JPS6385385A - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器Info
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- JPS6385385A JPS6385385A JP61229677A JP22967786A JPS6385385A JP S6385385 A JPS6385385 A JP S6385385A JP 61229677 A JP61229677 A JP 61229677A JP 22967786 A JP22967786 A JP 22967786A JP S6385385 A JPS6385385 A JP S6385385A
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- Japan
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- scintillator
- rays
- photodiode
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 4
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 abstract 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
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Landscapes
- Nuclear Medicine (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は放射線検出器１例えばＸ線ＣＴスキャナに於る
Ｘ線検出器に関する。
Ｘ線検出器に関する。
（従来の技術） ′
従来の放射線検出器は、入射した放射線を光に変換する
シンチレータと、このシンチレータで変換された光を電
気信号に変換する光電変換素子とからなる放射線検出体
を放射線の入射方向に対して直角に配置してあった。
シンチレータと、このシンチレータで変換された光を電
気信号に変換する光電変換素子とからなる放射線検出体
を放射線の入射方向に対して直角に配置してあった。
例えばＸ線ＣＴスキャナでは、第５図及び第６図に示す
ように、多結晶セラミック（例えばＧ ｄ ｔ Ｏｔ
ｓ ： Ｐ ｒ ）から成るシンチレータ１と、光電変
換素子を構成するフォトダイオード２とからなるＸ線検
出体３をそれぞれＸ線管４から曝射されるＸ線の入射方
向に対して直角になるように複数配置して多ＣＨ検出器
５を構成し、各ＣＨに於て入射したＸ線を電気信号に変
換してその信号に基づいてＸ線ＣＴ像を再構成していた
（特願昭５７−８６２５９号、Ｕ Ｐ Ｓ ４３６２９
４６ ）。
ように、多結晶セラミック（例えばＧ ｄ ｔ Ｏｔ
ｓ ： Ｐ ｒ ）から成るシンチレータ１と、光電変
換素子を構成するフォトダイオード２とからなるＸ線検
出体３をそれぞれＸ線管４から曝射されるＸ線の入射方
向に対して直角になるように複数配置して多ＣＨ検出器
５を構成し、各ＣＨに於て入射したＸ線を電気信号に変
換してその信号に基づいてＸ線ＣＴ像を再構成していた
（特願昭５７−８６２５９号、Ｕ Ｐ Ｓ ４３６２９
４６ ）。
（発明が解決しようとする問題点）
ところが、以上のようなＸ線検出体３は、フォトダイオ
ード２をシンチレータｌのＸ線入射面１ａとは反対側の
面１ｂに設けてあり、シンチレータｌがＸ！ｌを充分に
吸収しないと、Ｘ線かフォトダイオード２に直接吸収さ
れることとなるため、フォトダイオード２から得られる
信号の質が低下するという問題がある。
ード２をシンチレータｌのＸ線入射面１ａとは反対側の
面１ｂに設けてあり、シンチレータｌがＸ！ｌを充分に
吸収しないと、Ｘ線かフォトダイオード２に直接吸収さ
れることとなるため、フォトダイオード２から得られる
信号の質が低下するという問題がある。
一方、シンチレータ１の厚さｔを大きくすれば、Ｘ線が
充分に吸収されることとなるので上記問題点は解決され
るが、多結晶セラミックから成るシンチレータは若干の
不透明性を有しているため、シンチレータ１の入射面１
ａ近くて発光した可視光は、その一部しかフォトダイオ
ード２に届かず、このため、低エネルギーＸ線の信号出
力に対するＣｏｎｔｒｉｂｕｔｉｏｎが低減して画像・
のコントラスト分解能の低下や、信号雑音比の低下を来
すという別の問題が生ずる。又、シンチレータ１の厚さ
を大きくした場合には、その透明度のバラツキも大きく
なるため、多ＣＨ検出器５の各０８間に於るエネルギー
特性（直線性の一種）がばらついてアーチファクを生み
やすいことともなる。
充分に吸収されることとなるので上記問題点は解決され
るが、多結晶セラミックから成るシンチレータは若干の
不透明性を有しているため、シンチレータ１の入射面１
ａ近くて発光した可視光は、その一部しかフォトダイオ
ード２に届かず、このため、低エネルギーＸ線の信号出
力に対するＣｏｎｔｒｉｂｕｔｉｏｎが低減して画像・
のコントラスト分解能の低下や、信号雑音比の低下を来
すという別の問題が生ずる。又、シンチレータ１の厚さ
を大きくした場合には、その透明度のバラツキも大きく
なるため、多ＣＨ検出器５の各０８間に於るエネルギー
特性（直線性の一種）がばらついてアーチファクを生み
やすいことともなる。
本発明の目的は、以上のような問題点を解決し、光電変
換素子から得られる信号の質の向上を図り、且つコント
ラスト分解能及び信号雑音比の向上を図ることにある。
換素子から得られる信号の質の向上を図り、且つコント
ラスト分解能及び信号雑音比の向上を図ることにある。
［発明の構！＆］
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するため本発明放射線検出器は、入射し
た放射線を光に変換するシンチレータと、このシンチレ
ータで変換された光を電気信号に変換する光電変換素子
とからなる放射線検出体を前記放射線の入射方向に対し
て傾斜させて配置した構成とした。
た放射線を光に変換するシンチレータと、このシンチレ
ータで変換された光を電気信号に変換する光電変換素子
とからなる放射線検出体を前記放射線の入射方向に対し
て傾斜させて配置した構成とした。
（作用）
本発明は上記の構成としたので、次のように作用する。
即ち、シンチレータと光電変換素子とから成る放射線検
出体が放射線の入射方向に対して傾斜しているため、シ
ンチレータ自体の厚さは変わらないのにかかわらず、放
射線の入射方向に関してはシンチレータの入射面から光
電変換素子に至るまでの距離が長くなる。従って、放射
線はシンチレータによって充分に吸収され、放射線が光
電変換素子に直接吸収されるということがなくなって、
光電変換素子から得られる信号の質が向上することとな
る。しかも、シンチレータ自体の厚さは変わらないので
あるから、シンチレータの入射面近くで発光した可視光
であっても充分に光電変換素子に到達する。従って、低
エネルギーの放射線でも光電変換素子はより高いシンチ
レーション強度を受けることとなり、これによって画像
のコントラスト分解能及び信号雑音比か向上することと
なる。又、シンチレータ自体の厚さは変わらないのであ
るから、その透明度のバラツキも小さくて済み、多ＣＨ
検出器の各０８間に於るエネルギー特性がばらついてア
ーチファクが生じやすくなるということもない。
出体が放射線の入射方向に対して傾斜しているため、シ
ンチレータ自体の厚さは変わらないのにかかわらず、放
射線の入射方向に関してはシンチレータの入射面から光
電変換素子に至るまでの距離が長くなる。従って、放射
線はシンチレータによって充分に吸収され、放射線が光
電変換素子に直接吸収されるということがなくなって、
光電変換素子から得られる信号の質が向上することとな
る。しかも、シンチレータ自体の厚さは変わらないので
あるから、シンチレータの入射面近くで発光した可視光
であっても充分に光電変換素子に到達する。従って、低
エネルギーの放射線でも光電変換素子はより高いシンチ
レーション強度を受けることとなり、これによって画像
のコントラスト分解能及び信号雑音比か向上することと
なる。又、シンチレータ自体の厚さは変わらないのであ
るから、その透明度のバラツキも小さくて済み、多ＣＨ
検出器の各０８間に於るエネルギー特性がばらついてア
ーチファクが生じやすくなるということもない。
更に逆の言い方をするならば、シンチレータ自体の厚さ
を従来よりも小さくした場合であっても本発明によれば
、従来と同程度の質の信号を得ることができ、この場合
シンチレータ自体の厚さは小さくなるのであるから、シ
ンチレータの入射面近くで発光した可視光は従来よりも
より良く光電変換素子に到達し、従つて、低エネルギー
の放射線でも光電変換素子はより一層高いシンチレーシ
ョン強度を受けることとなって画像のコントラスト分解
部及び信号雑音比が従来よりも向上することとなる。又
、シンチレータ自体の厚さは従来よりも小さくなるのだ
から、その透明度のバラツキも従来より小さくなり、多
ＣＨ検出器の各０８間に於るエネルギー特性のバラツキ
が小さくなってアーチファクも一層生じにくくなる。
を従来よりも小さくした場合であっても本発明によれば
、従来と同程度の質の信号を得ることができ、この場合
シンチレータ自体の厚さは小さくなるのであるから、シ
ンチレータの入射面近くで発光した可視光は従来よりも
より良く光電変換素子に到達し、従つて、低エネルギー
の放射線でも光電変換素子はより一層高いシンチレーシ
ョン強度を受けることとなって画像のコントラスト分解
部及び信号雑音比が従来よりも向上することとなる。又
、シンチレータ自体の厚さは従来よりも小さくなるのだ
から、その透明度のバラツキも従来より小さくなり、多
ＣＨ検出器の各０８間に於るエネルギー特性のバラツキ
が小さくなってアーチファクも一層生じにくくなる。
（実施例）
以下図示の実施例について説明する。
第１図は本発明の一実施例であるＸ線検出器を構成する
Ｘ！ｌ検出体の斜視図、第２図はその側面図である。
Ｘ！ｌ検出体の斜視図、第２図はその側面図である。
１はシンチレータであり、Ｇｄ、０２ｓ ： Ｐｒ等を
加圧成型した半透明体で構成されていて、入射したＸ線
を光に変換するようになつている。
加圧成型した半透明体で構成されていて、入射したＸ線
を光に変換するようになつている。
２はフォトダイオードであって、シンチレータ１の入射
面１ａとは反対側の面１ｂ全面に接着剤等で貼設されて
光学的接続がなされており、シンチレータｌで変換され
た光を電気信号に変換するようになっている。これらシ
ンチレータ１とフォトダイオード２とでＸ線検出体３が
構成されている。
面１ａとは反対側の面１ｂ全面に接着剤等で貼設されて
光学的接続がなされており、シンチレータｌで変換され
た光を電気信号に変換するようになっている。これらシ
ンチレータ１とフォトダイオード２とでＸ線検出体３が
構成されている。
６はサブストレートであって、フォトダイオード２の下
面に接着剤等で貼設されており、フォトダイオード２を
支えると共に信号を取り出す役割を果たす、６ａはフォ
トダイオード２とのボンディングワイヤ、６ｂは信号線
、６ＣはＧＮＤである。
面に接着剤等で貼設されており、フォトダイオード２を
支えると共に信号を取り出す役割を果たす、６ａはフォ
トダイオード２とのボンディングワイヤ、６ｂは信号線
、６ＣはＧＮＤである。
本実施例は以上のようなＸ線検出体３をＸ線の入射方向
に対して傾斜させてコリメータ板７に接着剤等で固定し
、これを第３図に示すように複数配置して第４図に示す
ような多ＣＨのＸ線検出器５を構成する。第４図に於て
、５ａは外部容器であり、この外部容器５ａは遮光及び
コリメータ板７を保持する役割を果たす。
に対して傾斜させてコリメータ板７に接着剤等で固定し
、これを第３図に示すように複数配置して第４図に示す
ような多ＣＨのＸ線検出器５を構成する。第４図に於て
、５ａは外部容器であり、この外部容器５ａは遮光及び
コリメータ板７を保持する役割を果たす。
コリメータ板７は、散乱線を遮断する役割をなすもので
あり、反射性の重金属で構成するのが望ましい。
あり、反射性の重金属で構成するのが望ましい。
以上のような多ＣＨＸ線検出器５は、各ＣＨに於て入射
したＸ線をＸ線検出体３で電気信号に変換し、その信号
に基づいてＸ線ＣＴ像を再構成することができ、以下の
ような作用効果を奏する。
したＸ線をＸ線検出体３で電気信号に変換し、その信号
に基づいてＸ線ＣＴ像を再構成することができ、以下の
ような作用効果を奏する。
即ち、第２図に明示するようにシンチレータ１とフォト
ダイオード２とから成るＸ線検出体３がＸ線の入射方向
に対して傾斜しているため、シンチレータ自体の厚さｔ
は変わらないのにかかわらず、Ｘ線の入射方向に関して
はシンチレータｌの入射面１ａからフォトダイオード２
に至るまでの距離Ｔ（いわばＸ線に対する実効長さ）が
長くなる。従って、放射線はシンチレータｌによって充
分に吸収され、放射線がフォトダイオード２に直接吸収
されるということがなくなって、フォトダイオード２か
ら得られる信号の質が向上することとなる。しかも、シ
ンチレータ１自体の厚さｔは変わらないのであるから、
シンチレータ１の入射面１ａ近くで発光した可視光であ
っても充分にフォトダイオード２に到達する。従って、
低エネルギーの放射線でもフォトダイオード２はより高
いシンチレーション強度を受けることとなり、これによ
って画像のコントラスト分解ｆ＠及び信号雑音比が向上
することとなる。
ダイオード２とから成るＸ線検出体３がＸ線の入射方向
に対して傾斜しているため、シンチレータ自体の厚さｔ
は変わらないのにかかわらず、Ｘ線の入射方向に関して
はシンチレータｌの入射面１ａからフォトダイオード２
に至るまでの距離Ｔ（いわばＸ線に対する実効長さ）が
長くなる。従って、放射線はシンチレータｌによって充
分に吸収され、放射線がフォトダイオード２に直接吸収
されるということがなくなって、フォトダイオード２か
ら得られる信号の質が向上することとなる。しかも、シ
ンチレータ１自体の厚さｔは変わらないのであるから、
シンチレータ１の入射面１ａ近くで発光した可視光であ
っても充分にフォトダイオード２に到達する。従って、
低エネルギーの放射線でもフォトダイオード２はより高
いシンチレーション強度を受けることとなり、これによ
って画像のコントラスト分解ｆ＠及び信号雑音比が向上
することとなる。
更に逆の言い方をするならば、シンチレータ自体の厚さ
ｔを従来よりも小さくした場合であっても本実施例によ
れば、実効長さＴをシンチレータｌ自体の厚さｔより長
くできるので、例えば従来のシンチレータ自体の厚さが
Ｔであるとすれば、従来と同程度の質の信号を得ること
がてき、この場合シンチレータ自体の厚さは従来より小
さくなるのであるから、シンチレータの入射面１ａ近く
で発光した可視光は従来よりもより良くフォトダイオー
ド２に到達し、従って、低エネルギーの放射線でもフォ
トダイオード２はより一層高いシンチレーション強度を
受けることとなって画像のコントラスト分解能及び信号
雑音比が従来よりも向上することとなる。又、シンチレ
ータｌ自体の厚さｔは従来よりも小さくなるのだから、
その透明度のバラツキも従来より小さくなり、多ＣＨ検
出器５の各ＣＨ間に於るエネルギー特性のバラツキが小
さくなってアーチファクトも一層生じにくくなる。
ｔを従来よりも小さくした場合であっても本実施例によ
れば、実効長さＴをシンチレータｌ自体の厚さｔより長
くできるので、例えば従来のシンチレータ自体の厚さが
Ｔであるとすれば、従来と同程度の質の信号を得ること
がてき、この場合シンチレータ自体の厚さは従来より小
さくなるのであるから、シンチレータの入射面１ａ近く
で発光した可視光は従来よりもより良くフォトダイオー
ド２に到達し、従って、低エネルギーの放射線でもフォ
トダイオード２はより一層高いシンチレーション強度を
受けることとなって画像のコントラスト分解能及び信号
雑音比が従来よりも向上することとなる。又、シンチレ
ータｌ自体の厚さｔは従来よりも小さくなるのだから、
その透明度のバラツキも従来より小さくなり、多ＣＨ検
出器５の各ＣＨ間に於るエネルギー特性のバラツキが小
さくなってアーチファクトも一層生じにくくなる。
以上本発明の一実施例について説明したか、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内において適宜変形実施可能であることは言うまでも
ない。
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内において適宜変形実施可能であることは言うまでも
ない。
例えばコリメータ７やサブストレート６は本発明に於て
必須のものではない。
必須のものではない。
［発明の効果］
以上詳述したように本発明によれば、光電変換素子から
得られる信号の質の向上を図り、且つコントラスト分解
能及び信号雑音比の向上を図ることができる。
得られる信号の質の向上を図り、且つコントラスト分解
能及び信号雑音比の向上を図ることができる。
第１図は本発明の一実施例であるＸ線検出器を構成する
Ｘ線検出体の斜視図、第２図は同上側面図、第３図は同
上配列例の部分斜視図、第４図はＸ線検出器の斜視図、
第５図は従来Ｘ線検出器の斜視図、第６図は同上作用説
明図である。 １・・・シンチレータ、２・・・フォトダイオード、３
・・・Ｘ線検出体、５・・・Ｘ線検出器。 代理人 弁理士 則 近 憲 缶周
大 胡 典 夫第１図 九財Ｘ線 第２図 第５図 恣打Ｘｔ炙
Ｘ線検出体の斜視図、第２図は同上側面図、第３図は同
上配列例の部分斜視図、第４図はＸ線検出器の斜視図、
第５図は従来Ｘ線検出器の斜視図、第６図は同上作用説
明図である。 １・・・シンチレータ、２・・・フォトダイオード、３
・・・Ｘ線検出体、５・・・Ｘ線検出器。 代理人 弁理士 則 近 憲 缶周
大 胡 典 夫第１図 九財Ｘ線 第２図 第５図 恣打Ｘｔ炙
Claims (1)
- 入射した放射線を光に変換するシンチレータと、このシ
ンチレータで変換された光を電気信号に変換する光電変
換素子とからなる放射線検出体を前記放射線の入射方向
に対して傾斜させて配置した放射線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61229677A JPS6385385A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 放射線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61229677A JPS6385385A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 放射線検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6385385A true JPS6385385A (ja) | 1988-04-15 |
Family
ID=16895955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61229677A Pending JPS6385385A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 放射線検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6385385A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11276470A (ja) * | 1998-01-20 | 1999-10-12 | General Electric Co <Ge> | 断層撮影システム及びそれ用のシンチレ―タ |
| JP2009180718A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-13 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP61229677A patent/JPS6385385A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11276470A (ja) * | 1998-01-20 | 1999-10-12 | General Electric Co <Ge> | 断層撮影システム及びそれ用のシンチレ―タ |
| JP4508305B2 (ja) * | 1998-01-20 | 2010-07-21 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 断層撮影システム及びそれ用のシンチレータ |
| JP2009180718A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-13 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
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