JPWO2015118627A1 - Electrical contact material and manufacturing method thereof - Google Patents

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Abstract

【課題】摺動荷重が50gf以上、例えば100gf程度の高荷重になっても優れた耐磨耗性を示すとともに、特に長時間大気に晒されるような過酷な環境でも使用でき、例えばH2SガスやSO2ガス雰囲気下などの腐食環境での加速試験後においても電気接点材料の接触抵抗上昇を大幅に抑制することができて、長期信頼性の高い電気接点材料およびその製造方法を提供すること。【解決手段】導電性基体1の表面上に第1貴金属層2を有し、前記第1貴金属層2の表面上に第2貴金属層3を有する電気接点材料であって、前記第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=AμmがA<1であり、かつ該第1貴金属層の硬度Hvが150以上であり、前記第2貴金属層の厚さがAμmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=BμmがB≦0.1である電気接点材料及びその製造方法。【選択図】図1The present invention provides excellent wear resistance even when the sliding load is 50 gf or higher, for example, about 100 gf, and can be used even in a severe environment such as being exposed to the atmosphere for a long time. To provide an electrical contact material having a long-term reliability and a method for manufacturing the electrical contact material that can greatly suppress an increase in contact resistance of the electrical contact material even after an accelerated test in a corrosive environment such as an SO2 gas atmosphere. An electrical contact material having a first noble metal layer 2 on a surface of a conductive substrate 1 and a second noble metal layer 3 on the surface of the first noble metal layer 2, the first noble metal layer. The surface average arithmetic roughness Ra = A μm is A <1, and the hardness Hv of the first noble metal layer is 150 or more, and the thickness of the second noble metal layer is more than A μm and 1 μm or less, And the electrical contact material whose arithmetic mean roughness Ra = Bmicrometer of the surface of this 2nd noble metal layer is B <= 0.1, and its manufacturing method. [Selection] Figure 1

Description

本発明は、電気接点材料およびその製造方法に関する。特に、互いに異なる貴金属若しくはその合金からなる2つの貴金属層で被覆された電気接点材料およびその製造方法に関する。   The present invention relates to an electrical contact material and a manufacturing method thereof. In particular, the present invention relates to an electrical contact material coated with two noble metal layers made of different noble metals or their alloys, and a method for manufacturing the same.

電気接点部品には、古くは電気伝導性に優れた銅又は銅合金が利用されてきたが、近年は接点特性の向上が進み、裸の銅又は銅合金を用いるケースは減少し、銅又は銅合金上に各種表面処理した材料が利用されている。特に電気接点材料として多く利用されているものとして、電気接点部に貴金属めっきされた電気接点材料がある。中でも金、銀、パラジウム、白金、イリジウム、ロジウム、ルテニウムなどの貴金属は、安定性や優れた電気伝導率を示すことなどから、各種電気接点材料に利用されている。   In the past, copper or copper alloys with excellent electrical conductivity have been used for electrical contact parts, but in recent years, contact characteristics have improved, and the number of cases using bare copper or copper alloys has decreased. Various surface-treated materials are used on alloys. In particular, an electrical contact material in which noble metal plating is applied to an electrical contact portion is widely used as an electrical contact material. Among them, noble metals such as gold, silver, palladium, platinum, iridium, rhodium, and ruthenium are used in various electrical contact materials because they exhibit stability and excellent electrical conductivity.

最近の電気接点材として、自動車車載向けの屋内外摺動接点や、リードスイッチ、カメラマウント接点用スイッチなどには、例えば押圧による通常の接触式の他に繰返しの摺動を伴う電気接点材料として耐摩耗性が良好な電気接点材料が利用されている。耐摩耗性の向上に関しては、汎用的なものでは硬質銀や硬質金を使用した電気接点材料が一般的である。さらにはマイクロ粒子を分散させためっきやクラッド材料なども研究開発されており、電気接点材料の摺動特性等の向上を図ってさまざまな表面処理を施した電気接点材料が開発されている。   As a recent electrical contact material, for indoor and outdoor sliding contacts for automobile mounting, reed switches, camera mount contact switches, etc., for example, as an electrical contact material with repeated sliding in addition to the normal contact type by pressing Electrical contact materials with good wear resistance are used. Regarding improvement of wear resistance, electrical contact materials using hard silver or hard gold are generally used for general purposes. Furthermore, research and development has been conducted on plating and cladding materials in which microparticles are dispersed, and electrical contact materials that have been subjected to various surface treatments to improve the sliding characteristics of the electrical contact materials have been developed.

例えば本発明者らは、特許文献1において、導電性基体上に、表面の算術平均粗さRa=(A)μmで、(A)が0.05〜0.5である貴金属または貴金属を主成分とした合金からなる第1貴金属層と、該第1貴金属層の上層に皮膜厚さが0.001×(A)μm以上(A)μm以下の貴金属または貴金属を主成分とした合金からなる第2貴金属層とが設けられた電気接点材料であって、前記第1貴金属層を形成する貴金属が金、銀、パラジウムおよび白金から選ばれ、前記第1貴金属層を形成する貴金属または前記第1貴金属層を形成する合金の主成分である貴金属に対して、前記第2貴金属層を形成する貴金属または前記第2貴金属層を形成する合金の主成分である貴金属が異なる元素である電気接点材料を提供している。この電気接点材料は、摺動特性や耐摩耗性に優れ、長寿命であり、低コストで製造しうる電気接点材料である。   For example, in the patent document 1, the present inventors mainly used a noble metal or noble metal having a surface arithmetic mean roughness Ra = (A) μm and (A) of 0.05 to 0.5 on a conductive substrate. A first noble metal layer made of an alloy as a component, and a noble metal having a film thickness of 0.001 × (A) μm or more and (A) μm or less on the first noble metal layer or an alloy containing a noble metal as a main component. An electrical contact material provided with a second noble metal layer, wherein the noble metal that forms the first noble metal layer is selected from gold, silver, palladium, and platinum, and the noble metal that forms the first noble metal layer or the first An electrical contact material in which the noble metal that forms the second noble metal layer or the noble metal that is the main component of the alloy that forms the second noble metal layer is an element different from the noble metal that is the main component of the alloy that forms the noble metal layer. providing. This electrical contact material is an electrical contact material that is excellent in sliding characteristics and wear resistance, has a long life, and can be manufactured at low cost.

特許第5128153号公報Japanese Patent No. 5128153

ところが、特許文献1の構成にて電気接点材料を作成して評価を行ったところ、軽荷重における摺動特性は大変優れる効果が見られたものの、例えば荷重50gf以上になると摺動特性が悪くなる傾向が見られ、また環境試験後の耐食性が悪くなる場合があることが分かった。これは、硫化水素(HS)ガスや二酸化硫黄(SO)ガスなどの高負荷環境における試験を行った時、前記第1貴金属層と第2貴金属層の2層の貴金属層のピンホールや前記第1貴金属層と導電性基体の間に設けられる下地金属層のピンホールから、下地金属もしくは基体の成分に由来する腐食生成物が形成されて接触抵抗が悪くなる場合があることが分かった。However, when the electrical contact material was created and evaluated with the configuration of Patent Document 1, the sliding characteristics under light load were very excellent, but the sliding characteristics deteriorated when the load was 50 gf or more, for example. It has been found that there is a tendency, and the corrosion resistance after the environmental test may deteriorate. This is because when a test is performed in a high load environment such as hydrogen sulfide (H 2 S) gas or sulfur dioxide (SO 2 ) gas, pinholes in the two noble metal layers of the first noble metal layer and the second noble metal layer are used. It can be seen that corrosion resistance derived from the base metal or the component of the base may be formed from the pinhole of the base metal layer provided between the first noble metal layer and the conductive base, resulting in poor contact resistance. It was.

本発明は、上記のような問題点を解決し、摺動荷重が50gf以上、例えば100gf程度の高荷重になっても優れた耐磨耗性を示すとともに、特に長時間大気に晒されるような過酷な環境でも使用でき、例えばHSガスやSOガス雰囲気下などの腐食環境での加速試験後においても電気接点材料の接触抵抗上昇を大幅に抑制することができて、長期信頼性の高い電気接点材料およびその製造方法を提供することを課題とする。The present invention solves the above-described problems, and exhibits excellent wear resistance even when the sliding load is as high as 50 gf or more, for example, about 100 gf, and is particularly exposed to the atmosphere for a long time. It can be used even in harsh environments, for example, it can greatly suppress the increase in contact resistance of electrical contact materials even after accelerated tests in corrosive environments such as H 2 S gas and SO 2 gas atmosphere, and long-term reliability It is an object to provide a high electrical contact material and a method for manufacturing the same.

上記課題に対して鋭意研究開発を進めた結果、本発明者らは、導電性基体上に設けられる第1貴金属層と第2貴金属層のそれぞれの金属層について、その表面粗さ、層の厚さ、層の硬さ等を適正に調整することによって、高荷重における耐摩耗性や摺動特性に優れるだけでなく、耐食性にも優れた電気接点材料を提供できることを見出した。本発明は、この知見に基づきなされるに至ったものである。   As a result of diligent research and development on the above problems, the present inventors have found that each of the first and second noble metal layers provided on the conductive substrate has a surface roughness and a layer thickness. In addition, it has been found that by appropriately adjusting the hardness of the layer and the like, it is possible to provide an electrical contact material that is not only excellent in wear resistance and sliding characteristics under high load but also excellent in corrosion resistance. The present invention has been made based on this finding.

