로 출력하는 VME/VXI(60)와, 그리고 상기 VME/VXI장치(60)로부터의 신호와 검사결과를 화면으로 출력하는 모니터(70)를 구성한다.FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a circuit board inspection apparatus operated in a network environment according to the present invention. Referring to FIG. 2, An apparatus for performing functional inspections on a circuit board to be inspected placed on a moving manual jig (11, 12, 13), comprising: a keyboard (10) for selecting a test item for a circuit board of the manual jig A main body for receiving a signal waveform for the selected item to control a screen output, performing a measurement test on a signal of the circuit board, and outputting a result of the measurement to an Ethernet (50) A personal computer (31, 32, 33) composed of a monitor for outputting a signal waveform on the basis of the control of the main body, and a control signal generator Receives signals output from circuit boards on passive jigs 11 to 13 connected to the signal bus 40 and collects and manages data from the personal computers 31 to 33, A VME / VXI 60 for outputting the received signal and data to a monitor 70 that outputs the received signal and data to a screen, and a monitor 70 for outputting signals and inspection results from the VME / VXI device 60 to the screen .
또한, 상기 수동지그로 전원을 공급하는 미도시된 전원공급기와, 상기 수동지그로 패턴신호를 제공하는 미도시된 패턴발생기도 포함하고 있고, 그리고 상기 개인용컴퓨터와 수동지그 사이에 상기 수동지그로부터의 신호를 선택하고 소정크기로 증폭하는 제어박스를 구성할 수도 있다.Also included is a power supply (not shown) for supplying power to the passive jig, and a pattern generator (not shown) for providing the passive jig pattern signal, and the passive jig includes a pattern generator A control box for selecting a signal and amplifying the signal to a predetermined size may be configured.
제3도는 본 발명에 따른 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치의 동작설명을 위한 플로우챠트이다.FIG. 3 is a flow chart for explaining the operation of a circuit board inspection apparatus operating in a network environment according to the present invention.
이와 같이 구성된 본 발명의 장치에 따른 동작을 첨부도면에 의거하여 하기에 상세히 설명한다.The operation according to the apparatus of the present invention thus configured will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
제2도 및 제3도를 참조하면, 제2도에 도시된 본 발명에 의한 장치는 제3도에 도시된 바와 같은 과정으로 회로기판에 대한 검사를 수행하게 되는데, 본 발명의 의한 장치를 가동시키면, 미도시된 전원공급기와 패턴발생기로 전원공급과 패턴신호발생을 지령하면, 상기 전원공급기는 회로기판에서 필요로 하는 전원을 수동지그로 공급함과 동시에, 상기 패턴발생기는 패턴신호(PATTERN SIGNAL)를 수동지그로 제공한다. 상기 수동지그는 상기 전원과 패턴신호를 회로기판으로 제공하고, 이에 따라 상기 회로기판은 상기 공급받은 전원으로 정상동작하여 상기 제공받은 패턴신호를 처리하여 출력한다.Referring to FIG. 2 and FIG. 3, the apparatus according to the present invention shown in FIG. 2 performs the inspection of the circuit board by the process shown in FIG. 3, When the power supply and the pattern generator generate a pattern signal, the power supply supplies the power required by the circuit board to the manual jig, and the pattern generator generates a pattern signal (PATTERN SIGNAL) As a manual jig. The passive jig provides the power source and the pattern signal to the circuit board so that the circuit board operates normally with the supplied power source and processes the provided pattern signal and outputs the pattern signal.
이와 같이 검시대상인 회로기판이 정상동작하여 패턴신호를 처리하여 출력하는 동안에, 먼저 VME/VXI장치(60)에서 각 스테이지의 개인용컴퓨터(31,32,33)로 스테이지선택에 해당하는 제어신호를 출력하여 검사할 스테이지를 선택한다.(제3도의 110단계) 상기 스테이지가 선택되면, 즉 상기 VME/VXI장치(60)의 제어신호에 의해서 특정 개인용컴퓨터가 선택적으로 동작하게 된다.In this way, while the circuit board to be inspected is normally operated and the pattern signal is processed and output, the control signal corresponding to the stage selection is first output from the VME / VXI device 60 to the personal computers 31, 32, and 33 of each stage (Step 110 of FIG. 3). When the stage is selected, that is, the specific personal computer is selectively operated by the control signal of the VME / VXI device 60.
이와 같이, VME/VXI장치(60)에서 특정 스테이지를 선택하면 선택된 스테이지의 개인용컴퓨터 각각은 제3도에 도시한 바와 같이 소정의 동작(제3도의 120단계, 130단계, 140단계 등등)으로 정해진 검사동작을 수행하게 된다.As such, when a specific stage is selected in the VME / VXI device 60, each of the personal computers of the selected stage is assigned a predetermined operation (step 120, step 130, step 140, etc. in FIG. 3) Thereby performing an inspection operation.
