JPWO2012108323A1 - Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method - Google Patents

Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method Download PDF

Info

Publication number
JPWO2012108323A1
JPWO2012108323A1 JP2012556847A JP2012556847A JPWO2012108323A1 JP WO2012108323 A1 JPWO2012108323 A1 JP WO2012108323A1 JP 2012556847 A JP2012556847 A JP 2012556847A JP 2012556847 A JP2012556847 A JP 2012556847A JP WO2012108323 A1 JPWO2012108323 A1 JP WO2012108323A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
measurement
antigen
angle
amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012556847A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5807645B2 (en
Inventor
謙一 宮田
謙一 宮田
茂昭 栃本
茂昭 栃本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP2012556847A priority Critical patent/JP5807645B2/en
Publication of JPWO2012108323A1 publication Critical patent/JPWO2012108323A1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5807645B2 publication Critical patent/JP5807645B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/648Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

抗原の検出の感度及び精度を向上する表面プラズモン励起蛍光計測装置及び表面プラズモン励起蛍光計測方法を提供する。分析チップの抗原捕捉体に抗原が捕捉され、抗原捕捉体に捕捉された抗原に蛍光標識抗体が結合させられる。励起光が分析チップへ入射したときに蛍光標識から放射される表面プラズモン励起蛍光の光量が測定される。抗原捕捉体に抗原が捕捉された後であって蛍光標識抗体が抗原に結合させられる前に共鳴角θrが測定される。共鳴角θrから測定角θmが決定される。反射面への励起光の入射角θが共鳴角θrに設定され、表面プラズモン励起蛍光の光量が測定される。Provided are a surface plasmon excitation fluorescence measurement device and a surface plasmon excitation fluorescence measurement method that improve the sensitivity and accuracy of antigen detection. The antigen is captured by the antigen capturing body of the analysis chip, and the fluorescently labeled antibody is bound to the antigen captured by the antigen capturing body. The amount of surface plasmon excitation fluorescence emitted from the fluorescent label when the excitation light enters the analysis chip is measured. The resonance angle θr is measured after the antigen is captured by the antigen capturing body and before the fluorescently labeled antibody is bound to the antigen. The measurement angle θm is determined from the resonance angle θr. The incident angle θ of the excitation light to the reflection surface is set to the resonance angle θr, and the amount of surface plasmon excitation fluorescence is measured.

Description

本発明は、表面プラズモン励起蛍光計測装置及び表面プラズモン励起蛍光計測方法に関する。   The present invention relates to a surface plasmon excitation fluorescence measurement device and a surface plasmon excitation fluorescence measurement method.

誘電体媒体の中を進む励起光が金属膜と誘電体媒体との界面に全反射された場合は、界面からエバネッセント波がもれだし、金属膜の中のプラズモンとエバネッセント波とが干渉する。界面への励起光の入射角が共鳴角に設定されプラズモンとエバネッセント波とが共鳴する場合にエバネッセント波の電場は著しく増強される。表面プラズモン励起蛍光分光法(SPFS)においては、この増強された電場が用いられる。すなわち、金属膜の表面に抗原が捕捉され、捕捉された抗原が蛍光標識され、増強された電場が蛍光標識に作用させられる。増強された電場が蛍光標識に作用した場合は、蛍光標識から蛍光が放射される。表面プラズモン励起蛍光分光法においては、蛍光標識から放射された蛍光の光量が測定される。   When the excitation light traveling in the dielectric medium is totally reflected at the interface between the metal film and the dielectric medium, the evanescent wave leaks from the interface, and the plasmon and the evanescent wave in the metal film interfere with each other. When the incident angle of the excitation light to the interface is set to the resonance angle and the plasmon and the evanescent wave resonate, the electric field of the evanescent wave is remarkably enhanced. In surface plasmon excited fluorescence spectroscopy (SPFS), this enhanced electric field is used. That is, the antigen is captured on the surface of the metal film, the captured antigen is fluorescently labeled, and an enhanced electric field is allowed to act on the fluorescent label. When the enhanced electric field acts on the fluorescent label, fluorescence is emitted from the fluorescent label. In surface plasmon excitation fluorescence spectroscopy, the amount of fluorescence emitted from a fluorescent label is measured.

特許文献1は、表面プラズモン励起蛍光分光法による抗原の検出に関する。特許文献1においては、抗原が蛍光標識された後に共鳴角が測定される。   Patent Document 1 relates to detection of an antigen by surface plasmon excitation fluorescence spectroscopy. In Patent Document 1, the resonance angle is measured after the antigen is fluorescently labeled.

特許第4370383号公報Japanese Patent No. 4370383

電場の増強度は励起光の入射角が共鳴角に設定された場合に著しく大きくなるので、表面プラズモン励起蛍光分光法により抗原を検出する場合には共鳴角を正確に特定することが重要である。   Since the intensity of the electric field is significantly increased when the incident angle of the excitation light is set to the resonance angle, it is important to accurately identify the resonance angle when detecting antigen by surface plasmon excitation fluorescence spectroscopy. .

しかし、従来の技術においては、抗原が捕捉される前に共鳴角が測定され、抗原濃度等による共鳴角の変化及び変化量のばらつきが無視され、共鳴角が正確に特定されていなかった。又は、特許文献1のように、抗原が蛍光標識された後に共鳴角が測定され、蛍光色素の退色の原因となっていた。これらはいずれも、表面プラズモン励起蛍光の光量が減少する原因になり、表面プラズモン励起蛍光の光量のばらつきが大きくなる原因になっている。したがって、従来の技術においては、抗原の検出の感度及び精度が十分でなかった。   However, in the prior art, the resonance angle is measured before the antigen is captured, the change in the resonance angle due to the antigen concentration or the like and the variation in the amount of change are ignored, and the resonance angle is not accurately specified. Or, as in Patent Document 1, the resonance angle was measured after the antigen was fluorescently labeled, causing the fading of the fluorescent dye. Both of these cause a decrease in the amount of surface plasmon excitation fluorescence, and cause a large variation in the amount of surface plasmon excitation fluorescence. Therefore, in the prior art, the sensitivity and accuracy of antigen detection are not sufficient.

本発明は、この問題を解決するためになされる。本発明の目的は、抗原の検出の感度及び精度を向上する表面プラズモン励起蛍光計測装置及び表面プラズモン励起蛍光計測方法を提供することである。   The present invention is made to solve this problem. An object of the present invention is to provide a surface plasmon excitation fluorescence measurement device and a surface plasmon excitation fluorescence measurement method that improve the sensitivity and accuracy of antigen detection.

本発明の第1から第7までの局面は、表面プラズモン励起蛍光計測装置に関する。   The first to seventh aspects of the present invention relate to a surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus.

(1)第1の局面においては、誘電体媒体、導電体膜及び抗原捕捉体が設けられる。誘電体媒体は、励起光に対して透明である。導電体膜の第1の主面は誘電体媒体の反射面に密着する。導電体膜の第2の主面は誘電体媒体の反射面に密着しない。抗原捕捉体は第2の主面に定着する。抗原捕捉体は抗原と結合する抗体を含む。   (1) In the first aspect, a dielectric medium, a conductor film, and an antigen capturing body are provided. The dielectric medium is transparent to the excitation light. The first main surface of the conductor film is in close contact with the reflective surface of the dielectric medium. The second main surface of the conductor film does not adhere to the reflective surface of the dielectric medium. The antigen capturing body is fixed on the second main surface. The antigen capturer includes an antibody that binds to the antigen.

光源から放射される励起光は誘電体媒体の入射面へ入射する。入射面へ入射した励起光は反射面に全反射される。反射面に全反射された励起光は出射面から出射する。   Excitation light emitted from the light source is incident on the incident surface of the dielectric medium. The excitation light incident on the incident surface is totally reflected on the reflecting surface. The excitation light totally reflected by the reflecting surface is emitted from the emitting surface.

反射面への励起光の入射角が走査されながら導電体膜及び抗原捕捉体から第2の主面が向く方向へ出射する光の光量が測定され、入射角と光量との関係が得られる。入射角と光量との関係から光量が極大になる共鳴角が特定され、共鳴角から測定角が決定される。入射角が測定角に設定され、導電体膜及び抗原捕捉体から第2の主面が向く方向へ出射する光の光量が測定され、第1の測定結果が取得される。   While the incident angle of the excitation light to the reflection surface is scanned, the amount of light emitted from the conductor film and the antigen capturing body in the direction toward the second main surface is measured, and the relationship between the incident angle and the amount of light is obtained. From the relationship between the incident angle and the light amount, the resonance angle at which the light amount is maximized is specified, and the measurement angle is determined from the resonance angle. The incident angle is set to the measurement angle, the amount of light emitted from the conductor film and the antigen capturing body in the direction in which the second main surface faces is measured, and the first measurement result is obtained.

試料が抗原捕捉体へ接触した後であって蛍光標識抗体含有物が抗原捕捉体へ接触する前に入射角と光量との関係が得られる。蛍光標識抗体含有物は蛍光標識され抗原と結合する蛍光標識抗体を含む。   The relationship between the incident angle and the amount of light is obtained after the sample has contacted the antigen capturing body and before the fluorescently labeled antibody-containing material has contacted the antigen capturing body. The fluorescently labeled antibody-containing material includes a fluorescently labeled antibody that is fluorescently labeled and binds to an antigen.

(2)第1の局面と第2の局面との違いは、共鳴角の特定にある。第2の局面においては、反射面への励起光の入射角が走査されながら反射面から出射する光の光量が測定され、入射角と光量との関係から光量が極小になる共鳴角が特定される。   (2) The difference between the first aspect and the second aspect is in specifying the resonance angle. In the second aspect, the amount of light emitted from the reflecting surface is measured while scanning the incident angle of the excitation light on the reflecting surface, and the resonance angle at which the amount of light is minimized is specified from the relationship between the incident angle and the amount of light. The

(3)第3の局面は、第1又は第2の局面にさらなる事項を付加する。第3の局面においては、蛍光標識抗体含有物が抗原捕捉体に接触させられる前であって入射角が測定角に設定された後に導電体膜及び抗原捕捉体から第2の主面が向く方向へ出射する光の光量が測定され、第2の測定結果が取得される。また、第1の測定結果から第2の測定結果が減じられる。   (3) The third aspect adds further matters to the first or second aspect. In the third aspect, the direction in which the second main surface faces from the conductor film and the antigen capturing body before the fluorescently labeled antibody-containing material is brought into contact with the antigen capturing body and after the incident angle is set to the measurement angle The amount of light emitted to is measured and a second measurement result is obtained. Further, the second measurement result is subtracted from the first measurement result.

(4)第4の局面は、第3の局面にさらなる事項を付加する。第4の局面においては、励起光の照射位置が走査されながら導電体膜及び抗原捕捉体から第2の主面が向く方向へ出射する光の光量が測定され、照射位置と光量との関係が得られる。照射位置と光量との関係から光量が極大値から同値だけ減少する第1の照射位置及び第2の照射位置が特定され、第1の照射位置及び第2の照射位置の中間が測定位置に決定される。照射位置は測定位置に設定される。   (4) The fourth aspect adds further matters to the third aspect. In the fourth aspect, the amount of light emitted from the conductor film and the antigen capturing body toward the second main surface is measured while the irradiation position of the excitation light is scanned, and the relationship between the irradiation position and the amount of light is can get. From the relationship between the irradiation position and the light amount, the first irradiation position and the second irradiation position at which the light amount decreases from the maximum value by the same value are specified, and the middle of the first irradiation position and the second irradiation position is determined as the measurement position. Is done. The irradiation position is set to the measurement position.

(5)第5の局面は、第1から第4までのいずれかの局面にさらなる事項を付加する。第5の局面においては、励起光が入射面へ導かれない遮断状態において導電体膜及び抗原捕捉体から第2の主面が向く方向へ出射する光の光量が測定され、第3の測定結果が取得される。また、第1の測定結果から第3の測定結果が減じられる。   (5) The fifth aspect adds further matters to any of the first to fourth aspects. In the fifth aspect, the amount of light emitted from the conductor film and the antigen capturing body in the direction in which the second main surface faces is measured in a blocking state where excitation light is not guided to the incident surface, and the third measurement result Is acquired. Further, the third measurement result is subtracted from the first measurement result.

(6)第6の局面は、第1から第5までのいずれかの局面にさらなる事項を付加する。第6の局面においては、励起光の偏光方向が走査されながら導電体膜及び抗原捕捉体から第2の主面が向く方向へ出射する光の光量が測定され、偏光方向と光量との関係が得られる。偏光方向と光量との関係から光量が極大になる偏光方向が特定され、測定が行われる測定偏光方向が決定される。偏光方向は測定方法に設定される。   (6) The sixth aspect adds further matters to any of the first to fifth aspects. In the sixth aspect, the amount of light emitted from the conductor film and the antigen capturing body toward the second main surface is measured while the polarization direction of the excitation light is scanned, and the relationship between the polarization direction and the amount of light is determined. can get. From the relationship between the polarization direction and the light amount, the polarization direction in which the light amount is maximized is specified, and the measurement polarization direction in which the measurement is performed is determined. The polarization direction is set in the measurement method.

(7)第7の局面は、第1から第6までのいずれかの局面にさらなる事項を付加する。第7の局面においては、第1の測定結果を得るために光量が測定されている間に励起光と同じ波長の光を選択的に減衰させるバンドパスフィルタが導電体膜及び抗原捕捉体から第2の主面が向く方向へ出射する光の光路に挿入される。   (7) The seventh aspect adds further matters to any one of the first to sixth aspects. In the seventh aspect, a band-pass filter that selectively attenuates light having the same wavelength as the excitation light while the light amount is measured to obtain the first measurement result is provided from the conductor film and the antigen capturing body. It is inserted into the optical path of the light emitted in the direction in which the main surface of 2 faces.

本発明の第8及び第9の局面は、表面プラズモン励起蛍光計測方法に関する。   The eighth and ninth aspects of the present invention relate to a surface plasmon excitation fluorescence measurement method.

(8)第8の局面においては、誘電体媒体、導電体膜及び抗原捕捉体を備える構造体が準備される。誘電体媒体は、励起光に対して透明である。導電体膜の第1の主面は誘電体媒体の反射面に密着する。導電体膜の第2の主面は誘電体媒体の反射面に密着しない。抗原捕捉体は抗原と結合する抗体を含む。抗原捕捉体は第2の主面に密着定着する。   (8) In the eighth aspect, a structure including a dielectric medium, a conductor film, and an antigen capturing body is prepared. The dielectric medium is transparent to the excitation light. The first main surface of the conductor film is in close contact with the reflective surface of the dielectric medium. The second main surface of the conductor film does not adhere to the reflective surface of the dielectric medium. The antigen capturer includes an antibody that binds to the antigen. The antigen capturing body adheres to and is fixed on the second main surface.

光源から放射される励起光は誘電体媒体の入射面へ入射し反射面に全反射され出射面から出射する。   The excitation light emitted from the light source enters the incident surface of the dielectric medium, is totally reflected by the reflecting surface, and exits from the emitting surface.

反射面への励起光の入射角が走査されながら散乱光の光量が測定され、入射角と光量との関係が得られる。入射角と光量との関係から光量が極大になる共鳴角が特定され、共鳴角から測定角が決定される。入射角が測定角に設定され、表面プラズモン励起蛍光の光量が測定される。   The amount of scattered light is measured while the incident angle of the excitation light on the reflecting surface is scanned, and the relationship between the incident angle and the amount of light is obtained. From the relationship between the incident angle and the light amount, the resonance angle at which the light amount is maximized is specified, and the measurement angle is determined from the resonance angle. The incident angle is set as the measurement angle, and the amount of surface plasmon excitation fluorescence is measured.

試料が抗原捕捉体へ接触した後であって蛍光標識抗体含有物が抗原捕捉体へ接触する前に入射角と光量との関係が得られる。蛍光標識抗体含有物は蛍光標識され抗原と結合する蛍光標識抗体を含む。   The relationship between the incident angle and the amount of light is obtained after the sample has contacted the antigen capturing body and before the fluorescently labeled antibody-containing material has contacted the antigen capturing body. The fluorescently labeled antibody-containing material includes a fluorescently labeled antibody that is fluorescently labeled and binds to an antigen.

(9)第8の局面と第9の局面との違いは、共鳴角の特定にある。第9の局面においては、反射面への励起光の入射角が走査されながら反射光の光量が測定され、入射角と光量との関係から光量が極小になる共鳴角が特定される。   (9) The difference between the eighth aspect and the ninth aspect is in specifying the resonance angle. In the ninth aspect, the light amount of the reflected light is measured while scanning the incident angle of the excitation light on the reflecting surface, and the resonance angle at which the light amount is minimized is specified from the relationship between the incident angle and the light amount.

第1、第2、第8及び第9の局面によれば、試料が抗原捕捉体に接触した後に入射角と光量との関係が測定され、試料中の抗原濃度等によらず共鳴角が正確に特定される。また、蛍光標識抗体含有物が抗原捕捉体に接触する前に入射角と光量との関係が測定され、蛍光色素が励起光により退色しにくくなる。これらにより、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   According to the first, second, eighth, and ninth aspects, the relationship between the incident angle and the amount of light is measured after the sample contacts the antigen capturing body, and the resonance angle is accurate regardless of the antigen concentration in the sample. Specified. In addition, the relationship between the incident angle and the amount of light is measured before the fluorescently labeled antibody-containing material contacts the antigen-capturing body, and the fluorescent dye is less likely to fade due to excitation light. These improve the sensitivity and accuracy of antigen detection.

第1及び第8の局面によれば、共鳴角と電場の増強度が最大になる入射角とのずれが小さくなり、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   According to the first and eighth aspects, the deviation between the resonance angle and the incident angle at which the enhancement of the electric field is maximized is reduced, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved.

本発明の第3の局面によれば、自家蛍光の光量の測定結果が減ぜられ、自家蛍光の影響が抑制され、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   According to the third aspect of the present invention, the measurement result of the amount of autofluorescence is reduced, the influence of autofluorescence is suppressed, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved.

本発明の第4の局面によれば、測定領域における励起光の光路長が一定になり、自家蛍光の光量の影響が一定になり、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   According to the fourth aspect of the present invention, the optical path length of the excitation light in the measurement region is constant, the influence of the amount of autofluorescence is constant, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved.

本発明の第5の局面によれば、暗ノイズの測定結果が減ぜられ、暗ノイズの影響が抑制され、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   According to the fifth aspect of the present invention, the measurement result of dark noise is reduced, the influence of dark noise is suppressed, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved.

本発明の第6の局面によれば、誘電体媒体の複屈折によるP波成分の減少が解消し、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   According to the sixth aspect of the present invention, the decrease of the P wave component due to the birefringence of the dielectric medium is eliminated, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved.

本発明の第7の局面によれば、主に表面プラズモン励起蛍光が光量センサへ導かれ、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   According to the seventh aspect of the present invention, surface plasmon excitation fluorescence is mainly guided to the light quantity sensor, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved.

これらの及びこれら以外の本発明の目的、特徴、局面及び利点は、添付図面とともに考慮されたときに下記の本発明の詳細な説明によってより明白となる。   These and other objects, features, aspects and advantages of the invention will become more apparent from the following detailed description of the invention when considered in conjunction with the accompanying drawings.

表面プラズモン励起蛍光計測装置の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows embodiment of a surface plasmon excitation fluorescence measuring device. 制御演算部のブロック図である。It is a block diagram of a control calculating part. 分析チップの断面図である。It is sectional drawing of an analysis chip. レーザーダイオードユニットの模式図である。It is a schematic diagram of a laser diode unit. 第1の整波器の模式図である。It is a schematic diagram of a 1st wave shaper. 偏光方向調整機構の模式図である。It is a schematic diagram of a polarization direction adjustment mechanism. 入射角調整機構の模式図である。It is a schematic diagram of an incident angle adjustment mechanism. 測定光光学系の模式図である。It is a schematic diagram of a measurement light optical system. 反応領域、測定領域及び照射領域の関係を示す平面図である。It is a top view which shows the relationship between a reaction area | region, a measurement area | region, and an irradiation area | region. 抗原の検出の手順の概略のフローチャートである。It is a flowchart with the outline of the procedure of the detection of an antigen. 測定の準備の手順のフローチャートである。It is a flowchart of the procedure of a measurement preparation. 入射角の測定角への設定の手順のフローチャートである。It is a flowchart of the procedure of the setting to the measurement angle of an incident angle. 照射位置の最適化の手順のフローチャートである。It is a flowchart of the procedure of optimization of an irradiation position. 照射位置と散乱光の光量との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between an irradiation position and the light quantity of scattered light. 励起光の偏光方向の最適化の手順のフローチャートである。It is a flowchart of the procedure of optimization of the polarization direction of excitation light. 表面プラズモン励起蛍光の光量の測定の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the measurement of the light quantity of surface plasmon excitation fluorescence. 反射光量センサが付加された状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the state to which the reflected light amount sensor was added.

(計測の概略)
この望ましい実施形態は、表面プラズモン励起蛍光分光法により抗原を検出する表面プラズモン励起蛍光計測装置及び表面プラズモン励起蛍光計測方法に関する。
(Outline of measurement)
This desirable embodiment relates to a surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus and a surface plasmon excitation fluorescence measurement method for detecting an antigen by surface plasmon excitation fluorescence spectroscopy.

この望ましい実施形態においては、分析チップの抗原捕捉体に抗原が捕捉され、抗原捕捉体に捕捉された抗原に蛍光標識抗体が結合させられる。励起光が分析チップへ入射したときに蛍光標識から放射される表面プラズモン励起蛍光の光量が測定される。抗原捕捉体に抗原が捕捉された後であって蛍光標識抗体が抗原に結合させられる前に共鳴角θrが測定される。抗原捕捉体に抗原が捕捉された後に共鳴角θrが測定されるので、抗原濃度等の共鳴角θrのかく乱要因にかかわらず共鳴角θrが正確に特定される。蛍光標識抗体が抗原に結合させられる前に共鳴角θrが測定されるので、蛍光色素が励起光により退色しにくくなる。これらにより、抗原の検出の精度及び感度が向上する。   In this desirable embodiment, the antigen is captured by the antigen capturing body of the analysis chip, and the fluorescently labeled antibody is bound to the antigen captured by the antigen capturing body. The amount of surface plasmon excitation fluorescence emitted from the fluorescent label when the excitation light enters the analysis chip is measured. The resonance angle θr is measured after the antigen is captured by the antigen capturing body and before the fluorescently labeled antibody is bound to the antigen. Since the resonance angle θr is measured after the antigen is captured by the antigen capturing body, the resonance angle θr is accurately specified regardless of the disturbance factor of the resonance angle θr such as the antigen concentration. Since the resonance angle θr is measured before the fluorescently labeled antibody is bound to the antigen, the fluorescent dye is not easily faded by excitation light. These improve the accuracy and sensitivity of antigen detection.

(表面プラズモン励起蛍光計測装置の概略)
図1の模式図は、表面プラズモン励起蛍光計測装置の望ましい実施形態を示す。
(Outline of surface plasmon excitation fluorescence measuring device)
The schematic diagram of FIG. 1 shows a preferred embodiment of a surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus.

表面プラズモン励起蛍光計測装置1000においては、レーザーダイオードユニット1002から放射された励起光9000が励起光光学系1004により分析チップ1006へ導かれる。分析チップ1006へ励起光9000が入射している間は、分析チップ1006から測定光9002及び反射光9004が出射する。測定光9002は、測定光光学系1008により光電子増倍管1010へ導かれる。反射光9004は、光吸収体1012に吸収される。   In the surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus 1000, the excitation light 9000 emitted from the laser diode unit 1002 is guided to the analysis chip 1006 by the excitation light optical system 1004. While the excitation light 9000 is incident on the analysis chip 1006, the measurement light 9002 and the reflected light 9004 are emitted from the analysis chip 1006. The measurement light 9002 is guided to the photomultiplier tube 1010 by the measurement light optical system 1008. The reflected light 9004 is absorbed by the light absorber 1012.

分析チップ1006には、送液機構1014により試料液9006及び蛍光標識液9008が順次に注入される。分析チップ1006は、測定が行われるときには、測定室1016に配置され、分析チップ保持機構1018に保持される。分析チップ1006は、試料液9006又は蛍光標識液9008が注入されるときには、前処理室1020に配置される。分析チップ1006は、分析チップ搬送機構1022により、前処理室1020から測定室1016へロードされ、測定室1016から前処理室1020へアンロードされる。分析チップ1006は、望ましくは、表面プラズモン励起蛍光計測装置1000に対して着脱され、検体9020ごとに交換される。ただし、分析チップ1006が再利用されてもよい。   A sample liquid 9006 and a fluorescent labeling liquid 9008 are sequentially injected into the analysis chip 1006 by a liquid feeding mechanism 1014. The analysis chip 1006 is arranged in the measurement chamber 1016 and is held in the analysis chip holding mechanism 1018 when measurement is performed. The analysis chip 1006 is placed in the pretreatment chamber 1020 when the sample solution 9006 or the fluorescent labeling solution 9008 is injected. The analysis chip 1006 is loaded from the pretreatment chamber 1020 to the measurement chamber 1016 and unloaded from the measurement chamber 1016 to the pretreatment chamber 1020 by the analysis chip transport mechanism 1022. The analysis chip 1006 is desirably attached to and detached from the surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus 1000 and is replaced for each specimen 9020. However, the analysis chip 1006 may be reused.

試料液9006が分析チップ1006に注入された後であって蛍光標識液9008が分析チップ1006に注入される前に、入射角調整機構1034により励起光9000の入射角θが走査され、測定光9002の光量が光電子増倍管1010に測定され、共鳴角θrが特定される。蛍光標識液9008が分析チップ1006に注入され入射角θが測定角θmに設定された後に、測定光9002の光量が光電子増倍管1010に測定される。測定結果は、ディスプレイ1024に表示される。   After the sample liquid 9006 is injected into the analysis chip 1006 and before the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the analysis chip 1006, the incident angle adjustment mechanism 1034 scans the incident angle θ of the excitation light 9000, and the measurement light 9002 is scanned. Is measured by the photomultiplier tube 1010, and the resonance angle θr is specified. After the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the analysis chip 1006 and the incident angle θ is set to the measurement angle θm, the light quantity of the measurement light 9002 is measured by the photomultiplier tube 1010. The measurement result is displayed on the display 1024.

表面プラズモン励起蛍光計測装置1000の構成物は制御演算部1026により制御され、制御演算部1026においては演算が行われる。   The components of the surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus 1000 are controlled by the control calculation unit 1026, and the control calculation unit 1026 performs calculation.

(制御演算部)
図2のブロック図は、制御演算部1026を示す。
(Control calculation part)
The block diagram of FIG. 2 shows the control calculation unit 1026.

図2に示される前処理制御部1104等の制御演算ブロック群による制御及び演算の内容は、抗原の検出の手順の説明の中で言及される。これらの制御演算ブロック群は、ソフトウエアを実行する組み込みコンピュータである。1個の組み込みコンピュータがこれらの制御演算ブロック群の機能を担ってもよいし、2個以上の組み込みコンピュータが分担してこれらの制御演算ブロック群の機能を担ってもよい。ソフトウエアを伴わないハードウエアがこれらの制御演算ブロック群の全部又は一部の機能を担ってもよい。ハードウエアは、電子回路であってもよいし、リンク機構等の機械的機構であってもよい。   The contents of the control and calculation by the control calculation block group such as the preprocessing control unit 1104 shown in FIG. 2 will be mentioned in the description of the antigen detection procedure. These control operation block groups are embedded computers that execute software. One embedded computer may be responsible for the functions of these control arithmetic block groups, or two or more embedded computers may be responsible for the functions of these control arithmetic block groups. Hardware without software may be responsible for all or part of the functions of these control operation block groups. The hardware may be an electronic circuit or a mechanical mechanism such as a link mechanism.

(分析チップ)
図3の模式図は、分析チップの断面を示す。
(Analysis chip)
The schematic diagram of FIG. 3 shows a cross section of the analysis chip.

図3に示すように、分析チップ1006においては、導電体膜1200の第1の主面1202がプリズム1204の反射面1206に密着し、導電体膜1200の第2の主面1210は反射面1206に密着しない。第2の主面1210には、抗原捕捉体1208が定着させられ、流路形成体1212の接合面1214が接合される。プリズム1204へ導かれた励起光9000は入射面1216へ入射し、入射面1216へ入射した励起光9000は照射領域1800において反射面1206に全反射され、反射光9004は出射面1218から出射する。散乱光及び蛍光は、導電体膜1200及び抗原捕捉体1208から第2の主面1210が向く側へ出射する。反射面1206に励起光9000が全反射条件を満たして入射する場合であって反射面1206からしみだすエバネッセント波と導電体膜1200の中のプラズモンとが共鳴するときには、導電体膜1200によりエバネッセント波の電場が増強され、散乱光及び蛍光の光量が増加する。分析チップ1006は、望ましくは、各片の長さが数mm〜数cmである構造物であるが、「チップ」の範疇に含まれないより小型の構造物又はより大型の構造物に置き換えられてもよい。   As shown in FIG. 3, in the analysis chip 1006, the first main surface 1202 of the conductor film 1200 is in close contact with the reflecting surface 1206 of the prism 1204, and the second main surface 1210 of the conductor film 1200 is the reflecting surface 1206. It does not adhere to. The antigen-capturing body 1208 is fixed to the second main surface 1210, and the joint surface 1214 of the flow path forming body 1212 is joined. The excitation light 9000 guided to the prism 1204 is incident on the incident surface 1216, and the excitation light 9000 incident on the incident surface 1216 is totally reflected by the reflection surface 1206 in the irradiation region 1800, and the reflected light 9004 is emitted from the emission surface 1218. Scattered light and fluorescence are emitted from the conductor film 1200 and the antigen capturing body 1208 to the side where the second main surface 1210 faces. When the excitation light 9000 is incident on the reflecting surface 1206 while satisfying the total reflection condition, and the evanescent wave that oozes from the reflecting surface 1206 resonates with the plasmon in the conductor film 1200, the conductor film 1200 causes the evanescent wave to resonate. The electric field is increased, and the amount of scattered light and fluorescence increases. The analysis chip 1006 is preferably a structure in which each piece has a length of several millimeters to several centimeters, but is replaced with a smaller structure or a larger structure not included in the category of “chip”. May be.

(プリズム)
プリズム1204は台形柱体である。台形柱体の一方の傾斜側面が入射面1216にされ、台形柱体の幅広の平行側面が反射面1206にされ、台形柱体の他方の傾斜側面が出射面1218にされる。プリズム1204は、望ましくは、等脚台形柱体である。これにより、入射面1216と出射面1218とが対称になり、反射光9004のS波成分がプリズム1204の内部に滞留しにくくなる。入射面1216、反射面1206及び出射面1218が備えられる限り、プリズム1204が台形柱体以外でもよく、プリズム1204が「プリズム」の範疇に含まれない形状物に置き換えられてもよい。
(prism)
The prism 1204 is a trapezoidal column. One inclined side surface of the trapezoidal column is an incident surface 1216, the wide parallel side surface of the trapezoidal column is a reflecting surface 1206, and the other inclined side surface of the trapezoidal column is an output surface 1218. The prism 1204 is preferably an isosceles trapezoidal column. Thereby, the incident surface 1216 and the exit surface 1218 are symmetric, and the S wave component of the reflected light 9004 is less likely to stay inside the prism 1204. As long as the entrance surface 1216, the reflection surface 1206, and the exit surface 1218 are provided, the prism 1204 may be other than the trapezoidal column, and the prism 1204 may be replaced with a shape not included in the category of “prism”.

プリズム1204は、励起光9000に対して透明な材質からなる誘電体媒体である。プリズム1204は、ガラス、樹脂等からなる。プリズム1204は、望ましくは、屈折率が1.4〜1.6であって複屈折が小さい樹脂からなる。   The prism 1204 is a dielectric medium made of a material that is transparent to the excitation light 9000. The prism 1204 is made of glass, resin, or the like. The prism 1204 is preferably made of a resin having a refractive index of 1.4 to 1.6 and a small birefringence.

(導電体膜)
導電体膜1200は、表面プラズモン共鳴を発生させる導電体からなる。導電体膜1200は、望ましくは、金からなる。ただし、導電体膜1200が、銀、銅、アルミニウム等の金属又はこれらの金属を含む合金からなってもよい。
(Conductor film)
The conductor film 1200 is made of a conductor that generates surface plasmon resonance. The conductor film 1200 is preferably made of gold. However, the conductor film 1200 may be made of a metal such as silver, copper, or aluminum, or an alloy containing these metals.

導電体膜1200は、薄膜である。導電体膜1200の膜厚は、望ましくは、30〜70nmである。ただし、導電体膜1200の膜厚がこの範囲外であってもよい。   The conductor film 1200 is a thin film. The film thickness of the conductor film 1200 is desirably 30 to 70 nm. However, the film thickness of the conductor film 1200 may be outside this range.

導電体膜1200は、スパッタリング、蒸着、メッキ等により形成される。ただし、導電体膜1200が他の方法により形成されてもよい。   The conductor film 1200 is formed by sputtering, vapor deposition, plating, or the like. However, the conductor film 1200 may be formed by other methods.

(抗原捕捉体)
抗原捕捉体1208は、非流動体からなる。したがって、試料液9006又は蛍光標識液9008が抗原捕捉体1208に接触しても、抗原捕捉体1208は移動しない。
(Antigen trap)
The antigen capturing body 1208 is made of a non-fluid body. Therefore, even when the sample liquid 9006 or the fluorescent labeling liquid 9008 comes into contact with the antigen capturing body 1208, the antigen capturing body 1208 does not move.

抗原捕捉体1208は、検出対象の抗原と結合する抗体を含む。抗体は、均一に分布する。検出対象の抗原を含む試料液9006が抗原捕捉体1208に接触した場合は、試料液9006に含まれる検出対象の抗原が抗原捕捉体1208に含まれる抗体と結合し、試料液9006に含まれる検出対象の抗原が抗原捕捉体1208に捕捉される。   Antigen capturing body 1208 includes an antibody that binds to the antigen to be detected. The antibody is evenly distributed. When the sample liquid 9006 containing the antigen to be detected comes into contact with the antigen capturing body 1208, the antigen to be detected contained in the sample liquid 9006 binds to the antibody contained in the antigen capturing body 1208 and is detected in the sample liquid 9006. The antigen of interest is captured by the antigen capturing body 1208.

(流路形成体)
流路形成体1212には、流路1220が形成される。流路1220の途中には反応室1222がある。反応室1222は、接合面1214に露出する。反応室1222の平面位置と抗原捕捉体1208の平面位置とは一致させられ、抗原捕捉体1208は反応室1222に露出する。流路1220へ試料液9006又は蛍光標識液9008が注入された場合は、それぞれ、試料液9006又は蛍光標識液9008で反応室1222が満たされ、試料液9006又は蛍光標識液9008が抗原捕捉体1208に接触する。流路1220は、流路形成体1212の非接合面1224に露出し、非接合面1224には試料液9006及び蛍光標識液9008の注入口1226が形成される。
(Channel formation body)
A flow path 1220 is formed in the flow path forming body 1212. A reaction chamber 1222 is in the middle of the flow path 1220. The reaction chamber 1222 is exposed at the joint surface 1214. The planar position of the reaction chamber 1222 and the planar position of the antigen capturing body 1208 are matched, and the antigen capturing body 1208 is exposed to the reaction chamber 1222. When the sample liquid 9006 or the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the channel 1220, the reaction chamber 1222 is filled with the sample liquid 9006 or the fluorescent labeling liquid 9008, respectively, and the sample liquid 9006 or the fluorescent labeling liquid 9008 is the antigen capturing body 1208. To touch. The flow path 1220 is exposed to the non-bonding surface 1224 of the flow path forming body 1212, and the inlet 1226 for the sample liquid 9006 and the fluorescent labeling liquid 9008 is formed on the non-bonding surface 1224.

接合面1214と第2の主面1210とは、接着、レーザー溶着、超音波溶着、クランプ圧着等により接合される。ただし、接合面1214と第2の主面1210とが他の方法により接合されてもよい。   The joint surface 1214 and the second main surface 1210 are joined by adhesion, laser welding, ultrasonic welding, clamp pressure bonding, or the like. However, the bonding surface 1214 and the second main surface 1210 may be bonded by other methods.

流路形成体1212は、散乱光及び表面プラズモン励起蛍光に対して透明な材質からなる。流路形成体1212は、例えば、樹脂等からなる。   The flow path forming body 1212 is made of a material transparent to scattered light and surface plasmon excitation fluorescence. The flow path forming body 1212 is made of, for example, resin.

流路形成体1212は、試料液9006又は蛍光標識液9008の飛散を防止し、抗原捕捉体1208に接触する試料液9006又は蛍光標識液9008の量を一定にすることに寄与する。しかし、流路形成体1212が省略され、抗原捕捉体1208の上に試料液9006又は蛍光標識液9008が直接的に滴下されてもよい。   The flow path forming body 1212 prevents the sample liquid 9006 or the fluorescent labeling liquid 9008 from scattering and contributes to making the amount of the sample liquid 9006 or the fluorescent labeling liquid 9008 in contact with the antigen capturing body 1208 constant. However, the flow path forming body 1212 may be omitted, and the sample liquid 9006 or the fluorescent labeling liquid 9008 may be dropped directly on the antigen capturing body 1208.

(レーザーダイオードユニット)
図4の模式図は、レーザーダイオードユニットを示す。
(Laser diode unit)
The schematic diagram of FIG. 4 shows a laser diode unit.

図4に示すように、レーザーダイオードユニット1002においては、レーザーダイオード1300から放射されたビーム9010がビームスプリッタ1302により主ビーム9012と副ビーム9014とに分割される。主ビーム9012は、コリメータ1304によりコリメート化され、レーザーダイオードユニット1002から励起光9000として放射される。   As shown in FIG. 4, in the laser diode unit 1002, the beam 9010 emitted from the laser diode 1300 is split into a main beam 9012 and a sub beam 9014 by a beam splitter 1302. The main beam 9012 is collimated by a collimator 1304 and emitted as excitation light 9000 from the laser diode unit 1002.

励起光9000がコリメート化されても励起光9000のビームの断面形状は扁平形である。照射領域1800の平面形状を円形に近づけるために、励起光9000の光路を含み反射面1206に垂直な面に楕円形の短軸が含まれるような姿勢でレーザーダイオード1300がレーザーダイオード保持機構1306により保持される。   Even if the excitation light 9000 is collimated, the cross-sectional shape of the beam of the excitation light 9000 is flat. In order to make the planar shape of the irradiation region 1800 close to a circle, the laser diode 1300 is moved by the laser diode holding mechanism 1306 in such a posture that an elliptical short axis is included in a plane perpendicular to the reflection surface 1206 including the optical path of the excitation light 9000. Retained.

レーザーダイオード1300から放射されるレーザー光の波長及び光量が温度に依存する場合は、望ましくは、レーザーダイオード1300が温度調整回路1308に制御される。温度調整回路1308においては、副ビーム9014の光量がフォトダイオード1310により測定され、副ビーム9014の光量の測定結果が一定に維持されるようにレーザーダイオード1300へ供給される電力が電力供給制御回路1312により回帰制御される。これにより、レーザーダイオード1300の温度が一定に維持され、励起光9000の波長及び光量が一定に維持される。フォトダイオード1310がフォトトランジスタ、フォトレジスタ等の他の光量センサに置き換えられてもよい。励起光9000の波長は共鳴角θr及びエバネッセント波のしみだし量に影響するので、温度調整回路1308は抗原の検出の精度及び感度の向上に寄与する。   When the wavelength and light amount of the laser light emitted from the laser diode 1300 depend on the temperature, the laser diode 1300 is desirably controlled by the temperature adjustment circuit 1308. In the temperature adjustment circuit 1308, the light amount of the sub beam 9014 is measured by the photodiode 1310, and the power supplied to the laser diode 1300 is maintained so that the measurement result of the light amount of the sub beam 9014 is kept constant. Is controlled by regression. Thereby, the temperature of the laser diode 1300 is kept constant, and the wavelength and light amount of the excitation light 9000 are kept constant. The photodiode 1310 may be replaced with another light quantity sensor such as a phototransistor or a photoresistor. Since the wavelength of the excitation light 9000 affects the resonance angle θr and the amount of evanescent wave oozing, the temperature adjustment circuit 1308 contributes to the improvement in the accuracy and sensitivity of antigen detection.

レーザーダイオード1300の温度が定常温度になるまでに長時間を要する場合は、表面プラズモン励起蛍光計測装置1000の運転が開始されたときからレーザーダイオード1300へ電力が常時供給される。   When it takes a long time for the temperature of the laser diode 1300 to reach a steady temperature, power is constantly supplied to the laser diode 1300 from the start of the operation of the surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus 1000.

レーザーダイオード1300から放射される励起光9000の偏光方向は、概ね、特定の方向に偏在する。   The polarization direction of the excitation light 9000 emitted from the laser diode 1300 is generally unevenly distributed in a specific direction.

レーザーダイオード1300が発光ダイオード、水銀灯、レーザーダイオード以外のレーザー等の他の光源に置き換えられてもよい。光源から放射される光がビームでない場合は、レンズ、鏡、スリット等により光がビームに変換される。光源から放射される光が単色光でない場合は、回折格子等により光が単色光に変換される。光源から放射される光が直線偏光でない場合は、偏光子等により光が直線偏光に変換される。   The laser diode 1300 may be replaced with another light source such as a light emitting diode, a mercury lamp, or a laser other than the laser diode. When the light emitted from the light source is not a beam, the light is converted into a beam by a lens, a mirror, a slit, or the like. When the light emitted from the light source is not monochromatic light, the light is converted into monochromatic light by a diffraction grating or the like. When the light emitted from the light source is not linearly polarized light, the light is converted into linearly polarized light by a polarizer or the like.

(励起光光学系)
図1に示すように、励起光9000は、励起光光学系1004によりレーザーダイオードユニット1002から分析チップ1006へ導かれる間に、第1の整波器1028、偏光方向調整機構1030、整形光学系1032及び入射角調整機構1034を順次に通過する。励起光9000が第1の整波器1028を通過するときに励起光9000が整波される。励起光9000が偏光方向調整機構1030を通過するときに反射面1206に主にP波成分が入射するように励起光9000の偏光方向が調整される。励起光9000が整形光学系1032を通過するときに励起光9000のビームの断面形状がスリット、ズーム光学系等により整形される。励起光9000が入射角調整機構1034を通過するときに反射面1206への励起光9000の入射角θが調整される。
(Excitation light optical system)
As shown in FIG. 1, while the excitation light 9000 is guided from the laser diode unit 1002 to the analysis chip 1006 by the excitation light optical system 1004, the first wave rectifier 1028, the polarization direction adjustment mechanism 1030, and the shaping optical system 1032. And the incident angle adjusting mechanism 1034 sequentially. When the excitation light 9000 passes through the first wave shaper 1028, the excitation light 9000 is tuned. The polarization direction of the excitation light 9000 is adjusted so that the P wave component is mainly incident on the reflection surface 1206 when the excitation light 9000 passes through the polarization direction adjusting mechanism 1030. When the excitation light 9000 passes through the shaping optical system 1032, the cross-sectional shape of the beam of the excitation light 9000 is shaped by a slit, a zoom optical system, or the like. When the excitation light 9000 passes through the incident angle adjustment mechanism 1034, the incident angle θ of the excitation light 9000 on the reflection surface 1206 is adjusted.

(第1の整波器)
図5の模式図は、第1の整波器を示す。
(First wave rectifier)
The schematic diagram of FIG. 5 shows a first wave rectifier.

図5に示すように、励起光9000は、第1の整波器1028を通過するときに、第1のバンドパスフィルタ1400、直線偏光フィルタ1402及び減光フィルタ1404を順次に通過する。第1の整波器1028がこれら以外の光学フィルタを備えてもよい。第1の整波器1028が光学フィルタ以外の光学素子を備えてもよい。   As shown in FIG. 5, the excitation light 9000 sequentially passes through the first bandpass filter 1400, the linear polarization filter 1402, and the neutral density filter 1404 when passing through the first wave shaper 1028. The first wave adjuster 1028 may include other optical filters. The first wave adjuster 1028 may include an optical element other than the optical filter.

励起光9000が第1のバンドパスフィルタ1400を透過するときに、励起光9000の波長の分布が狭められる。これにより、レーザーダイオードユニット1002から放射された励起光9000の波長の分布が広くても、波長の分布が狭い励起光9000が得られる。レーザーダイオードユニット1002から放射された励起光9000の波長の分布が十分に狭い場合は、第1のバンドパスフィルタ1400が省略されてもよい。   When the excitation light 9000 passes through the first bandpass filter 1400, the wavelength distribution of the excitation light 9000 is narrowed. Thereby, even if the wavelength distribution of the excitation light 9000 emitted from the laser diode unit 1002 is wide, the excitation light 9000 having a narrow wavelength distribution can be obtained. When the wavelength distribution of the excitation light 9000 emitted from the laser diode unit 1002 is sufficiently narrow, the first bandpass filter 1400 may be omitted.

励起光9000が直線偏光フィルタ1402を透過するときに、励起光9000の偏光方向の分布が狭められる。これにより、レーザーダイオードユニット1002から放射された励起光9000の偏光方向の分布が広くても、偏光方向の分布が狭い励起光9000が得られる。レーザーダイオードユニット1002から放射された励起光9000の偏光方向の分布が十分に狭い場合は、直線偏光フィルタ1402が省略されてもよい。   When the excitation light 9000 passes through the linear polarization filter 1402, the distribution of the polarization direction of the excitation light 9000 is narrowed. Thereby, even if the distribution of the polarization direction of the excitation light 9000 emitted from the laser diode unit 1002 is wide, the excitation light 9000 having a narrow distribution of the polarization direction can be obtained. When the distribution of the polarization direction of the excitation light 9000 emitted from the laser diode unit 1002 is sufficiently narrow, the linear polarization filter 1402 may be omitted.

励起光9000が減光フィルタ1404を透過するときに、励起光9000の光量が減少させられる。レーザーダイオードユニット1002から放射された励起光9000の光量が適切である場合は、減光フィルタ1404が省略されてもよい。   When the excitation light 9000 passes through the neutral density filter 1404, the light amount of the excitation light 9000 is decreased. If the amount of excitation light 9000 emitted from the laser diode unit 1002 is appropriate, the neutral density filter 1404 may be omitted.

(偏光方向調整機構)
図6の模式図は、偏光方向調整機構を示す。
(Polarization direction adjustment mechanism)
The schematic diagram of FIG. 6 shows a polarization direction adjusting mechanism.

図6に示すように、偏光方向調整機構1030においては、半波長板1500に垂直な回転軸の周りに半波長板1500が半波長板回転機構1502により回転させられる。半波長板回転機構1502は、ロータリーステッピングモータ等により半波長板1500を自転させる。半波長板1500を透過する励起光9000の偏光方向は、半波長板1500の回転角により調整される。励起光9000の偏光方向は、反射面1206からのエバネッセント波のしみだしが最大になる偏光方向と反射面1206からのエバネッセント波のしみだしがなくなる偏光方向との間に調整されうる。初期状態においては、反射面1206に主にP波成分が入射すると予想される回転角に半波長板1500の回転角が設定される。   As shown in FIG. 6, in the polarization direction adjusting mechanism 1030, the half-wave plate 1500 is rotated by the half-wave plate rotation mechanism 1502 around a rotation axis perpendicular to the half-wave plate 1500. Half-wave plate rotating mechanism 1502 rotates half-wave plate 1500 by a rotary stepping motor or the like. The polarization direction of the excitation light 9000 that passes through the half-wave plate 1500 is adjusted by the rotation angle of the half-wave plate 1500. The polarization direction of the excitation light 9000 can be adjusted between the polarization direction in which the oozing of the evanescent wave from the reflecting surface 1206 is maximized and the polarization direction in which the oozing of the evanescent wave from the reflecting surface 1206 is eliminated. In the initial state, the rotation angle of the half-wave plate 1500 is set to the rotation angle at which the P-wave component is expected to be incident on the reflecting surface 1206.

偏光方向調整機構1030が、光軸の周りにレーザーダイオードユニット1002又はレーザーダイオード1300を回転させる機構に置き換えられてもよい。後記の偏光方向の最適化が省略される場合は、半波長板回転機構1502が省略され、半波長板1500が固定されてもよい。後記の偏光方向の最適化が省略されるとともに反射面1206に主にP波成分が入射する姿勢でレーザーダイオードユニット1002又はレーザーダイオード1300が保持される場合は、半波長板1500及び半波長板回転機構1502が省略されてもよい。   The polarization direction adjusting mechanism 1030 may be replaced with a mechanism that rotates the laser diode unit 1002 or the laser diode 1300 around the optical axis. When optimization of the polarization direction described later is omitted, the half-wave plate rotation mechanism 1502 may be omitted and the half-wave plate 1500 may be fixed. When the optimization of the polarization direction described later is omitted and the laser diode unit 1002 or the laser diode 1300 is held in a posture where the P-wave component is mainly incident on the reflection surface 1206, the half-wave plate 1500 and the half-wave plate rotation The mechanism 1502 may be omitted.

(入射角調整機構)
図7の模式図は、入射角調整機構を示す。
(Incident angle adjustment mechanism)
The schematic diagram of FIG. 7 shows an incident angle adjustment mechanism.

図7に示すように、励起光9000は、入射角調整機構1034を通過するときに反射鏡1600に反射され、励起光9000の進む方向が第1の方向9016から分析チップ1006へ向かう第2の方向9018へ屈曲させられる。   As shown in FIG. 7, the excitation light 9000 is reflected by the reflecting mirror 1600 when passing through the incident angle adjustment mechanism 1034, and the traveling direction of the excitation light 9000 is the second direction from the first direction 9016 toward the analysis chip 1006. Bent in direction 9018.

入射角調整機構1034により入射角θが調整される場合は、反射鏡角度調整機構1602により反射鏡角度が調整されながら、入射角θの変化による照射位置Xの移動をキャンセルするように反射鏡位置調整機構1604により反射鏡位置が調整される。これにより、入射角θのみが調整され、反射面1206における励起光9000の照射位置Xが維持される。   When the incident angle θ is adjusted by the incident angle adjusting mechanism 1034, the position of the reflecting mirror is set so as to cancel the movement of the irradiation position X due to the change of the incident angle θ while the reflecting mirror angle is adjusted by the reflecting mirror angle adjusting mechanism 1602. The reflecting mirror position is adjusted by the adjusting mechanism 1604. Thereby, only incident angle (theta) is adjusted and the irradiation position X of the excitation light 9000 in the reflective surface 1206 is maintained.

入射角調整機構1034により照射位置Xが調整される場合は、反射鏡角度が固定され、反射鏡位置調整機構1604により反射鏡位置が調整される。これにより、照射位置Xのみが調整され、入射角θが維持される。   When the irradiation position X is adjusted by the incident angle adjusting mechanism 1034, the reflecting mirror angle is fixed, and the reflecting mirror position adjusting mechanism 1604 adjusts the reflecting mirror position. Thereby, only the irradiation position X is adjusted and the incident angle θ is maintained.

励起光9000が入射面1216へ導かれない遮断状態に入射角調整機構1034がされる場合は、反射鏡角度調整機構1602により反射鏡角度が調整され、反射鏡1600の光吸収面に励起光9000が当てられる。励起光9000が入射面1216へ導かれる非遮断状態に入射角調整機構1034がされる場合は、反射鏡角度調整機構1602により反射鏡角度が調整され、反射鏡1600の鏡面に励起光9000が当てられる。反射鏡角度調整機構1602以外の機構により遮断状態と非遮断状態とが切り替えられてもよい。例えば、励起光9000の光路に光吸収体が挿抜されてもよい。   When the incident angle adjustment mechanism 1034 is in a blocking state where the excitation light 9000 is not guided to the incident surface 1216, the reflection mirror angle is adjusted by the reflection mirror angle adjustment mechanism 1602, and the excitation light 9000 is applied to the light absorption surface of the reflection mirror 1600. Is applied. When the incident angle adjustment mechanism 1034 is in a non-blocking state where the excitation light 9000 is guided to the incident surface 1216, the reflection mirror angle is adjusted by the reflection mirror angle adjustment mechanism 1602, and the excitation light 9000 strikes the mirror surface of the reflection mirror 1600. It is done. The blocking state and the non-blocking state may be switched by a mechanism other than the reflector angle adjustment mechanism 1602. For example, a light absorber may be inserted into and removed from the optical path of the excitation light 9000.

反射鏡角度調整機構1602は、ロータリーステッピングモータ等により鏡面に平行な回転軸の周りに反射鏡1600を自転させ、反射鏡角度を調整する。   The reflecting mirror angle adjustment mechanism 1602 adjusts the reflecting mirror angle by rotating the reflecting mirror 1600 around a rotation axis parallel to the mirror surface by a rotary stepping motor or the like.

反射鏡位置調整機構1604は、リニアステージ等の上においてリニアステッピングモータ等により第1の方向9016に沿って反射鏡角度調整機構1602とともに反射鏡1600を移動させ、反射鏡位置を調整する。   The reflecting mirror position adjusting mechanism 1604 moves the reflecting mirror 1600 together with the reflecting mirror angle adjusting mechanism 1602 along the first direction 9016 by a linear stepping motor or the like on the linear stage or the like to adjust the reflecting mirror position.

入射角調整機構1034には、簡単な機構により入射角θ及び照射位置Xを調整できるという利点がある。ただし、レーザーダイオードユニット1002の位置及び姿勢を調整する機構により入射角θ及び照射位置Xが調整されてもよい。又は、分析チップ1006の位置及び姿勢を調整する機構により入射角θ及び照射位置Xが調整されてもよい。   The incident angle adjusting mechanism 1034 has an advantage that the incident angle θ and the irradiation position X can be adjusted by a simple mechanism. However, the incident angle θ and the irradiation position X may be adjusted by a mechanism that adjusts the position and posture of the laser diode unit 1002. Alternatively, the incident angle θ and the irradiation position X may be adjusted by a mechanism that adjusts the position and posture of the analysis chip 1006.

(測定光光学系)
図8の模式図は、測定光光学系を示す。
(Measurement optical system)
The schematic diagram of FIG. 8 shows a measurement light optical system.

図8に示すように、第2の主面1210が向く側へ出射する測定光9002は、測定光光学系1008により光電子増倍管1010へ導かれる。測定光光学系1008においては、測定光9002は、集光レンズ1700により集光され平行光に変換され、第2の整波器1702を通過し、結像レンズ1704により光電子増倍管1010に結像される。   As shown in FIG. 8, the measurement light 9002 emitted to the side on which the second major surface 1210 faces is guided to the photomultiplier tube 1010 by the measurement light optical system 1008. In the measurement light optical system 1008, the measurement light 9002 is collected by the condenser lens 1700, converted into parallel light, passes through the second wave multiplier 1702, and is connected to the photomultiplier tube 1010 by the imaging lens 1704. Imaged.

集光レンズ1700及び結像レンズ1704は共役光学系を構成する。これにより、迷光の影響が抑制される。   The condensing lens 1700 and the imaging lens 1704 constitute a conjugate optical system. Thereby, the influence of stray light is suppressed.

第2の整波器1702においては、第2のバンドパスフィルタ1706が挿抜機構1708により測定光9002の光路に挿抜される。   In the second wave rectifier 1702, the second band pass filter 1706 is inserted into and removed from the optical path of the measurement light 9002 by the insertion / extraction mechanism 1708.

表面プラズモン励起蛍光の光量が測定される場合は、測定光9002の光路へ第2のバンドパスフィルタ1706が挿入され、第2のバンドパスフィルタ1706により励起光9000と同じ波長の光が選択的に減衰させられる。これにより、散乱光が減衰し、主に表面プラズモン励起蛍光が光電子増倍管1010へ導かれ、抗原の検出の感度及び精度が向上する。散乱光の光量が測定される場合は、測定光9002の光路から第2のバンドパスフィルタ1706が抜去される。   When the amount of surface plasmon excitation fluorescence is measured, a second bandpass filter 1706 is inserted into the optical path of the measurement light 9002, and light having the same wavelength as the excitation light 9000 is selectively transmitted by the second bandpass filter 1706. Attenuated. Thereby, the scattered light is attenuated, and mainly the surface plasmon excitation fluorescence is guided to the photomultiplier tube 1010, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved. When the amount of scattered light is measured, the second band pass filter 1706 is removed from the optical path of the measurement light 9002.

測定光9002の光路に挿抜機構により減光フィルタが挿抜されてもよい。表面プラズモン励起蛍光の光量が測定される場合は、測定光9002の光路から減光フィルタが抜去される。散乱光の光量が測定される場合は、測定光9002の光路へ減光フィルタが挿入される。これにより、光電子増倍管1010へ導かれる表面プラズモン励起蛍光及び散乱光の光量の差が小さくなり、光量の測定が容易になる。表面プラズモン励起蛍光の光量が相対的に高感度の光電子増倍管1010により測定され、散乱光の光量が相対的に低感度のフォトダイオード、フォトトランジスタ、フォトレジスタ等により測定されてもよい。   A neutral density filter may be inserted into and removed from the optical path of the measurement light 9002 by an insertion / extraction mechanism. When the amount of surface plasmon excitation fluorescence is measured, the neutral density filter is removed from the optical path of the measurement light 9002. When the amount of scattered light is measured, a neutral density filter is inserted into the optical path of the measurement light 9002. Thereby, the difference between the light amounts of the surface plasmon excitation fluorescence guided to the photomultiplier tube 1010 and the scattered light is reduced, and the light amount can be easily measured. The amount of surface plasmon excitation fluorescence may be measured by a relatively high sensitivity photomultiplier tube 1010, and the amount of scattered light may be measured by a relatively low sensitivity photodiode, phototransistor, photoresistor, or the like.

(光電子増倍管)
測定光9002の光量は光電子増倍管1010により測定される。光電子増倍管1010には感度及び信号対雑音比が良好であるという利点がある。ただし、光電子増倍管1010が冷却電荷結合素子(CCD)カメラ等の他の光量センサに置き換えられてもよい。
(Photomultiplier tube)
The amount of measurement light 9002 is measured by a photomultiplier tube 1010. The photomultiplier tube 1010 has the advantage of good sensitivity and good signal to noise ratio. However, the photomultiplier tube 1010 may be replaced with another light quantity sensor such as a cooled charge coupled device (CCD) camera.

(送液機構)
図1に示すように、送液機構1014により流路1220へ試料液9006が注入されるときは、分析チップ1006及び試薬チップ1036が前処理室1020に配置される。また、送液ポンプ1040により試薬チップ1036の希釈容器1042から試料液9006が吸引され、送液ポンプ1040が送液ポンプ搬送機構1044により搬送され、送液ポンプ1040により注入口1226へ試料液9006が吐出される。
(Liquid feeding mechanism)
As shown in FIG. 1, when the sample liquid 9006 is injected into the flow path 1220 by the liquid feeding mechanism 1014, the analysis chip 1006 and the reagent chip 1036 are arranged in the pretreatment chamber 1020. In addition, the sample liquid 9006 is sucked from the dilution container 1042 of the reagent chip 1036 by the liquid feed pump 1040, the liquid feed pump 1040 is transported by the liquid feed pump transport mechanism 1044, and the sample liquid 9006 is transferred to the inlet 1226 by the liquid feed pump 1040. Discharged.

送液機構1014により流路1220へ蛍光標識液9008が注入されるときも、分析チップ1006及び試薬チップ1036が前処理室1020に配置される。また、送液ポンプ1040により試薬チップ1036の蛍光標識液容器1046から蛍光標識液9008が吸引され、送液ポンプ1040が送液ポンプ搬送機構1044により搬送され、送液ポンプ1040により注入口1226へ蛍光標識液9008が吐出される。   The analysis chip 1006 and the reagent chip 1036 are also arranged in the pretreatment chamber 1020 when the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the flow path 1220 by the liquid feeding mechanism 1014. Further, the fluorescent labeling liquid 9008 is sucked from the fluorescent labeling liquid container 1046 of the reagent chip 1036 by the liquid feeding pump 1040, the liquid feeding pump 1040 is conveyed by the liquid feeding pump conveying mechanism 1044, and the fluorescence is supplied to the inlet 1226 by the liquid feeding pump 1040. The labeling liquid 9008 is discharged.

分析チップ1006を前処理室1020へ退避させてから試料液9006又は蛍光標識液9008を分析チップ1006へ注入することには、光学測定を阻害する構成物を測定室1016から排除し測定室1006の汚染を抑制することに寄与する。ただし、前処理室1020への退避が省略されてもよい。   In order to inject the sample solution 9006 or the fluorescent labeling solution 9008 into the analysis chip 1006 after the analysis chip 1006 is retracted to the pretreatment chamber 1020, components that obstruct optical measurement are excluded from the measurement chamber 1016. Contributes to controlling pollution. However, the retreat to the pretreatment chamber 1020 may be omitted.

検体9020が希釈されるときには、試薬チップ1036が前処理室1020に配置される。送液機構1014により、検体容器1048から希釈容器1042へ検体9020が送液され、希釈液容器1050から希釈容器1042へ希釈液9022が送液され、試料液9006が調製される。   When the sample 9020 is diluted, the reagent chip 1036 is placed in the pretreatment chamber 1020. By the liquid feeding mechanism 1014, the specimen 9020 is fed from the specimen container 1048 to the dilution container 1042, and the dilution liquid 9022 is sent from the dilution liquid container 1050 to the dilution container 1042, whereby the sample liquid 9006 is prepared.

送液ポンプ1040は、必要に応じて、洗浄液容器1052に収容された洗浄液9024で洗浄される。   The liquid feed pump 1040 is cleaned with the cleaning liquid 9024 accommodated in the cleaning liquid container 1052 as necessary.

検体9020が希釈されずに検体9020がそのまま試料液9006になる場合もある。また、希釈に加えて又は希釈に代えて、血球分離、試薬の混合等の他の前処理が行われてもよい。   In some cases, the sample 9020 is not diluted and the sample 9020 becomes the sample liquid 9006 as it is. In addition to or in place of dilution, other pretreatments such as blood cell separation and reagent mixing may be performed.

検体9020は、典型的には、血液等の人間からの採取物であるが、人間以外の生物からの採取物であってもよく、非生物からの採取物であってもよい。   The specimen 9020 is typically a collected material from a human such as blood, but may be a collected material from a non-human organism or a non-living material.

蛍光標識液9008は、検出対象の抗原と結合し蛍光標識された蛍光標識抗体を含む。   The fluorescent labeling solution 9008 contains a fluorescently labeled antibody that is fluorescently labeled by binding to the antigen to be detected.

流路1220へ注入される注入物は典型的には液体であるが気体又は流動性を有する固体であってもよい。   The injection injected into the flow path 1220 is typically a liquid, but may be a gas or a fluid solid.

送液ポンプ1040を送液元から送液先へ搬送する送液機構1014に代えて、チューブにより試料液9006及び蛍光標識液9008を送液する機構が設けられてもよい。   Instead of the liquid feeding mechanism 1014 that transports the liquid feeding pump 1040 from the liquid feeding source to the liquid feeding destination, a mechanism for feeding the sample liquid 9006 and the fluorescent labeling liquid 9008 by a tube may be provided.

(反応領域、測定領域及び照射領域の関係)
図9の模式図は、反射面における照射領域、測定領域及び反応領域の望ましい関係を示す平面図である。照射領域1800は、励起光9000が照射される領域である。測定領域1802は、測定光9002の光量が光電子増倍管1010により測定される領域である。反応領域1804は、抗原捕捉体1208が設けられ、抗原捕捉体1208に含まれる抗体と抗原とが結合する領域である。照射領域1800及び測定領域1802の平面形状は、望ましくは、円形である。
(Relationship between reaction area, measurement area and irradiation area)
The schematic diagram of FIG. 9 is a plan view showing a desirable relationship among the irradiation area, the measurement area, and the reaction area on the reflecting surface. The irradiation region 1800 is a region where the excitation light 9000 is irradiated. The measurement region 1802 is a region where the light amount of the measurement light 9002 is measured by the photomultiplier tube 1010. The reaction region 1804 is a region where an antigen capturing body 1208 is provided and an antibody contained in the antigen capturing body 1208 is bound to an antigen. The planar shapes of the irradiation region 1800 and the measurement region 1802 are preferably circular.

照射領域1800と測定領域1802とは少なくとも重なる。望ましくは照射領域1800が測定領域1802に内包され、さらに望ましくは照射領域1800が測定領域1802の中央に配置される。これにより、プリズム1204のばらつき等により照射位置がずれても照射領域1800が測定領域1802から逸脱しにくくなり、測定光9002の光量が維持される。   The irradiation region 1800 and the measurement region 1802 overlap at least. Desirably, the irradiation region 1800 is included in the measurement region 1802, and more desirably, the irradiation region 1800 is disposed in the center of the measurement region 1802. Accordingly, even if the irradiation position is shifted due to the variation of the prism 1204 or the like, the irradiation region 1800 does not easily deviate from the measurement region 1802, and the light amount of the measurement light 9002 is maintained.

照射領域1800と反応領域1804とは少なくとも重なり、望ましくは照射領域1800が反応領域1804に内包され、さらに望ましくは照射領域1800が反応領域1804の中央に配置される。   The irradiation region 1800 and the reaction region 1804 overlap at least, preferably the irradiation region 1800 is included in the reaction region 1804, and more preferably, the irradiation region 1800 is disposed at the center of the reaction region 1804.

測定領域1802と反応領域1804とは少なくとも重なり、望ましくは測定領域1802が反応領域1804に内包され、さらに望ましくは測定領域1802が反応領域1804の中央に配置される。   The measurement region 1802 and the reaction region 1804 overlap at least, preferably the measurement region 1802 is included in the reaction region 1804, and more preferably, the measurement region 1802 is disposed at the center of the reaction region 1804.

(抗原の検出の手順の概略)
図10のフローチャートは、抗原の検出の手順の概略を示す。
(Outline of antigen detection procedure)
The flowchart of FIG. 10 shows an outline of the procedure for detecting an antigen.

図10に示すように、測定が準備され(ステップS101)、抗体と抗原とが反応させられ(ステップS102)、ロード制御部1100が分析チップ搬送機構1022に分析チップ1006をロードさせる(ステップS103)。ロードされた分析チップ1006のプリズム1204には励起光9000が照射される。分析チップ1006に励起光9000が照射されている状態において入射角θが測定角θmに設定され(ステップS104)、望ましくは行われる処理が行われ(ステップS105〜S107)、アンロード制御部1102が分析チップ搬送機構1022に分析チップ1006をアンロードさせ(ステップS108)、抗原と蛍光標識抗体とが反応させられる(ステップS109)。   As shown in FIG. 10, the measurement is prepared (step S101), the antibody and the antigen are reacted (step S102), and the load control unit 1100 loads the analysis chip 1006 on the analysis chip transport mechanism 1022 (step S103). . The excitation light 9000 is irradiated on the prism 1204 of the loaded analysis chip 1006. In a state in which the excitation light 9000 is irradiated on the analysis chip 1006, the incident angle θ is set to the measurement angle θm (step S104), preferably the processing to be performed is performed (steps S105 to S107), and the unload control unit 1102 The analysis chip transport mechanism 1022 unloads the analysis chip 1006 (step S108), and the antigen and the fluorescently labeled antibody are reacted (step S109).

入射角θが測定角θmに設定された後(ステップS104の後)であって分析チップ1006がアンロードされる前(ステップS108の前)に、望ましくは、照射位置が最適化され(ステップS105)、自家蛍光の光量が測定され(ステップS106)、励起光9000の偏光方向が最適化される(ステップS107)。照射位置の最適化(ステップS105)、自家蛍光の光量の測定(ステップS106)及び励起光9000の偏光方向の最適化(ステップS107)の全部又は一部が省略されてもよい。   Preferably, the irradiation position is optimized (step S105) after the incident angle θ is set to the measurement angle θm (after step S104) and before the analysis chip 1006 is unloaded (before step S108). ), The amount of autofluorescence is measured (step S106), and the polarization direction of the excitation light 9000 is optimized (step S107). All or part of the optimization of the irradiation position (step S105), the measurement of the amount of autofluorescence light (step S106), and the optimization of the polarization direction of the excitation light 9000 (step S107) may be omitted.

抗原と蛍光標識抗体とが反応させられた後(ステップS109の後)に、再ロード制御部1104が分析チップ搬送機構1022に分析チップ1006を再ロードさせ(ステップS110)、表面プラズモン励起蛍光の光量が測定され(ステップS111)、測定結果が検体番号等とともに記憶及び表示され(ステップS112)、表面プラズモン励起蛍光計測装置1000が初期化される(ステップS113)。表面プラズモン励起蛍光計測装置1000が初期化されるときには、反射鏡等の可動物が初期位置に復帰させられる。表面プラズモン励起蛍光の光量は、必要に応じて、抗原の絶対量、濃度等に換算される。   After the antigen and the fluorescently labeled antibody are reacted (after step S109), the reload control unit 1104 reloads the analysis chip 1006 to the analysis chip transport mechanism 1022 (step S110), and the amount of surface plasmon excitation fluorescence light Is measured (step S111), the measurement result is stored and displayed together with the sample number and the like (step S112), and the surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus 1000 is initialized (step S113). When the surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus 1000 is initialized, a movable object such as a reflecting mirror is returned to the initial position. The light quantity of surface plasmon excitation fluorescence is converted into the absolute amount, concentration, etc. of an antigen as needed.

(測定の準備)
図11のフローチャートは、測定の準備(ステップS101)の手順を示す。
(Preparation for measurement)
The flowchart of FIG. 11 shows the procedure for measurement preparation (step S101).

図11に示すように、分析チップ1006が準備され(ステップS1011)、前処理室1020に分析チップ1006が配置される(ステップS1012)。   As shown in FIG. 11, the analysis chip 1006 is prepared (step S1011), and the analysis chip 1006 is arranged in the pretreatment chamber 1020 (step S1012).

それとは別に、試薬チップ1036が準備され(ステップS1013)、前処理室1020に試薬チップ1036が配置され(ステップS1014)、前処理制御部1104が送液機構1014に試薬チップ1036を前処理させる(ステップS1015)。これにより、試料液9006が調製され、試料液9006の準備が完了する。また、蛍光標識液9008の準備が完了する。   Separately, a reagent chip 1036 is prepared (step S1013), the reagent chip 1036 is arranged in the pretreatment chamber 1020 (step S1014), and the pretreatment control unit 1104 causes the liquid delivery mechanism 1014 to pretreat the reagent chip 1036 ( Step S1015). Thereby, the sample liquid 9006 is prepared and the preparation of the sample liquid 9006 is completed. In addition, the preparation of the fluorescent labeling liquid 9008 is completed.

分析チップ1006の準備及び配置(ステップS1011及びS1012)は、試薬チップ1036の準備、配置及び前処理(ステップS1013、S1014及びS1015)の後に行われてもよく、試薬チップ1036の準備、配置及び前処理(ステップS1013、S1014及びS1015)と並行して行われてもよい。   The preparation and arrangement (steps S1011 and S1012) of the analysis chip 1006 may be performed after the preparation, arrangement and pretreatment of the reagent chip 1036 (steps S1013, S1014 and S1015). You may perform in parallel with a process (step S1013, S1014, and S1015).

(抗体と抗原との反応)
抗体と抗原との反応(ステップS102)においては、第1の反応制御部1106が送液機構1014に試料液9006を流路1220へ注入させる。
(Reaction between antibody and antigen)
In the reaction between the antibody and the antigen (step S102), the first reaction control unit 1106 causes the liquid feeding mechanism 1014 to inject the sample liquid 9006 into the flow path 1220.

試料液9006が流路1220へ注入された場合は、試料液9006が抗原捕捉体1208に接触し、試料液9006に含まれる抗原が抗原捕捉体1208に含まれる抗体に結合し、試料液9006に含まれる抗原が抗原捕捉体1208に捕捉される。   When the sample liquid 9006 is injected into the flow path 1220, the sample liquid 9006 comes into contact with the antigen capturing body 1208, the antigen contained in the sample liquid 9006 is bound to the antibody contained in the antigen capturing body 1208, and the sample liquid 9006 The contained antigen is captured by the antigen capturing body 1208.

(入射角θの測定角θmへの設定)
図12のフローチャートは、入射角θの測定角θmへの設定(ステップS104)の手順を示す。
(Setting incident angle θ to measurement angle θm)
The flowchart of FIG. 12 shows the procedure for setting the incident angle θ to the measurement angle θm (step S104).

図12に示すように、フィルタ抜去制御部1108が挿抜機構1708に第2のバンドパスフィルタ1706を測定光9002の光路から抜去させる(ステップS1041)。これにより、散乱光が遮蔽されなくなり、散乱光の光量が光電子増倍管1010により測定可能になる。   As shown in FIG. 12, the filter removal control unit 1108 causes the insertion / extraction mechanism 1708 to remove the second band-pass filter 1706 from the optical path of the measurement light 9002 (step S1041). Thereby, the scattered light is not shielded, and the amount of the scattered light can be measured by the photomultiplier tube 1010.

第2のバンドパスフィルタ1706が抜去された状態において、入射角走査制御部1110が、入射角調整機構1034に入射角θを走査させながら光電子増倍管1010から光量Iの測定結果を取得する(ステップS1042)。これにより、入射角θの走査中に散乱光の光量Isが測定され、入射角θと散乱光の光量Isとの関係Is(θ)が得られる。   With the second bandpass filter 1706 removed, the incident angle scanning control unit 1110 acquires the measurement result of the light amount I from the photomultiplier tube 1010 while causing the incident angle adjusting mechanism 1034 to scan the incident angle θ ( Step S1042). Thus, the amount of scattered light Is is measured during scanning at the incident angle θ, and the relationship Is (θ) between the incident angle θ and the amount of scattered light Is is obtained.

関係Is(θ)が得られた後に、入射角決定部1112が、関係Is(θ)から光量Isが極大になる入射角θである共鳴角θrを特定し、共鳴角θrから測定が行われる入射角θである測定角θmを決定する(ステップS1043)。散乱光の光量Isが極大になる共鳴角θrと電場の増強度が極大になる入射角θmaxとのずれは小さく、蛍光標識液9008の注入が共鳴角θrに与える影響は小さいので、蛍光標識液9008の注入の前に決定された共鳴角θrがそのまま測定角θmにされても電場が十分に増強される。ただし、共鳴角θrが補正されて測定角θmにされてもよい。散乱光の光量Isが極大になる共鳴角θrが求められる場合は、反射光の光量Irが極小になる共鳴角θrが求められる場合と異なり、表面プラズモン励起蛍光の光量を測定する光量センサが援用可能になり、表面プラズモン励起蛍光計測装置1000の構造が簡略化される。   After the relationship Is (θ) is obtained, the incident angle determination unit 1112 specifies the resonance angle θr, which is the incident angle θ at which the light amount Is is maximized, from the relationship Is (θ), and the measurement is performed from the resonance angle θr. The measurement angle θm, which is the incident angle θ, is determined (step S1043). Since the deviation between the resonance angle θr at which the amount of scattered light Is is maximal and the incident angle θmax at which the electric field enhancement is maximal is small, the injection of the fluorescent labeling liquid 9008 has little effect on the resonance angle θr. Even if the resonance angle θr determined before the injection of 9008 is set to the measurement angle θm as it is, the electric field is sufficiently enhanced. However, the resonance angle θr may be corrected to the measurement angle θm. When the resonance angle θr that maximizes the amount of scattered light Is is required, a light amount sensor that measures the amount of surface plasmon excitation fluorescence is used, unlike the case where the resonance angle θr that minimizes the amount of reflected light Ir is obtained. It becomes possible, and the structure of the surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus 1000 is simplified.

測定角θmが決定された後に、入射角設定部1114が、入射角調整機構1034に入射角θを測定角θmに設定させる(ステップS1044)。   After the measurement angle θm is determined, the incident angle setting unit 1114 causes the incident angle adjustment mechanism 1034 to set the incident angle θ to the measurement angle θm (step S1044).

試料液9006が流路1220へ注入された後に関係Is(θ)が測定された場合は、試料液9006の抗原濃度等によらず共鳴角θrが正確に特定される。また、蛍光標識液9008が流路1220へ注入される前に関係Is(θ)された場合は、蛍光色素が励起光9000により退色しにくい。これらにより、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   When the relationship Is (θ) is measured after the sample liquid 9006 is injected into the flow path 1220, the resonance angle θr is accurately specified regardless of the antigen concentration or the like of the sample liquid 9006. Further, when the relationship Is (θ) is obtained before the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the flow path 1220, the fluorescent dye is not easily faded by the excitation light 9000. These improve the sensitivity and accuracy of antigen detection.

蛍光標識液9008が流路1220へ注入される前に関係Is(θ)が得られること(ステップS1042)は必要であるが、蛍光標識液9008が流路1220へ注入される前に測定角θmが決定されること(ステップS1043)及び入射角θが測定角θmに設定されること(ステップS1044)は必ずしも必要ではない。したがって、蛍光標識液9008が流路1220へ注入された後に測定角θmが決定されてもよく(ステップS1043)、入射角θが測定角θmに設定されてもよい(ステップS1044)。   It is necessary that the relationship Is (θ) is obtained before the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the flow path 1220 (step S1042), but the measurement angle θm is required before the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the flow path 1220. Is determined (step S1043) and the incident angle θ is not necessarily set to the measurement angle θm (step S1044). Therefore, the measurement angle θm may be determined after the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the flow path 1220 (step S1043), and the incident angle θ may be set to the measurement angle θm (step S1044).

(入射角θの走査範囲)
プリズム1204の材質及び形状、流路1220への注入物の屈折率等により、共鳴角θrは概ね決まる。しかし、抗原捕捉体1208に捕捉された分子の種類及び量、プリズム1204のばらつき等によって共鳴角θrはわずかに変化する。このため、入射角θの走査においては、全反射条件が満たされる範囲であって予想される共鳴角θrを含む概ね10°以下の範囲が重点的に走査される。
(Scanning range of incident angle θ)
The resonance angle θr is generally determined by the material and shape of the prism 1204, the refractive index of the injection material into the flow path 1220, and the like. However, the resonance angle θr slightly changes depending on the type and amount of molecules captured by the antigen capturing body 1208, variation of the prism 1204, and the like. For this reason, in the scan of the incident angle θ, a range of approximately 10 ° or less including the expected resonance angle θr, which is a range where the total reflection condition is satisfied, is preferentially scanned.

(照射位置の最適化)
図13のフローチャートは、照射位置の最適化(ステップS105)の手順を示す。
(Optimization of irradiation position)
The flowchart of FIG. 13 shows the procedure of optimization of an irradiation position (step S105).

図13に示すように、照射位置走査部1116が反射鏡位置調整機構1604に反射鏡位置を走査させながら光電子増倍管1010から光量Iの測定結果を取得する(ステップS1051)。反射鏡位置が走査される間に、入射角θが測定角θmに維持されたまま励起光9000が平行移動し、照射位置1300が直線に沿って走査される。これにより、照射位置Xの走査中に散乱光の光量Isが測定され、照射位置Xと散乱光の光量Isとの関係Is(X)が得られる。   As shown in FIG. 13, the irradiation position scanning unit 1116 acquires the measurement result of the light amount I from the photomultiplier tube 1010 while causing the reflecting mirror position adjusting mechanism 1604 to scan the reflecting mirror position (step S1051). While the reflecting mirror position is scanned, the excitation light 9000 moves in parallel while the incident angle θ is maintained at the measurement angle θm, and the irradiation position 1300 is scanned along a straight line. Thereby, the light amount Is of the scattered light is measured during the scanning of the irradiation position X, and the relationship Is (X) between the irradiation position X and the light amount Is of the scattered light is obtained.

図14のグラフは、照射位置Xと散乱光の光量Isとの関係Is(X)を示す。   The graph of FIG. 14 shows the relationship Is (X) between the irradiation position X and the amount of scattered light Is.

図14に示すように、照射領域1800が測定領域1802に内包される区間Rにおいては、光量Isはほぼ一定である。しかし、区間R以外においては、照射領域1800が測定領域1802を逸脱し、照射位置Xが区間Rから離れるにしたがって光量Isが減少する。   As shown in FIG. 14, the light amount Is is substantially constant in the section R in which the irradiation region 1800 is included in the measurement region 1802. However, outside the section R, the irradiation area 1800 deviates from the measurement area 1802, and the light amount Is decreases as the irradiation position X moves away from the section R.

関係Is(X)が得られた後に、照射位置決定部1118が、光量Isが極大値から同値ΔIsだけ減少する照射位置X1及びX2を関係Is(X)から特定し、照射位置X1及びX2の中間を測定が行われる照射位置Xである測定位置Xmに決定する(ステップS1052)。   After the relationship Is (X) is obtained, the irradiation position determination unit 1118 identifies the irradiation positions X1 and X2 where the light amount Is decreases from the maximum value by the same value ΔIs from the relationship Is (X), and the irradiation positions X1 and X2 The middle is determined as the measurement position Xm, which is the irradiation position X at which the measurement is performed (step S1052).

望ましくは、測定角θが測定角θmに設定された後に関係Is(X)が測定される。これにより、表面プラズモン励起蛍光の光量が測定されるときと同じ入射角θで照射位置Xが最適化され、照射位置Xが適切に最適化される。   Desirably, the relationship Is (X) is measured after the measurement angle θ is set to the measurement angle θm. Thereby, the irradiation position X is optimized at the same incident angle θ as when the amount of surface plasmon excitation fluorescence is measured, and the irradiation position X is appropriately optimized.

さらに続いて、照射位置設定部1120が反射鏡位置調整機構1604に反射鏡位置を照射位置Xが測定位置Xmになる反射鏡位置に設定させる(ステップS1053)。   Subsequently, the irradiation position setting unit 1120 causes the reflecting mirror position adjusting mechanism 1604 to set the reflecting mirror position to the reflecting mirror position where the irradiation position X becomes the measurement position Xm (step S1053).

共鳴角θrの近傍の入射角θにおいては、反射光9004の光量は小さく、反射光9004はプリズム1204から放射される自家蛍光をほとんど発生させない。このため、測定領域1802における励起光9000の光路長が自家蛍光の光量に大きく影響し、照射位置Xが変化すると自家蛍光の光量も変化する。自家蛍光の光量は励起光9000の光量に比べると小さいが、表面プラズモン励起蛍光の光量と比べると無視できない。ただし、自家蛍光の光量は小さいため、表面プラズモン励起蛍光の光量の測定に影響を与えるのは、反射面1206の近くから放射された自家蛍光に限られる。   At an incident angle θ in the vicinity of the resonance angle θr, the amount of reflected light 9004 is small, and the reflected light 9004 hardly generates autofluorescence emitted from the prism 1204. For this reason, the optical path length of the excitation light 9000 in the measurement region 1802 greatly affects the amount of autofluorescence, and when the irradiation position X changes, the amount of autofluorescence also changes. The amount of autofluorescence is small compared to the amount of excitation light 9000, but cannot be ignored compared to the amount of surface plasmon excitation fluorescence. However, since the amount of autofluorescence is small, measurement of the amount of surface plasmon excitation fluorescence only affects autofluorescence emitted from the vicinity of the reflecting surface 1206.

照射位置Xの最適化(ステップS105)により照射領域1800が測定領域1802の中央に配置された場合は、測定領域1802における励起光9000の光路長が一定になり、自家蛍光の光量の影響が一定になり、抗原の検出の感度及び精度が向上する。望ましくは、照射位置Xの最適化(ステップS105)は、自家蛍光の光量の測定の前(ステップS106の前)に行われる。これにより、自家蛍光の光量の測定の精度が向上する。   When the irradiation region 1800 is arranged at the center of the measurement region 1802 by the optimization of the irradiation position X (step S105), the optical path length of the excitation light 9000 in the measurement region 1802 is constant, and the influence of the amount of autofluorescence is constant. Thus, the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved. Desirably, the irradiation position X is optimized (step S105) before the measurement of the amount of autofluorescence (before step S106). Thereby, the accuracy of measurement of the amount of autofluorescence is improved.

(自家蛍光の光量の測定)
自家蛍光の光量の測定(ステップS106)においては、自家蛍光測定部1122が光電子増倍管1010から光量Iの測定結果を取得する。これにより、自家蛍光の光量Iafが測定される。測定結果は、後記の自家蛍光の補正が完了するまで自家蛍光測定部1122に記憶される。
(Measurement of the amount of autofluorescence)
In the measurement of the amount of autofluorescence (step S106), the autofluorescence measurement unit 1122 acquires the measurement result of the amount of light I from the photomultiplier tube 1010. As a result, the amount of autofluorescence Iaf is measured. The measurement result is stored in the autofluorescence measuring unit 1122 until the autofluorescence correction described later is completed.

(励起光の偏光方向の最適化)
図15のフローチャートは、励起光の偏光方向の最適化(ステップS107)の手順を示す。
(Optimization of excitation light polarization direction)
The flowchart of FIG. 15 shows the procedure for optimizing the polarization direction of the excitation light (step S107).

図15に示すように、偏光方向走査部1124が偏光方向調整機構1030に偏光方向αを走査させながら光電子増倍管1010から光量Iの測定結果を取得する(ステップS1071)。これにより、偏光方向αの走査中に散乱光の光量Isが測定され、励起光9000の偏光方向αと散乱光の光量Isとの関係Is(α)が得られる。   As shown in FIG. 15, the polarization direction scanning unit 1124 acquires the measurement result of the light amount I from the photomultiplier tube 1010 while causing the polarization direction adjustment mechanism 1030 to scan the polarization direction α (step S1071). As a result, the amount of scattered light Is is measured during scanning in the polarization direction α, and the relationship Is (α) between the polarization direction α of the excitation light 9000 and the amount of scattered light Is is obtained.

望ましくは、測定角θが測定角θmに設定された後に関係Is(α)が測定される。これにより、表面プラズモン励起蛍光の光量が測定されるときと同じ入射角θで偏光方向αが最適化され、偏光方向αが適切に最適化される。さらに望ましくは、照射位置Xが最適化された後(ステップS105の後)に関係Is(α)が測定される。これにより、表面プラズモン励起蛍光の光量が測定されるときと同じ照射位置Xで偏光方向が最適化され、偏光方向αが適切に最適される。   Desirably, the relationship Is (α) is measured after the measurement angle θ is set to the measurement angle θm. Thereby, the polarization direction α is optimized at the same incident angle θ as when the amount of surface plasmon excitation fluorescence is measured, and the polarization direction α is appropriately optimized. More preferably, the relationship Is (α) is measured after the irradiation position X is optimized (after step S105). Thereby, the polarization direction is optimized at the same irradiation position X as when the amount of surface plasmon excitation fluorescence is measured, and the polarization direction α is appropriately optimized.

関係Is(α)が得られた後に、偏光方向決定部1126が光量Isが極大になる偏光方向αを関係Is(α)から特定し、測定が行われる偏光方向αである測定偏光方向αmを決定する(ステップS1072)。   After the relationship Is (α) is obtained, the polarization direction determination unit 1126 specifies the polarization direction α from which the light amount Is is maximized from the relationship Is (α), and sets the measurement polarization direction αm that is the polarization direction α in which the measurement is performed. Determination is made (step S1072).

測定偏光方向αmが決定された後に、偏光方向設定部1128が、偏光方向調整機構1030に偏光方向αを測定偏光方向αmに設定させる(ステップS1073)。   After the measurement polarization direction αm is determined, the polarization direction setting unit 1128 causes the polarization direction adjustment mechanism 1030 to set the polarization direction α to the measurement polarization direction αm (step S1073).

樹脂からなる媒体の中を光が進行する場合には無視できない複屈折が生じる。この複屈折は、位置による媒体の密度の変化等により生じる。位置による媒体の密度の変化は樹脂の成形のときに生じるため、複屈折の強さはプリズム1204ごとに異なる。このため、プリズム1204によっては、エバネッセント波のしみだしに寄与するP波成分のみを反射面1206へ入射させようとしても、S波成分が発生してP波成分が減少し、抗原の検出の感度及び精度が低下する。   Birefringence that cannot be ignored occurs when light travels through a resin medium. This birefringence is caused by a change in the density of the medium depending on the position. Since the change in the density of the medium depending on the position occurs when the resin is molded, the strength of birefringence differs for each prism 1204. Therefore, depending on the prism 1204, even if only the P wave component contributing to the exudation of the evanescent wave is caused to enter the reflecting surface 1206, the S wave component is generated and the P wave component is reduced, and the sensitivity of detecting the antigen is increased. And the accuracy decreases.

励起光の偏光方向の最適化(ステップS107)により、プリズム1204のばらつきによるP波成分の減少が解消し、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   By optimizing the polarization direction of the excitation light (step S107), the decrease of the P wave component due to the variation of the prism 1204 is eliminated, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved.

(抗原と蛍光標識抗体との反応)
抗原と蛍光標識抗体との反応(ステップS109)においては、第2の反応制御部1130が送液機構1014に蛍光標識液9008を流路1220へ注入させる。蛍光標識液9008が流路1220へ注入された場合は、蛍光標識液9008が抗原捕捉体1208に接触し、蛍光標識液9008に含まれる蛍光標識抗体が抗原に結合する。
(Reaction between antigen and fluorescently labeled antibody)
In the reaction between the antigen and the fluorescently labeled antibody (step S109), the second reaction control unit 1130 causes the liquid feeding mechanism 1014 to inject the fluorescently labeled liquid 9008 into the flow path 1220. When the fluorescent labeling liquid 9008 is injected into the flow path 1220, the fluorescent labeling liquid 9008 comes into contact with the antigen capturing body 1208, and the fluorescently labeled antibody contained in the fluorescent labeling liquid 9008 binds to the antigen.

(表面プラズモン励起蛍光の光量の測定)
図16のフローチャートは、表面プラズモン励起蛍光の光量の測定(ステップS111)の手順を示す。
(Measurement of light intensity of surface plasmon excitation fluorescence)
The flowchart of FIG. 16 shows the procedure for measuring the amount of surface plasmon excitation fluorescence (step S111).

図16に示すように、フィルタ挿入制御部1132が挿抜機構1708に第2のバンドパスフィルタ1706を測定光9002の光路へ挿入させる(ステップS1111)。これにより、光電子増倍管1010に届く散乱光が減り、抗原の検出の感度及び精度が向上する。   As shown in FIG. 16, the filter insertion control unit 1132 causes the insertion / extraction mechanism 1708 to insert the second band-pass filter 1706 into the optical path of the measurement light 9002 (step S1111). Thereby, the scattered light reaching the photomultiplier tube 1010 is reduced, and the sensitivity and accuracy of antigen detection are improved.

第2のバンドパスフィルタ1706が挿入された後に、遮断制御部1134が反射鏡角度調整機構1602に励起光9000を一時的に遮断させる(ステップS1112)。   After the second band pass filter 1706 is inserted, the blocking control unit 1134 causes the reflecting mirror angle adjustment mechanism 1602 to temporarily block the excitation light 9000 (step S1112).

励起光9000が遮断されている間に、暗ノイズ測定部1136が光電子増倍管1010から光量Iの測定結果を取得する(ステップS1113)。これにより、暗ノイズ量Inが測定される。   While the excitation light 9000 is blocked, the dark noise measurement unit 1136 acquires the measurement result of the light amount I from the photomultiplier tube 1010 (step S1113). Thereby, the dark noise amount In is measured.

望ましくは、励起光の遮断(ステップS1112)及び暗ノイズ量の測定(ステップS1113)は、後記の入射角θの測定角θmへの再設定(ステップS1114)及び表面プラズモン励起蛍光の光量Ifの測定(ステップS1115)の直前に行われるが、暗ノイズ補正(ステップS1117)の前であれば他のときに行われてもよい。   Desirably, the blocking of the excitation light (step S1112) and the measurement of the amount of dark noise (step S1113) are performed by resetting the incident angle θ to the measurement angle θm (step S1114) and measuring the light amount If of the surface plasmon excitation fluorescence. Although it is performed immediately before (Step S1115), it may be performed at other times as long as it is before dark noise correction (Step S1117).

暗ノイズ量Inが測定された後(ステップS1113の後)に、入射角再設定部1136が反射鏡角度調整機構1602に入射角θを測定角θmに再設定させる(ステップS1114)。   After the dark noise amount In is measured (after step S1113), the incident angle resetting unit 1136 causes the reflector angle adjusting mechanism 1602 to reset the incident angle θ to the measurement angle θm (step S1114).

入射角θが測定角θmに再設定された後に、蛍光測定部1138が光電子増倍管1010から光量Iの測定結果を取得する(ステップS1115)。これにより、測定角θmにおける表面プラズモン励起蛍光の光量Ifが測定される。   After the incident angle θ is reset to the measurement angle θm, the fluorescence measurement unit 1138 acquires the measurement result of the light amount I from the photomultiplier tube 1010 (step S1115). Thereby, the light amount If of the surface plasmon excitation fluorescence at the measurement angle θm is measured.

表面プラズモン励起蛍光の光量Ifが測定された後に、自家蛍光補正部1104が、表面プラズモン励起蛍光の光量Ifから自家蛍光の光量Iafを減ずる補正を行い(ステップS1116)、暗ノイズ補正部1142が表面プラズモン励起蛍光の光量Ifから暗ノイズ量Inを減じる補正を行う(ステップS1117)。これにより、抗原の検出の感度及び精度が向上する。自家蛍光の補正(ステップS1116)及び暗ノイズの補正(ステップS1117)が同時に行われてもよく、自家蛍光の補正(ステップS1116)が暗ノイズの補正(ステップS1117)の後に行われてもよい。   After the surface plasmon excitation fluorescence light amount If is measured, the autofluorescence correction unit 1104 performs correction to subtract the autofluorescence light amount Iaf from the surface plasmon excitation fluorescence light amount If (step S1116), and the dark noise correction unit 1142 Correction for subtracting the dark noise amount In from the light amount If of the plasmon excitation fluorescence is performed (step S1117). This improves the sensitivity and accuracy of antigen detection. Autofluorescence correction (step S1116) and dark noise correction (step S1117) may be performed simultaneously, and autofluorescence correction (step S1116) may be performed after dark noise correction (step S1117).

上記の手順のうち表面プラズモン励起蛍光計測装置1000により実行される手順が手作業により実行されてもよいし、手作業で実行される手順が表面プラズモン励起蛍光計測装置1000により実行されてもよい。   Of the above procedures, the procedure executed by the surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus 1000 may be executed manually, or the procedure executed manually may be executed by the surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus 1000.

散乱光の光量Isが極大になる共鳴角θrに代えて、反射光9004の光量Irが極小になる共鳴角θrが用いられてもよい。後者の共鳴角θrが用いられる場合は、図17に示すように、反射光9004の光量を測定する反射光量センサ1902が表面プラズモン励起蛍光計測装置1000に付加される。また、ステップS1042においては、入射角走査制御部1110が、入射角調整機構1034に入射角θを走査させながら反射光量センサ1902から光量Iの測定結果を取得する。これにより、入射角θの走査中に反射光9004の光量Irが測定され、入射角θと反射光9004の光量Irとの関係Ir(θ)が得られる。また、ステップS1043においては、入射角決定部1112が光量Irが極小になる入射角θである共鳴角θrを関係Ir(θ)から特定し、共鳴角θrから測定角θmを決定する。反射光の光量Irが極小になる共鳴角θrと電場の増強度が極大になる入射角θmaxとにはずれがあるので、望ましくは、共鳴角θrに微小角を増減する補正が行われ、測定角θmが決定される。   Instead of the resonance angle θr at which the light amount Is of the scattered light is maximized, a resonance angle θr at which the light amount Ir of the reflected light 9004 is minimized may be used. When the latter resonance angle θr is used, a reflected light amount sensor 1902 that measures the amount of reflected light 9004 is added to the surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus 1000 as shown in FIG. In step S <b> 1042, the incident angle scanning control unit 1110 acquires the measurement result of the light amount I from the reflected light amount sensor 1902 while causing the incident angle adjustment mechanism 1034 to scan the incident angle θ. As a result, the amount of light Ir of the reflected light 9004 is measured during scanning at the incident angle θ, and the relationship Ir (θ) between the incident angle θ and the amount of light Ir of the reflected light 9004 is obtained. In step S1043, the incident angle determination unit 1112 specifies the resonance angle θr, which is the incident angle θ at which the light amount Ir is minimized, from the relationship Ir (θ), and determines the measurement angle θm from the resonance angle θr. Since there is a difference between the resonance angle θr at which the reflected light quantity Ir is minimized and the incident angle θmax at which the electric field enhancement is maximized, it is desirable that correction is performed to increase / decrease the minute angle to the resonance angle θr, and the measurement angle θm is determined.

本発明は詳細に示され記述されたが、上記の記述は全ての局面において例示であって限定的ではない。しがって、本発明の範囲からはずれることなく無数の修正及び変形が案出されうると解される。   While the invention has been shown and described in detail, the above description is illustrative in all aspects and not restrictive. Thus, it will be appreciated that numerous modifications and variations can be devised without departing from the scope of the invention.

1000 表面プラズモン励起蛍光計測装置
1002 レーザーダイオードユニット
1006 分析チップ
1010 光電子増倍管
1014 送液機構
1030 偏光方向調整機構
1034 入射角調整機構
1200 導電体膜
1204 プリズム
1206 反射面
1212 流路形成体
1216 入射面
1218 出射面
1220 流路
1706 第2のバンドパスフィルタ
9006 試料液
9008 蛍光標識液
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1000 Surface plasmon excitation fluorescence measuring device 1002 Laser diode unit 1006 Analysis chip 1010 Photomultiplier tube 1014 Liquid feeding mechanism 1030 Polarization direction adjustment mechanism 1034 Incident angle adjustment mechanism 1200 Conductor film 1204 Prism 1206 Reflecting surface 1212 Flow path formation body 1216 Incident surface 1218 Emission surface 1220 Flow path 1706 Second band pass filter 9006 Sample solution 9008 Fluorescent labeling solution

Claims (9)

表面プラズモン励起蛍光計測装置であって、
励起光を放射する光源と、
励起光が入射する入射面、前記入射面へ入射した励起光を全反射する反射面及び前記反射面に全反射された励起光が出射する出射面を備え、励起光に対して透明な誘電体媒体と、
前記反射面に密着する第1の主面及び前記反射面に密着しない第2の主面を備える導電体膜と、
抗原と結合する抗体を含み、前記第2の主面に定着する抗原捕捉体と、
前記反射面への励起光の入射角を調整する調整機構と、
前記導電体膜及び前記抗原捕捉体から前記第2の主面が向く方向へ出射する光の光量を測定する光量センサと、
試料及び抗原と結合する蛍光標識抗体を含む蛍光標識抗体含有物を前記抗原捕捉体に接触させる接触機構と、
前記接触機構に前記試料を前記抗原捕捉体へ接触させる第1の反応制御部と、
前記試料が前記抗原捕捉体へ接触させられた後に前記調整機構に入射角を走査させながら前記光量センサから光量の測定結果を取得し、入射角と光量との関係を得る第1の走査制御部と、
前記入射角と光量との関係が得られた後に前記接触機構に前記蛍光標識抗体含有物を前記抗原捕捉体へ接触させる第2の反応制御部と、
前記入射角と光量との関係から光量が極大になる共鳴角を特定し、前記共鳴角から測定が行われる測定角を決定する入射角決定部と、
前記調整機構に入射角を前記測定角に設定させる入射角設定部と、
前記蛍光標識抗体含有物が前記抗原捕捉体へ接触させられた後であって入射角が前記測定角に設定された後に前記光量センサから光量の測定結果を取得する第1の測定制御部と、
を備える表面プラズモン励起蛍光計測装置。
A surface plasmon excitation fluorescence measuring device,
A light source that emits excitation light;
A dielectric that includes an incident surface on which excitation light is incident, a reflection surface that totally reflects the excitation light incident on the incident surface, and an emission surface from which the excitation light that is totally reflected on the reflection surface is emitted. Medium,
A conductor film comprising a first main surface that is in close contact with the reflective surface and a second main surface that is not in close contact with the reflective surface;
An antigen-capturing body comprising an antibody that binds to an antigen, and anchored on the second main surface;
An adjustment mechanism for adjusting the incident angle of the excitation light to the reflecting surface;
A light amount sensor that measures the amount of light emitted from the conductor film and the antigen capturing body in a direction in which the second main surface faces;
A contact mechanism for contacting a sample and a fluorescently labeled antibody-containing substance containing a fluorescently labeled antibody that binds to an antigen with the antigen capturing body;
A first reaction control unit for bringing the sample into contact with the antigen capturing body in the contact mechanism;
A first scanning control unit that obtains a light amount measurement result from the light amount sensor while causing the adjustment mechanism to scan an incident angle after the sample is brought into contact with the antigen capturing body, and obtains a relationship between the incident angle and the light amount When,
A second reaction control unit for contacting the antigen-captured substance with the fluorescently labeled antibody-containing substance after the relationship between the incident angle and the light amount is obtained;
Identifying the resonance angle at which the light amount is maximized from the relationship between the incident angle and the light amount, and determining the measurement angle at which the measurement is performed from the resonance angle;
An incident angle setting unit that causes the adjustment mechanism to set an incident angle to the measurement angle;
A first measurement control unit for obtaining a light amount measurement result from the light amount sensor after the fluorescently labeled antibody-containing material is brought into contact with the antigen capturing body and an incident angle is set to the measurement angle;
A surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus comprising:
表面プラズモン励起蛍光計測装置であって、
励起光を放射する光源と、
励起光が入射する入射面、前記入射面へ入射した励起光を全反射する反射面及び前記反射面に全反射された励起光が出射する出射面を備え、励起光に対して透明な誘電体媒体と、
前記反射面に密着する第1の主面及び前記反射面に密着しない第2の主面を備える導電体膜と、
抗原と結合する抗体を含み、前記第2の主面に定着する抗原捕捉体と、
前記反射面への励起光の入射角を調整する調整機構と、
前記出射面から出射する光の光量を測定する反射光量センサと、
前記導電体膜及び前記抗原捕捉体から前記第2の主面が向く方向へ出射する光の光量を測定する光量センサと、
試料及び抗原と結合する蛍光標識抗体を含む蛍光標識抗体含有物を前記抗原捕捉体へ接触させる接触機構と、
前記接触機構に前記試料を前記流路へ注入させる第1の反応制御部と、
前記試料が前記抗原捕捉体へ接触させられた後に前記調整機構に入射角を走査させながら前記反射光量センサから光量の測定結果を取得し入射角と光量との関係を得る第1の走査制御部と、
前記入射角と光量との関係が得られた後に前記接触機構に前記蛍光標識抗体含有物を前記抗原捕捉体へ接触させる第2の反応制御部と、
前記入射角と光量との関係から光量が極小になる共鳴角を特定し、前記共鳴角から測定が行われる測定角を決定する入射角決定部と、
前記調整機構に入射角を前記測定角に設定させる入射角設定部と、
前記蛍光標識抗体含有物が前記抗原捕捉体へ接触させられた後であって入射角が前記測定角に設定された後に前記光量センサから光量の測定結果を取得する第1の測定制御部と、
を備える表面プラズモン励起蛍光計測装置。
A surface plasmon excitation fluorescence measuring device,
A light source that emits excitation light;
A dielectric that includes an incident surface on which excitation light is incident, a reflection surface that totally reflects the excitation light incident on the incident surface, and an emission surface from which the excitation light that is totally reflected on the reflection surface is emitted. Medium,
A conductor film comprising a first main surface that is in close contact with the reflective surface and a second main surface that is not in close contact with the reflective surface;
An antigen-capturing body comprising an antibody that binds to an antigen, and anchored on the second main surface;
An adjustment mechanism for adjusting the incident angle of the excitation light to the reflecting surface;
A reflected light amount sensor that measures the amount of light emitted from the exit surface;
A light amount sensor that measures the amount of light emitted from the conductor film and the antigen capturing body in a direction in which the second main surface faces;
A contact mechanism for contacting the antigen-capturing body with a fluorescently labeled antibody-containing material containing a sample and a fluorescently labeled antibody that binds to the antigen;
A first reaction control unit that causes the contact mechanism to inject the sample into the flow path;
A first scanning control unit that obtains a measurement result of the light amount from the reflected light amount sensor while scanning the incident angle after the sample is brought into contact with the antigen capturing body, and obtains a relationship between the incident angle and the light amount When,
A second reaction control unit for contacting the antigen-captured substance with the fluorescently labeled antibody-containing substance after the relationship between the incident angle and the light amount is obtained;
Identifying a resonance angle at which the light amount is minimized from the relationship between the incident angle and the light amount, and determining the measurement angle at which the measurement is performed from the resonance angle;
An incident angle setting unit that causes the adjustment mechanism to set an incident angle to the measurement angle;
A first measurement control unit for obtaining a light amount measurement result from the light amount sensor after the fluorescently labeled antibody-containing material is brought into contact with the antigen capturing body and an incident angle is set to the measurement angle;
A surface plasmon excitation fluorescence measuring apparatus comprising:
請求項1又は請求項2の表面プラズモン励起蛍光計測装置において、
前記蛍光標識抗体含有物が前記抗原捕捉体に接触させられる前であって入射角が前記測定角に設定された後に前記光量センサから光量の測定結果を取得する第2の測定制御部と、
前記第1の測定制御部に取得された光量の測定結果から前記第2の測定制御部に取得された光量の測定結果を減ずる第1の補正部と、
をさらに備える表面プラズモン励起蛍光計測装置。
In the surface plasmon excitation fluorescence measuring device according to claim 1 or 2,
A second measurement control unit that acquires a measurement result of the light amount from the light amount sensor before the fluorescently labeled antibody-containing material is brought into contact with the antigen capturing body and the incident angle is set to the measurement angle;
A first correction unit that subtracts the measurement result of the light quantity acquired by the second measurement control unit from the measurement result of the light quantity acquired by the first measurement control unit;
A surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus further comprising:
請求項3の表面プラズモン励起蛍光計測装置において、
前記調整機構は、前記反射面における励起光の照射位置を調整し、
前記表面プラズモン励起蛍光計測装置は、
前記調整機構に照射位置を走査させながら前記光量センサから光量の測定結果を取得し、照射位置と光量との関係を得る第2の走査制御部と、
前記照射位置と光量との関係から光量が極大値から同値だけ減少する第1の照射位置及び第2の照射位置を特定し、前記第1の照射位置及び前記第2の照射位置の中間を測定が行われる測定位置に決定する照射位置決定部と、
前記調整機構に照射位置を前記測定位置に設定させる照射位置設定部と、
をさらに備える表面プラズモン励起蛍光計測装置。
In the surface plasmon excitation fluorescence measuring device according to claim 3,
The adjustment mechanism adjusts the irradiation position of the excitation light on the reflection surface,
The surface plasmon excitation fluorescence measuring device is:
A second scanning control unit that obtains a light amount measurement result from the light amount sensor while causing the adjustment mechanism to scan the irradiation position, and obtains a relationship between the irradiation position and the light amount;
The first irradiation position and the second irradiation position where the light amount decreases from the maximum value by the same value from the relationship between the irradiation position and the light amount are specified, and the intermediate between the first irradiation position and the second irradiation position is measured. An irradiation position determination unit that determines a measurement position where
An irradiation position setting unit that causes the adjustment mechanism to set an irradiation position to the measurement position;
A surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus further comprising:
請求項1又は請求項2の表面プラズモン励起蛍光計測装置において、
前記調整機構は、励起光が前記入射面へ導かれる非遮断状態と導かれない遮断状態とを切り替え、
前記表面プラズモン励起蛍光計測装置は、
前記調整機構を一時的に前記遮断状態にする遮断制御部と、
前記調整機構が前記遮断状態にされている間に前記光量センサから光量の測定結果を取得する第3の測定制御部と、
前記第1の測定制御部に取得された光量の測定結果から前記第3の測定制御部に取得された光量の測定結果を減ずる第2の補正部と、
をさらに備える表面プラズモン励起蛍光計測装置。
In the surface plasmon excitation fluorescence measuring device according to claim 1 or 2,
The adjustment mechanism switches between a non-blocking state where excitation light is guided to the incident surface and a blocking state where it is not guided,
The surface plasmon excitation fluorescence measuring device is:
A shut-off control unit that temporarily places the adjusting mechanism in the shut-off state;
A third measurement control unit for obtaining a light quantity measurement result from the light quantity sensor while the adjustment mechanism is in the shut-off state;
A second correction unit that subtracts the measurement result of the light amount acquired by the third measurement control unit from the measurement result of the light amount acquired by the first measurement control unit;
A surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus further comprising:
請求項1又は請求項2の表面プラズモン励起蛍光計測装置において、
励起光の偏光方向を調整する偏光方向調整機構と、
前記偏光方向調整機構に偏光方向を走査させながら前記光量センサから光量の測定結果を取得し、偏光方向と光量との関係を得る偏光方向走査部と、
前記偏光方向と光量との関係から光量が極大になる偏光方向を特定し、測定が行われる測定偏光方向を決定する偏光方向決定部と、
前記偏光方向調整機構に偏光方向を前記測定偏光方向に設定させる偏光方向設定部と、
をさらに備える
表面プラズモン励起蛍光計測装置。
In the surface plasmon excitation fluorescence measuring device according to claim 1 or 2,
A polarization direction adjusting mechanism for adjusting the polarization direction of the excitation light;
A polarization direction scanning unit that obtains a measurement result of the light amount from the light amount sensor while causing the polarization direction adjustment mechanism to scan the polarization direction, and obtains a relationship between the polarization direction and the light amount;
A polarization direction determining unit that identifies a polarization direction in which the light amount is maximized from the relationship between the polarization direction and the light amount, and determines a measurement polarization direction in which the measurement is performed;
A polarization direction setting unit that causes the polarization direction adjustment mechanism to set the polarization direction to the measurement polarization direction;
A surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus further comprising:
請求項1又は請求項2の表面プラズモン励起蛍光計測装置において、
励起光と同じ波長の光を選択的に減衰させるバンドパスフィルタと、
前記導電体膜及び前記抗原捕捉体から前記第2の主面が向く方向へ出射する光の光路に前記バンドパスフィルタを挿抜する挿抜機構と、
前記第1の測定制御部に光量の測定結果が取得される間に前記挿抜機構に前記バンドパスフィルタを挿入させる挿抜制御部と、
をさらに備える
表面プラズモン励起蛍光計測装置。
In the surface plasmon excitation fluorescence measuring device according to claim 1 or 2,
A bandpass filter that selectively attenuates light of the same wavelength as the excitation light;
An insertion / extraction mechanism for inserting / extracting the band-pass filter into / from an optical path of light emitted from the conductor film and the antigen capturing body in a direction in which the second main surface faces.
An insertion / removal control unit that causes the insertion / removal mechanism to insert the band-pass filter while the first measurement control unit acquires a light amount measurement result;
A surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus further comprising:
表面プラズモン励起蛍光計測方法であって、
(a) 入射面、反射面及び出射面を備え励起光に対して透明な誘電体媒体、前記反射面に密着する第1の主面及び前記反射面に密着しない第2の主面を備える導電体膜並びに抗原と結合する抗体を含み前記第2の主面に定着する抗原捕捉体を備える構造体を準備する工程と、
(b) 試料を準備する工程と、
(c) 抗原と結合する蛍光標識抗体を含む蛍光標識抗体含有物を準備する工程と、
(d) 前記試料を前記抗原捕捉体に接触させる工程と、
(e) 前記入射面へ入射し前記反射面に全反射され前記出射面から出射する励起光を前記構造体に照射する工程と、
(f) 前記工程(d)の後に前記反射面への励起光の入射角を走査しながら第2の主面が向く方向へ出射する散乱光の光量を測定し、入射角と光量との関係を得る工程と、
(g) 前記工程(f)の後に前記蛍光標識抗体含有物を前記抗原捕捉体に接触させる工程と、
(h) 散乱光の光量が極大になる共鳴角を前記入射角と光量との関係から特定し、前記共鳴角から測定が行われる測定角を決定する工程と、
(i) 入射角を前記測定角に設定する工程と、
(j) 前記工程(g)及び前記工程(i)の後に表面プラズモン励起蛍光の光量を測定する工程と、
を備える表面プラズモン励起蛍光計測方法。
A surface plasmon excitation fluorescence measurement method,
(a) a conductive medium having an entrance surface, a reflection surface and an exit surface and having a dielectric medium that is transparent to excitation light, a first main surface that is in close contact with the reflection surface, and a second main surface that is not in close contact with the reflection surface Providing a structure comprising a body membrane and an antigen-capturing body that contains an antibody that binds to an antigen and is fixed to the second main surface;
(b) preparing a sample;
(c) preparing a fluorescently labeled antibody-containing material containing a fluorescently labeled antibody that binds to an antigen;
(d) contacting the sample with the antigen capturer;
(e) irradiating the structure with excitation light that is incident on the incident surface, is totally reflected on the reflecting surface, and is emitted from the emitting surface;
(f) After the step (d), the amount of scattered light emitted in the direction toward the second main surface is measured while scanning the incident angle of the excitation light on the reflecting surface, and the relationship between the incident angle and the amount of light. And obtaining
(g) after the step (f), bringing the fluorescently labeled antibody-containing material into contact with the antigen-capturing body;
(h) identifying a resonance angle at which the amount of scattered light is maximized from the relationship between the incident angle and the amount of light, and determining a measurement angle at which measurement is performed from the resonance angle;
(i) setting the incident angle to the measurement angle;
(j) measuring the amount of surface plasmon excitation fluorescence after the step (g) and the step (i);
A surface plasmon excitation fluorescence measurement method comprising:
表面プラズモン励起蛍光計測方法であって、
(a) 入射面、反射面及び出射面を備え励起光に対して透明な誘電体媒体、前記反射面に密着する第1の主面及び前記反射面に密着しない第2の主面を備える導電体膜並びに抗原と結合する抗体を含み前記第2の主面に定着する抗原捕捉体を備える構造体を準備する工程と、
(b) 試料を準備する工程と、
(c) 抗原と結合する蛍光標識抗体を含む蛍光標識抗体含有物を準備する工程と、
(d) 前記試料を前記抗原捕捉体に接触させる工程と、
(e) 前記入射面へ入射し前記反射面に全反射され前記出射面から出射する励起光を前記構造体に照射する工程と、
(f) 前記工程(d)の後に前記反射面への励起光の入射角を走査しながら前記出射面から出射する反射光の光量を測定し、入射角と光量との関係を得る工程と、
(g) 前記工程(f)の後に前記蛍光標識抗体含有物を前記抗原捕捉体に接触させる工程と、
(h) 反射光の光量が極小になる共鳴角を前記入射角と光量との関係から特定し、前記共鳴角から測定が行われる測定角を決定する工程と、
(i) 入射角を前記測定角に設定する工程と、
(j) 前記工程(g)及び前記工程(i)の後に表面プラズモン励起蛍光の光量を測定する工程と、
を備える表面プラズモン励起蛍光計測方法。
A surface plasmon excitation fluorescence measurement method,
(a) a conductive medium having an entrance surface, a reflection surface and an exit surface and having a dielectric medium that is transparent to excitation light, a first main surface that is in close contact with the reflection surface, and a second main surface that is not in close contact with the reflection surface Providing a structure comprising a body membrane and an antigen-capturing body that contains an antibody that binds to an antigen and is fixed to the second main surface;
(b) preparing a sample;
(c) preparing a fluorescently labeled antibody-containing material containing a fluorescently labeled antibody that binds to an antigen;
(d) contacting the sample with the antigen capturer;
(e) irradiating the structure with excitation light that is incident on the incident surface, is totally reflected on the reflecting surface, and is emitted from the emitting surface;
(f) measuring the amount of reflected light emitted from the exit surface while scanning the incident angle of the excitation light to the reflective surface after the step (d), and obtaining a relationship between the incident angle and the amount of light;
(g) after the step (f), bringing the fluorescently labeled antibody-containing material into contact with the antigen-capturing body;
(h) identifying a resonance angle at which the amount of reflected light is minimized from the relationship between the incident angle and the amount of light, and determining a measurement angle at which measurement is performed from the resonance angle;
(i) setting the incident angle to the measurement angle;
(j) measuring the amount of surface plasmon excitation fluorescence after the step (g) and the step (i);
A surface plasmon excitation fluorescence measurement method comprising:
JP2012556847A 2011-02-09 2012-02-02 Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method Expired - Fee Related JP5807645B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012556847A JP5807645B2 (en) 2011-02-09 2012-02-02 Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011025899 2011-02-09
JP2011025899 2011-02-09
PCT/JP2012/052348 WO2012108323A1 (en) 2011-02-09 2012-02-02 Surface plasmon excitation fluorescence measurement device and surface plasmon excitation fluorescence measurement method
JP2012556847A JP5807645B2 (en) 2011-02-09 2012-02-02 Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2012108323A1 true JPWO2012108323A1 (en) 2014-07-03
JP5807645B2 JP5807645B2 (en) 2015-11-10

Family

ID=46638539

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012556847A Expired - Fee Related JP5807645B2 (en) 2011-02-09 2012-02-02 Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5807645B2 (en)
WO (1) WO2012108323A1 (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014171139A1 (en) * 2013-04-16 2014-10-23 コニカミノルタ株式会社 Measurement abnormality detection method and surface plasmon-field enhanced fluorescence measurement device
JP6350541B2 (en) * 2013-10-31 2018-07-04 コニカミノルタ株式会社 Surface plasmon resonance fluorescence analysis method, surface plasmon resonance fluorescence analyzer, and surface plasmon resonance fluorescence analysis system
JP6337905B2 (en) * 2013-10-31 2018-06-06 コニカミノルタ株式会社 Surface plasmon resonance fluorescence analysis method and surface plasmon resonance fluorescence analyzer
JP6477488B2 (en) * 2013-10-31 2019-03-06 コニカミノルタ株式会社 Detection device and detection method using the detection device
JP6399089B2 (en) * 2014-03-31 2018-10-03 コニカミノルタ株式会社 Surface plasmon resonance fluorescence analysis method, surface plasmon resonance fluorescence analyzer, and alignment method
JP6702046B2 (en) * 2016-07-11 2020-05-27 コニカミノルタ株式会社 Detection method and detection device
US10809198B2 (en) 2016-07-19 2020-10-20 Konica Minolta, Inc. Detection method and detection device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5241274B2 (en) * 2008-02-28 2013-07-17 富士フイルム株式会社 Detection method of detected substance
JP2010091553A (en) * 2008-09-09 2010-04-22 Konica Minolta Holdings Inc Method for detecting biomolecule

Also Published As

Publication number Publication date
JP5807645B2 (en) 2015-11-10
WO2012108323A1 (en) 2012-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5807645B2 (en) Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method
JP6369533B2 (en) Measuring method and measuring device
US20130078146A1 (en) Surface plasmon resonance fluorescence analysis device and surface plasmon resonance fluorescence analysis method
US9535004B2 (en) Surface plasmon resonance fluorescence analysis method and surface plasmon resonance fluorescence analysis device
JP6536413B2 (en) Surface plasmon resonance fluorescence analyzer and surface plasmon resonance fluorescence analysis method
JP6597814B2 (en) Measurement abnormality detection method and surface plasmon excitation enhanced fluorescence measurement apparatus
JP6635168B2 (en) Surface plasmon resonance fluorescence analysis method
JP6856074B2 (en) Measuring method, measuring device and measuring system
JP2012098256A (en) Surface plasmon resonance fluorescence analysis apparatus and surface plasmon resonance fluorescence analysis method
JP6760384B2 (en) Measuring method
JP6848975B2 (en) Measuring method
JP2013137272A (en) Surface plasmon-field enhanced fluorescence measuring apparatus and method for setting measuring condition thereof
JP2016004022A (en) Detecting device, detecting method, and detecting chip
JP5614321B2 (en) Surface plasmon measuring device and surface plasmon measuring method
JP5807641B2 (en) Surface plasmon resonance fluorescence analyzer and surface plasmon resonance fluorescence analysis method
JP6791248B2 (en) Detection method and detection device
JP5640873B2 (en) Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method
JPWO2012160923A1 (en) Reaction progress device, exchange product, and production method of exchange product
JP5825342B2 (en) Support structure and measuring device
WO2012042807A1 (en) Surface plasmon resonance fluorometry device and surface plasmon resonance fluorometry method
JP7469309B2 (en) Measurement method and device
JP7405846B2 (en) Measuring method and measuring device
JP2013088221A (en) Method for performing measurement and measuring apparatus
JP6350541B2 (en) Surface plasmon resonance fluorescence analysis method, surface plasmon resonance fluorescence analyzer, and surface plasmon resonance fluorescence analysis system
JPWO2016152707A1 (en) Measuring method, measuring device and measuring chip

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150317

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150518

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150811

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150824

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5807645

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees