KR100188287B1 - Testing audio frequency generation circuit - Google Patents
Testing audio frequency generation circuit Download PDFInfo
- Publication number
- KR100188287B1 KR100188287B1 KR1019960003572A KR19960003572A KR100188287B1 KR 100188287 B1 KR100188287 B1 KR 100188287B1 KR 1019960003572 A KR1019960003572 A KR 1019960003572A KR 19960003572 A KR19960003572 A KR 19960003572A KR 100188287 B1 KR100188287 B1 KR 100188287B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- frequency
- output
- audio frequency
- divider
- outputting
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/20—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits characterised by logic function, e.g. AND, OR, NOR, NOT circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/03—Indexing scheme relating to amplifiers the amplifier being designed for audio applications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/234—Indexing scheme relating to amplifiers the input amplifying stage being one or more operational amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03J—TUNING RESONANT CIRCUITS; SELECTING RESONANT CIRCUITS
- H03J2200/00—Indexing scheme relating to tuning resonant circuits and selecting resonant circuits
- H03J2200/07—Calibration of receivers, using quartz crystal oscillators as reference
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Tone Control, Compression And Expansion, Limiting Amplitude (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
본 발명은 클리스탈 발진기등으로 구성되어 소정의 주파수를 발생하는 주파수 발생부와, 상기 주파수 발생부에서 출력된 주파수를 오디오 주파수와 동일하게 분주하여 출력하는 분주부와, 상기 분주부에서 출력되는 파형을 정형하여 오디오 주파수를 출력하는 파형 정형부와, 상기 파형 정형부에서 출력되는 주파수의 이득을 조절하여 출력하는 이득 조절부로 구성되어, 저렴한 가격으로 오디오 주파수를 출력하는 회로를 제조할 수 있으며, 또한 외부의 온도 변화에도 안정된 오디오 주파수를 출력할 수 있는 시험용 오디오 주파수 발생 회로에 관한 것이다.The present invention comprises a frequency generator that generates a predetermined frequency, such as a crystal oscillator, a divider for dividing and outputting the frequency output from the frequency generator equal to the audio frequency, and the waveform output from the divider Waveform shaping section for outputting the audio frequency by shaping the output and the gain control section for adjusting the output of the frequency output from the waveform shaping section, and outputs, it is possible to manufacture a circuit for outputting audio frequency at a low price, The present invention relates to a test audio frequency generator circuit capable of outputting a stable audio frequency even with an external temperature change.
Description
제1도는 선행 기술에 의한 시험용 오디오 주파수 발생 회로를 나타낸 도면.1 shows a test audio frequency generator circuit according to the prior art;
제2도는 본 발명에 따른 시험용 오디오 주파수 발생 회로를 나타낸 도면.2 shows a test audio frequency generator circuit according to the invention.
제3도는 제2도에 도시되 시험용 오디오 주파수 발생 회로의 주요 부분 입출력 파형도.3 is a main part input and output waveform diagram of the test audio frequency generator circuit shown in FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 주파수 발생부 20 : 분주부10: frequency generator 20: frequency divider
30 : 파형 정형부 40 : 이득 조절부30: waveform shaping part 40: gain control part
본 발명은 시험용 오디오 주파수 발생 회로에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 텔레비젼이나 복합영상기를 제조한 후 상기 제품에 일정한 오디오 주파수를 공급하여 출력 특성을 테스트할 수 있도록 하는 시험용 오디오 주파수 발생 회로에 관한 것이다.The present invention relates to a test audio frequency generator circuit, and more particularly, to a test audio frequency generator circuit for producing a television or composite imager and supplying a constant audio frequency to the product to test the output characteristics.
일반적으로 텔레비젼이나 복합영상기를 제조한 후 상기 제품의 출력 특성을 테스트하기 위해서는 상기 제품의 시그날 입력 단자에 소정의 오디오 주파수를 공급하는 시험용 오디오 주파수 발생 회로는, 제1도에 도시된 바와 같이 저항(R1-R3)과 콘덴서(C1-C3) 및 가변저항(VR) 그리고 연산 증폭기(OP)로 구성되어 있다.In general, a test audio frequency generator circuit for supplying a predetermined audio frequency to a signal input terminal of the product in order to test the output characteristics of the product after the television or composite imager has been manufactured has a resistance (as shown in FIG. 1). R1-R3), capacitor (C1-C3), variable resistor (VR) and operational amplifier (OP).
상기와 같은 구성을 가진 종래의 시험용 오디오 주파수 발생 회로는 콘덴서(C1)의 충방전 시간을 이용하므로 일정한 시간이 경과해야 원하는 주파수를 출력할 수 있으며, 외부의 온도에 따라 회로 소자의 특성이 가변 되기 때문에 일정한 주파수를 출력할 수 없는 문제점이 있었다.The conventional test audio frequency generating circuit having the above configuration uses the charge / discharge time of the capacitor C1 to output a desired frequency after a certain period of time, and the characteristics of the circuit element vary according to the external temperature. Therefore, there was a problem that can not output a constant frequency.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 제반 결점을 해소하기 위하여 창출한 것으로서, 본 발명의 목적은 제조 가격이 저렴함과 동시에 외부 온도 변화에도 일정한 오디오 주파수를 출력하는 시험용 오디오 주파수 발생 회로를 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned shortcomings, and an object of the present invention is to provide a test audio frequency generation circuit which outputs a constant audio frequency even at an external temperature change while being inexpensive to manufacture.
상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 시험용 오디오 주파수 발생 회로는, 클리스탈 발진기등으로 구성되어 소정의 주파수를 발생하는 주파수 발생부와, 상기 주파수 발생부에서 출력된 주파수를 오디오 주파수와 동일하게 분주하여 출력하는 분주부와, 상기 분주부에서 출력되는 파형을 정형하여 오디오 주파수를 출력하는 파형 정형부와, 상기 파형 정형부에서 출력되는 주파수의 이득을 조절하여 출력하는 이득 조절부로 구성된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the test audio frequency generating circuit according to the present invention comprises a frequency generator configured to generate a predetermined frequency by using a crystal oscillator or the like, and the frequency output from the frequency generator equal to the audio frequency. A divider for dividing and outputting, a waveform shaping unit for outputting an audio frequency by shaping a waveform output from the dividing unit, and a gain adjusting unit for adjusting and outputting a gain of a frequency output from the waveform shaping unit do.
이하, 예시된 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the illustrated drawings.
제2도는 본 발명에 따른 시험용 오디오 주파수 발샐 회로를 나타낸 도면이다.2 is a diagram illustrating a test audio frequency diverting circuit according to the present invention.
동도 면에서, 주파수 발생부(10)는 소정의 주파수를 발생하도록 클리스탈 발진기등으로 구성되어 있으며, 분주부(20)는 상기 주파수 발생부(10)에서 출력된 주파수를 오디오 주파수와 동일하게 분주하여 출력하도록 다수 개의 분주기(21,23,25,27,29)가 종속적으로 연결되어 구성되어 있는데, 상기 분주기(27)의 1/4 및 1/16분주 출력 단자에서 출력되는 신호는 앤드게이트(AN)에서 조합되어 최종단 분주기(29)의 클럭단자에 공급되도록 전기적으로 연결 구성되어 있고, 상기 앤드게이트(AN)에서 출력되는 신호는 입력된 신호를 반전하는 낸드게이트(ND)를 통해 분주기(27)의 클리어 단자에 공급되도록 구성되어 있다.In the figure, the frequency generator 10 is composed of a crystal oscillator or the like to generate a predetermined frequency, and the divider 20 divides the frequency output from the frequency generator 10 in the same manner as the audio frequency. A plurality of dividers (21, 23, 25, 27, 29) is configured to be cascaded so that the output signal is output from the 1/4 and 1/16 frequency divider output terminals of the divider (27). And coupled to the gate AN to be supplied to the clock terminal of the final stage divider 29. The signal output from the AND gate AN is configured to provide a NAND gate ND for inverting an input signal. It is configured to be supplied to the clear terminal of the divider 27 through.
한편, 파형 정형부(30)는 상기 분주부(20)에서 출력되는 방형파를 정형파로 변환하도록 저항(R1)과 콘덴서(C1)로 구성된 로우 패스 필터와, 상기 로우 패스필터에서 출력되는 정형파를 입력으로 하여 높은 주파수와 낮은 주파수를 필터링하도록 연산 증폭기(OP1)의 이득을 제어하는 가변저항(VR1, VR2)과 콘덴서(C2,C3) 및 저항(R2,R3,R4)으로 구성된 액티브 필터로 이루어져 있다.On the other hand, the waveform shaping unit 30 is a low-pass filter composed of a resistor (R1) and a capacitor (C1) to convert the square wave output from the division unit 20 to a square wave, and the square wave output from the low pass filter Is an active filter consisting of variable resistors VR1 and VR2, capacitors C2 and C3 and resistors R2, R3 and R4 that control the gain of the operational amplifier OP1 to filter the high and low frequencies. consist of.
그리고, 이득 조절부(40)는 상기 파형 정형부(30)에서 출력되는 주파수의 이득을 조절하여 출력하도록 연산 증폭기(OP2)와 가변저항(VR3) 및 저항(R6,R7,R8)으로 구성되어 있다.The gain controller 40 includes an operational amplifier OP2, a variable resistor VR3, and resistors R6, R7, and R8 to adjust and output a gain of the frequency output from the waveform shaping unit 30. have.
상기와 같은 실시예를 가진 본 발명에 따른 시험용 오디오 주파수 발생 회로의 작동을 제3도에 도시된 파형도를 참조하여 상세히 기술하면 다음과 같다.The operation of the test audio frequency generating circuit according to the present invention having the above embodiment will be described in detail with reference to the waveform diagram shown in FIG.
본 발명에 따른 시험용 오디오 주파수 발생 회로의 출력 단자(OUT)를 생산라인에서 제조된 텔레비젼이나 복합 영상기의 특성을 테스트하고자 작업자가 상기 제품의 시그날 입력 단자에 공급한 상태에서 시험용 오디오 주파수 발생 회로와 상기 제품에 전원을 공급하면, 시험용 오디오 주파수 발생 회로의 주파수 발생 회로(10)에서 출력되는 주파수는 분주부(20)에 입력된다.In order to test the characteristics of a television or a composite imager manufactured in a production line, the output terminal OUT of the test audio frequency generator circuit according to the present invention is provided with a test audio frequency generator circuit in a state in which an operator supplies the signal input terminal of the product. When power is supplied to the product, the frequency output from the frequency generator circuit 10 of the test audio frequency generator circuit is input to the frequency divider 20.
상기 분주부(20)에 입력된 주파수는 다수 개의 분주기(21,23,25,27,29)에서 분주되어 제3도의 (a)와 같은 방형파가 출력되어 파형 정형부(30)의 로우패스 필터에 공급되어 제3도의 (b)와 같이 파형이 정형되어 출력되는데, 상기 로우패스 필터의 차단 주파수(CUT-OFF FREQUENCY) fC는 아래와 같다.The frequency input to the divider 20 is divided by a plurality of dividers 21, 23, 25, 27, and 29 to output a square wave as shown in FIG. It is supplied to the pass filter and the waveform is shaped and output as shown in (b) of FIG. 3. The cutoff frequency (CUT-OFF FREQUENCY) f C of the low pass filter is as follows.
상기 로우패스 필터에서 파형이 정형된 주파수는 연산 증폭기(OP1)의 이득을 제어하는 가변저항(VR1,VR2)과 콘덴서(C2,C3) 및 저항(R2,R3,R4)으로 구성된 액티브 필터(대역 필터)에 공급되어 방형파를 정현파로 변환시키고 왜곡률을 극히 적게 하여 진폭 안정도가 양호한 입력방향파와 동일 주기의 정현파를 얻을 수 있는데, 이 정현파의 주파수 f0는 다음의 식으로 나타내어진다.The frequency in which the waveform is shaped in the low pass filter is an active filter (band) consisting of variable resistors VR1 and VR2 controlling the gain of the operational amplifier OP1, capacitors C2 and C3, and resistors R2, R3 and R4. Filter to convert the square wave into a sinusoidal wave, and the distortion rate is extremely small to obtain a sinusoidal wave with the same period as the input direction wave with good amplitude stability. The frequency f 0 of the sinusoidal wave is expressed by the following equation.
만약(VR1+R2) (VR2+R3)이고, C2=C3=C라면,If (VR1 + R2) (VR2 + R3) and C2 = C3 = C,
로 나타내 진다.It is represented by
상기 액티브 필터를 통과한 주파수는 제3도의 (c)와 같은데, 왜곡률을 최소로 하기 위하여 가변저항(VR1)(VR2)값을 조정한다.The frequency passing through the active filter is the same as in (c) of FIG. 3, and the variable resistors VR1 and VR2 are adjusted to minimize the distortion rate.
상기와 같이 파형 정형부(30)에서 출력된 정형파는 연산 증폭기(OP2)와 가변저항(VR3) 및 저항(R6,R7,R8)으로 구성된 이득 제어부(40)를 통해 이득이 조절되어 텔레비젼이나 복합 영상기의 시그날 입력 단자에 공급된다.As described above, the square wave output from the waveform shaping unit 30 is controlled by a gain control unit 40 including an operational amplifier OP2, a variable resistor VR3, and resistors R6, R7, and R8. It is supplied to the signal input terminal of the imager.
상기한 본 발명에 의하면 저렴한 가격으로 오디오 주파수를 출력하는 회로를 제조할 수 있으며, 또한 외부의 온도 변화에도 안정된 오디오 주파수를 출력할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention described above it is possible to manufacture a circuit for outputting the audio frequency at a low price, and there is an effect that can output a stable audio frequency even in the external temperature change.
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960003572A KR100188287B1 (en) | 1996-02-14 | 1996-02-14 | Testing audio frequency generation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960003572A KR100188287B1 (en) | 1996-02-14 | 1996-02-14 | Testing audio frequency generation circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970064200A KR970064200A (en) | 1997-09-12 |
KR100188287B1 true KR100188287B1 (en) | 1999-06-01 |
Family
ID=19451239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960003572A KR100188287B1 (en) | 1996-02-14 | 1996-02-14 | Testing audio frequency generation circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100188287B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11901904B2 (en) | 2019-03-18 | 2024-02-13 | Supercritical Oy | Digitally controlled oscillator for a synthesizer module, synthesizer module, synthesizer, and method for producing an electrical audio signal |
-
1996
- 1996-02-14 KR KR1019960003572A patent/KR100188287B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11901904B2 (en) | 2019-03-18 | 2024-02-13 | Supercritical Oy | Digitally controlled oscillator for a synthesizer module, synthesizer module, synthesizer, and method for producing an electrical audio signal |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR970064200A (en) | 1997-09-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3992582A (en) | Reverberation sound producing apparatus | |
US3982189A (en) | Square wave to sine wave converter | |
JPS5825724A (en) | Wide band frequency synthesizer | |
US4009400A (en) | Digitally controlled variable conductance | |
KR100188287B1 (en) | Testing audio frequency generation circuit | |
US4145670A (en) | Multiphase signal oscillator | |
US5144645A (en) | Circuit apparatus for generating a symmetrical pulse sequence of variable frequency | |
US5296822A (en) | Low pass filter circuit device and method having selectable cutoff frequency | |
US4323862A (en) | Frequency shift modulator with circuitry for simple change-over between high and low channels | |
US3715678A (en) | Active electrical filter | |
JPH0410807A (en) | Clock signal generating circuit | |
Raj | New Approach of deriving Third-Order Quadrature Sinusoidal Oscillators | |
GB2066005A (en) | A tone generator for producing a tone signal from a digital signal | |
JPH05122029A (en) | Digital clock generation device | |
JPH057117A (en) | High pass filter automatic gain control amplifier | |
JP2536018B2 (en) | Frequency synthesizer circuit | |
JPS5767312A (en) | Band pass filter following frequency | |
SU585629A1 (en) | Device for shaping television measuring wobble frequency signal | |
JP3224870B2 (en) | Frequency modulation circuit | |
JPH0447739A (en) | Level conversion circuit | |
JPH0462604B2 (en) | ||
JPH06252704A (en) | Active filter | |
JPH01252010A (en) | Frequency modulating circuit | |
JPS61258533A (en) | Amplitude variable da conversion integrated circuit | |
JPH01311624A (en) | Frequency modulation transmitter |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20061227 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |