KR0184891B1 - Resistance measuring circuit using dc constant voltage - Google Patents

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KR0184891B1 KR1019920015631A KR920015631A KR0184891B1 KR 0184891 B1 KR0184891 B1 KR 0184891B1 KR 1019920015631 A KR1019920015631 A KR 1019920015631A KR 920015631 A KR920015631 A KR 920015631A KR 0184891 B1 KR0184891 B1 KR 0184891B1
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Abstract

본 발명은 직류 정전압을 이용한 저항측정회로에 관한것으로, 더 자세히는 마이크로 프로세서를 이용한 PCB조립, 검사공정에서 저항성분의 측정에 이용하여 부품의 양부 판정이 가능토록한 회로내 검사장치(IN-CIRCUIT TESTER)의 요소기술에 해당하는 것이다.The present invention relates to a resistance measuring circuit using a DC constant voltage, and more specifically, an in-circuit testing apparatus (IN-CIRCUIT) that enables the determination of the quality of a component by measuring resistance components in PCB assembly and inspection processes using a microprocessor. It corresponds to the element technology of TESTER).

일반적으로저항성분의 측정방식상 정전압법과 정전류원으로 나뉠 수 있으나 본 발명에 의하면 정전압법을 사용하여 실현한 것이다.In general, it can be divided into the constant voltage method and the constant current source in the measurement method of the resistance component, but according to the present invention is realized using the constant voltage method.

즉, D/A변환기(20)를 통한 안정된 정전압원을 공급하여 저항성분을 측정함으로써 정확한 용량의 저항이 접속되었는가를 검사할 수 있어 공정의 불량율을 최소화시킨 발명인 것이다.In other words, by supplying a stable constant voltage source through the D / A converter 20, it is possible to check whether the resistance of the correct capacitance is connected by measuring the resistance component is to minimize the defect rate of the process.

Description

직류 정전압을 이용한 저항측정회로Resistance measurement circuit using DC constant voltage

제1도는 본 발명의 개략적인 전체회로 구성도,1 is a schematic overall circuit diagram of the present invention,

제2도는 본 발명의 측정원리에 따른 개략회로도.2 is a schematic circuit diagram according to the measuring principle of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

10 : 마이크로 프로세서 20 : D/A변환기10: microprocessor 20: D / A converter

30 : 전류증폭기30: current amplifier

40 : 피측정대상부 (DUT : Device Under Unit)40: DUT (Device Under Unit)

50 : 이득선택부 60 : A/D입력이득선택부50: gain selector 60: A / D input gain selector

70 : 샘플/홀더부 80 : A/D변환기70: sample / holder 80: A / D converter

R1-R11: 저항 Q1-Q2: 트랜지스터R 1 -R 11 : Resistor Q 1 -Q 2 : Transistor

OP1-OP3: OP앰프OP 1 -OP 3 : OP Amp

본 발명은 직류 정전압을 이용한 저항 측정회로에 관한것으로,The present invention relates to a resistance measuring circuit using a DC constant voltage,

더욱 상세하게는, D/A변환기를 통한 정전압을 발생시켜, 저항을 측정토록된 직류정전압을 이용한 저항측정회로에 관한 것이다.More specifically, the present invention relates to a resistance measurement circuit using a DC constant voltage generated by generating a constant voltage through a D / A converter to measure resistance.

일반적으로, 마이크로 - 프로세서를 이용한 PCB의 조립, 검사공정에서 PCB의 불량여부를 검사하기 위하여는, PCB내의 삽입 된 저항을 측정하게 되는데, 저항성분의 측정값을 이용하여 부품의 양부 판정이 가능케하는 회로내 검사장치 (IN-CIRCUIT TESTER)의 요소기술이다. 이러한 회로내 검사장치를 위한 요소기술로서는 저항성분의 측정방식상 정전압원법과 정전류법으로 나눌수 있고, 본 발명은 정전압을 사용하여 실현한 것이다.In general, in order to check whether a PCB is defective in the assembly and inspection process of a PCB using a micro-processor, the inserted resistance is measured in the PCB. Element technology of IN-CIRCUIT TESTER. The element technology for such an in-circuit inspection apparatus can be divided into the constant voltage source method and the constant current method in terms of the measurement method of the resistance component, and the present invention is realized by using a constant voltage.

