JPS6395371A - 回転ムラ測定器 - Google Patents
回転ムラ測定器Info
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- JPS6395371A JPS6395371A JP24044386A JP24044386A JPS6395371A JP S6395371 A JPS6395371 A JP S6395371A JP 24044386 A JP24044386 A JP 24044386A JP 24044386 A JP24044386 A JP 24044386A JP S6395371 A JPS6395371 A JP S6395371A
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Links
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 abstract 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- -1 ferrous metals Chemical class 0.000 description 1
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- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光のドツプラ効果を利用して、音響機器、
情報機器、工作機械等の回転体及び鉄鋼。
情報機器、工作機械等の回転体及び鉄鋼。
非鉄金属、フィルム等製造ラインの移動物体の回転ムラ
、速度ムラを計測する回転ムラ測定器に関するものであ
る。
、速度ムラを計測する回転ムラ測定器に関するものであ
る。
音#!J81器であるレコードプレーヤ、テープレコー
ダ、VTrtの回転ムラは録音・録画、再生時の音質2
画質を左右する重要な要素であり2回転ムラいわゆるワ
ウ・フラッタの良し悪しがこれら機器の商品価値を決定
する。
ダ、VTrtの回転ムラは録音・録画、再生時の音質2
画質を左右する重要な要素であり2回転ムラいわゆるワ
ウ・フラッタの良し悪しがこれら機器の商品価値を決定
する。
また、複写機、印刷機、レーザプリンタなどでは、tR
送されろフィルト等印画紙の速度ムラがある場合、得ら
れた印画に濃淡2色ずれ2分解能の甘さなど種々の問題
が生じる。
送されろフィルト等印画紙の速度ムラがある場合、得ら
れた印画に濃淡2色ずれ2分解能の甘さなど種々の問題
が生じる。
したがって、このような分野における回転ムラ。
速度ムラの測定はこれら機器の検査等に必要不可欠なも
のとなっている。
のとなっている。
−Sに2回転ムラ、速度ムラは、第(1)式に示すワウ
・フラッタW/Fという指標で示される。
・フラッタW/Fという指標で示される。
■
ここで V; 回転速度(rp+m又は17分)△■;
回転ムラ速度frp園又は17分)第(1)式は2回
転速度Vに対する回転ムラ速度Δ■の比の百分率で示さ
れ2通常周波数成分として0.2 Hz以上の回転ムラ
速度について評価される。
回転ムラ速度frp園又は17分)第(1)式は2回
転速度Vに対する回転ムラ速度Δ■の比の百分率で示さ
れ2通常周波数成分として0.2 Hz以上の回転ムラ
速度について評価される。
第3図は、従来の非接触光学式速度センサを用い2回転
体の回転ムラを計測する回転ムラ測定器を示す構成図で
あり、(1)はモータ等に直結して回転する回転体、(
2)はレーザ装置、(3)はレーザ装置(2)からのレ
ーザ光を二分割するビームスプリッタ。
体の回転ムラを計測する回転ムラ測定器を示す構成図で
あり、(1)はモータ等に直結して回転する回転体、(
2)はレーザ装置、(3)はレーザ装置(2)からのレ
ーザ光を二分割するビームスプリッタ。
(4a) 、 (4b) 、 (4c)はレーザ光の方
向を変えるためのミラー、(5)は回転体(1)から散
乱された光を受信するためのレンズ、(6)は受信光を
電気信号に変換する光検出器、(7)は交流増幅器、(
8)は周波数追跡器、(9)は周波数追跡器(8)の出
力周波数をこの周波数に比例したアナログ電圧に交換す
る周波数−電圧変換器(以下F−V変換器という。)
、 Ur:Jは周波数追跡器(8)の出力パルス周波数
をカウントする周波数カウンタ、 (11)はF−V変
換器(9)の出力電圧を可変する可変抵抗器等で代表さ
れる可変減衰器、 (+2)は可変減衰器(11)の出
カイ8号のうち直流成分をカットする高域フィルタ、
(131は可変減衰器(11)の出力信号のうち高周波
成分をカットする低域フィルタである。
向を変えるためのミラー、(5)は回転体(1)から散
乱された光を受信するためのレンズ、(6)は受信光を
電気信号に変換する光検出器、(7)は交流増幅器、(
8)は周波数追跡器、(9)は周波数追跡器(8)の出
力周波数をこの周波数に比例したアナログ電圧に交換す
る周波数−電圧変換器(以下F−V変換器という。)
、 Ur:Jは周波数追跡器(8)の出力パルス周波数
をカウントする周波数カウンタ、 (11)はF−V変
換器(9)の出力電圧を可変する可変抵抗器等で代表さ
れる可変減衰器、 (+2)は可変減衰器(11)の出
カイ8号のうち直流成分をカットする高域フィルタ、
(131は可変減衰器(11)の出力信号のうち高周波
成分をカットする低域フィルタである。
以上の構成の回転ムラ測定器において、レーザ装置(2
)から発信したレーザ光はビームスプリッタ(3)で二
分割され、一方のレーザビームはミラー(4b) 、
(4c)で他方のレーザビームはミラー(4a)で方向
を変えて2回転体(1)上の回転半径、 (、)に交差
させて照射すると、各々の照射ビームに対応した回転体
(1)の散乱光の波長は回転体(1)の回転半径「(m
)におけろ回転速度V(rn1分)に応じていわゆる正
負のドツプラシフトを起こす。
)から発信したレーザ光はビームスプリッタ(3)で二
分割され、一方のレーザビームはミラー(4b) 、
(4c)で他方のレーザビームはミラー(4a)で方向
を変えて2回転体(1)上の回転半径、 (、)に交差
させて照射すると、各々の照射ビームに対応した回転体
(1)の散乱光の波長は回転体(1)の回転半径「(m
)におけろ回転速度V(rn1分)に応じていわゆる正
負のドツプラシフトを起こす。
この二つの正負のドツプラシフトを受けた散乱光をレン
ズ(5)で集光し光検出器(6)に導き電気信号に変換
すると、この電気48号の中には、受信光の強さに比例
する直流信号と第(2)式に示すドツプラ周波数fdの
交流信号(以下ドツプラ信号という)が存在する。
ズ(5)で集光し光検出器(6)に導き電気信号に変換
すると、この電気48号の中には、受信光の強さに比例
する直流信号と第(2)式に示すドツプラ周波数fdの
交流信号(以下ドツプラ信号という)が存在する。
ここに
■= 回転体の回転半径r(111)における回転速度
λ: レーザ光の波長
ψ: 二つの照射ビームの交差角
光検出器(6)で電気信号に変換されたドツプラ信号は
、微弱で且つS/Nが低いため交流増幅器(7)で増幅
され2周波数追跡器(8)でS/N改善すると第(3)
式に示す回転体(1)の回転半径、 (、)における回
転速度Vに比例したドツプラ周波数fdがパルス信号と
して検出できる。回転速度■の中の回転ムラ速度ΔVは
2周波数追跡器(8)のドツプラ周波数fdの中の周波
数変調量Δfdとして検出される。
、微弱で且つS/Nが低いため交流増幅器(7)で増幅
され2周波数追跡器(8)でS/N改善すると第(3)
式に示す回転体(1)の回転半径、 (、)における回
転速度Vに比例したドツプラ周波数fdがパルス信号と
して検出できる。回転速度■の中の回転ムラ速度ΔVは
2周波数追跡器(8)のドツプラ周波数fdの中の周波
数変調量Δfdとして検出される。
この周波数変調信号である周波数追跡器(8)の出力信
号をF−V変換器(9)に入力すると、F−V変換器(
9)の出力はドツプラ周波数fdに比例した大きさの直
流電圧Eとその直流電圧Eを中心に回転ムラの大きさに
比例して上下する交流電圧ΔEの両方を重畳したアナロ
グ信号となる。
号をF−V変換器(9)に入力すると、F−V変換器(
9)の出力はドツプラ周波数fdに比例した大きさの直
流電圧Eとその直流電圧Eを中心に回転ムラの大きさに
比例して上下する交流電圧ΔEの両方を重畳したアナロ
グ信号となる。
一方円波数追跡器(8)の出力信号は2周波数カウンタ
0ωにも接続されており、ドツプラ信号fdを計数表示
し直読できろようになっている。
0ωにも接続されており、ドツプラ信号fdを計数表示
し直読できろようになっている。
F−V変換器(9)の出力側に接続された可変減衰器(
11)は、減衰量が周波数値で目盛られ、変換出力を入
力周波数に比例して減衰させる働きを有しており、可変
減衰器(11)の目盛周波数を周波数カウンタ00)で
測定した表示周波数に会わせろことにより、可変減衰器
(11)の出力には2回転体(1)の回転速度Vの大き
さに関係なく回転ムラ速度ΔV成分を第(1)式に示す
ように回転速度Vとの比率関係で取り出し得ることにな
る。
11)は、減衰量が周波数値で目盛られ、変換出力を入
力周波数に比例して減衰させる働きを有しており、可変
減衰器(11)の目盛周波数を周波数カウンタ00)で
測定した表示周波数に会わせろことにより、可変減衰器
(11)の出力には2回転体(1)の回転速度Vの大き
さに関係なく回転ムラ速度ΔV成分を第(1)式に示す
ように回転速度Vとの比率関係で取り出し得ることにな
る。
高域フィルタ(12)は0.2 Hz以上のワウ・フラ
ッタ成分のみを通過させるものであり、低域フィルタ(
13)は、F−V変換器(9)の出力のうちドツプラ周
波数成分1送波)の影響を除去するためのもので回転体
(1)の回転速度Vに応じてカットオフ周゛波数が可変
できるようになっている。このようにして1回転体(1
)の回転ムラ速度ΔVを第(1)式に示すワウ・フラッ
タW/Fとして求めることができる。
ッタ成分のみを通過させるものであり、低域フィルタ(
13)は、F−V変換器(9)の出力のうちドツプラ周
波数成分1送波)の影響を除去するためのもので回転体
(1)の回転速度Vに応じてカットオフ周゛波数が可変
できるようになっている。このようにして1回転体(1
)の回転ムラ速度ΔVを第(1)式に示すワウ・フラッ
タW/Fとして求めることができる。
上記従来の回転ムラ測定器で得られるドツプラ信号は、
二つの照射ビームの交差角ψと照射ビームの拡がりに依
存してドツプラ周波数fdを中心とした周波数の拡がり
を持った信号となる。
二つの照射ビームの交差角ψと照射ビームの拡がりに依
存してドツプラ周波数fdを中心とした周波数の拡がり
を持った信号となる。
このドツプラ周波数fdの周波散拡がりがF −■変換
器(9)でFM検波した回転ムラ信号の中にホワイトノ
イズとして存在するため2回転体(1)の回転ムラが小
さくなる場合は2回転ムラ化号が上記ホワイトノイズに
マスクされて検出できないという問題を有していた。
器(9)でFM検波した回転ムラ信号の中にホワイトノ
イズとして存在するため2回転体(1)の回転ムラが小
さくなる場合は2回転ムラ化号が上記ホワイトノイズに
マスクされて検出できないという問題を有していた。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので2回転体(11の回転ムラの測定分解能を向上させ
かつ2回転ムラの周波数成分も合わせ計測する回転ムラ
測定器を“得ろことを目的とするものである。
ので2回転体(11の回転ムラの測定分解能を向上させ
かつ2回転ムラの周波数成分も合わせ計測する回転ムラ
測定器を“得ろことを目的とするものである。
この発明に係る回転ムラ測定器は、低域フィルタ(]3
)の後に2周波数分析を行う高速フーリエ変換器を設け
たものである。
)の後に2周波数分析を行う高速フーリエ変換器を設け
たものである。
この発明においては2回転ムラの時間波形を高速フーリ
エ変換処理することにより時間領域から周波数領域に変
換して回転ムラの周波数ごとの回転ムラの大きさをパワ
ースペクトラム密度の形で求めるとともに、平均化処理
することで、ドツプラ周波数fdの周波散拡がりに依存
するホワイトノイズを除去し低レベルの回転ムラ計測を
可能としている。
エ変換処理することにより時間領域から周波数領域に変
換して回転ムラの周波数ごとの回転ムラの大きさをパワ
ースペクトラム密度の形で求めるとともに、平均化処理
することで、ドツプラ周波数fdの周波散拡がりに依存
するホワイトノイズを除去し低レベルの回転ムラ計測を
可能としている。
第1図はこの発明による一実施例を示す回転ムラ測定器
の構成図であり、以下図面に従い説明する。
の構成図であり、以下図面に従い説明する。
