JPWO2017037914A1 - 情報処理装置及び情報処理方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、実施の形態に係る情報処理装置としての試験プログラム生成装置110を用いて通信試験を行う通信試験システム100の構成を概略的に示すブロック図である。
通信試験システム100では、試験構成情報101及び動作仕様情報102が試験プログラム生成装置110に入力される。そして、試験プログラム生成装置110は、試験構成情報101及び動作仕様情報102に基づいて、試験プログラム103を生成して、それを試験機模擬ツール140に与える。試験機模擬ツール140は、与えられた試験プログラム103を実行することで、被試験機150の通信試験を行い、合否判定を行う。
なお、本実施の形態における情報処理方法は、試験プログラム生成装置110で行われる方法である。
試験プログラム生成装置110は、表示部111と、入出力部112と、操作部113と、データ管理部114と、制御部118とを備える。
入出力部112は、情報の入力を受け付ける入力部及び情報を出力する出力部として機能する。例えば、入出力部112は、試験構成情報101及び動作仕様情報102を試験プログラム生成装置110に入力する機能を有する。入力された試験構成情報101及び動作仕様情報102は、データ管理部114に記憶される。
操作部113は、操作の入力を受け付ける。
データ管理部114は、試験構成情報記憶部115と、動作仕様情報記憶部116と、試験プログラム記憶部117とを備える。
組み込み機器の機種は、組み込み機器の名称を示す識別情報である機種名と、バージョンとにより識別される。そのため、試験構成情報101は、図3に示されているような機種情報テーブル160を含んでいる。
図3に示されているように、機種情報テーブル160は、組み込み機器列160aと、種類列160bとを有する。
組み込み機器列160aは、試験機又は被試験機となる組み込み機器の機種名を格納する。
種類列160bは、組み込み機器列160aで識別される組み込み機器のバージョンを格納する。
試験機及び被試験機の分別は、試験機となる組み込み機器の機種及び被試験機となる組み込み機器の機種を示す。
グループ情報は、組み込み機器が属するグループを示す。
組み込み機器の通し番号は、組み込み機器を識別するための番号を示す。
なお、試験構成情報101は、試験構成情報記憶部115の中に元々保管してあってもよいし、入出力部112を介して、試験プログラム生成装置110の外部から読み込まれてもよい。
動作仕様情報102は、組み込み機器が送受信する要求コマンド、要求コマンドへの応答コマンド、及び、応答コマンドへの応答コマンドを含む通信コマンド、通信コマンドの送信順序及び応答コマンドのタイムアウトの時間を有する試験項目を含む。
言い換えると、動作仕様情報記憶部116は、要求コマンド及びその要求コマンドへの応答コマンド、又は、要求コマンド、その要求コマンドへの応答コマンド及びその応答コマンドへの応答コマンドといった通信パターン毎に、応答コマンドのタイムアウトの時間を特定することで、試験項目を特定する。そして、動作仕様情報記憶部116は、試験機及び被試験機の組み合わせ毎に、当該組み合わせにおいて行われる全ての通信パターンに対応する全ての試験項目を含んでいる。
通信する組み込み機器列161aは、通信する組み込み機器の組み合わせを格納する。ここでは、通信する組み込み機器として、試験機及び碑試験機の組み合わせが格納されている。例えば、図4に示されている例では、通信する組み込み機器列161aの左側の組み込み機器が試験機であり、右側の組み込み機器が被試験機である。試験機及び被試験機は、それぞれ機種で識別されている。
対応コマンド列161bは、通信する組み込み機器列161aで特定される試験機及び被試験機が通信する通信コマンドが、送受信する順番で格納されている。
組み込み機器の通信コマンドの意味列162aは、通信コマンドの意味を格納する。
対応する値列162bは、組み込み機器の通信コマンドの意味列162aで特定される意味の通信コマンドが有する値を格納する。
なお、動作仕様情報102は、動作仕様情報記憶部116の中に元々保管してあってもよいし、入出力部112を介して、試験プログラム生成装置110の外部から読み込まれてもよい。
なお、試験プログラム103は、試験プログラム記憶部117に保管されてもよいし、制御部118を介して、試験プログラム生成装置110の外部にファイル出力されてもよい。
制御部118は、画面表示処理部119と、試験構成取得部120と、動作仕様取得部121と、試験解析部122と、試験プログラム生成部123と、試験プログラム出力部124とを備える。
試験構成取得部120は、データ管理部114から試験構成情報101を取得する。例えば、試験構成取得部120は、操作部113を介してユーザが指定した試験構成情報101を、データ管理部114の試験構成情報記憶部115から取得する。
動作仕様取得部121は、データ管理部114から動作仕様情報102を取得する。例えば、動作仕様取得部121は、操作部113を介してユーザが指定した動作仕様情報102を、データ管理部114の動作仕様情報記憶部116から取得する。
例えば、試験プログラム生成部123は、試験解析手段40で解析された全試験項目に含まれる試験項目毎に、予め用意されているプログラムに、送受信される通信コマンド、通信コマンドを送受信する順番及び合否判定基準としてのタイムアウト時間を組み込むことで、試験プログラム103を生成することができる。このようにして生成された試験プログラム103は、組み込み機器の通信試験において網羅的な組み合わせを実施し、通信試験の合否判定が可能なプログラムとなる。
表示部111は、ディスプレイ171により実現することができる。
入出力部112は、インタフェース172により実現することができる。このインタフェース172は、NIC(Network Interface Card)、又は、USB(Universal Serial Bus)等で構成することができる。
データ管理部114は、一又は複数のメモリ174により実現することができる。なお、試験構成情報記憶部115、動作仕様情報記憶部116及び試験プログラム記憶部117のそれぞれに一又は複数のメモリ174が割り当てられていてもよい。
制御部118は、CPU(Central Processing Unit)等のプロセッサにより実現することができる。
入出力部112は、試験プログラム生成装置110の外部から試験構成情報101及び動作仕様情報102の入力を受ける(S10)。
制御部118は、ステップS10で入力された試験構成情報101を試験構成情報記憶部115に、動作仕様情報102を動作仕様情報記憶部116に保管する(S11)。
また、動作仕様取得部121は、操作部113でユーザが指定した動作仕様情報102を動作仕様情報記憶部116から取得する(S13)。
また、試験プログラム出力部124は、ステップS15で生成された試験プログラム103を、入出力部112を介して、試験プログラム生成装置110の外部にファイル出力する(S17)。
Claims (8)
- 通信試験を行う試験機及び前記通信試験を受ける被試験機の複数の組み合わせに含まれる特定の組み合わせを示す試験構成情報と、当該複数の組み合わせの各々における全ての試験項目を示す動作仕様情報と、を記憶する記憶部と、
前記試験構成情報で示される前記特定の組み合わせに対応する前記全ての試験項目を前記動作仕様情報から特定し、当該特定された全ての試験項目を検査する試験プログラムを生成する制御部と、を備えること
を特徴とする情報処理装置。 - 前記動作仕様情報は、前記複数の組み合わせの各々において行われる全ての通信パターンに対応する全ての試験項目を示すこと
を特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記試験項目は、要求コマンド及び応答コマンドを含む通信コマンド、当該通信コマンドの送信順序、及び、当該応答コマンドのタイムアウトの時間を含むこと
を特徴とする請求項1又は2に記載の情報処理装置。 - 前記試験プログラムは、前記特定の組み合わせにおける試験機が、前記特定された全ての試験項目に含まれる特定の試験項目における通信コマンドを、当該特定の試験項目における送信順序で、前記特定の組み合わせにおける被試験機に送信した場合において、前記試験機が、当該特定の試験項目におけるタイムアウトの時間内に、前記被試験機から対応する応答コマンドを受信するか否かを、前記特定された全ての試験項目について確認するプログラムであること
を特徴とする請求項3に記載の情報処理装置。 - 前記試験プログラムは、前記試験機が、前記特定の試験項目におけるタイムアウトの時間内に、前記被試験機から対応する応答コマンドを受信しない場合に、前記通信試験に合格しなかったと判断するプログラムであること
を特徴とする請求項4に記載の情報処理装置。 - 前記動作仕様情報は、前記試験機から前記被試験機が想定していない応答コマンドを送信する試験項目を含むこと
を特徴とする請求項4又は5に記載の情報処理装置。 - 前記動作仕様情報及び前記試験構成情報を入力する入力部をさらに備えること
を特徴とする請求項1から6の何れか一項に記載の情報処理装置。 - 通信試験を行う試験機及び前記通信試験を受ける被試験機の複数の組み合わせに含まれる特定の組み合わせを示す試験構成情報から、当該特定の組み合わせを特定し、
前記複数の組み合わせの各々における全ての試験項目を示す動作仕様情報から、前記特定の組み合わせに対応する全ての試験項目を特定し、
前記特定された全ての試験項目を検査する試験プログラムを生成すること
を特徴とする情報処理方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2015/075066 WO2017037914A1 (ja) | 2015-09-03 | 2015-09-03 | 情報処理装置及び情報処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017037914A1 true JPWO2017037914A1 (ja) | 2018-03-08 |
JP6765374B2 JP6765374B2 (ja) | 2020-10-07 |
Family
ID=58186785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017537156A Active JP6765374B2 (ja) | 2015-09-03 | 2015-09-03 | 情報処理装置及び情報処理方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6765374B2 (ja) |
WO (1) | WO2017037914A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111198787B (zh) * | 2018-11-16 | 2021-11-02 | 长鑫存储技术有限公司 | 测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 |
JP7140719B2 (ja) * | 2019-07-04 | 2022-09-21 | アンリツ株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
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-
2015
- 2015-09-03 JP JP2017537156A patent/JP6765374B2/ja active Active
- 2015-09-03 WO PCT/JP2015/075066 patent/WO2017037914A1/ja active Application Filing
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2017037914A1 (ja) | 2017-03-09 |
JP6765374B2 (ja) | 2020-10-07 |
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