JPS6387725A - ステ−ジ移動機構 - Google Patents

ステ−ジ移動機構

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JPS6387725A
JPS6387725A JP61231087A JP23108786A JPS6387725A JP S6387725 A JPS6387725 A JP S6387725A JP 61231087 A JP61231087 A JP 61231087A JP 23108786 A JP23108786 A JP 23108786A JP S6387725 A JPS6387725 A JP S6387725A
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JP
Japan
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stage
wafer
alignment
frame
mask
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JP61231087A
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Shiro Hamada
史郎 浜田
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Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体生産用露光装置に係シ、特に。
半導体ウェハー等の試料が載置されたステージを高精度
に位置決め移動するためのステージ移動装置に関する。
(従来の技術) 近年、半導体集積回路の微細化により、高精度の露光装
置が要求されている。この露光装置に不可欠のものが高
精度の移動2位置決め装置である。
ここで、第5図を参照して、従来のX線露光装置の一例
について概説する。
露光装置ハウジング12には可動状態にステージ13が
配設され、このステージ13にはウェハー14が載置さ
れて、−アー・・り手段S嶌fによ゛りてロックされる
。ウェハー14と露光用マスク15との位置決めを行う
際、マスク15とウェハー14に設けられたアライメン
トマークを用いてマスク15とウェハー14とのアライ
メント(位置決め)が行われる。まず、マイクロスコー
プ16が破線で示す位置から実線で示す位置に移動する
ここで、光源17からの光によってマスク15とウェハ
ー14とのアライメントマークの像がマイクロスコープ
16を介してモニター8に映し出される。さらにこのア
ライメントマーク信号はアライメントマーク検出装置1
9に入力され、アライメント誤差が検出される。そして
、この誤差に基づいてスキャナー20によりステージ1
zが移動される。上記のアライメント誤差が許容値以内
となると、マイクロスコープ16が実線で示す位置から
破線で示す位置に移動し、 SOR光21によってウェ
ハー14が露光される。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、従来の露光装置の場合、マスクとウェハーと
のアライメントの際、その都度マイクロスコープ、即ち
位置決め検出装置をSOR光通路を塞ぐように移動して
、アライメントを行い、アライメントが終了すると1位
置決め検出装置を移動してSOR光通路を実質的にあけ
、その後SOR光によって露光を行っている。このよう
にアライメントの都度1位置決め検出装置を移動させな
ければならないから、スループット(単位時間当シの生
産量)が低くなるという問題点がある。
さらに1位置決め検出装置の移動による誤差によって、
マスクとウェハーとのアライメント検出が影響されると
いう問題点がある。
本発明の目的はスループットが高く、シかも位置決め精
度のよいステージ移動機構を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明によれば、直線軸案内に移動可能に支持されると
ともにこの直線軸案内に直角な方向に移 □動可能に支
持され、それぞれ露光用マスクが配置される第1及び第
2の枠体と、この第1及び第2の枠体内で、それぞれ上
記の直線軸案内方向及び上記の直角方向に移動可能に支
持され、ウェノ・−が載置される第1及び第2のステー
ジと、予め定められた第1及び第2の待機位置でそれぞ
れ第1及び第2のステージに対応して設けられ、ウェハ
ーと露光用マスクとの位置決めを行う第1及び第2のア
ライメント手段と、第1の枠体と第1のステージとを一
体として、第2の枠体と第2のステージとを一体として
露光位置へ移動する移動手段とを有し、第1及び第2の
待機位置における位置決めと露光位置へ・の移動を交互
に行うようにしたことを特徴とするステージ移動装置が
得られる。
(作用) 本発明のステージ移動装置では第1の待機位置において
、第1のステージに載置されたウェハーと第1の枠体に
配置されたマスクとが第1のアライメント手段によって
位置決めされている際、第2のステージに載置されたウ
ェハーと第2の枠体のマスク ゝ2]r誦2のアライメント手段によって位置決めさ□
エバーとマスクとの位置決めと露光位置への移動とを交
互に行っている。
(実施例) 以下本発明について実施例によシ説明する。
まず、第1図を参照して、長方形状の支持枠体1には長
手方向にスライダー1bを介して直線案内ロッド1aが
所定の間隔をおいて複数本(第1図では4本)取り付け
られている。一方、支持枠計の)端近傍において直線案
内ロッド1aに直交1:して複数のガイドロッドICが
所定の間隔をおいてスライダー1di介して支持枠体1
に取り付けられている。上述の直線案内ロッド1aには
後述するように露光用マスクが配置される第1の枠体2
が長手方向(以下X軸方向という)に移動可能に支持さ
れている。また、枠体2はガイドロッド1 c K f
5って、即ち、第1図に示すY軸に渚って移動可能であ
る。
枠体2内にはX軸方向に複数のガイドロッド2aが所定
の間隔をおいてスライダー2bを介して取シ付けられて
おシ、さらにガイドロッド2aに直交して複数のがイド
ロッド2Cが所定の間隔をおいてスライダー2dを介し
て枠体2に取り付けられている。ガイドロッド2aには
後述するように半導体用ウェハーが載置される第1のス
テージ3がX軸方向に移動可能に支持されている。また
この第1のステージ3はガイドロッド2c VC清っ体
4が直線案内コンド1aKX軸方向に移動可能に支持さ
れておシ、この第2の枠体4はガイドロッド1 e i
c f5ってY軸方向へ移動可能である。なお、ガイド
ロッド1eはスライダー1f’i介して支持枠体1に取
シ付けられている。スライダー4bを介して枠体4に取
付けられたガイドロッド4aには第2のステージ5がX
軸方向に移動可能に支持され、この第2のステージ5は
ガイドロッド4Cニ沿ってY軸方向に移動可能である。
なおガイドロッド4bはスライダー4di介して第2の
枠体4に取り付けられている。そして、第1の枠体2と
第2の枠体4との高さは異っておシ、X軸方向の駆動が
干渉しないようにしている。
第2図も参照して(なお、第2図では、第1図において
、左側の第1の枠体2及び第1のステージ3のみを示し
ている。)、第1のステージ3上にはピエゾ素子6aを
介してウェハチャック機構6が備えられておシ、このウ
ェハチャック機構6は第1のステージ3上で回転可能で
ある。そして。
ウェハー7がチャック機構6に保持される。一方。
枠体2Vcはマスクステージ8が連結されておυマスク
9が配置支持されている。
ところで、第1図に示すように第1の枠体2及び第1の
ステージ3が支持枠体1の左端近傍にあを状態(以下第
1の待機位置という)で第1のステージ3に対応して第
1のアライメント機構が備えられている。また第2の枠
体4及び第2のステージ5が枠体1の右端近傍にある状
態(以下第2の待機位置という)で第2のステージ5に
対応して第2のアライメント機構が備えられている(な
お、第1図には第1及び第2のアライメント機構を示さ
ず)。
アライメント機構はレベリング機構と位置決め機構とを
備えている。第2図に示すようにレベリング機構はレー
ザ発振器10a、レンズ系10b。
ビームスプリッタ−10c、ミラー10d〜10g。
及び光検出器10hを備えておシ、ミラー10d〜Lo
gはマスクステージ8に支持されている。
レーザ発振器10aからのレーザ光はレンズ系10b、
ビームスプリッタ10c、レティクル(図示せず)及び
ミラー10d、10eを経てウェハー7で焦点を形成し
、さらにウェハー7で反射された光はミラーLogで反
射され、再びウェハー7で焦点を形成して、ビームスプ
リンター10cを経て光検出器10hに入力される。上
述のレティクルはミラー10eを支持する支持材に形成
されているから、レティクルとウェハー7との距離が所
定の位置(フォーカスの位置)から離れると、即ち、マ
スク9とウェハー7との距離が所定の位置から離れると
、光検出器10hからの出力が弱くなる。従って、光検
出器10hからの出力が最大となるようにピエゾ素子6
aによってチャック機構6を調整し、ウェハー7とマス
ク9との平行度及び距離を所定の位置とする。
一方、第3図に示すように1位置決め機構はレーザ発振
器11a、f−θレンズ11b、プリズム11C,ビー
ムスプリッタlid、lie、ミラー11f〜111.
レンズllj 、llk、及び光検出器11t、l1m
等を備えている。
レーザ発振器11aからのレーザ光はf−θレンズll
bを経て、プリズムllcで2経路に分かれる。一方の
光はビームスプリッタlid、ミラー11f 、l1g
を経て、マスク9に形成され几しティク/I/(図示せ
ず)を通過し、ウェハー上のマーク(回折格子)に当る
。ウェハーマークによシ生じた回折光は上述の場合と逆
の経路をたどってビームスプリッタlidを経て光検出
器1 ]、 tに入力されろ。
同様に他の光はビームスプリッタ11e、ミラーllh
、lliを経てレティクル全通過し、ウェハーマークに
当る。ウェハーマークにより生じた回折光は逆の経路を
たどってビームスプリッタlieを経て光検出器11m
に入力される。
光検出器11t、l1mでの検出光量によって。
ることかできる。従って、光検出器11t、l1mでの
検出光量が最大となるようにステージ5をX軸方向ある
いはY軸方向に微調整する。
なお、前述のように枠体4上のマスクとステージ5上の
ウェハーも第2のアライメント機構により位置決めされ
る。
第4因も参照して、第2の枠体4及び第2のステージ5
は図示しない移動手段によって一体として第2の待機位
置から露光位置に移動して、 SOR光によってウェハ
ーが露光される。第2のステージ5において露光が行わ
れている際、前記のように第1の枠体2(マスク9)及
び第一1のステージ3におけるアライメントが実施され
、第1の枠体2及び第1のステージ3はアライメント終
了の状態で待機している。第2のステージ5における露
光が終了すると、第2の枠体4及び第2のステージ5が
第2の待機位置に戻るとともに、第1の枠λ     
1.3 体i及び第1のステージlが第1の待機位置から露光位
置に移動し、露光が開始される。この際第2の枠体1及
び第ンのステージfにおけるアライメントが行われる。
このようにして、第1及び第2のステージにおけるアラ
イメントと露光位置への移動、露光が交互に行われる。
(発明の効果) 以上説明し友ように2本発明では、マスクが配置される
第1の枠体と、この第1の枠体に対応して、ウェハーが
載置される第1のステージを備えるとともに、別にマス
クが配置される第2の枠体と、この枠体に対応して、ウ
ェハーが載置される第2のステージを備えており、しか
も第1及び第2のステージに対応してそれぞれウェハー
とマスクとのアライメントを行う第1及び第2のアライ
メント機構を備えており、第1及び第2のステージでの
アライメントと露光位置での露光とを交互に行うように
したから、アライメント機構の位置決め精度に起因する
ウェハーとマスクとのアライメント誤差が生ずることが
なく、また、第1のステージにおいて露光が行われてい
る際、第2のステージでアライメントが行われているの
でスループットが向上するという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に用いられるステージ移動機構の要部を
示す斜視図、第2図は本発明に用いられるアライメント
機構のレベリング機構の動作を説明するための図、第3
図は本発明に用いられるアライメント機構の位置決め機
構の動作を説明する1・・・支持枠体、ゝ2・・・第1
の枠体、3・・・第1°のステージ、4・・・第2の枠
体、5・・・第2のス、テージ。 6・・・ウェハチャック機構、7・・・ウェハー、8・
・・マスクステージ、9・・・マスク。 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、直線軸案内に移動可能に支持されるとともに該直線
    軸案内に直角な方向に移動可能に支持され、それぞれ露
    光用マスクが配置される第1及び第2の枠体と、該第1
    及び第2の枠体内で、それぞれ前記直線軸案内方向及び
    前記直角方向に移動可能に支持され、ウェハーが載置さ
    れる第1及び第2のステージと、予め定められた第1及
    び第2の待機位置でそれぞれ前記第1及び第2のステー
    ジに対応して設けられ、前記ウェハーと露光用マスクと
    の位置決めを行う第1及び第2のアライメント手段と、
    前記第1の枠体と前記第1のステージとを一体として、
    前記第2の枠体と前記第2のステージとを一体として露
    光位置へ移動する移動手段とを有し、前記第1及び第2
    の待機位置における前記位置決めと前記露光位置への移
    動を交互に行うようにしたことを特徴とするステージ移
    動装置。
JP61231087A 1986-10-01 1986-10-01 ステ−ジ移動機構 Granted JPS6387725A (ja)

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JPH0224012B2 JPH0224012B2 (ja) 1990-05-28

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