JPS6398643U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6398643U JPS6398643U JP19385986U JP19385986U JPS6398643U JP S6398643 U JPS6398643 U JP S6398643U JP 19385986 U JP19385986 U JP 19385986U JP 19385986 U JP19385986 U JP 19385986U JP S6398643 U JPS6398643 U JP S6398643U
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- semiconductor devices
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例を示す構成図である
。 1……接触板1、2……接触板2、3……IC
、3a,3b……ICリード、4……バネシヤフ
ト、5a,5b,5c,5d……接触子。
。 1……接触板1、2……接触板2、3……IC
、3a,3b……ICリード、4……バネシヤフ
ト、5a,5b,5c,5d……接触子。
Claims (1)
- 半導体素子の電気的特性試験において、接触板
が交互に凹凸していることと、素子の各々のリー
ドが凹凸の間に挾まれることで接触することを具
備する半導体素子検査用ソケツト。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19385986U JPS6398643U (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19385986U JPS6398643U (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6398643U true JPS6398643U (ja) | 1988-06-25 |
Family
ID=31150280
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19385986U Pending JPS6398643U (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6398643U (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6059976B2 (ja) * | 1978-12-11 | 1985-12-27 | ソシエテ フランセ−ズ デレクトロメタルルジ−−ソフレム | マンガン鉄合金の脱珪のための方法 |
JPS61194856A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-29 | Toshiba Corp | 半導体装置用テストソケツト |
-
1986
- 1986-12-16 JP JP19385986U patent/JPS6398643U/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6059976B2 (ja) * | 1978-12-11 | 1985-12-27 | ソシエテ フランセ−ズ デレクトロメタルルジ−−ソフレム | マンガン鉄合金の脱珪のための方法 |
JPS61194856A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-29 | Toshiba Corp | 半導体装置用テストソケツト |