즉, D/A컨버터를 통한 안정된 정전압원을 공급하여 저항성분을 측정함으로써 PCB에 정확한 용량의 저항이 삽입되었는가를 검사하여 공정의 불량을 감소시키기 위한 직류정전압을 이용한 저항측정 회로를 제공하는데 그 목적이 있는 것이다.In other words, by supplying a stable constant voltage source through the D / A converter and measuring the resistance component to check whether the resistance of the correct capacity is inserted into the PCB to provide a resistance measurement circuit using a DC constant voltage to reduce the process defects. Is there.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은,도면 제1도에서와 같이, 시스템 전체를 제어하고 D/A값을 출력 및 A/D값을 입력하여 연산을 행하는 마이크로 프로세서(10)에는 마이크로 프로세서(10)로 부터 출력되는 디지탈 아나로그값으로 변환하는 D/A변환기(20)가 연결되어 있으며, 상기 D/A변환기(20)에는 전류증폭기(30)가 연결되어, D/A변환기 D/A변환기로 부터 출력된 정전압을 증폭하여 다음단에서 일정한 전압이 유지되도록 충분한 전류를 공급할 수 있게 되어있다.In order to achieve the object of the present invention with reference to the accompanying drawings, the present invention, as shown in Figure 1, the microcontroller for controlling the entire system and performing the operation by outputting the D / A value and the A / D value The processor 10 is connected with a D / A converter 20 for converting a digital analog value output from the microprocessor 10, and the current amplifier 30 is connected to the D / A converter 20. , D / A converter By amplifying the constant voltage output from D / A converter, it is possible to supply enough current to maintain constant voltage in the next stage.

또한, 상기 전류증폭기(30)의 출력단에 연결된 H핀과 다음에 설명되는 이득선택부(50) 입력단에 연결된 L핀으로 이루어진 피측정 대상부(40)가 전류증폭부(30)의 출력측에 연결구비되어 PCB에 조립된 측정대상저항(RX)의 양단이 접속될 수 있게 되어있으며, 상기 피측정대상부(40)로 부터 출력된 전류값에 따라 OP앰프(OP2)가 정상적인 동작범위내에서 적당한 이득을 갖도록 이상적인 이득을 선택하는 이득선택부(50)가 피측정대상부(40)에 연결구비되어 있고, 상기 이득선택부(50)로 부터 출력된 전류를 충분히 드라이브(Drive) 시키기위한 버퍼(Buffer)회로가 채택되며, 입력되는 전류 값에따라 다음에 설명되는 A/D변환기기의 입력범위내에 들어가게끔 이득을 선택하는 A/D입력이득 선택부(60)가 구비되어 있다.In addition, the measurement target unit 40, which is composed of an H pin connected to an output terminal of the current amplifier 30 and an L pin connected to an input terminal of the gain selector 50 described below, is connected to the output side of the current amplifier unit 30. Both ends of the measurement target resistor R X assembled to the PCB can be connected, and the OP amplifier OP 2 is within the normal operating range according to the current value output from the measurement target unit 40. A gain selector 50 that selects an ideal gain to have a proper gain in the connection is provided to the measurement target unit 40, and is sufficient to drive the current output from the gain selector 50 sufficiently. A buffer circuit is adopted, and the A / D input gain selector 60 selects a gain so as to fall within the input range of the A / D converter described below according to the input current value.

또한, A/D입력이득선택부(60)에는 상기 A/D입력이득선택부(60)로 부터 출력되는 아나로그 전압값을 샘플링 및 홀딩하는 샘플/홀더부(70)가 연결되어 있으며, 그리고 샘플/홀더부(70)로 부터 출력되어지는 아나로그값을 디지탈값으로 변환시키고, 이 디지탈신호를 상기 마이크로 프로세서(10)로 출력하는 A/D변환기(80)가 구비되어 있다.In addition, the A / D input gain selector 60 is connected with a sample / holder 70 for sampling and holding an analog voltage value output from the A / D input gain selector 60. An A / D converter 80 for converting an analog value output from the sample / holder unit 70 into a digital value and outputting the digital signal to the microprocessor 10 is provided.

미 설명부호 OP1, OP2, OP4는 OP앰프, R1∼R11은 저항, C1은 콘덴서, Q1, Q2는 트렌지스터, S1∼S8은 스위치이다.Reference numerals OP 1 , OP 2 , and OP 4 are OP amplifiers, R 1 to R 11 are resistors, C 1 is a capacitor, Q 1 and Q 2 are transistors, and S 1 to S 8 are switches.

이상과 같이 구성된 본 발명의 일실시예를 들어 설명하면 다음과 같다.When explaining an embodiment of the present invention configured as described above are as follows.

