JPWO2017126236A1 - 異常検知装置及び異常検知システム - Google Patents

異常検知装置及び異常検知システム Download PDF

Info

Publication number
JPWO2017126236A1
JPWO2017126236A1 JP2017562461A JP2017562461A JPWO2017126236A1 JP WO2017126236 A1 JPWO2017126236 A1 JP WO2017126236A1 JP 2017562461 A JP2017562461 A JP 2017562461A JP 2017562461 A JP2017562461 A JP 2017562461A JP WO2017126236 A1 JPWO2017126236 A1 JP WO2017126236A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
devices
value
values
abnormality detection
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017562461A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6671397B2 (ja
Inventor
翔一 小林
翔一 小林
亘 辻田
亘 辻田
敏裕 和田
敏裕 和田
智己 竹上
智己 竹上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of JPWO2017126236A1 publication Critical patent/JPWO2017126236A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6671397B2 publication Critical patent/JP6671397B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/367Software therefor, e.g. for battery testing using modelling or look-up tables
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/3644Constructional arrangements
    • G01R31/3646Constructional arrangements for indicating electrical conditions or variables, e.g. visual or audible indicators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/3644Constructional arrangements
    • G01R31/3648Constructional arrangements comprising digital calculation means, e.g. for performing an algorithm
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/396Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00Pattern recognition
    • G06F18/20Analysing
    • G06F18/24Classification techniques
    • G06F18/241Classification techniques relating to the classification model, e.g. parametric or non-parametric approaches
    • G06F18/2411Classification techniques relating to the classification model, e.g. parametric or non-parametric approaches based on the proximity to a decision surface, e.g. support vector machines
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
    • H01M10/48Accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating the condition of cells, e.g. the level or density of the electrolyte
    • H01M10/482Accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating the condition of cells, e.g. the level or density of the electrolyte for several batteries or cells simultaneously or sequentially
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
    • H01M10/48Accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating the condition of cells, e.g. the level or density of the electrolyte
    • H01M10/486Accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating the condition of cells, e.g. the level or density of the electrolyte for measuring temperature
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M2220/00Batteries for particular applications
    • H01M2220/20Batteries in motive systems, e.g. vehicle, ship, plane
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10Energy storage using batteries

Abstract

第1分類回路(112)は、複数の機器(100−1〜100−N)のそれぞれから、当該機器への少なくとも1つの入力値と当該機器からの少なくとも1つの出力値とを含む当該機器の第1測定値を取得し、OCSVM(OneClass nu-Support Vector Machine)を用いて、各機器の第1測定値のうちで正常値である第1測定値と外れ値である第1測定値とを分類する。第2分類回路(113)は、前記複数の機器(100−1〜100−N)のそれぞれから、当該機器への少なくとも1つの入力値を含む当該機器の第2測定値を取得し、OCSVMを用いて、各機器の第2測定値のうちで正常値である第2測定値と外れ値である第2測定値とを分類する。判定回路(114)は、外れ値である第1測定値と正常値である第2測定値とを有する機器を異常な機器であると判定する。

Description

本発明は、例えば実質的に同一の形式又は種類の複数の機器と、各機器の何らかの物理量をそれぞれ測定する複数のセンサとを含むシステムにおいて、各センサから収集した各機器の状態を示すデータに基づいて異常な機器を検知する異常検知装置に関する。本発明はまた、そのような複数の機器、複数のセンサ、及び異常検知装置を含む異常検知システムに関する。
近年、多数の機器を含むシステムにおいて、各機器に対応する多数のセンサを用いて各機器の状態を示すデータを収集して分析することで、機器の管理及び運用を効率化する技術が必要となってきている。このようなシステムの一例として、複数の2次電池セルを含む電池システムがある。例えばリチウムイオン電池などの2次電池は、単一の2次電池セルでは電池容量、入出力電流、及び電圧が不足する場合に、多数の2次電池セルを直列又は並列に組み合わせることで、大容量、大入出力電流、及び高電圧の電池システムとして用いられている。このような電池システムは、例えば鉄道車両上に搭載され、駆動用、駆動補助用、もしくは回生吸収用として使用されてもよい。この場合、電池システムは、複数の2次電池セルを直列接続して例えば600Vの出力電圧を発生するように、かつ、電動機の駆動に必要な大出力電流及び回生電力の吸収に必要な大入力電流を達成するように構成される。
このような電池システムにおいては、電池システム中の全ての2次電池セルが正常な状態にあることが必要である。1つでも異常な状態の2次電池セルが混在していると電池システム全体及び接続されている機器の動作に支障をきたす可能性があるので、2次電池セルの異常は直ちに検知される必要がある。このような電池システムにおいては、2次電池セルの大多数は正常であり、異常はごく少数の2次電池セルに発生し得ると考えられている。すなわち、電池システム全体の中で、大多数の2次電池セルとは異なる挙動をするごく少数の2次電池セルを検知することが求められる。
本発明の背景技術として、例えば特許文献1の発明がある。特許文献1は、正常運転状態にある被検知装置について複数のセンサで測定された複数の正常状態のセンサ情報を1クラスサポートベクトルマシンで演算して例外的なセンサ情報の組み合わせを抽出して異常予兆を検知する異常予兆検知方法を開示している。1クラスサポートベクトルマシンは、例えば非特許文献1にも開示されている。
特開2005−345154号公報(3頁8〜11行、図2)
赤穂昭太郎著、「カーネル多変量解析」、106〜111ページ、岩波書店、2008年11月27日
特許文献1の方法を、多数の機器を含むシステム(例えば複数の2次電池セルを含む電池システム)に適用することが考えられる。特許文献1の方法では、ある機器について例外的なセンサ値を検出しても、当該機器自体の異常に起因するセンサ値の異常と、当該機器以外の原因によるセンサ値の異常とを区別することができない。このため、機器の異常を検知する精度が低下する可能性があった。
本発明の目的は、機器の異常を従来よりも高精度で検知することができる異常検知装置を提供することにある。本発明の目的はまた、そのような異常検知装置を含む異常検知システムを提供することにある。
本発明の一態様によれば、
複数の機器のうちの異常な機器を検知するための異常検知装置であって、
前記複数の機器のそれぞれから、当該機器への少なくとも1つの入力値と当該機器からの少なくとも1つの出力値とを含む当該機器の第1測定値を取得し、予め決められた多変量解析方法を用いて、前記複数の機器から取得された複数の第1測定値のそれぞれを正常値である第1測定値と外れ値である第1測定値とに分類する第1分類回路と、
前記複数の機器のそれぞれから、当該機器への少なくとも1つの入力値を含む当該機器の第2測定値を取得し、前記多変量解析方法を用いて、前記複数の機器から取得された複数の第2測定値のそれぞれを正常値である第2測定値と外れ値である第2測定値とに分類する第2分類回路と、
前記複数の機器のうちで、前記外れ値である第1測定値と前記正常値である第2測定値とを有する機器を異常な機器であると判定する判定回路とを備えることを特徴とする。
本発明の態様に係る異常検知装置によれば、機器の異常を従来よりも高精度で検知することができる。
本発明の実施の形態1に係る異常検知システムの構成を示すブロック図である。 図1の機器100−1〜100−Nにおける入力値及び出力値の関係を説明する図である。 図1の第1分類回路112の動作を説明する図である。 図1の第2分類回路113の動作を説明する図である。 図1の判定回路114による判定の例を示す表である。 図1の異常検知システムを列車200−1〜200−2を含むシステムに適用した例を示すブロック図である。 本発明の実施の形態2に係る異常検知システムの構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態3に係る判定回路114による判定の第1の例を示す表である。 本発明の実施の形態3に係る判定回路114による判定の第2の例を示す表である。
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態に係る異常検知システムについて説明する。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係る異常検知システムの構成を示すブロック図である。図1の異常検知システムは、複数の機器100−1〜100−Nと、異常検知装置110と、表示装置120とを備える。
複数の機器100−1〜100−Nは、例えば実質的に同一の形式又は種類のものである。本明細書において、機器100−1〜100−Nのそれぞれは、当該機器に入力される物理量(以下、入力値という)と、当該機器から出力される物理量(以下、出力値という)との間に固有の関係を有する。機器に入力される物理量は機器の動作条件を決定し、入力値に応じた出力値が生じる。なお、機器に入力される物理量とは、機器の動作に影響を与える物理量であり、機器を含む環境の条件を含む。また、機器から出力される物理量とは、機器の動作の結果として発生または変化する物理量である。具体的には、機器100−1〜100−Nのそれぞれは、例えば、2次電池セル又は動力機器である。2次電池セルの場合、2次電池セルの入力値は、2次電池セルの充放電電流、充電率、及び気温(環境温度)である。2次電池セルの出力値は、2次電池セルの端子電圧及び温度(2次電池セル自体の温度)である。充放電電流が入力された結果として充電率が変化するが、ここでは2次電池セルの動作に影響を与える物理量としての性質に着目する。動力機器の場合、動力機器に入力される物理量は、動力機器の入力電流、入力電圧、及び気温であり、動力機器から出力される物理量は、動力機器の回転数、動作音、振動、及び温度である。
各機器100−1〜100−Nは、第1センサ101−1〜101−Nと、第2センサ102−1〜102−Nと、送信回路103−1〜103−Nとを1つずつ備える。以下、機器100−1を参照して、その構成及び動作を説明する。
第1センサ101−1は、機器100−1から出力される少なくとも1つの物理量、すなわち機器100−1からの少なくとも1つの出力値を測定し、測定した出力値を、送信回路103−1を介して異常検知装置110に送信する。第2センサ102−1は、機器100−1に入力される少なくとも1つの物理量、すなわち機器100−1への少なくとも1つの入力値を測定し、測定した入力値を、送信回路103−1を介して異常検知装置110に送信する。送信回路103−1は、有線又は無線のネットワークを介して異常検知装置110に接続される。送信回路103−1は、機器100−1の出力値及び入力値をアナログデータとして異常検知装置110に送信してもよく、A/D変換したデジタルデータとして異常検知装置110に送信してもよい。また、機器100−1がそれ自体の制御の目的で出力値及び入力値を測定している場合、送信回路103−1は、その出力値及び入力値をアナログデータ又はデジタルデータとして異常検知装置110に送信してもよい。
他の機器100−2〜100−Nもまた、機器100−1と同様に構成されて動作する。
異常検知装置110は、複数の機器100−1〜100−Nのうちの異常な機器を検知する。異常検知装置110は、受信回路111と、第1分類回路112と、第2分類回路113と、判定回路114と、コントローラ115と、メモリ116とを備える。
受信回路111は、機器100−1〜100−Nのそれぞれから、当該機器の出力値及び入力値を受信する。受信回路111は、各機器100−1〜100−Nの出力値(第1センサ101−1〜101−Nの測定結果)を第1分類回路112に送る。また、受信回路111は、各機器100−1〜100−Nの入力値(第2センサ102−1〜102−Nの測定結果)を第1分類回路112及び第2分類回路113の両方に送る。
第1分類回路112は、複数の機器100−1〜100−Nのそれぞれから、当該機器の出力値及び入力値を当該機器の第1測定値として取得する。第1分類回路112は、予め決められた多変量解析方法を用いて、各機器100−1〜100−Nの第1測定値のうちで、正常値(互いに類似した特性を有する大部分の値)である第1測定値と、外れ値(異常値であると考えられるごく少数の値)である第1測定値とを分類する。
本実施の形態では、多変量解析方法の1つであり、非線形システムに適用可能である、1クラスνサポートベクトルマシン(One Class nu−Support Vector Machine、以下「OCSVM」という)を用いて正常値及び外れ値を分類する。OCSVM自体は公知であり、例えば非特許文献1に詳述されているので、本明細書では簡単に説明する。
各機器100−1〜100−Nの第1測定値のそれぞれは、少なくとも1つの出力値及び少なくとも1つの入力値を含む合計でM個の値からなる集合であるものとする。複数の機器100−1〜100−Nのそれぞれについて、当該機器の第1測定値を成分とするM次元ベクトルをx(n)(1≦n≦N)と表す。ここで、2つのM次元ベクトルu,vの間の近さを表す、予め決められた実数値のカーネル関数k(u,v)を用いて、以下の識別関数f(x)を導入する。
Figure 2017126236
ここで、α,…,αは重み付けのためのパラメータであり、xは第1測定値のベクトルx(1),…,x(N)のいずれかを表す。
第1測定値のベクトルx(1),…,x(N)のそれぞれについて、その識別関数値f(x(n))がある正のしきい値ρ以上であるとき、第1測定値を正常値に分類し、その識別関数値f(x(n))がしきい値ρ未満であるとき、第1測定値を外れ値に分類する。
パラメータα,…,α及びしきい値ρは以下のように決定される。
損失関数として、次式を導入する。
Figure 2017126236
この損失関数で示される損失を抑えながら、しきい値ρを大きくするという基準を考えると、次式の最適化問題に帰着させることができる。
Figure 2017126236
ここで、行列K及びベクトルαは次式のように与えられる。
Figure 2017126236
Figure 2017126236
νは、分類のためのマージンを超える識別関数値の割合の上限値を指定する予め決められた定数である。
数3により、パラメータα,…,α及びしきい値ρが決定される。パラメータα,…,αを決定することで識別関数f(x)が決まる。第1分類回路112は、識別関数f(x)及びしきい値ρを用いて、各機器100−1〜100−Nの第1測定値のうちで、正常値である第1測定値と外れ値である第1測定値とを分類する。
第2分類回路113は、複数の機器100−1〜100−Nのそれぞれから、当該機器の入力値を当該機器の第2測定値として取得する。第2分類回路113は、予め決められた多変量解析方法を用いて、各機器100−1〜100−Nの第2測定値のうちで正常値である第2測定値と外れ値である第2測定値とを分類する。第2分類回路113は、第1分類回路112と同じ多変量解析方法(例えばOCSVM)を使用してもよい。第2分類回路113がOCSVMを使用する場合、第1測定値を成分とするベクトルに代えて、第2測定値を成分とするベクトルについて識別関数及びしきい値が計算される。
図2は、図1の機器100−1〜100−Nにおける入力値及び出力値の関係を説明する図である。図2は例示的な測定値の集合を示し、これを参照して、OCSVMで抽出すべき外れ値を説明する。説明を簡単にするため、図2では、横軸の入力値及び縦軸の出力値のそれぞれを1次元の量として示す。
図2に示す測定値の集合のうち、大多数は正常な測定値131であるが、例外的に、機器自体が異常であるときの測定値132と、入力値が異常であるときの測定値133とが存在する。正常な測定値131は、機器自体が正常であり、機器に正常な入力値が与えられたときに得られる。機器自体が異常であるときの測定値132は、機器自体が異常であり、機器に正常な入力値が与えられたにも関わらず異常な出力値が発生したときに得られる。入力値が異常であるときの測定値133は、機器自体が正常であり、機器に異常な入力値が与えられたときに得られる。
ここで、比較のために、従来技術(例えば特許文献1)の方法により複数の2次電池セルから異常な2次電池セルを検知する場合を考える。2次電池セルは、ある入力値(例えば、充電電流、充電率、気温)が条件として与えられたときに、対応する出力値(例えば端子電圧)を発生する機器であると考えることもできる。すなわち、2次電池セルは入力及び出力を有する機器であり、測定される入力値と測定される出力値との間には固有の関係があり、異常な2次電池セルと正常な2次電池セルとでは固有の関係が異なると考えられる。
大多数の正常な2次電池セルとごく少数の異常な2次電池セルに同一の入力値が与えられた場合、大多数の正常な2次電池セルは互いに類似した特性を有する出力値を発生し、ごく少数の異常な2次電池セルのみが異なった出力値を発生する。従って、2次電池セルのそれぞれから入力値及び出力値を取得し、これらの入力値及び出力値に1クラスサポートベクトルマシンを適用することで、大多数の正常な出力値と、ごく少数の異常な出力値とが分類される。
しかし、例えば、2次電池セルに接続された負荷装置の稼働条件が異なる等の理由により充電電流が異なる場合、一部の2次電池セルの入力値が大多数の2次電池セルの入力値とは異なる外れ値になることがある。この場合、入力値が外れ値である2次電池セルの入力値及び出力値は、2次電池セル自体は正常であっても、入力値が外れ値でない2次電池セルの入力値及び出力値とは異なるものになると考えられる。このとき、従来技術の方法では、これを例外的な入力値及び出力値として検知する。したがって、入力値が外れ値である場合には、2次電池セルは正常であっても異常な2次電池セルとして誤って判定する可能性がある。
図3は、図1の第1分類回路112の動作を説明する図である。第1分類回路112は、図2に示す入力値及び出力値の各組(第1測定値)の集合に対してOCSVMを適用して識別関数及びしきい値を決定する。識別関数及びしきい値は、カーネル関数に対応する所定の特徴空間における超平面を決定する。図3では、特徴空間は軸A及び軸Bによって張られる2次元空間であり、この2次元空間における直線により、正常値及び外れ値が分類される。第1分類回路112は、機器自体が異常であるときの測定値132と、入力値が異常であるときの測定値133とを区別することができず、これらの両方を外れ値に分類する。したがって、第1分類回路112だけでは、機器自体が正常であるにも関わらず、機器自体が異常であると誤って判定する可能性がある。
図1の異常検知装置110は第2分類回路113をさらに備え、第2分類回路113により、図2に示す入力値(第2測定値)の集合に対してOCSVMを適用して識別関数及びしきい値を決定する。図4は、図1の第2分類回路113の動作を説明する図である。図4では、特徴空間は軸C及び軸Dによって張られる2次元空間であり、この2次元空間における直線により、正常値及び外れ値が分類される。第2分類回路113は、機器自体が異常であるときの測定値132を正常値に分類し、入力値が異常であるときの測定値133のみを外れ値に分類する。したがって、機器自体が異常であるときの測定値132と、入力値が異常であるときの測定値133とを区別することができる。
判定回路114は、第1分類回路112による第1測定値の正常値及び外れ値の分類結果と、第2分類回路113による第2測定値の正常値及び外れ値の分類結果とに基づいて、異常な機器を判定する。図5は、図1の判定回路114による判定の例を示す表である。図5は、10個の機器に対する異常判定結果の例を示している。第1測定値及び第2測定値のいずれも正常値であれば、当該機器は正常である。第1測定値が外れ値であり、第2測定値が正常値であれば、当該機器は異常である。第1測定値及び第2測定値の両方が外れ値である場合、当該機器が異常であるか否かを確定できないので、判定を保留とする。演算のエラー等に起因して、第1測定値が正常値であり、第2測定値が異常値となる場合、例外として判定を保留とする。このように、判定回路114は、外れ値である第1測定値と正常値である第2測定値とを有する機器を異常な機器であると判定する。これにより、機器が正常であり、入力値が異常である場合であっても、機器の異常であると誤って判定することなく、真に異常な機器を検知することができる。
コントローラ115は、異常検知装置110の他の構成要素の動作を制御する。コントローラ115は、第1分類回路112、第2分類回路113、及び判定回路114の演算のうちの少なくとも一部をメモリ116上で実行してもよい。メモリ116は、各機器100−1〜100−Nの入力値及び出力値を一時的に格納してもよい。
表示装置120は、例えば液晶モニタであり、判定回路114から出力された判定結果を表示する。
図6は、図1の異常検知システムを列車200−1〜200−2を含むシステムに適用した例を示すブロック図である。列車200−1は、2次電池セル又は動力機器である機器100−1a〜100−Naを含み、列車200−2は、2次電池セル又は動力機器である機器100−1b〜100−Nbを含む。各機器100−1a〜100−Na,100−1b〜100−Nbは、ネットワーク140を介して異常検知装置110に接続される。各機器100−1a〜100−Na,100−1b〜100−Nbは、図1の機器100−1〜100−Nと同様に構成される。各機器100−1a〜100−Na,100−1b〜100−Nbの第1センサ及び第2センサは、例えば、各車両に設けられた2次電池セル又は動力機器に係る前述の物理量を測定してもよく、他の対象物に係る他の物理量を測定してもよい。
図6において、各機器100−1a〜100−Na,100−1b〜100−Nbは、測定した入力値及び出力値を、ネットワーク140を介して異常検知装置110に送信する。各機器100−1a〜100−Na,100−1b〜100−Nbは、移動体通信装置を用いて、列車200−1〜200−2の走行中あるいは停止中を問わず、測定した入力値及び出力値を常時に送信してもよい。異常検知装置110の判定回路114が、いずれかの機器を異常な機器と判定した場合、機器の修理又は交換等の保全計画に反映する。例えば、路線を走行中の列車が車両基地に到着した際に迅速に保全作業を実施できるように、予め保全計画を作成することが可能となる効果がある。
図6において、また、各機器100−1a〜100−Na,100−1b〜100−Nbは、測定した入力値及び出力値を各車両に設けた記憶装置に一時的に格納し、列車200−1〜200−2が駅で停止しているときに、駅に備えられた固定通信装置を用いて送信してもよい。異常検知装置110の判定回路114が、いずれかの機器を異常な機器と判定した場合、機器の修理又は交換等の保全計画に反映することが可能となる効果がある。
以上説明したように、実施の形態1によれば、機器への入力値と機器からの出力値とを測定し、測定された入力値及び出力値の組(第1測定値)に対してOCSVMを適用して正常値及び外れ値を分類し、測定された入力値(第2測定値)に対してOCSVMを適用して正常値及び外れ値を分類し、第1測定値及び第2測定値の分類結果に基づいて機器の異常の有無を判定している。従って、機器自体が正常であり、入力値のみが異常である機器を異常であると誤って判定することなく、真に異常な機器を検知することができる。これにより、機器の異常を従来よりも高精度で検知することができる。
実施の形態1によれば、多変量解析方法として1クラスνサポートベクトルマシンを用いたことにより、非線形な特性を有する機器が対象であっても、正常値及び外れ値を適切に分類することができる。
実施の形態1の異常検知システムによれば、送信回路103−1〜103−N及び受信回路111を用いて、機器100A−1〜100A−Nの入力値及び出力値をリアルタイムで収集することができる。
実施の形態2.
図7は、本発明の実施の形態2に係る異常検知システムの構成を示すブロック図である。以下、実施の形態1に係る異常検知システムとの差異を中心にして説明する。実施の形態1と同様のものについては、詳細な説明は省略する。
図7の異常検知システムは、複数の機器100A−1〜100A−Nと、異常検知装置110Aと、表示装置120とを備える。
各機器100A−1〜100A−Nは、図1の機器100−1〜100−Nの送信回路103−1〜103−Nに代えて、リムーバブルメモリ105−1〜105−Nを収容するメモリインターフェース(I/F)104−1〜104−Nをそれぞれ備える。以下、機器100A−1を参照して、その構成及び動作を説明する。第1センサ101−1は、機器100A−1からの少なくとも1つの出力値を測定し、測定した出力値を、メモリインターフェース104−1によりリムーバブルメモリ105−1に書き込む。第2センサ102−1は、機器100A−1への少なくとも1つの入力値を測定し、測定した入力値を、メモリインターフェース104−1によりリムーバブルメモリ105−1に書き込む。他の機器100A−2〜100A−Nもまた、機器100A−1と同様に構成されて動作する。
リムーバブルメモリ105−1〜105−Nは、例えば、ハードディスクドライブ等の磁気記憶装置、各種メモリーカードを含む半導体記憶装置など、着脱可能な任意の記憶装置である。
異常検知装置110Aは、図1の異常検知装置110の受信回路111に代えて、リムーバブルメモリ105−1〜105−Nを収容するメモリインターフェース(I/F)117を備える。異常検知装置110Aは、各機器100A−1〜100A−Nで測定された入力値及び出力値を、メモリインターフェース117によりリムーバブルメモリ105−1〜105−Nから読み出す。
入力値及び出力値の読み出しは、例えば作業員によりリムーバブルメモリ105−1〜105−Nが各機器100A−1〜100A−Nからそれぞれ取り外され、異常検知装置110Aに順次接続することによって行われる。図7は、リムーバブルメモリ105−1が機器100A−1から取り外され、異常検知装置110Aに接続された状態を表している。例えば、機器100A−1〜100A−Nが列車に搭載される2次電池セル又は動力機器である場合を想定する。この場合、列車が基地に到着した際に、作業員は、列車に搭載されている各機器からリムーバブルメモリ105−1〜105−Nを回収し、異常検知装置110Aによりリムーバブルメモリ105−1〜105−Nから入力値及び出力値を順次に読み出し、その後、再びリムーバブルメモリ105−1〜105−Nを機器100A−1〜100A−Nに戻してもよい。
異常検知装置110は、リムーバブルメモリ105−1〜105−Nから読み出した各機器100A−1〜100A−Nの出力値(第1センサ101−1〜101−Nの測定結果)を第1分類回路112に送る。また、異常検知装置110は、リムーバブルメモリ105−1〜105−Nから読み出した各機器100A−1〜100A−Nの入力値(第2センサ102−1〜102−Nの測定結果)を第1分類回路112及び第2分類回路113の両方に送る。
異常検知装置110Aは、すべての機器100A−1〜100A−Nから入力値及び出力値が取得されるまで、リムーバブルメモリ105−1〜105−Nから読み出した入力値及び出力値をメモリ116に一時的に格納してもよい。
異常検知装置110Aの第1分類回路112、第2分類回路113、及び判定回路114は、実施の形態1の異常検知装置110の対応する構成要素と同様に動作する。
実施の形態2の異常検知システムによれば、機器100A−1〜100A−Nの入力値及び出力値をリムーバブルメモリ105−1〜105−Nを介して異常検知装置110Aに送ることで、通信ネットワークを構築することなく、安価に異常検知システムを構成できる。例えばネットワークによる通信を行うことなく、実施の形態1と同様に機器100A−1〜100A−Nの入力値及び出力値を収集し、機器自体が正常であり、入力値のみが異常である機器を異常であると誤って判定することなく、真に異常な機器を検知することができる。これにより、機器の異常を従来よりも高精度で検知することができる。
例えば、異常検知装置110Aがネットワークを介して機器100A−1〜100A−Nに接続可能ではなく、かつ、異常検知装置110Aの持ち運びが困難な場合には、作業員がリムーバブルメモリ105−1〜105−Nを持ち運ぶことで、異常検知装置110Aは、機器100A−1〜100A−Nの入力値及び出力値を取得することができる。
一方、異常検知装置110Aが持ち運び可能なノート型のコンピュータやタブレット端末などで構成されていれば、リムーバブルメモリ105−1〜105−Nを使用する代わりに、ケーブルによって機器100A−1〜100A−Nを異常検知装置110Aと順次接続してもよい。
実施の形態3.
以下、実施の形態3に係る異常検知システムについて、実施の形態1に係る異常検知装置との差異を中心に説明する。実施の形態1と同様のものについては、詳細な説明は省略する。
実施の形態3に係る異常検知システムは、実施の形態1に係る異常検知システム(図1)と同様に構成される。
異常検知装置110は、機器100−1〜100−Nから測定された入力値及び出力値を刻々と受信し、予め決められた時間長の時間区間ごとに反復的に、正常値及び外れ値の分類と、異常な機器の判定とを繰り返す。異常検知装置110は、繰り返された分類及び判定の結果に基づいて、最終的に、異常な機器を判定する。第1分類回路112は、予め決められた時間長の時間区間ごとに反復的に、複数の機器100−1〜100−Nのそれぞれから第1測定値を取得し、各機器の第1測定値のうちで正常値である第1測定値と外れ値である第1測定値とを分類する。第2分類回路113は、時間区間ごとに反復的に、複数の機器100−1〜100−Nのそれぞれから第2測定値を取得し、各機器の第2測定値のうちで正常値である第2測定値と外れ値である第2測定値とを分類する。
図8及び図9は、ある1つの機器について、時間区間ごとに反復的に判定を繰り返す場合の判定の例について示した図である。
例えば、図8に示した事例では、時間区間1および2においては、第1測定値と第2測定値の両方が外れ値であり、判定回路114は判定を保留する。後の時間区間3から5では、第1測定値は外れ値であり、第2測定値は正常値であり、判定回路114は当該機器が異常であると判定する。判定回路114は、反復的に行われた判定の結果を保持しており、時間区間1および2では判定を保留していた機器が時間区間3から5において連続して異常と判定されたので、最終的に、当該機器が異常であると判定する。
また例えば、図9に示した事例では、時間区間1および2においては、第1測定値と第2測定値の両方が外れ値であり、判定回路114は判定を保留する。後の時間区間3から5では、第1測定値と第2測定値の両方が正常値であり、判定回路114は当該機器が正常であると判定する。さらに後の時間区間6から8においては、第1測定値は外れ値であり、第2測定値は正常値であり、判定回路114は当該機器が異常であると判定する。判定回路114は、反復的に行われた判定の結果を保持しており、時間区間1から5においては判定を保留したかまたは正常であると判定した機器の状態が、時間区間6から8において連続して異常と判定されたので、最終的に、当該機器が異常であると判定する。
従って、このように構成することで、異常であるか否かの判定が保留された機器の個数を減少させ、最終的に、どの機器についても正常であるか異常であるかを正確に判定することができる。また、第2測定値に依存して異常が発現しない場合に正常と誤判定することを低減させ、異常である機器を正確に判定することができる。
なお、機器が正常であると判定された時間区間と機器が異常であると判定された時間区間とが混在する場合について、又は、機器が異常であると判定された時間区間が所定個数にわたって連続する場合について、最終的に機器が異常であると判定するための方法は、検出対象である機器100−1〜100−Nの性質に応じて適宜に設計される。以上で説明した判定の例は、機器100−1〜100−Nが2次電池である場合に対応し、これは、第2測定値である電流がゼロである時間区間では異常が発現せず、電流がゼロでない時間区間では異常が発現する性質に基づいて設計されている。
また、実施の形態3の異常検知装置110は、測定された過去の入力値及び出力値の履歴をメモリ116に記憶し、現在及び過去の入力値及び出力値に基づいて正常値及び外れ値を分類するように構成されてもよい。正常値であると分類された過去の入力値及び出力値を考慮することで、現在の入力値及び出力値を正常値又は外れ値に分類する精度を向上することができる。
また例えば、判定回路114は、反復的に行われた判定の結果について、各機器100−1〜100−Nが異常であると判定された確率を算出し、確率が高い順に、機器の修理又は交換等の保全計画に優先的に反映するようにしてもよい。
本発明は、例えば、鉄道車両上の複数の2次電池セル又は複数の動力機器の異常を検知するために使用可能である。
100−1〜100−N,100−1a〜100−Na,100−1b〜100−Nb,100A−1〜100A−N 機器、101−1〜101−N 第1センサ、102−1〜102−N 第2センサ、103−1〜103−N 送信回路、104−1〜104−N メモリインターフェース(I/F)、105−1〜105−N リムーバブルメモリ、110,110A 異常検知装置、111 受信回路、112 第1分類回路、113
第2分類回路、114 判定回路、115 コントローラ、116 メモリ、117 メモリインターフェース(I/F)、120 表示装置、131 正常な測定値、132
機器自体が異常であるときの測定値、133 入力値が異常であるときの測定値、140 ネットワーク、200−1〜200−2 列車。

Claims (8)

  1. 複数の機器のうちの異常な機器を検知するための異常検知装置であって、
    前記複数の機器のそれぞれから、当該機器への少なくとも1つの入力値と当該機器からの少なくとも1つの出力値とを含む当該機器の第1測定値を取得し、予め決められた多変量解析方法を用いて、前記複数の機器から取得された複数の第1測定値のそれぞれを正常値である第1測定値と外れ値である第1測定値とに分類する第1分類回路と、
    前記複数の機器のそれぞれから、当該機器への少なくとも1つの入力値を含む当該機器の第2測定値を取得し、前記多変量解析方法を用いて、前記複数の機器から取得された複数の第2測定値のそれぞれを正常値である第2測定値と外れ値である第2測定値とに分類する第2分類回路と、
    前記複数の機器のうちで、前記外れ値である第1測定値と前記正常値である第2測定値とを有する機器を異常な機器であると判定する判定回路とを備えることを特徴とする異常検知装置。
  2. 前記多変量解析方法は1クラスνサポートベクトルマシンを用いた多変量解析方法であることを特徴とする請求項1記載の異常検知装置。
  3. 前記異常検知装置は、前記複数の機器からの出力値をそれぞれ測定する複数の第1センサから前記複数の機器からの出力値を受信し、前記複数の機器への入力値をそれぞれ測定する複数の第2センサから前記複数の機器への入力値を受信する受信回路をさらに備えることを特徴とする請求項1又は2記載の異常検知装置。
  4. 前記第1分類回路は、予め決められた時間長の時間区間ごとに反復的に、前記複数の機器のそれぞれから前記第1測定値を取得し、前記各機器の第1測定値のうちで正常値である第1測定値と外れ値である第1測定値とを分類し、
    前記第2分類回路は、前記時間区間ごとに反復的に、前記複数の機器のそれぞれから前記第2測定値を取得し、前記各機器の第2測定値のうちで正常値である第2測定値と外れ値である第2測定値とを分類し、
    前記判定回路は、複数の連続した時間区間にわたって前記外れ値である第1測定値と前記正常値である第2測定値とを有する機器を異常な機器であると判定することを特徴とする請求項3記載の異常検知装置。
  5. 前記異常検知装置は、着脱可能な記憶媒体を収容するインターフェースをさらに備え、前記複数の機器への入力値及び前記複数の機器からの出力値を前記記憶媒体から読み出すことを特徴とする請求項1又は2記載の異常検知装置。
  6. 複数の機器と、
    前記複数の機器からの出力値をそれぞれ測定する複数の第1センサと、
    前記複数の機器への入力値をそれぞれ測定する複数の第2センサと、
    請求項1〜5のうちの1つに記載の異常検知装置とを備えることを特徴とする異常検知システム。
  7. 前記複数の機器のそれぞれは2次電池セルであり、
    前記複数の第1センサのそれぞれは、ある2次電池セルの端子電圧及び温度のうちの少なくとも1つを測定し、
    前記複数の第2センサのそれぞれは、ある2次電池セルの充電電流、充電率、及び気温のうちの少なくとも1つを測定することを特徴とする請求項6記載の異常検知システム。
  8. 前記複数の機器のそれぞれは動力機器であり、
    前記複数の第1センサのそれぞれは、ある動力機器の回転数、動作音、振動、及び温度のうちの少なくとも1つを測定し、
    前記複数の第2センサのそれぞれは、ある動力機器の入力電流、入力電圧、及び気温のうちの少なくとも1つを測定することを特徴とする請求項6記載の異常検知システム。
JP2017562461A 2016-01-20 2016-12-01 異常検知装置及び異常検知システム Active JP6671397B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016008738 2016-01-20
JP2016008738 2016-01-20
PCT/JP2016/085765 WO2017126236A1 (ja) 2016-01-20 2016-12-01 異常検知装置及び異常検知システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2017126236A1 true JPWO2017126236A1 (ja) 2018-10-25
JP6671397B2 JP6671397B2 (ja) 2020-03-25

Family

ID=59362692

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017562461A Active JP6671397B2 (ja) 2016-01-20 2016-12-01 異常検知装置及び異常検知システム

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20190011506A1 (ja)
JP (1) JP6671397B2 (ja)
CN (1) CN108463736B (ja)
DE (1) DE112016006264T5 (ja)
WO (1) WO2017126236A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10771495B2 (en) * 2017-03-02 2020-09-08 General Electric Company Cyber-attack detection and neutralization
JP7012086B2 (ja) * 2017-08-18 2022-01-27 ローム株式会社 人工知能アルゴリズム
WO2019171702A1 (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 ソニー株式会社 情報処理装置および情報処理方法
CN111157898A (zh) * 2020-01-07 2020-05-15 清华大学深圳国际研究生院 一种新能源车辆在线电池故障检测分析方法及装置
CN113702814B (zh) * 2021-09-26 2024-02-27 富基电子(深圳)有限公司 一种用于测试bms板的测试方法及其系统
WO2023106378A1 (ja) * 2021-12-10 2023-06-15 学校法人東京理科大学 電子機器および解析方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002288781A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Toshiba Corp センサ異常検出方法及びセンサ異常検出装置
JP2004213273A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 Tokyo Gas Co Ltd 故障検出装置及び故障検出方法
JP2005345154A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Kyushu Electric Power Co Inc 異常予兆検出方法および装置
JP2006315813A (ja) * 2005-05-13 2006-11-24 Murata Mach Ltd 移動体の診断システム
JP2010092355A (ja) * 2008-10-09 2010-04-22 Hitachi Ltd 異常検知方法及びシステム
JP2011004171A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Fujitsu Ltd 光伝送装置
JP2012078142A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Chugoku Electric Power Co Inc:The 動作異常検出装置、動作異常検出方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3334807B2 (ja) * 1991-07-25 2002-10-15 株式会社日立製作所 ニュ−ラルネットを利用したパタ−ン分類方法および装置
JP3654645B2 (ja) * 2002-05-21 2005-06-02 三菱電機株式会社 モータ駆動系の異常検出装置
JP5277667B2 (ja) * 2008-03-07 2013-08-28 日本電気株式会社 障害分析システム、障害分析方法、障害分析サーバおよび障害分析プログラム
JP5301310B2 (ja) * 2009-02-17 2013-09-25 株式会社日立製作所 異常検知方法及び異常検知システム
JP5297272B2 (ja) * 2009-06-11 2013-09-25 株式会社日立製作所 装置異常監視方法及びシステム
JP5544418B2 (ja) * 2010-04-08 2014-07-09 株式会社日立製作所 プラントの診断装置、診断方法、及び診断プログラム
KR101920674B1 (ko) * 2012-01-12 2018-11-21 현대모비스 주식회사 솔레노이드 밸브의 고장 검출장치
CN102566505B (zh) * 2012-02-27 2013-11-20 温州大学 一种数控机床的智能故障诊断方法
CN103645249B (zh) * 2013-11-27 2017-05-10 国网黑龙江省电力有限公司 基于精简集下采样不均衡svm变压器在线故障检测方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002288781A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Toshiba Corp センサ異常検出方法及びセンサ異常検出装置
JP2004213273A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 Tokyo Gas Co Ltd 故障検出装置及び故障検出方法
JP2005345154A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Kyushu Electric Power Co Inc 異常予兆検出方法および装置
JP2006315813A (ja) * 2005-05-13 2006-11-24 Murata Mach Ltd 移動体の診断システム
JP2010092355A (ja) * 2008-10-09 2010-04-22 Hitachi Ltd 異常検知方法及びシステム
JP2011004171A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Fujitsu Ltd 光伝送装置
JP2012078142A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Chugoku Electric Power Co Inc:The 動作異常検出装置、動作異常検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN108463736A (zh) 2018-08-28
WO2017126236A1 (ja) 2017-07-27
CN108463736B (zh) 2020-06-30
DE112016006264T5 (de) 2018-09-27
US20190011506A1 (en) 2019-01-10
JP6671397B2 (ja) 2020-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6671397B2 (ja) 異常検知装置及び異常検知システム
EP3904894B1 (en) Training device, estimation device, training method, estimation method, training program, and estimation program
EP3162609B1 (en) Battery management method and apparatus
JP5607772B2 (ja) 太陽電池パネル監視プログラム、太陽電池パネル監視装置及び太陽電池パネル監視方法
US10094806B2 (en) Method and apparatus for monitoring battery state
JP5901140B2 (ja) システムの高い可用性のためにセンサデータを補間する方法、コンピュータプログラム、システム。
JP2019510970A (ja) 電池ヘルス状態を検出する装置及び方法
US11846675B2 (en) Battery temperature estimation method and apparatus, electronic device, and storage medium
KR20170066510A (ko) 센서 상태를 결정하기 위한 시스템
JP2019159604A (ja) 異常検知装置、異常検知方法及び異常検知プログラム
US20230161337A1 (en) Diagnostic device, server, and diagnostic method
CN105974273A (zh) 配电网故障定位系统
US20230118175A1 (en) Event analysis in an electric power system
JP6294563B2 (ja) センサ端末の故障または異常の検出方法
CN102257448A (zh) 使用切换模型进行机器状况监视的文件的滤波和预测
CN102521475A (zh) 一种运动设备的运动轨迹描绘方法
US11941495B2 (en) Information processing device, information processing method, and recording medium
US20220283242A1 (en) Method and device for managing battery data
JP5771318B1 (ja) 異常診断装置及び異常診断方法
KR20220100469A (ko) 배터리 관리 장치 및 방법
EP3623892A1 (en) Anomaly assessment device, anomaly assessment method, and anomaly assessment program
Chen et al. A Self-attention Knowledge Domain Adaptation Network for Commercial Lithium-ion Batteries State-of-health Estimation under Shallow Cycles
KR20190108515A (ko) 인공 신경망 데이터 처리기를 포함하는 센서 장치
CN205506009U (zh) 芯片测试机的监控装置
Geetha et al. The Smart Development of the Large Scale Sensing Techniques in Intelligent Industrial Automation

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180501

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190702

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190829

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200303

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6671397

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250