JPWO2016103634A1 - 監視システム、監視方法、および監視用プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の第1の実施形態の監視システム100について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の第1の実施形態の監視システム100の構成例を示すブロック図である。図1に示すように、本発明の第1の実施形態の監視システム100は、マルチプレクサ2、監視回路4、および同期信号発生器5を含む。
本発明の第2の実施形態について、図面を参照して説明する。図6は、本発明の第2の実施形態の監視システム10の構成例を示すブロック図である。図6に示すように、本発明の第2の実施形態の監視システム10は、入力部11、入出力特性算出部12、補正結果生成部13、および故障判定部14を含む。
2i−1〜2i−12、2s−1〜2s−12 入力端子
2o 出力端子
3、3a〜3n 増幅検波器
4、4a〜4n 監視回路
5 同期信号発生器
6 アッテネータ
8 2分岐スイッチ
9 制御部
10、100 監視システム
11 入力部
12 入出力特性算出部
13 補正結果生成部
14 故障判定部
15 特性測定対象機器
101、102、103、104 組
Sa〜Sn 入力信号
Claims (8)
- 監視対象信号と参照信号とが入力され、入力された信号のうちいずれか1つの信号を特性測定対象機器に入力する入力手段と、
前記参照信号が入力された場合の前記特性測定対象機器の出力信号と前記参照信号とに基づいて、前記特性測定対象機器の入出力特性を算出する入出力特性算出手段と、
前記入出力特性算出手段による算出結果に基づいて、前記監視対象信号が入力された場合の前記特性測定対象機器の出力信号を補正した結果を示す補正結果信号を生成する補正結果生成手段と、
前記補正結果生成手段が生成した前記補正結果信号に基づいて、機器が故障しているか否かを判定する故障判定手段とを備えた
ことを特徴とする監視システム。 - 前記入力手段は、当該監視システムに運用上許容されている時間よりも短いサイクルで、前記特性測定対象機器に入力する信号を切り替える
請求項1に記載の監視システム。 - 前記参照信号は、第1参照信号と、信号レベルが前記第1参照信号とは異なる第2参照信号と、信号レベルが前記第1参照信号および前記第2参照信号とは異なる第3参照信号とを含み、
前記入出力特性算出手段は、前記第1参照信号、前記第2参照信号、および前記第3参照信号のそれぞれが入力された場合の前記特性測定対象機器のそれぞれの出力信号と前記第1参照信号、前記第2参照信号、および前記第3参照信号とに基づいて、前記特性測定対象機器の入出力特性を算出する
請求項1または請求項2に記載の監視システム。 - 前記第1参照信号の信号レベルは0dBであり、前記第2参照信号の信号レベルは−6dBであり、前記第3参照信号の信号レベルはグラウンドレベルである
請求項3に記載の監視システム。 - 前記故障判定手段は、前記補正結果信号が示す補正結果の値が所定の範囲外である場合に、機器が故障していると判定する
請求項1から請求項4のうちいずれかに記載の監視システム。 - 前記特性測定対象機器を含む
請求項1から請求項5のうちいずれかに記載の監視システム。 - 監視対象信号と参照信号とが入力され、入力された信号のうちいずれか1つの信号を特性測定対象機器に入力させ、
前記参照信号が入力された場合の前記特性測定対象機器の出力信号と前記参照信号とに基づいて、前記特性測定対象機器の入出力特性を算出し、
前記入出力特性の算出結果に基づいて、前記監視対象信号が入力された場合の前記特性測定対象機器の出力信号を補正した結果を示す補正結果信号を生成し、
生成した前記補正結果信号に基づいて、機器が故障しているか否かを判定可能な補正結果信号を生成する
ことを特徴とする監視方法。 - コンピュータに、
監視対象信号と参照信号とが入力される入力手段に、入力された信号のうちいずれか1つの信号を特性測定対象機器に入力させる入力処理と、
前記参照信号が入力された場合の前記特性測定対象機器の出力信号と前記参照信号とに基づいて、前記特性測定対象機器の入出力特性を算出する入出力特性算出処理と、
前記入出力特性算出処理の算出結果に基づいて、前記監視対象信号が入力された場合の前記特性測定対象機器の出力信号を補正した結果を示し、機器が故障しているか否かを判定可能な補正結果信号を生成する補正結果生成処理とを実行させる
ための監視用プログラムが記憶された記憶媒体。
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004363405A (ja) * | 2003-06-06 | 2004-12-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマ処理装置の異常検出方法 |
JP2008109266A (ja) * | 2006-10-24 | 2008-05-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 映像信号処理装置およびその電力制御方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3915238B2 (ja) | 1997-06-10 | 2007-05-16 | 株式会社デンソー | センサ装置 |
JP4831067B2 (ja) * | 2005-06-20 | 2011-12-07 | 株式会社ニコン | 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム製品、および撮像装置 |
US8675725B2 (en) * | 2010-04-29 | 2014-03-18 | Mediatek Singapore Pte. Ltd. | Integrated circuit, communication unit and method for improved amplitude resolution of an RF-DAC |
JP5758795B2 (ja) * | 2011-12-22 | 2015-08-05 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 無線通信装置 |
JP2013251823A (ja) | 2012-06-01 | 2013-12-12 | Nec Network & Sensor Systems Ltd | 波形自動整形制御装置および波形自動整形制御方法 |
JP6079037B2 (ja) * | 2012-08-08 | 2017-02-15 | 株式会社リコー | 画像形成装置、画像形成方法、プログラムおよび記録媒体 |
GB2511733B (en) * | 2013-02-01 | 2020-08-19 | Snaptrack Inc | 2G support for 2G and 3G/4G envelope tracking modulator |
-
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004363405A (ja) * | 2003-06-06 | 2004-12-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマ処理装置の異常検出方法 |
JP2008109266A (ja) * | 2006-10-24 | 2008-05-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 映像信号処理装置およびその電力制御方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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EP3240210A4 (en) | 2018-08-08 |
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