KR0175826B1 - Operation and malfunction measurement method during power switching test - Google Patents
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
Abstract
본 발명은 전원개폐 시험시의 동작및 오동작 계측방법에 관한 것으로, 특히 시스템 내부의 비휘발성 메모리로부터 데이타, 예컨데 정전발생 이전까지의 전원 개폐 수행횟수 및 오동작 발생횟수를 리드(Read)하는 단계와, 이 단계에서 데이타를 리드한 후 전원개폐를 수행하고 이에 따른 오동작의 발생여부를 판단하는 단계와, 이 단계에서 오동작의 발생여부에 따라 상기 전원개폐 수행횟수와 오동작의 발생횟수를 변경하여 상기 비휘발성 메모리에 저장하는 단계로 이루어져 정확한 전원 개폐의 실행횟수와 오동작 발생횟수를 카운트하여 비휘발성 메모리에 저장하여 정전시에도 상기 메모리에 저장되어 있는 정보를 보유함에 따라 정전발생후 복구시 상기 메모리에 저장되어 있는 수행횟수부터 시험을 재개할 수 있어 처음부터 시험을 재수행하지 않아도 된다.The present invention relates to a method for measuring the operation and malfunction in the power-switching test, and in particular, the step of reading the data, such as the number of times the power is opened and closed until the occurrence of power failure, such as from the non-volatile memory inside the system, In this step, after the data is read, power is switched off and a malfunction is determined accordingly. In this step, the power switching operation frequency and the frequency of malfunction are changed according to whether a malfunction occurs. It is stored in the memory and counts the number of times of accurate power on / off and malfunction occurs and stores the information in the non-volatile memory to retain the information stored in the memory even in the event of a power failure. You can resume the test from the number of times you have it. It may be used.
Description
제1도는 본 발명을 설명하기 위한 구성 블럭도.1 is a block diagram illustrating the present invention.
제2도는 본 발명의 제어 흐름도.2 is a control flowchart of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 램 또는 하드디스크 20 : 검출부10: RAM or hard disk 20: Detection unit
30 : 프로세서 40 : 비휘발성 메모리30 processor 40 nonvolatile memory
50 : 표시부50: display unit
본 발명은 장시간 동안 수행되는 산업용 기기의 전원개폐 시험에 있어서, 정확한 전원 개폐의 수행횟수와 오동작 발생횟수를 카운트하고, 이를 비휘발성 메모리에 저장하여 정전시에도 상기 메모리에 저장되어 있는 정보를 보유함에 따라 정전발생후 복구시 상기 메모리에 저장되어 있는 수행횟수부터 시험을 재개할 수 있는 전원개폐 시험시의 동작및 오동작 계측방법에 관한 것이다.According to the present invention, in the power switching test of an industrial device that is performed for a long time, an accurate count of the number of times of accurate power opening and closing and the occurrence of malfunctions is stored, and the information is stored in the nonvolatile memory to retain information stored in the memory even in a power failure. Accordingly, the present invention relates to an operation and malfunction measuring method during a power-shutdown test that can resume a test from the number of executions stored in the memory upon recovery after a power failure.
종래에는 외부의 전원개폐 장비를 산업용 기기의 전원에 연결하고, 사용자가 전원개폐 시험횟수를 설정하면 상기 전원개폐 장비가 기기로 인가되는 전원을 온/오프하여 전원개폐 시험을 수행하게 되며, 그리고 그 수행횟수를 카운트 하였다.In the related art, when an external power switch is connected to a power source of an industrial device, and a user sets a power switch test frequency, the power switch turns on / off the power applied to the device and performs a power switch test. The number of executions was counted.
그러나, 상기와 같은 종래의 방법은 기기의 외부장치에 의해 전원개폐가 수행됨에 따라 의도한 횟수만큼의 정확한 전원개폐 시험이 수행되었는지 파악할 수 없고, 또한 전원개폐시의 오동작 발생여부를 검출할 수도 없었다.However, according to the conventional method as described above, as the power switching is performed by the external device of the device, it is impossible to determine whether the accurate power switching test has been performed as many as the intended number of times, and it is not possible to detect the malfunction when the power is switched off. .
또한, 전원개폐 시험중에 정전이 발생하면 시험 수행횟수를 카운트한 카운터가 리셋됨에 따라 처음부터 시험을 재수행하여야 한다는 문제점이 있었다.In addition, if a power failure occurs during the power-shutdown test, there is a problem that the test must be re-run from the beginning as the counter that counts the number of test times is reset.
이에, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 정확한 전원 개폐의 수행횟수와 오동작 발생횟수를 카운트하고, 이를 비휘발성 메모리에 저장하여 정전시에도 상기 메모리에 있는 정보를 보유함에 따라 정전 발생후 복구시 상기 메모리에 저장되어 있는 수행횟수부터 시험을 재개할 수 있어 처음부터 시험을 재수행하지 않아도 되는 전원개폐 시험시의 동작및 오동작 계측방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, and counts the correct number of times of opening and closing the power supply and the number of malfunctions, and stores the information in the nonvolatile memory to retain the information in the memory even in case of power failure It is an object of the present invention to provide a method for measuring operation and malfunction during power-shutdown test, in which the test can be restarted from the number of executions stored in the memory upon recovery after a power failure, and the test does not need to be performed again from the beginning.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 비휘발성 메모리로부터 데이타, 예컨데 정전발생 이전까지의 전원개폐 수행횟수 및 오동작 발생횟수를 리드(Read)하는 단계와, 이 단계에서 데이타를 리드한 후 기기로 인가되는 전원을 온/오프하는 전원 개폐단계와, 이 단계에서 전원개폐의 수행에 따른 오동작의 발생여부를 판단하는 단계와, 이 단계에서 오동작의 발생여부에 따라 전원개폐 수행횟수와 오동작의 발생횟수를 증가시켜 상기 비휘발성 메모리에 저장하는 단계와, 이 단계에서 전원개폐 수행횟수와 오동작 발생횟수를 증가시킨 후 상기 시험 수행횟수와 사용자가 설정한 시험횟수를 비교하여 시험의 완료를 판단하는 단계와, 이 단계에서 설정 횟수만큼 시험이 수행되었으면 메모리를 클리어하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a method of reading data from a nonvolatile memory, for example, the number of times that power is switched off until a power failure occurs, and the number of malfunctions occurring. Determining whether a malfunction occurs in accordance with whether the power is switched on or off, and in this step, whether or not malfunction has occurred, and in this step, the number of times that the power is switched off and the occurrence of malfunction Increasing the number of times and storing it in the non-volatile memory; and in this step, increasing the number of times of power on / off and occurrence of malfunctions, and then comparing the number of times of testing with the number of tests set by the user to determine completion of the test. And, if the test has been performed a predetermined number of times in this step, characterized in that consisting of the step of clearing the memory.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면에 따라 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
전원이 들어오면, 전원개폐 프로세서(30)는 이를 인식하여 제2도에 도시된 제어흐름에 따라 동작하게 된다.When the power is turned on, the power switching processor 30 recognizes this and operates according to the control flow shown in FIG.
먼저, 프로세서(30)는 사용자가 설정한 시험횟수를 인식하게 되면, 비휘발성 메모리(4)에 저장되어 있는 데이타, 즉 정전되기 이전까지 수행되었던 전원개폐 수행횟수 및 오동작 발생횟수를 리드(Read)하게 된다.First, when the processor 30 recognizes the test number set by the user, the processor 30 reads data stored in the nonvolatile memory 4, that is, the number of times that the power is switched off and the number of malfunctions have been performed before power failure. Done.
그러나, 시험을 처음 수행하는 경우에 상기 비휘발성 메모리(40)에는 저장되어 있는 데이타가 존재하지 않으므로 전원개폐 수행횟수도 0이고, 오동작 발생횟수도 또한 0이 된다.However, when the test is performed for the first time, since the stored data does not exist in the nonvolatile memory 40, the number of times of power opening and closing is zero, and the number of malfunctions is also zero.
상기와 같이 프로세서(30)는 비휘발성 메모리(40)에 저장되어 있는 데이타를 리드한 후 기기에 인가되는 전원을 온/오프 시켜 전원개폐를 수행케 된다.As described above, the processor 30 reads data stored in the nonvolatile memory 40 and turns on / off power applied to the device to perform power switching.
그리고, 전원개폐를 수행한 후 검출부(20)를 통해 오동작의 발생여부를 판단하여, 오동작이 발생하였으면 오동작 발생횟수를 1증가 시키고, 또한 전원개폐 수행횟수를 1증가 시키게 되며, 오동작이 발생하지 않았을 경우에는 전원개폐 횟수만을 1증가시켜 비휘발성 메모리에 저장하게 된다. 또한, 상기의 결과를 사용자가 인식할 수 있도록 모니터나 프린터등과 같은 표시부(50)를 통해 출력하게 된다.Then, after the power is switched off, it is determined whether a malfunction occurs through the detection unit 20. If a malfunction occurs, the number of malfunctions is increased by one, and the number of times of power disconnection is increased by one. In this case, the number of times of switching off the power is increased by 1 and stored in the nonvolatile memory. In addition, the result is output through the display unit 50 such as a monitor or a printer so that the user can recognize the result.
상기와 같이 표시부(50)를 통해 현재가지의 전원개폐 수행횟수와 오동작의 발생횟수를 사용자가 인식할 수 있도록 출력한 후 프로세서(30)는 정상적인 기기 자체의 기능을 수행하게 된다.As described above, the display unit 50 outputs the number of times to perform the current power on / off and the number of malfunctions to be recognized by the user, and then the processor 30 performs the function of the normal device itself.
그리고, 다시 전원이 꺼졌 들어오면 상기의 과정을 되풀이하게 된다.Then, when the power is turned off again, the above process is repeated.
한편, 상기와 같이 전원개폐 시험을 진행중에 정전이 발생하였다가 복구되면 프로세서(30)는 상기 비휘발성 메모리(40)에 저장되어 있는 데이타, 즉 전원개폐 수행횟수와 오동작 발생횟수를 리드하고, 이 전원개폐 수행횟수부터 상기에 설명된 방법을 통해 시험을 재개하여 설정된 횟수까지 전원개폐 시험을 수행하게 된다.On the other hand, if a power failure occurs during the power-off test and the recovery is performed as described above, the processor 30 reads the data stored in the nonvolatile memory 40, that is, the power-off time and the number of malfunctions. The power switching test is performed from the frequency of performing power switching to the set number of times by resuming the test using the method described above.
상기와 같이 본 발명은 산업용 기기의 실질적인 전원 개폐의 횟수와 오동작 발생횟수를 카운트하여 이를 비휘발성 메모리에 저장하고 정전시에도 상기 메모리에 있는 정보를 보유함에 따라 정전발생후 복구시 상기 메모리에 저장되어 있는 데이타 값에서 부터 시험을 재개할 수 있다.As described above, the present invention counts the actual number of times of opening and closing of the power supply and the number of malfunctions of the industrial device and stores the information in the nonvolatile memory and retains the information in the memory even in the event of power failure. The test can be resumed from the data values present.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019930031568A KR0175826B1 (en) | 1993-12-30 | 1993-12-30 | Operation and malfunction measurement method during power switching test |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019930031568A KR0175826B1 (en) | 1993-12-30 | 1993-12-30 | Operation and malfunction measurement method during power switching test |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR950019758A KR950019758A (en) | 1995-07-24 |
| KR0175826B1 true KR0175826B1 (en) | 1999-04-01 |
Family
ID=19374517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019930031568A KR0175826B1 (en) | 1993-12-30 | 1993-12-30 | Operation and malfunction measurement method during power switching test |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR0175826B1 (en) |
-
1993
- 1993-12-30 KR KR1019930031568A patent/KR0175826B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR950019758A (en) | 1995-07-24 |
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