JPS646412B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS646412B2 JPS646412B2 JP54140074A JP14007479A JPS646412B2 JP S646412 B2 JPS646412 B2 JP S646412B2 JP 54140074 A JP54140074 A JP 54140074A JP 14007479 A JP14007479 A JP 14007479A JP S646412 B2 JPS646412 B2 JP S646412B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluctuation
- power supply
- voltage
- voltage fluctuation
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は情報処理装置の等の交流入力電源変動
試験方法に関するものである。
試験方法に関するものである。
近年情報処理装置は、専用に設備された電源系
統でなく、他の事務器や、制御装置と共通の電源
系統で使用される事が多くなつて来ている。
統でなく、他の事務器や、制御装置と共通の電源
系統で使用される事が多くなつて来ている。
この共通の電源系統は種々の接続された機器の
ためノイズ、位相の乱れ、変動等電源の質が悪化
している。従つて情報処理装置の交流入力電源に
対する耐変動性のテストが重要になつてきてい
る。
ためノイズ、位相の乱れ、変動等電源の質が悪化
している。従つて情報処理装置の交流入力電源に
対する耐変動性のテストが重要になつてきてい
る。
従来はスライダツクや、変圧トランス等を用い
て、人手により供給電源を変化させていた。しか
しこの方法は、変化させる毎に人手を必要とする
のみならず、電源を変化させるタイミング、時
間、等を連続して長時間変化させる事が出来な
い、つまり比較的ゆつくりした電源変動を数回行
うのが限度であつた。
て、人手により供給電源を変化させていた。しか
しこの方法は、変化させる毎に人手を必要とする
のみならず、電源を変化させるタイミング、時
間、等を連続して長時間変化させる事が出来な
い、つまり比較的ゆつくりした電源変動を数回行
うのが限度であつた。
本発明は、情報処理装置の交流入力電源を、実
際の使用状態に近い条件で変動テストを行うため
に、変動タイミング、変動時間、規定電圧に対す
る変動巾の組合せを順次変化させながら長時間連
続して交流入力電源変動試験を行う方法ご提供す
るものである。
際の使用状態に近い条件で変動テストを行うため
に、変動タイミング、変動時間、規定電圧に対す
る変動巾の組合せを順次変化させながら長時間連
続して交流入力電源変動試験を行う方法ご提供す
るものである。
以下本発明を図面により詳細に説明する。
第１図は本発明の実施例であり、第２図は第１
図各部の波形図である。
図各部の波形図である。
第１図においては、POWが交流電源供給源で
ある電源ユニツト、DEVが交流電源受電部であ
る情報処理装置等の被試験装置である。又TEST
は、交流電源変動装置である。
ある電源ユニツト、DEVが交流電源受電部であ
る情報処理装置等の被試験装置である。又TEST
は、交流電源変動装置である。
次に第１図の動作を第２図の波形図を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
まず、制御部であるマイコンMCにより、先ず
デイレイカウンタDCに遅延時間をセツトする。
デイレイカウンタDCに遅延時間をセツトする。
次にレジスタ回路REGの入力にサイリスタSR
１〜SR２のいずれかを選択する情報をデータバ
スDBから与えておく。
１〜SR２のいずれかを選択する情報をデータバ
スDBから与えておく。
トランスの端子Ｔ５、Ｔ６からの信号は、ゼロ
クロス回路、パルス発生回路により、パルス信号
ZPLを発生させる。このパルス信号ZPLは、マイ
コンMCに対しては割込要求信号INTとなり、マ
イコンMCで処理後START信号を返送させる。
クロス回路、パルス発生回路により、パルス信号
ZPLを発生させる。このパルス信号ZPLは、マイ
コンMCに対しては割込要求信号INTとなり、マ
イコンMCで処理後START信号を返送させる。
デイレイカウンターDCは、START信号を受
取つて、スタートし前記デイレイカウンタDCに
セツトした遅延時間のZPL信号をデイレイ回路
DELにより遅延させてSPL信号を発生させる。
取つて、スタートし前記デイレイカウンタDCに
セツトした遅延時間のZPL信号をデイレイ回路
DELにより遅延させてSPL信号を発生させる。
これは、デイレイカウンタDCの内容とデイレ
イ回路DELからの出力とを一致回路MAで一致を
とることにより行える。このSPL信号によりレジ
スタ回路REGは、既に与えられている情報を取
込む。
イ回路DELからの出力とを一致回路MAで一致を
とることにより行える。このSPL信号によりレジ
スタ回路REGは、既に与えられている情報を取
込む。
レジスタ回路REGの出力は、デコーダ回路
DEC及びSRドライバー回路SRDを経て、SR１
〜SR４のいずれかの指定されたサイリスタSRを
オンさせる。
DEC及びSRドライバー回路SRDを経て、SR１
〜SR４のいずれかの指定されたサイリスタSRを
オンさせる。
SR１〜SR４はトランスのタツプＴ１〜Ｔ４に
対応しており、そのタツプの交流電圧が端子Ｔ７
〜Ｔ８間に情報処理装置の交流入力電源として供
給される。
対応しており、そのタツプの交流電圧が端子Ｔ７
〜Ｔ８間に情報処理装置の交流入力電源として供
給される。
又マイコンMCはZPLによる割込要求信号INT
をカウントすることによりSR１〜SR４のオンに
なつている時間、オフになつている時間を認知し
制御する。
をカウントすることによりSR１〜SR４のオンに
なつている時間、オフになつている時間を認知し
制御する。
この様に端子Ｔ７〜Ｔ８の電圧はレジスタ回路
REGにセツトされた内容により電圧幅の変動及
び変動時間が決定され、デイレイカウンタDCに
セツトされた内容により変動タイミングが決定さ
れる。
REGにセツトされた内容により電圧幅の変動及
び変動時間が決定され、デイレイカウンタDCに
セツトされた内容により変動タイミングが決定さ
れる。
このようにマイコンMCのプログラムを設定し
ておくことにより電圧変動タイミング、電圧変動
幅、変動時間が任意の組合せで、長時間に渡りく
り返し連続して人手の操作なしで試験する事が可
能である。
ておくことにより電圧変動タイミング、電圧変動
幅、変動時間が任意の組合せで、長時間に渡りく
り返し連続して人手の操作なしで試験する事が可
能である。
第１図の実施例ではトランスの出力電圧のタツ
プはＴ１〜Ｔ４の４種で説明したが必要な電圧の
種類の数だけ用意すればよく、制御の中心をマイ
コンを用いて説明したが、ROM制御回路、シー
ケンサー等の他の電子回路でも同様の事が出来
る。
プはＴ１〜Ｔ４の４種で説明したが必要な電圧の
種類の数だけ用意すればよく、制御の中心をマイ
コンを用いて説明したが、ROM制御回路、シー
ケンサー等の他の電子回路でも同様の事が出来
る。
この試験方法により、従来から行つていた交流
入力電源変動テストのテスト効果が著じるしく向
上した。
入力電源変動テストのテスト効果が著じるしく向
上した。
つまり、電圧変動のタイミング、変動幅、変動
時間が細かく設定出来、長時間連続テストが可能
になり信頼性が向上した。
時間が細かく設定出来、長時間連続テストが可能
になり信頼性が向上した。
又人手の操作介入がなくなるため工数の削減も
計れる。
計れる。
第１図は本発明の実施例、第２図は第１図各部
の波形図である。 図において、POWは電源ユニツト、TESTは
交流電源変動装置、DEVは被試験装置、MCは制
御部、DCはデイレイカウンタ、DELはデイレイ
回路、MAは一致回路、REGはレジスタ回路、
DECはデコーダ回路、SRDはSRドライバー回
路、SR１〜SR４はサイリスタを示す。
の波形図である。 図において、POWは電源ユニツト、TESTは
交流電源変動装置、DEVは被試験装置、MCは制
御部、DCはデイレイカウンタ、DELはデイレイ
回路、MAは一致回路、REGはレジスタ回路、
DECはデコーダ回路、SRDはSRドライバー回
路、SR１〜SR４はサイリスタを示す。
Claims (1)
- １ 交流電源供給源と交流電源受電部との間に、
電圧変動タイミング、電圧変動時間、規定電圧に
対する電圧変動幅等の各組合せを連続して、変化
させる事が出来る交流電源変動装置を接続して、
電圧変動タイミング、電圧変動時間、電圧変動幅
等の各組合せ試験を連続して行う交流電源変動自
動試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14007479A JPS5663272A (en) | 1979-10-30 | 1979-10-30 | Automatic test method for fluctuation of alternating current input power source |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14007479A JPS5663272A (en) | 1979-10-30 | 1979-10-30 | Automatic test method for fluctuation of alternating current input power source |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5663272A JPS5663272A (en) | 1981-05-29 |
| JPS646412B2 true JPS646412B2 (ja) | 1989-02-03 |
Family
ID=15260354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14007479A Granted JPS5663272A (en) | 1979-10-30 | 1979-10-30 | Automatic test method for fluctuation of alternating current input power source |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5663272A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0475210U (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-30 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5954858U (ja) * | 1982-10-04 | 1984-04-10 | 株式会社明電舎 | 変換装置の診断装置 |
-
1979
- 1979-10-30 JP JP14007479A patent/JPS5663272A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0475210U (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-30 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5663272A (en) | 1981-05-29 |
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