KR0114558Y1 - 광대역 능동 인덕터 회로 - Google Patents

광대역 능동 인덕터 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR0114558Y1
KR0114558Y1 KR92027211U KR920027211U KR0114558Y1 KR 0114558 Y1 KR0114558 Y1 KR 0114558Y1 KR 92027211 U KR92027211 U KR 92027211U KR 920027211 U KR920027211 U KR 920027211U KR 0114558 Y1 KR0114558 Y1 KR 0114558Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
transistor
source
drain
gate
active inductor
Prior art date
Application number
KR92027211U
Other languages
English (en)
Other versions
KR940017371U (ko
Inventor
홍성훈
Original Assignee
배순훈
대우전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 배순훈, 대우전자 주식회사 filed Critical 배순훈
Priority to KR92027211U priority Critical patent/KR0114558Y1/ko
Publication of KR940017371U publication Critical patent/KR940017371U/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0114558Y1 publication Critical patent/KR0114558Y1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/0203Particular design considerations for integrated circuits
    • H01L27/0248Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
    • H01L27/0251Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices
    • H01L27/0288Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices using passive elements as protective elements, e.g. resistors, capacitors, inductors, spark-gaps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L28/00Passive two-terminal components without a potential-jump or surface barrier for integrated circuits; Details thereof; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L28/10Inductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/40Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/43Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
    • H01L29/435Resistive materials for field effect devices, e.g. resistive gate for MOSFET or MESFET
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • H01L2924/141Analog devices
    • H01L2924/1423Monolithic Microwave Integrated Circuit [MMIC]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Networks Using Active Elements (AREA)

Abstract

본 고안은 광대역 능동 인덕터에 관한 것으로서, 제1단자(a)와, 상기 제1단자(a)에 연결된 드레인(D2)을 가진 제1 트랜지스터(T2)와, 상기 제1 트랜지스터(T2)의 소스(S2)에 연결된 드레인(D1) 및 상기 제1 트랜지스터(T2)의 게이트(G2)에 연결된 소스(S1)를 가진 제2 트랜지스터(T1)와, 상기 제1 트랜지스터의 상기 드레인(D2)에 연결된 소스(S3)와, 상기 제2 트랜지스터(T1)의 상기 게이트(G1)에 연결된 드레인(D3)을 가진 제3 트랜지스터(T3)와, 상기 제3 트랜지스터의 게이트(G3) 및 상기 제2 트랜지스터(T1)의 소스(S1)에 연결된 제2단자(b)로 구성된다.

