KR0166624B1 - Flicker component measuring apparatus - Google Patents

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KR0166624B1
KR0166624B1 KR1019950029106A KR19950029106A KR0166624B1 KR 0166624 B1 KR0166624 B1 KR 0166624B1 KR 1019950029106 A KR1019950029106 A KR 1019950029106A KR 19950029106 A KR19950029106 A KR 19950029106A KR 0166624 B1 KR0166624 B1 KR 0166624B1
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마사미 이노우에
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쯔지 하루오
샤프 가부시키가이샤
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Abstract

액정표시장치의 선택된 주파수의 플리커성분을 측정하기 위한 플리커성분 측정장치로서, 액정표시장치의 표시화면의 휘도를 아날로그 신호로 변환하기 위한 광전변환수단; 선택된 주파수 성분을 갖는 필터링된 신호를 출력하기 위해 아날로그 신호를 필터링하기 위한 필터수단; 및 필터링된 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 신호변환수단을 포함한다.A flicker component measuring apparatus for measuring a flicker component of a selected frequency of a liquid crystal display, comprising: photoelectric conversion means for converting a luminance of a display screen of the liquid crystal display into an analog signal; Filter means for filtering an analog signal to output a filtered signal having a selected frequency component; And signal conversion means for converting the filtered signal into a digital signal.

Description

플리커성분 측정장치Flicker Component Measuring Device

제1도는 본 발명에 의한 1 실시예의 플리커성분 측정장치의 구성을 도시한 블록도.1 is a block diagram showing the configuration of a flicker component measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

제2a, 2b 및 2c도는 액정표시장치에 있어서 플리커 발생의 원리를 설명하기 위한 도면.2A, 2B, and 2C are diagrams for explaining the principle of flicker generation in a liquid crystal display device.

제3도는 액정표시장치로부터 출력되는 신호에 포함된 플리커 성분을 측정하는 종래 장치의 구성을 개략적으로 보인 도면.3 is a schematic view showing the configuration of a conventional apparatus for measuring flicker components included in a signal output from a liquid crystal display.

제4도는 종래 플리커성분 측정장치로부터 출력되는 아날로그 신호의 파형을 보인 도면.4 is a view showing a waveform of an analog signal output from a conventional flicker component measuring apparatus.

제5도는 상기 본 발명의 실시예에서 플리커성분 측정장치를 구성하는 플리커성분 검출기를 설명하기 위한 블록도.5 is a block diagram illustrating a flicker component detector constituting a flicker component measuring apparatus in the embodiment of the present invention.

제6도는 상기 본 발명의 실시예에서 플리커성분 측정장치를 구성하는 밴드패스필터를 설명하기 위한 블록도.6 is a block diagram for explaining a band pass filter constituting the flicker component measuring apparatus in the embodiment of the present invention.

제7도는 상기 본 발명의 실시예에서 플리커성분 측정장치를 구성하는 A/D 변환기를 설명하기 위한 블록도.7 is a block diagram illustrating an A / D converter constituting the flicker component measuring apparatus in the embodiment of the present invention.

제8도는 상기 A/D 변환기의 동작파형의 1예를 보인 도면.8 shows an example of an operating waveform of the A / D converter.

제9도는 플리커 레벨의 측정치를 비교한, 본 발명과 종래기술의 특성 상관관계를 보인 그래프.9 is a graph showing the characteristic correlations between the present invention and the prior art, comparing measurements of flicker levels.

제 10도는 플리커 레벨의 온도특성을 본 발명과 종래기술을 비교하여 보인 그래프.10 is a graph showing the temperature characteristics of the flicker level in comparison with the present invention.

제11a 및 11b도는 스위치드 커패시터 필터를 상세히 보인 도면.11a and 11b show details of a switched capacitor filter.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 액정표시장치 101 : 플리커성분 측정장치1: liquid crystal display 101: flicker component measuring device

2 : 수광부 3 : 백라이트 장치2: light receiver 3: backlight device

4 : 조도계 5 : 플리커성분 검출기4: illuminometer 5: flicker component detector

7 : 시그널 컨디셔너(증폭기) 8 : 1/3 OCT 밴드패스 필터7: Signal Conditioner (Amplifier) 8: 1/3 OCT Bandpass Filter

9 : AC/DC 변환기 10 : 리플 제거 필터9: AC / DC converter 10: Ripple cancellation filter

11 : A/D 변환기 13 : 주파수 측정장치11: A / D converter 13: Frequency measuring device

14 : 스위치드 커패시터 필터(SCF) 15 : 로패스 필터14: switched capacitor filter (SCF) 15: low pass filter

16 : 클럭 발생기16: clock generator

본 발명은 플리커성분 측정장치에 관한 것으로, 특히 액정표시장치의 표시패널의 대향전극에 인가되는 대향전압의 차 및 상기 액정표시패널에 발생되는 플리커 등을 측정하는 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flicker component measuring apparatus, and more particularly, to a device for measuring a difference in a counter voltage applied to a counter electrode of a display panel of a liquid crystal display and flicker generated in the liquid crystal display panel.

우선, 액정표시장치에 있어서의 플리커의 발생원리를 설명한다.First, the generation principle of flicker in the liquid crystal display device will be described.

액정표시장치에 있어서의 풀라인 패널을 구동하기 위한 하나의 예시적 방법으로 종래 CRT에 사용되는 방법과 유사한 인터레이스 구동법이 있다. NTSC 방식의 경우, 통상의 CRT를 사용하여 대략 300 내지 350 TV본 정도의 수직 해상도가 얻어진다. 한편, 인터레이스 구동법에 있어서는 풀라인 LCD(즉, 480본의 주사선을 가짐)를 사용하여 원리적으로 480 TV본의 해상도가 얻어질 수 있다.One exemplary method for driving a full-line panel in a liquid crystal display device is an interlace driving method similar to the method used in the conventional CRT. In the case of the NTSC system, a vertical resolution of approximately 300 to 350 TV copies is obtained using a conventional CRT. On the other hand, in the interlace driving method, the resolution of 480 TV copies can be obtained in principle using a full-line LCD (that is, having 480 scan lines).

한편, LCD 패널은 액정의 분극방지를 인해 교류구동, 즉 액정에 인가되는 전압의 극성을 순차 반전시키는 구동법에 의해 구동될 수 있다.On the other hand, the LCD panel may be driven by an AC drive, that is, a driving method for inverting the polarity of the voltage applied to the liquid crystal in order to prevent polarization of the liquid crystal.

제2c도에 보인 바와 같이, 각 화소에 1/60초마다 극성이 다른 신호전압을 인가하는 인터레이스 구동법에서는 각 화소전극에 인가되는 전압의 극성이 60Hz의 주파수로 변하게 된다. 이 경우에, 대향전압은 정극성 신호전압의 최대레벨과 부극성 신호전압의 최소레벨간의 중간 레벨로 조정된다.As shown in FIG. 2C, in the interlace driving method in which a signal voltage having a different polarity is applied to each pixel every 1/60 second, the polarity of the voltage applied to each pixel electrode is changed to a frequency of 60 Hz. In this case, the counter voltage is adjusted to an intermediate level between the maximum level of the positive signal voltage and the minimum level of the negative signal voltage.

상기 LCD 패널에 있어서, 홀수번째의 주사선에 인가되는 신호전압과 짝수번째의 주사선에 인가되는 신호전압은 제2c도에 실선과 점선으로 비교하여 표시한 바와 같이 서로 다르며, 이 때 상기 홀수번째의 주사선과 짝수번째의 주사선은 서로 인접되어 있다. 따라서, 대향전압이 실선으로 표시한 홀수번째의 주사선에 인가되는 신호전압의 센터에 조정되는 경우, 대향전압은 주사전극의 구동회로의 특성으로 인해 점선으로 표시한 짝수번째 주사선의 신호전압의 센터로부터 옵셋된다.In the LCD panel, the signal voltage applied to the odd scan line and the signal voltage applied to the even scan line are different from each other as shown by comparing the solid line and the dotted line in FIG. 2C, wherein the odd scan line And even scan lines are adjacent to each other. Therefore, when the counter voltage is adjusted to the center of the signal voltage applied to the odd-numbered scan line indicated by the solid line, the counter voltage is from the center of the signal voltage of the even-numbered scan line indicated by the dotted line due to the characteristics of the driving circuit of the scan electrode. Is offset.

