JPWO2022244206A5 - 測定条件最適化システム、三次元データ測定システム、測定条件最適化方法、及びプログラム - Google Patents
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Claims (10)
- 測定装置を用いて所定の測定条件で測定した、所定の施設内の測定対象設備の三次元データを入力する三次元データ入力部と、
前記入力された三次元データの各々に対して位置合わせ処理を実施し、当該位置合わせ処理後の三次元データに含まれる重複部分を判定する重複部分判定部と、
前記測定装置を用いて前記施設内の測定対象設備の三次元データを取得する際の測定ポリシーを取得する測定ポリシー取得部と、
前記測定ポリシー取得部で取得した前記測定ポリシーを満たすように、かつ、前記重複部分判定部で判定された前記三次元データに含まれる重複部分が所定の範囲となるように、前記測定条件を調整する測定条件調整部と、を備える、
測定条件最適化システム。 - 前記測定ポリシーには、前記測定対象設備に入射するビームの入射角の範囲が含まれており、
前記測定条件には、前記測定装置が前記測定対象設備の三次元データを取得する際の測定範囲が含まれており、
前記測定条件調整部は、前記測定対象設備に入射するビームの入射角の範囲が前記測定ポリシーの範囲となるように、かつ、前記三次元データに含まれる重複部分が所定の範囲となるように、前記測定装置の測定範囲を調整する、
請求項1に記載の測定条件最適化システム。 - 前記重複部分判定部は更に、前記ビームが入射した前記測定対象設備の面の向きを前記三次元データを用いて算出し、当該算出された面の向きと前記ビームを照射した測定位置の座標とを用いて、前記測定対象設備に入射するビームの入射角を算出する、
請求項2に記載の測定条件最適化システム。 - 前記測定条件には、前記測定装置が前記測定対象設備の三次元データを取得する際の測定位置が含まれており、
前記測定条件調整部は、前記測定ポリシーを満たすように、かつ、前記三次元データに含まれる重複部分が所定の範囲となるように、前記測定装置の測定位置を調整する、
請求項1または2に記載の測定条件最適化システム。 - 前記測定ポリシーには、前記測定装置で測定された三次元データが満たすべき分解能が含まれており、
前記測定条件調整部は、前記測定装置で測定された三次元データの分解能が前記測定ポリシーを満たすように、かつ、前記三次元データに含まれる重複部分が所定の範囲となるように、前記測定装置の測定条件を調整する、
請求項1または2に記載の測定条件最適化システム。 - 前記重複部分判定部は、前記位置合わせ処理後の三次元データのうち、互いに隣り合う測定位置の各々において取得された三次元データに含まれる点群同士が互いに隣接している場合、当該隣接している点群を含む部分を重複部分と判定する、請求項1または2に記載の測定条件最適化システム。
- 請求項1または2に記載の測定条件最適化システムと、
前記施設内の前記測定対象設備の三次元データを取得する測定装置と、を備え
前記測定装置は、前記測定条件調整部で調整された測定条件を用いて、前記施設内の前記測定対象設備の三次元データを新たに取得する、
三次元データ測定システム。 - 前記測定装置で新たに取得された三次元データの座標を変換する座標変換部を更に備え、
前記座標変換部は、前記三次元データ入力部に入力された三次元データの各々に対して前記重複部分判定部が位置合わせ処理を実施した際に用いた座標変換パラメータを用いて、前記測定装置で新たに取得された三次元データの座標を変換する、
請求項7に記載の三次元データ測定システム。 - 測定装置を用いて所定の測定条件で測定した、所定の施設内の測定対象設備の三次元データを入力し、
前記入力された三次元データの各々に対して位置合わせ処理を実施し、当該位置合わせ処理後の三次元データに含まれる重複部分を判定し、
前記測定装置を用いて前記施設内の測定対象設備の三次元データを取得する際の測定ポリシーを取得し、
前記取得した測定ポリシーを満たすように、かつ、前記重複部分と判定された前記三次元データに含まれる重複部分が所定の範囲となるように、前記測定条件を調整する、
測定条件最適化方法。 - 測定装置を用いて所定の測定条件で測定した、所定の施設内の測定対象設備の三次元データを入力する処理と、
前記入力された三次元データの各々に対して位置合わせ処理を実施し、当該位置合わせ処理後の三次元データに含まれる重複部分を判定する処理と、
前記測定装置を用いて前記施設内の測定対象設備の三次元データを取得する際の測定ポリシーを取得する処理と、
前記取得した測定ポリシーを満たすように、かつ、前記重複部分と判定された前記三次元データに含まれる重複部分が所定の範囲となるように、前記測定条件を調整する処理と、を備える測定条件最適化処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2021/019226 WO2022244206A1 (ja) | 2021-05-20 | 2021-05-20 | 測定条件最適化システム、三次元データ測定システム、測定条件最適化方法、及び非一時的なコンピュータ可読媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2022244206A1 JPWO2022244206A1 (ja) | 2022-11-24 |
JPWO2022244206A5 true JPWO2022244206A5 (ja) | 2024-02-13 |
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