Description

광대역 능동 인덕터 회로
제1도는 종래의 MMIC에서 사용되던 나선형 인덕터를 도시하는 도면.
제2도는 MESFET의 간략한 등가 회로도.
제3도는 본 고안에 따른 광대역 능동 인덕터의 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 공통 소스 캐스코드 FET T1,T2,T3 : MESFET
G1,G2,G3 : 게이트 D1,D2,D3 : 드레인
S1,S2,S3 : 소스 cgs,cgs1,cgs2,cgs3 : 게이트-소스 캐패시턴스
gm1,gm2,gm3 : 전달 컨덕턴스
본고안은 MMIC(Monolithic Microwave Intergrated Circuit)에서 가능한 인덕터에 관한 것으로,특히 MESFET(Metal-Semiconductor Field-Effect Transistor)을 이용하여 초고주파수대에서 저손실로서 높은 인덕턴스 값을 얻을 수 있는 광대역 능동 인덕터에 관한 것이다.
MMIC(Monolithic Microwave Intergrated Circuit)는 한 칩에 능동소자(FET, 다이오드)와 수동소자(캐패시터, 인덕터, 저항)를 집적시킨 초고주파용 집적회로로서, 이것은 초고주파대의 통신 및 계측시스템의 눈부신 발달에 따라 이러한 시스템을 가능케하는 기본소자로서 일반화되어가고 있다. 이러한 MMIC는 종래의 MIC(Microwave Intergrated Circuit)에 비해 크기가 작아지며, 외부충격에 강하고, 또한 쉽게 확장시킬 수 있으며, 가격면에서도 유리하다.
제1도는 MMIC에서 정합(matching) 회로의 일부로 사용된 종래의 인덕터를 도시한다. 도시된 인덕터는 럼프(lump)형태로 분류되는 나선형 인덕터(spiral inductor)이다. 나선형 인덕터의 인덕턴스는 라인 섹션의 자기 인덕턴스와 평행한 라인 섹션간의 상호 인덕턴스의 합으로 구할수 있다. 일반적으로 인덕턴스(L)는 나선의 회전수의 제곱 및 면적(S)에 비례한다.
MMIC에서 사용되는 종래의 인덕터는 MMIC에서 비교적 큰 면적을 차지할 뿐만 아니라 높은 인덕턴스 나선형 인덕터일 경우 접지면과의 기생 캐패시턴스로 인해 낮은 주파수에서 공진(resonance)이 발생하여 인덕터 기능이 상실되는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하고자 능동 소자인 MESFET을 3개 사용하여 광대역 특성을 유지하면서 높은 인덕턴스를 얻을 수 있는 저손실 광대역 능동 인덕터회로를 제공하는데 있다.
이하, 본 고안을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제2도는 본 고안에 사용될 MESFET(tansconductance)(gm)와 게이트-소스 캐패시턴스(cgs)로 간단하게 구성하였다.
제3도는 본 고안에 따른 광대역 능동 인덕터의 회로도이다.
광대역 능동 인덕터는 소정의 인덕턴스를 구현하기 위하여 공통 소스 캐스코드(cascode) FET(10)과 피드백에 의한 캐스코드 FET의 기생 캐패시턴스의 효과를 상쇄시키기 위한 게이트 접지된 MESFET(T3)으로 구성된다.
제3도에 도시된 바와 같이, 광대역 능동 인덕터는 제1단자(a)와, 제1단자(a)에 연결된 드레인 (D2)을 가진 제1 트랜지스터(T2)와, 제1 트랜지스터(T2)의 소스(S2)에 연결된 드레인(D1) 및 제1 트랜지스터(T2)의 게이트(G2)에 연결된 소스(S1)를 가진 제2 트랜지스터(T1)와, 제1 트랜지스터의 드레인(D2)에 연결된 소스(S3)와, 제2 트랜지스터(T1)의 게이트(G1)에 연결된 드레인(D3)을 가진 제3 트랜지스터(T3)와, 제3트랜지스터의 게이트(G3) 및 제2 트랜지스터(T1)의 소스(S1)에 연결된 제2 단자(b)로 구성된다.
본 실시예에서 제1 및 제2 트랜지스터는 금속 반도체 전계효과 트랜지스터(MESFET)이다.
본 고안에 따른 광대역 능동 인덕터 회로에서 단자 a-b에서 들여다 본 능동 인덕터 회로의 어드미턴스(Y)는 식(1)과 같다.
Y gm3(1-cgs2gm1/cgs1gm2) + gm1gm3/jωcgs1 (1)
캐스코드 FET(10)에서 T1과 T2가 같으면
(cgs1 = cgs2 , gm1=gm2) 식(1)은 다음과 같다.
Z = 1/Y jωcgs0/gm0gm3 (2)
식(2)에서 알 수 있는 바와 같이, 단자 a-b에서 들여다본 저손실 능동 인덕터 회로의 등가회로는 인덕터 성분(cgs/gm1gm3)만으로 나타난다.
따라서, 본 고안에 따른 광대역 능동 인덕터 회로는 능동 소자인 MESFET를 사용함으로써 MMIC에서 차지하는 인덕터의 면적을 줄일 수 있으며, 또한 접지면과의 기생 캐패시턴스를 막을 수있고 광대역 특성을 유지할 수있다. 특히, 인덕턴스의 구현을 위한 캐스코드 FET의 피드백에서 발생되는 기생 캐패시턴스를 MESFET을 사용하여 상쇄시킴으로써 피드백에서 발생되는 전력 손실을 막을 수 있다.

