KR0161246B1 - Correct shedding method by using average of charge coupled device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 화이트 레퍼런스 띠의 서로 다른 영역을 3번 스캐닝하여 평균값으로 화이트 쉐딩을 보정하는 방법에 관한 것으로, 소정수로 나뉘어진 레퍼런스 띠의 화이트 영역을 순차적으로 스캐닝하여 보정용 데이타 값을 얻되, 상기 각각의 화이트 영역 데이타 값이 화이트 한계값 이하인가를 판단하는 단계(21:22); 상기 단계후 화이트 한계 값보다 적은 값이 산출되면, 그때의 화이트 영역은 오염되었음을 판단하여 버리고, 다음 화이트 영역으로 계속 증가하여 스캐닝한 각각의 데이타 값이 오염되었는지를 판단하되, 상기 각각의 화이트 영역이 화이트 한계 값보다 적은 값으로 전부 산출되면, 그때의 화이트 영역은 쉐딩보정에 문제가 있음을 인지하는 단계(23 내지 25); 상기 스캐닝한 각 화이트 영역의 데이타값중 화이트 한계 값보다 큰 값이 산출되면, 오염되지 않았음을 인지하고, 계속하여 화이트 영역을 증가시키면서 오염이 안된 화이트 영역의 스캔 데이타값을 전하 결합소자의 화소값에 더하여 저장하는 단계(26, 27); 상기 단계 수행후 오염이 안된 화이트영역과 오염된 화이트영역을 더한 것이 소정수로 나눈 영역수보다 초과했는지를 판단하여 초과하였으면, 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 평균값을 구하고, 초과하지 않았으면 나머지 화이트 영역을 계속하여 스캐닝하는 단계(28,29); 및 상기 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 산출한 평균값을 화이트 쉐딩값으로 저장하되, 이 값을 기준으로 쉐딩을 보정하는 단계(30)를 제공한다.The present invention relates to a method of correcting white shedding with an average value by scanning three different regions of a white reference strip three times, and sequentially scanning white regions of a reference band divided by a predetermined number to obtain correction data values. Judging whether the white area data value of is equal to or less than the white threshold value (21:22); When the value less than the white limit value is calculated after the step, it is determined that the white area at that time is contaminated, and it continues to increase to the next white area to determine whether each of the scanned data values is contaminated. Recognizing that the white area at that time is problematic for shedding correction once it is calculated to be less than the white limit value (23-25); If a value larger than the white limit value is calculated among the data values of each of the scanned white regions, the controller recognizes that it is not contaminated and continuously scans the scan data value of the uncontaminated white region while increasing the white region. Storing (26, 27) in addition to the value; After performing the above steps, it is determined whether the addition of the non-contaminated white region and the contaminated white region exceeds the number divided by the predetermined number. Continuing scanning (28,29) the remaining white area if not exceeded; And storing a mean value calculated by dividing the stored pixel value of the charge coupled device by the number of uncontaminated regions as a white shedding value, and correcting shedding based on the value.

Description

전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법Shading Correction Method Using Average Value of Charge Coupled Device

제1도는 일반적인 전하결합소자에 입력되는 쉐딩 보정용 레퍼런스 띠의 화소크기를 나타낸 개략도.1 is a schematic diagram showing the pixel size of a reference strip for shedding correction input to a general charge coupling device.

제2도는 레퍼런스 띠의 영역을 분할란 상태를 나타낸 도면.2 is a diagram illustrating a state in which a region of a reference strip is divided.

제3도는 본 발명에 의한 전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법의 일실시예를 나타낸 처리흐름도.3 is a flow chart showing an embodiment of the shedding correction method using the average value of the charge coupled device according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 광원램프 2 : 레퍼런스 띠1: light source lamp 2: reference strip

3 : 렌즈 4 : 전하결합소자3: lens 4: charge coupled device

본 발명은 원고독취계인 전하결합소자를 사용하는 복사기, 팩시밀리 등의 사무기기에서 전하결합소자에 인입되는 광원의 쉐딩을 보정하는 방법에 관한 것으로, 특히 화이트 레퍼런스(white reference)띠의 서로 다른 영역을 각각 스캐닝하고, 여기서 얻은 데이타의 평균값으로 화이트 쉐딩을 보정하는 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for correcting the shedding of a light source introduced into a charge coupling device in office equipment such as a copying machine or a facsimile using a charge coupling device which is a document reading system. And scanning each of the two and correcting the white shedding with the average value of the data obtained here.