도면 제2도에서 보는 바와같은 측정원리를 갖는 본 발명은 정전압원 VS를 인가하여 이것의 전류를 i라고 하면, 전류 i는 PCB에 조립된 측정대상 저항(RX)를 통하여 이득(Gain) 저항(Rf)을 거쳐 OP앰프출력단 쪽으로 흐르게 된다.According to the present invention having the measurement principle as shown in FIG. 2, when the constant voltage source V S is applied and its current is i, the current i is gained through the resistance R X assembled to the PCB. It flows through the resistor R f to the op amp output stage.

여기서, OP앰프의 - 입력단으로 전류가 흐르지 않는 것은 OP앰프 입력임피던스가 0 이기 때문이다.Here, the current does not flow to the − input terminal of the OP amplifier because the OP amplifier input impedance is zero.

또한, OP앰프 - 입력단과 + 입력단은 가상 쇼-트(short)이므로 V1의 전위는 0 [V]이다.Also, since the op amp-input terminal and the + input terminal are virtual short-shots, the potential of V 1 is 0 [V].

결국 전류 i는Eventually i

으로 나타낼수 있다. It can be represented as

여기서 Rx : 측정대상저항이고,Where Rx is the resistance to be measured,

Vs : 정전압원이다.Vs: Constant voltage source.

출력단 즉, Vo에서 바라본 전류(i)의 흐름방향은 역방향이므로Since the flow direction of the current i, which is viewed from the output terminal Vo, is the reverse direction,

이다. to be.

여기서 Rf : 이득저항이다.Where Rf is the gain resistance.

여기에서 Vs와 Rf는 고정된 값이고, Vo를 측정할 수 있으므로, 측정대상 저항 Rx는,Since Vs and Rf are fixed values and Vo can be measured, the resistance Rx to be measured is

와 같게된다. Becomes equal to

이러한 식을 본 발명에 대입하게 되면, 도면 제1도에서 보는 바와 같이 상기의 식에서 Vs대신에, 마이크로 프로세서(10)를 통하여 정전압 출력을 위한 디지탈값을 D/A변환기(20)에 내보내면 D/A변환기(20)에서는 디지탈값을 아나로그 값으로 변환시켜 출력시키고, 그 출력시킨 값은 비반전증폭기(OP1)로 구성되있는 전류증폭부(30)를 거쳐 피측정대상부(40)에 해당하는 H핀 → 측정하고자 하는 대상저항(Rx) → L핀을 순차적으로 통해 전류가 흐른다.Substituting this equation into the present invention, as shown in FIG. 1, instead of Vs in the above equation, when the digital value for the constant voltage output is sent to the D / A converter 20 through the microprocessor 10, The / A converter 20 converts a digital value into an analog value and outputs the converted value, and the output value passes through the current amplifier 30 configured as the non-inverting amplifier OP 1 . Correspondingly, the current flows through H pin → target resistance (Rx) → L pin.

상기에서와 같이 L핀을 통한 전류는 이득선택부(50)의 OP앰프(OP2)의 출력단으로 인가되어진다.As described above, the current through the L pin is applied to the output terminal of the OP amplifier OP 2 of the gain selector 50.

이과정에서 이득선택부(50)에서 가장 알맞는 이득이 선택되고 이득저항(Rf = R3∼R7)을 통하여, 전류가 흘러 이득선택부(50)에서 발생한 전압은 -값이므로 이값을 다시 반전시키는 비반전회로, 즉, 비반전증폭기(OP3)로 구성된 A/D입력 이득선택부(60)를 통하여 샘플/홀더부(70) 입력단에 아날로그전압값이 입력된다.In this process, the most suitable gain is selected in the gain selector 50 and current flows through the gain resistors Rf = R 3 to R 7 so that the voltage generated in the gain selector 50 is-value. An analog voltage value is input to the input terminal of the sample / holder 70 through an A / D input gain selector 60 composed of an inverting non-inverting circuit, that is, a non-inverting amplifier OP 3 .

샘플/홀더부(70)로부터 출력되는 아날로그값은 A/D변환기(80)를 통해 디지탈값으로 변환 출력되어 마이크로 프로세서(10)에 입력되고, 마이크로 프로세서(10)에 입력된 값은 기입력된 프로그램에 따른 연산을 통하여 측정대상저항(Rx)의 저항값을 계산해내도록 한 것으로, 더욱 상세히 설명하면, 마이크로 프로세서(10)에서 출력한 데이타는 데이타라인(DL)을 통하여, D/A변환기(20)에서 아나로그 값으로 바뀌어 정전압 V1이 된다.The analog value output from the sample / holder unit 70 is converted into a digital value through the A / D converter 80 and input to the microprocessor 10, and the value input to the microprocessor 10 is previously input. It is to calculate the resistance value of the measurement target resistance (Rx) through the calculation according to the program. More specifically, the data output from the microprocessor 10 via the data line (DL), D / A converter 20 ) Is changed to the analog value to become the constant voltage V 1 .

이것은 저항 R1과 R2에 의하여,This is due to the resistances R 1 and R 2 ,

으로 출력되는데, Is output as

D/A변환기(20)는 6비트로서 0.156V∼10V까지 출력시키도록 되어 있으나, 감쇄원 저항(R1,R2)을 통하여 0.05V∼3.20V까지 출력하게 된다.The D / A converter 20 outputs 6 bits to 0.156V to 10V, but outputs 0.05V to 3.20V through the attenuation source resistors R 1 and R 2 .

즉, Vin = (Vda * R2) / (R1+ R2)That is, Vin = (Vda * R 2 ) / (R 1 + R 2 )

= (Vda * 4.7K) / (10K + 4.7K)= (Vda * 4.7K) / (10K + 4.7K)

여기에서 Vda = 0.156V시 Vin = 0.05VWhere Vda = 0.156V and Vin = 0.05V

Vda = 10V시 Vin = 3.15V가 된다.Vin = 3.15V when Vda = 10V.

이 전압이 선택되었을경우 보호회로가 있다면 일반 OP앰프는 출력전류가 10mA 정도밖에 되지않으므로, 충분한 전류의 공급이 필요하고, 이 목적을 위하여 V2는 OP앰프(OP1)와 트랜지스터 Q1, Q2로 구성된 전류증폭부(30)를 통한다.If this voltage is selected, if there is a protection circuit, the general OP amplifier has only 10mA of output current. Therefore, sufficient current must be supplied. For this purpose, V 2 is the OP amplifier (OP 1 ) and transistors Q 1 and Q. Through a current amplifier 30 composed of two .

전류증폭부(30)는, 전압폴로워(Voltage Follower)구조에다 충분한 전류를 공급토록 회로를 구성한 것으로, 전류버퍼로서 작용하게끔하여, V3는 V2의 값이 그대로 유지된다.The current amplifier 30 constitutes a circuit to supply a sufficient current to a voltage follower structure, and acts as a current buffer, so that V 3 maintains the value of V 2 .

한편, 피측정대상부(40)에는 제2도에서 설명한 측정원리와 같은 구조로 전개되는데, 측정대상 저항(Rx)을 측정하기 위해서는 스위치 S1∼S5중에서 적당한 값이 선택된다. 즉, 스위치 S1이 선택 되었다면.On the other hand, the measurement target unit 40 is developed in the same structure as the measurement principle described in FIG. 2, and in order to measure the resistance Rx to be measured, an appropriate value is selected from the switches S 1 to S 5 . That is, if switch S 1 is selected.

이 된다. Becomes

일예로써, 측정저항이 40Ω 이라면 이득선택부의 이득저항은 40, 400, 4K, 40K, 400K가 있어, 이득 = 1, 10, 100, 1000, 10000이 되어지지만, 측정하기에 가장 이상적인 이득을 선택한다.As an example, if the measurement resistance is 40Ω, the gain resistance of the gain selector is 40, 400, 4K, 40K, 400K, and the gain = 1, 10, 100, 1000, 10000, but select the most ideal gain for measurement. .

이득 선택부(50)를 거친 전류는 -값이므로, A/D변환기(80)에 입력하기 적당한 값으로 하기위해서는 +로 반전시키고, 이득을 조절하기 위하여, 스위치 S6∼S8중에서 적당한 스위치를 온 시킨다.A gain selector 50 via the current-value because, for input to the A / D converter 80 to a suitable value to highlight a +, a, a switch S 6 ~S 8 appropriate switches in order to control the gain Turn on.

만약, 스위치 S6이 선택 되었다면,If switch S 6 is selected,

으로 된다. Becomes

이어서, V5값은 샘플/홀더(70)를 거쳐 A/D변환기(80)에서 디지탈 값으로 바뀌어, 데이타라인(DL)을 통해, 마이크로 프로세서(10)에 입력된다.The V 5 value is then converted into a digital value in the A / D converter 80 via the sample / holder 70 and input to the microprocessor 10 via the data line DL.

여기에서, 측정대상 저항 Rx를 제외한 모든 저항은 고정된 값으로, 그 값을 알고있는 값이므로, 측정대상 저항 Rx는,Here, all resistances except the resistance Rx to be measured are fixed values, and since the values are known, the resistance Rx to be measured is

의 식으로 그 값을 구할 수 있게 된다.The value can be found by

본 발명 회로의 기능을 전체적으로 재설명하면 D/A변환기(20)에서 나오는 이득선택부(40)의 비반전증폭기(OP2)를 거치고, 다시 D/A입력 이득선택부(50)의 비반전증폭기(OP3)를 거치면서 출력값이 +가 되도록하여 샘플/홀더부(70)를 거쳐, A/D변환기(80)에서 마이크로 프로세서(10)에 V5를 입력하면 미리알고 있는 저항값들을 대입하여 측정대상 저항 Rx의 측정이 가능토록한 것이다.The overall function of the circuit of the present invention is described again through the non-inverting amplifier OP 2 of the gain selector 40 coming from the D / A converter 20 and again the non-inverting of the D / A input gain selector 50. When the output value becomes + while passing through the amplifier OP 3 and passes through the sample / holder unit 70, and V 5 is input to the microprocessor 10 by the A / D converter 80, the resistance values which are known in advance are substituted. Therefore, it is possible to measure the resistance Rx to be measured.

이상에서 본 바와 같이 본발명은 정전압을 이용하여 저항측정을 용이하게 할 수 있게되었고, 정전류를 이용하여 저항을 측정할 수 있는 회로를 구현할수도 있게된 발명인 것이다.As described above, the present invention is to facilitate the resistance measurement using a constant voltage, it is an invention that can implement a circuit that can measure the resistance using a constant current.

Claims (1)

PCB의 조립 및 검사공정에서 PCB에 조립된 측저대상 저항(Rx)을 측정하는 저항측정회로 장치에 있어서, 마이크로 프로세서(10)로부터 출력되는 디지탈 값을 아나로그 값으로 변화시켜 정전압을 출력시키게 되는 D/A변환기(20)와, 상기의 D/A변환기(20)에서 출력된 선택전압을 증폭하여 안정되게 공급하는 전류증폭부(30)와, 전류증폭부(30)의 출력단에 연결된 H핀 및 다음에 설명되는 이득선택부(50)의 입력단에 연결된 L핀에 측정대상 저항(Rx)을 연결하여, 측정을 행하게되는 피측정 대상부(40)와, 상기 피측정 대상부(40)에서 출력되는 전류값에 의해, OP앰프(OP2)가 정상적인 동작범위내에서 적당한 이득을 갖도록 이득을 선택하는 이득선택부(50)와, 이득선택부(50)를 거친 전류를 충분히 드라이브시키고, 다음에 설명되는 A/D변환기(80)의 입력범위내에 들어가게끔 이득을 선택하는 A/D입력이득 선택부(60)와, 상기 A/D입력이득 선택부(60)로부터 출력되는 아나로그 전압값을 샘플링 및 홀딩하는 샘플/홀더부(70)와, 샘플/홀더부(70)로부터 송출되는 아나로그값을 디지탈로 변화시키는 A/D변환기(80)와, 상기 각부와 연결되고, A/D변환기(80)의 출력값을 입력받아 연산을 통해 저항값을 측정가능토록하는 마이크로 프로세서(10)로 이루어짐을 특징으로하는 직류 정전압을 이용한 저항측정회로.In the resistance measuring circuit device for measuring the resistance (Rx) measured on the PCB in the assembly and inspection of the PCB, the digital voltage output from the microprocessor 10 is changed to an analog value to output a constant voltage. A / a converter 20, a current amplifier 30 for amplifying and stably supplying a selected voltage output from the D / A converter 20, an H pin connected to an output terminal of the current amplifier 30, and The measurement target unit 40 to perform measurement by connecting the measurement target resistor Rx to the L pin connected to the input terminal of the gain selector 50 described below, and output from the measurement target unit 40. By the current value, the gain selector 50 for selecting the gain so that the OP amplifier OP 2 has a proper gain within the normal operating range, and the current passing through the gain selector 50 are sufficiently driven. To fall within the input range of the A / D converter 80 described. An A / D input gain selector 60 for selecting gain, a sample / holder unit 70 for sampling and holding analog voltage values output from the A / D input gain selector 60, and a sample / A / D converter 80 for digitally changing the analog value sent out from the holder part 70, connected to the respective parts, and receives the output value of the A / D converter 80 to measure the resistance value through calculation Resistance measurement circuit using a DC constant voltage, characterized in that consisting of a microprocessor 10 to enable.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101973070B1 (en) * 2018-11-22 2019-04-26 울산과학기술원 Apparatus and method for measuring resistance

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