Claims (3)

  1. 제1단자(a)와; 상기 제1단자(a)에 연결된 드레인(D2)을 가진 제1 트랜지스터(T2)와; 상기 제1 트랜지스터(T2)의 소스(S2)에 연결된 드레인 (D1) 및 상기 제1 트랜지스터(T2)의 게이트(G2)에 연결된 소스(S1)를 가진 제2 트랜지스터(T1)와; 상기 제1 트랜지스터의 상기 드레인(D2)에 연결된 소스(S3)와, 상기 제2 트랜지스터(T1)의 상기 게이트(G1)에 연결된 드레인(D3)을 가진 제3 트랜지스터(T3)와; 상기 제3 트랜지스터의 게이트(G3) 및 상기 제2 트랜지스터(T1)의 소스(S1)에 연결된 제 2단자(b)로 구성된 광대역 능동 인덕터 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1, 제2 및 제3 트랜지스터가 금속 반도체 전계효과 트랜지스터(MESFET)인 광대역 능동 인덕터 회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1 및 제2 트랜지스터가 동일한 게이트 소스 캐패시턴스 및 전달 컨덕턴스를 가지는 능동 인덕터 회로.
KR92027211U 1992-12-29 1992-12-29 광대역 능동 인덕터 회로 KR0114558Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR92027211U KR0114558Y1 (ko) 1992-12-29 1992-12-29 광대역 능동 인덕터 회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR92027211U KR0114558Y1 (ko) 1992-12-29 1992-12-29 광대역 능동 인덕터 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940017371U KR940017371U (ko) 1994-07-28
KR0114558Y1 true KR0114558Y1 (ko) 1998-04-16

Family

ID=19348343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR92027211U KR0114558Y1 (ko) 1992-12-29 1992-12-29 광대역 능동 인덕터 회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0114558Y1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR940017371U (ko) 1994-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4206589B2 (ja) 分布増幅器
US7265619B2 (en) Two stage microwave Class E power amplifier
US6472941B2 (en) Distributed amplifier with terminating circuit capable of improving gain flatness at low frequencies
US7253707B2 (en) Tunable active inductor
KR19990048147A (ko) 능동 인덕터
JP4570339B2 (ja) バイアス付与用アクティブ装荷装置を備えた超広帯域分布型増幅回路
US5202655A (en) Microwave active filter circuit using pseudo gyrator
US4841253A (en) Multiple spiral inductors for DC biasing of an amplifier
Pascht et al. A CMOS low noise amplifier at 2.4 GHz with active inductor load
US5175513A (en) Oscillator circuit employing inductive circuit formed of field effect transistors
KR0114558Y1 (ko) 광대역 능동 인덕터 회로
Thanachayanont A 1.5-V high-Q CMOS active inductor for IF/RF wireless applications
Shin et al. An inductorless 900 MHz RF low-noise amplifier in 0.9/spl mu/m CMOS
JPH06232657A (ja) 高周波増幅器
JP3474750B2 (ja) 高周波集積回路装置および周波数変換回路装置
Rashtian et al. A 4-stage 60-GHz low-noise amplifier in 65-nm CMOS with body biasing to control gain, linearity, and input matching
KR0114560Y1 (ko) 광대역 가변 능동 인덕터 회로
KR0114559Y1 (ko) 가변 능동 인덕터 회로
JPH0786851A (ja) 高周波集積回路
JPH08204472A (ja) 高周波増幅回路
JP2894893B2 (ja) ミキサ回路
JP3062358B2 (ja) マイクロ波集積回路素子
JPH0766659A (ja) マイクロ波増幅器
JPS59216307A (ja) 半導体素子用整合回路
JP3332657B2 (ja) ミキサ回路

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
REGI Registration of establishment
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20061004

Year of fee payment: 10

EXPY Expiration of term