JPWO2011093347A1 - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2011093347A1
JPWO2011093347A1 JP2011551883A JP2011551883A JPWO2011093347A1 JP WO2011093347 A1 JPWO2011093347 A1 JP WO2011093347A1 JP 2011551883 A JP2011551883 A JP 2011551883A JP 2011551883 A JP2011551883 A JP 2011551883A JP WO2011093347 A1 JPWO2011093347 A1 JP WO2011093347A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
sample
capacitance
tip
nozzle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2011551883A
Other languages
English (en)
Inventor
シャヘッド サルワル
シャヘッド サルワル
一啓 田中
一啓 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Publication of JPWO2011093347A1 publication Critical patent/JPWO2011093347A1/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1009Characterised by arrangements for controlling the aspiration or dispense of liquids
    • G01N35/1011Control of the position or alignment of the transfer device
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1009Characterised by arrangements for controlling the aspiration or dispense of liquids
    • G01N35/1011Control of the position or alignment of the transfer device
    • G01N2035/1013Confirming presence of tip

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

測定対象試料1を収容する試料容器2と、測定対象試料2を分注する分注プローブ5と、分注プローブ5の測定対象試料2との浸漬部分に着脱可能に装着された導電性のチップ11とを備えた自動分析装置において、分注プローブ5のチップ11と自動分析装置に予め定められた基準電位としての接地電位9との間の静電容量を検出し、その検出結果に基づいてチップ11の分注プローブ5への装着状態を判定する。これにより、プローブからのチップの脱落を素早く検出することができる自動分析装置を提供する。

Description

本発明は、血清や尿等の生体試料の定性・定量分析を行う自動分析装置に関する。
自動分析装置は、測定対象試料(例えば、血清や尿などの生体試料)に試薬等を加え、その物性を測定することにより、その測定対象試料の分析を行うものである。
このような自動分析装置においては、一般的に、測定対象試料、或いは測定対象試料と試薬の混合液である反応液をプローブを用いて吸引し、分析部まで搬送するが、この場合、プローブ外壁に付着した反応液の他の吸引対象への持ち込み(クロスコンタミネーション)を抑制する必要がある。
例えば、特許文献1には、プローブの吸引対象への浸漬部分にディスポーザブルのチップを着脱可能に設け、このチップを適宜交換することによりチップの付着物が他の吸引対象に混入して汚染してしまうクロスコンタミネーションを抑制する技術が開示されている。
特開平8−29424号公報
着脱可能に設けた使い捨てのできるチップ(所謂、ディスポーザブルチップ)を装着したプローブを用いる場合、装着状態によってはプローブからチップが脱落することも考えられ、その場合には、検体や反応液の損失、自動分析装置におけるオペレータ接触可能部位の汚染や動作継続による汚染の拡大などの発生が懸念される。したがって、チップの脱落時にはそれを素早く検出し、また、分注装置の動作を停止してさらなる汚染の拡大を抑制することが重要である。
しかしながら、上記従来技術においては、チップの脱落への対応については言及されていない。例えば、ディスポーザブルチップがプローブに正常に装着されているかどうかを検出するものとして、光学式のセンサ等を用いて確認することも考えられるが、ディスポーザブルチップがセンサの検出位置まで移動したときで無ければ確認出来ず、チップの脱落(異常)が生じた直後に機器の動作を停止することができないので、汚染などの不具合の拡大を抑制することができない。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、プローブからのチップの脱落を素早く検出することができる自動分析装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、測定対象試料の分析を行う自動分析装置であって、前記測定対象試料を収容する試料容器と、前記測定対象試料を分注するプローブ機構と、前記プローブ機構の前記測定対象試料との浸漬部分に着脱可能に装着された導電性のチップと、前記プローブ機構のチップと前記自動分析装置に予め定められた基準電位との間の静電容量を検出する静電容量検出部と、前記静電容量検出部の検出結果に基づいて前記チップのプローブ機構への装着状態を判定する装着状態判定部とを備えるものとする。
本発明によれば、プローブからのチップの脱落を素早く検出することができる。
本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を示す概略図である。 本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の分注工程におけるチップ装着工程を示す図である。 本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の分注工程における吸引工程を示す図である。 本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の分注工程における吐出工程を示す図である。 本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の分注工程におけるチップ破棄工程を示す図である。 本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の分注プローブと接地電位の間の静電容量と、静電容量検出部の出力電圧との関係の一例を示す図である。 本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の分注工程の各時間における静電容量の変化の様子の一例を示す図である
本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
図1は、本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の構成のうち分注に関する部分を抜き出して概略的に示す図であり、分注機構のノズルにチップを装着した様子を示す図である。
図1において、本実施の形態における自動分析装置100は、測定対象試料1(例えば、血清や尿などの生体試料)を収容する試料容器2と、測定対象試料1と試薬とを混合した混合液3を収容する反応容器4と、試料容器2の測定対象試料1を反応容器4に分注する分注プローブ5と、分注プローブ5を旋回駆動および上下駆動させる駆動部6と、分注プローブ5と基準電位(後述)との静電容量を検出する静電容量検出手段としての静電容量検出部7と、自動分析装置100の全体の動作を制御する制御部8とを概略備えている。
分注プローブ5は、試料容器2の開口部に対向するように設けられ、試料容器2に収容された測定対象試料1に浸漬して吸引するノズル10を備えている。ノズル10の先端(下端)の測定対象試料1に浸漬する部分には、使い捨て(ディスポーザブル)の導電性のチップ11が着脱可能に装着されている。分注プローブ5は測定対象試料1を吸引した後、駆動部6によってノズル10が反応容器4の開口部に対向する位置に駆動され、反応容器4に測定対象試料1を吐出する。このとき、チップ11のみが測定対象試料1に接触するのでノズル10に測定対象試料1が付着することを抑制し、クロスコンタミネーションを抑制することができる。
測定対象試料1を収容する試料容器2は、導電性あるいは非導電性の素材で構成されており、自動分析装置100において予め定められた基準電位9となる部位の近傍に配置されている。本実施の形態においては、基準電位9を接地電位(以下、接地電位9と記載する)とした場合を例に説明する。したがってノズル10と試料容器2が対向している時、ノズル10と接地電位9の間には、ノズル10と測定対象試料1の間の静電容量、測定対象試料1と接地電位9の間の静電容量、ノズル10と接地電位9の間の静電容量が概略存在する。なお、試料容器2を導電性として接地電位9と接続する、あるいは、試料容器2の内部の測定対象試料1と接触する位置に接地電位9に接続した電極を設けた構成とし、試料容器2に収容された測定対象試料1を接地電位9とする構成としても良い。その場合、ノズル10と測定対象試料1の間の静電容量は、つまりノズル10と接地電位9の間の静電容量になり、同時に測定対象試料1と接地電位9の間の静電容量は存在しない。
混合液3を収容する反応容器4は、導電性あるいは非導電性の素材で構成されており、接地電位9となる部位の近傍に配置されている。したがってノズル10と反応容器4が対向している時、ノズル10と接地電位9の間には、ノズル10と混合液3の間の静電容量、混合液3と接地電位9の間の静電容量、ノズル10と接地電位9の間の静電容量が概略存在する。なお、反応容器4を導電性として接地電位9と接続する、あるいは、反応容器4の内部の混合液3と接触する位置に接地電位9に接続した電極を設けた構成とし、混合液3を接地電位9とする構成としても良い。その場合、ノズル10と混合液3の間の静電容量は、つまりノズル10と接地電位9の間の静電容量になり、同時に混合液3と接地電位9の間の静電容量は存在しない。
静電容量検出部7は接地電位9及びノズル10に電気的に接続され、接地電位9とノズル10の間の静電容量を検出するものであり、検出した静電容量を電圧信号に変換し制御部8に出力する。
制御部8は、駆動部6や静電容量検出部7などの自動分析装置100全体の動作を制御するものであり、静電容量検出部7からの電圧信号に基づいてノズル10に装着されたチップ11の先端(下端)と測定対象試料1の液面位置の相対的な位置関係を検出する液面検出部8Aと、静電容量検出部7からの電圧信号に基づいてチップ11のノズル10への装着状態を検出する、装着状態判定手段、若しくは装着状態判定部としての装着状態検出部8Bとを有している。
制御部8は、液面検出部8Aからの検出結果に基づいて、分注プローブ5の動作を制御し、後述する分注工程におけるチップ11の液面への浸漬量を制御する。また、制御部8は、装着状態検出部8Bからの検出結果に基づいて、分注プローブ5を含む自動分析100全体の動作を制御する。装着状態検出部8Bによりノズル10に対するチップ11の装着状態の異常が検出された場合は、自動分析装置100の動作を停止するとともに、表示装置(図示せず)に警告を表示したり、警告音を鳴らしたりし、オペレータに異常を報知する。ここで、ノズル10に対するチップ11の装着状態の異常とは、チップ11の意図しない脱落、チップ11へのノズル10への挿入量不足などである。制御部8はその他、自動分析装置100の各構成の動作を制御する。
液面検出部8Aは、静電容量検出部7からの電圧信号を予め設定した閾値と比較し、その比較結果に基づいて液面位置を検出する。
装着状態検出部8Bは、静電容量検出部7からの電圧信号を予め設定した閾値と比較し、その比較結果に基づいてノズル10へのチップ11への装着状態を検出する。閾値は分注工程(後述)における動作状態毎に設定されており、各動作状態用の閾値が選択され用いられる。
図2A〜図2Dは、本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の分注工程を示す図である。図2Aはチップ装着工程を、図2Bは吸引工程を、図2Cは吐出工程を、図2Dはチップ破棄工程を、それぞれ示す図である。
図2Aに示すチップ装着工程においては、駆動部6により分注プローブ5を駆動してチップ11を装着していないノズル10をチップ装着位置に移動する。チップ装着位置にはチップラック11Aが設けられており、複数の未使用のチップ11が配置されている。チップ11はノズル10に対して着脱可能に形成されており、チップ11内にノズル10の先端を挿入することにより、チップ11をノズル10の先端に装着する。ノズル10にチップ11が正常に装着されると、次の吸引工程に移行する。
図2Bに示す吸引工程においては、チップ11を装着したノズル10を吸引位置に移動する。吸引位置は分注プローブ5のノズル10と試料容器2の開口部が対向する位置である。吸引位置において駆動部6により分注プローブ5を下降させ、ノズル10を試料容器2内に下降させる。ノズル10の先端に装着されたチップ11の先端(下端)が試料容器2の測定対象試料1に浸漬する位置で分注プローブ5の下降を停止し、測定対象試料1を吸引した後上昇する。チップ11内に測定対象試料1が吸引されると、次の吐出工程に移行する。
図2Cに示す吐出工程においては、チップ11を装着したノズル10を吐出位置に移動する。吐出位置は分注プローブ5のノズル10と反応容器4の開口部が対向する位置である。吐出位置において駆動部6により分注プローブ5を下降させ、ノズル10を反応容器4内に挿入し、測定対象試料1を吐出した後上昇する。チップ11内の測定対象試料1が反応容器4内に吐出されると、次のチップ破棄工程に移行する。
図2Dに示すチップ破棄工程においては、チップ11を装着したノズル10をチップ破棄位置に移動する。チップ破棄位置は分注プローブ5のノズル10と使用済みのチップ11を破棄するためのチップ廃棄容器12の開口部が対向する位置である。チップ破棄位置において図示しないチップ脱落機構により、チップ11をノズル10から外し、使用済みのチップ11をチップ破棄容器12内に破棄する。ノズル10のチップ11が正常に破棄されると、次の測定対象試料に対する分注工程のために吸引工程に移行し、必要な分注の回数だけ上記分注工程を繰り返す。
図3は、本発明の一実施の形態に係る自動分析装置100の分注プローブ5のノズル10と接地電位9の間の静電容量と、静電容量検出部7の電圧信号の出力電圧との関係の一例を示す図であり、横軸はノズル10と接地電位9の間の静電容量を、縦軸は出力電圧をそれぞれ示している。
図3に示すように、静電容量検出部7においては、ノズル10と接地電位9の間の静電容量(以下、単に静電容量と称する)がC1のときは出力電圧はV1であり、静電容量が小さくなるに従って出力電圧は減少し、静電容量がC3のときは出力電圧はV3となり、さらに静電容量が小さくなるに従って出力電圧は減少し、静電容量がC2のときは出力電圧はV2となる。ここで、静電容量C3はノズル10にチップ11を装着したときの静電容量であり、静電容量C2はノズル10へのチップ11の未装着時の静電容量であり、静電容量C1はノズル10にチップ11を装着して測定対象試料1に浸漬したときの静電容量である。
図4は、分注工程の各時間における静電容量の変化の様子の一例を示す図である。図4において縦軸は静電容量検出部7からの電圧信号を、横軸は分注工程における時間をそれぞれ示している。静電容量検出部7から制御部8へ出力される電圧信号の出力電圧は、図3で示して説明したように、関係に沿って変化するよう設定されている。
時間t1〜t2は、図2Aに示したチップ装着工程に相当する。時間t1においては、ノズル10にはチップ11が装着されておらず、静電容量はC2であるので、静電容量検出部7は電圧信号e(出力電圧V2:図3参照)を出力する。駆動部6により分注プローブ5を駆動してチップ11を装着していないノズル10をチップ装着位置に移動する時間t1〜t2においても静電容量はほぼ変化せず、電圧信号eを出力する。t2において、チップ11内にノズル10の先端を挿入し、チップ11をノズル10の先端に装着した場合、ノズル10にチップ11が正常に装着されると静電容量がC3に変化し、電圧信号c(出力電圧V3:図3参照)が出力される。ここで、装着状態検出部8Bに設定される閾値は、装着状態の電圧信号cと未装着状態の電圧信号eとの間の値(例えば、電圧信号d)に設定される。静電容量検出部7からの出力電圧が閾値dよりも大きくなるとチップ11がノズル10に正常に装着されたと判断される。
時間t2〜t6は、図2Bに示した吸引工程に相当する。時間t2〜t3においては、チップ11を装着したノズル10を吸引位置に移動するが、静電容量はほぼ変化せず静電容量検出部7は電圧信号cを出力する。ここで、装着状態検出部8Bに設定される閾値は、装着状態の電圧信号cと未装着状態の電圧信号eとの間の値(例えば、電圧信号d)に設定される。静電容量検出部7からの出力電圧が閾値dよりも大きい場合は正常に移動され、閾値より小さくなった場合はチップ11がノズル10から脱落するなどの異常が生じたと判断される。吸引位置に移動し、分注プローブ5を下降させてノズル10を試料容器2内に下降させる。時間t3において、ノズル10の先端に装着されたチップ11の先端(下端)が試料容器2の測定対象試料1に浸漬すると、静電容量がC1に変化し、電圧信号a(出力電圧V1:図3参照)が出力される。ここで、液面検出部8Bに設定される閾値は、電圧信号cとチップ11が浸漬した状態の電圧信号aとの間の値(例えば、電圧信号b)に設定される。静電容量検出部7からの出力電圧が閾値bよりも大きくなったときにチップ11の先端が測定対象試料1の液面に浸漬したと判断される。ここで、分注プローブ5の下降が停止される。そして、時間t4〜t5において、測定対象試料1を吸引した後、時間t6において上昇し、静電容量がふたたびC3に変化して電圧信号cが出力される。なお、分注プローブ5による測定対象試料1の吸引中は、静電容量が不安定となる(図4中には点線で示す)ため、液面検出部8A及び装着状態検出部8Bは検出動作を行わない。
時間t6〜t8は、図2Cに示した吐出工程に相当する。時間t6〜t7においては、チップ11を装着したノズル10を吐出位置に移動するが、静電容量はほぼ変化せず静電容量検出部7は電圧信号cを出力する。ここで、装着状態検出部8Bに設定される閾値は、装着状態の電圧信号cと未装着状態の電圧信号eとの間の値(例えば、電圧信号d)に設定される。静電容量検出部7からの出力電圧が閾値dよりも小さくなった場合はチップ11がノズル10から脱落するなどの異常が生じたと判断される。吐出位置に移動した後、時間t7〜t8において、分注プローブ5のノズル10から測定対象試料1を反応容器4に吐出する。なお、分注プローブ5による測定対象試料1の吐出中は静電容量が不安定となる(図4中には点線で示す)ため、液面検出部8A及び装着状態検出部8Bは検出動作を行わない。
時間t8〜t9は、図2Dに示したチップ破棄工程に相当する。時間t8〜t9においては、チップ11を装着したノズル10をチップ破棄位置に移動するが、静電容量はほぼ変化せず静電容量検出部7は電圧信号cを出力する。ここで、装着状態検出部8Bに設定される閾値は、装着状態の電圧信号cと未装着状態の電圧信号eとの間の値(例えば、電圧信号d)に設定される。静電容量検出部7からの出力電圧が閾値dよりも小さくなった場合はチップ11がノズル10から脱落するなどの異常が生じたと判断される。時間t9において、チップ破棄位置において図示しないチップ脱落機構により、チップ11をノズル10から外されると、静電容量がC2に変化し、電圧信号e(出力電圧V2:図3参照)が出力される。ここで、装着状態検出部8Bに設定される閾値は、装着状態の電圧信号cと未装着状態の電圧信号eとの間の値(例えば、電圧信号d)に設定される。静電容量検出部7からの出力電圧が閾値dよりも小さくなった場合はチップ11がノズル10から正常に破棄された判断される。
以上のように構成した本実施の形態における動作を説明する。
駆動部6により分注プローブ5を駆動してチップ11を装着していないノズル10をチップ装着位置に移動する。チップ装着位置にはチップラック11Aが設けられており、複数の未使用のチップ11が配置されている。チップ11はノズル10に対して着脱可能に形成されており、チップ11内にノズル10の先端を挿入することにより、チップ11をノズル10の先端に装着する。ノズル10にチップ11が正常に装着されると、ノズル10を吸引位置に移動する。
吸引位置において駆動部6により分注プローブ5を下降させ、ノズル10を試料容器2内に下降させる。ノズル10の先端に装着されたチップ11の先端(下端)が試料容器2の測定対象試料1に浸漬する位置で分注プローブ5の下降を停止し、測定対象試料1を吸引した後上昇する。
チップ11内に測定対象試料1が吸引されると、チップ11を装着したノズル10を吐出位置に移動する。吐出位置は分注プローブ5のノズル10と反応容器4の開口部が対向する位置である。吐出位置において駆動部6により分注プローブ5を下降させ、ノズル10を反応容器4内に挿入し、測定対象試料1を吐出した後上昇する。チップ11内の測定対象試料1が反応容器4内に吐出されると、チップ11を装着したノズル10をチップ破棄位置に移動する。
チップ破棄位置は分注プローブ5のノズル10と使用済みのチップ11を破棄するためのチップ廃棄容器12の開口部が対向する位置である。チップ破棄位置において図示しないチップ脱落機構により、チップ11をノズル10から外し、使用済みのチップ11をチップ破棄容器12内に破棄する。ノズル10のチップ11が正常に破棄されると、次の測定対象試料に対する分注工程のために吸引工程に移行し、必要な分注の回数だけ上記分注工程を繰り返す。
以上のように構成した本実施の形態における効果を説明する。
着脱可能に設けたディスポーザブルのチップ(ディスポーザブルチップ)を装着したプローブを用いる場合、プローブからチップが脱落することも考えられ、その場合には、検体の損失、分注済み反応液の損失、オペレータ接触可能部位の汚染等が起こる恐れとともに、自動分析装置の動作により汚染が拡大してしまう恐れもある。したがって、チップの脱落時には、それを検出して分注装置の動作を停止し、さらなる汚染の拡大を抑制することが重要である。しかしながら、従来技術においては、チップの脱落への対応については言及されておらず、ディスポーザブルチップがプローブに正常に装着されているかどうかを検出するものとして、例えば、光学式のセンサ等を用いて確認することも考えられるが、ディスポーザブルチップがセンサの検出位置まで移動したときで無ければ確認出来ず、チップの脱落等の装着異常が生じた直後に機器の動作を停止することができないので、汚染等の不具合の拡大を抑制することができない。
これに対し、本実施の形態においては、測定対象試料を吸引および吐出することにより搬送する分注プローブ5のノズル10の試料容器2に収容された測定対象試料1に浸漬する部分に導電性のチップ11を着脱可能に装着し、チップ11と接地電位との間の静電容量を検出する静電容量検出部7の検出結果に基づいて、チップ11の分注プローブ5への装着状態を検出するよう構成したので、分注プローブ5からチップ11が脱落したことを常時確認することができ、チップ11が脱落したときの汚染の拡大を抑制することができる。
なお、本実施の形態においては、予め定めた基準電位として接地電位9を用いた場合を例に取り説明したが、これに限られず、分析装置に予め定めた接地電位以外の電位を基準電位9として用いてもよい。この場合においても、本実施の形態と同様の効果を得ることができる。
また、試料容器2及び反応容器4は、導電性の素材で構成され、基準電位としての接地電位9に接続されている場合を示したが、これに限られず、試料容器2や反応容器4を導電性を考慮しない素材で構成し、基準電位(接地電位9)以外の電位とする構成としてもよい。この場合は、試料容器2や反応容器4と基準電位9の間の静電容量を予め考慮した構成とする。
なおまた、本実施の形態においては、静電容量検出部7からの検出結果と閾値との比較結果に基づいて、ノズル10へのチップ11の装着状態を検出するように構成したが、これに限られず、検出結果の変化率が予め定めた範囲内であるかどうかで、ノズル10へのチップ11の装着状態を検出するように構成しても良い。
1 測定対象試料
2 試料容器
3 混合液
4 反応容器
5 分注プローブ
6 駆動部
7 静電容量検出部
8 制御部
8A 液面検出部
8B 装着状態判定部
9 接地電位(基準電位)
10 ノズル
11 チップ
11A チップラック
12 チップ破棄容器
100 自動分析装置

Claims (5)

  1. 測定対象試料の分析を行う自動分析装置であって、
    前記測定対象試料を収容する試料容器と、
    前記測定対象試料を分注するプローブ機構と、
    前記プローブ機構の前記測定対象試料との浸漬部分に着脱可能に装着された導電性のチップと、
    前記プローブ機構のチップと前記自動分析装置に予め定められた基準電位との間の静電容量を検出する静電容量検出部と、
    前記静電容量検出部の検出結果に基づいて前記チップのプローブ機構への装着状態を判定する装着状態判定部と
    を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  2. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記試料容器に収容された前記測定対象試料は、前記基準電位に電気的に接続されていることを特徴とする自動分析装置。
  3. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記装着状態判定部は、前記静電容量と予め定めた閾値との比較結果に基づいて、前記チップの着脱状態を判断することを特徴とする自動分析装置。
  4. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記装着状態判定部は、前記静電容量の変化率に基づいて、前記チップの着脱状態を判断することを特徴とする自動分析装置。
  5. 前記測定対象試料を収容する試料容器と、前記測定対象試料を分注するプローブ機構と、前記プローブ機構の前記測定対象試料との浸漬部分に着脱可能に装着された導電性のチップとを備えた自動分析装置における分析方法であって、前記プローブ機構のチップと前記自動分析装置に予め定められた基準電位との間の静電容量を検出する手順と、前記静電容量検出部の検出結果に基づいて前記チップのプローブ機構への装着状態を判定する手順とを備えたことを特徴とする分析方法。
JP2011551883A 2010-01-29 2011-01-26 自動分析装置 Pending JPWO2011093347A1 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010018089 2010-01-29
JP2010018089 2010-01-29
PCT/JP2011/051516 WO2011093347A1 (ja) 2010-01-29 2011-01-26 自動分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2011093347A1 true JPWO2011093347A1 (ja) 2013-06-06

Family

ID=44319331

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011551883A Pending JPWO2011093347A1 (ja) 2010-01-29 2011-01-26 自動分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20120309099A1 (ja)
EP (1) EP2530473A1 (ja)
JP (1) JPWO2011093347A1 (ja)
CN (1) CN102725642A (ja)
WO (1) WO2011093347A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013044692A (ja) * 2011-08-26 2013-03-04 Hitachi High-Technologies Corp 分注機構及びこれを用いた自動分析装置
JP2013096910A (ja) * 2011-11-02 2013-05-20 Tosoh Corp B/f洗浄装置
NL2011710C2 (en) * 2013-10-31 2015-05-04 F G J Lammertink Beheer B V Device for cleaning a stylus of a measuring probe.
WO2016027319A1 (ja) * 2014-08-20 2016-02-25 株式会社島津製作所 質量分析装置
CN106226358B (zh) * 2016-09-08 2023-05-26 上海市特种设备监督检验技术研究院 一种用于埋地钢管外防腐层的检测器及其检测方法
JP6837086B2 (ja) * 2019-01-24 2021-03-03 日本電子株式会社 自動分析装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0835971A (ja) * 1994-07-25 1996-02-06 Hitachi Ltd ピペット
JP2005201769A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Sysmex Corp 分析装置
JP2007322394A (ja) * 2006-06-05 2007-12-13 Olympus Corp 分注装置および自動分析装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0829424A (ja) 1994-07-15 1996-02-02 Hitachi Ltd 免疫学的分析方法及び装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0835971A (ja) * 1994-07-25 1996-02-06 Hitachi Ltd ピペット
JP2005201769A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Sysmex Corp 分析装置
JP2007322394A (ja) * 2006-06-05 2007-12-13 Olympus Corp 分注装置および自動分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2530473A1 (en) 2012-12-05
CN102725642A (zh) 2012-10-10
WO2011093347A1 (ja) 2011-08-04
US20120309099A1 (en) 2012-12-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1557674B1 (en) Analyzer and analyzing method using disposable tips
WO2010104072A1 (ja) 分析装置および分注プローブ洗浄方法
WO2011093347A1 (ja) 自動分析装置
JP5686744B2 (ja) 自動分析装置
JP2007114192A (ja) 液面検知装置
EP2878955B1 (en) Automated analyzer
US9329195B2 (en) Container cleaning device, discharge member for container cleaning device, and analyzer
JPH11133035A (ja) 液面検出機能を備えた自動分析装置
JP2011257386A (ja) 自動分析装置
CN112585477B (zh) 自动分析系统
JP2010071765A (ja) 分注プローブ洗浄方法および自動分析装置
JP2010197047A (ja) 分注方法、分析装置および分析装置
JP2009175132A (ja) 自動分析装置及びその分注方法
JP5111328B2 (ja) 自動分析装置
JP5199785B2 (ja) 血液サンプル検出方法、血液サンプル分注方法、血液サンプル分析方法、分注装置および血液サンプル種類検出方法
JP2010071766A (ja) 分注装置、自動分析装置および分注不良確認方法
WO2010001646A1 (ja) 分注ノズル内径汚れ検知方法および検体分注装置
JP2015132521A (ja) 溶液調製システム
JP6711690B2 (ja) 自動分析装置
JP2014157073A (ja) 自動分析装置
JP2015031586A (ja) 分析装置及び液体吸引装置
WO2010150502A1 (ja) 自動分析装置
JP2004251796A (ja) 自動分析装置及びそれに用いられる検体吸引方法
JP2022137543A (ja) 自動分析装置
JP6462224B2 (ja) 自動分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130917

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140624

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20141021