JPWO2019163899A1 - 電圧測定装置、電圧検出回路、及びデバイスアドレス生成方法 - Google Patents

電圧測定装置、電圧検出回路、及びデバイスアドレス生成方法 Download PDF

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Abstract

電圧測定装置（１００）は、直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定する電圧検出回路（１）を複数備える電圧測定装置（１００）であって、電圧検出回路（１）は、前段の電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成するデバイスアドレス生成回路（２７１、２８１）と、第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の電圧検出回路へ送信するアドレス付与コマンド生成回路（２７３、２８３）とを備える。

Description

本開示は、電圧測定装置、電圧検出回路、及びデバイスアドレス生成方法に関する。
特許文献１は、デイジーチェーン接続される複数の電圧検出回路を備える従来技術の電圧測定装置を開示している。
特開２０１１−５０１７６号公報
従来技術では、いずれかの電圧検出回路間の通信経路に障害がある場合、障害の箇所より上側にある電圧検出回路にはデバイスアドレスを設定できないという課題を有している。
本開示は、障害の箇所よりも先の箇所にある電圧検出回路にデバイスアドレスを設定可能にする電圧測定装置、電圧検出回路、及びデバイスアドレス生成方法を提供することを目的とする。
本開示の一態様に係る電圧測定装置は、直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定する電圧検出回路を複数備える電圧測定装置であって、前記電圧検出回路は、前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成するデバイスアドレス生成回路と、前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信するアドレス付与コマンド生成回路とを備える。
本開示の一態様に係る電圧検出回路は、直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定し、電圧検出回路を複数備える電圧測定装置に含まれる１つの前記電圧検出回路であって、前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成するデバイスアドレス生成回路と、前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信するアドレス付与コマンド生成回路とを備える。
本開示の一態様に係るデバイスアドレス生成方法は、直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定し、電圧検出回路を複数備える電圧測定装置におけるデバイスアドレス生成方法であって、前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成し、前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信する。
本開示の一態様は、複数のセルを直列に接続して構成される組電池を対象としてセル電圧を測定する複数の電圧検出回路とコントローラと第１の通信回路と第２の通信回路を備えた電圧測定装置であって、上記複数の電圧検出回路はデイジーチェーン接続され、上記電圧検出回路は、下側からの通信の受信と下側への通信の送信を行う下側通信回路と、上記下側通信回路が受信したアドレス付与コマンドからデバイスアドレスを生成する下側デバイスアドレス生成回路と、上記アドレス付与コマンドから次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する下側次デバイスアドレス生成回路と、上記下側次デバイスアドレス生成回路が生成したデバイスアドレスをデータフィールドの値として次段のアドレス付与コマンドを生成する下側アドレス付与コマンド生成回路と、上側からの通信の受信と上側への通信の送信を行う上側通信回路と、上記上側通信回路が受信したアドレス付与コマンドからデバイスアドレスを生成する上側デバイスアドレス生成回路と、上記アドレス付与コマンドから次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する上側次デバイスアドレス生成回路と、上記上側次デバイスアドレス生成回路が生成したデバイスアドレスをデータフィールドの値として次段のアドレス付与コマンドを生成する上側アドレス付与コマンド生成回路と、上記下側デバイスアドレス生成回路が生成するデバイスアドレスと上記上側デバイスアドレス生成回路が生成するデバイスアドレスを格納するデバイスアドレス保持回路を備え、上記下側通信回路は上記上側アドレス付与コマンド生成回路が生成するアドレス付与コマンドを送信し、上記上側通信回路は上記下側アドレス付与コマンド生成回路が生成するアドレス付与コマンドを送信し、上記コントローラは上記第１の通信回路を介して最下段の上記電圧検出回路に接続され、上記第２の通信回路を介して最上段の上記電圧検出回路に接続され、上記アドレス付与コマンドの送信を行う電圧測定装置である。
本開示の一態様は、上記電圧測定装置に用いられる電圧検出回路である。
本開示の一態様は、上記電圧測定装置と、複数のセルを直列に接続して構成される組電池によって構成される組電池システムである。
本開示の一態様は、複数のセルを直列に接続して構成される組電池を対象としてセル電圧を測定する複数の電圧検出回路とコントローラと第１の通信回路と第２の通信回路を備え、上記複数の電圧検出回路はデイジーチェーン接続され、上記コントローラは上記第１の通信回路を介して最下段の上記電圧検出回路に接続され、上記第２の通信回路を介して最上段の上記電圧検出回路に接続され、通信コマンドの送信を行う電圧測定方法であって、上記電圧検出回路は、デバイスアドレス保持回路を備え、上記コントローラが上記第１の通信回路を介して、最下段の上記電圧検出回路の下側へアドレス付与コマンドを送信するステップと、上記電圧検出回路が下側から受信した上記アドレス付与コマンドのデータフィールドの値からデバイスアドレスを生成して上記デバイスアドレス保持回路へ格納するステップと、上記電圧検出回路が下側から受信した上記アドレス付与コマンドのデータフィールドの値を更新して新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側へ送信するステップと、上記コントローラが上記第２の通信回路を介して、最上段の上記電圧検出回路の上側へアドレス付与コマンドを送信するステップと、上記電圧検出回路が上側から受信した上記アドレス付与コマンドのデータフィールドの値からデバイスアドレスを生成して上記デバイスアドレス保持回路へ格納するステップと、上記電圧検出回路が上側から受信した上記アドレス付与コマンドのデータフィールドの値を更新して新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側へ送信するステップと、からなる。
本開示によれば、障害の箇所よりも先の箇所にある電圧検出回路にデバイスアドレスを設定することができる。
例えば、本開示によると、電圧検出回路間の通信経路に障害がある場合でも、障害の箇所より下側にある電圧検出回路は下側からのアドレス付与コマンドで、障害箇所より上側にある電圧検出回路は上側からのアドレス付与コマンドでデバイスアドレスを設定することができる。
図１Ａは、実施の形態１に係る電圧検出回路、電圧測定装置、組電池システムの構成図である。 図１Ｂは、実施の形態１に係る電圧検出回路、電圧測定装置、組電池システムの他の構成図である。 図２は、一般的な実施の形態１に係る組電池システムの構成図である。 図３は、実施の形態１に係る電圧検出回路の構成図である。 図４は、実施の形態１に係るアドレス付与コマンドを説明する図である。 図５Ａは、実施の形態１に係る電圧測定方法を説明する図である。 図５Ｂは、実施の形態１に係る電圧測定方法を説明する図である。 図６Ａは、実施の形態１に係る電圧測定方法を説明する図である。 図６Ｂは、実施の形態１に係る電圧測定方法を説明する図である。 図７は、実施の形態２に係る電圧検出回路の構成図である。 図８は、実施の形態２に係るアドレス付与コマンドを説明する図である。 図９Ａは、実施の形態１に係る電圧測定方法を説明する図である。 図９Ｂは、実施の形態１に係る電圧測定方法を説明する図である。 図１０は、実施の形態３に係る電圧検出回路、電圧測定装置、組電池システムの構成図である。 図１１は、実施の形態３に係るアドレス付与コマンドを説明する図である。 図１２Ａは、実施の形態１に係る電圧測定方法を説明する図である。 図１２Ｂは、実施の形態１に係る電圧測定方法を説明する図である。
（実施の形態１）
図１Ａは、本発明の実施の形態１に係る電圧検出回路、電圧測定装置、組電池システムの構成図である。
組電池システム１０は、電圧測定装置１００および組電池２００を備える。電圧測定装置１００は、複数の電圧検出回路１〜５、第１通信回路１１、第２通信回路１２およびコントローラ１３を備える。コントローラ１３は、図１ＡではＭＣＵ（Micro Computer Unit）を記してある。また、組電池２００は、直列接続された複数のセル２０から構成される。なお、図１Ｂに示すように、図１Ａの第１通信回路１１および第２通信回路１２の代わりに１つの通信回路１４を備える構成としてもよい。
図１Ａ〜図６Ｂに示すように、実施の形態１に係る電圧測定装置１００は、複数のセル２０を直列に接続して構成される組電池２００を対象としてセル電圧を測定する複数の電圧検出回路とコントローラ１３と第１通信回路１１と第２通信回路１２を備えた電圧測定装置１００であって、上述の複数の電圧検出回路はデイジーチェーン接続され、上述の電圧検出回路は、下側からの通信の受信と下側への通信の送信を行う下側通信回路２６と、上述の下側通信回路２６が受信したアドレス付与コマンドからデバイスアドレスを生成する下側デバイスアドレス生成回路２８１と、上述のアドレス付与コマンドから次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する下側次デバイスアドレス生成回路２８２と、上述の下側次デバイスアドレス生成回路２８２が生成したデバイスアドレスをデータフィールドの値として次段のアドレス付与コマンドを生成する下側アドレス付与コマンド生成回路２８３と、上側からの通信の受信と上側への通信の送信を行う上側通信回路２５と、上述の上側通信回路２５が受信したアドレス付与コマンドからデバイスアドレスを生成する上側デバイスアドレス生成回路２７１と、上述のアドレス付与コマンドから次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する上側次デバイスアドレス生成回路２７２と、上述の上側次デバイスアドレス生成回路２７２が生成したデバイスアドレスをデータフィールドの値として次段のアドレス付与コマンドを生成する上側アドレス付与コマンド生成回路２７３と、上述の下側デバイスアドレス生成回路２８１が生成するデバイスアドレスと上述の上側デバイスアドレス生成回路２７１が生成するデバイスアドレスを格納するデバイスアドレス保持回路２１を備え、上述の下側通信回路２６は上述の上側アドレス付与コマンド生成回路２７３が生成するアドレス付与コマンドを送信し、上述の上側通信回路２５は上述の下側アドレス付与コマンド生成回路２８３が生成するアドレス付与コマンドを送信し、上述のコントローラ１３は上述の第１通信回路１１を介して最下段の上述の電圧検出回路に接続され、上述の第２通信回路１２を介して最上段の上述の電圧検出回路に接続され、上述のアドレス付与コマンドの送信を行う。
また、上述の下側デバイスアドレス生成回路２８１は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を抽出してデバイスアドレスとして出力し、上述の下側次デバイスアドレス生成回路２８２は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を減少させて次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成し、上述の上側デバイスアドレス生成回路２７１は、与えられた補正値から上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を減算してデバイスアドレスとして出力し、上述の上側次デバイスアドレス生成回路２７２は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を減少させて次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する。
また、上述の補正値は、上述のアドレス付与コマンドに含まれ、上述の上側デバイスアドレス生成回路２７１によって抽出される。
更に、図面を参照としながら、詳細を説明する。
図１Ａより、実施の形態１に係る電圧測定装置１００は、複数のセル２０を直列に接続して構成される組電池２００を対象としてセル電圧を測定する複数の電圧検出回路とコントローラ１３（ＭＣＵ）と、第１、第２通信回路１２を備える。また、複数の電圧検出回路はデイジーチェーン接続される。
ここで、本開示の理解を容易するため、一般的な電圧測定装置１００について説明する。
図２は、一般的な組電池システムの構成図である。同図の組電池システム１０は、電圧測定装置１００および組電池２００を備える。電圧測定装置１００は、複数の電圧検出回路１〜４、コントローラ１３および通信回路１４を備える。図２の電圧検出回路１〜４はそれぞれ、デバイスアドレス保持回路２１、上側通信回路２５、下側通信回路２６およびアドレス付与回路２７を備える。
図２に示されるように、一般的な電圧測定装置１００は、複数のセル２０を直列に接続して構成される組電池２００を対象としてセル電圧を測定する複数の電圧検出回路と、コントローラ１３（ＭＣＵ）と通信回路を備える。また、複数の電圧検出回路はデイジーチェーン接続される。
また、アドレス付与コマンドは電圧検出回路を識別するためのデバイスアドレスを各電圧検出回路に設定するコマンドであり、コマンドはデータフィールドを持ち、データフィールドの値がデバイスアドレスとして設定される。
また、電圧検出回路は、上側通信回路２５、下側通信回路２６、アドレス付与回路２７、および、デバイスアドレス保持回路２１を備える。
また、下側通信回路２６が下側の電圧検出回路から受信した通信コマンドをアドレス付与回路２７が解読し、アドレス付与コマンドである場合は、データフィールドの値をデバイスアドレス保持回路２１に設定し、データフィールドの値から１を減算して新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側通信回路２５に与える。上側通信回路２５は、新たなアドレス付与コマンドを上側の電圧検出回路に送信する。
このような構成により、例えば、４つの電圧検出回路に対して、ＭＣＵが通信回路を介して、データフィールドの値が４であるアドレス付与コマンドを最下段の電圧検出回路に与えると、最下段から順に、４，３，２，１の値がデバイスアドレス保持回路２１に設定される。
しかしながら、この構成では、いずれかの電圧検出回路間の通信経路に障害がある場合、障害の箇所より上側にある電圧検出回路にはデバイスアドレスを設定できないという問題が生じる。例えば、電圧検出回路２と３の間の通信経路が断線している場合、電圧検出回路１と２にはデバイスアドレスを設定できないという問題が生じる。
一方、実施の形態１に係る電圧検出回路、電圧測定装置１００、組電池システム１０、及び電圧測定方法は、上述の問題を解決することが出来る。その詳細を、図面を参照しながら、説明する。
図３は、実施の形態１に係る電圧検出回路の構成図である。
同図の電圧検出回路１は、デバイスアドレス保持回路２１、上側通信回路２５、下側通信回路２６、およびアドレス付与回路２７を備える。上側通信回路２５は、送信回路２５１および受信回路２５２を備える。下側通信回路２６は、送信回路２６１および受信回路２６２を備える。アドレス付与回路２７は、上側デバイスアドレス生成回路２７１、上側次デバイスアドレス生成回路２７２、上側アドレス付与コマンド生成回路２７３、下側デバイスアドレス生成回路２８１下側次デバイスアドレス生成回路２８２、および下側アドレス付与コマンド生成回路２８３を備える。上側デバイスアドレス生成回路２７１は、抽出回路２７４および減算器２７５を備える。上側次デバイスアドレス生成回路２７２は抽出回路２７６および減算器２７７を備える。下側次デバイスアドレス生成回路２８２は、抽出回路２８６および減算器２８７を備える。なお、図１Ａ、図１Ｂに示した電圧検出回路２〜４も図３と同様の構成である。
図３に示すように、下側からの通信の受信と下側への通信の送信を行う下側通信回路２６と、上述の下側通信回路２６が受信したアドレス付与コマンドからデバイスアドレスを生成する下側デバイスアドレス生成回路２８１と、上述のアドレス付与コマンドから次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する下側次デバイスアドレス生成回路２８２と、上述の下側次デバイスアドレス生成回路２８２が生成したデバイスアドレスをデータフィールドとして次段のアドレス付与コマンドを生成する下側アドレス付与コマンド生成回路２８３と、上側からの通信の受信と上側への通信の送信を行う上側通信回路２５と、上述の上側通信回路２５が受信したアドレス付与コマンドからデバイスアドレスを生成する上側デバイスアドレス生成回路２７１と、上述のアドレス付与コマンドから次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する上側次デバイスアドレス生成回路２７２と、上述の上側次デバイスアドレス生成回路２７２が生成したデバイスアドレスをデータフィールドとして次段のアドレス付与コマンドを生成する上側アドレス付与コマンド生成回路２７３と、上述の下側デバイスアドレス生成回路２８１が生成するデバイスアドレスと上述の上側デバイスアドレス生成回路２７１が生成するデバイスアドレスを格納するデバイスアドレス保持回路２１を備える。
また、図３より、上述の下側通信回路２６は上述の上側アドレス付与コマンド生成回路２７３が生成するアドレス付与コマンドを送信し、上述の上側通信回路２５は上述の下側アドレス付与コマンド生成回路２８３が生成するアドレス付与コマンドを送信し、上述のコントローラ１３は上述の第１通信回路１１を介して最下段の上述の電圧検出回路に接続され、上述の第２通信回路１２を介して最上段の上述の電圧検出回路に接続され、上述のアドレス付与コマンドの送信を行う。
また、図３より、下側からのアドレス付与コマンドとして、下側通信回路２６が下側からのアドレス付与コマンドを受信すると、下側デバイスアドレス生成回路２８１は、受信されたアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を抽出し、デバイスアドレスとしてデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
同時に、下側次デバイスアドレス生成回路２８２は、減算器で、抽出したデータフィールドの値から１を減算して、次デバイスアドレスとして出力する。下側アドレス付与コマンド生成回路２８３は、次デバイスアドレスをデータフィールドの値とした新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側通信回路２５は新たなアドレス付与コマンドを上側へ送信する。
また、図３より、上側からのアドレス付与コマンドとして、上側通信回路２５が上側からのアドレス付与コマンドを受信すると、上側デバイスアドレス生成回路２７１は、受信されたアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を抽出し、与えられた補正値からデータフィールドの値を減算し、デバイスアドレスとしてデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
同時に、上側次デバイスアドレス生成回路２７２は、減算器で、抽出したデータフィールドの値から１を減算して、次デバイスアドレスとして出力する。上側アドレス付与コマンド生成回路２７３は、次デバイスアドレスをデータフィールドの値とした新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側通信回路２６は新たなアドレス付与コマンドを下側へ送信する。
なお、上述の補正値は、アドレス付与コマンドに含めて、上側次デバイスアドレス生成回路２７２に与える、あるいは、事前に別の通信コマンドにより各電圧検出回路内に設定するとしてもよい。
次に、アドレス付与コマンドについて説明する。
図４は、実施の形態１に係るアドレス付与コマンドを説明する図である。図４は、通信経路上に障害がある場合の動作例であり、電圧検出回路２と電圧検出回路３の間の通信経路に障害がある場合のアドレス付与コマンドのフローは、ＭＣＵが第１通信回路１１を介して電圧検出回路４の下側にアドレス付与コマンドを送信する。アドレス付与コマンドのデータフィールドは電圧検出回路の個数である４が指定される。
また、電圧検出回路４の下側通信回路２６がアドレス付与コマンドを受信すると、下側デバイスアドレス生成回路２８１がデータフィールドを抽出し、値の４をデバイスアドレスとして出力して、デバイスアドレス保持回路２１に格納する。下側次デバイスアドレス生成回路２８２は抽出したデータフィールドの値４から１を減算した結果の３を、次デバイスアドレスとして出力する。
また、下側アドレス付与コマンド生成回路２８３は、次デバイスアドレスの３をデータフィールドに設定した新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側通信回路２５が電圧検出回路３へ送信する。
同様に、データフィールドが３であるアドレス付与コマンドを受信した電圧検出回路３は、データフィールドの値の３をデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
ＭＣＵが第２通信回路１２を介して電圧検出回路１の上側にアドレス付与コマンドを送信する。アドレス付与コマンドのデータフィールドは電圧検出回路の個数である４が指定される。各電圧検出回路の補正値には５が指定されている。
電圧検出回路１の上側通信回路２５がアドレス付与コマンドを受信すると、上側デバイスアドレス生成回路２７１がデータフィールドを抽出し、補正値からデータフィールドの値の４を減算した結果の１をデバイスアドレスとして出力して、デバイスアドレス保持回路２１に格納する。上側次デバイスアドレス生成回路２７２は抽出したデータフィールドの値４から１を減算した結果の３を、次デバイスアドレスとして出力する。上側アドレス付与コマンド生成回路２７３は、次デバイスアドレスの３をデータフィールドに設定した新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側通信回路２６が電圧検出回路２へ送信する。
同様に、データフィールドが３であるアドレス付与コマンドを受信した電圧検出回路２は、補正値からデータフィールドの値を減算した結果の２をデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
このようにして、電圧検出回路１〜４のデバイスアドレスには１〜４が正しく設定される。
なお、この例では補正値は電圧検出回路の個数に１を加えた値としている。
これにより、実施の形態１に係る電圧検出装置は、電圧検出回路間の通信経路に障害がある場合でも、障害の箇所より下側にある電圧検出回路は下側からのアドレス付与コマンドで、障害箇所より上側にある電圧検出回路は上側からのアドレス付与コマンドでデバイスアドレスを設定することができる。
次に、実施の形態１に係るデバイスアドレス付与方法について説明する。図５Ａ、図５Ｂは、実施の形態１に係るデバイスアドレス付与方法を説明する図である。図５Ａ、図５Ｂは、実施の形態１に係るデバイスアドレス付与方法を示す処理であり、図５Ａは、コントローラ１３がアドレス付与コマンドを下側から送信する場合であり、図５Ｂは、コントローラ１３がアドレス付与コマンドを上側から送信する場合である。
図５Ａのデバイスアドレス付与方法は、上述のコントローラ１３が上述の第１通信回路１１を介して、最下段の上述の電圧検出回路の下側へアドレス付与コマンドを送信するステップ（Ｓ５１）と、上述の電圧検出回路が下側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値からデバイスアドレスを生成して上述のデバイスアドレス保持回路２１へ格納するステップ（Ｓ５２）と、上述の電圧検出回路が下側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を更新して新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側へ送信するステップ（Ｓ５３）とを有する。
図５Ｂのデバイスアドレス付与方法は、上述のコントローラ１３が上述の第２通信回路１２を介して、最上段の上述の電圧検出回路の上側へアドレス付与コマンドを送信するステップ（Ｓ５５）と、上述の電圧検出回路が上側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値からデバイスアドレスを生成して上述のデバイスアドレス保持回路２１へ格納するステップ（Ｓ５６）と、上述の電圧検出回路が上側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を更新して新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側へ送信するステップ（Ｓ５７）とを有する。
図５Ａおよび図５Ｂを実施する電圧測定装置１００は、複数のセル２０を直列に接続して構成される組電池２００を対象としてセル電圧を測定する複数の電圧検出回路１〜５とコントローラ１３と第１通信回路１１と第２通信回路１２を備える。上述の複数の電圧検出回路はデイジーチェーン接続され、上述のコントローラ１３は上述の第１通信回路１１を介して最下段の上述の電圧検出回路に接続され、上述の第２通信回路１２を介して最上段の上述の電圧検出回路に接続される。上述の各電圧検出回路は、デバイスアドレス保持回路２１を備える。
また、実施の形態１に係る組電池システム１０は、上述した電圧測定装置１００と、複数のセル２０を直列に接続して構成される組電池２００によって構成される。
（実施の形態１の変形例）
図６Ａ、図６Ｂは、実施の形態１の変形例に係るデバイスアドレス付与方法を示す図である.図６Ａは、コントローラ１３がアドレス付与コマンドを下側から送信する場合であり、図６Ｂは、コントローラ１３がアドレス付与コマンドを上側から送信する場合である。
図６Ａのデバイスアドレス付与方法は、上述のコントローラ１３が上述の第１通信回路１１を介して、最下段の電圧検出回路の下側へアドレス付与コマンドを送信するステップ（Ｓ６１）と、上述の電圧検出回路が下側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値をデバイスアドレスとして、デバイスアドレス保持回路２１に格納するステップ（Ｓ６２）と、上述の電圧検出回路が下側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を減少させて新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側へ送信するステップ（Ｓ６３）とを有する。
図６Ｂのデバイスアドレス付与方法は、上述のコントローラ１３が第２通信回路１２を介して、最上段の電圧検出回路の上側へアドレス付与コマンドを送信するステップ（Ｓ６５）と、上述の電圧検出回路が上側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を、与えられた補正値から減算した結果をデバイスアドレスとして、デバイスアドレス保持回路２１に格納するステップ（Ｓ６６）と、上述の電圧検出回路が上側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を減少させて新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側を送信するステップ（Ｓ６７）とを有する。
なお、図１Ｂに示すように、第１通信回路１１および第２通信回路１２の代わりに通信回路１４を備えてもよい。通信回路１４は、双方向の通信でなく単方向の通信を行ってもよい。
以上説明してきたように、実施の形態１に係る電圧測定装置１００は、直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定する電圧検出回路を複数備える電圧測定装置であって、前記電圧検出回路は、前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成するデバイスアドレス生成回路と、前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信するアドレス付与コマンド生成回路と、を備える。
ここで、複数の前記電圧検出回路の一方の終端を最下段、他方の終端を最上段としたとき、前段の前記電圧検出回路は、下側の前記電圧検出回路および上側の前記電圧検出回路の一方であり、後段の前記電圧検出回路は、下側の前記電圧検出回路および上側の前記電圧検出回路の他方であり、前記アドレス付与コマンド生成回路は、下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに応じて前記第２アドレス付与コマンドを生成して上側の前記電圧検出回路へ送信し、かつ、上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに応じて前記第２アドレス付与コマンドを生成して下側の前記電圧検出回路へ送信してもよい。
ここで、前記デバイスアドレス生成回路は、下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドから生成する前記デバイスアドレスと、上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドから生成する前記デバイスアドレスを同じにしてもよい。ここで、前記第１アドレス付与コマンドは、データフィールドを含んでもよい。
ここで、前記デバイスアドレス生成回路は、前記データフィールドの値を用いて前記デバイスアドレスを生成してもよい。
ここで、前記アドレス付与コマンド生成回路は、前記データフィールドの値を減少または増加させた前記第２アドレス付与コマンドを生成してもよい。
ここで、前記デバイスアドレス生成回路は、下側の前記電圧検出回路から前記第１アドレス付与コマンドを受信したとき、受信した前記アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を前記デバイスアドレスとしてもよい。
ここで、前記アドレス付与コマンド生成回路は、上側の前記電圧検出回路から前記第１アドレス付与コマンドを受信したとき、補正値から前記データフィールドの値を減算した値を前記デバイスアドレスとしてもよい。
ここで、前記アドレス付与コマンド生成回路は、下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を減少させた前記第２アドレス付与コマンドを生成してもよい。
ここで、上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドの前記データフィールドの値を減少させた前記第２アドレス付与コマンドを生成してもよい。
ここで、前記電圧測定装置は、前記複数の電圧検出回路のうちの最下段の前記電圧検出回路に接続され、かつ、最上段の前記電圧検出回路に接続され、前記アドレス付与コマンドの送信を行うコントローラを備えてもよい。
ここで、前記補正値は、前記アドレス付与コマンドに含まれていてもよい。
ここで、前記補正値は、予め定められた値であってもよい。
ここで、前記電圧測定装置は、直列に接続された前記複数のセルを有する組電池を備えてもよい。
また、実施の形態１に係る電圧検出回路は、直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定し、電圧検出回路を複数備える電圧測定装置に含まれる１つの前記電圧検出回路であって、前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成するデバイスアドレス生成回路と、前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信するアドレス付与コマンド生成回路と、を備える。また、実施の形態１に係るデバイスアドレス生成方法は、直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定し、電圧検出回路を複数備える電圧測定装置におけるデバイスアドレス生成方法であって、前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成し、前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信する。
（実施の形態２）
実施の形態２に係る電圧検出回路、電圧測定装置１００、組電池システム１０、及び電圧測定方法について、図７〜図９Ｂを用いて、上述した実施の形態との相違点を中心に説明する。
図７は、実施の形態２に係る電圧検出回路の構成図である。同図の電圧検出回路１は、図３と比べて、上側次デバイスアドレス生成回路２７２が減算器２７７の代わりに加算器２７９を備える点と、下側次デバイスアドレス生成回路２８２が減算器２８７の代わりに加算器２８９を備える点とが異なっている。以下、異なる点を中心に説明する。なお、電圧検出回路２〜４も図７と同様の構成である。
実施の形態２では、上述の下側デバイスアドレス生成回路２８１は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を抽出してデバイスアドレスとして出力し、上述の下側次デバイスアドレス生成回路２８２は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を増加させて次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成し、上述の上側デバイスアドレス生成回路２７１は、与えられた補正値から上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を減算してデバイスアドレスとして出力し、上述の上側次デバイスアドレス生成回路２７２は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を増加させて次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する。
また、図７に示すように、実施の形態２に係る電圧検出回路は、実施の形態１に係る電圧検出回路（図３）との違いは、下側次デバイスアドレス生成回路２８２と上側次デバイスアドレス生成回路２７２で次デバイスアドレスの生成に用いる減算器を加算器に変えた点である。
また、下側次デバイスアドレス生成回路２８２は、受信されたアドレス付与コマンドからデータフィールドの値を抽出し、加算器で１を加えた値を次デバイスアドレスとして出力する。
また、上側次デバイスアドレス生成回路２７２も、同様に、データフィールドの値に１を加えた値を次デバイスアドレスとして出力する。
また、通信経路上に障害がある場合の動作例として、デバイスアドレスは、各電圧検出回路を識別するために用いるので、最下段の電圧検出回路から順に１，２，３，４と昇順に設定しても構わない。
図８は、実施の形態２に係るアドレス付与コマンドを説明する図である。
図８は、電圧検出回路２と電圧検出回路３の間の通信経路に障害がある場合のアドレス付与コマンドのフローを示す。
ＭＣＵが第１通信回路１１を介して電圧検出回路４の下側に、データフィールドの値を１としたアドレス付与コマンドを送信する。
電圧検出回路４の下側デバイスアドレス生成回路２８１がデータフィールドを抽出し、値の１をデバイスアドレスとして出力して、デバイスアドレス保持回路２１に格納する。下側次デバイスアドレス生成回路２８２は抽出したデータフィールドの値の１に１を加算した結果の２を、次デバイスアドレスとして出力する。下側アドレス付与コマンド生成回路２８３は、データフィールドの値を２とした新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側通信回路２５が電圧検出回路３へ送信する。
同様に、データフィールドが２であるアドレス付与コマンドを受信した電圧検出回路３は、データフィールドの値の２をデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
ＭＣＵが第２通信回路１２を介して電圧検出回路１の上側に、データフィールドの値を１としたアドレス付与コマンドを送信する。
電圧検出回路１の上側デバイスアドレス生成回路２７１は、補正値から抽出したデータフィールドの値１を減算した結果の４をデバイスアドレスとして出力して、デバイスアドレス保持回路２１に格納する。上側次デバイスアドレス生成回路２７２は抽出したデータフィールドの値の１に１を加算した結果の２を、次デバイスアドレスとして出力する。上側アドレス付与コマンド生成回路２７３は、データフィールドの値を２とした新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側通信回路２６が電圧検出回路２へ送信する。
同様に、データフィールドが２であるアドレス付与コマンドを受信した電圧検出回路２は、補正値からデータフィールドの値の２を減算した結果の３をデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
このようにして、電圧検出回路１〜４のデバイスアドレスには４〜１が正しく設定される。
また、図７に示すように、実施の形態２に係る電圧検出回路は、電圧検出回路間の通信経路に障害がある場合でも、障害の箇所より下側にある電圧検出回路は下側からのアドレス付与コマンドで、障害箇所より上側にある電圧検出回路は上側からのアドレス付与コマンドでデバイスアドレスを設定することができる。
次に、図９Ａ、図９Ｂは、実施の形態２に係るデバイスアドレス付与方法を示す図である。図９Ａは、コントローラ１３がアドレス付与コマンドを下側から送信する場合であり、図９Ｂは、コントローラ１３がアドレス付与コマンドを上側から送信する場合である。
図９Ａのデバイスアドレス付与方法は、上述のコントローラ１３が上述の第１通信回路１１を介して、最下段の電圧検出回路の下側へアドレス付与コマンドを送信するステップ（Ｓ９１）と、上述の電圧検出回路が下側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値をデバイスアドレスとして、デバイスアドレス保持回路２１に格納するステップ（Ｓ９２）と、上述の電圧検出回路が下側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を増加させて新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側へ送信するステップ（Ｓ９３）とを有する。
図９Ｂのデバイスアドレス付与方法は、上述のコントローラ１３が第２通信回路１２を介して、最上段の電圧検出回路の上側へアドレス付与コマンドを送信するステップ（Ｓ９５）と、上述の電圧検出回路が上側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を、与えられた補正値から減算した結果をデバイスアドレスとして、デバイスアドレス保持回路２１に格納するステップ（Ｓ９６）と、上述の電圧検出回路が上側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を増加させて新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側を送信するステップ（Ｓ９７）とを有する。
また、実施の形態２に係る組電池システム１０は、上述した電圧測定装置１００と、複数のセル２０を直列に接続して構成される組電池２００によって構成される。
以上説明してきたように、実施の形態２に係る電圧測定装置１００において前記アドレス付与コマンド生成回路は、下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を増加させた前記第２アドレス付与コマンドを生成する。
ここで、上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドの前記データフィールドの値を増加させた前記第２アドレス付与コマンドを生成してもよい。
（実施の形態３）
実施の形態３に係る電圧検出回路、電圧測定装置１００、組電池システム１０、及び電圧測定方法について、図１０〜図１２Ｂを用いて、上述した実施の形態との相違点を中心に説明する。
実施の形態３では、上述の下側デバイスアドレス生成回路２８１は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を抽出してデバイスアドレスとして出力し、上述の下側次デバイスアドレス生成回路２８２は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を減少させて次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成し、上述の上側デバイスアドレス生成回路２７１は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を抽出してデバイスアドレスとして出力し、上述の上側次デバイスアドレス生成回路２７２は、上述のアドレス付与コマンドに含まれるデータフィールドの値を増加させて次段の電圧検出回路のデバイスアドレスを生成する。
図１０に、実施の形態３に係る電圧検出回路のブロック図を示す。同図の電圧検出回路１は、図３と比べて、上側デバイスアドレス生成回路２７１が減算器２７５を備えない点と、上側次デバイスアドレス生成回路２７２が減算器２７７の代わりに加算器２７９を備える点と、下側次デバイスアドレス生成回路２８２が減算器２８７の代わりに加算器２８９を備える点とである。以下、異なる点を中心に説明する。なお、電圧検出回路２〜４も図１０と同様の構成である。
また、図１０と、図７の電圧検出回路との違いは、上側デバイスアドレス生成回路２７１でのデバイスアドレス生成で使用していた減算器２７５を削除した点である。
また、上側デバイスアドレス生成回路２７１は、受信されたアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を抽出し、デバイスアドレスとしてデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
同時に、上側次デバイスアドレス生成回路２７２は、加算器で、抽出したデータフィールドの値に１を加算して、次デバイスアドレスとして出力する。
次に、図１１に、通信経路上に障害がある場合の動作例として、電圧検出回路２と電圧検出回路３の間の通信経路に障害がある場合のアドレス付与コマンドのフローを示す。
図１１より、ＭＣＵが第１通信回路１１を介して電圧検出回路４の下側にアドレス付与コマンドを送信する。アドレス付与コマンドのデータフィールドは電圧検出回路の個数である４が指定される。
また、電圧検出回路４の下側通信回路２６がアドレス付与コマンドを受信すると、下側デバイスアドレス生成回路２８１がデータフィールドを抽出し、値の４をデバイスアドレスとして出力して、デバイスアドレス保持回路２１に格納する。下側次デバイスアドレス生成回路２８２は抽出したデータフィールドの値の４から１を減算した結果の３を、次デバイスアドレスとして出力する。下側アドレス付与コマンド生成回路２８３は、次デバイスアドレスの３をデータフィールドに設定した新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側通信回路２５が電圧検出回路３へ送信する。
同様に、データフィールドが３であるアドレス付与コマンドを受信した電圧検出回路３は、データフィールドの値の３をデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
ＭＣＵが第２通信回路１２を介して電圧検出回路１の上側にアドレス付与コマンドを送信する。アドレス付与コマンドのデータフィールドには１が指定される。
電圧検出回路１の上側通信回路２５がアドレス付与コマンドを受信すると、上側デバイスアドレス生成回路２７１は抽出したデータフィールドの値の１をデバイスアドレスとして出力して、デバイスアドレス保持回路２１に格納する。上側次デバイスアドレス生成回路２７２は抽出したデータフィールドの値の１に１を加算した結果の２を、次デバイスアドレスとして出力する。上側アドレス付与コマンド生成回路２７３は、次デバイスアドレスの２をデータフィールドに設定した新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側通信回路２６が電圧検出回路２へ送信する。
同様に、データフィールドが２であるアドレス付与コマンドを受信した電圧検出回路２は、抽出したデータフィールドの値の２をデバイスアドレス保持回路２１に格納する。
このようにして、電圧検出回路１〜４のデバイスアドレスには１〜４が正しく設定される。
これにより、実施の形態３に係る電圧測定装置１００は、電圧検出回路間の通信経路に障害がある場合でも、障害の箇所より下側にある電圧検出回路は下側からのアドレス付与コマンドで、障害箇所より上側にある電圧検出回路は上側からのアドレス付与コマンドでデバイスアドレスを設定することができる。
次に、図１２Ａ、図１２Ｂは、実施の形態３に係るデバイスアドレス付与方法を示す図である。図１２Ａは、コントローラ１３がアドレス付与コマンドを下側から送信する場合であり、図１２Ｂは、コントローラ１３がアドレス付与コマンドを上側から送信する場合である。
図１２Ａのデバイスアドレス付与方法は、上述のコントローラ１３が上述の第１通信回路１１を介して、最下段の電圧検出回路の下側へアドレス付与コマンドを送信するステップ（Ｓ１２１）と、上述の電圧検出回路が下側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値をデバイスアドレスとして、デバイスアドレス保持回路２１に格納するステップ（Ｓ１２２）と、上述の電圧検出回路が下側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を減少させて新たなアドレス付与コマンドを生成し、上側へ送信するステップ（Ｓ１２３）とを有する。
図１２Ｂのデバイスアドレス付与方法は、上述のコントローラ１３が第２通信回路１２を介して、最上段の電圧検出回路の上側へアドレス付与コマンドを送信するステップ（Ｓ１２５）と、上述の電圧検出回路が上側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値をデバイスアドレスとして、デバイスアドレス保持回路２１に格納するステップ（Ｓ１２６）と、上述の電圧検出回路が上側から受信した上述のアドレス付与コマンドのデータフィールドの値を増加させて新たなアドレス付与コマンドを生成し、下側を送信するステップ（Ｓ１２７）とを有する。
以上説明してきたように、実施の形態３に係る電圧測定装置１００において前記デバイスアドレス生成回路は、下側の前記電圧検出回路から前記第１アドレス付与コマンドを受信したとき、受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を前記デバイスアドレスとし、上側の前記電圧検出回路から前記第１アドレス付与コマンドを受信したとき、受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を前記デバイスアドレスとし、前記アドレス付与コマンド生成回路は、下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を減少させた前記第２アドレス付与コマンドを生成し、上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を増加させた前記第２アドレス付与コマンドを生成する。
また、実施の形態３に係る組電池システム１０は、上述した電圧測定装置１００と、複数のセル２０を直列に接続して構成される組電池２００によって構成される。
本開示は、例えば車載用途の電圧測定装置、電圧検出回路、及びデバイスアドレス生成方法として有用である。
１〜４ 電圧検出回路
１０ 組電池システム
１１ 第１通信回路
１２ 第２通信回路
１３ コントローラ
１４ 通信回路
２０ セル

Claims (16)

  1. 直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定する電圧検出回路を複数備える電圧測定装置であって、
    前記電圧検出回路は、
    前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成するデバイスアドレス生成回路と、
    前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信するアドレス付与コマンド生成回路と、を備える
    電圧測定装置。
  2. 複数の前記電圧検出回路の一方の終端を最下段、他方の終端を最上段としたとき、
    前段の前記電圧検出回路は、下側の前記電圧検出回路および上側の前記電圧検出回路の一方であり、
    後段の前記電圧検出回路は、下側の前記電圧検出回路および上側の前記電圧検出回路の他方であり、
    前記アドレス付与コマンド生成回路は、
    下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに応じて前記第２アドレス付与コマンドを生成して上側の前記電圧検出回路へ送信し、かつ、
    上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに応じて前記第２アドレス付与コマンドを生成して下側の前記電圧検出回路へ送信する
    請求項１に記載の電圧測定装置。
  3. 前記デバイスアドレス生成回路は、下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドから生成する前記デバイスアドレスと、上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドから生成する前記デバイスアドレスを同じにする
    請求項２に記載の電圧測定装置。
  4. 前記第１アドレス付与コマンドは、データフィールドを含む
    請求項１から３の何れか１項に記載の電圧測定装置。
  5. 前記デバイスアドレス生成回路は、前記データフィールドの値を用いて前記デバイスアドレスを生成する
    請求項４に記載の電圧測定装置。
  6. 前記アドレス付与コマンド生成回路は、前記データフィールドの値を減少または増加させた前記第２アドレス付与コマンドを生成する
    請求項４または５に記載の電圧測定装置。
  7. 前記デバイスアドレス生成回路は、
    下側の前記電圧検出回路から前記第１アドレス付与コマンドを受信したとき、受信した前記アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を前記デバイスアドレスとする
    請求項４から６の何れか１項に記載の電圧測定装置。
  8. 前記アドレス付与コマンド生成回路は、
    上側の前記電圧検出回路から前記第１アドレス付与コマンドを受信したとき、補正値から前記データフィールドの値を減算した値を前記デバイスアドレスとする
    請求項４から７の何れか１項に記載の電圧測定装置。
  9. 前記アドレス付与コマンド生成回路は、
    下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を減少させた前記第２アドレス付与コマンドを生成する
    請求項４から８の何れか１項に記載の電圧測定装置。
  10. 上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドの前記データフィールドの値を減少させた前記第２アドレス付与コマンドを生成する
    請求項４から９の何れか１項に記載の電圧測定装置。
  11. 前記アドレス付与コマンド生成回路は、
    下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を増加させた前記第２アドレス付与コマンドを生成する
    請求項４または５に記載の電圧測定装置。
  12. 上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドの前記データフィールドの値を増加させた前記第２アドレス付与コマンドを生成する
    請求項４から７、１１の何れか１項に記載の電圧測定装置。
  13. 前記デバイスアドレス生成回路は、
    下側の前記電圧検出回路から前記第１アドレス付与コマンドを受信したとき、受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を前記デバイスアドレスとし、
    上側の前記電圧検出回路から前記第１アドレス付与コマンドを受信したとき、受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を前記デバイスアドレスとし、
    前記アドレス付与コマンド生成回路は、
    下側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を減少させた前記第２アドレス付与コマンドを生成し、
    上側の前記電圧検出回路から受信した前記第１アドレス付与コマンドに含まれる前記データフィールドの値を増加させた前記第２アドレス付与コマンドを生成する
    請求項４に記載の電圧測定装置。
  14. 前記電圧測定装置は、複数の前記電圧検出回路のうちの最下段の前記電圧検出回路に接続され、かつ、最上段の前記電圧検出回路に接続され、前記第１アドレス付与コマンドの送信を行うコントローラを備える
    請求項１から１３の何れか１項に記載の電圧測定装置。
  15. 直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定し、電圧検出回路を複数備える電圧測定装置に含まれる１つの前記電圧検出回路であって、
    前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成するデバイスアドレス生成回路と、
    前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信するアドレス付与コマンド生成回路と、を備える
    電圧検出回路。
  16. 直列に接続された複数のセルを対象としてセル電圧を測定し、電圧検出回路を複数備える電圧測定装置におけるデバイスアドレス生成方法であって、
    前段の前記電圧検出回路から受信した第１アドレス付与コマンドに応じて、デバイスアドレスを生成し、
    前記第１アドレス付与コマンドに応じて、第２アドレス付与コマンドを生成し、次段の前記電圧検出回路へ送信する
    デバイスアドレス生成方法。
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