일반적으로, 전하결합소자(이하,CCD(Charge Coupled Device)라함)를 이용하는 스케너는 원고를 독취할 때, 상기 CCD와 원고와의 거리차에 의한 오차를 보상하기 위해 실제원고를 스캐닝하기 전에 화이트 레퍼런스(white reference) 띠를 이용하여 화이트 쉐딩보정을 하고 있다.In general, a scanner using a charge coupled device (hereinafter referred to as a charge coupled device (CCD)) may read a white reference before scanning an original document to compensate for errors caused by the distance between the CCD and the original when the original is read. White shedding correction is performed using the white reference band.

이때, 화이트 레퍼런스 띠에 부분적으로 나마 오염이 있으면 실제원고독취시 복사용지에 오염화상이 복사되는 문제점이 있었다.At this time, if the white reference strip was partially contaminated, there was a problem that the contaminated image was copied onto the copy paper when reading the original document.

또한, 통상적인 블랙화상은 OV 전류값을 가지고 화이트화상은 1.2V의 전류값을 가진다는 것을 이용하여 화상의 블랙쉐딩을 보정하는데, 종래에는 광원을 오프하였을때 상기 CCD에서 나오는 미세한 전류값을 저장하고, 상기 전류값의 크기를 가지고 블랙 쉐딩을 보정하였던 것이다.In addition, the black shading of the image is corrected by using a conventional black image having an OV current value and a white image having a current value of 1.2 V. Conventionally, a fine current value stored in the CCD when the light source is turned off is stored. The black shedding was corrected with the magnitude of the current value.

그러나, 상기 블랙쉐딩을 보정하는 방법은 광원을 끄더라도 원고커버 사이등과 같이 외부에서 침투하는 빛으로 인하여 블랙세딩에 영향을 미쳐 정확한 블랙쉐딩값을 얻는데 어려움이 따르는 문제점이 있었다.However, the method of correcting the black shedding has a problem that it is difficult to obtain an accurate black shedding value by affecting the black seeding due to light penetrating from the outside such as between the document covers even when the light source is turned off.

따라서, 본 발명은 상기의 제반 문제점을 해결하기 위하여 안출된것으로서, 화이트 레퍼런스 띠를 소정수로 나누고, 각각의 영역을 스캐닝하여 전하결합소자에 입력하되, 상기 스캐닝하여 얻은 데이타 값의 평균값으로 화이트 쉐딩을 보정하는 전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법을 제공함에 그목적이 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, the white reference band is divided into a predetermined number, each area is scanned and input to the charge coupled device, the white shedding as the average value of the data value obtained by scanning An object of the present invention is to provide a shedding correction method using an average value of a charge-coupled device that corrects.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법에 있어서, 소정수로 나뉘어진 레퍼런스 띠의 화이트 영역을 순차적으로 스캐닝하여 보정용 데이타 값을 얻되, 상기 각각의 화이트 영역 데이타값이 화이트 한계값 이하인가를 판단하는 단계; 상기 단계 후 화이트 한계값보다 적은값이 산출되면, 그때의 화이트 영역은 오염되었음을 판단하여 버리고, 다음 화이트 영역으로 계속 증가하여 스캐닝한 각각의 데이타값이 오염되었는지를 판단하되, 상기 각각의 화이트 영역이 화이트 한계값보다 적은값으로 전부 산출되면, 그때의 화이트 영역은 쉐딩보정에 문제가 있음을 인지하는 단계; 상기 스캐능한 각 화이트 영역의 데이타값중 화이트 한계값보다 큰값이 산출되면, 오염되지 않았음을 인지하고, 계속하여 화이트 영역을 증가시키면서 오염이 안된 화이트 영역의 스캔 데이타값을 전하결합소자의 화소값에 더하여 저장하는 단계; 상기 단계 수행후 오염이 안된 화이트영역과 오염된 화이트영역을 더한 것이 소정수로 나눈 영역수보다 초과했는지를 판단하여 초과하였으면, 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 평균값을 구하고, 초과하지 않았으면 나머지 화이트 영역을 계속하여 스캐닝하는 단계; 및 상기 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 산출한 평균값을 화이트 쉐딩값으로 저장하되, 이 값을 기준으로 쉐딩을 보정하는 단계를 제공하다.In order to achieve the above object, the present invention provides a correction data value by sequentially scanning a white region of a reference band divided by a predetermined number in a shedding correction method using an average value of a charge coupled device, wherein the respective white region data is obtained. Determining whether the value is less than or equal to the white threshold; If the value less than the white limit value is calculated after the above step, it is determined that the white area at that time is contaminated, and it continues to increase to the next white area to determine whether each of the scanned data values is contaminated. Recognizing that the white region at that time has a problem with shedding correction once it is calculated with less than the white threshold value; If a value larger than the white limit value is calculated among the data values of each scanable white area, it is recognized that it is not contaminated and the scan data value of the uncontaminated white area is continuously increased while increasing the white area. In addition to storing; After performing the above steps, it is determined whether the addition of the non-contaminated white region and the contaminated white region exceeds the number divided by the predetermined number. If the excess is exceeded, the average value is obtained by dividing the pixel value of the stored charge coupling device by the number of uncontaminated regions. Continuously scanning the remaining white area if not exceeded; And storing the average value calculated by dividing the stored pixel value of the charge coupled device by the number of uncontaminated regions as a white shedding value, and correcting shedding based on the value.

