JPWO2019171593A1 - バルブ装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】流体の流量を確保しつつ流量を精密に調整可能なバルブ装置を提供する。【解決手段】供給される駆動流体の圧力を受けて、操作部材40を開位置又は閉位置に移動させる主アクチュエータ60と、主アクチュエータ60が発生する力の少なくとも一部が作用するように配置され、開位置に位置付けられた操作部材の位置を調整するための調整用アクチュエータ100と、駆動流体の主アクチュエータ60への供給経路に設けられ、主アクチュエータ60へ供給される駆動流体の圧力の変動を抑制するために、供給される前記駆動流体の圧力を調圧する圧力レギュレータ200を有する。【選択図】図1A

Description

本発明は、バルブ装置に関する。
半導体製造プロセスにおいては、正確に計量した処理ガスを処理チャンバに供給するために、開閉バルブ、レギュレータ、マスフローコントローラ等の各種の流体制御機器を集積化した集積化ガスシステムと呼ばれる流体制御装置が用いられている。
通常、上記の流体制御装置から出力される処理ガスを処理チャンバに直接供給するが、原子層堆積法(ALD:Atomic Layer Deposition 法)により基板に膜を堆積させる処理プロセスにおいては、処理ガスを安定的に供給するために流体制御装置から供給される処理ガスをバッファとしてのタンクに一時的に貯留し、処理チャンバの直近に設けられたバルブを高頻度で開閉させてタンクからの処理ガスを真空雰囲気の処理チャンバへ供給することが行われている。なお、処理チャンバの直近に設けられるバルブとしては、例えば、特許文献1,2を参照。
ALD法は、化学気相成長法の1つであり、温度や時間等の成膜条件の下で、2種類以上の処理ガスを1種類ずつ基板表面上に交互に流し、基板表面上原子と反応させて単層ずつ膜を堆積させる方法であり、単原子層ずつ制御が可能である為、均一な膜厚を形成させることができ、膜質としても非常に緻密に膜を成長させることができる。
ALD法による半導体製造プロセスでは、処理ガスの流量を精密に調整する必要があるとともに、基板の大口径化等により、処理ガスの流量をある程度確保する必要もある。
特開2007−64333号公報 特開2016−121776号公報
しかしながら、エア駆動式のバルブにおいて、空圧調整や機械的調整により流量を精密に調整するのは容易ではない。また、ALD法による半導体製造プロセスでは、処理チャンバ周辺が高温となるため、バルブが温度の影響を受けやすい。さらに、高頻度でバルブを開閉するので、バルブの経時、経年変化が発生しやすく、流量調整作業に膨大な工数を要する。
本発明の一の目的は、流体の流量を確保しつつ流量を精密に調整可能なバルブ装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、流量調整工数を大幅に削減できるバルブ装置を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、流量調整を即座に実行できるバルブ装置を提供することにある。
本発明に係るバルブ装置は、流路を画定するバルブボディと、
前記バルブボディの流路を開閉可能に設けられた弁体と、
予め設定された前記弁体に流路を閉鎖させる閉位置と予め設定された前記弁体に流路を開放させる開位置との間で移動可能に設けられた前記弁体を操作する操作部材と、
供給される駆動流体の圧力を受けて、前記操作部材を前記開位置又は閉位置に移動させる主アクチュエータと、
前記主アクチュエータが発生する力の少なくとも一部が作用するように配置され、前記開位置に位置付けられた前記操作部材の位置を調整するための調整用アクチュエータと、
前記駆動流体の前記主アクチュエータへの供給経路に設けられ、前記主アクチュエータへ供給される前記駆動流体の圧力の変動を抑制するための圧力安定化機構と、を有する。
好適には、前記圧力安定化機構は、供給される前記駆動流体の圧力を調圧する圧力レギュレータを含む。