상기 선택된 개인용컴퓨터(31~33)는 상기 수동지그상의 회로기판에서 출력되는 신호중에 해당 검사항목에 해당하는 신호를 선택(제3도의 121단계)한 다음에, 그 다음에 해당 스테이지에 관련된 장치를 셋업하고(제3도의 122단계), 그 다음 회로기판으로부터의 신호를 계측(제3도의 123단계)하여 측정값을 판단(제3도의 124단계)하며, 그리고 상기 신호파형을 모니터로 출력함과 동시에 데이타를 이더넷(50)을 통해서 VME/VXI장치(60)로 전송(제3도의 125단계)한다.The selected personal computer 31-33 selects a signal corresponding to the inspection item from the signal output from the circuit board on the manual jig (step 121 in FIG. 3), and then selects a device related to the stage (Step 122 in FIG. 3), measuring a signal from the circuit board (step 123 in FIG. 3) by measuring the signal (step 123 in FIG. 3), and outputting the signal waveform to a monitor At the same time, the data is transmitted to the VME / VXI device 60 via the Ethernet 50 (step 125 of FIG. 3).
상기 개인용컴퓨터에서 전송되는 데이타는 VME/VXI장치(60)에서 관리되어 적재되고, 상기 신호파형과 그 결과를 모니터(70)로 출력(제3도의 126,127단계)한다.The data transmitted from the personal computer is managed and loaded in the VME / VXI device 60, and the signal waveform and the result are output to the monitor 70 (steps 126 and 127 of FIG. 3).
상기와 같이, 하나의 선택된 스테이지에 대한 검사동작이 완료되면 또 다른 스테이지에 대한 검사를 체크하고, 더 이상 스테이지선택이 없는 경우에는 검사를 종료(제3도의 150단계)한다.As described above, when the inspection operation for one selected stage is completed, the inspection for another stage is checked. If there is no stage selection, the inspection is terminated (step 150 in FIG. 3).
상술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 회로기판 검사를 위한 검사장치를 VME/VXI장치와 개인용컴퓨터를 사용하여 네트워크환경을 구축함으로써, 측정정보를 일원화할수 있고, 이에 따른 통합적인 생산관리와 생산량통계파악이 가능하도록 하는 특별한 효과가 있다.According to the present invention as described above, it is possible to unify measurement information by constructing a network environment using a VME / VXI device and a personal computer as an inspection device for inspecting a circuit board, There is a special effect that makes this possible.
이상의 설명은 본 발명의 일실시예에 대한 설명에 불과하며, 본 발명은 그 구성의 범위내에서 다양한 변경 및 개조가 가능하다.The above description is only an explanation of one embodiment of the present invention, and the present invention can be variously modified and modified within the scope of its constitution.
또한, 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 상기 네트워크환경으로 운영되는 회로기판 검사장치가 상기 기술된 실시예에 한정되지 않음을 알 수 있을 것이다.It will also be understood by those skilled in the art that a circuit board inspection apparatus operating in the network environment is not limited to the embodiments described above.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960042005A KR100190669B1 (en) | 1996-09-24 | 1996-09-24 | Apparatus for checking circuit board operated by network system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960042005A KR100190669B1 (en) | 1996-09-24 | 1996-09-24 | Apparatus for checking circuit board operated by network system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19980022727A KR19980022727A (en) | 1998-07-06 |
| KR100190669B1 true KR100190669B1 (en) | 1999-06-01 |
Family
ID=19475071
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019960042005A KR100190669B1 (en) | 1996-09-24 | 1996-09-24 | Apparatus for checking circuit board operated by network system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100190669B1 (en) |
-
1996
- 1996-09-24 KR KR1019960042005A patent/KR100190669B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR19980022727A (en) | 1998-07-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5036479A (en) | Modular automated avionics test system | |
| EP1771796B1 (en) | Testing suite for product functionality assurance and guided troubleshooting | |
| KR100487535B1 (en) | System for parallel testing different kinds of semiconductor devices | |
| KR100190669B1 (en) | Apparatus for checking circuit board operated by network system | |
| US20170192056A1 (en) | Multi-chassis test device and test signal transmission apparatus of the same | |
| JP2005009942A (en) | Apparatus for testing semiconductor integrated circuit | |
| KR20100076641A (en) | An electronic card inspection device of plant control system | |
| JPWO2007132577A1 (en) | Platform board and production management method | |
| JP2978774B2 (en) | Radio inspection equipment | |
| US5903146A (en) | Distributing test system and method | |
| KR20020054571A (en) | Test apparatus for mobile communication unit | |
| KR100861788B1 (en) | Integration measuring instrument | |
| CN220894467U (en) | FCT function testing device for vehicle-mounted controller | |
| JP2004318254A (en) | Testing device for safety protection measuring device | |
| KR900007057A (en) | Probe device and its control method | |
| Mysore et al. | A microcontroller-based bed-of-nails test fixture to program and test small printed circuit boards | |
| JPH1062475A (en) | Inspection system of electronic measuring apparatus | |
| KR100527675B1 (en) | PCB function test apparatus of semiconductor fabrication facility | |
| JP2000041009A (en) | Radio equipment inspecting device | |
| JP3066072U (en) | Semiconductor test equipment | |
| KR20050113798A (en) | A control facilities card inspection device | |
| JPH1183946A (en) | Testing apparatus for measured substrate | |
| JP2002286800A (en) | Semiconductor testing device | |
| RU78950U1 (en) | COMPLEX MEASURING FOR FUNCTIONAL CONTROL OF ELECTRONIC UNITS AND COMPONENTS FT-17 | |
| CN112684368A (en) | Network communication equipment maintenance system |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |