JPWO2022259868A5 - - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 7
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 claims 1
Claims (27)
- プラズマ処理チャンバと、
前記プラズマ処理チャンバ内に配置される基板支持部と、
前記基板支持部内に配置される電極と、
前記プラズマ処理チャンバに結合され、複数のメインサイクルを含む第1RFパルス信号を生成するように構成された第1RF生成部であり、各メインサイクルは第1期間及び第2期間を含み、前記第1期間は複数の第1サブサイクルを含み、前記第2期間は複数の第2サブサイクルを含み、前記第1RFパルス信号は、前記複数の第1サブサイクル及び前記複数の第2サブサイクルの各々において3つ以上の異なるパワーレベルを有する、第1RF生成部と、
前記電極に結合され、前記複数のメインサイクルを含む第2RFパルス信号を生成するように構成された第2RF生成部であり、前記第2RFパルス信号は、前記複数の第1サブサイクルの各々において2つ以上の異なるパワーレベルを有し、前記第2期間においてゼロパワーレベルを有する、第2RF生成部と、
前記電極に結合され、前記複数のメインサイクルを含む第3RFパルス信号を生成するように構成された第3RF生成部であり、前記第3RFパルス信号は、前記複数の第1サブサイクルの各々において2つ以上の異なるパワーレベルを有し、前記第2期間においてゼロパワーレベルを有する、第3RF生成部と、
を有する、プラズマ処理装置。 - 前記第1RFパルス信号は、第1周波数を有し、
前記第2RFパルス信号は、前記第1周波数よりも低い第2周波数を有し、
前記第3RFパルス信号は、前記第2周波数よりも低い第3周波数を有する、請求項1に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第1RFパルス信号は、第1パワーレベル、第2パワーレベル及び第3パワーレベルを有し、
前記第2RFパルス信号は、第4パワーレベル及び第5パワーレベルを有し、
前記第3RFパルス信号は、第6パワーレベル及び第7パワーレベルを有し、
前記第4パワーレベルの期間は前記第1パワーレベルの期間と一致し、
前記第6パワーレベルの期間は前記第2パワーレベルの期間と一致する、請求項1又は2に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第5パワーレベルの期間は前記第2パワーレベルの期間と一致し、
前記第7パワーレベルの期間は前記第1パワーレベルの期間と一致する、請求項3に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第3パワーレベル、前記第5パワーレベル及び前記第7パワーレベルは、ゼロパワーレベルである、請求項3に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1パワーレベルは前記第2パワーレベルよりも大きい、請求項3に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1パワーレベルの期間は30μs以下である、請求項3に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1RFパルス信号は、第1パワーレベル、第2パワーレベル及び第3パワーレベルを有し、
前記第2RFパルス信号は、第4パワーレベル及び第5パワーレベルを有し、
前記第3RFパルス信号は、第6パワーレベル及び第7パワーレベルを有し、
前記第4パワーレベルの期間は前記第1パワーレベルの期間と重複せず、
前記第6パワーレベルの期間は前記第1パワーレベルの期間と重複せず、
前記第6パワーレベルの期間は前記第4パワーレベルの期間と重複しない、請求項1又は2に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第3パワーレベル、前記第5パワーレベル及び前記第7パワーレベルは、ゼロパワーレベルである、請求項8に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1パワーレベルは前記第2パワーレベルよりも大きく、
前記第2パワーレベルは前記第3パワーレベルよりも大きく、
前記第4パワーレベルの期間は前記第3パワーレベルの期間と重複し、
前記第6パワーレベルの期間は前記第2パワーレベルの期間と重複する、請求項8に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第3パワーレベルは、前記第1パワーレベルから遷移し、前記第2パワーレベルは、前記第3パワーレベルから遷移し、
前記第4パワーレベルの期間は前記第3パワーレベルの期間と一致し、
前記第6パワーレベルの期間は前記第2パワーレベルの期間と一致する、請求項10に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第3パワーレベルは、前記第1パワーレベルから遷移し、前記第2パワーレベルは、前記第3パワーレベルから遷移し、
前記第4パワーレベルは、前記第1パワーレベルから前記第3パワーレベルへの遷移後の一定時間経過後に開始し、且つ、前記第3パワーレベルから前記第2パワーレベルへの遷移と同時に終了し、
前記第6パワーレベルの期間は前記第2パワーレベルの期間と一致する、請求項10に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第2パワーレベルは、前記第1パワーレベルから遷移し、前記第3パワーレベルは、前記第2パワーレベルから遷移し、
前記第4パワーレベルは、前記第2パワーレベルから前記第3パワーレベルへの遷移後の一定時間経過後に開始し、且つ、前記第3パワーレベルの終了と同時に終了し、
前記第6パワーレベルの期間は前記第2パワーレベルの期間と一致する、請求項10に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第1パワーレベルは前記第2パワーレベルよりも大きく、
前記第2パワーレベルは前記第3パワーレベルよりも大きく、
前記第4パワーレベルの期間は前記第2パワーレベルの期間と重複し、
前記第6パワーレベルの期間は前記第2パワーレベルの期間と重複する、請求項8に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第3パワーレベルは、前記第1パワーレベルから遷移し、前記第2パワーレベルは、前記第3パワーレベルから遷移し、
前記第4パワーレベルは、前記第3パワーレベルから前記第2パワーレベルへの遷移と同時に開始し、且つ、前記第2パワーレベルの終了前に終了し、
前記第6パワーレベルは、前記第4パワーレベルの終了と同時又は前記第4パワーレベルの終了後の一定時間経過後に開始し、且つ、前記第2パワーレベルの終了前に終了する、請求項14に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第4パワーレベルの期間は30μs以下である、請求項8に記載のプラズマ処理装置。
- 前記メインサイクルの1周期は10Hz~200Hzであり、
前記第1サブサイクル及び第2サブサイクルの1周期は1kHz~20kHzである、請求項1又は2に記載のプラズマ処理装置。 - プラズマ処理チャンバと、
前記プラズマ処理チャンバ内に配置される基板支持部と、
前記基板支持部内に配置される電極と、
前記プラズマ処理チャンバに結合され、複数のメインサイクルを含む第1RFパルス信号を生成するように構成された第1RF生成部であり、各メインサイクルは第1期間及び第2期間を含み、前記第1期間は複数の第1サブサイクルを含み、前記第2期間は複数の第2サブサイクルを含み、前記第1RFパルス信号は、前記複数の第1サブサイクル及び前記複数の第2サブサイクルの各々において2つ以上の異なるパワーレベルを有する、第1RF生成部と、
前記電極に結合され、前記複数のメインサイクルを含む第2RFパルス信号を生成するように構成された第2RF生成部であり、前記第2RFパルス信号は、前記複数の第1サブサイクルの各々において2つ以上の異なるパワーレベルを有し、前記第2期間においてゼロパワーレベルを有する、第2RF生成部と、
を有する、プラズマ処理装置。 - 前記第1RFパルス信号は、第1周波数を有し、
前記第2RFパルス信号は、前記第1周波数よりも低い第2周波数を有する、請求項18に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第1RFパルス信号は、第1パワーレベル及び第2パワーレベルを有し、
前記第2RFパルス信号は、第3パワーレベル及び第4パワーレベルを有し、
前記第3パワーレベルの期間は前記第1パワーレベルの期間と一致する、請求項18又は19に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第2パワーレベル及び前記第4パワーレベルは、ゼロパワーレベルである、請求項20に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1パワーレベルの期間は30μs以下である、請求項20に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1RFパルス信号は、第1パワーレベル及び第2パワーレベルを有し、
前記第2RFパルス信号は、第3パワーレベル及び第4パワーレベルを有し、
前記第1パワーレベルの期間は前記第3パワーレベルの期間と重複しない、請求項18又は19に記載のプラズマ処理装置。 - 前記第2パワーレベル及び前記第4パワーレベルは、ゼロパワーレベルである、請求項23に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第3パワーレベルの期間は30μs以下である、請求項23に記載のプラズマ処理装置。
- 前記メインサイクルの1周期は10Hz~200Hzであり、
前記第1サブサイクル及び第2サブサイクルの1周期は1kHz~20kHzである、請求項18又は19に記載のプラズマ処理装置。 - プラズマ処理装置を用いたプラズマ処理方法であって、
前記プラズマ処理装置は、
プラズマ処理チャンバと、
前記プラズマ処理チャンバ内に配置された基板支持部と、
前記基板支持部内に配置された電極と、
前記基板支持部の上方に配置されたアンテナと、
を備え、
前記プラズマ処理方法は、複数のメインサイクルを含み、各メインサイクルは、第1期間及び第2期間を含み、前記第1期間は、複数の第1サブサイクルを含み、各第1サブサイクルは、
3つ以上の異なるパワーレベルを有する第1RFパルス信号を前記アンテナに周期的に供給する工程と、
2つ以上の異なるパワーレベルを有する第2RFパルス信号を前記電極に周期的に供給する工程と、
2つ以上の異なるパワーレベルを有する第3RFパルス信号を前記電極に周期的に供給する工程と、を有し、
前記第2期間は、
前記第2RFパルス信号及び前記第3RFパルス信号を前記電極に供給することなく前記第1RFパルス信号を前記アンテナに周期的に供給する工程を有する、
プラズマ処理方法。
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