好適には、前記主アクチュエータは、前記操作部材を前記開位置に移動させ、
前記調整用アクチュエータは、前記主アクチュエータにより前記開位置に位置付けられた前記操作部材に作用する力を当該調整用アクチュエータの先端部で受け止めて当該操作部材の移動を規制しつつ、当該操作部材の位置を調整する、構成を採用できる。
さらに好適には、前記主アクチュエータおよび前記調整用アクチュエータを内蔵するケーシングを有し、
前記ケーシング内には、前記圧力安定化機構を通じた前記駆動流体を前記主アクチュエータへ供給する流通路が形成され、
前記流通路は、当該流通路を流通する駆動流体の圧力が前記調整用アクチュエータに作用しないように分離して形成されている、構成を採用できる。
前記調整用アクチュエータは、通電に応じて伸縮する駆動源を有する、構成を採用できる。
好適には、前記調整用アクチュエータは、圧電素子の伸縮を利用したアクチュエータを含む。
代替的には、前記調整用アクチュエータは、電気駆動型ポリマーを駆動源として有するアクチュエータを含む、構成を採用できる。
本発明によれば、主アクチュエータに加えて調整用アクチュエータを備えたことにより、流量の精密な調整作業が可能となるとともに、流量調整工数が大幅に削減される。加えて、圧力安定化機構を設けたことにより、調整用アクチュエータが受ける駆動流体の圧力変動の影響を抑制でき、より精度の高い流量制御が実現される。
本発明の一実施形態に係るバルブ装置の縦断面図であって、図1Bの1A−1A線に沿った断面図。 図1Aのバルブ装置の上面図。 図1Aのバルブ装置のアクチュエータ部の拡大断面図。 図1Bの1D−1D線に沿ったアクチュエータ部の拡大断面図。 圧電アクチュエータの動作を示す説明図。 半導体製造装置のプロセスガス制御系への本発明の一実施形態に係るバルブ装置の適用例を示す概略図。 図1Aのバルブ装置の全閉状態を説明するための要部の拡大断面図。 図1Aのバルブ装置の全開状態を説明するための要部の拡大断面図。 図1Aのバルブ装置の流量調整時(流量減少時)の状態を説明するための要部の拡大断面図。 図1Bのバルブ装置の流量調整時(流量増加時)の状態を説明するための要部の拡大断面図。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。なお、本明細書および図面においては、機能が実質的に同様の構成要素には、同じ符号を使用することにより重複した説明を省略する。
図1Aは、本発明の一実施形態に係るバルブ装置1の構成を示す断面図であって、バルブが全閉時の状態を示している。図1Bはバルブ装置1の上面図、図1Cはバルブ装置1のアクチュエータ部の拡大縦断面図、図1Dは図1Cと90度異なる方向のアクチュエータ部の拡大縦断面図である。なお、以下の説明において図1AのA1を上方向、A2を下方向とする。
バルブ装置1は、支持プレート302上に設けられた収容ボックス301と、収容ボックス301内に設置されたバルブ本体2と、収容ボックス301の天井部に設置された圧力レギュレータ200と、圧力センサ400とを有する。
図1A〜図1Dにおいて、10はバルブボディ、15はバルブシート、20はダイヤフラム、25は押えアダプタ、27はアクチュエータ受け、30はボンネット、40は操作部材、48はダイヤフラム押え、50はケーシング、60は主アクチュエータ、70は調整ボディ、80はアクチュエータ押え、90はコイルばね、100は調整用アクチュエータとしての圧電アクチュエータ、120は皿ばね、130は隔壁部材、150は供給管、160はリミットスイッチ、ORはシール部材としてのOリング、Gは駆動流体としての圧縮エアを示す。なお、駆動流体は、圧縮エアに限定されるわけではなく他の流体を用いることも可能である。
バルブボディ10は、ステンレス鋼等の金属により形成されており、流路12,13を画定している。流路12は、一端にバルブボディ10の一側面で開口する開口部12aを有し、開口部12aに管継手501が溶接により接続されている。流路12は、他端12bがバルブボディ10の上下方向A1,A2に延びる流路12cと接続されている。流路12cの上端部は、バルブボディ10の上面側で開口し、上端部は、バルブボディ10の上面側に形成された凹部11の底面で開口し、下端部はバルブボディ10の下面側で開口している。
圧力センサ400は、流路12cの下端側の開口に設けられ、流路12cの下端側の開口を閉塞している。圧力センサ400は調整用アクチュエータ100(ピエゾ)動作時に、フィードバック用のセンサとして機能する。圧力センサ400をバルブボディ10に適用すると、圧力センサ400から弁体までの距離、及び内容積が縮小されるので、調整用アクチュエータ100へのフィードバックのレスポンスが早くなりストローク量調整の精度と速度が向上する。なお、圧力センサ400の設置場所はこれに限定されるわけではなく、バルブボディ10の外部に設置することも可能である。また、圧力センサ400を使用しない構成も可能である。
流路12,13の開口部はバルブボディ10の側面に限られず、底面や上面等、所望の面に設けることも可能である。
流路12cの上端部の開口の周囲にバルブシート15が設けられている。バルブシート15は、合成樹脂(PFA、PA、PI、PCTFE等)製であり、流路12cの上端側の開口周縁に設けられた装着溝に嵌合固定されている。なお、本実施形態では、かしめ加工によりバルブシート15が装着溝内に固定されている。
流路13は、一端がバルブボディ10の凹部11の底面で開口し、かつ、他端にバルブボディ10の流路12とは反対側の他側面で開口する開口部13aを有し、開口部13aに管継手502が溶接により接続されている。
ダイヤフラム20は、バルブシート15の上方に配設されており、流路12cと流路13とを連通する流路を画定すると共に、その中央部が上下動してバルブシート15に当離座することにより、流路12,13を開閉する。本実施形態では、ダイヤフラム20は、特殊ステンレス鋼等の金属製薄板及びニッケル・コバルト合金薄板の中央部を上方へ膨出させることにより、上に凸の円弧状が自然状態の球殻状とされている。この特殊ステンレス鋼薄板3枚とニッケル・コバルト合金薄板1枚とが積層されてダイヤフラム20が構成されている。
ダイヤフラム20は、その外周縁部がバルブボディ10の凹部11の底部に形成された突出部上に載置され、凹部11内へ挿入したボンネット30の下端部をバルブボディ10のねじ部へねじ込むことにより、ステンレス合金製の押えアダプタ25を介してバルブボディ10の前記突出部側へ押圧され、気密状態で挾持固定されている。尚、ニッケル・コバルト合金薄膜は、接ガス側に配置されているダイヤフラムとしては、他の構成のものも使用可能である。
操作部材40は、ダイヤフラム20に流路12と流路13との間を開閉させるようにダイヤフラム20を操作するための部材であり、略円筒状に形成され、上端側が開口している。操作部材40は、ボンネット30の内周面にOリングORを介して嵌合し(図1C,1D参照)、上下方向A1,A2に移動自在に支持されている。
操作部材40の下端面にはダイヤフラム20の中央部上面に当接するポリイミド等の合成樹脂製のダイヤフラム押え48が装着されている。
ダイヤフラム押え48の外周部に形成された鍔部48aの上面と、ボンネット30の天井面との間には、コイルばね90が設けられ、操作部材40はコイルばね90により下方向A2に向けて常時付勢されている。このため、主アクチュエータ60が作動していない状態では、ダイヤフラム20はバルブシート15に押し付けられ、流路12と流路13の間は閉じられた状態となる。
アクチュエータ受け27の下面とダイヤフラム押え48の上面との間には、弾性部材としての皿ばね120が設けられている。
ケーシング50は、上側ケーシング部材51と下側ケーシング部材52からなり、下側ケーシング部材52の下端部内周のねじがボンネット30の上端部外周のねじに螺合している。また、下側ケーシング部材52の上端部外周のねじに上側ケーシング部材51の下端部内周のねじが螺合している。
下側ケーシング部材52の上端部とこれに対向する上側ケーシング部材51の対向面51fとの間には、環状のバルクヘッド65が固定されている。バルクヘッド65の内周面と操作部材40の外周面との間およびバルクヘッド65の外周面と上側ケーシング部材51の内周面との間は、OリングORによりそれぞれシールされている。
主アクチュエータ60は、環状の第1〜第3のピストン61,62,63を有する。第1〜第3のピストン61,62,63は、操作部材40の外周面に嵌合しており、操作部材40とともに上下方向A1,A2に移動可能となっている。第1〜第3のピストン61,62,63の内周面と操作部材40の外周面との間、および、第1〜第3のピストン61,62,63の外周面と上側ケーシング部材51,下側ケーシング部材52,ボンネット30の内周面との間は複数のOリングORでシールされている。
図1Cおよび1Dに示すように、操作部材40の内周面には、円筒状の隔壁部材130が当該操作部材40の内周面との間に間隙GP1を持つように固定されている。間隙GP1は、隔壁部材130の上端側および下端側の外周面と操作部材40の内周面との間に設けられた複数のOリングOR1〜OR3によりシールされ、駆動流体としての圧縮エアGの流通路となっている。この間隙GP1で形成される流通路は、圧電アクチュエータ100と同心状に配置されている。後述する圧電アクチュエータ100のケーシング101と隔壁部材130との間には、間隙GP2が形成されている。
図1Dに示すように、第1〜第3のピストン61,62,63の下面側には、それぞれ圧力室C1〜C3が形成されている。
操作部材40には、圧力室C1,C2,C3に連通する位置において半径方向に貫通する流通路40h1,40h2,40h3が形成されている。流通路40h1,40h2,40h3は、操作部材40の周方向に等間隔に複数形成されている。流通路40h1,40h2,40h3は、上記した間隙GP1で形成される流通路とそれぞれ接続されている。
ケーシング50の上側ケーシング部材51には、上面で開口し上下方向A1,A2に延びかつ圧力室C1に連通する流通路50hが形成されている。流通路50hの開口部には、管継手152を介して供給管150が接続されている。これにより、供給管150から供給される圧縮エアGは、上記した各流通路を通じて圧力室C1,C2,C3に供給される。
ケーシング50内の第1のピストン61の上方の空間SPは、調整ボディ70の貫通孔を通じて大気につながっている。
図1Cに示すように、リミットスイッチ160は、ケーシング50上に設置され可動ピン161がケーシング50を貫通して第1のピストン61の上面に接触している。リミットスイッチ160は、可動ピン161の移動に応じて、第1のピストン61(操作部材40)の上下方向A1,A2の移動を検出する。
ここで、図2を参照して圧電アクチュエータ100の動作について説明する。
圧電アクチュエータ100は、図2に示す円筒状のケーシング101に図示しない積層された圧電素子を内蔵している。ケーシング101は、ステンレス合金等の金属製で、半球状の先端部102側の端面および基端部103側の端面が閉塞している。積層された圧電素子に電圧を印可して伸長させることで、ケーシング101の先端部102側の端面が弾性変形し、半球状の先端部102が長手方向において変位する。積層された圧電素子の最大ストロークを2dとすると、圧電アクチュエータ100の伸びがdとなる所定電圧V0を予めかけておくことで、圧電アクチュエータ100の全長はL0となる。そして、所定電圧V0よりも高い電圧をかけると、圧電アクチュエータ100の全長は最大でL0+dとなり、所定電圧V0よりも低い電圧(無電圧を含む)をかけると、圧電アクチュエータ100の全長は最小でL0−dとなる。したがって、上下方向A1,A2において先端部102から基端部103までの全長を伸縮させることができる。なお、本実施形態では、圧電アクチュエータ100の先端部102を半球状としたが、これに限定されるわけではなく、先端部が平坦面であってもよい。
図1Cや図1Dに示すように、圧電アクチュエータ100への給電は、配線105により行われる。配線105は、調整ボディ70の貫通孔70aを通じて外部に導出されている。
圧電アクチュエータ100の基端部103の上下方向の位置は、図1Cや図1Dに示すように、アクチュエータ押え80を介して調整ボディ70の下端面により規定されている。調整ボディ70は、ケーシング50の上部に形成されたねじ孔に調整ボディ70の外周面に設けられたねじ部が螺合されており、調整ボディ70の上下方向A1,A2の位置を調整することで、圧電アクチュエータ100の上下方向A1,A2の位置を調整できる。
圧電アクチュエータ100の先端部102は、図1に示すように円盤状のアクチュエータ受け27の上面に形成された円錐面状の受け面に当接している。アクチュエータ受け27は、上下方向A1,A2に移動可能となっている。
圧力レギュレータ200は、一次側に管継手201を介して供給管203が接続され、二次側には供給管150の先端部に設けられた管継手151が接続されている。
圧力レギュレータ200は、周知のポペットバルブ式の圧力レギュレータであり、詳細説明を省略するが、供給管203を通じて供給される高圧の圧縮エアGを所望の圧力へ下げて二次側の圧力が予め設定された圧力になるように制御される。供給管203を通じて供給される圧縮エアGの圧力に脈動や外乱による変動が存在する場合に、この変動を抑制して二次側へ出力する。
本実施形態では、ポペットバルブ式の圧力レギュレータを用いているが、他のタイプの圧力レギュレータを用いることができる。また、圧力レギュレータに限らず、ダンピングフィルタのような供給管150に供給される圧縮エアGの圧力変動を抑制する機構であれば採用可能である。
図3に、半導体製造装置のプロセスガス制御系へ本実施形態に係るバルブ装置1を適用した例を示す。
図3の半導体製造装置1000は、例えば、ALD法による半導体製造プロセスを実行するための装置であり、800は圧縮エアGの供給源、810はプロセスガスPGの供給源、900A〜900C流体制御装置、VA〜VCは開閉バルブ、1A〜1Cは本実施形態に係るバルブ装置、CHA〜CHCは処理チャンバである。
ALD法による半導体製造プロセスでは、プロセスガスの流量を精密に調整する必要があるとともに、基板の大口径化により、処理ガスの流量を確保する必要もある。
流体制御装置900A〜900Cは、正確に計量したプロセスガスPGを処理チャンバCHA〜CHCにそれぞれ供給するために、開閉バルブ、レギュレータ、マスフローコントローラ等の各種の流体機器を集積化した集積化ガスシステムである。
バルブ装置1A〜1Cは、上記したダイヤフラム20の開閉により、流体制御装置900A〜900CからのプロセスガスPGの流量を精密に制御して処理チャンバCHA〜CHCにそれぞれ供給する。
開閉バルブVA〜VCは、バルブ装置1A〜1Cに開閉動作させるために、制御指令に応じて圧縮エアGの供給遮断を実行する。
上記のような半導体製造装置1000では、共通の供給源800から圧縮エアGが供給されるが、開閉バルブVA〜VCはそれぞれ独立に駆動される。
共通の供給源800からは、ほぼ一定の圧力の圧縮エアGが常時出力されるが、開閉バルブVA〜VCがそれぞれ独立に開閉されると、バルブ開閉時の圧力損失等の影響を受けてバルブ装置1A〜1Cにそれぞれ供給される圧縮エアGの圧力が変動を起こし、一定ではなくなる。
バルブ装置1A〜1Cに供給される圧縮エアGの圧力が変動すると、上記した圧電アクチュエータ100による流量調整量が変動してしまう可能性がある。この問題を解決するために、上記した圧力レギュレータ200が設けられている。
次に、図4〜図6Bを参照して、本実施形態に係るバルブ装置1の動作について圧力レギュレータ200の作用とともに説明する。