すなわち、本発明によれば、以下の手段が提供される。
(1)導電性基体の表面上に第1貴金属層を有し、前記第1貴金属層の表面上に第2貴金属層を有する電気接点材料であって、
前記第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=AμmがA<1であり、かつ該第1貴金属層の硬度Hvが150以上であり、
前記第2貴金属層の厚さがAμmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=BμmがB≦0.1であることを特徴とする電気接点材料。
(2)前記Aの値が0.001以上0.500未満である(1)項に記載の電気接点材料。
(3)前記第1貴金属層および第2貴金属層が、それぞれ金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金、パラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなる(1)または(2)項に記載の電気接点材料。
(4)前記第1貴金属層がパラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなる(1)〜(3)のいずれか1項に記載の電気接点材料。
(5)前記第2貴金属層が金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金のうちいずれかからなる(1)〜(4)のいずれか1項に記載の電気接点材料。
(6)前記導電性基体と前記第1貴金属層との間に少なくとも1層の下地金属層を有する(1)〜(5)のいずれか1項に記載の電気接点材料。
(7)前記下地金属層がニッケル、ニッケル合金、コバルト、コバルト合金のうちいずれかからなる(6)項に記載の電気接点材料。
(8)前記下地金属層の厚さが0.05〜3.00μmである(6)または(7)項に記載の電気接点材料。
(9)前記導電性基体が、銅、銅合金、鉄、鉄合金、アルミニウム、アルミニウム合金のうちいずれかからなる(1)〜(8)のいずれか1項に記載の電気接点材料。
(10)前記導電性基体の母相の平均結晶粒径が5μm以下である(1)〜(9)のいずれか1項に記載の電気接点材料。
(11)前記第1貴金属層及び第2貴金属層の少なくとも一層を電気めっき法で設けることを特徴とする(1)〜(10)のいずれか1項に記載の電気接点材料の製造方法。
ここで、本発明において、前記第1貴金属層や第2貴金属層で「貴金属」とは、導電性基体の材料よりも貴な金属であることをいう。
That is, according to the present invention, the following means are provided.
(1) An electrical contact material having a first noble metal layer on the surface of a conductive substrate and a second noble metal layer on the surface of the first noble metal layer,
The arithmetic average roughness Ra = A μm of the surface of the first noble metal layer is A <1, and the hardness Hv of the first noble metal layer is 150 or more,
An electrical contact material wherein the thickness of the second noble metal layer is more than A μm and not more than 1 μm, and the arithmetic average roughness Ra = B μm of the surface of the second noble metal layer is B ≦ 0.1 .
(2) The electrical contact material according to (1), wherein the value of A is 0.001 or more and less than 0.500.
(3) The first noble metal layer and the second noble metal layer are gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, tin alloy, palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, respectively. , Rhodium, rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, an iridium alloy, the electrical contact material according to (1) or (2).
(4) Any one of (1) to (3), wherein the first noble metal layer is made of any one of palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, rhodium, rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, and iridium alloy. The electrical contact material according to Item.
(5) Any one of (1) to (4), wherein the second noble metal layer is made of any one of gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, and tin alloy. The electrical contact material according to Item.
(6) The electrical contact material according to any one of (1) to (5), wherein the electrical contact material has at least one base metal layer between the conductive base and the first noble metal layer.
(7) The electrical contact material according to (6), wherein the base metal layer is made of nickel, nickel alloy, cobalt, or cobalt alloy.
(8) The electrical contact material according to (6) or (7), wherein the base metal layer has a thickness of 0.05 to 3.00 μm.
(9) The electrical contact material according to any one of (1) to (8), wherein the conductive substrate is made of any one of copper, copper alloy, iron, iron alloy, aluminum, and aluminum alloy.
(10) The electrical contact material according to any one of (1) to (9), wherein an average crystal grain size of a parent phase of the conductive substrate is 5 μm or less.
(11) The method for producing an electrical contact material according to any one of (1) to (10), wherein at least one of the first noble metal layer and the second noble metal layer is provided by electroplating.
Here, in the present invention, the “noble metal” in the first noble metal layer and the second noble metal layer means a metal noble than the material of the conductive substrate.

本発明によれば、高荷重における耐磨耗性や摺動特性、および耐食性を示すとともに、さらには接触抵抗の小さい電気接点材料を提供することができる。また、本発明の電気接点材料は、例えば特許文献1に記載のものなどよりも厚めっきであるが、最表面の色調が劣化しにくく、長期的に外観が良好であるという効果もある。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, while showing the abrasion resistance in a high load, sliding characteristics, and corrosion resistance, furthermore, an electrical contact material with small contact resistance can be provided. Moreover, although the electrical contact material of the present invention is thicker than that described in, for example, Patent Document 1, the color tone of the outermost surface is hardly deteriorated, and there is an effect that the appearance is good in the long term.

本発明の上記及び他の特徴及び利点は、適宜添付の図面を参照して、下記の記載からより明らかになるであろう。   The above and other features and advantages of the present invention will become more apparent from the following description, with reference where appropriate to the accompanying drawings.

本発明の一つの実施態様を模式的に示した断面図である。It is sectional drawing which showed one embodiment of this invention typically. 本発明の別の実施態様を模式的に示した断面図である。It is sectional drawing which showed another embodiment of this invention typically. 本発明のさらに別の実施態様を模式的に示した断面図である。It is sectional drawing which showed further another embodiment of this invention typically. 本発明の一つの実施態様の第1貴金属層と第2貴金属層との境界を模式的に示す部分拡大断面図である。It is a partial expanded sectional view which shows typically the boundary of the 1st noble metal layer and 2nd noble metal layer of one embodiment of this invention. 本発明の別の実施態様の第1貴金属層と第2貴金属層との境界を模式的に示す部分拡大断面図である。It is a partial expanded sectional view which shows typically the boundary of the 1st noble metal layer and 2nd noble metal layer of another embodiment of this invention.

本発明は、導電性基体の表面上に第1貴金属層を有し、前記第1貴金属層の表面上に第2貴金属層を有する電気接点材料であって、前記第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(A)μmが(A)<1であり、かつ該第1貴金属層の硬度Hvが150以上であり、前記第2貴金属層の厚さが(A)μmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(B)μmが(B)≦0.1である電気接点材料である。ここで、算術平均粗さRaとは、JIS B 0601:2013に従った算術平均粗さRaを意味する。   The present invention is an electrical contact material having a first noble metal layer on the surface of a conductive substrate and a second noble metal layer on the surface of the first noble metal layer, the arithmetic of the surface of the first noble metal layer Average roughness Ra = (A) μm is (A) <1, the hardness Hv of the first noble metal layer is 150 or more, and the thickness of the second noble metal layer exceeds 1 μm (A) μm. It is an electrical contact material which is the following, and the arithmetic mean roughness Ra = (B) μm of the surface of the second noble metal layer is (B) ≦ 0.1. Here, the arithmetic average roughness Ra means the arithmetic average roughness Ra according to JIS B 0601: 2013.

なお、本発明において、第1貴金属層と第2貴金属層のそれぞれは、その成分(つまり貴金属元素の種類)が互いに異なる層である。第1貴金属層と第2貴金属層のそれぞれは、単一の貴金属種から構成されていてもよいし、貴金属を含む合金からなっていても良い。貴金属を含む合金からなる場合は、その層中の最も質量比の大きい元素種が貴金属であることを要する。もし、1つの貴金属層が複数の貴金属を含む合金からなる場合は、その層中の全ての貴金属の合計の質量比が、その層中で最も大きい割合となっていることを要する。ただし、貴金属の合金の割合が50%丁度のときも、これを貴金属層とする。   In the present invention, each of the first noble metal layer and the second noble metal layer is a layer having different components (that is, types of noble metal elements). Each of the first noble metal layer and the second noble metal layer may be composed of a single noble metal species or an alloy containing a noble metal. In the case of an alloy containing a noble metal, the element species having the largest mass ratio in the layer needs to be a noble metal. If one noble metal layer is made of an alloy containing a plurality of noble metals, the total mass ratio of all the noble metals in the layer needs to be the largest ratio in the layer. However, even when the ratio of the precious metal alloy is just 50%, this is used as the precious metal layer.

ここで、第1貴金属層と第2貴金属層が、それぞれ単一の貴金属種から構成されている場合には、当該貴金属元素種が互いに相違することを要する。一方、第1貴金属層と第2貴金属層が、それぞれ貴金属を含む合金から構成されている場合には、当該合金層を構成するところの前記その層中の最も質量比の大きい貴金属元素種が互いに相違することを要する。   Here, when the first noble metal layer and the second noble metal layer are each composed of a single noble metal species, the noble metal element species need to be different from each other. On the other hand, when the first noble metal layer and the second noble metal layer are each composed of an alloy containing a noble metal, the noble metal element species having the largest mass ratio in the layer constituting the alloy layer are mutually It needs to be different.

本発明の電気接点材料を図面を用いて説明する。
図1は、本発明の一つの実施態様を模式的に示した断面図である。この実施態様では、導電性基体1の表面上に第1貴金属層2が設けられ、さらにその表面上に第2貴金属層3が設けられている。
図2は、本発明の別の実施態様を模式的に示した断面図である。ここでは、導電性基体1の表面上に、第1貴金属層2および第2貴金属層3からなる被覆層の下地金属層4が設けられている。
図3は、本発明のさらに別の実施態様を模式的に示した断面図である。ここでは、導電性基体1の表面上に下地金属層4が設けられ、下地金属層4の上に第1貴金属層2および第2貴金属層3からなる被覆層が部分的に設けられたものであり、省貴金属化におけるコストダウンが図られる。なお、図3に関連して、導電性基体1上の下地金属層4は部分的に設けられていてもよく、例えば第1貴金属層2および第2貴金属層3からなる被覆層が設けられる箇所にのみ(被覆層の形状に合わせて)設けられていてもよい。
The electrical contact material of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a sectional view schematically showing one embodiment of the present invention. In this embodiment, the first noble metal layer 2 is provided on the surface of the conductive substrate 1, and the second noble metal layer 3 is further provided on the surface.
FIG. 2 is a sectional view schematically showing another embodiment of the present invention. Here, on the surface of the conductive substrate 1, a base metal layer 4 of a covering layer composed of the first noble metal layer 2 and the second noble metal layer 3 is provided.
FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing still another embodiment of the present invention. Here, a base metal layer 4 is provided on the surface of the conductive substrate 1, and a coating layer composed of the first noble metal layer 2 and the second noble metal layer 3 is partially provided on the base metal layer 4. Yes, cost reduction in saving precious metals can be achieved. In relation to FIG. 3, the base metal layer 4 on the conductive substrate 1 may be partially provided, for example, a place where a covering layer comprising the first noble metal layer 2 and the second noble metal layer 3 is provided. Only (in accordance with the shape of the coating layer).

図1〜図3では、簡略化して、第1貴金属層2と第2貴金属層3との境界は直線により示されているが、実際は、図4の部分拡大断面図に模式的に示されるように、導電性基体1の表面上の第1貴金属層2の表面は算術平均粗さRa=(A)μmとなるような凹凸を有しており、第2貴金属層3の膜厚は、(A)μmを超え1μm以下で形成されている。
なお、図5の部分拡大断面図に模式的に示すように例えば光沢めっきを第2貴金属層3に使用した場合などには、第1貴金属層2の表面側の凹部に厚く凸部に薄く第2貴金属層3を設けることも可能である。また、このとき例えば、めっき後に表面を軽くラッピングして削り、第1貴金属層2の表面側の凹部のみに第2貴金属層3を被覆してもよい。ここで、第2貴金属層3を第1貴金属層2の表面側の凹部に厚く、凸部に薄く設ける場合の第2貴金属層3の膜厚は、算術平均により定義する。
In FIG. 1 to FIG. 3, the boundary between the first noble metal layer 2 and the second noble metal layer 3 is indicated by a straight line, but actually, it is schematically shown in the partially enlarged sectional view of FIG. 4. Furthermore, the surface of the first noble metal layer 2 on the surface of the conductive substrate 1 has irregularities such that the arithmetic average roughness Ra = (A) μm, and the film thickness of the second noble metal layer 3 is ( A) It is formed with a thickness exceeding 1 μm and not exceeding 1 μm.
As schematically shown in the partial enlarged cross-sectional view of FIG. 5, for example, when bright plating is used for the second noble metal layer 3, the first noble metal layer 2 is thicker in the concave portion on the surface side and thinner in the convex portion. It is also possible to provide two noble metal layers 3. At this time, for example, the surface may be lightly lapped and scraped after plating, and the second noble metal layer 3 may be covered only on the concave portion on the surface side of the first noble metal layer 2. Here, the film thickness of the second noble metal layer 3 when the second noble metal layer 3 is thick in the concave portion on the surface side of the first noble metal layer 2 and thin in the convex portion is defined by an arithmetic average.

また、使用する導電性基体としては、銅または銅合金、鉄または鉄合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金製の導電性基体が好ましく、中でも導電率の良い銅または銅合金製の導電性基体が好ましい。
例えば銅合金の例として、CDA(Copper Development Association)掲載合金である「C14410(Cu−0.15Sn、古河電気工業(株)製、商品名:EFTEC−3)」、「C19400(Cu−Fe系合金材料、Cu−2.3Fe−0.03P−0.15Zn)」、「C18045(Cu−0.3Cr−0.25Sn−0.5Zn、古河電気工業(株)製、商品名:EFTEC−64T)」、「C26800(Cu−35%Zn)」、および「C71500(Cu−30%Ni)」等を用いることができる。なお、各元素の前の数字の単位は質量%である。これら銅合金製の導電性基体基体はそれぞれ導電率や強度が異なるため、適宜要求特性により選択して使用されるが、導電性や放熱性を向上させるという観点からは、導電率が5%IACS以上の銅合金の条材とすることが好ましい。なお、銅または銅合金を導電性基体とする際における「基体成分」とは、銅のことを示すものとする。
また、鉄もしくは鉄合金としては、例えば、42アロイ(Fe−42mass%Ni)やステンレスなどが用いられる。このときの基体成分とは、鉄を示すものとする。
導電性基体の厚さには特に制限はないが、通常、0.05〜2.00mmであり、好ましくは、0.10〜1.00mmである。
Further, as the conductive substrate used, a conductive substrate made of copper or copper alloy, iron or iron alloy, aluminum or aluminum alloy is preferable, and a conductive substrate made of copper or copper alloy having good conductivity is particularly preferable.
For example, as an example of a copper alloy, “C14410 (Cu-0.15Sn, manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd., trade name: EFTEC-3)” which is a CDA (Copper Development Association) listed alloy, “C19400 (Cu-Fe series) Alloy material, Cu-2.3Fe-0.03P-0.15Zn "", "C18045 (Cu-0.3Cr-0.25Sn-0.5Zn, manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd., trade name: EFTEC-64T ) "," C26800 (Cu-35% Zn) "," C71500 (Cu-30% Ni) ", and the like. In addition, the unit of the number before each element is mass%. Since these copper alloy conductive substrate bases have different electrical conductivity and strength, they are appropriately selected according to required characteristics. From the viewpoint of improving the electrical conductivity and heat dissipation, the electrical conductivity is 5% IACS. It is preferable to use the above copper alloy strip. The “substrate component” in the case of using copper or a copper alloy as the conductive substrate indicates copper.
Further, as the iron or iron alloy, for example, 42 alloy (Fe-42 mass% Ni), stainless steel, or the like is used. In this case, the base component indicates iron.
Although there is no restriction | limiting in particular in the thickness of an electroconductive base | substrate, Usually, it is 0.05-2.00 mm, Preferably, it is 0.10-1.00 mm.

さらに本発明における導電性基体として、導電性基体母材(matrix)の平均結晶粒径が、5μm以下であるものを採用することで、その上層に析出するめっきを緻密な析出にすることができ、その結果多数の結晶粒を持つめっきを形成して粒界拡散を分散させ、基体成分の拡散が表層に到達する時間を大幅に遅らせることができる。その結果、第2貴金属層の表層における拡散してきた基体成分の腐食が抑制でき、接触抵抗の上昇が抑制されて信頼性の高い電気接点材料が提供できる。また、導電性基体母材の平均結晶粒径が小さいほど導電性基体の曲げ加工性が優れることも相乗効果として得られる。
導電性基体母材の平均結晶粒径は、5μm以下であることが好ましいが、めっきの緻密性をより一層高めるために3μm以下がより好ましく、1μm以下がさらに好ましい。この下限値には特に制限はないが、通常、0.001μm以上である。
Furthermore, as the conductive substrate in the present invention, by adopting a conductive substrate matrix (matrix) having an average crystal grain size of 5 μm or less, the plating deposited on the upper layer can be densely deposited. As a result, a plating having a large number of crystal grains can be formed to disperse the grain boundary diffusion, and the time for the diffusion of the base component to reach the surface layer can be greatly delayed. As a result, corrosion of the diffused base component in the surface layer of the second noble metal layer can be suppressed, and an increase in contact resistance can be suppressed and a highly reliable electrical contact material can be provided. Further, as the average crystal grain size of the conductive base material is smaller, the bending workability of the conductive base is more excellent as a synergistic effect.
The average crystal grain size of the conductive base material is preferably 5 μm or less, but is preferably 3 μm or less, and more preferably 1 μm or less in order to further improve the denseness of plating. Although there is no restriction | limiting in particular in this lower limit, Usually, it is 0.001 micrometer or more.

本発明において、第1貴金属層および第2貴金属層を形成する金属またはその合金の例としては、金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金、パラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金などが挙げられる。
ここで、第1貴金属層の役割としては、最表面に形成される第2貴金属層の耐磨耗性を向上させ、さらに耐食性を高めることである。これは、第1貴金属層表面の算術平均粗さRa=(A)μmを(A)<1とすることで、耐磨耗性を向上させ、かつその硬度Hvを150以上、好ましくは200以上とすることで、耐磨耗性をより一層改善することができるためである。
また、前記(A)の値を0.001以上0.500未満とすることが好ましく、これによって、より耐食性に優れた電気接点材料を得ることができる。
In the present invention, examples of a metal or an alloy thereof forming the first noble metal layer and the second noble metal layer include gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, tin alloy, Palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, rhodium, rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, iridium alloy, and the like can be given.
Here, the role of the first noble metal layer is to improve the wear resistance of the second noble metal layer formed on the outermost surface and to further improve the corrosion resistance. This is because the arithmetic average roughness Ra = (A) μm of the surface of the first noble metal layer is set to (A) <1, so that the wear resistance is improved and the hardness Hv is 150 or more, preferably 200 or more. This is because the wear resistance can be further improved.
Moreover, it is preferable that the value of (A) is 0.001 or more and less than 0.500, whereby an electrical contact material having more excellent corrosion resistance can be obtained.

特にこのような耐磨耗性と耐食性の向上を容易に達成するために、第1貴金属層として、パラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなることが好ましく、第1貴金属層がパラジウム、パラジウム合金、ロジウム、ロジウム合金のうちいずれかからなることが耐磨耗性及び接触抵抗をより小さくすることができることからさらに好ましい。(A)の値は好ましくは、0.001以上0.5未満であり、さらに好ましくは0.005〜0.1である。(A)の値をこの範囲とすることで、この後で第1貴金属層上に形成される第2貴金属層の表面を平滑となりやすいものにすることができる。
なお、この第1貴金属層の被覆厚については、特に制限されるものではないが、コストや曲げ加工性を考慮すると、0.001〜3μmであることが好ましく、0.05〜1μmであることがさらに好ましい。
In particular, in order to easily achieve such improvements in wear resistance and corrosion resistance, palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, rhodium, rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, iridium alloy are used as the first noble metal layer. It is preferable that the first noble metal layer is made of any one of palladium, palladium alloy, rhodium, and rhodium alloy because the wear resistance and the contact resistance can be further reduced. The value of (A) is preferably 0.001 or more and less than 0.5, and more preferably 0.005 to 0.1. By setting the value of (A) within this range, the surface of the second noble metal layer subsequently formed on the first noble metal layer can be made smooth easily.
In addition, about the coating thickness of this 1st noble metal layer, it is although it does not restrict | limit in particular, In consideration of cost and bending workability, it is preferable that it is 0.001-3 micrometers, and it is 0.05-1 micrometers. Is more preferable.