이하, 첨부된 제1도 내지 제3도의도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings of FIGS. 1 to 3.

제1도는 일반적인 전하결합소자에 입력되는 쉐딩 보정용 레퍼런스 띠의 화소크기를 나타낸 개략도, 제2도는 레퍼런스 띠의 영역을 분할한 상태를 나타낸도면, 제3도는 본 발명에 의한 전하결합 소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법의 일실시예를 나타낸 처리흐름도를 나타낸다.1 is a schematic diagram showing the pixel size of a reference strip for shedding correction input to a general charge coupling device, FIG. 2 is a diagram showing a state in which a region of a reference band is divided, and FIG. 3 is an average value of a charge coupling device according to the present invention. A flow chart showing an embodiment of the shedding correction method is shown.

도면에서 1은 광원램프, 2는 레퍼런스 띠, 3은 레즈, 4는 전하결합소자를 각각 나타낸 것이다.In the drawings, 1 is a light source lamp, 2 is a reference band, 3 is a red, and 4 is a charge coupled device.

본 발명에 의한 전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법은 제1도 및 제2도에 도시한 바와 같이 통상적으로, 광원램프(1)에서 반사되어 들어오는 화소중 400dpi(dor per inch)를 가지는 CCD의 경우 A4크기의 폭은 3400 화소 정도인 것을 기준으로 하고, 레퍼런스 띠를 소정수의 영역으로 나누어 스캐닝하되, 이의 평균 데이타값으로 화이트 쉐딩을 보정할 수 있도록 한다.In the shading correction method using the average value of the charge coupling device according to the present invention, as shown in FIGS. 1 and 2, a CCD having 400 dpi (dor per inch) among pixels reflected from the light source lamp 1 is typically used. In this case, the A4 size is about 3400 pixels, and the reference band is divided into a predetermined number of areas to be scanned, and the white shedding can be corrected using the average data value.

본 실시예에서는 레퍼런스 띠를 화이트 및 블랙을 각각 3개의 영역으로 나눈 구조를 보여주고 있다.In the present embodiment, the reference band is divided into three regions of white and black, respectively.

상기와 같이 나눠진 레퍼렌스 띠를 이용하여 화이트 쉐딩 보정방법을 제3도를 통하여 상세히 살펴보면 다음과 같다.The white shedding correction method using the divided reference band as described above will be described in detail with reference to FIG. 3.

화이트 쉐딩의 보정을 위하여 화이트 레퍼런스 띠의 영역을 3개로 나누고, 오염된 영역과 오염이 안된 영역을 임의의 계수(i=0, j=0)로하여 입력한다.(20) 본도에서는 편의상 i는 오염이 안된 영역계수이고 j는 오염된 영역계수를 나타낸다.To correct the white shedding, divide the area of the white reference band into three and input the contaminated area and the uncontaminated area with arbitrary coefficients (i = 0, j = 0). Is the uncontaminated area coefficient and j is the contaminated area coefficient.