図中、(1)〜(13)は上記従来と同じものであり。
(14)は回転ムラ信号を時間領域から周波数領域に変
換する高速フーリエ変換器である。
換する高速フーリエ変換器である。
以上の構成の回転ムラ測定器において、低域フィルタ(
13)の出力信号である回転ムラ信号の時間波形x (
t)は第2図(a)に示すごとく2回転体(1)の回転
周期Tに依存して周期的波形xT(t)にホワイトノイ
ズn(1)が重畳した信号となる。
13)の出力信号である回転ムラ信号の時間波形x (
t)は第2図(a)に示すごとく2回転体(1)の回転
周期Tに依存して周期的波形xT(t)にホワイトノイ
ズn(1)が重畳した信号となる。
x (t) = XT (t)十n (t)
(3]上記回転ムラの時間波x (t)を高速
フーリエ変換器(14)で次式に示すフーリエ変換し2
周波数領域のパワースペクトラムP(ω)に変換すると
。
(3]上記回転ムラの時間波x (t)を高速
フーリエ変換器(14)で次式に示すフーリエ変換し2
周波数領域のパワースペクトラムP(ω)に変換すると
。
第2図(b)に示す回転ムラのパワースペクトラム密度
が得られる。この図で、Pl(ωx)、Pt(ω2)、
・・・・・はそれぞれ周波数ω8.ω2・・・・に
おける回転ムラの大きさを示し、N(ω)はホワイトノ
イズのパワースペクトラム密度を示す。N(ω)は、単
位周波数当たりのパワスペクトラムとして見れば低レベ
ルとなる。
が得られる。この図で、Pl(ωx)、Pt(ω2)、
・・・・・はそれぞれ周波数ω8.ω2・・・・に
おける回転ムラの大きさを示し、N(ω)はホワイトノ
イズのパワースペクトラム密度を示す。N(ω)は、単
位周波数当たりのパワスペクトラムとして見れば低レベ
ルとなる。
回転ムラの時間波形を高速フーリエ変換器(14)で単
位周波数当たりのパワースペクトラl、に変換すること
で、卓越周波数ω1.ω2ごとのパワースペクトラム密
度pt(ωt) 、Pi(ω2)・・・・を測定するこ
とができ2回転ムラ周波数ω!、ω2・・・・と回転ム
ラ周波薮に対応した回転ムラの大きさp+(ω1) 、
pi(ω2)、 ・ を同時に計測できる回転ムラ
測定器となる。
位周波数当たりのパワースペクトラl、に変換すること
で、卓越周波数ω1.ω2ごとのパワースペクトラム密
度pt(ωt) 、Pi(ω2)・・・・を測定するこ
とができ2回転ムラ周波数ω!、ω2・・・・と回転ム
ラ周波薮に対応した回転ムラの大きさp+(ω1) 、
pi(ω2)、 ・ を同時に計測できる回転ムラ
測定器となる。
以上のようにこの発明によれば2回転ムラの時間波形を
高速フーリエ変換することで2周波数領域のパワースペ
クトラムに変換し、従来、ホワイトノイズにマスクされ
た低レベルの回転ムラ信号でも1回転体(1)の回転ム
ラ周波数と回転ムラ周波数に対応した回転ムラの大きさ
を同時に計測できる回転ムラ測定器が提供できる。
高速フーリエ変換することで2周波数領域のパワースペ
クトラムに変換し、従来、ホワイトノイズにマスクされ
た低レベルの回転ムラ信号でも1回転体(1)の回転ム
ラ周波数と回転ムラ周波数に対応した回転ムラの大きさ
を同時に計測できる回転ムラ測定器が提供できる。
第1図はこの発明の一実施例を示す回転ムラ測定器の構
成図、第2図は回転ムラ信号を示す図。 第3図は従来の回転ムラ測定器の構成図である。 図中、 (14)は高速フーリエ変換器である。 なお2図中同一行号は同−又は相当部分を示す。
成図、第2図は回転ムラ信号を示す図。 第3図は従来の回転ムラ測定器の構成図である。 図中、 (14)は高速フーリエ変換器である。 なお2図中同一行号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 特定の波長の光を出力するレーザと、上記レーザの出力
ビームを二分割するビームスプリッタと、上記二分割し
たレーザビームの方向を回転体上に交差させて照射し得
るための複数のミラーと、上記二つの照射ビームの各々
について回転体の速度に応じてドップラシフトを起こし
た散乱光を一緒に受信するレンズと、上記レンズで受信
したドップラ信号を含む散乱光を電気変換する光検出器
と、上記光検出器の出力を増幅する交流増幅器と、上記
交流増幅器により増幅された信号からドップラ周波数を
検出する周波数追跡器と、上記周波数追跡器の出力信号
であるドップラ周波数をドップラ周波数に比例したアナ
ログ電圧に変換する周波数−電圧変換器と、上記ドップ
ラ周波数を計数する周波数カウンタと、上記周波数−電
圧変換器の出力信号を上記周波数カウンタで計数された
ドップラ周波数に比例して減衰し得る可変減衰器と、上
記可変減衰器の出力信号のうち直流成分と高周波成分を
それぞれ除去する高域フィルタと低域フィルタと、上記
低域フィルタの出力信号を時間領域から周波数領域に変
換する高速フーリエ変換器を備えたことを特徴とする回
転ムラ測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24044386A JPS6395371A (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | 回転ムラ測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24044386A JPS6395371A (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | 回転ムラ測定器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6395371A true JPS6395371A (ja) | 1988-04-26 |
Family
ID=17059570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24044386A Pending JPS6395371A (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | 回転ムラ測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6395371A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5504571A (en) * | 1993-06-17 | 1996-04-02 | Thot Technologies | Run-out velocity acceleration tester with direct velocity measurement |
CN108593955A (zh) * | 2018-04-04 | 2018-09-28 | 天津大学 | 用于转速周期性波动情况下瞬间转速测试方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59183373A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-18 | Mitsubishi Electric Corp | 回転装置 |
-
1986
- 1986-10-09 JP JP24044386A patent/JPS6395371A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59183373A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-18 | Mitsubishi Electric Corp | 回転装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5504571A (en) * | 1993-06-17 | 1996-04-02 | Thot Technologies | Run-out velocity acceleration tester with direct velocity measurement |
CN108593955A (zh) * | 2018-04-04 | 2018-09-28 | 天津大学 | 用于转速周期性波动情况下瞬间转速测试方法 |
CN108593955B (zh) * | 2018-04-04 | 2020-04-17 | 天津大学 | 用于转速周期性波动情况下瞬间转速测试方法 |
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