JPWO2014203804A1 - 極端紫外光生成システム - Google Patents

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Abstract

本開示の極端紫外光生成システムは、パルスレーザ光を、EUV光が生成されるチャンバの内部に供給するレーザ装置と、前記パルスレーザ光の光路上に配置された光シャッタと、外部装置から供給された、前記EUV光の生成を指示する生成信号に基づいて、前記光シャッタを開閉制御する制御部とを備えてもよい。

Description

本開示は、極端紫外(EUV)光を生成するための極端紫外光生成システムに関する。
近年、半導体プロセスの微細化に伴って、半導体プロセスの光リソグラフィにおける転写パターンの微細化が急速に進展している。次世代においては、70nm〜45nmの微細加工、さらには32nm以下の微細加工が要求されるようになる。このため、例えば32nm以下の微細加工の要求に応えるべく、波長13nm程度の極端紫外(EUV)光を生成するための極端紫外光生成装置と縮小投影反射光学系(reduced projection reflective optics)とを組み合わせた露光装置の開発が期待されている。
EUV光生成装置としては、ターゲット物質にレーザ光を照射することによって生成されるプラズマを用いたLPP(Laser Produced Plasma:レーザ励起プラズマ)方式の装置と、放電によって生成されるプラズマを用いたDPP(Discharge Produced Plasma)方式の装置と、軌道放射光を用いたSR(Synchrotron Radiation)方式の装置との3種類の装置が提案されている。
米国特許第7068367号明細書 米国特許第7589337号明細書 米国特許出願公開第2012/0080584号明細書
概要
本開示による極端紫外光生成システムは、パルスレーザ光を、EUV光が生成されるチャンバの内部に供給するレーザ装置と、パルスレーザ光の光路上に配置された光シャッタと、外部装置から供給された、EUV光の生成を指示する生成信号に基づいて、光シャッタを開閉制御する制御部とを備えてもよい。
本開示のいくつかの実施形態を、単なる例として、添付の図面を参照して以下に説明する。
図1は、例示的なLPP式のEUV光生成システムの一構成例を概略的に示す。 図2は、バースト信号によってEUV光を生成するEUV光生成システムの一構成例を概略的に示す。 図3は、発光制御システム部の一構成例を概略的に示す。 図4は、図3に示した発光制御システム部による発光制御のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。 図5は、図4に示した発光制御により出力されるパルスレーザ光のパルスエネルギの一例を示す。 図6は、光シャッタの制御を含む発光制御システム部の一構成例を概略的に示す。 図7は、図6に示した発光制御システム部による発光制御のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。 図8は、タイミング信号生成回路を含む発光制御システム部の一構成例を概略的に示す。 図9は、図8に示した発光制御システム部による発光制御のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。 図10は、光アイソレータの制御を含む発光制御システム部の一構成例を概略的に示す。 図11は、図10に示した発光制御システム部による発光制御のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。 図12は、プリパルスレーザ装置の制御を含む発光制御システム部の一構成例を概略的に示す。 図13は、オンデマンド方式のターゲット供給部におけるターゲットの制御を含む発光制御システム部の一構成例を概略的に示す。 図14は、光シャッタの一構成例を概略的に示す。 図15は、光アイソレータの一構成例を概略的に示す。 図16は、制御部のハードウエア環境の一例を示す。
実施形態
<内容>
[1.概要]
[2.EUV光生成装置の全体説明]
2.1 構成
2.2 動作
[3.バースト信号によってEUV光を生成するEUV光生成システム]
3.1 構成
3.1.1 全体の構成
3.1.2 発光制御システム部の構成
3.2 動作
3.2.1 全体の動作
3.2.2 発光制御システム部の動作
3.3 課題
[4.光シャッタの制御を含む発光制御システム部](第1の実施形態)
4.1 構成
4.2 動作
4.3 作用
4.4 変形例
[5.タイミング信号生成回路を含む発光制御システム部](第2の実施形態)
5.1 構成
5.2 動作
5.3 作用
5.4 変形例
[6.光アイソレータの制御を含む発光制御システム部](第3の実施形態)
6.1 構成
6.2 動作
6.3 作用
6.4 変形例
[7.プリパルスレーザ装置の制御を含む発光制御システム部](第4の実施形態)
7.1 構成
7.2 動作
7.3 作用
[8.オンデマンド方式のターゲット供給部におけるターゲットの制御を含む発光制御システム部](第5の実施形態)
8.1 構成
8.2 動作
8.3 作用
[9.その他]
9.1 光シャッタの構成例
9.2 光アイソレータの構成例
9.3 制御部のハードウエア環境
以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。以下に説明される実施形態は、本開示のいくつかの例を示すものであって、本開示の内容を限定するものではない。また、各実施形態で説明される構成及び動作の全てが本開示の構成及び動作として必須であるとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。
[1.概要]
本開示は、EUV光のバーストパルスを生成する制御装置に関する。
[2.EUV光生成システムの全体説明]
2.1 構成
図1に、例示的なLPP式のEUV光生成システムの構成を概略的に示す。EUV光生成装置1は、少なくとも1つのレーザ装置3と共に用いられてもよい。本願においては、EUV光生成装置1及びレーザ装置3を含むシステムを、EUV光生成システム11と称する。図1に示し、かつ、以下に詳細に説明するように、EUV光生成装置1は、チャンバ2、及びターゲット供給装置として例えばターゲット供給部26を含んでもよい。チャンバ2は、密閉可能であってもよい。ターゲット供給部26は、例えば、チャンバ2の壁を貫通するように取り付けられてもよい。ターゲット供給部26から供給されるターゲット物質の材料は、スズ、テルビウム、ガドリニウム、リチウム、キセノン、又は、それらの内のいずれか2つ以上の組み合わせを含んでもよいが、これらに限定されない。
チャンバ2の壁には、少なくとも1つの貫通孔が設けられていてもよい。その貫通孔には、ウインドウ21が設けられてもよい。ウインドウ21をレーザ装置3から出力されるパルスレーザ光32が透過してもよい。チャンバ2の内部には、例えば、回転楕円面形状の反射面を有するEUV集光ミラー23が配置されてもよい。EUV集光ミラー23は、第1及び第2の焦点を有し得る。EUV集光ミラー23の表面には、例えば、モリブデンとシリコンとが交互に積層された多層反射膜が形成されていてもよい。EUV集光ミラー23は、例えば、その第1の焦点がプラズマ生成領域25又はその近傍に位置し、その第2の焦点が露光装置6の仕様によって規定される所望の集光位置である中間集光点(IF)292に位置するように配置されるのが好ましい。EUV集光ミラー23の中央部には貫通孔24が設けられていてもよく、貫通孔24をパルスレーザ光33が通過してもよい。
EUV光生成装置1は、EUV光生成制御部5を含むことができる。またEUV光生成制御部5は、ターゲットセンサ4等を含むことができる。ターゲットセンサ4は、ターゲット27の存在、軌跡、位置、及び速度の内の少なくとも1つを検出しても良い。ターゲットセンサ4は、撮像機能を有していても良い。
さらに、EUV光生成装置1は、チャンバ2の内部と露光装置6の内部とを連通する接続部29を含んでもよい。接続部29内部には、アパーチャ293が形成された壁291が設けられてもよい。壁291は、そのアパーチャ293がEUV集光ミラー23の第2の焦点位置に位置するように配置されてもよい。
さらに、EUV光生成装置1は、レーザ光進行方向制御部34、レーザ光集光ミラー22、ターゲット27を回収するためのターゲット回収部28等を含んでもよい。レーザ光進行方向制御部34は、レーザ光の進行方向を制御するために、レーザ光の進行方向を規定するための光学素子と、この光学素子の位置、姿勢等を調整するためのアクチュエータとを備えてもよい。
2.2 動作
図1を参照に、レーザ装置3から出力されたパルスレーザ光31は、レーザ光進行方向制御部34を経て、パルスレーザ光32としてウインドウ21を透過してチャンバ2内に入射してもよい。パルスレーザ光32は、少なくとも1つのレーザ光の経路に沿ってチャンバ2内に進み、レーザ光集光ミラー22で反射されて、パルスレーザ光33として少なくとも1つのターゲット27に照射されてもよい。
ターゲット供給部26は、ターゲット27をチャンバ2内部のプラズマ生成領域25に向けて出力するよう構成されてもよい。ターゲット27には、パルスレーザ光33に含まれる少なくとも1つのパルスが照射されてもよい。パルスレーザ光が照射されたターゲット27はプラズマ化し、そのプラズマから放射光と共にEUV光251が放射され得る。EUV光251は、EUV集光ミラー23によって反射されると共に集光されてもよい。EUV集光ミラー23によって反射されたEUV光252は、中間集光点292を通って、露光装置6に出力されてもよい。なお、1つのターゲット27に、パルスレーザ光33に含まれる複数のパルスが照射されてもよい。
EUV光生成制御部5は、EUV光生成システム11全体の制御を統括するよう構成されてもよい。EUV光生成制御部5は、ターゲットセンサ4によって撮像されたターゲット27のイメージデータ等を処理するよう構成されてもよい。また、EUV光生成制御部5は、例えば、ターゲット27が出力されるタイミングの制御、及びターゲット27の出力方向の制御の内の少なくとも1つを制御するよう構成されてもよい。
さらに、EUV光生成制御部5は、例えば、レーザ装置3の発振タイミングの制御、パルスレーザ光32の進行方向の制御、及びパルスレーザ光33の集光位置の制御の内の少なくとも1つを制御するよう構成されてもよい。上述の様々な制御は単なる例示に過ぎず、必要に応じて他の制御が追加されてもよい。
[3.バースト信号によってEUV光を生成するEUV光生成システム]
3.1 構成
3.1.1 全体の構成
図2は、バースト信号V1によってEUV光を生成するEUV光生成システムの一構成例を示している。このEUV光生成システムは、チャンバ2と、レーザ装置3と、EUV光生成制御部5と、レーザ光進行方向制御部34とを含んでいてもよい。EUV光生成制御部5は、発光制御システム部50とEUV制御部51とを含んでいてもよい。発光制御システム部50は、ターゲット制御部71と、発光制御回路72とを含んでいてもよい。
レーザ装置3から出力されたパルスレーザ光31がチャンバ2に入射するようにレーザ光進行方向制御部34を配置してもよい。レーザ装置3は、例えば繰り返し周波数50kHz〜100kHzのパルスレーザ光31を出力するCO2レーザ装置であってもよい。
チャンバ2は、レーザ集光光学系22aと、プレート82と、XYZ軸ステージ84とを含んでもよい。さらに、チャンバ2は、EUV集光ミラー23と、ミラーホルダ81と、ウインドウ21と、ターゲット回収部28とを含んでもよい。ウインドウ21は、チャンバ2の内壁にシールして固定されてもよい。チャンバ2には、ターゲット供給部26と、ターゲット検出装置40とが取り付けられてもよい。
レーザ集光光学系22aは、プレート83と、ホルダ223と、ホルダ224と、軸外放物面ミラー221と、平面ミラー222とを含んでいてもよい。軸外放物面ミラー221はホルダ223によってプレート83に保持されてもよい。平面ミラー222はホルダ224によってプレート83に保持されてもよい。軸外放物面ミラー221及び平面ミラー222によって反射されたパルスレーザ光33がプラズマ生成領域25で集光するように、これらのミラーの位置及び姿勢が保持されてもよい。
プレート82はチャンバ2の内部で、壁に固定されていてもよい。EUV集光ミラー23は、Z軸を中心とする回転楕円面のミラーであってもよい。EUV集光ミラー23は、回転楕円面の第1焦点が、プラズマ生成領域25と略一致するようにミラーホルダ81を介して、プレート82に固定されていてもよい。EUV集光ミラー23の中央部にはパルスレーザ光33が通過するための貫通孔24があってもよい。
レーザ光進行方向制御部34は、2枚の平面ミラー341,342で構成してもよい。平面ミラー341,342と、平面ミラー222及び軸外放物面ミラー221との反射表面には、パルスレーザ光31を高反射する膜がコーティングされていてもよい。EUV集光ミラー23の反射表面には、Mo/Siの多層膜がコーティングされていてもよい。
ターゲット供給部26は、タンク61と、ノズル62と、ピエゾ素子63と、ヒータ64と、圧力調節器65とを含んでいてもよい。ターゲット供給部26は、ノズル62から出力されるターゲット27がドロップレット状でプラズマ生成領域25に到達するように配置されてもよい。ターゲット回収部28は、ドロップレット状のターゲット27の軌道Yaの延長線上に設置してもよい。ヒータ64は、タンク61に配置されていてもよい。タンク61は、ヒータ64によって溶融した状態のターゲット27を内部に貯蔵してもよい。ノズル62は、タンク61内のターゲット27を出力するノズル孔62aを含んでいてもよい。ピエゾ素子63は、ノズル62に設置されていてもよい。圧力調節器65は、タンク61内の圧力を調節してもよい。
ターゲット検出装置40は、ターゲットセンサ4と、光源部45とを含んでいてもよい。光源部45は、光源46と、照明光学系47とを含んでいてもよい。ターゲット供給部26のノズル62とプラズマ生成領域25との間の軌道Ya上の所定位置P1のターゲット27を照明するように配置してもよい。照明光学系47は、集光レンズとウインドウ21aとを含んでもよい。ターゲットセンサ4は、光センサ41と、受光光学系42とを含んでいてもよい。ターゲットセンサ4は、光源部45から出力された照明光を受光するように配置してもよい。受光光学系42は、ウインドウ21bと集光レンズ43とを含んでもよい。
ターゲットセンサ4と光源部45とは、ターゲット27の軌道Yaを挟んで互いに反対側に配置されていてもよい。チャンバ2にはウインドウ21a及びウインドウ21bが取り付けられていてもよい。ウインドウ21aは、光源部45とターゲット27の軌道Yaとの間に位置していてもよい。光源部45は、ウインドウ21aを介してターゲット27の軌道Yaの所定位置P1に光を集光してもよい。ウインドウ21bは、ターゲット27の軌道Yaとターゲットセンサ4との間に位置していてもよい。ターゲットセンサ4によって検出されるターゲット27の検出位置は、光源部45による光の集光位置とほぼ一致し得る。ターゲットセンサ4は、ターゲット27の検出信号として通過タイミング信号Tm1を出力してもよい。通過タイミング信号Tm1は、ターゲット27の供給タイミングを示すタイミング信号であってもよい。ターゲットセンサ4から出力された通過タイミング信号Tm1は、ターゲット制御部71を介して、発光制御回路72に入力されてもよい。
EUV光生成システムにおいては、所定の繰り返し周波数で、所定の時間にわたってEUV光を生成することが求められ得る。所定の繰り返し周波数は、例えば、50kHz〜100kHzであり得る。EUV光生成システムが所定の繰り返し周波数でEUV光を生成するために、ターゲット供給部26が上記所定の繰り返し周波数でターゲット27を出力してもよい。ターゲット27の供給タイミングに応じて、レーザ装置3がパルスレーザ光31を出力してもよい。レーザ装置3が出力するパルスレーザ光31の繰り返し周波数は、上記所定の繰り返し周波数と同等であり得る。所定の繰り返し周波数で所定の時間にわたってパルス光を出力することを、バーストと称することもある。また、バースト出力されたパルス光をバーストパルスと呼ぶ場合がある。
このようなバーストによるEUV光の生成を指示する生成信号としてバースト信号V1が、外部装置としての露光装置6から、EUV制御部51に供給されてもよい。露光装置6は露光装置制御部6aを含んでいてもよい。バースト信号V1は、露光装置6の露光装置制御部6aから供給するようにしてもよい。
露光装置制御部6aからのバースト信号V1は、EUV制御部51とターゲット制御部71とを経由して発光制御回路72に入力されてもよい。発光制御回路72は、出力信号として発光トリガ信号TG1をレーザ装置3に出力してもよい。
3.1.2 発光制御システム部の構成
図3は、発光制御システム部50の一構成例を示している。発光制御システム部50において、発光制御回路72は、AND回路52と、遅延回路53とを含んでいてもよい。AND回路52には、露光装置6からのバースト信号V1がEUV制御部51とターゲット制御部71とを介して入力されてもよい。AND回路52にはまた、ターゲット検出装置40からの通過タイミング信号Tm1がターゲット制御部71を介して入力されてもよい。AND回路52は、バースト信号V1と通過タイミング信号Tm1とのAND信号を出力信号として遅延回路53に出力してもよい。
ターゲット制御部71は、所定の遅延時間td1の設定情報を含む制御信号を遅延回路53に出力してもよい。遅延回路53は、AND回路52からの出力信号を所定の遅延時間td1だけ遅延させて発光トリガ信号TG1を生成し、その発光トリガ信号TG1をレーザ装置3に出力してもよい。遅延時間td1は、ターゲットセンサ4によって検出されたターゲット27がプラズマ生成領域25に到達するタイミングで、パルスレーザ光31がターゲット27に照射されるように設定される遅延時間であり得る。
3.2 動作
3.2.1 全体の動作
図2において、ターゲット制御部71は、EUV制御部51からドロップレット生成信号を受信すると、ヒータ64によってタンク61内のターゲット27の材料を所定の温度まで加熱する温度制御をしてもよい。ターゲット制御部71は、例えば、ターゲット27の材料がスズ(Sn)である場合、融点である232℃以上の例えば250℃〜290℃の所定の温度まで加熱する温度制御をしてもよい。ターゲット制御部71は、タンク61内の圧力が、ノズル62のノズル孔62aから所定の速度でターゲット27となる噴流が出力される圧力となるように圧力調節器65を制御してもよい。次にターゲット制御部71は、ドロップレット状のターゲット27が生成されるように、ピエゾ素子63に所定の波形の電圧を供給してもよい。ノズル孔62aから出力された噴流にはピエゾ素子63によって振動が与えられ、噴流表面に定在波が生じ得る。その結果、噴流は、ドロップレット状のターゲット27に分断し得る。このように、コンティニュアスジェット(CJ)法によるドロップレット状のターゲット27の生成がなされてもよい。例えば、50kHz〜100kHzの所定の周波数でドロップレット状のターゲット27が生成されてもよい。
ターゲット検出装置40において、光源部45からの照明光によってターゲット27が照明されてもよい。ターゲットセンサ4は、光源部45から出力された照明光を受光し得る。チャンバ2内でターゲット27が所定位置P1を通過する際に照明光の一部を遮蔽し、ターゲットセンサ4が受光する光強度が低下し得る。この光強度の変化をターゲットセンサ4の光センサ41により検出してターゲット27の検出信号としてもよい。光センサ41は、検出信号を通過タイミング信号Tm1として出力し得る。ターゲットセンサ4は、1つのターゲット27を検出する毎に、通過タイミング信号Tm1として1つのパルス信号を出力してもよい。通過タイミング信号Tm1は、ターゲット制御部71を介して発光制御回路72に入力され得る。
ここで、露光装置6からのバースト信号V1がEUV制御部51とターゲット制御部71とを経由して発光制御回路72に入力されている場合は、発光制御回路72は、通過タイミング信号Tm1に対して所定の遅延時間td1だけ遅延させた発光トリガ信号TG1を生成してもよい。そして、発光制御回路72は、その発光トリガ信号TG1をレーザ装置3に出力してもよい。発光トリガ信号TG1がレーザ装置3に入力されると、レーザ装置3はパルスレーザ光31を出力し得る。出力されたパルスレーザ光31は、レーザ光進行方向制御部34を経由して、ウインドウ21に入射し得る。ウインドウ21を透過したパルスレーザ光31は軸外放物面ミラー221と平面ミラー222とによって、パルスレーザ光33としてプラズマ生成領域25に集光し得る。プラズマ生成領域25に到達したドロップレット状のターゲット27は、パルスレーザ光33に照射され、プラズマ化し、EUV光251を生成し得る。EUV光251は、EUV集光ミラー23によって、中間集光点(IF:Intermediate Focus)292で集光し、露光装置6に出力されてもよい。
一方、露光装置6からのバースト信号V1がEUV制御部51とターゲット制御部71とを経由して発光制御回路72に入力されていない場合は、発光制御回路72は、通過タイミング信号Tm1が発光制御回路72に入力されていても、発光トリガ信号TG1をレーザ装置3に出力しなくてもよい。その結果、EUV光251は生成されなくてもよい。
以上のようにして、露光装置6からのバースト信号V1に応じて、EUV光251のバーストパルスを生成し得る。
3.2.2 発光制御システム部50の動作
図4は、図3に示した発光制御システム部50による発光制御のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。なお、以下の説明におけるタイミングチャートにおいて、信号のタイミングを示すチャートの縦軸は信号レベルを模式的に表し、レーザ光のタイミングを示すチャートの縦軸はレーザ光のパルスエネルギまたは強度を模式的に表してもよい。露光装置6からのバースト信号V1は、図4に示したように、所定期間Taは信号値がHighのON信号となり、所定期間Tbは信号値がLowのOFF信号となるON−OFF信号であってもよい。ON信号の所定期間TaはEUV光251を生成すべき期間であってもよい。OFF信号の所定期間TbはEUV光251を生成しなくてよい期間であってもよい。AND回路52には、このような露光装置6からのバースト信号V1がEUV制御部51とターゲット制御部71とを介して入力されてもよい。
AND回路52にはまた、図4に示したような通過タイミング信号Tm1が、ターゲット検出装置40からターゲット制御部71を介して入力されてもよい。AND回路52は、バースト信号V1と通過タイミング信号Tm1とのAND信号を出力信号として遅延回路53に出力してもよい。AND回路52の出力信号は、バースト信号V1と通過タイミング信号Tm1との両方がHighとなった時にのみHighとなる信号が出力され得る。AND回路52の出力信号は、バースト信号V1がHighとなる期間に出力された通過タイミング信号Tm1と同等の信号であり得る。
遅延回路53は、AND回路52からの出力信号を、図4に示したように、ターゲット制御部71から指示された所定の遅延時間td1だけ遅延させて、発光トリガ信号TG1を生成し、その発光トリガ信号TG1をレーザ装置3に出力してもよい。レーザ装置3は発光トリガ信号TG1を受信すると、図4に示したように、発光トリガ信号TG1に同期したパルスレーザ光31を出力し得る。
ここで、遅延回路53に設定される所定の遅延時間td1は、以下のような時間Dt1と時間αとの差(Dt1−α)であってもよい。Dt1は、ターゲット27がターゲット検出装置40によって検出されてからプラズマ生成領域25に到達するまでの時間であってもよい。αは、レーザ装置3に発光トリガ信号TG1が入力されてからパルスレーザ光31がプラズマ生成領域25に到達するまでの時間であってもよい。
3.3 課題
図3及び図4に示したようなパルスレーザ光31の発光制御を行う場合、レーザ装置3から出力されるパルスレーザ光31は、バースト信号V1のON−OFF状態に対応した発光制御がされ得る。すなわち、所定期間Taにわたってパルスレーザ光31を繰り返し出力するバーストの発光状態と、所定期間Tbの間はパルスレーザ光31を出力しない非発光状態とに制御され得る。
本発明者らは、上記のようなレーザ装置3の発光制御を行う場合に、以下で説明するように、パルスレーザ光31のエネルギが、バーストの開始当初は不安定であり得ることを見い出した。
図5は、図4に示した発光制御により出力されるパルスレーザ光31のパルスエネルギの一例を示す。図5は、レーザ装置3から出力されたパルスレーザ光31の、図4に示したようなバーストの先頭付近31aにおけるパルス毎のパルスエネルギを示す。パルスレーザ光31は、例えばバーストの先頭パルスから20パルス程度までは、パルスエネルギが非常に不安定となり得る。例えば先頭から20パルス程度以降は、パルスレーザ光31のパルスエネルギが、所定の目標範囲Ea内に安定し得る。
このようなバーストの先頭から数十パルスのパルスレーザ光31をターゲット27に照射すると以下のようなことが起こり得る。すなわち、バーストの先頭から数十パルスのパルスレーザ光31は、所望のパルスエネルギでターゲット27に照射されない。したがって、第1に、生成されるEUV光251のエネルギが不安定となり得る。第2に、ターゲット物質のイオン化率が減少し、イオン化しない粒子の生成量が増加し得る。イオン化率は、(イオン量/デブリ量)×100であり得る。イオン化しない粒子は、電気的に中性のデブリであり、例えば、蒸気、クラスター、及び微小な液滴等であり得る。
さらに、レーザ装置3から出力されるパルスレーザ光31の集光方向は、レーザ装置3の出力開始から数十パルス分安定しないことがあり得る。パルスレーザ光31の進行方向は、パルスレーザ光31を集光光学系によって集光した場合の集光位置の変動を示すポインティングという指標で評価されることがある。
[4.光シャッタの制御を含む発光制御システム部](第1の実施形態)
4.1 構成
図6は、光シャッタ310の制御も実行する発光制御システム部50の一構成例を示す。図6に示したように、発光制御システム部50は、図3における発光制御回路72に代えて、AND回路52が削除された構成の発光制御回路72Aを備えてもよい。発光制御回路72Aは、レーザ装置3に発光トリガ信号TG1を供給する発光トリガ生成部であってもよい。発光制御システム部50は、バースト信号V1に基づいて光シャッタ310を開閉制御する制御部であってもよい。
レーザ装置3は、マスタオシレータ(MO)311と、複数の増幅器とを含んでいてもよい。複数の増幅器は、第1の増幅器PA1、第2の増幅器PA2、第kの増幅器PAk、及び第nの増幅器PAnであってもよい。マスタオシレータ311はQスイッチを含むCO2レーザ、または、CO2レーザの増幅波長域で発振する量子カスケードレーザ(QCL)であってもよい。複数の増幅器はそれぞれ、CO2レーザガスをレーザ媒質とする増幅器であってもよい。複数の増幅器はそれぞれ、CO2レーザガスと、1対の電極と、この電極間で高周波放電させる電源とを含んでもよい。複数の増幅器はそれぞれ、マスタオシレータ311から出力されるパルスレーザ光31mの光路上に、直列に配置してもよい。マスタオシレータ311によって生成されたパルスレーザ光31mは、第1の増幅器PA1によって増幅された後、さらに第2の増幅器PA2、第kの増幅器PAk、及び第nの増幅器PAnによって順番に増幅されてもよい。ここで、増幅器あるいは光アイソレータの符号に用いるnは増幅器あるいは光アイソレータの総数を表し、kは2からnまでの間の何れかの序数を表すこととして、増幅器あるいは光アイソレータを識別してもよい。
マスタオシレータ311からプラズマ生成領域25までの光路上には、光シャッタ310が配置されてもよい。光シャッタ310がパルスレーザ光31mに対して耐性が低い場合や、透過したパルスレーザ光31mの波面の歪みが大きい場合には、光シャッタ310をマスタオシレータ311に近い側の光路上に配置するのが好ましい。例えば、マスタオシレータ311と第1の増幅器PA1との間や、第1の増幅器PA1と第2の増幅器PA2との間等の上流側の光路上に配置するのが好ましい。
4.2 動作
図7は、図6に示した発光制御システム部50による発光制御のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。
露光装置6からのバースト信号V1とターゲット検出装置40からの通過タイミング信号Tm1は、ターゲット制御部71に入力され得る。発光制御回路72Aにはターゲット制御部71を介して、図7に示したようなバースト信号V1が入力され得る。発光制御回路72Aは、バースト信号V1に基づいて、光シャッタ310を開閉制御する光シャッタ制御信号Vsを生成し、光シャッタ310に出力し得る。発光制御回路72Aは、光シャッタ制御信号Vsとして、図7に示したようにバースト信号V1そのものを出力してもよい。例えばバースト信号V1がHighとなる部分は光シャッタ310を開状態に制御する開信号とみなすことができる。また、バースト信号V1がLowとなる部分は、光シャッタ310を閉状態に制御する閉信号とみなすことができる。
ターゲット制御部71は、所定の遅延時間td1の設定情報を含む制御信号を遅延回路53に出力してもよい。遅延回路53には、ターゲット制御部71を介して、図7に示したようなターゲット検出装置40からの通過タイミング信号Tm1が入力され得る。遅延回路53は、通過タイミング信号Tm1を所定の遅延時間td1だけ遅延させて、図7に示したような発光トリガ信号TG1を生成し、その発光トリガ信号TG1をレーザ装置3のマスタオシレータ311に出力してもよい。レーザ装置3は、発光トリガ信号TG1が入力されると、図7に示したように、マスタオシレータ311からパルスレーザ光31mを出力し得る。
光シャッタ310は、図7に示したように、実質的にバースト信号V1に応じて動作し得る。これにより、光シャッタ310は、バースト信号V1がHighとなる所定期間Taでは、開状態となり、マスタオシレータ311からのパルスレーザ光31mを高透過し得る。一方、光シャッタ310は、バースト信号V1がLowとなる所定期間Tbでは、閉状態となり、マスタオシレータ311からのパルスレーザ光31mの透過を抑制し得る。その結果、レーザ装置3からは、図7に示したようにバースト状のパルスレーザ光31が出力され得る。このパルスレーザ光31は、レーザ光進行方向制御部34等を経由して、チャンバ2内のプラズマ生成領域25に集光し得る。プラズマ生成領域25に到達したターゲット27は、パルスレーザ光33に照射され、プラズマ化し、図7に示したように、バースト状のEUV光251を生成し得る。パルスレーザ光31がレーザ装置3からプラズマ生成領域25に到達するまでに時間βが掛かってもよい。
なお、この第1の実施形態におけるその他の構成及び動作は、図2に示したEUV光生成システム及び図3に示した発光制御システム部50と略同様であってもよい。
4.3 作用
この第1の実施形態によれば、バースト信号V1の有無とは関係なく、マスタオシレータ311からは、所定の繰り返し周波数で、パルスレーザ光31mが出力され得る。このため、レーザ装置3から出力されるパルスレーザ光31のパルスエネルギやポインティングは安定し得る。そして、バースト信号V1に応じて、光シャッタ310の開閉を制御しているので、パルスレーザ光31における図4及び図5に示したようなバーストの先頭付近31aの安定性が改善し得る。これにより、EUV光251のバーストの先頭付近の安定性、例えばEUV光251のエネルギやEUV光251の発光点の位置やプラズマの形状等が改善し得る。
4.4 変形例
レーザ装置3は、複数の増幅器を含まず、1つのみでもよい。レーザ装置はCO2レーザに限らず、YAGレーザ等の固体レーザであってもよい。例えば、Ti:サファイヤレーザ、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:YVO4レーザなどであってもよい。また、レーザ装置3の出力がマスタオシレータ311のみで十分な場合は、増幅器がなくてもよい。マスタオシレータ311がQCLの場合は第1の増幅器PA1は再生増幅器であってもよい。
この実施形態では発光制御回路72Aを論理回路で構成しているが、この実施形態に限定されることなく、プログラムが可能なFPGA(field-programmable gate array)で同様な機能を実現してもよい。
ターゲット27の供給方式は、コンティニュアスジェット(CJ)法によるドロップレット生成の例に限定されることなく、静電引出し方式等のオンデマンド方式であってもよい。オンデマンド方式の場合は、発光トリガ信号TG1の生成に、通過タイミング信号Tm1を用いる代わりに、ドロップレットをオンデマンドで生成する信号を使用してもよい。オンデマンド方式のターゲット27の供給方法の具体例は、図13を用いて後述する。
[5.タイミング信号生成回路を含む発光制御システム部](第2の実施形態)
5.1 構成
図8は、タイミング信号生成回路60を含む発光制御システム部の一構成例を示す。図8に示したように、発光制御システム部は、図6における発光制御回路72Aに代えて、タイミング信号生成回路60を含む構成の発光制御回路72Bを備えてもよい。発光制御回路72Bは、レーザ装置3に発光トリガ信号TG1を供給する発光トリガ生成部であってもよい。タイミング信号生成回路60は、タイマ55と、第1のOR回路56とを含んでいてもよい。発光制御回路72Bはまた、遅延回路53と、ワンショット回路54と、第2のOR回路57と、第3のOR回路58と、インバータ59とを含んでいてもよい。
第1のOR回路56と第2のOR回路57とには、ターゲット制御部71を介してターゲット検出装置40からの通過タイミング信号Tm1が入力されてもよい。第1のOR回路56の出力信号は、タイマ55に入力されてもよい。タイマ55の出力信号はワンショット回路54と、第1のOR回路56と、第2のOR回路57とに入力されてもよい。
ワンショット回路54の出力信号は、インバータ59を介して第3のOR回路58に入力されてもよい。ワンショット回路54の出力信号のパルス幅Tshの長さは、マスタオシレータ311に発光トリガ信号TG1が入力されてから、パルスレーザ光31mが光シャッタ310を通過する時間よりも長く設定してもよい。第3のOR回路58には、ターゲット制御部71を介してバースト信号V1が入力されてもよい。第3のOR回路58は、出力信号として光シャッタ制御信号Vsを光シャッタ310に出力してもよい。
5.2 動作
図9は、図8に示した発光制御システム部による発光制御のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。
ターゲット制御部71は、所定の遅延時間td1の設定情報を含む制御信号を遅延回路53に出力してもよい。ターゲット制御部71はまた、最大時間Tmaxの設定情報を含む制御信号をタイマ55に出力してもよい。ここで、Tmaxは、ドロップレット状のターゲット27の生成間隔tよりもわずかに大きな、tに近い値であってもよい。例えば、ドロップレット状のターゲット27の生成間隔tが9.9μs〜10.1μsであれば、Tmax=10.11〜10.15μsの間の固定値であってもよい。
ターゲット検出装置40からの通過タイミング信号Tm1は、ターゲット制御部71を介して第1のOR回路56および第2のOR回路57に入力され得る。通過タイミング信号Tm1は第1のOR回路56を通過して、タイマ55をリセットし得る。そしてタイマ55は、時間の計測をスタートし得る。また、通過タイミング信号Tm1は第2のOR回路57を通過して、遅延回路53に入力され得る。ここで、通過タイミング信号Tm1の間隔T>Tmaxの場合は、タイマ55からダミーの通過タイミング信号Tm2となるパルス信号が出力され得る。ダミーの通過タイミング信号Tm2は、第1のOR回路56と、第2のOR回路57と、ワンショット回路54とに入力され得る。ここで、通過タイミング信号Tm1は、ターゲット27の供給タイミングを示す第1のタイミング信号であってもよい。ダミーの通過タイミング信号Tm2は第2のタイミング信号であってもよい。
タイマ55からのダミーの通過タイミング信号Tm2は、第1のOR回路56を通過してタイマ55をリセットスタートし得る。さらに、タイマ55からのダミーの通過タイミング信号Tm2は第2のOR回路57を介して、遅延回路53に入力され得る。遅延回路53は、通過タイミング信号Tm1またはダミーの通過タイミング信号Tm2を所定の遅延時間td1だけ遅延させて、図9に示したような発光トリガ信号TG1を生成し得る。遅延回路53は、発光トリガ信号TG1をレーザ装置3のマスタオシレータ311に出力してもよい。レーザ装置3は、発光トリガ信号TG1が入力されると、図9に示したように、マスタオシレータ311からパルスレーザ光31mを出力し得る。このように、第1のタイミング信号である通過タイミング信号Tm1と、第2のタイミング信号であるダミーの通過タイミング信号Tm2との何れによっても、発光トリガ信号TG1が生成され得る。図9に示したように、期間T2ではダミーの通過タイミング信号Tm2に基づく発光トリガ信号TG1が生成され、期間T1ではターゲット検出装置40からの通過タイミング信号Tm1に基づく発光トリガ信号TG1が生成されてもよい。
レーザ装置3は、発光トリガ信号TG1が入力されると、図9に示したように、マスタオシレータ311からパルスレーザ光31mを出力し得る。一方、タイマ55からのダミーの通過タイミング信号Tm2がワンショット回路54に入力されることによって、ワンショット回路54から所定の長さTshのパルス信号が出力し得る。ワンショット回路54からのパルス信号は、インバータ59を介して光シャッタ制御信号Vsとして光シャッタ310に入力されてもよい。その結果、タイマ55からのダミーの通過タイミング信号Tm2に基づく発光トリガ信号TG1によってマスタオシレータ311から出力されたパルスレーザ光31mは、光シャッタ310によって透過が抑制され得る。
光シャッタ310はまた、図9に示したように、実質的にバースト信号V1に応じて動作し得る。これにより、光シャッタ310は、バースト信号V1がHighとなる所定期間Taでは、開状態となり、マスタオシレータ311からのパルスレーザ光31mを高透過し得る。一方、光シャッタ310は、バースト信号V1がLowとなる所定期間Tbでは、閉状態となり、マスタオシレータ311からのパルスレーザ光31mを抑制し得る。その結果、レーザ装置3からは、図9に示したようにバースト状のパルスレーザ光31が出力され得る。このパルスレーザ光31は、レーザ光進行方向制御部34等を経由して、チャンバ2内のプラズマ生成領域25に集光し得る。プラズマ生成領域25に到達したターゲット27は、パルスレーザ光33に照射され、プラズマ化し、図9に示したように、バースト状のEUV光251を生成し得る。パルスレーザ光31がレーザ装置3からプラズマ生成領域25に到達するまでに時間βが掛かってもよい。
なお、この第2の実施形態におけるその他の構成及び動作は、上記第1の実施形態と略同様であってもよい。
5.3 作用
この第2の実施形態によれば、ターゲット検出装置40からの通過タイミング信号Tm1が入力されない期間においても、タイマ55からのダミーの通過タイミング信号Tm2によって所定間隔Tmaxの発光トリガ信号TG1を生成し得る。これにより、マスタオシレータ311からパルスレーザ光31mが常に出力され得る。ダミーの通過タイミング信号Tm2に基づいてパルスレーザ光31mが出力されている期間には、光シャッタ310を閉状態に制御するので、パルスレーザ光31mが光シャッタ310を透過するのを抑制し得る。その結果、ターゲット検出装置40からの通過タイミング信号Tm1が入力されなくても、マスタオシレータ311からパルスレーザ光31mを出力できるので、レーザ装置3のウオームアップ時間を短縮し得る。また、ドロップレット状のターゲット27の生成が不安定な場合においても、レーザ装置3から出力されるパルスレーザ光31の安定性を維持し得る。
5.4 変形例
第2の実施形態では、ダミーの通過タイミング信号Tm2に基づく光シャッタ制御信号Vsを、ワンショット回路54と第3のOR回路58とインバータ59とによって生成するようにしたが、これらの回路を省略するようにしてもよい。その場合、発光制御回路72Bは、図6における発光制御回路72Aと同様に、光シャッタ制御信号Vsとして、バースト信号V1そのものを出力してもよい。
[6.光アイソレータの制御を含む発光制御システム部](第3の実施形態)
6.1 構成
図10は、光アイソレータの制御を含む発光制御システム部の一構成例を示す。図10に示したように、発光制御システム部は、図8における発光制御回路72Bに代えて、発光制御回路72Cを備えてもよい。発光制御回路72Cは、レーザ装置3に発光トリガ信号TG1を供給する発光トリガ生成部であってもよい。
発光制御回路72Cは、光シャッタ310に代えて複数の光アイソレータを制御するものであってもよい。複数の光アイソレータは、マスタオシレータ311からプラズマ生成領域25までの光路上に配置されてもよい。複数の光アイソレータは、光アイソレータ400と、光アイソレータ401と、光アイソレータ402と、光アイソレータ40kと、光アイソレータ40nとであってもよい。光アイソレータ400は、マスタオシレータ311と第1の増幅器PA1との間に配置されてもよい。光アイソレータ401は、第1の増幅器PA1と第2の増幅器PA2との間に配置されてもよい。光アイソレータ402は、第2の増幅器PA2と第kの増幅器PAkとの間に配置されてもよい。光アイソレータ40kは、第kの増幅器PAkと第nの増幅器PAnとの間に配置されてもよい。
発光制御回路72Cは、図8における発光制御回路72Bの構成要素に加えて、さらに、AND回路85と、遅延回路86と、ワンショット回路87と、複数のワンショット回路90,91,92,9k,9nとを備えてもよい。
遅延回路53は、発光トリガ信号TG1をAND回路85とワンショット回路87とに出力してもよい。第3のOR回路58は、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nを開閉制御する光アイソレータ制御信号Vssを、AND回路85に出力してもよい。AND回路85からの出力信号は、遅延回路86に入力されてもよい。遅延回路86は、複数のワンショット回路90,91,92,9k,9nを介して、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nに接続されていてもよい。ここで、複数のワンショット回路90,91,92,9k,9nのそれぞれの出力信号のパルス幅は、マスタオシレータ311から出力されるパルスレーザ光31mのパルス幅以上に設定してもよい。複数のワンショット回路90,91,92,9k,9nのそれぞれに対する遅延回路86の各遅延時間は、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nのそれぞれをパルスレーザ光31mが各々通過するタイミングと同期するように設定されてもよい。
6.2 動作
複数の増幅器PA1,PA2,PAk,PAnは、図示しない電源を制御して、常にCO2レーザガスを励起してもよい。ワンショット回路87は、発光トリガ信号TG1が遅延回路53から入力されると、所定のパルス幅のパルスレーザ光31mを得るように調整されたパルス幅のパルス信号を出力してもよい。パルス信号の入力によって、マスタオシレータ311は、Qスイッチを動作させてもよい。その結果、マスタオシレータ311から所定のパルス幅のパルスレーザ光31mが出力し得る。第3のOR回路58から光アイソレータ制御信号Vssとして、開信号がAND回路85に入力されると、発光トリガ信号TG1が遅延回路86に入力され得る。複数のワンショット回路90,91,92,9k,9nは、遅延回路86によって指定されたそれぞれ異なる遅延時間で、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nを開状態とするパルス信号を出力してもよい。その結果、パルスレーザ光31mが複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nのそれぞれを高透過し、複数の増幅器PA1,PA2,PAk,PAnによって、パルスレーザ光31mが増幅され得る。一方、AND回路85に光アイソレータ制御信号Vssとして開信号が入力されない場合は、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nを開状態とするパルス信号は出力されなくてもよい。これにより、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nのそれぞれがパルスレーザ光31mの透過を抑制し得る。
図11は、図10に示した発光制御システム部による発光制御のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。図11において、縦軸はレーザ装置3のマスタオシレータ311から光アイソレータ40nまでの光路長を概念的に示すものであってもよい。横軸は時間であってもよい。マスタオシレータ311から光アイソレータ40nまでの光路長は、50m〜200mであってもよい。
マスタオシレータ311に、発光トリガ信号TG1が入力されると、それに同期してQスイッチを動作させることによって、例えば10ns〜20nsの所定のパルス幅でパルスレーザ光31mが出力され得る。マスタオシレータ311から出力されたパルスレーザ光31mは、3×108m/sの光速で、光路上を進行し得る。複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nはそれぞれ、それぞれの配置位置において、パルスレーザ光31mが通過する直前に開状態となるように制御されてもよい。例えばEO(電気光学)結晶ポッケルスセルを含む光アイソレータである場合、ポッケルスセルに所定の電圧を印加することで開状態に制御され得る。そして、パルスレーザ光31mが通過した直後に、ポッケルスセルへの印加電圧を0Vにして閉状態に制御してもよい。複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nのそれぞれを開状態とする信号のパルス幅は、例えば30ns〜100nsであってもよい。
なお、この第3の実施形態におけるその他の構成及び動作は、上記第1または第2の実施形態と略同様であってもよい。
6.3 作用
この第3の実施形態によれば、上記第2の実施形態による作用に加えて、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nを機能させ得るので、レーザ装置3における自励発振を抑制し得る。このため、複数の増幅器PA1,PA2,PAk,PAnが常に励起された状態に維持することができてよい。このため、レーザ装置3から出力されるパルスレーザ光31のパルスエネルギやポインティングは、複数の増幅器PA1,PA2,PAk,PAnを励起状態に維持しない場合に比べて安定し得る。
6.4 変形例
上記実施形態では、複数の増幅器PA1,PA2,PAk,PAnのそれぞれの上流側と下流側とのすべての光路上に光アイソレータを配置するようにしたが、一部の光路上にのみ光アイソレータを配置するようにしてもよい。例えば、光アイソレータがパルスレーザ光31mに対して耐性が低い場合や、透過したパルスレーザ光31mの波面の歪みが大きい場合には、光アイソレータを上流側の光路上に配置するのが好ましい。例えば、マスタオシレータ311と第1の増幅器PA1との間や、第1の増幅器PA1と第2の増幅器PA2との間等の上流側の光路上に配置するのが好ましい。
[7.プリパルスレーザ装置の制御を含む発光制御システム部](第4の実施形態)
7.1 構成
図12は、プリパルスレーザ装置の制御を含む発光制御システム部の一構成例を示す。図12に示したように、発光制御システム部は、図10における発光制御回路72Cに代えて、発光制御回路72Dを備えてもよい。発光制御回路72Dは、レーザ装置3に発光トリガ信号を供給する発光トリガ生成部であってもよい。
レーザ装置3は、メインパルスレーザ装置3Mと、プリパルスレーザ装置3Pと、ダイクロイックミラー122と、高反射ミラー123とを含んでいてもよい。メインパルスレーザ装置3Mは、図10におけるレーザ装置3の構成と略同様であってよい。ダイクロイックミラー122は、メインパルスレーザ装置3Mからのパルスレーザ光31の光路上に配置されてもよい。高反射ミラー123は、プリパルスレーザ装置3Pからのプリパルスレーザ光の光路上に配置されてもよい。ダイクロイックミラー122は、メインパルスレーザ装置3Mからのパルスレーザ光31を高透過し、プリパルスレーザ装置3Pからのプリパルスレーザ光を高反射する膜がコートされたダイヤモンド基板であってもよい。ダイクロイックミラー122は、高反射ミラー123で反射したプリパルスレーザ光の光路とメインパルスレーザ装置3Mからのパルスレーザ光31の光路とが略一致するように配置されてもよい。
プリパルスレーザ装置3Pは、YAGレーザ等の固体レーザであってもよい。プリパルスレーザ装置3Pと高反射ミラー123との間のプリパルスレーザ光の光路上には、光シャッタ310が設置されてもよい。メインパルスレーザ装置3Mによるパルスレーザ光31によってチャンバ2内のターゲット27を照射する前に、プリパルスレーザ装置3Pによるプリパルスレーザ光を、ターゲット27に照射するようにしてもよい。プリパルスレーザ光によって照射された後のターゲット27に、メインパルスレーザ装置3Mによるパルスレーザ光31が照射されることとなるよう、プリパルスレーザ光の光路とパルスレーザ光31の光路とが調整されていてもよい。
発光制御回路72Dは、図10における発光制御回路72Cの構成要素に加えて、さらに、遅延回路121を備えてもよい。遅延回路53は、発光トリガ信号TG1を遅延回路121とプリパルスレーザ装置3Pとに出力してもよい。ターゲット制御部71は、所定の遅延時間td2の設定情報を含む制御信号を遅延回路121に出力してもよい。遅延回路121は、発光トリガ信号TG2をAND回路85とワンショット回路87とに出力してもよい。第3のOR回路58は、出力信号として制御信号VsaをAND回路85と光シャッタ310とに出力してもよい。制御信号Vsaは、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nの開閉制御と、光シャッタ310の開閉制御とを行うための信号であってもよい。
ワンショット回路54は、パルス幅Tsh2のパルス信号を出力してもよい。ワンショット回路54からのパルス信号は、インバータ59を介して制御信号Vsaとして光シャッタ310に入力されてもよい。パルス幅Tsh2は、タイマ55からのダミーの通過タイミング信号Tm2が入力された時から、メインパルスレーザ装置3Mのマスタオシレータ311からパルスレーザ光31mが出力されるまでの時間以上の長さであってもよい。
7.2 動作
ターゲット制御部71は、所定の遅延時間td1の設定情報を含む制御信号を遅延回路53に出力してもよい。ターゲット制御部71はまた、最大時間Tmaxの設定情報を含む制御信号をタイマ55に出力してもよい。ここで、Tmaxは、ドロップレット状のターゲット27の生成間隔tよりもわずかに大きな、tに近い値であってもよい。
通過タイミング信号Tm1は第2のOR回路57を通過して、遅延回路53に入力され得る。ここで、通過タイミング信号Tm1の間隔T>Tmaxの場合は、タイマ55からダミーの通過タイミング信号Tm2となるパルス信号が出力され得る。遅延回路53は、ダミーの通過タイミング信号Tm2を所定の遅延時間td1だけ遅延させて、発光トリガ信号TG1を生成し得る。遅延回路53は、その発光トリガ信号TG1を遅延回路121とプリパルスレーザ装置3Pとに出力してもよい。プリパルスレーザ装置3Pは、発光トリガ信号TG1が入力されるとプリパルスレーザ光を出力し得る。遅延回路121は、発光トリガ信号TG1を所定の遅延時間td2だけ遅延させて、発光トリガ信号TG2を生成し得る。発光トリガ信号TG2は、AND回路85とワンショット回路87とに入力されてもよい。これにより、発光トリガ信号TG2に基づいて、メインパルスレーザ装置3Mのマスタオシレータ311からパルスレーザ光31mが出力し得る。
一方、タイマ55からのダミーの通過タイミング信号Tm2がワンショット回路54に入力されることによって、ワンショット回路54から所定のパルス幅Tsh2のパルス信号が出力し得る。ワンショット回路54からのパルス信号は、インバータ59を介して制御信号VsaとしてAND回路85と光シャッタ310とに入力されてもよい。その結果、ダミーの通過タイミング信号Tm2が出力された期間では、複数の光アイソレータと光シャッタ310とが、閉状態に制御され得る。これにより、メインパルスレーザ装置3Mのマスタオシレータ311から出力されたパルスレーザ光31mは、複数の光アイソレータによって透過が抑制され得る。また、プリパルスレーザ装置3Pから出力されたプリパルスレーザ光は光シャッタ310によって透過が抑制され得る。これにより、EUV光251の生成が抑制され得る。
他方、T≦Tmaxの場合において、第3のOR回路58から制御信号Vsaとして、開信号がAND回路85と光シャッタ310とに入力されると、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nと光シャッタ310とが、適切なタイミングで開状態に制御され得る。これにより、メインパルスレーザ装置3Mのマスタオシレータ311から出力されたパルスレーザ光31mは、複数の光アイソレータ400,401,402,40k,40nを高透過し得る。また、プリパルスレーザ装置3Pから出力されたプリパルスレーザ光は光シャッタ310を高透過し得る。これにより、メインパルスレーザ装置3Mによるパルスレーザ光31によってチャンバ2内のターゲット27を照射する前に、プリパルスレーザ装置3Pによるプリパルスレーザ光が、ターゲット27に照射され得る。プリパルスレーザ光がターゲット27に照射されることによってターゲット27が拡散し得る。この拡散したターゲット27に、メインパルスレーザ装置3Mによるパルスレーザ光31が照射されることによって、EUV光251が生成し得る。
なお、この第4の実施形態におけるその他の構成及び動作は、上記第1ないし第3の実施形態と略同様であってもよい。
7.3 作用
この第4の実施形態によれば、ダミーの通過タイミング信号Tm2が出力されている期間は、メインパルスレーザ装置3Mのマスタオシレータ311からパルスレーザ光31mが出力され得るが、その期間では複数の光アイソレータによってパルスレーザ光31mの透過が抑制され得る。また、その期間ではプリパルスレーザ装置3Pからのプリパルスレーザ光が出力され得るが、光シャッタ310によってプリパルスレーザ光の透過が抑制され得る。その結果、その期間ではプラズマ生成領域25に、メインパルスレーザ装置3Mとプリパルスレーザ装置3Pとからのパルスレーザ光が照射されるのを抑制し得る。
[8.オンデマンド方式のターゲット供給部におけるターゲットの制御を含む発光制御システム部](第5の実施形態)
8.1 構成
図13は、オンデマンド方式のターゲット供給部におけるターゲットの制御を含む発光制御システム部の一構成例を示す。図13に示したように、発光制御システム部50は、図6における発光制御回路72Aに代えて、トリガ生成器70を含む構成の発光制御回路72Eを備えてもよい。発光制御回路72Eは、レーザ装置3に発光トリガ信号TG1,TG2を供給する発光トリガ生成部であってもよい。遅延回路53には、通過タイミング信号Tm1に代えてトリガ生成器70からのトリガ信号Tm3が入力されてもよい。
ターゲット供給部26は、オンデマンド方式によってターゲット27を出力する構成であってもよい。ターゲット供給部26は、タンク61と、ノズル62と、電極66と、高電圧電源67と、引き出し電極68と、高電圧パルス生成電源69とを含んでいてもよい。
電極66は、タンク61内に貯蔵されたターゲット物質に接触することにより、タンク61内のターゲット物質に電気的に接続されていてもよい。電極66は、さらに、高電圧電源67の出力端子に電気的に接続されていてもよい。電極66に印加される電位は10kV〜20kVであってもよい。
引き出し電極68は、ターゲット27が通過するために貫通孔68aを有するリング状の電極であってもよい。引き出し電極68は、高電圧パルス生成電源69の出力端子に電気的に接続されていてもよい。
トリガ生成器70からのトリガ信号Tm3は、高電圧パルス生成電源69と、遅延回路53とに入力されてもよい。トリガ信号Tm3は、ターゲット27の供給を指示する供給トリガ信号であってもよい。トリガ生成器70は、供給トリガ信号を生成し、ターゲット供給部26に出力する供給トリガ生成部であってもよい。
8.2 動作
ターゲット制御部71は、トリガ生成器70に対して所定の周波数のパルス信号を生成するように制御信号を出力してもよい。トリガ生成器70は、生成したパルス信号をトリガ信号Tm3として、高電圧パルス生成電源69と、遅延回路53とに出力してもよい。遅延回路53は、トリガ信号Tm3を所定の遅延時間td1だけ遅延させて、発光トリガ信号TG1を生成し、その発光トリガ信号TG1をレーザ装置3のマスタオシレータ311に出力してもよい。その結果、マスタオシレータ311はトリガ生成器70で生成した所定の繰り返し周波数でパルスレーザ光31mを出力し得る。
トリガ生成器70からのトリガ信号Tm3が高電圧パルス生成電源69に入力されると、高電圧パルス生成電源69は、トリガ信号Tm3と同期して、引き出し電極68の電位を、例えば−5kVだけ降下させてもよい。この時、クーロン力によってターゲット物質がノズル62のノズル孔から引き出され、クーロン力が表面張力より大きくなると、ドロップレット状のターゲット27が形成し得る。以上のようにして、トリガ生成器70からのトリガ信号Tm3に同期して、ドロップレット状のターゲット27が生成し得る。
なお、この第5の実施形態におけるその他の構成及び動作は、上記第1ないし第4の実施形態と略同様であってもよい。
8.3 作用
この第5の実施形態によれば、ターゲット検出装置40を設置しなくても、マスタオシレータ311から所定の繰り返し周波数で常にパルスレーザ光31mが出力された状態で、バースト状のEUV光251を生成し得る。
[9.その他]
9.1 光シャッタ310の構成例
図14は、光シャッタ310の一構成例を示している。光シャッタ310は、ポッケルスセル394と、偏光子396とを含んでいてもよい。ポッケルスセル394は、高電圧電源393と、第1の電極395aと、第2の電極395bと、電気光学結晶395cとを含んでいてもよい。第1の電極395aと第2の電極395bとは対向配置され、それらの間に電気光学結晶395cが配置されていてもよい。
高電圧電源393は、上記の発光制御回路72A,72B,72D,または72Eから、光シャッタ310の制御信号を受信してもよい。高電圧電源393は、光シャッタ310の制御信号として光シャッタ310を開状態にする開信号を受信した場合に、0Vではない所定の高電圧を生成し、その電圧を第1の電極395aと第2の電極395bとの間に印加してもよい。高電圧電源393は、光シャッタ310の制御信号として光シャッタ310を閉状態にする閉信号を受信した場合に、第1の電極395aと第2の電極395bとの間に印加する電圧を0Vにしてもよい。
ポッケルスセル394は、第1の電極395aと第2の電極395bとの間に所定の高電圧を印加したときに、λ/2板と等価な機能となってもよい。第1の電極395aと第2の電極395bとの間に所定の高電圧が印加されていないときは、紙面に対して、垂直な直線偏光方向の光は、そのままの偏光状態で、電気光学結晶395cを透過し、偏光子396によって反射され得る。図14においては、紙面に対して垂直な方向に直線偏光した光はレーザ光路上に描画された黒丸で示し得る。ここで、所定の高電圧を印加すると、位相がλ/2ずれて、紙面に対して垂直な方向の直線偏光が、紙面を含む方向の直線偏光に変換され得る。図14においては、紙面を含む方向に直線偏光した光はレーザ光路上に描画された光路に垂直な矢印で示し得る。この光は、偏光子396を透過し得る。以上のように、光シャッタ310は、電気光学結晶395cに高電圧を印加している期間、光が透過し得る。
ポッケルスセル394は、1ns程度の応答性を有するので、高速の光シャッタとして使用可能である。また、光シャッタ310として、例えばAO(音響光学)素子を使用してもよい。この場合は、数100ns程度の応答性を有するので使用可能である。
9.2 光アイソレータの構成例
図15は、光アイソレータ400の一構成例を概略的に示す。他の光アイソレータ401,402,40k,40nも同様の構成であってもよい。光アイソレータ400は、図14の光シャッタ310の構成に対して、上流側の光路に、偏光子397とλ/2板398とをさらに追加した構成であってもよい。なお、図15において左側が上流側、右側が下流側であってもよい。高電圧電源393は、上記の発光制御回路72Cまたは72Dから、光アイソレータ400の制御信号を受信してもよい。偏光子396と偏光子397は、紙面を含む方向の直線偏光を透過するものであってもよい。λ/2板398は、偏光子397に対して下流側に配置されていてもよい。λ/2板398は、紙面を含む方向の直線偏光を、紙面に対して垂直な方向の直線偏光に変換するものであってもよい。
この光アイソレータ400は、第1の電極395aと第2の電極395bとの間に所定の高電圧を印加したときには、上流側と下流側の双方からの光を高透過し得る。すなわち、光アイソレータ400は開状態になり得る。第1の電極395aと第2の電極395bとの間に所定の高電圧を印加しないときには、上流側と下流側の双方からの光の透過を抑制し得る。すなわち、光アイソレータ400は閉状態になり得る。
9.3 制御部のハードウエア環境
当業者は、汎用コンピュータまたはプログラマブルコントローラにプログラムモジュールまたはソフトウエアアプリケーションを組み合わせて、ここに述べられる主題が実行されることを理解するだろう。一般的に、プログラムモジュールは、本開示に記載されるプロセスを実行できるルーチン、プログラム、コンポーネント、データストラクチャー等を含む。
図16は、開示される主題の様々な側面が実行され得る例示的なハードウエア環境を示すブロック図である。図16の例示的なハードウエア環境100は、処理ユニット1000と、ストレージユニット1005と、ユーザインターフェイス1010と、パラレルI/Oコントローラ1020と、シリアルI/Oコントローラ1030と、A/D、D/Aコンバータ1040とを含んでもよいが、ハードウエア環境100の構成は、これに限定されない。
処理ユニット1000は、中央処理ユニット(CPU)1001と、メモリ1002と、タイマ1003と、画像処理ユニット(GPU)1004とを含んでもよい。メモリ1002は、ランダムアクセスメモリ(RAM)とリードオンリーメモリ(ROM)とを含んでもよい。CPU1001は、市販のプロセッサのいずれでもよい。デュアルマイクロプロセッサや他のマルチプロセッサアーキテクチャが、CPU1001として使用されてもよい。
図16におけるこれらの構成物は、本開示において記載されるプロセスを実行するために、相互に接続されていてもよい。
動作において、処理ユニット1000は、ストレージユニット1005に保存されたプログラムを読み込んで、実行してもよい。また、処理ユニット1000は、ストレージユニット1005からプログラムと一緒にデータを読み込んでもよい。また、処理ユニット1000は、ストレージユニット1005にデータを書き込んでもよい。CPU1001は、ストレージユニット1005から読み込んだプログラムを実行してもよい。メモリ1002は、CPU1001によって実行されるプログラム及びCPU1001の動作に使用されるデータを、一時的に保管する作業領域であってもよい。タイマ1003は、時間間隔を計測して、プログラムの実行に従ってCPU1001に計測結果を出力してもよい。GPU1004は、ストレージユニット1005から読み込まれるプログラムに従って、画像データを処理し、処理結果をCPU1001に出力してもよい。
パラレルI/Oコントローラ1020は、レーザ装置3、遅延回路53、遅延回路86、及び遅延回路121等の、処理ユニット1000と通信可能なパラレルI/Oデバイスに接続されてもよく、処理ユニット1000とそれらパラレルI/Oデバイスとの間の通信を制御してもよい。シリアルI/Oコントローラ1030は、ワンショット回路54、ワンショット回路87、ワンショット回路90,91,…9n、及び圧力調節器65等の、処理ユニット1000と通信可能なシリアルI/Oデバイスに接続されてもよく、処理ユニット1000とそれらシリアルI/Oデバイスとの間の通信を制御してもよい。A/D、D/Aコンバータ1040は、アナログポートを介して、温度センサや圧力センサ、真空計各種センサ、及びターゲットセンサ4等のアナログデバイスに接続されてもよく、処理ユニット1000とそれらアナログデバイスとの間の通信を制御したり、通信内容のA/D、D/A変換を行ってもよい。
ユーザインターフェイス1010は、操作者が処理ユニット1000にプログラムの停止や、割込みルーチンの実行を指示できるように、処理ユニット1000によって実行されるプログラムの進捗を操作者に表示してもよい。
例示的なハードウエア環境100は、本開示におけるEUV光生成制御部5、レーザ光進行方向制御部34、発光制御システム部50、EUV制御部51、ターゲット制御部71、及び発光制御回路72A〜72Eの構成に適用されてもよい。当業者は、それらのコントローラが分散コンピューティング環境、すなわち、通信ネットワークを介して繋がっている処理ユニットによってタスクが実行される環境において実現されてもよいことを理解するだろう。本開示において、EUV光生成制御部5、レーザ光進行方向制御部34、発光制御システム部50、EUV制御部51、ターゲット制御部71、及び発光制御回路72A〜72Eは、イーサネット(登録商標)やインターネットといった通信ネットワークを介して互いに接続されてもよい。分散コンピューティング環境において、プログラムモジュールは、ローカル及びリモート両方のメモリストレージデバイスに保存されてもよい。
上記の説明は、制限ではなく単なる例示を意図したものである。従って、添付の特許請求の範囲を逸脱することなく本開示の実施形態に変更を加えることができることは、当業者には明らかであろう。
本明細書及び添付の特許請求の範囲全体で使用される用語は、「限定的でない」用語と解釈されるべきである。例えば、「含む」又は「含まれる」という用語は、「含まれるものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。「有する」という用語は、「有するものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。また、本明細書、及び添付の特許請求の範囲に記載される修飾句「1つの」は、「少なくとも1つ」又は「1又はそれ以上」を意味すると解釈されるべきである。

Claims (9)

  1. パルスレーザ光を、EUV光が生成されるチャンバの内部に供給するレーザ装置と、
    前記パルスレーザ光の光路上に配置された光シャッタと、
    外部装置から供給された、前記EUV光の生成を指示する生成信号に基づいて、前記光シャッタを開閉制御する制御部と
    を備えた極端紫外光生成システム。
  2. 前記パルスレーザ光の出力を指示する発光トリガ信号を生成し、前記レーザ装置に供給する発光トリガ生成部をさらに備えた
    請求項1に記載の極端紫外光生成システム。
  3. 前記レーザ装置から出力された前記パルスレーザ光が照射されるターゲットを、前記チャンバの内部に供給するターゲット供給部と、
    前記ターゲット供給部から供給される前記ターゲットの供給タイミングを検出し、前記供給タイミングを示す第1のタイミング信号を前記発光トリガ生成部に出力する検出部とをさらに備え、
    前記発光トリガ生成部は、
    前記第1のタイミング信号に基づいて、前記発光トリガ信号を生成する
    請求項2に記載の極端紫外光生成システム。
  4. 前記検出部から前記第1のタイミング信号が出力されていない期間に、第2のタイミング信号を生成し、前記第2のタイミング信号を前記発光トリガ生成部に出力するタイマ回路をさらに備え、
    前記発光トリガ生成部は、
    前記第1のタイミング信号と前記第2のタイミング信号とに基づいて、前記発光トリガ信号を生成する
    請求項3に記載の極端紫外光生成システム。
  5. 前記レーザ装置から出力された前記パルスレーザ光が照射されるターゲットを、前記チャンバの内部に供給するターゲット供給部と、
    前記ターゲットの供給を指示する供給トリガ信号を生成し、前記ターゲット供給部に出力する供給トリガ生成部とをさらに備え、
    前記発光トリガ生成部は、
    前記供給トリガ信号に基づいて、前記発光トリガ信号を生成する
    請求項2に記載の極端紫外光生成システム。
  6. 前記光シャッタを複数含み、
    前記制御部は、
    複数の前記光シャッタを、前記パルスレーザ光の光路上のそれぞれの配置位置に応じて、開閉タイミングを異ならせるように制御する
    請求項1に記載の極端紫外光生成システム。
  7. 複数の前記レーザ装置から出力された、それぞれのパルスレーザ光の光路上に、それぞれ別々に前記光シャッタが配置されている
    請求項1に記載の極端紫外光生成システム。
  8. 前記レーザ装置は、前記生成信号の供給の有無に関わらず常時、前記パルスレーザ光を出力する
    請求項1に記載の極端紫外光生成システム。
  9. 前記光シャッタは、光アイソレータである
    請求項1に記載の極端紫外光生成システム。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9238243B2 (en) * 2012-09-28 2016-01-19 Asml Netherlands B.V. System and method to adaptively pre-compensate for target material push-out to optimize extreme ultraviolet light production
US9426872B1 (en) * 2015-08-12 2016-08-23 Asml Netherlands B.V. System and method for controlling source laser firing in an LPP EUV light source
JP6649957B2 (ja) * 2015-09-24 2020-02-19 ギガフォトン株式会社 極端紫外光生成装置
WO2018092281A1 (ja) * 2016-11-18 2018-05-24 ギガフォトン株式会社 レーザ装置および極端紫外光生成装置
WO2022073240A1 (zh) * 2020-10-10 2022-04-14 深圳市冠科科技有限公司 无人杀菌系统控制装置、电路、方法及控制模块

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012191171A (ja) * 2011-02-25 2012-10-04 Gigaphoton Inc レーザ装置、それを備える極端紫外光生成装置およびレーザ光出力制御方法
JP2013065804A (ja) * 2010-12-20 2013-04-11 Gigaphoton Inc レーザ装置およびそれを備える極端紫外光生成システム

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7372056B2 (en) * 2005-06-29 2008-05-13 Cymer, Inc. LPP EUV plasma source material target delivery system
US8653437B2 (en) * 2010-10-04 2014-02-18 Cymer, Llc EUV light source with subsystem(s) for maintaining LPP drive laser output during EUV non-output periods
DE10339495B4 (de) 2002-10-08 2007-10-04 Xtreme Technologies Gmbh Anordnung zur optischen Detektion eines bewegten Targetstromes für eine gepulste energiestrahlgepumpte Strahlungserzeugung
JP5156192B2 (ja) * 2006-01-24 2013-03-06 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置
JP5603135B2 (ja) * 2009-05-21 2014-10-08 ギガフォトン株式会社 チャンバ装置におけるターゲット軌道を計測及び制御する装置及び方法
JP5765730B2 (ja) * 2010-03-11 2015-08-19 ギガフォトン株式会社 極端紫外光生成装置
US8462425B2 (en) * 2010-10-18 2013-06-11 Cymer, Inc. Oscillator-amplifier drive laser with seed protection for an EUV light source
JP2012216768A (ja) * 2011-03-30 2012-11-08 Gigaphoton Inc レーザシステム、極端紫外光生成システム、およびレーザ光生成方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013065804A (ja) * 2010-12-20 2013-04-11 Gigaphoton Inc レーザ装置およびそれを備える極端紫外光生成システム
JP2012191171A (ja) * 2011-02-25 2012-10-04 Gigaphoton Inc レーザ装置、それを備える極端紫外光生成装置およびレーザ光出力制御方法

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