図4は、バルブ装置1のバルブ全閉状態を示している。図4に示す状態では、圧縮エアGは供給されていない。この状態において、皿ばね120は既にある程度圧縮されて弾性変形しており、この皿ばね120の復元力により、アクチュエータ受け27は上方向A1に向けて常時付勢されている。これにより、圧電アクチュエータ100も上方向A1に向けて常時付勢され、基端部103の上面がアクチュエータ押え80に押し付けられた状態となっている。これにより、圧電アクチュエータ100は、上下方向A1,A2の圧縮力を受け、バルブボディ10に対して所定の位置に配置される。圧電アクチュエータ100は、いずれの部材にも連結されていないので、操作部材40に対して上下方向A1,A2において相対的に移動可能である。
皿ばね120の個数や向きは条件に応じて適宜変更できる。また、皿ばね120以外にもコイルばね、板ばね等の他の弾性部材を使用できるが、皿ばねを使用すると、ばね剛性やストローク等を調整しやすいという利点がある。
図4に示すように、ダイヤフラム20がバルブシート15に当接してバルブが閉じた状態では、アクチュエータ受け27の下面側の規制面27bと、操作部材40のダイヤフラム押え48の上面側の当接面48tとの間には隙間が形成されている。規制面27bの上下方向A1,A2の位置が、開度調整していない状態での開位置OPとなる。規制面27bと当接面48tとの隙間の距離がダイヤフラム20のリフト量Lfに相当する。リフト量Lfは、バルブの開度、すなわち、流量を規定する。リフト量Lfは、上記した調整ボディ70の上下方向A1,A2の位置を調整することで変更できる。図4に示す状態のダイヤフラム押え48(操作部材40)は、当接面48tを基準にすると、閉位置CPに位置する。この当接面48tが、アクチュエータ受け27の規制面27bに当接する位置、すなわち、開位置OPに移動すると、ダイヤフラム20がバルブシート15からリフト量Lf分だけ離れる。
供給管150を通じて駆動エアGをバルブ装置1内に供給すると、図5に示すように、操作部材40を上方向A1に押し上げる推力が主アクチュエータ60に発生する。駆動エアGの圧力は、操作部材40にコイルばね90および皿ばね120から作用する下方向A2の付勢力に抗して操作部材40を上方向A1に移動させるのに十分な値に設定されている。このような駆動エアGが供給されると、図5に示すように、操作部材40は皿ばね120をさらに圧縮しつつ上方向A1に移動し、アクチュエータ受け27の規制面27bにダイヤフラム押え48の当接面48tが当接し、アクチュエータ受け27は操作部材40から上方向A1へ向かう力を受ける。この力は、圧電アクチュエータ100の先端部102を通じて、圧電アクチュエータ100を上下方向A1,A2に圧縮する力として作用する。したがって、操作部材40に作用する上方向A1の力は、圧電アクチュエータ100の先端部102で受け止められ、操作部材40のA1方向の移動は、開位置OPにおいて規制される。この状態において、ダイヤフラム20は、バルブシート15から上記したリフト量Lfだけ離隔する。
この状態において、供給管150を通じて供給される駆動エアGの圧力に変動が大きいと、操作部材40に作用する上方向A1の力も変動し、圧電アクチュエータ100が上下方向A1,A2において変形する。圧電アクチュエータ100が上下方向A1,A2において変形すると、リフト量Lfが変化して流量が変化してしまう。
圧力レギュレータ200は、圧電アクチュエータ100の上下方向A1,A2における変形を許容値に収めるように、駆動エアGの圧力の変動を抑制するように作用する。
図5に示す状態におけるバルブ装置1から出力される流体の流量を調整したい場合には、圧電アクチュエータ100を作動させる。
図6Aおよび図6Bの中心線Ctの左側は、図5に示す状態を示しており、中心線Ctの右側は操作部材40の上下方向A1,A2の位置を調整した後の状態を示している。
流体の流量を減少させる方向に調整する場合には、図6Aに示すように、圧電アクチュエータ100を伸長させて、操作部材40を下方向A2に移動させる。これにより、ダイヤフラム20とバルブシート15との距離である調整後のリフト量Lf-は、調整前のリフト量Lfよりも小さくなる。
流体の流量を増加させる方向に調整する場合には、図6Bに示すように、圧電アクチュエータ100を短縮させて、操作部材40を上方向A1に移動させる。これにより、ダイヤフラム20とバルブシート15との距離である調整後のリフト量Lf+は、調整前のリフト量Lfよりも大きくなる。
供給管150を通じて供給される駆動エアGの圧力の変動は、圧電アクチュエータ100の調整量にも影響を与える。
圧力レギュレータ200は、圧電アクチュエータ100の調整量の誤差が所望の範囲に収まるように、駆動エアGの圧力の変動を抑制するように作用する。
本実施形態では、ダイヤフラム20のリフト量の最大値は100〜200μm程度で、圧電アクチュエータ100による調整量は±20μm程度である。
すなわち、圧電アクチュエータ100のストロークでは、ダイヤフラム20のリフト量をカバーすることができないが、駆動エアGで動作する主アクチュエータ60と圧電アクチュエータ100を併用することで、相対的にストロークの長い主アクチュエータ60でバルブ装置1の供給する流量を確保しつつ、相対的にストロークの短い圧電アクチュエータ100で精密に流量調整することができ、調整ボディ70等により手動で流量調整をする必要がなくなるので、流量調整工数が大幅に削減される。
本実施形態によれば、圧電アクチュエータ100に印可する電圧を変化させるだけで精密な流量調整が可能であるので、流量調整を即座に実行できるとともに、リアルタイムに流量制御をすることも可能となる。
本実施形態によれば、圧力レギュレータ200を設けたことにより、圧力変動に対する流量変動の発生を抑制でき、より高精密な流量制御が実現される。
本実施形態によれば、圧力レギュレータ200を収容ボックス301内の所定の場所に固定しているので、圧力レギュレータ200から圧力室までの距離および内容積をバルブ毎に一定にすることができ、より精密な流量調整が可能になる。すなわち、調整用アクチュエータ100によって「流量」は調整可能になるが、圧力レギュレータ200から圧力室までの距離およびその間の内容積がバルブ毎に異なると、ダイヤフラム20の「開閉速度」にばらつきが出るため、処理チャンバに供給する処理ガスの供給量を正確に制御できなくなる。
上記実施形態では、圧力レギュレータ200は、収容ボックス301内に設けたが、主アクチュエータ60への供給経路上であれば収容ボックス301外に設置することも可能である。
(調整用アクチュエータによって「流量」は調整可能になるが、
レギュレータから圧力室の距離、内容積がバルブ毎に異なると「開閉速度」にばらつきが出るため、処理チャンバに供給する処理ガスの供給量を正確に制御できなくなる)※請求項4の効果
上記実施形態では、調整用アクチュエータとして、圧電アクチュエータを用いたが、これに限定されるわけではない。たとえば、電界の変化に応じて変形する化合物からなる電気駆動材料をアクチュエータとして用いることができる。電流又は電圧により電気駆動材料の形状や大きさを変化させ、規定される操作部材40の開位置を変化させることができる。このような電気駆動材料は、圧電材料であってもよいし、圧電材料以外の電気駆動材料であってもよい。圧電材料以外の電気駆動材料とする場合には電気駆動型高分子材料とすることができる。
電気駆動型高分子材料は、電気活性高分子材料(Electro Active Polymer:EAP)ともよばれ、例えば外部電場やクーロン力により駆動する電気性EAP、およびポリマーを膨潤させている溶媒を電場により流動させて変形させる非イオン性EAP、電場によるイオンや分子の移動により駆動するイオン性EAP等があり、これらのいずれか又は組合せを用いることができる。
上記実施形態では、いわゆるノーマリクローズタイプのバルブを例に挙げたが、本発明はこれに限定されるわけではなく、ノーマリオープンタイプのバルブにも適用可能である。この場合にも、弁体の開度調整を調整用アクチュエータで行うようにすればよい。
上記適用例では、バルブ装置1をALD法による半導体製造プロセスに用いる場合について例示したが、これに限定されるわけではなく、本発明は、例えば原子層エッチング法(ALE:Atomic Layer Etching 法)等、精密な流量調整が必要なあらゆる対象に適用可能である。
上記実施形態では、主アクチュエータとして、ガス圧で作動するシリンダ室に内蔵されたピストンを用いたが、本発明はこれに限定されるわけではなく、制御対象に応じて最適なアクチュエータを種々選択可能である。
1 バルブ装置
10 バルブボディ
11 凹部
12,13 流路
15 バルブシート
20 ダイヤフラム(弁体)
25 押えアダプタ
27 アクチュエータ受け
30 ボンネット
40 操作部材
48 ダイヤフラム押え(操作部材)
50 ケーシング
51 上側ケーシング部材
52 下側ケーシング部材
60 主アクチュエータ
70 調整ボディ
80 アクチュエータ押え
90 コイルばね
100 圧電アクチュエータ(調整用アクチュエータ)
101 ケーシング
102 先端部
103 基端部
120 皿ばね
150 供給管
160 リミットスイッチ
200 圧力レギュレータ
OR Oリング
G 圧縮エア(駆動流体)
Lf 調整前のリフト量
Lf+,Lf− 調整後のリフト量

Claims (9)

  1. 流路を画定するバルブボディと、
    前記バルブボディの流路を開閉可能に設けられた弁体と、
    予め設定された前記弁体に流路を閉鎖させる閉位置と予め設定された前記弁体に流路を開放させる開位置との間で移動可能に設けられた前記弁体を操作する操作部材と、
    供給される駆動流体の圧力を受けて、前記操作部材を前記開位置又は閉位置に移動させる主アクチュエータと、
    前記主アクチュエータが発生する力の少なくとも一部が作用するように配置され、前記開位置に位置付けられた前記操作部材の位置を調整するための調整用アクチュエータと、
    前記駆動流体の前記主アクチュエータへの供給経路に設けられ、前記主アクチュエータへ供給される前記駆動流体の圧力の変動を抑制するための圧力安定化機構と、を有するバルブ装置。
  2. 前記圧力安定化機構は、供給される前記駆動流体の圧力を調圧する圧力レギュレータを含む、請求項1のバルブ装置。
  3. 前記主アクチュエータは、前記操作部材を前記開位置に移動させ、
    前記調整用アクチュエータは、前記主アクチュエータにより前記開位置に位置付けられた前記操作部材に作用する力を当該調整用アクチュエータの先端部で受け止めて当該操作部材の移動を規制しつつ、当該操作部材の位置を調整する、請求項1または2に記載のバルブ装置。
  4. 前記主アクチュエータおよび前記調整用アクチュエータを内蔵するケーシングを有し、
    前記ケーシング内には、前記圧力安定化機構を通じた前記駆動流体を前記主アクチュエータへ供給する流通路が形成され、
    前記流通路は、当該流通路を流通する駆動流体の圧力が前記調整用アクチュエータに作用しないように分離して形成されている、請求項1〜3のいずれかに記載のバルブ装置。
  5. 前記主アクチュエータは、環状のピストンを有し、
    前記調整用アクチュエータおよび操作部材は、前記環状のピストンと同心状に配置されており、
    前記流通路は、前記調整用アクチュエータと同心状に配置された流通路を有する、請求項4に記載のバルブ装置。
  6. 前記調整用アクチュエータは、給電に応じて伸縮する駆動源を有する、請求項1〜5のいずれかに記載のバルブ装置。
  7. 前記調整用アクチュエータは、圧電素子の伸縮を利用したアクチュエータを含む、請求項1〜6のいずれかに記載のバルブ装置。
  8. 前記調整用アクチュエータは、基端部と先端部とを有するケーシングと、当該ケーシング内に収容され前記基端部と前記先端部との間で積層された圧電素子と、を有し、前記圧電素子の伸縮を利用して当該ケーシングの前記基端部と前記先端部との間の全長を伸縮させる、請求項7に記載のバルブ装置。
  9. 前記調整用アクチュエータは、電気駆動型ポリマーを駆動源として有するアクチュエータを含む、請求項1〜6のいずれかに記載のバルブ装置。
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