그리고, 상기 화이트 레퍼런스 띠의 영역 1.2.3을 순차적으로 스캐닝하여 3400바이트(byte)의 화이트 쉐딩보정용 데이타를 산출하되, 이때 각각의 상기 화이트 영역의 데이타값중 화이트 영역1부터 화이트 한계값 이하에 있는지를 판단하는 단계를 수행한다(21.22).In addition, 3400 bytes of white shedding correction data are calculated by sequentially scanning the area 1.2.3 of the white reference band, wherein at least one of the data values of each of the white areas is less than or equal to the white limit value. (21.22).

상기 판단단계에서 먼저 화이트 영역1 값이 상기 화이트 한계값보다 적은값이 산출되면, 그때의 영역이 오염되었다고 판단하여 화이트 쉐딩에 참조하지 않고 버린다.In the determining step, if the value of the white area 1 is less than the white limit value, the area is determined to be contaminated and discarded without referring to white shedding.

그리고, 상기 화이트 영역1이 끝나 오염되었음이 판단되면, 다음 화이트 영역2,3으로 증가하면서 스캐닝하여 오염되담는지를 판단하되, 상기 화이트 영역1,2,3이 화이트 한계값보다 적은값으로 전부 산출되어 오염영역 계수 j값이 3으로 나타나면, 화이트 영역이 전부 오염되었다고 판단하고 그때의 화이트 영역은 쉐딩보정에 문제가 있음을 인지한다.If it is determined that the white area 1 is finished and contaminated, the white area 1 and 2 are increased to the next white area 2 and 3 to determine whether the area is contaminated. When the contaminated area coefficient j value is 3, it is determined that the white area is all contaminated, and the white area at that time recognizes that there is a problem in shedding correction.

또한, 상기 오염영역계수 j값이 3이 되지 않았으면, 상기 화이트 영역1내지 3중 오염이 안된 영역이 존재하는 것이므로 이의 영역을 전하결합소자의 화소값에 더한다(23 내지 25).In addition, when the contamination region coefficient j is not 3, the white regions 1 to 3 are not contaminated. Therefore, the region is added to the pixel value of the charge coupling device (23 to 25).

상기 판단단계(22)에서 화이트 영역1 값과 상기 화이트 한계값을 비교판단하여 화이트 한계값보다 큰값이 산출되면, 오염되지 않았음을 인지하고, 계속하여 화이트 영역 2,3을 증가하여 비교판단하고, 화이트 한계값보다 큰 각각의 화이트 영역의 스캔 데이타값을 전하 결합소자의 화소값에 더하여 저장하는 단계를 수행한다(26,27).In the determination step 22, when the white area 1 value is compared with the white limit value and a value larger than the white limit value is calculated, it is recognized that it is not contaminated. Then, the white area 2 and 3 are increased to compare and judge. In operation 26 and 27, scan data values of each white region larger than the white threshold value are added to the pixel values of the charge coupling device.

그리고, 상기 3개의 화이트 영역에서 순차적으로 스캐닝한 화이트 영역중 오염이 안된 화이트 영역(i)과 오염된 화이트영역(j)을 더한 것이 3개의 영역수를 초과했는지 판단하여 초과하였으면, 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 평균값을 구하고, 초과하지 않았으면 스캐닝이 안된 영역이 존재하는 것이므로 나머지 화이트 영역을 계속하여 스캐닝을하여 화이트 쉐딩 보전데이타를 얻는다(28,29).If the addition of the uncontaminated white region (i) and the contaminated white region (j) among the white regions sequentially scanned in the three white regions exceeds the number of three regions, the stored charge coupling device is exceeded. The average value is obtained by dividing the pixel value by the number of uncontaminated regions. If not, the non-scanning region exists, so that the remaining white regions are continuously scanned to obtain white shedding integrity data (28 and 29).

상기 단계를 수행후 저장된 전하결합소자의 화소값과 오염이 안된 화이트 영역값을 더해 산출한 평균값을 화이트 쉐딩값으로 저장하되, 이 값을 기준으로 화이트 쉐딩을 보정한다(30).After performing the above step, the average value calculated by adding the stored pixel value of the charge coupled device and the uncontaminated white region value is stored as a white shedding value, and the white shedding is corrected based on this value (30).

또한, 블랙 쉐딩일 경우는 상기한 바와 동일한 방법으로 3재의 블랙 레퍼런스 영역들을 스캐닝을 한다. 이때, 일정한 블랙 한계값보다 큰 값의 화소값이 나오면 그때의 영역을 오염되었다고 판단하고, 나머지 영역의 독취값의 평균으로 불랙 쉐딩값을 산출하여 저정하는 것이다,In the case of black shedding, three black reference regions are scanned in the same manner as described above. At this time, if a pixel value of a value larger than a certain black limit value is found, it is determined that the region is contaminated, and the black shedding value is calculated and stored as the average of the read values of the remaining regions.

상기와 같은 단계로 수행되는 본 발명은 화이트 레퍼런스 영역에서 한계값보다, 큰 값을 소정수로 나누어 평균값을 구하고, 이를 기준값으로 쉐딩보정을 하여 화상의 판단기준시 오차를 저감하며, 복사용지레 오염화상이 나타나는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention carried out as described above, the average value is obtained by dividing a value larger than a threshold value by a predetermined number in the white reference region, and shading correction is performed using the reference value to reduce an error in the judgment standard of the image, and contaminate the copy paper. There is an effect that can prevent the image from appearing.

Claims (1)

전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법에 있어서, 소정수로 나뉘어진 레퍼런스 띠의 화이트 영역을 순차적으로 스캐닝하여 보정용 데이타 값을 얻되, 상기 각각의 화이트 영역 데이타값이 화이트 한계값 이하인가를 판단하는 단계(21,22); 상기 단계 후 화이트 한계값보다 적은 값이 산출되면, 그때의 화이트 영역은 오염되었음을 판단하여 버리고, 다음 화이트 영역으로 계속 증가하여 스캐닝한 각각의 데이타값이 오염되었는지를 판단하되, 상기 각각의 화이트 영역이 화이트 한계값보다 적은값으로 전부 산출되면, 그때의 화이트 영역은 쉐딩보정에 문제가 있음을 인지하는 단계(23 내지 25) ; 상기 스캐닝한 각 화이트 영역의 데이타값중 화이트 한계값보다 큰값이 산출되면, 오염되지 않았음을 인지하고, 계속하여 화이트 영역을 증가시키면서 오염이 안된 화이트 영역의 스캔 데이타값을 전하결합소자의 화소값에 더하여 저장하는 단계(26 ,27); 상기 단계 수행후 오염이 안된 화이트영역과 오염된 화이트 영역을 더한 것이 소정수로 나눈 영역수보다 초과했는지를 판단하여 초과하였으면, 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 평균값을 구하고, 초과하지 않았으면 나머지 화이트 영역을 계속하여 스캐닝하는 단계(28,29); 및 상시 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 산출한 평균값을 화이트 쉐딩값으로 저장하되, 이 값을 기준으로 쉐딩을 보정하는 단계(30)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법.In the shedding correction method using the average value of the charge-coupled device, the white area of the reference band divided by a predetermined number is sequentially scanned to obtain a correction data value, and to determine whether each white area data value is less than or equal to the white limit value. Steps 21 and 22; If a value less than the white limit value is calculated after the above step, it is determined that the white area at that time is contaminated, and it continues to increase to the next white area to determine whether each of the scanned data values is contaminated. Step 23 to 25, recognizing that the white region at that time has a problem in shedding correction once it is calculated with a value less than the white limit value; If a value larger than the white limit value is calculated among the data values of each of the scanned white regions, the controller recognizes that the image is not contaminated and continuously scans the scan data value of the uncontaminated white region while increasing the white region. In addition to storing (26,27); After performing the above steps, it is determined whether the addition of the non-contaminated white region and the contaminated white region exceeds the number divided by the predetermined number. If the excess is exceeded, the average value is obtained by dividing the pixel value of the stored charge coupling device by the number of uncontaminated regions. Continuing scanning (28,29) the remaining white area if not exceeded; And storing the average value calculated by dividing the pixel value of the charge-coupled device by the number of uncontaminated regions as a white shedding value, and correcting the shedding based on the value (30). Shading correction method using the average value of the device.
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