第2貴金属層は、第1貴金属層を構成する貴金属とは異なる貴金属から構成される。第2貴金属層は、本発明の電気接点材料の最表面被覆層であって、第2貴金属層の皮膜厚さは、第1貴金属層の表面の算術平均粗さ(Ra)である(A)μmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(B)μmが、B≦0.1である。この第2貴金属層は、第1貴金属層を保護し、なおかつ導電特性の良好な第1貴金属層とは異なる貴金属の層として設けたものである。第2貴金属層の表面は、初期の摺動面になるが、第1貴金属層表面の算術平均粗さ(Ra)である(A)μmの凹凸に第2貴金属層が埋没することによって、電気接点材料として必要な低接触抵抗特性や摺動接点として必要な機能である表面潤滑性・耐摩耗性を兼ね備えた被覆層として機能する。第2貴金属層は、第1貴金属層の凹凸を埋める程度存在するだけでなく、その厚さを前記(A)μmを超えて1μm以下とすることで、より一層耐食性を向上させた皮膜とする。さらに第2貴金属層表面の算術平均粗さRa=(B)μmを(B)≦0.1とすることで、凹凸による磨耗を抑制して第1貴金属層ないしは導電性基体の露出を防止する効果を発揮する。このように第2貴金属層を第1貴金属層の算術平均粗さ(Ra)=(A)μmよりも厚く設ける本発明の電気接点材料においては、被覆層を構成する貴金属の使用量が特許文献1よりも多くなるためコスト高にはなるが、耐食性向上の観点で優れるので、長期使用環境におけるトータルコストとして低減につなげることができる。   The second noble metal layer is made of a noble metal different from the noble metal constituting the first noble metal layer. The second noble metal layer is the outermost surface coating layer of the electrical contact material of the present invention, and the film thickness of the second noble metal layer is the arithmetic average roughness (Ra) of the surface of the first noble metal layer (A). The arithmetic average roughness Ra = (B) μm of the surface of the second noble metal layer is greater than or equal to 1 μm and B ≦ 0.1. This second noble metal layer is provided as a layer of a noble metal that protects the first noble metal layer and is different from the first noble metal layer having good conductive properties. The surface of the second noble metal layer becomes an initial sliding surface, but the second noble metal layer is buried in the irregularities of (A) μm, which is the arithmetic average roughness (Ra) of the surface of the first noble metal layer. It functions as a coating layer that has both low contact resistance characteristics required as a contact material and surface lubricity and wear resistance, which are functions required as a sliding contact. The second noble metal layer not only exists to fill the unevenness of the first noble metal layer, but also has a thickness of more than (A) μm and not more than 1 μm, thereby further improving the corrosion resistance. . Furthermore, by setting the arithmetic average roughness Ra = (B) μm on the surface of the second noble metal layer to (B) ≦ 0.1, wear due to unevenness is suppressed and the exposure of the first noble metal layer or the conductive substrate is prevented. Demonstrate the effect. As described above, in the electrical contact material of the present invention in which the second noble metal layer is provided thicker than the arithmetic average roughness (Ra) = (A) μm of the first noble metal layer, the amount of the noble metal constituting the coating layer is the patent document. The cost is increased because it is more than 1, but it is excellent from the viewpoint of improving the corrosion resistance. Therefore, the total cost in a long-term use environment can be reduced.

前記第2貴金属層の材料としては、金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金などが好適に用いられ、特に耐食性を要求される用途には金、金合金、白金、白金合金が好ましい。一方、電気接点が樹脂モールドされて大気に晒される懸念が少ない電気接点材料であれば、銀、銀合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金を第2貴金属層の材料として用いることも可能である。これらの金属やその合金は、優れた半田濡れ性や接触抵抗特性を示すため、用途やケースによって適宜選択することが可能である。   As the material of the second noble metal layer, gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, tin alloy, or the like is preferably used, particularly for applications that require corrosion resistance. Gold, gold alloy, platinum, and platinum alloy are preferable. On the other hand, silver, silver alloy, indium, indium alloy, tin, and tin alloy can be used as the material for the second noble metal layer as long as the electrical contact material is less likely to be exposed to the atmosphere after being molded with resin. is there. Since these metals and their alloys exhibit excellent solder wettability and contact resistance characteristics, they can be appropriately selected depending on the application and case.

本発明の電気接点材料(例えば、摺動接点材料)には、導電性基体と第1貴金属層の間に下地金属層を設けても、設けなくてもよい。例えばニッケル、ニッケル合金、コバルト、コバルト合金のうちいずれかからなる下地金属層を設けることで、第1貴金属層と基体成分の拡散バリアーや密着性向上ができるので好ましい。特に導電性基体よりも貴な金属をめっき処理によって前記第1貴金属層や第2貴金属層として形成する本発明においては、そのめっき処理前にフラッシュめっきあるいはストライクめっきなどの下地処理によって下地金属層を設けておくことが、密着性向上や置換防止のために有効である。また、下地金属層は複数層としても良く、前記第1貴金属層や第2貴金属層の被覆の仕様や用途等に応じて、常法によって、各種の構成として設けることができる。単一層または複数層としての下地金属層の合計の厚さは0.05〜3μmが好ましく、0.5〜1μmがより好ましい。   In the electrical contact material (for example, sliding contact material) of the present invention, a base metal layer may or may not be provided between the conductive substrate and the first noble metal layer. For example, it is preferable to provide a base metal layer made of nickel, nickel alloy, cobalt, or cobalt alloy because the diffusion barrier and adhesion between the first noble metal layer and the base component can be improved. In particular, in the present invention in which a noble metal than the conductive substrate is formed as the first noble metal layer or the second noble metal layer by plating, the base metal layer is formed by ground treatment such as flash plating or strike plating before the plating treatment. It is effective to improve the adhesion and prevent replacement. Further, the base metal layer may be a plurality of layers, and can be provided in various configurations according to a conventional method according to the specifications and applications of the coating of the first noble metal layer and the second noble metal layer. The total thickness of the base metal layer as a single layer or a plurality of layers is preferably 0.05 to 3 μm, and more preferably 0.5 to 1 μm.

本発明の電気接点材料を製造するためには、めっき、クラッド、蒸着、スパッタ等の各種皮膜形成法が利用できるが、特に薄膜を容易に形成する方法として、第1貴金属層及び第2貴金属層の少なくとも一層を電気めっき法で設けることが好ましく、第1貴金属層及び第2貴金属層の両層を電気めっき法で形成することがより好ましい。電気めっき液の組成およびめっき条件は常法に従って適宜定めることができる。また、必要金属量を抑制するために、第1貴金属層あるいは第2貴金属層、またはその両方の貴金属被覆層を、ストライプ状やスポット状等に部分的に設けることも有用である。   In order to produce the electrical contact material of the present invention, various film forming methods such as plating, cladding, vapor deposition, and sputtering can be used. In particular, as a method for easily forming a thin film, the first noble metal layer and the second noble metal layer are used. It is preferable to provide at least one layer by electroplating, and it is more preferable to form both the first noble metal layer and the second noble metal layer by electroplating. The composition of the electroplating solution and the plating conditions can be appropriately determined according to conventional methods. It is also useful to partially provide the first noble metal layer, the second noble metal layer, or both of the noble metal coating layers in a stripe shape, a spot shape, or the like, in order to suppress the required amount of metal.

本発明の電気接点材料における前記第1貴金属層と第2貴金属層からなる被覆層は、特に光沢、半光沢、無光沢の外観種類は問わず、いずれも適応可能である。また、上記本発明の構成とするだけでも効果は十分であるが、さらに効果を向上させるために、通常用いられる各種添加剤、分散剤、分散粒子等を前記第1貴金属層と第2貴金属層からなる被覆層と中間層の内の1つ以上の層に含有させた複合被覆とすることも好ましい。   The covering layer composed of the first noble metal layer and the second noble metal layer in the electrical contact material of the present invention can be applied to any kind of appearance, particularly glossy, semi-glossy and matte. In addition, the effect of the present invention is sufficient, but in order to further improve the effect, various commonly used additives, dispersants, dispersed particles, and the like are used in the first noble metal layer and the second noble metal layer. It is also preferable to use a composite coating contained in one or more of the coating layer and the intermediate layer.

以下、本発明を実施例に基づきさらに詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated further in detail based on an Example, this invention is not limited to this.

(実施例1)
厚さ0.3mm、幅50mmの表1に示す導電性基体に以下に示す前処理を行った後、表1に示す下地金属層、第1貴金属層、第2貴金属層をこの順で電気めっき法によって導電性基体上に設けて、表1に示す発明例、比較例および従来例の電気接点材料を得た。
なお、各層の被覆厚は蛍光X線膜厚測定装置(SFT−9400、商品名、SII社製)を使用し、コリメータ径0.5mmとして任意の箇所10点を測定し、その平均値を算出することで被覆厚とした。
Example 1
After conducting the following pretreatment on the conductive substrate shown in Table 1 having a thickness of 0.3 mm and a width of 50 mm, the base metal layer, the first noble metal layer, and the second noble metal layer shown in Table 1 are electroplated in this order. It was provided on a conductive substrate by the method, and electrical contact materials of invention examples, comparative examples, and conventional examples shown in Table 1 were obtained.
In addition, the coating thickness of each layer uses a fluorescent X-ray film thickness measuring apparatus (SFT-9400, trade name, manufactured by SII), measures 10 points at an arbitrary location with a collimator diameter of 0.5 mm, and calculates the average value. Thus, the coating thickness was obtained.

(前処理条件)
[カソード電解脱脂]
脱脂液:NaOH 60g/l
脱脂条件:2.5A/dm、温度60℃、脱脂時間60秒
[酸洗]
酸洗液:10%硫酸
酸洗条件:30秒 浸漬、室温
(Pretreatment conditions)
[Cathode electrolytic degreasing]
Degreasing solution: NaOH 60 g / l
Degreasing conditions: 2.5 A / dm 2 , temperature 60 ° C., degreasing time 60 seconds [pickling]
Pickling solution: 10% sulfuric acid pickling condition: 30 seconds immersion, room temperature

(下地金属層めっき条件)
[Niめっき]
めっき液:Ni(SONH・4HO 500g/l、NiCl 30g/l、HBO 30g/l
めっき条件:温度 50℃
[Coめっき]
めっき液:Co(SONH・4HO 500g/l、CoCl 30g/l、HBO 30g/l
めっき条件:温度 50℃
(Under metal layer plating conditions)
[Ni plating]
Plating solution: Ni (SO 3 NH 2) 2 · 4H 2 O 500g / l, NiCl 2 30g / l, H 3 BO 3 30g / l
Plating conditions: temperature 50 ° C
[Co plating]
Plating solution: Co (SO 3 NH 2 ) 2 · 4H 2 O 500 g / l, CoCl 2 30 g / l, H 3 BO 3 30 g / l
Plating conditions: temperature 50 ° C

(第1貴金属層めっき条件)
[Pdめっき1(Pd1)]
めっき液:Pd(NHCl 45g/l、NHOH 90ml/l、(NHSO 50g/l、パラシグマ光沢剤(商品名、松田産業株式会社製) 10ml/l
めっき条件:電流密度 5A/dm、温度 60℃
[Pdめっき2(Pd2)]添加剤フリー浴:比較例2で使用
めっき液:Pd(NHCl 45g/l、NHOH 90ml/l、(NHSO 50g/l
めっき条件:電流密度 3A/dm、温度 60℃
[Rhめっき]
めっき液:RHODEX(商品名、日本エレクトロプレイティングエンジニヤース(株)製)
めっき条件:1.3A/dm、温度 50℃
[Ruめっき]
めっき液:RUTHENEX100(商品名、日本エレクトロプレイティングエンジニヤース(株)製)
めっき条件:電流密度 1A/dm、温度 65℃
[Irめっき]
めっき液:IRIDEX100(商品名、日本エレクトロプレイティングエンジニヤース(株)製)
めっき条件:0.2A/dm、温度 85℃
(First precious metal layer plating conditions)
[Pd plating 1 (Pd1)]
Plating solution: Pd (NH 3 ) 2 Cl 2 45 g / l, NH 4 OH 90 ml / l, (NH 4 ) 2 SO 4 50 g / l, Parasigma brightener (trade name, manufactured by Matsuda Sangyo Co., Ltd.) 10 ml / l
Plating conditions: current density 5 A / dm 2 , temperature 60 ° C.
[Pd plating 2 (Pd2)] additive-free bath: used in Comparative Example 2 Plating solution: Pd (NH 3 ) 2 Cl 2 45 g / l, NH 4 OH 90 ml / l, (NH 4 ) 2 SO 4 50 g / l
Plating conditions: current density 3 A / dm 2 , temperature 60 ° C.
[Rh plating]
Plating solution: RHODEX (trade name, manufactured by Nippon Electroplating Engineers Co., Ltd.)
Plating conditions: 1.3 A / dm 2 , temperature 50 ° C.
[Ru plating]
Plating solution: RUTHENEX100 (trade name, manufactured by Nippon Electroplating Engineers Co., Ltd.)
Plating conditions: current density 1 A / dm 2 , temperature 65 ° C.
[Ir plating]
Plating solution: IRIDEX100 (trade name, manufactured by Nippon Electroplating Engineers Co., Ltd.)
Plating conditions: 0.2 A / dm 2 , temperature 85 ° C.

(第2貴金属層めっき条件)
[Auめっき]
めっき液:KAu(CN) 14.6g/l、C 150g/l、K 180g/l
めっき条件:温度 40℃
[Ptめっき]
めっき液:Pt(NO)(NH 10g/l、NaNO 10g/l、NHNO 100g/l、NH 50ml/l
めっき条件:温度 80℃
[Agめっき]
めっき液:AgCN 50g/l、KCN 100g/l、KCO 30g/l
めっき条件:電流密度 1A/dm、温度 30℃
[Ag−Se合金めっき]
めっき液:KCN 150g/l、KCO 15g/l、KAg[CN] 75g/l、NaSe・5HO 5g/l
めっき条件:電流密度 2A/dm、温度 50℃
[Snめっき]
めっき液:SnSO 80g/l、HSO 80g/l
めっき条件:電流密度 2A/dm、温度 30℃
(Second noble metal layer plating conditions)
[Au plating]
Plating solution: KAu (CN) 2 14.6 g / l, C 6 H 8 O 7 150 g / l, K 2 C 6 H 4 O 7 180 g / l
Plating conditions: Temperature 40 ° C
[Pt plating]
Plating solution: Pt (NO 2 ) (NH 3 ) 2 10 g / l, NaNO 2 10 g / l, NH 4 NO 3 100 g / l, NH 3 50 ml / l
Plating conditions: Temperature 80 ° C
[Ag plating]
Plating solution: AgCN 50 g / l, KCN 100 g / l, K 2 CO 3 30 g / l
Plating conditions: current density 1 A / dm 2 , temperature 30 ° C.
[Ag-Se alloy plating]
Plating solution: KCN 150 g / l, K 2 CO 3 15 g / l, KAg [CN] 2 75 g / l, Na 2 O 3 Se · 5H 2 O 5 g / l
Plating conditions: current density 2 A / dm 2 , temperature 50 ° C.
[Sn plating]
Plating solution: SnSO 4 80 g / l, H 2 SO 4 80 g / l
Plating conditions: current density 2 A / dm 2 , temperature 30 ° C.

得られた各電気接点材料に関して、以下の試験条件で各種の特性を試験、評価した。結果を表2に示す。   With respect to each obtained electrical contact material, various characteristics were tested and evaluated under the following test conditions. The results are shown in Table 2.

(1A)導電性基体の平均結晶粒径(GS):
FIBにより導電性基体の断面試料を3視野作製後、SIM像観察を行って、1視野当り3箇所について粒径を測定し、その平均値を表1に示した。
(1A) Average crystal grain size (GS) of conductive substrate:
Three field views of the cross-sectional sample of the conductive substrate were prepared by FIB, and SIM image observation was performed to measure the particle diameters at three locations per field, and the average values are shown in Table 1.

(1B)厚さ測定:第1貴金属層、第2貴金属層、および下地金属層の厚さは、エスアイアイナノテクノロジー製蛍光X線膜厚計(商品名:SFT9400)によって測定した。コリメータ径0.5mmを使用して任意の箇所10点を測定し、その平均値を算出することで被覆厚とした。結果を表1に示した。 (1B) Thickness measurement: The thicknesses of the first noble metal layer, the second noble metal layer, and the base metal layer were measured by a fluorescent X-ray film thickness meter (trade name: SFT9400) manufactured by SII Nano Technology. Ten arbitrary points were measured using a collimator diameter of 0.5 mm, and the average value was calculated to obtain the coating thickness. The results are shown in Table 1.

(1C)硬さ測定:JIS Z 2244:2009に従って、測定荷重を0.005Nとした際の第1貴金属層のビッカース硬さ(Hv)を測定した。なお、第2貴金属層を被覆する前の硬さである。結果を表1に示した。 (1C) Hardness measurement: According to JIS Z 2244: 2009, the Vickers hardness (Hv) of the first noble metal layer when the measurement load was 0.005 N was measured. The hardness before coating the second noble metal layer. The results are shown in Table 1.

(1D)算術平均粗さRa:算術平均粗さRaは、小坂研究所株式会社製表面粗さ計(商品名:サーフコーダSE3500)によって測定した。触針先端半径2μm、測定力0.75N以下の測定条件において、第1貴金属層の算術平均粗さRa=(A)μmと第2貴金属層の算術平均粗さRa=(B)μmとを測定した。結果を表1に示した。 (1D) Arithmetic average roughness Ra: The arithmetic average roughness Ra was measured by a surface roughness meter (trade name: Surfcorder SE3500) manufactured by Kosaka Laboratory. Arithmetic average roughness Ra of the first noble metal layer Ra = (A) μm and arithmetic average roughness Ra of the second noble metal layer Ra = (B) μm under measurement conditions of a stylus tip radius of 2 μm and a measuring force of 0.75 N or less. It was measured. The results are shown in Table 1.

(2A)動摩擦係数測定:摺動試験装置(HEIDON Type:14FW、商品名、新東科学社製)を用いて、動摩擦係数測定を行った。測定条件は、以下の通りである。
R=2.0mm 鋼球プローブ、摺動距離 10mm、摺動速度 100mm/分、摺動回数 往復100回、荷重 100gf
上記摺動試験において、往復摺動回数が1回、50回、100回後の各々の動摩擦係数を測定し、表2に示した。
(2A) Dynamic friction coefficient measurement: The dynamic friction coefficient was measured using a sliding test apparatus (HEIDON Type: 14FW, trade name, manufactured by Shinto Kagaku Co., Ltd.). The measurement conditions are as follows.
R = 2.0 mm Steel ball probe, sliding distance 10 mm, sliding speed 100 mm / min, number of sliding times 100 reciprocations, load 100 gf
In the sliding test, the dynamic friction coefficients after the reciprocating sliding times of 1, 50 and 100 times were measured and shown in Table 2.

(2B)磨耗深さ:前記摺動試験終了後の磨耗深さについて、マイクロスコープ(VH8000、商品名、キーエンス社製)を用いて、摺動痕中央断面の深さ(μm)を測定した。その最も深いところを磨耗深さとして表2に示した。 (2B) Wear depth: About the wear depth after the end of the sliding test, the depth (μm) of the central section of the sliding mark was measured using a microscope (VH8000, trade name, manufactured by Keyence Corporation). The deepest part is shown in Table 2 as the wear depth.

(2C)接触抵抗測定:耐食性の指標として、以下の通り接触抵抗を測定、評価した。4端子法にて、最表層(前記第2貴金属層)を形成後に接触抵抗を測定した。測定は、最表層形成直後(初期)、二酸化硫黄試験(SO 10ppm、40℃、80%RH、168時間)後、硫化水素試験(HS 3ppm、40℃、80%RH、168時間)後の3水準で行った。評価は、半径2mmのAgプローブを使用し、10mA通電、荷重10gfで測定点10点の接触抵抗を測定し、その平均値を算出して接触抵抗とした。評価としては、10mΩ以下を「優」として「A」で、10mΩを超えて50mΩ以下を「良」として「B」で、50mΩを超えて100mΩ以下を「可」として「C」で、100mΩを超えたものを「不可」として「D」で表2に示した。実用レベルを「C」もしくは「B」もしくは「A」として判定する。(2C) Contact resistance measurement: As an index of corrosion resistance, the contact resistance was measured and evaluated as follows. The contact resistance was measured after forming the outermost layer (the second noble metal layer) by the four-terminal method. Measurement is immediately after the formation of the outermost layer (initial stage), after sulfur dioxide test (SO 2 10 ppm, 40 ° C., 80% RH, 168 hours), hydrogen sulfide test (H 2 S 3 ppm, 40 ° C., 80% RH, 168 hours) The latter three levels were used. For the evaluation, an Ag probe with a radius of 2 mm was used, and the contact resistance at 10 measurement points was measured with a current of 10 mA and a load of 10 gf, and the average value was calculated as the contact resistance. As an evaluation, 10 mΩ or less as “excellent” is “A”, 10 mΩ is exceeded as 50 mΩ or less as “good” as “B”, 50 mΩ is exceeded as 100 mΩ as “possible” and “C” is set as 100 mΩ. The excess was indicated as “impossible” as “D” in Table 2. The practical level is determined as “C”, “B”, or “A”.

(2D)曲げ加工性:各試料について、曲げ加工半径0.9mm(R/t=3)にてV曲げ試験を圧延筋に対して直角方向に実施後、その頂上部をマイクロスコープ(VH8000、商品名、キーエンス社製)にて観察倍率200倍で観察した。割れが認められなかったものを「優」として「A」でを示し、軽微な割れが生じているものを「可」として「B」で示し、比較的大きな割れが生じたものを「不可」として「C」で表2に示した。実用レベルを「B」もしくは「A」として判定する。 (2D) Bending workability: For each sample, a V-bending test was carried out at a bending radius of 0.9 mm (R / t = 3) in a direction perpendicular to the rolling rebar, and then the top of the sample was subjected to a microscope (VH8000, (Trade name, manufactured by Keyence Corporation) was observed at an observation magnification of 200 times. Those with no cracks are indicated as “Excellent” with “A”, those with minor cracks are indicated as “Yes” with “B”, and those with relatively large cracks are indicated as “No”. As “C” in Table 2. The practical level is determined as “B” or “A”.

(2E)半田濡れ性:前記めっき処理によって得た各試験片をMODEL SAT−5100(商品名、レスカ社製)を用いて、Sn−3Ag−0.5Cu半田浴に、浴温245℃、浸漬距離10mm、浸漬速度25mm/秒の条件下で、イソプロピルアルコール−25質量%ロジンフラックスを使用して浸漬した。試験片浸漬から濡れの力がゼロをよぎるまでの時間(ゼロクロスタイム)を測定した。その結果のゼロクロスタイム(秒)を表2に示した。ゼロクロスタイムが1秒未満だったものを「優」、1秒以上3秒以内だったものを「可」、3秒を超えたものを「不可」として、半田濡れ性を評価する。 (2E) Solder wettability: Each test piece obtained by the above plating treatment was immersed in a Sn-3Ag-0.5Cu solder bath at a bath temperature of 245 ° C. using MODEL SAT-5100 (trade name, manufactured by Reska). Immersion was performed using isopropyl alcohol-25 mass% rosin flux under conditions of a distance of 10 mm and an immersion speed of 25 mm / sec. The time from when the test piece was immersed until the wetting force crossed zero (zero cross time) was measured. The resulting zero cross time (seconds) is shown in Table 2. Solder wettability is evaluated by assuming that the zero cross time is less than 1 second as “excellent”, 1 second or more within 3 seconds as “good”, and 3 seconds over as “impossible”.

Figure 2015118627
Figure 2015118627

Figure 2015118627
Figure 2015118627

上記の結果より、各発明例では100gfの高摺動荷重下でも安定した動摩擦係数を示して摺動特性が良好であり、対磨耗深さで示される耐磨耗性に優れ、接触抵抗で示される耐食性に優れ、曲げ加工性と半田濡れ性も良好であったことがわかる。
これに対して、各比較例と従来例ではいずれかの特性に劣った結果であった。
比較例1は第2貴金属層の表面粗度Ra(B)が高すぎた為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大しており、また、曲げ加工性が悪かった。比較例2は第1貴金属層の硬度が低すぎた為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大しており、また、耐摩耗性が悪かった。従来例1は第2貴金属層の被覆厚が第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(A)μmよりも薄かった為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大した。これらの比較例と従来例は、いずれも実用レベルを満たさなかった。
From the above results, each example of the invention shows a stable dynamic friction coefficient even under a high sliding load of 100 gf, good sliding characteristics, excellent wear resistance indicated by the wear depth, and indicated by contact resistance. It can be seen that it has excellent corrosion resistance, and has good bending workability and solder wettability.
In contrast, each of the comparative examples and the conventional example was inferior to any of the characteristics.
In Comparative Example 1, since the surface roughness Ra (B) of the second noble metal layer was too high, the contact resistance was increased when the number of sliding times was 50 to 100 under a high sliding load of 100 gf. Moreover, bending workability was bad. In Comparative Example 2, since the hardness of the first noble metal layer was too low, the contact resistance increased when the number of sliding times increased from 50 to 100 under a high sliding load of 100 gf, and the wear resistance was increased. It was bad. In Conventional Example 1, since the coating thickness of the second noble metal layer was thinner than the arithmetic average roughness Ra = (A) μm of the surface of the first noble metal layer, the number of slides was 50 times under a high sliding load of 100 gf. The contact resistance increased from 100 times. None of these comparative examples and conventional examples satisfied the practical level.

本発明の電気接点材料は、通常の接触式の電気接点であればどのようなタイプでも好適に用いることができる。特に耐磨耗性と耐食性に優れることから、例えば、自動車車載向けの屋内外摺動接点や、リードスイッチ、モータ用コミュテータ接点およびブラシ材、カメラマウント接点用スイッチなどの電気接点用の材料として特に好適に用いることができる。   The electrical contact material of the present invention can be suitably used in any type as long as it is a normal contact type electrical contact. Especially because of its excellent wear resistance and corrosion resistance, it is particularly useful as a material for electrical contacts such as indoor and outdoor sliding contacts for automobiles, reed switches, motor commutator contacts and brush materials, and camera mount contact switches. It can be used suitably.

本発明をその実施態様とともに説明したが、我々は特に指定しない限り我々の発明を説明のどの細部においても限定しようとするものではなく、添付の請求の範囲に示した発明の精神と範囲に反することなく幅広く解釈されるべきであると考える。   While this invention has been described in conjunction with its embodiments, we do not intend to limit our invention in any detail of the description unless otherwise specified and are contrary to the spirit and scope of the invention as set forth in the appended claims. I think it should be interpreted widely.

1 導電性基体
2 第1貴金属層
3 第2貴金属層
4 下地金属層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conductive base | substrate 2 1st noble metal layer 3 2nd noble metal layer 4 Base metal layer

上記課題に対して鋭意研究開発を進めた結果、本発明者らは、導電性基体上に設けられる第1貴金属層と第2貴金属層のそれぞれの金属層について、その表面粗さ、層の厚さ、層の硬さ、導電性基体の母相の平均結晶粒径等を適正に調整することによって、高荷重における耐摩耗性や摺動特性に優れるだけでなく、耐食性にも優れた電気接点材料を提供できることを見出した。本発明は、この知見に基づきなされるに至ったものである。
As a result of diligent research and development on the above problems, the present inventors have found that each of the first and second noble metal layers provided on the conductive substrate has a surface roughness and a layer thickness. is the hardness of the layer, by appropriately adjusting the average crystal grain size and the like of the matrix of the conductive substrate, not only excellent wear resistance and sliding characteristics in high load, the electrical contacts also excellent in corrosion resistance We have found that we can provide materials. The present invention has been made based on this finding.

すなわち、本発明によれば、以下の手段が提供される。
(1)導電性基体の表面上に第1貴金属層を有し、前記第1貴金属層の表面上に第2貴金属層を有する電気接点材料であって、
前記第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=AμmがA<1であり、かつ該第1貴金属層の硬度Hvが150以上であり、
前記第2貴金属層の厚さがAμmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=BμmがB≦0.1であり、
前記導電性基体の母相の平均結晶粒径が5μm以下であることを特徴とする電気接点材料。
(2)前記Aの値が0.001以上0.500未満である(1)項に記載の電気接点材料。
(3)前記第1貴金属層および第2貴金属層が、それぞれ金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金、パラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなる(1)または(2)項に記載の電気接点材料。
(4)前記第1貴金属層がパラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなる(1)〜(3)のいずれか1項に記載の電気接点材料。
(5)前記第2貴金属層が金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金のうちいずれかからなる(1)〜(4)のいずれか1項に記載の電気接点材料。
(6)前記導電性基体と前記第1貴金属層との間に少なくとも1層の下地金属層を有する(1)〜(5)のいずれか1項に記載の電気接点材料。
(7)前記下地金属層がニッケル、ニッケル合金、コバルト、コバルト合金のうちいずれかからなる(6)項に記載の電気接点材料。
(8)前記下地金属層の厚さが0.05〜3.00μmである(6)または(7)項に記載の電気接点材料。
(9)前記導電性基体が、銅、銅合金、鉄、鉄合金、アルミニウム、アルミニウム合金のうちいずれかからなる(1)〜(8)のいずれか1項に記載の電気接点材料
(10)前記第1貴金属層及び第2貴金属層の少なくとも一層を電気めっき法で設けることを特徴とする(1)〜()のいずれか1項に記載の電気接点材料の製造方法。
ここで、本発明において、前記第1貴金属層や第2貴金属層で「貴金属」とは、導電性基体の材料よりも貴な金属であることをいう。
That is, according to the present invention, the following means are provided.
(1) An electrical contact material having a first noble metal layer on the surface of a conductive substrate and a second noble metal layer on the surface of the first noble metal layer,
The arithmetic average roughness Ra = A μm of the surface of the first noble metal layer is A <1, and the hardness Hv of the first noble metal layer is 150 or more,
The thickness of the second noble metal layer is at 1μm or less beyond Eimyuemu, and Ri arithmetic mean roughness Ra = Bμm is B ≦ 0.1 Der surface of the second noble metal layer,
An electrical contact material, wherein an average crystal grain size of a matrix of the conductive substrate is 5 μm or less .
(2) The electrical contact material according to (1), wherein the value of A is 0.001 or more and less than 0.500.
(3) The first noble metal layer and the second noble metal layer are gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, tin alloy, palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, respectively. , Rhodium, rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, an iridium alloy, the electrical contact material according to (1) or (2).
(4) Any one of (1) to (3), wherein the first noble metal layer is made of any one of palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, rhodium, rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, and iridium alloy. The electrical contact material according to Item.
(5) Any one of (1) to (4), wherein the second noble metal layer is made of any one of gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, and tin alloy. The electrical contact material according to Item.
(6) The electrical contact material according to any one of (1) to (5), wherein the electrical contact material has at least one base metal layer between the conductive base and the first noble metal layer.
(7) The electrical contact material according to (6), wherein the base metal layer is made of nickel, nickel alloy, cobalt, or cobalt alloy.
(8) The electrical contact material according to (6) or (7), wherein the base metal layer has a thickness of 0.05 to 3.00 μm.
(9) The electrical contact material according to any one of (1) to (8), wherein the conductive substrate is made of any one of copper, copper alloy, iron, iron alloy, aluminum, and aluminum alloy .
(10 ) The method for producing an electrical contact material according to any one of (1) to ( 9 ), wherein at least one of the first noble metal layer and the second noble metal layer is provided by electroplating.
Here, in the present invention, the “noble metal” in the first noble metal layer and the second noble metal layer means a metal noble than the material of the conductive substrate.

本発明は、導電性基体の表面上に第1貴金属層を有し、前記第1貴金属層の表面上に第2貴金属層を有する電気接点材料であって、前記第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(A)μmが(A)<1であり、かつ該第1貴金属層の硬度Hvが150以上であり、前記第2貴金属層の厚さが(A)μmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(B)μmが(B)≦0.1であり、前記導電性基体の母相の平均結晶粒径が5μm以下である電気接点材料である。ここで、算術平均粗さRaとは、JIS B 0601:2013に従った算術平均粗さRaを意味する。
The present invention is an electrical contact material having a first noble metal layer on the surface of a conductive substrate and a second noble metal layer on the surface of the first noble metal layer, the arithmetic of the surface of the first noble metal layer Average roughness Ra = (A) μm is (A) <1, the hardness Hv of the first noble metal layer is 150 or more, and the thickness of the second noble metal layer exceeds 1 μm (A) μm. or less and Ri arithmetical mean roughness Ra = (B) μm (B ) ≦ 0.1 der surface of the second noble metal layer, the average crystal grain size of the matrix of the conductive substrate is 5μm or less der Ru is an electrical contact material. Here, the arithmetic average roughness Ra means the arithmetic average roughness Ra according to JIS B 0601: 2013.

さらに本発明における導電性基体として、導電性基体母材(matrix)の平均結晶粒径が、5μm以下であるものを採用することで、その上層に析出するめっきを緻密な析出にすることができ、その結果多数の結晶粒を持つめっきを形成して粒界拡散を分散させ、基体成分の拡散が表層に到達する時間を大幅に遅らせることができる。その結果、第2貴金属層の表層における拡散してきた基体成分の腐食が抑制でき、接触抵抗の上昇が抑制されて信頼性の高い電気接点材料が提供できる。また、導電性基体母材の平均結晶粒径が小さいほど導電性基体の曲げ加工性が優れることも相乗効果として得られる。
導電性基体母材の平均結晶粒径は、5μm以下であ、めっきの緻密性をより一層高めるために3μm以下が好ましく、1μm以下がより好ましい。この下限値には特に制限はないが、通常、0.001μm以上である。
Furthermore, as the conductive substrate in the present invention, by adopting a conductive substrate matrix (matrix) having an average crystal grain size of 5 μm or less, the plating deposited on the upper layer can be densely deposited. As a result, a plating having a large number of crystal grains can be formed to disperse the grain boundary diffusion, and the time for the diffusion of the base component to reach the surface layer can be greatly delayed. As a result, corrosion of the diffused base component in the surface layer of the second noble metal layer can be suppressed, and an increase in contact resistance can be suppressed and a highly reliable electrical contact material can be provided. Further, as the average crystal grain size of the conductive base material is smaller, the bending workability of the conductive base is more excellent as a synergistic effect.
The average crystal grain size of the conductive substrate base material, 5 [mu] m Ri der less, 3 [mu] m or less good Mashiku to enhance the denseness of plating more, and more preferably not more than 1 [mu] m. Although there is no restriction | limiting in particular in this lower limit, Usually, it is 0.001 micrometer or more.

(実施例1)
厚さ0.3mm、幅50mmの表1に示す導電性基体に以下に示す前処理を行った後、表1に示す下地金属層、第1貴金属層、第2貴金属層をこの順で電気めっき法によって導電性基体上に設けて、表1に示す発明例、参考例、比較例および従来例の電気接点材料を得た。
なお、各層の被覆厚は蛍光X線膜厚測定装置(SFT−9400、商品名、SII社製)を使用し、コリメータ径0.5mmとして任意の箇所10点を測定し、その平均値を算出することで被覆厚とした。
Example 1
After conducting the following pretreatment on the conductive substrate shown in Table 1 having a thickness of 0.3 mm and a width of 50 mm, the base metal layer, the first noble metal layer, and the second noble metal layer shown in Table 1 are electroplated in this order. It was provided on a conductive substrate by the method, and electrical contact materials of invention examples, reference examples, comparative examples, and conventional examples shown in Table 1 were obtained.
In addition, the coating thickness of each layer uses a fluorescent X-ray film thickness measuring apparatus (SFT-9400, trade name, manufactured by SII), measures 10 points at an arbitrary location with a collimator diameter of 0.5 mm, and calculates the average value. Thus, the coating thickness was obtained.

Figure 2015118627
Figure 2015118627

Figure 2015118627
Figure 2015118627

上記の結果より、各発明例では100gfの高摺動荷重下でも安定した動摩擦係数を示して摺動特性が良好であり、対磨耗深さで示される耐磨耗性に優れ、接触抵抗で示される耐食性に優れ、曲げ加工性と半田濡れ性も良好であったことがわかる。
これに対して、各比較例と従来例ではいずれかの特性に劣った結果であった。
比較例1は、導電性基体の母相の平均結晶粒径が大きすぎ、また、第2貴金属層の表面粗度Ra(B)が高すぎた為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大しており、また、曲げ加工性が悪かった。比較例2は、導電性基体の母相の平均結晶粒径が大きすぎ、また、第1貴金属層の硬度が低すぎた為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大しており、また、耐摩耗性が悪かった。従来例1は第2貴金属層の被覆厚が第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(A)μmよりも薄かった為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大した。これらの比較例と従来例は、いずれも実用レベルを満たさなかった。
From the above results, each example of the invention shows a stable dynamic friction coefficient even under a high sliding load of 100 gf, good sliding characteristics, excellent wear resistance indicated by the wear depth, and indicated by contact resistance. It can be seen that it has excellent corrosion resistance, and has good bending workability and solder wettability.
In contrast, each of the comparative examples and the conventional example was inferior to any of the characteristics.
In Comparative Example 1 , the average crystal grain size of the parent phase of the conductive substrate was too large, and the surface roughness Ra (B) of the second noble metal layer was too high. When the number of movements was 50 to 100, the contact resistance increased, and the bending workability was poor. In Comparative Example 2 , the average crystal grain size of the parent phase of the conductive substrate was too large, and the hardness of the first noble metal layer was too low, so the number of sliding times was 50 times under a high sliding load of 100 gf. When it reached 100 times, the contact resistance increased and the wear resistance was poor. In Conventional Example 1, since the coating thickness of the second noble metal layer was thinner than the arithmetic average roughness Ra = (A) μm of the surface of the first noble metal layer, the number of slides was 50 times under a high sliding load of 100 gf. The contact resistance increased from 100 times. None of these comparative examples and conventional examples satisfied the practical level.

上記課題に対して鋭意研究開発を進めた結果、本発明者らは、導電性基体上に設けられるそれぞれ特定の金属またはその合金からなる第1貴金属層と第2貴金属層のそれぞれの金属層について、その表面粗さ、層の厚さ、層の硬さ、導電性基体の母相の平均結晶粒径等を適正に調整することによって、高荷重における耐摩耗性や摺動特性に優れるだけでなく、耐食性にも優れた電気接点材料を提供できることを見出した。本発明は、この知見に基づきなされるに至ったものである。
As a result of advancing earnest research and development on the above problems, the present inventors have found that each of the first noble metal layer and the second noble metal layer made of a specific metal or an alloy thereof provided on the conductive substrate. By appropriately adjusting the surface roughness, layer thickness, layer hardness, average crystal grain size of the base phase of the conductive substrate, etc., it is only excellent in wear resistance and sliding characteristics at high loads. And found that an electrical contact material having excellent corrosion resistance can be provided. The present invention has been made based on this finding.

すなわち、本発明によれば、以下の手段が提供される。
(1)導電性基体の表面上に第1貴金属層を有し、前記第1貴金属層の表面上に第2貴金属層を有する電気接点材料であって、
前記第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=AμmがA<1であり、かつ該第1貴金属層の硬度Hvが150以上であり、
前記第2貴金属層の厚さがAμmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=BμmがB≦0.1であり、
前記第1貴金属層および第2貴金属層が、それぞれ金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金、パラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなり、
前記導電性基体の母相の平均結晶粒径が5μm以下であることを特徴とする電気接点材料。
(2)前記Aの値が0.001以上0.500未満である(1)項に記載の電気接点材料
(3)前記第1貴金属層がパラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなる(1)または(2)項に記載の電気接点材料。
)前記第2貴金属層が金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金のうちいずれかからなる(1)〜()のいずれか1項に記載の電気接点材料。
)前記導電性基体と前記第1貴金属層との間に少なくとも1層の下地金属層を有する(1)〜()のいずれか1項に記載の電気接点材料。
)前記下地金属層がニッケル、ニッケル合金、コバルト、コバルト合金のうちいずれかからなる()項に記載の電気接点材料。
)前記下地金属層の厚さが0.05〜3.00μmである()または()項に記載の電気接点材料。
)前記導電性基体が、銅、銅合金、鉄、鉄合金、アルミニウム、アルミニウム合金のうちいずれかからなる(1)〜()のいずれか1項に記載の電気接点材料。
)前記第1貴金属層及び第2貴金属層の少なくとも一層を電気めっき法で設けることを特徴とする(1)〜()のいずれか1項に記載の電気接点材料の製造方法。
ここで、本発明において、前記第1貴金属層や第2貴金属層で「貴金属」とは、導電性基体の材料よりも貴な金属であることをいう。
That is, according to the present invention, the following means are provided.
(1) An electrical contact material having a first noble metal layer on the surface of a conductive substrate and a second noble metal layer on the surface of the first noble metal layer,
The arithmetic average roughness Ra = A μm of the surface of the first noble metal layer is A <1, and the hardness Hv of the first noble metal layer is 150 or more,
The thickness of the second noble metal layer is more than A μm and not more than 1 μm, and the arithmetic average roughness Ra = B μm of the surface of the second noble metal layer is B ≦ 0.1;
The first noble metal layer and the second noble metal layer are gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, tin alloy, palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, rhodium, respectively. Made of either rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, iridium alloy,
An electrical contact material, wherein an average crystal grain size of a matrix of the conductive substrate is 5 μm or less.
(2) The electrical contact material according to (1), wherein the value of A is 0.001 or more and less than 0.500 .
(3) the first noble metal layer is a palladium, palladium alloys, ruthenium, ruthenium alloys, rhodium, rhodium alloys, osmium, osmium alloy, iridium, among iridium alloy consists of either (1) or (2) according to claim Electrical contact material.
( 4 ) Any one of (1) to ( 3 ), wherein the second noble metal layer is made of any one of gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, and tin alloy. The electrical contact material according to Item.
( 5 ) The electrical contact material according to any one of (1) to ( 4 ), wherein at least one base metal layer is provided between the conductive substrate and the first noble metal layer.
( 6 ) The electrical contact material according to ( 5 ), wherein the base metal layer is made of any one of nickel, a nickel alloy, cobalt, and a cobalt alloy.
( 7 ) The electrical contact material according to ( 5 ) or ( 6 ), wherein the thickness of the base metal layer is 0.05 to 3.00 μm.
( 8 ) The electrical contact material according to any one of (1) to ( 7 ), wherein the conductive substrate is made of any one of copper, copper alloy, iron, iron alloy, aluminum, and aluminum alloy.
( 9 ) The method for producing an electrical contact material according to any one of (1) to ( 8 ), wherein at least one of the first noble metal layer and the second noble metal layer is provided by an electroplating method.
Here, in the present invention, the “noble metal” in the first noble metal layer and the second noble metal layer means a metal noble than the material of the conductive substrate.

本発明は、導電性基体の表面上に第1貴金属層を有し、前記第1貴金属層の表面上に第2貴金属層を有する電気接点材料であって、前記第1貴金属層と第2貴金属層がそれぞれ特定の金属またはその合金からなり、前記第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(A)μmが(A)<1であり、かつ該第1貴金属層の硬度Hvが150以上であり、前記第2貴金属層の厚さが(A)μmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(B)μmが(B)≦0.1であり、前記導電性基体の母相の平均結晶粒径が5μm以下である電気接点材料である。ここで、算術平均粗さRaとは、JIS B 0601:2013に従った算術平均粗さRaを意味する。
The present invention is an electrical contact material having a first noble metal layer on the surface of a conductive substrate and a second noble metal layer on the surface of the first noble metal layer, the first noble metal layer and the second noble metal Each layer is made of a specific metal or an alloy thereof, the arithmetic average roughness Ra = (A) μm of the surface of the first noble metal layer is (A) <1, and the hardness Hv of the first noble metal layer is 150 The thickness of the second noble metal layer is more than (A) μm and not more than 1 μm, and the arithmetic average roughness Ra = (B) μm of the surface of the second noble metal layer is (B) ≦ 0. The electrical contact material has an average crystal grain size of 5 μm or less. Here, the arithmetic average roughness Ra means the arithmetic average roughness Ra according to JIS B 0601: 2013.

本発明において、第1貴金属層および第2貴金属層を形成する金属またはその合金は、金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金、パラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金である。
ここで、第1貴金属層の役割としては、最表面に形成される第2貴金属層の耐磨耗性を向上させ、さらに耐食性を高めることである。これは、第1貴金属層表面の算術平均粗さRa=(A)μmを(A)<1とすることで、耐磨耗性を向上させ、かつその硬度Hvを150以上、好ましくは200以上とすることで、耐磨耗性をより一層改善することができるためである。
また、前記(A)の値を0.001以上0.500未満とすることが好ましく、これによって、より耐食性に優れた電気接点材料を得ることができる。
In the present invention, a metal or alloy forming the first noble metal layer and the second noble metal layer is gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, tin alloy, palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, rhodium, rhodium alloys, osmium, osmium alloy, iridium, Ru iridium alloy der.
Here, the role of the first noble metal layer is to improve the wear resistance of the second noble metal layer formed on the outermost surface and to further improve the corrosion resistance. This is because the arithmetic average roughness Ra = (A) μm of the surface of the first noble metal layer is set to (A) <1, so that the wear resistance is improved and the hardness Hv is 150 or more, preferably 200 or more. This is because the wear resistance can be further improved.
Moreover, it is preferable that the value of (A) is 0.001 or more and less than 0.500, whereby an electrical contact material having more excellent corrosion resistance can be obtained.

前記第2貴金属層の材料としては、金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金が好適に用いられ、特に耐食性を要求される用途には金、金合金、白金、白金合金が好ましい。一方、電気接点が樹脂モールドされて大気に晒される懸念が少ない電気接点材料であれば、銀、銀合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金を第2貴金属層の材料として用いることも可能である。これらの金属やその合金は、優れた半田濡れ性や接触抵抗特性を示すため、用途やケースによって適宜選択することが可能である。
The material of the second noble metal layer, a gold, a gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, Suzugo gold is preferably used in applications that are particularly required corrosion resistance Gold, gold alloy, platinum, and platinum alloy are preferable. On the other hand, silver, silver alloy, indium, indium alloy, tin, and tin alloy can be used as the material for the second noble metal layer as long as the electrical contact material is less likely to be exposed to the atmosphere after being molded with resin. is there. Since these metals and their alloys exhibit excellent solder wettability and contact resistance characteristics, they can be appropriately selected depending on the application and case.

Figure 2015118627
Figure 2015118627

上記の結果より、各発明例では100gfの高摺動荷重下でも安定した動摩擦係数を示して摺動特性が良好であり、磨耗深さで示される耐磨耗性に優れ、接触抵抗で示される耐食性に優れ、曲げ加工性と半田濡れ性も良好であったことがわかる。
これに対して、各比較例と従来例ではいずれかの特性に劣った結果であった。
比較例1は、導電性基体の母相の平均結晶粒径が大きすぎ、また、第2貴金属層の表面粗度Ra(B)が高すぎた為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大しており、また、曲げ加工性が悪かった。比較例2は、導電性基体の母相の平均結晶粒径が大きすぎ、また、第1貴金属層の硬度が低すぎた為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大しており、また、耐摩耗性が悪かった。従来例1は第2貴金属層の被覆厚が第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=(A)μmよりも薄かった為、100gfの高摺動荷重下で数摺動回数が50回から100回になると接触抵抗が増大した。これらの比較例と従来例は、いずれも実用レベルを満たさなかった。
From the above results, in each invention example has good sliding properties indicate a stable dynamic friction coefficient even under high sliding load of 100 gf, excellent wear resistance represented by milling耗深is, represented by the contact resistance It can be seen that it has excellent corrosion resistance, and has good bending workability and solder wettability.
In contrast, each of the comparative examples and the conventional example was inferior to any of the characteristics.
In Comparative Example 1, the average crystal grain size of the parent phase of the conductive substrate was too large, and the surface roughness Ra (B) of the second noble metal layer was too high. When the number of movements was 50 to 100, the contact resistance increased, and the bending workability was poor. In Comparative Example 2, the average crystal grain size of the parent phase of the conductive substrate was too large, and the hardness of the first noble metal layer was too low, so the number of sliding times was 50 times under a high sliding load of 100 gf. When it reached 100 times, the contact resistance increased and the wear resistance was poor. In Conventional Example 1, since the coating thickness of the second noble metal layer was thinner than the arithmetic average roughness Ra = (A) μm of the surface of the first noble metal layer, the number of slides was 50 times under a high sliding load of 100 gf. The contact resistance increased from 100 times. None of these comparative examples and conventional examples satisfied the practical level.

Claims (11)

導電性基体の表面上に第1貴金属層を有し、前記第1貴金属層の表面上に第2貴金属層を有する電気接点材料であって、
前記第1貴金属層の表面の算術平均粗さRa=AμmがA<1であり、かつ該第1貴金属層の硬度Hvが150以上であり、
前記第2貴金属層の厚さがAμmを超えて1μm以下であり、かつ該第2貴金属層の表面の算術平均粗さRa=BμmがB≦0.1であることを特徴とする電気接点材料。
An electrical contact material having a first noble metal layer on a surface of a conductive substrate and a second noble metal layer on the surface of the first noble metal layer,
The arithmetic average roughness Ra = A μm of the surface of the first noble metal layer is A <1, and the hardness Hv of the first noble metal layer is 150 or more,
An electrical contact material wherein the thickness of the second noble metal layer is more than A μm and not more than 1 μm, and the arithmetic average roughness Ra = B μm of the surface of the second noble metal layer is B ≦ 0.1 .
前記Aの値が0.001以上0.500未満である請求項1に記載の電気接点材料。   The electrical contact material according to claim 1, wherein the value of A is 0.001 or more and less than 0.500. 前記第1貴金属層および第2貴金属層が、それぞれ金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金、パラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなる請求項1または2に記載の電気接点材料。   The first noble metal layer and the second noble metal layer are gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, tin alloy, palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, rhodium, respectively. The electrical contact material according to claim 1 or 2, comprising any one of rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, and iridium alloy. 前記第1貴金属層がパラジウム、パラジウム合金、ルテニウム、ルテニウム合金、ロジウム、ロジウム合金、オスミウム、オスミウム合金、イリジウム、イリジウム合金のうちいずれかからなる請求項1〜3のいずれか1項に記載の電気接点材料。   The electricity according to any one of claims 1 to 3, wherein the first noble metal layer is made of any one of palladium, palladium alloy, ruthenium, ruthenium alloy, rhodium, rhodium alloy, osmium, osmium alloy, iridium, and iridium alloy. Contact material. 前記第2貴金属層が金、金合金、銀、銀合金、白金、白金合金、インジウム、インジウム合金、錫、錫合金のうちいずれかからなる請求項1〜4のいずれか1項に記載の電気接点材料。   The electricity according to any one of claims 1 to 4, wherein the second noble metal layer is made of any one of gold, gold alloy, silver, silver alloy, platinum, platinum alloy, indium, indium alloy, tin, and tin alloy. Contact material. 前記導電性基体と前記第1貴金属層との間に少なくとも1層の下地金属層を有する請求項1〜5のいずれか1項に記載の電気接点材料。   The electrical contact material according to claim 1, wherein the electrical contact material has at least one base metal layer between the conductive base and the first noble metal layer. 前記下地金属層がニッケル、ニッケル合金、コバルト、コバルト合金のうちいずれかからなる請求項6に記載の電気接点材料。   The electrical contact material according to claim 6, wherein the base metal layer is made of any one of nickel, a nickel alloy, cobalt, and a cobalt alloy. 前記下地金属層の厚さが0.05〜3.00μmである請求項6または7に記載の電気接点材料。   The electrical contact material according to claim 6 or 7, wherein the base metal layer has a thickness of 0.05 to 3.00 µm. 前記導電性基体が、銅、銅合金、鉄、鉄合金、アルミニウム、アルミニウム合金のうちいずれかからなる請求項1〜8のいずれか1項に記載の電気接点材料。   The electrical contact material according to any one of claims 1 to 8, wherein the conductive substrate is made of any one of copper, copper alloy, iron, iron alloy, aluminum, and aluminum alloy. 前記導電性基体の母相の平均結晶粒径が5μm以下である請求項1〜9のいずれか1項に記載の電気接点材料。   The electrical contact material according to any one of claims 1 to 9, wherein an average crystal grain size of a parent phase of the conductive substrate is 5 µm or less. 前記第1貴金属層及び第2貴金属層の少なくとも一層を電気めっき法で設けることを特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の電気接点材料の製造方法。   The method for producing an electrical contact material according to claim 1, wherein at least one of the first noble metal layer and the second noble metal layer is provided by an electroplating method.
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