이에 따라, 점선으로 표시한 신호전압이 인가되는 주사선에 대응하는 화소에 있어서; 제2a도에 보인 바와 같이 홀수번째의 필드(이하, 홀수필드라 함)에 있어서 대향전압에 대한 차전압(B), 및 제2b도에 보인 바와 같이 짝수번째의 필드(이하, 짝수필드라 함)에 있어서 대향전압에 대한 차전압(C)이 대향전압의 시프트로 인해 서로 다르게 된다. 1/30초마다 인가되는 동일 극성의 전압들이 전압 B(홀수필드)및 전압 C(짝수필드)로 나타낸 바와 같이, 대향전압에 대해 서로 다른 차전압을 가질 경우, 플리커가 발생되어 표시가 얼룩지게 된다.Accordingly, in the pixel corresponding to the scanning line to which the signal voltage indicated by the dotted line is applied; As shown in FIG. 2A, the difference voltage B with respect to the counter voltage in the odd-numbered field (hereinafter referred to as odd field), and the even-numbered field (hereinafter referred to as even field) as shown in FIG. 2B. ), The difference voltage C with respect to the counter voltage becomes different due to the shift of the counter voltage. If the voltages of the same polarity applied every 1/30 second have different difference voltages with respect to the opposite voltages, as indicated by voltage B (odd field) and voltage C (even field), flicker occurs and the display is stained. do.

풀라인 패널을 구동하기 위한 방법의 다른 예를 들면 넌인터레이스(non-interlaced) 구동법 및 1 라인이 1/2 수평기간에 주사되는 배속 구동법이 있다. 이들 방법의 어느 경우에서도, 인가된 신호전압이 대향전압으로부터 시프트될 경우, 플리커, 즉 1화소 단위당 발생되는 플리커 또는 1 주사선 단위당 발생되는 플리커가 발생한다. 예컨대, 액정에 직류전압이 인가될 때, 플리커가 발생되나; 극성이 충분히 빨리 스위칭되면 관찰자의 눈에 변화가 인식되지 않게 되어 플리커가 나타나지 않게 된다. 그럼에도 불구하고, 플리커는 계속 발생된다.Other examples of the method for driving a full-line panel include a non-interlaced driving method and a double speed driving method in which one line is scanned in a half horizontal period. In either of these methods, when the applied signal voltage is shifted from the opposite voltage, flicker, that is, flicker generated per one pixel unit or flicker generated per one scan line unit, is generated. For example, flicker occurs when a direct current voltage is applied to the liquid crystal; If the polarity is switched fast enough, no change will be noticed in the observer's eye and flicker will not appear. Nevertheless, flicker continues to occur.

플리커를 측정하는 종래의 방법에 있어서, 일본 특허공개공보 5-323379호에 기술된 바와 같이, 대향전압은 휘도계에 의해 얻어진 데이터에 기초하여 최적치로 조정된다. 이 경우, 휘도계에 의해 얻어진 데이터는 처리되지 않고 그로부터 출력된다. 플리커는 휘도계의 수광부에서 판독된 값(1x)을 사용하여 같은 원리로 측정될 수 있다.In the conventional method of measuring flicker, as described in Japanese Patent Laid-Open No. 5-323379, the counter voltage is adjusted to an optimum value based on data obtained by the luminance meter. In this case, the data obtained by the luminance meter is not processed but is output therefrom. Flicker can be measured on the same principle using the value 1x read from the light receiving portion of the luminance meter.

제3도는 종래 플리커성분 측정장치의 구성을 보인 개략도이다. 액정표시장치(액정표시패널)(1)로부터 출력되는 신호에 포함된 플리커성분을 측정하는 플리커성분 측정장치(201)는 액정표시장치(1)에 대향하여 배치된 수광부(2) 및 액정표시장치(1)의 조도를 측정하기 위한 조도계(4)를 포함한다. 상기 조도계(4)는 수광부(2)에 의해 행해지는 광전변환에 의해 얻어진 아날로그 신호를 출력한다. 이 아날로그 신호는 오실로스코프에 입력된다. 액정표시장치(1)의 배후에는 액정표시장치(1)를 균일하게 조사하기 위한 광을 발하는 백라이트 장치(3)가 배치되어 있다. 물론, 상기와 같이 구성된 플리커성분 측정장치에서는 상기 조도계(4) 대신 일본 특허공개공보 5-323379호에 기술된 조도계가 사용될 수 있다.3 is a schematic view showing the configuration of a conventional flicker component measuring apparatus. The flicker component measuring device 201 for measuring flicker components included in a signal output from the liquid crystal display device (liquid crystal display panel) 1 includes a light receiving unit 2 and a liquid crystal display device which are disposed to face the liquid crystal display device 1. The illuminometer 4 for measuring the illuminance of (1) is included. The illuminometer 4 outputs an analog signal obtained by the photoelectric conversion performed by the light receiving unit 2. This analog signal is input to the oscilloscope. Behind the liquid crystal display device 1, a backlight device 3 for emitting light for uniformly irradiating the liquid crystal display device 1 is arranged. Of course, in the flicker component measuring apparatus configured as described above, the illuminometer described in Japanese Patent Application Laid-open No. 5-323379 may be used instead of the illuminometer 4.

다음, 플리커성분의 검사공정을 설명한다 액정표시장치(1)가 ON 상태에 있는 동안, 조도계(4)의 수광부(2)는 액정표시화면에 대향하여 위치되며, 조도계(4)로부터 출력된 아날로그 신호의 파형이 제4도에 보진 바와 같이 오실로스코프 상에 표시된다. 파형이 오실로스코프 상에 표시되는 동안, 일정 주파수 성분으로부터의 편차가 아날로그 레벨로 검사된다.Next, a description will be given of an inspection process of the flicker component. While the liquid crystal display device 1 is in the ON state, the light receiving portion 2 of the illuminometer 4 is positioned opposite to the liquid crystal display screen, and the analog output from the illuminometer 4 is performed. The waveform of the signal is displayed on the oscilloscope as shown in FIG. While the waveform is displayed on the oscilloscope, the deviation from a constant frequency component is checked at the analog level.

현재, 검사자가 확대경 등을 통해 눈으로 조정을 관찰하는 검사방법을 사용하여 라인 플리커와 같은 편차가 조정된다.At present, deviations such as line flicker are adjusted using an inspection method in which the inspector observes the adjustment visually through a magnifying glass or the like.

상기와 같이, 종래의 플리커성분 측정장치를 사용하여 표시화면 상의 조도 변화를 측정하기 위해, 액정표시장치(1)는 ON 상태에 있고 조도계(4)의 수광부(2)는 표시화면에 대향하여 배치된다. 따라서, 측정된 조도변화에 대응하는 파형은 순수한 정현파가 아니고 제4도에 보인 바와 같이 각종 주파수의 정현파(고주파 노이즈 등)가 합성된 파형이다.As described above, in order to measure the change in illuminance on the display screen using a conventional flicker component measuring device, the liquid crystal display device 1 is in the ON state and the light receiving portion 2 of the illuminometer 4 is disposed opposite the display screen. do. Therefore, the waveform corresponding to the measured illuminance change is not a pure sinusoidal wave, but a sinusoidal wave (high frequency noise, etc.) of various frequencies as shown in FIG. 4.

따라서, 오실로스코프 상에 표시된 신호파형은 노이즈를 포함하여 판독이 어렵게 된다. 이와 같은 어려움으로 인해. 검사자에 의한 판독에러가 초래되어 검사자는 제품의 합격여부를 정확히 결정할 수 없다. 그 결과, 플리커성분에 대해 제품이 검사될 때, 검사에 필요한 시간 및 검사를 통과한 제품의 품질이 일정치 못하다.Therefore, the signal waveform displayed on the oscilloscope contains noise and becomes difficult to read. Due to such difficulties. An error of reading by the inspector is caused and the inspector cannot accurately determine whether the product is accepted or not. As a result, when the product is inspected for the flicker component, the time required for the inspection and the quality of the product that has passed the inspection are not constant.

상기 문제를 해결하니 위해, 아날로그 합성파형을 고속 푸리에 변환(FFT) 연산에 의해 처리하는 방법이 사용될 수 있다. 그러나, 범용 FFT 아날라이저는 고가이다. 특정 용도를 위해 FFT 아날라이저를 새로 개발하기 위해서는 A/D변환 및 GP-IB(외부장치에 대한 액세스용 프로그램)와 같은 소프트웨어를 개발하기 위한 많은 노력과 비용이 필요하다.In order to solve the above problem, a method of processing an analog synthesized waveform by a fast Fourier transform (FFT) operation may be used. However, general purpose FFT analyzers are expensive. Developing a new FFT analyzer for a specific application requires a lot of effort and expense to develop software such as A / D conversion and GP-IB (program for access to external devices).

FFT 연산이 사용되는 방법 이외에, 고차 필터링 프로세스를 사용하여 조도계로부터의 출력에 포함된 선택 주파수 성분을 간단히 취출할 수 있다. 그러나, 이 경우에는 조도계로부터 출력된 아날로그 신호의 A/D변환을 수행하여 얻어진 데이터는 디지털 필터에 의해 처리되어야 한다. 이 방법은 디지털 오실로스코프 등을 필요로 하여 플리커성분 측정장치의 개발에 상당한 비용이 추가된다.In addition to how FFT operations are used, a higher order filtering process may be used to simply extract the selected frequency components included in the output from the illuminometer. In this case, however, data obtained by performing A / D conversion of the analog signal output from the illuminometer must be processed by a digital filter. This method requires a digital oscilloscope or the like, which adds considerable cost to the development of the flicker component measuring device.

본 발명의 액정표시장치로부터 출력되는 신호에 포함된 플리커성분을 측정하기 위한 플리커성분 측정장치는 액정표시장치의 표시화면의 휘도를 아날로그 신호로 변환하기 위한 광전변환기, 선택된 주파수 성분을 갖는 신호를 출력하기 위해 아날로그 신호를 필터링하기 위한 필터: 및 상기 필터링된 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 신호 변환기를 포함한다.The flicker component measuring apparatus for measuring the flicker component included in the signal output from the liquid crystal display of the present invention outputs a photoelectric converter for converting the brightness of the display screen of the liquid crystal display into an analog signal and a signal having a selected frequency component. A filter for filtering the analog signal to: and a signal converter for converting the filtered signal into a digital signal.

본 발명의 1 실시예에 있어서, 상기 광전변환기는 표시화면에 대향하여 배치된 수광부를 포함하며, 이 광전변환 수단은 상기 아날로그 신호를 필터 수단에 출력한다.In one embodiment of the present invention, the photoelectric converter includes a light receiving unit arranged to face the display screen, and the photoelectric conversion means outputs the analog signal to the filter means.

본 발명의 1 실시예에 있어서, 상기 플리커성분 측정장치는 상기 아날로그 신호를 수신 및 증폭하여 그 증폭된 신호를 필터수단에 출력하기 위한 증폭기를 더 포함한다.In one embodiment of the present invention, the flicker component measuring apparatus further comprises an amplifier for receiving and amplifying the analog signal and outputting the amplified signal to the filter means.

본 발명의 1 실시예에 있어서, 상기 필터는 주파수 측정 장치로부터 출력된 신호에 기초하여, 상기 필터수단에 의해 필터링된 아날로그 신호의 주파수 대역폭을 변경시킬 수 있다.In one embodiment of the present invention, the filter may change the frequency bandwidth of the analog signal filtered by the filter means, based on the signal output from the frequency measuring device.

본 발명의 1 실시예에 있어서, 상기 신호변환기는; 상기 필터링된 신호를 이 필터링된 신호의 실효치에 대응하는 실효신호로 변환하기 위한 AC-DC 변환기; 및 상기 실효신호에 중첩되는 리플을 제거하기 위한 리플 제거기; 및 상기 리플 제거기로부터 출력되는 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A-D 변환기를 포함한다.In one embodiment of the present invention, the signal converter; An AC-DC converter for converting the filtered signal into an effective signal corresponding to the effective value of the filtered signal; And a ripple remover for removing a ripple overlapping the effective signal. And an A-D converter for converting the signal output from the ripple canceller into a digital signal.

본 발명의 1 실시예에 있어서, 상기 플리커성분 측정장치는 디지털 신호를 표시하기 위한 표시장치를 더 포함한다.In one embodiment of the present invention, the flicker component measuring device further includes a display device for displaying a digital signal.

본 발명에 의하면, 액정표시장치의 표시화면상의 휘도의 편차가 측정된다. 그로부터 얻어진 아날로그 신호로부터, 오직 선택된 주파수 성분만 측정결과로서 취출된다. 다음, 측정결과로서 취출된 주파수 성분은 디지털 신호로 변환된다. 그 결과, 소망 주파수의 신호에 포함된 플리커성분에 대한 디지털 측정이 행해질 수 있다. 상기 디지털 신호를 디지털로 표시함으로써 검사자에 의한 판독에러와 검사자의 합격/불합격 판정에 있어서의 혼미상태가 방지될 수 있다.According to the present invention, the deviation of the luminance on the display screen of the liquid crystal display device is measured. From the analog signal obtained therefrom, only selected frequency components are taken out as measurement results. Next, the frequency component extracted as a measurement result is converted into a digital signal. As a result, digital measurement on the flicker component included in the signal of the desired frequency can be performed. By displaying the digital signal digitally, a read error by the inspector and a confusion in the pass / fail decision of the inspector can be prevented.

액정표시장치의 표시화면상의 휘도의 편차가 측정될 때, 종래 장치에 사용되는 휘도계와 조도계를 사용할 수 있다.When the deviation of the luminance on the display screen of the liquid crystal display device is measured, the luminance meter and illuminometer used in the conventional apparatus can be used.

또한, 상기 조정에 의해 얻어진 아날로그 신호에서 지정 주파수만 취출된 다음, A-D변환이 행해진다. 따라서, 아날로그 합성파형에 대한 고속 푸리에 변환 연산을 행하기 위한 고가의 범용 FFT 아날라이저 등이 불필요하다. 또한, 선택된 주파수성분을 취출하기 위한 필터링공정에 대해서는, A-D 변환된 데이터에 대해 필터링 프로세스가 행해지는 경우에 필요한 디지털 필터를 사용하는 대신 필터링이 아날로그레벨로 행해질 수 있어 측정장치를 개발하기 위해 필요한 노력과 비용이 절감될 수 있다.Further, only the designated frequency is taken out from the analog signal obtained by the above adjustment, and then A-D conversion is performed. Therefore, an expensive general purpose FFT analyzer or the like for performing fast Fourier transform operation on the analog composite waveform is unnecessary. In addition, in the filtering process for extracting the selected frequency components, the filtering can be performed at the analog level instead of using the digital filter required when the filtering process is performed on the AD-converted data. And cost can be reduced.

따라서, 상기 본 발명은 종래 장치에 사용되는 계기들을 사용하여 플리커성분을 측정할 수 있는 플리커성분 측정장치를 제공함으로써, 검사자에 의한 판독에러와 검사자의 합격/불합격 판정에 있어서의 혼미상태가 방지될 수 있다. 또한, 플리커성분 측정장치의 개발에 필요한 노력과 비용이 절감될 수 있다.Accordingly, the present invention provides a flicker component measuring apparatus capable of measuring flicker components using instruments used in conventional apparatuses, whereby a read error by the inspector and a confusion in the pass / fail determination of the inspector can be prevented. Can be. In addition, the effort and cost required for the development of the flicker component measuring apparatus can be reduced.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1도는 본 발명에 의한 1 실시예의 플리커성분 측정장치의 구성을 도시한 블록도이다. 제5도는 제1도에 보인 플리커성분 측정장치의 플리커성분 검출기 구성을 보인 블록도이다.1 is a block diagram showing the configuration of a flicker component measuring apparatus according to an embodiment of the present invention. 5 is a block diagram showing the configuration of the flicker component detector of the flicker component measuring apparatus shown in FIG.

제1도에 있어서, 액정표시장치(액정표시패널)(1)로부터 출력되는 신호에 포함된 플리커성분을 측정하기 위한 플리커성분 측정장치(101)는 액정표시장치(1)의 표시화면의 근방에 배치된 수광부(2), 이 수광부(2)에 의해 행해지는 광전변환에 의해 얻어진 아날로그 신호에 기초하여 액정표시장치(1)의 표시화면의 조도를 측정하기 위한 조도계(4) 및 이 조도계(4)로부터 출력되는 아날로그 신호를 수신하여 액정표시장치(1)로부터 출력되는 신호에 포함된 플리커성분을 검출하기 위한 플리커성분 검출기(5)를 포함한다. 상기 플리커성분 측정장치(101)에는 액정표시장치(1)를 전기적으로 구동하기 위한 구동장치(도시하지 않음)가 제공된다. 상기 수광부(2)는 연장 케이블(2a)을 통해 조도계(4)에 접속된다. 액정표시장치(1)의 배후에는 이 액정표시장치(1)를 균일하게 조사하기 위한 광을 발하는 백라이트 장치(3)가 배치된다.In FIG. 1, the flicker component measuring device 101 for measuring the flicker component included in the signal output from the liquid crystal display device (liquid crystal display panel) 1 is located near the display screen of the liquid crystal display device 1. An illuminometer 4 for measuring the illuminance of the display screen of the liquid crystal display device 1 and the illuminometer 4 based on the arranged light receiving unit 2, an analog signal obtained by photoelectric conversion performed by the light receiving unit 2 And a flicker component detector (5) for receiving an analog signal outputted from the < RTI ID = 0.0 > 1 < / RTI > The flicker component measuring apparatus 101 is provided with a driving device (not shown) for electrically driving the liquid crystal display device 1. The light receiving portion 2 is connected to the illuminometer 4 via an extension cable 2a. Behind the liquid crystal display device 1, a backlight device 3 for emitting light for uniformly irradiating the liquid crystal display device 1 is arranged.

다음, 플리커성분 검출기(5)를 상세히 설명한다. 조도계(4)로부터 출력된 아날로그 신호에서 30Hz의 주파수 신호를 취출하기 위한 구성의 1예를 기술한다.Next, the flicker component detector 5 will be described in detail. An example of the configuration for extracting a frequency signal of 30 Hz from the analog signal output from the illuminometer 4 will be described.

제5도에 보인 플리커성분 검출기(5)를 그의 입력측에서부터 순차적으로 기술한다.The flicker component detector 5 shown in FIG. 5 is described sequentially from its input side.

수광부(2)로부터 조도계(4)를 통해 입력되는 아날로그 신호(AC 성분)는 저레벨이기 때문에, 액정표시장치와 같은 제품의 합/부 판정의 여부를 결정하기가 어렵다. 따라서, 플리커성분 검출기(5)의 초단에, 증폭기가 시그널 컨디셔너(7)로서 제공된다. 증폭기(7)의 게인은 10배로 설정된다. 따라서, 예컨대, 약 6mV의 신호가 증폭되어 60mV의 신호가 증폭기(7)에서 출력될 수 있다. 신호가 10배로 증폭되는 경우, 조도계(4)로부터 출력된 신호에 포함된 클럭 노이즈도 증폭된다. 후기하는 바와 같이 플리커성분 검출기(5)에 스위치드 커패시터 필터가 제공되는 경우에, 증폭기(7)의 최대 게인은 10배이다. 조도계(4)로부터 출력된 신호가 충분히 클 경우, 플리커성분 검출기(5)는 시그널 컨디셔너(7)를 구비할 필요가 없다.Since the analog signal (AC component) input from the light receiving unit 2 through the illuminometer 4 is at a low level, it is difficult to determine whether to sum / negative products such as a liquid crystal display device. Thus, at the first stage of the flicker component detector 5, an amplifier is provided as the signal conditioner 7. The gain of the amplifier 7 is set to 10 times. Thus, for example, a signal of about 6 mV can be amplified so that a signal of 60 mV can be output from the amplifier 7. When the signal is amplified 10 times, the clock noise contained in the signal output from the illuminometer 4 is also amplified. As described later, when the switched capacitor filter is provided to the flicker component detector 5, the maximum gain of the amplifier 7 is 10 times. If the signal output from the illuminometer 4 is sufficiently large, the flicker component detector 5 does not need to be provided with the signal conditioner 7.

다음, 1/3 OCT(octave의 약칭) 밴드패스 필터(8)의 구성을 설명한다. 제6도는1/3 OCT 밴드패스 필터(8)의 구성을 보인 블록도이다. 이 1/3 OCT 밴드패스 필터(8)는 증폭기(7)에서 출력되는 아날로그 신호로부터 지정된 주파수성분만 취출한다.Next, the configuration of the 1/3 OCT (abbreviated octave) bandpass filter 8 will be described. 6 is a block diagram showing the configuration of a 1/3 OCT bandpass filter 8. FIG. The 1/3 OCT band pass filter 8 extracts only a specified frequency component from the analog signal output from the amplifier 7.

밴드패스 필터는 능동 필터로 형성될 수 있으나, 높은 Q치를 갖는 필터는 차수가 높아, Q치가 높은 필터를 제공하기 위해서는 고정밀도의 커패시터와 저항이 필요하다. 본 발명의 1 실시예에 있어서, 상기 밴드패스 필터(8)에 스위치드 커패시터 필터(이하, SCF라 함)(14)가 사용된다.The bandpass filter may be formed as an active filter, but a filter having a high Q value has a high order, and a high precision capacitor and a resistor are required to provide a filter having a high Q value. In one embodiment of the invention, a switched capacitor filter (hereinafter referred to as SCF) 14 is used for the bandpass filter 8.

상기 SCF(14)는 다수의 커패시터 및 다수의 저항기를 포함한다. 일반적으로, 필터를 통과하는 신호와 주파수 대역은 상기 커패시터 및 저항기의 조합에 따라 변할 수 있다. 이 SCF(14)는 IC로 실현될 수 있다. 예컨대, 하나의 기판에 다수의 커패시터가 형성되며, 커패시터의 용량은 변화되지 않는다. 상기 SCF(14)를 통과하는 신호의 중심 주파수는 저항기의 저항을 변경시켜 변화된다.The SCF 14 includes a plurality of capacitors and a plurality of resistors. In general, the signal and frequency bands that pass through the filter may vary depending on the combination of capacitor and resistor. This SCF 14 can be realized with an IC. For example, a plurality of capacitors are formed in one substrate, and the capacitance of the capacitors does not change. The center frequency of the signal passing through the SCF 14 is changed by changing the resistance of the resistor.

제11a도는 SCF(14)의 등가회로도이다. 제11a도에 보인 저항기의 저항은 클럭발생기(16)에 의해 발생된 클럭신호에 따라 제어된다. 클럭신호의 주파수는 주파수측정장치(13)로부터 출력된 지시에 따라 결정된다. 제11b도에 보인 바와 같이, 저항기의 저항은 클럭 발생기(16)로부터 출력된 클럭신호에 따라 스위치(SW)를 ON/OFF시켜 도통될 수 있다. 이에 따라, SCF(14)를 통과하는 신호의 주파수 대역은 고정밀도로 변화될 수 있다.11A is an equivalent circuit diagram of the SCF 14. The resistance of the resistor shown in FIG. 11A is controlled in accordance with the clock signal generated by the clock generator 16. The frequency of the clock signal is determined in accordance with the instruction output from the frequency measuring device 13. As shown in FIG. 11B, the resistance of the resistor can be conducted by turning the switch SW ON / OFF in accordance with the clock signal output from the clock generator 16. FIG. Accordingly, the frequency band of the signal passing through the SCF 14 can be changed with high precision.

따라서, 상기한 밴드패스 필터를 사용함으로써, 어떤 주파수 성분도 취출될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 플리커성분 측정장치에 있어서는 밴드폭과 중심주파수를 정확히 조정하기 위해 조정이 행해지기 전에 SCF(14)의 특성이 측정되며, 클럭신호의 주파수가 측정된 특성에 따라 각 플리커성분 측정장치에 대해 클럭신호의 주파수가 결정된다.Therefore, by using the bandpass filter described above, any frequency component can be taken out. Further, in the flicker component measuring apparatus according to the present invention, the characteristics of the SCF 14 are measured before the adjustment is made to accurately adjust the bandwidth and the center frequency, and each flicker component is measured according to the characteristic of the clock signal frequency measured. The frequency of the clock signal is determined for the measuring device.

상기 SCF(14)에서 출력된 신호는 스위치(SW)에 의해 샘플링된 파형을 갖는다. 이 샘플링된 신호는 스위칭 노이즈를 갖는다. 로패스 필터(15)는 상기 SCF(14)에서 출력된 신호에 중첩된 스위칭 노이즈를 제거한다. 상기 SCF(14)에서 출력된 신호가 고주파 성분을 거의 포함하지 않는 경우, 1/3 밴드패스 필터(8)는 로패스 필터(15)를 필요로 하지 않는다. 상기 SCF(14)의 특성을 유지하기 위해, 클럭신호가 주파수카운터(주파수 측정장치)(13)에 의해 카운트되어 1/3 밴드패스 필터(8)를 제어한다.The signal output from the SCF 14 has a waveform sampled by the switch SW. This sampled signal has switching noise. The low pass filter 15 removes switching noise superimposed on the signal output from the SCF 14. When the signal output from the SCF 14 contains almost no high frequency components, the 1/3 band pass filter 8 does not need the low pass filter 15. In order to maintain the characteristics of the SCF 14, a clock signal is counted by a frequency counter (frequency measuring device) 13 to control the 1/3 band pass filter 8.

상기 주파수 카운터가 플리커성분 측정장치에 포함되는 경우, 클럭신호는 플리커성분 측정장치에서 카운트될 수 있다. 따라서, 주파수 카운터와 같은 외부 측정장치가 불필요하게 된다.When the frequency counter is included in the flicker component measuring apparatus, the clock signal may be counted in the flicker component measuring apparatus. Thus, an external measuring device such as a frequency counter is unnecessary.

다음, AC/DC 변환기(9)와 리플 제거 필터(10)를 설명한다. AC/DC 변환기(9)는 밴드패스필터의 출력단자에 연결되고, 리플 제거 필터(10)는 AC/DC 변환기(9)의 출력단자에 연결된다. 상기 밴드패스 필터(8)는 필터링에 의해 조도계(4)에서 출력된 아날로그 신호로부터 30Hz의 주파수 신호를 취출한다. 상기 AC/DC 변환기(9)는 30Hz의 주파수의 신호를 수신하며, 또한 그 신호를 진의 실효치인 직류 레벨의 아날로그 신호로 변환한다. 리플 제거 필터(10)는 AC/DC 변환기(9)에 의해 얻어진 신호로부터 30Hz의 주파수의 리플을 제거하여, A/D 변환기(11)의 입력되는 신호의 변동을 제거한다. 그러나, 리플 제거 필터(10)는 필터(10)를 포함하는 회로의 응답속도가 느리게 되는 결점이 있다. 본 실시예에서는 리플 제거 필터가 사용되기 때문에, 응답속도는 1초 이하로 단축될 수 있다. 리플 제거 필터가 사용되지 않는 경우, 응답속도는 1초 이하로 될 수 있다(도시하지 않음).Next, the AC / DC converter 9 and the ripple cancellation filter 10 will be described. The AC / DC converter 9 is connected to the output terminal of the band pass filter, and the ripple cancellation filter 10 is connected to the output terminal of the AC / DC converter 9. The bandpass filter 8 extracts a frequency signal of 30 Hz from the analog signal output from the illuminometer 4 by filtering. The AC / DC converter 9 receives a signal having a frequency of 30 Hz, and converts the signal into an analog signal of DC level, which is an effective value of a binary. The ripple cancellation filter 10 removes the ripple of the frequency of 30 Hz from the signal obtained by the AC / DC converter 9, and removes the fluctuation of the input signal of the A / D converter 11. However, the ripple cancellation filter 10 has a drawback that the response speed of the circuit including the filter 10 becomes slow. Since the ripple cancellation filter is used in this embodiment, the response speed can be shortened to 1 second or less. When the ripple cancellation filter is not used, the response speed can be 1 second or less (not shown).

다음, A/D 변환기(11)를 설명한다.Next, the A / D converter 11 will be described.

제7도는 A/B 변환기(11)의 회로 구성도이다. A/D 변환기(11)는 리플 제거 필터(10)로부터 출력되는 아날로그 신호를 디지털 치로 변환하며, 이 디지털 치는 LED 표시장치(12)에 의해 표시된다. 상기 A/D 변환기(11)는 리플 제거 필터(10)에서 출력되는 아날로그 신호를 적분하는 적분기(21), 상기 리플 제거 필터(10)에서 출력되는 아날로그 신호의 레벨을 접지 레벨과 비교하기 위한 제1비교기(22a), 및 상기 적분기(21)에서 출력되는 신호의 레벨을 전압 Vc의 레벨과 비교하기 위한 제2비교기(22b)를 포함한다. 상기 적분기(21)에 포함된 비교기(21a)의 입력단자들의 하나는 V1 입력단자(17)에 접속되며, 이 입력단자는 저항치 R1을 갖는 적분저항기(19) 및 스위치(25a)를 통해 상기 리플 제거 필터(10)에서 출력되는 아날로그 신호를 수신한다. 제1 및 제2기준전압을 수신하기 위한 VR1 입력단자(18a) 및 VR2 입력단자(18b)는 스위치(25b,25c)를 통해 적분 저항기(19)의 한 단자에 각각 접속된다.7 is a circuit configuration diagram of the A / B converter 11. The A / D converter 11 converts the analog signal output from the ripple cancellation filter 10 into a digital value, which is displayed by the LED display device 12. The A / D converter 11 is an integrator 21 for integrating the analog signal output from the ripple cancellation filter 10, and a second for comparing the level of the analog signal output from the ripple cancellation filter 10 with a ground level. A first comparator 22a and a second comparator 22b for comparing the level of the signal output from the integrator 21 with the level of the voltage Vc. One of the input terminals of the comparator 21a included in the integrator 21 is connected to the V1 input terminal 17, which is connected via an integrating resistor 19 having a resistance value R1 and a switch 25a. An analog signal output from the cancellation filter 10 is received. The VR1 input terminal 18a and the VR2 input terminal 18b for receiving the first and second reference voltages are connected to one terminal of the integrating resistor 19 via switches 25b and 25c, respectively.

상기 비교기(21a)의 입력단자 중 하나와 출력단자간에는 용량 C2를 갖는 적분 커패시터(20b)가 접속되어 있다. 용량 C1을 갖는 적분 커패시터(20a) 및 제2적분스위치(26b)가 적분 커패시터(20b)와 병별로 접속되어 있다. 제1적분 스위치(26a)는 적분 커패시터(20a)와 제2적분 스위치(26b)의 접속점과 접지 사이에 접속된다. 상기 스위치(25a 내지 25c)와 적분기(21)는 클럭 오실레이터(24a)로부터 보내진 클럭 펄스에 의해 구동되는 A/D 콘트롤 LSI(23)에 의해 제어된다. 제1비교기(22a)와 제2비교기(22b)의 출력들은 상기 A/D 콘트롤 LSI(23)에 의해 처리된다.An integral capacitor 20b having a capacitor C2 is connected between one of the input terminals of the comparator 21a and the output terminal. The integrating capacitor 20a and the second integrating switch 26b each having a capacitor C1 are connected to the integrating capacitor 20b on a bottle-by-bottle basis. The first integrating switch 26a is connected between the connection point of the integrating capacitor 20a and the second integrating switch 26b and ground. The switches 25a to 25c and the integrator 21 are controlled by an A / D control LSI 23 driven by a clock pulse sent from the clock oscillator 24a. The outputs of the first comparator 22a and the second comparator 22b are processed by the A / D control LSI 23.

상기와 같이 구성된 A/D 변환기(11)는 다음과 같이 동작한다. 상기 적분 커패시터(20a,20b)에 의해 입력전압(V1)이 소정 기간 적분된 후, 이 입력전압(V1)과 역 극성의 제1기준전압(VR1)이 적분된다. 상기 적분기(21)에서 출력된 신호가 적정레벨로 감소된 후, 상기 제1적분 커패시터(20a)와 전하는 상기 적분 스위치(26a,26b)의 개폐에 의해 제2적분 커패시터(20b)로 전송된다. 그 결과, 적분기(21)에서 출력되는 신호가 (Cl+C2)/C2배로 크게 증대된다.The A / D converter 11 configured as described above operates as follows. After the input voltage V1 is integrated for a predetermined period by the integrating capacitors 20a and 20b, the input voltage V1 and the first reference voltage VR1 of reverse polarity are integrated. After the signal output from the integrator 21 is reduced to an appropriate level, the first integrating capacitor 20a and the electric charge are transmitted to the second integrating capacitor 20b by opening and closing the integrating switches 26a and 26b. As a result, the signal output from the integrator 21 is greatly increased by (Cl + C2) / C2 times.

상기 스위치(26a,26b)의 동작을 이하에 설명한다. 상기 적분 커패시터(20a,20b)에 의해 입력전압이 적분되며, 이 경우, 스위치 26a는 OFF되고, 스위치26b는 ON된다. 다음, 스위치 26a가 ON되고, 스위치 26b는 OFF된다. 그 결과, 커패시터(20a)의 전하가 커패시터(20b)로 전송된다. 커패시터(20b)의 용량 C2가 커패시터(20a)의 용량 C1보다 작으면, 전압은 V=Q/C의 관계에 따라 비례하여 증가되며; 예컨대, 용량 C2가 용량 C1의 1/10이면, 전압은 10배로 증대된다. 따라서, 적분기(21)에서 출력되는 신호가 증가한다. 이와 같이, 스위치(26a,26b)를 개폐시킴으로써, 전하의 전송이 종료된다.The operation of the switches 26a and 26b will be described below. The input voltage is integrated by the integrating capacitors 20a and 20b, in which case the switch 26a is turned off and the switch 26b is turned on. Next, switch 26a is turned on, and switch 26b is turned off. As a result, the charge of the capacitor 20a is transferred to the capacitor 20b. If the capacitor C2 of the capacitor 20b is smaller than the capacitor C1 of the capacitor 20a, the voltage is increased proportionally according to the relationship of V = Q / C; For example, if the capacitor C2 is 1/10 of the capacitor C1, the voltage is increased by 10 times. Therefore, the signal output from the integrator 21 increases. In this way, the opening and closing of the switches 26a and 26b terminate the transfer of electric charges.

전하의 전송이 종료되면, 적분 스위치(26a,26b)는 개방되어 제1적분 커패시터(20a)를 차단시킨다. 다음, 제2기준전압(VR2)이 적분된다. 상기 A/D 콘트롤 LSI(23)는 적분기(21)로부터 출력된 신호가 초기 레벨, 예컨대 제8도에 보인 바와 같은 레벨(500)에 달했는지를 검출한다. 적분기(21)로부터 출력된 신호가 초기 레벨, 예컨대 레벨 500에 달하면, A/D 변환이 종료된다.When the transfer of charge is completed, the integration switches 26a and 26b open to cut off the first integration capacitor 20a. Next, the second reference voltage VR2 is integrated. The A / D control LSI 23 detects whether the signal output from the integrator 21 has reached an initial level, for example, the level 500 as shown in FIG. When the signal output from the integrator 21 reaches an initial level, for example, level 500, A / D conversion is terminated.

제8도는 적분기(21)로부터 출력된 신호의 동작 파형을 나타낸다. 입력전압(V1)의 적분기간을 T1, 제1기준전압(VR1)의 적분기간을 TR1, 제2기준전압(VR2)의 적분기간을 TR2, 적분저항을 R1이하 하면, 기간 T1에 적분 커패시터(Cl+C2)에 축적된 전하량 Q는 다음 식으로 표시된다.8 shows the operation waveform of the signal output from the integrator 21. FIG. When the integral period of the input voltage V1 is T1, the integral period of the first reference voltage VR1 is TR1, the integral period of the second reference voltage VR2 is TR2, and the integral resistance is R1 or less, the integral capacitor ( The amount of charge Q accumulated in Cl + C2) is expressed by the following equation.

Q=(V1/R1)T1....(1)Q = (V1 / R1) T1 .... (1)

기간 TR1에 방출된 전하량 Q1은 다음 식으로 표시된다.The amount of charge Q1 released in the period TR1 is expressed by the following equation.

Q1=(VR1/R1)TR1....(2)Q1 = (VR1 / R1) TR1 .... (2)

기간 TR2에 방출된 전하량 Q2는 다음 식으로 표시된다.The amount of charge Q2 released in the period TR2 is expressed by the following equation.

Q2=(VR2/R1)TR2....(3)Q2 = (VR2 / R1) TR2 .... (3)

Q=Q1+Q2이기 때문에, V1은 다음 식으로 표시될 수 있다.Since Q = Q1 + Q2, V1 can be represented by the following equation.

V1=-((VR1·TR1+VR2·TR2)/T1)....(4)V1 =-((VR1TR1 + VR2TR2) / T1) .... (4)

입력전압은 기간 TR1과 TR2 동안 클럭 오실레이터(24a)에 의해 발생된 클럭펄스를 계산하고, 계산에 의해 얻어진 값 TR1+TR2와 기준전압의 웨이트 VR1과 VR2를 각각 곱함으로써 식 (4)에 의해 얻어질 수 있다.The input voltage is obtained by equation (4) by calculating the clock pulse generated by the clock oscillator 24a during the periods TR1 and TR2, and multiplying the value TR1 + TR2 obtained by the calculation with the weights VR1 and VR2 of the reference voltage, respectively. Can lose.

원리적으로, 적분기간 TR1은 비교기의 특성에 의존하지 않기 때문에, 값 V1은 충분한 속도로 얻어질 수 있다. 또한, 적분기간 TR2에 있어서, 적분기(21)에서 출력되는 신호는 (C1+C2)/C2배로 크게 확대된다. 그 결과, 입력전압은 고정확도로 쉽게 검출될 수 있다.In principle, since the integral period TR1 does not depend on the characteristics of the comparator, the value V1 can be obtained at a sufficient speed. Further, in the integration period TR2, the signal output from the integrator 21 is greatly expanded to (C1 + C2) / C2 times. As a result, the input voltage can be easily detected with high accuracy.

다음, 본 발명에 의한 플리커성분 측정장치의 동작을 설명한다. 플리커성분 검출기(5)의 밴드패스 필터(8)의 중심 주파수는 클럭 발생기(16)에 의해 발생된 클럭신호에 의해 결정되어, 측정될 플리커성분의 주파수를 결정한다. 다음, 액정표시장치(1)가 구동되며, 백라이트 장치(3)가 ON된다. 이에 따라, 표시상태에서 액정표시장치로부터 출력되는 신호에 포함된 플리커성분이 측정된다.Next, the operation of the flicker component measuring apparatus according to the present invention will be described. The center frequency of the bandpass filter 8 of the flicker component detector 5 is determined by the clock signal generated by the clock generator 16 to determine the frequency of the flicker component to be measured. Next, the liquid crystal display device 1 is driven, and the backlight device 3 is turned on. Accordingly, the flicker component included in the signal output from the liquid crystal display in the display state is measured.

이때, 액정표시장치(1)의 표시화면으로부터 수광부(2)에 광이 입사되어, 수광부(2)에 의해 아날로그 신호로 광전변환된다. 다음, 플리커성분 검출기(5)에 전송될 조도계(4)로부터 상기 아날로그 신호가 출력된다. 조도계(4)에서 플리커성분 검출기(5)에 입력된 아날로그 신호는 시그널 컨디셔너(7)에 의해 소정 증폭율로 증폭된 다음, 밴드패스 필터(8)에 입력된다. 이 밴드패스 필터(8)에 의해, 소정 주파수 성분만 아날로그 신호에서 취출된다. 상기 밴드패스 필터(8)로부터 출력된 교류 신호는 AC/DC 변환기(9)에 의해 진의 실효치(직류신호)인 직류레벨을 갖는 신호로 변환된다. 다음, 직류신호에 중첩된 일정 주파수의 리플 성분은 리플 제거 필터(10)에 의해 제거된다.At this time, light is incident on the light receiving portion 2 from the display screen of the liquid crystal display device 1 and photoelectrically converted into an analog signal by the light receiving portion 2. The analog signal is then output from the illuminometer 4 to be transmitted to the flicker component detector 5. The analog signal input from the illuminometer 4 to the flicker component detector 5 is amplified by the signal conditioner 7 at a predetermined amplification factor and then input to the bandpass filter 8. The band pass filter 8 extracts only a predetermined frequency component from the analog signal. The AC signal output from the band pass filter 8 is converted into a signal having a DC level which is an effective value (direct current signal) of the jeans by the AC / DC converter 9. Next, the ripple component of the constant frequency superimposed on the DC signal is removed by the ripple cancellation filter 10.

A/D 변환기(11)는 리플 제거 필터(10)로부터 출력된 신호의 A/D변환을 행하고, 이에 따른 디지털 신호를 LED 표시장치(12)에 출력한다 그 결과, 플리커성분의 값이 LED 표시장치(12)에 디지털로 표시된다. 상기 1/3 OCT 밴드패스 필터(8)로부터 출력된 신호는 AC/DC 변환기(9), 리플 제거 필터(10) 및 A/D 변환기(11)를 통해 LED 표시장치(12)에 표시된다.The A / D converter 11 performs A / D conversion of the signal output from the ripple cancellation filter 10, and outputs the digital signal according to the LED display device 12 as a result. Displayed digitally on device 12. The signal output from the 1/3 OCT bandpass filter 8 is displayed on the LED display 12 through the AC / DC converter 9, the ripple cancellation filter 10, and the A / D converter 11.

일반적으로, NTSC 방식의 플리커가 측정되는 경우, 상기 1/3 OCT 밴드패스 필터(8)로부터 출력된 신호와 중심 주파수는 30Hz로 선택된다. 다른 예들은 다음과 같다; 대향전압이 조정되는 경우, 중심 주파수는 수평기간을 갖는 주파수로 선택된다. 영상신호의 전압의 DC 성분이 조정되는 경우, 중심 주파수는 수직기간을 갖는 주파수로 선택된다. PAL 방식의 플리커가 측정되는 경우, 중심 주파수는 25Hz로 선택된다. 상기 경우에서, 1/3 OCT 밴드패스 필터(8)는 임의의 주파수 성분을 선택할 수 있다. 따라서, 조도계(4)로부터 출력된 신호에 포함된 노이즈 성분은 1/3 OCT 밴드패스 필터(8)에 의해 커트될 수 있다.In general, when the flicker of the NTSC system is measured, the signal and center frequency output from the 1/3 OCT bandpass filter 8 are selected to be 30 Hz. Other examples are as follows; When the opposing voltage is adjusted, the center frequency is selected as the frequency having a horizontal period. When the DC component of the voltage of the video signal is adjusted, the center frequency is selected as the frequency having the vertical period. When flicker of the PAL method is measured, the center frequency is selected to 25 Hz. In this case, the 1/3 OCT bandpass filter 8 can select any frequency component. Therefore, the noise component included in the signal output from the illuminometer 4 can be cut by the 1/3 OCT bandpass filter 8.

다음, 얻어진 데이터에 대해 본 발명의 플리커성분 측정장치와 종래 장치와 비교를 행한다.Next, the flicker component measuring apparatus and the conventional apparatus of the present invention are compared with the obtained data.

제9도는 플리커성분 측정장치의 특성을 보인 그래프이다. 예컨대, 아날로그 측정(종래 장치)과 디지털 측정(본 발명의 실시예)간의 관계를 보면, 아날로그 측정에 의해 얻어진 값은 20mV인 반면, 디지털 측정에 의해 얻어진 값은 10이다. 따라서, 조정 레벨은 10으로 설정될 수 있다. 제10도는 온도와 플리커성분간의 특성을 보인 그래프이다. 종래에는, 패널의 표면에 60℃의 온도로 아날로그 측정에 의해 검사가 행해진다. 디지털 측정에 의해 얻어진 값은 30℃의 온도에서 70℃의 온도로 직선적으로 변한다. 따라서, 본 발명의 디지털 측정에 있어서, 상온(25℃)에서 검사가 행해질 때, 판정레벨은 최소 디지털 표시치를 1.7로 설정하여 양품, 불량품의 선별을 행할 수 있다.9 is a graph showing the characteristics of the flicker component measuring apparatus. For example, looking at the relationship between analog measurement (prior device) and digital measurement (an embodiment of the present invention), the value obtained by analog measurement is 20 mV, while the value obtained by digital measurement is 10. Thus, the adjustment level can be set to ten. 10 is a graph showing the characteristics between the temperature and the flicker component. Conventionally, inspection is performed on the surface of a panel by the analog measurement at the temperature of 60 degreeC. The value obtained by digital measurement varies linearly from a temperature of 30 ° C. to a temperature of 70 ° C. Therefore, in the digital measurement of this invention, when inspection is performed at normal temperature (25 degreeC), the judgment level can set the minimum digital display value at 1.7, and can select good or bad goods.

제9도 및 10도에 있어서, 도면 부호 24는 측정 모듈(시리얼 NO. ER45301-009)이고 부호 25는 측정 모듈(시리얼 NO. ER45047-054)이다.9 and 10, reference numeral 24 denotes a measurement module (serial NO.ER45301-009) and reference numeral 25 denotes a measurement module (serial NO.ER45047-054).

상기한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 필요한 주파수의 플리커레벨이 증폭기(7) 및 밴드패스 필터(8)에 의해 아날로그 레벨로 처리된 다음, 표시될 디지털 치로 변환된다. 종래, 아날로그 치는 상기 장치를 사용하여 얻어지며, 그에 따라 얻어진 아날로그 치에 기초하여 검사를 행한다. 따라서, 검사기준이 시각적으로 애매하여 측정에러나 합격/불합격 판정이 애매한 결과를 초래한다. 측정치를 디지털 함으로써, 이러한 문제가 해소될 수 있다. 그 결과, 검사 및 측정에 필요한 시간이 단축되고, 검사가 정확히 행해질 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 플리커성분 측정장치와 퍼스널컴퓨터 등을 조합함으로써, 검사가 자동적으로 행해질 수 있다. 측정치를 디지털화함으로써, 디지털 멀티미터를 베이스로 표시장치가 구성될 수 있다.As described above, according to the present invention, the flicker level of the required frequency is processed to the analog level by the amplifier 7 and the bandpass filter 8, and then converted into a digital value to be displayed. Conventionally, analog values are obtained using the above apparatus, and inspection is performed based on the analog values thus obtained. Therefore, the inspection criteria are visually ambiguous, resulting in an ambiguous measurement error or pass / fail determination. By digitalizing the measurement, this problem can be solved. As a result, the time required for inspection and measurement can be shortened, and inspection can be performed accurately. Further, by combining the flicker component measuring apparatus according to the present invention with a personal computer or the like, the inspection can be automatically performed. By digitizing the measurement, a display device can be constructed based on the digital multimeter.

검사를 행할 때, 종래 액정표시장치에 대한 플리커의 검사 및 대향전압의 측정을 위해 사용되는 조도계 및 휘도계가 디지털 측정을 위해 사용될 수 있다. 따라서, 대폭적인 설비의 개선도 불필요하다. 이러한 이유로 검사에 필요한 시간과 비용이 감소될 수 있다.When performing the inspection, an illuminometer and a luminance meter used for the inspection of the flicker and the measurement of the counter voltage for the conventional liquid crystal display device can be used for the digital measurement. Therefore, a significant improvement of equipment is not necessary. For this reason, the time and cost required for inspection can be reduced.

종래, 양품과 불량품의 기준이 결정될 때, 최소 통과 품질을 보인 샘플이 통과기준으로 채용되었다. 이러한 기준으로는 합/부 판정을 내리기가 어렵다 플리커성분의 측정치를 디지털화함으로써, 합/부 단정의 기준이 용이하게 결정되어, 품질이 균일하게 된다.In the past, when criteria for good and defective products were determined, a sample showing the minimum pass quality was employed as the pass criterion. It is difficult to make a sum / negative determination with such a criterion. By digitizing the measured value of the flicker component, the criteria for sum / negative determination are easily determined, and the quality is uniform.

상기한 바와 같이, 본 발명에 의한 플리커성분 측정장치에 있어서는 액정표시패널의 휘도 변화를 측정함으로써 얻어진 아날로그 신호로부터 소정 주파수 성분만 취출된다. 다음, 측정결과로서 취출된 주파수 성분은 디지털 신호로 변환되어 필요한 주파수의 플리커 성분이 디지털로 측정될 수 있다. 그 결과, 디지털 신호가 디지털로 표시되며, 이에 따라 검사자에 의한 판독 에러나 검사자의 합/부 판정의 애매함을 방지할 수 있다.As described above, in the flicker component measuring apparatus according to the present invention, only a predetermined frequency component is taken out from the analog signal obtained by measuring the luminance change of the liquid crystal display panel. Next, the frequency component extracted as a measurement result is converted into a digital signal so that the flicker component of the required frequency can be measured digitally. As a result, the digital signal is displayed digitally, whereby the read error by the inspector and the ambiguity of the sum / sub decision of the inspector can be prevented.

또한, 액정표시패널의 휘도 변동이 측정될 때, 종래 장치에 사용되는 휘도계 및 조도계가 사용될 수 있다. 또한, 측정에 의해 얻어진 아날로그 신호로부터 지정된 주파수 성분만 취출되며, 그에 대해 A/D 변환이 행해진다. 따라서, 아날로그 합성파형에 대해 고속 푸리에 변환 연산을 행하기 위한 고가의 범용 FFT 아날라이저가 불필요하게 된다. 선택된 주파수 성분을 취출하기 위한 필터링 과정에 있어서는; 필터링 과정이 A-D 변환된 데이터에 대해 행해지는 경우에 필요한 디지털 필터를 사용하는 대신에, 필터링이 아날로그 레벨로 행해질 수 있다. 그 결과, 측정장치의 개발에 필요한 노력과 비용이 절감될 수 있다.In addition, when the luminance variation of the liquid crystal display panel is measured, the luminance meter and illuminometer used in the conventional apparatus can be used. In addition, only a specified frequency component is extracted from the analog signal obtained by the measurement, and A / D conversion is performed therefor. Therefore, an expensive general purpose FFT analyzer for performing a fast Fourier transform operation on the analog composite waveform becomes unnecessary. In the filtering process for extracting the selected frequency component, Instead of using the digital filter required when the filtering process is done on A-D converted data, the filtering can be done at the analog level. As a result, the effort and cost required for the development of the measuring device can be reduced.

당해 분야의 기술에 숙달된 자라면 본 발명의 범위 및 정신에서 벗어나지 않고 여러 가지 수정이 가능할 것이다. 따라서, 첨부한 특허청구범위는 전술한 설명에 제한되지 않으며 넓게 해석되어야 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various modifications may be made without departing from the scope and spirit of the invention. Accordingly, the appended claims should not be limited to the foregoing description but should be construed broadly.

Claims (6)

액정표시장치의 선택된 주파수의 플리커성분을 측정하기 위한 플리커성분 측정장치로서, 액정표시장치의 표시화면의 휘도를 아날로그 신호로 변환하기 위한 광전변환 수단; 선택된 주파수 성분을 갖는 필터링된 신호를 출력하기 위해 상기 아날로그 신호를 필터링차기 위한 필터 수단; 및 상기 필터링된 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 신호 변환 수단을 포함하는 플리커성분 측정장치.A flicker component measuring apparatus for measuring a flicker component of a selected frequency of a liquid crystal display, comprising: photoelectric conversion means for converting brightness of a display screen of the liquid crystal display into an analog signal; Filter means for filtering the analog signal to output a filtered signal having a selected frequency component; And signal conversion means for converting the filtered signal into a digital signal. 제1항에 있어서, 상기 광전변환 수단은 표시화면에 대향하여 배치된 수광부를 포함하며, 이 광전변환 수단은 상기 아날로그 신호를 필터 수단에 출력하는 플리커성분 측정장치.The flicker component measuring apparatus according to claim 1, wherein the photoelectric conversion means includes a light receiving portion arranged to face the display screen, and the photoelectric conversion means outputs the analog signal to the filter means. 제1항에 있어서, 상기 아날로그 신호를 수신 및 증폭하여 그 증폭된 신호를 필터수단에 출력하기 위한 증폭 수단을 더 포함하는 플리커성분 측정장치.The apparatus of claim 1, further comprising amplifying means for receiving and amplifying the analog signal and outputting the amplified signal to a filter means. 제1항에 있어서, 상기 필터 수단은 이 필터수단에 의해 필터링될 아날로그 신호의 주파수 대역폭을 변경시킬 수 있는 플리커성분 측정장치.2. An apparatus according to claim 1, wherein said filter means is capable of changing the frequency bandwidth of an analog signal to be filtered by said filter means. 제1항에 있어서, 상기 신호변환 수단은; 상기 필터링된 신호를 이 필터링된 신호의 실효치에 대응하는 실효신호로 변환하기 위한 AC-DC 변환기; 상기 실효신호에 중첩되는 리플을 제거하기 위한 리플 제거기; 및 상기 리플 제거기로부터 출력되는 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A-D 변환기를 포함하는 플리커성분 측정장치.2. The apparatus of claim 1, wherein the signal conversion means; An AC-DC converter for converting the filtered signal into an effective signal corresponding to the effective value of the filtered signal; A ripple remover for removing a ripple overlapping the effective signal; And an A-D converter for converting the signal output from the ripple canceller into a digital signal. 제1항에 있어서, 디지털 신호를 표시하기 위한 표시수단을 더 포함하는 플리커성 분 측정장치.2. An apparatus for measuring flicker component according to claim 1, further comprising display means for displaying a digital signal.
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